DE4010297A1 - Adaptereinrichtung fuer eine automatische pruefvorrichtung zum pruefen von schaltungsplatinen - Google Patents
Adaptereinrichtung fuer eine automatische pruefvorrichtung zum pruefen von schaltungsplatinenInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Adaptereinrichtung wie
sie im Oberbegriff des Anspruches 1 angegeben ist.
Mehr ins einzelne gehend betrifft die Erfindung eine der Short-Wire-
Technik zuzurechnende Adaptereinrichtung, wie sie zusammen mit
bekannten automatisch arbeitenden Prüfeinrichtungen für Schaltungs
platinen Verwendung findet.
Schaltungsplatinen (gedruckte Schaltungen und dergleichen) sind
heutigentags übliche Bestandteile elektronischer Geräte. Diese
Platinen werden weitgehend automatisiert hergestellt und mit
elektronischen Bauteilen bestückt. Sie werden vor dem Einbau in das
jeweilige Gerät auf ihre Funktionsfähigkeit überprüft. Der hohen
Investitionskosten für eine derartige Prüfeinrichtung wegen wird
angestrebt, diese Prüfung einer jeweiligen Platine in kürzester
Zeitdauer durchzuführen. Bei entsprechend gesteigerter Taktfrequenz
der Prüfung der Baugruppen verfälschen dann längere Leitungen und die
auftretenden Induktivitäten der erforderlichen Verbindungsdrähte von
der jeweiligen Baugruppe zur Prüfvorrichtung zunehmend mehr und mehr
die Signalqualität der digitalen Signale der Prüfung und damit das
Prüfergebnis. Dies sind Gründe, weshalb man von einer z. B. aus dem
deutschen Gebrauchsmuster 88 01 329 bekannten Long-Wire-Adapterein
richtung zu einer Short-Wire-Einrichtung des Oberbegriffes des
Anspruches 1 übergegangen ist.
Naturgemäß weisen Schaltungsplatinen unterschiedlicher Typen - auf die
Fläche der Schaltungsplatine des jeweiligen Typs bezogen - sehr
verschiedene Verteilungen der jeweiligen Schaltungspunkte auf, an
denen die Prüfung der Funktion eines Anteils der Schaltung anzusetzen
hat.
Da aber eine zu verwendende Prüfvorrichtung eine sehr kostspielige
Investition ist, verwendet man solche Vorrichtungen mit standardisier
tem Kontaktfeld-Raster. Das Kontaktfeld einer solchen Prüfvorrichtung
kann aber natürlich nicht beliebig viele Prüfanschlüsse haben, um
allen möglichen Kontaktstellen einer jeglichen zu prüfenden
Schaltungsplatine zu entsprechen. Zur Anpassung dieses vorgegebenen
Kontaktfeld-Rasters der Prüfvorrichtung und der Verteilung der im
Prüfverfahren jeweils elektrisch zu kontaktierenden relevanten
Schaltungspunkte der Platine aneinander, verwendet man daher
zusätzlich Adaptereinrichtungen, die dann auf den jeweiligen Typ der
Schaltungsplatine individuell angepaßt sind. Für die Ausführung der
Kontaktierungen bedient man sich als Nadeln bezeichneter Stifte, die
in einer oder mehreren Platten der Adaptereinrichtung eingefügt sind.
In der Adaptereinrichtung auf der einen (Ober-)Seite zur Kontaktierung
mit der Schaltungsplatine herausragende Nadeln sind elektrisch mit
Kontaktgegenstücken anderer Nadeln verbunden, die auf der anderen
(Unter-)Seite der Einrichtung zur Kontaktgabe mit dem Kontaktfeld-
Raster der Prüfvorrichtung hervorragen. Innerhalb der Adaptereinrich
tung sind diese elektrischen Leitungsverbindungen mittels Drähte
ausgeführt. Diese Drähte können vergleichweise zur Technik des
obengenannten Gebrauchsmusters relativ kurz gehalten sein. Ihre
Befestigung an den Nadeln bzw. Stiften wird aber in beiden Techniken
in der Weise vorgenommen, daß man das jeweilige Drahtende um die
jeweilige Nadel bzw. den jeweiligen Stift mittels einer Wickelvorrich
tung herumwickelt, was als Wire-Wrap-Technik bezeichnet wird.
Ein Beispiel des einschlägigen Standes der Technik zeigt die Figur auf
Seite 11 in "iee productronic", 30. Jahrgang (1985), Nr. 3, Seite
10 ff. Die als "Nadelbettadapter" bezeichnete Adaptereinrichtung
umfaßt eine als "probe plate" bezeichnete Nadel-Trägerplatte und ein
dazu parallel und im Abstand angeordnetes Translator-Board, in die
Nadeln bzw. Stifte als Prüfstifte eingefügt sind. An den in das
Translator-Board eingefügten Stiften zeigt diese Figur, wie die
Drahtenden der erwähnten Leitungsverbindungen um den jeweiligen der
Stifte herumgewickelt sind.
Dieses Herumwickeln der Drahtenden ist für beide Enden eines
jeweiligen Drahtes an den bereits im Board eingesetzten Stift
auszuführen, wobei dies, da diese Adaptereinrichtungen jeweils in
Einzelfertigung hergestellt werden, regelmäßig in Handarbeit
ausgeführt wird.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, Vereinfachungen
hinsichtlich der Herstellung derartiger Adaptereinrichtungen zu
finden, womit diese preisgünstiger gemacht werden können.
Entsprechend der Erfindung wird diese Aufgabe durch die Merkmale des
Patentanspruches 1 gelöst, wobei der Anspruch 4 eine diesem ersten
Aspekt nachgeordnete spezielle Weiterbildung angibt, und dem Patent
anspruch 7 liegt eine weitere Variante des die gestellte Aufgabe
lösenden Gedankens zugrunde.
Grundlage der vorliegenden Erfindung gemäß Anspruch 1 ist, die Anzahl
der von Hand auszuführenden leitenden Verbindungen weitgehend
automatisiert herzustellen. Die dazu benutzte Idee ist, mit Maschinen
automatisiert vorzufertigende Teile, nämlich Auf-/Einsteck-Zusatzteile
mit daran befestigtem und elektrisch verbundenem Leitungsdraht, zu
verwenden und nur noch das jeweils zweite Ende des Leitungsdrahtes auf
die in der Trägerplatte feststehenden Nadel zu wickeln bzw. mit einer
Kontaktierungsfläche versehene Zusatzteile zu benutzen, die direkte
Kontaktierung von nur wenig gegeneinander versetzten Positionen
jeweils eines Kontaktes der Schaltungsplatine und der Prüfvorrichtung
ausführen.
Gemäß dem oben erwähnten weiteren Gedanken kann eine solche Verein
fachung durch automatische Fertigung auch darin bestehen, solche
Leitungsverbindungen mit gewickelten Drahtenden durch Anwendung der
Leiterbahntechnik zu ersetzen. Auch damit kann kostspielige Handarbeit
durch Prozesse mit z. B. computergesteuerter Unterstützung ersetzt
werden.
Fig. 1 zeigt ein Beispiel für drei Varianten der Erfindung.
Fig. 2 zeigt vergrößert ein Zusatz-Nadelteil der Variante mit
Draht-Verbindungsleitung.
Fig. 3 bis 5 zeigen vergrößerte Ansichten (von oben) für Zusatz-
Nadelteile für versetzte direkte Kontaktierung gemäß der
zweiten Variante und
Fig. 6 zeigt vergrößert im Ausschnitt eine Leiterbahn-Ausführung
zur dritten Variante.
Die beigefügte Fig. 1 zeigt eine Prinzipdarstellung eines Teiles
einer erfindungsgemäßen Adaptereinrichtung 1. Mit 2 ist eine Nadel-
Trägerplatte bezeichnet in die Nadeln bzw. Stifte 4 1 bis 4 4 eingesetzt
sind. Diese Nadeln können, wie dies früher ausgeführt wurde, in Löcher
der Trägerplatte 2 eingeschlagen sein. Zweckmäßiger ist es, eine
Befestigungsweise mit einer Rastverbindung oder dgl. gemäß dem
genannten Gebrauchsmuster G 88 01 329 vorzusehen.
Die Nadeln 4 1 und 4 3 sind so ausgeführt, daß sie der Kontaktgabe mit
den Kontaktstiften 5 1 und 5 3 dienen, die Kontakt-Nadeln der hier nicht
näher dargestellten Prüfvorrichtung 11 sind. Die Nadeln 4 2 und 4 4
dienen der Ausführung von Kontaktierungen mit Kontaktierungspunkten
der nur andeutungsweise dargestellten Schaltungsplatine 100.
(Diejenigen, z. B. aus dem Gebrauchsmuster 88 01 329 bekannten weiteren
Teile der Prüfvorrichtung, die der Auflage und dem Ansaugen der
Schaltungsplatine 100 dienen, sind hier weggelassen.) Die in der Fig.
1 oberen Enden der Nadeln 4 2 und 4 4 enthalten federnde Kontaktelemente
6, wie sie für derartige einschlägige Adaptervorrichtungen üblich
sind. Aufgrund der federnden Eigenschaft werden die Köpfe 40 kontak
tierend gegen die Kontaktierungspunkte 41 der Schaltungsplatine ange
drückt. Die Positionen der Nadeln 4 2 und 4 4 sind so gewählt, daß sie
den vorgegebenen Kontaktierungspunkten der Schaltungsplatine entspre
chen. Die unteren Enden der Nadeln 4 1 und 4 3 können entsprechende
federnde Einsätze haben. Üblich ist es, daß die Nadeln 5 der Prüfvor
richtung derartig ausgebildet sind. Die Nadeln 4 1 und 4 3 sind in der
Trägerplatte 2 so plaziert, daß sie mit den Positionen der
vorgegebenerweise zu kontaktierenden Stifte 5 1 und 5 3 korrespondieren.
Die Nadel 4 1 ist an ihrem unteren Ende in dem Anspruch 1 entsprechend
erfindungsgemäßer Weise ausgeführt. Mit 7 ist ein Zusatz-Nadelteil
bezeichnet, dessen konstruktive Einzelheiten aus der Fig. 2 näher
hervorgehen und das vorgefertigt mit einem Draht als Leitungsverbin
dung versehen ist. Wie aus der Figur ersichtlich, ist dieses Zusatz-
Nadelteil 7 mit seinem Ende 17 auf das Ende 114 der Nadel 4 1 klemmend
aufgesteckt. Die elektrische Verbindung zwischen diesem Zusatz-Nadel
teil 7 und dem mit ihm verbundenen Ende 8 1 des Drahtes 8 hat aufgrund
der Herstellung stets zuverlässigen elektrischen Kontakt. Die
erfindungsgemäß vorgesehene Verbindung mit Zusatz-Nadelteil ist
wesentlich preiswerter herzustellen. Das Zusatz-Nadelteil 7 kann auch
in das untere Ende der Nadel 4 1 zu stecken ausgeführt sein. In jedem
Falle braucht diese Steckverbindung nur mechanisch ausreichend
klemmend zu sein, damit das Zusatz-Nadelteil 7 nicht von der Nadel 4 1
herunterfällt. Elektrische Verbindungsfunktion hat diese Steckver
bindung nicht, so daß damit verbundene etwaige Wackelkontakte hier
irrelevant sind. Die Steckverbindung ist auch so stabil ausgeführt,
daß das in der Fig. 1 untere Ende des Zusatz-Nadelteils 7 als stabile
Anlage für die Kontaktierung mit dem federnd gegengedrückten Stift 5 1
dient.
In an sich bekannter Weise ist das Ende 8 2 des Drahtes 8 mit einem
vorzugsweise verjüngten unteren Ende der Nadel 4 2 durch Wire-Wrap-
Technik in mechanisch und elektrisch zuverlässige Verbindung gebracht.
Das vorangehend beschriebene Beispiel sieht vor, daß das vorgesehene
Zusatz-Nadelteil 7 auf/in das Ende 114 einer Nadel der ersten Gruppe,
d. h. einer mit einem Kontaktstift 5 der Prüfvorrichtung elektrisch zu
kontaktierenden Nadel, gesteckt wird und dieses Nadelteil auch diesen
Kontakt bewirkt. Zur Erfindung gehört aber auch die Ausgestaltung, das
Zusatz-Nadelteil auf/in das (untere) Ende einer (mit der Schaltungs
platine 11 zu kontaktierenden) Nadel der zweiten Gruppe zu stecken.
Eine noch weitere Möglichkeit ist, die "Verdrahtung" oberhalb der
Trägerplatte 2 anzuordnen und dort das Zusatz-Nadelteil 7 nach dem
beschriebenen Prinzip der Erfindung anzuwenden.
Die Fig. 2 zeigt in vergrößerter Darstellung das Zusatz-Nadelteil 7.
Dieses ist in der Fig. 2 auf ein vorzugsweise verjüngtes Ende 114 der
Nadel 4 1 aufgesteckt, wobei die Verjüngung außerdem als Anschlag
justierung dient. Das gemäß der Erfindung in vorgefertigter Weise
leitend befestigte Ende 8 1 des Drahtes 8 ist (zur Zugentlastung)
insbesondere durch wenigstens ein Loch hindurchgesteckt und/oder
wenigstens etwa eine Windung zusammen mit seiner den Draht umgebenden
Kunststoffisolierung aufgewickelt und jeweils ist das blanke Ende
angelötet. Die Wahl geeigneter Abmessungen ergibt sich aus den
jeweiligen Randbedingungen, sowie z. B. Dichte der Nadeln in der
Nadelträgerplatte und dergleichen.
Die Fig. 1 zeigt desweiteren eine Nadel 4 11, die als beiden Gruppen
von Nadeln zugehörig anzusehen ist, weil sie die Funktion einer Nadel
der ersten Gruppe mit der Funktion einer Nadel der zweiten Gruppe -
zusammen mit dem Zusatz-Nadelteil 71 - in sich vereinigt. Wie
dargestellt, hat die Nadel 4 11 einen Abstand von der Nadel 4 2, der
z. B. etwa gleich dem Rastermaß ist bzw. der nur ein geringes
Vielfaches des Durchmessers der Nadeln beträgt. Zu kontaktieren ist
diese Nadel mit dem Stift 5 11 der Prüfvorrichtung 11, der - als ein
Beispiel - mit der Nadel 4 2 fluchtet. Diese Nadel 4 2 ist aber mit
einem anderen Kontakt als demjenigen Kontakt 41 11 der Schaltungs
platine kontaktiert, mit dem die Nadel 4 11 zu kontaktieren ist. Die
Variante mit den Merkmalen des Anspruches 4 liefert auf der Basis des
Erfindungsgedankens beruhend auch hier auf die aufgabengemäße Verein
fachung mittels eines automatisch vorfertigbaren Zusatzteils.
Die Abmessung der Kontaktierungsfläche 171 des auf-/einsteckbaren
Zusatz-Nadelteils 71 ist entsprechend dem - vorzugsweise vorgegeben
maximalen - Versatz von Nadel 4 11 und Stift 5 11 zueinander bemessen,
wobei der Versatz auf die Ausrichtung der Nadeln bezogen ist. Diese
Abmessung entspricht auch etwa einem Mehrfachen der Dicke des
Auf-/Einsteckteils des Zusatz-Nadelteils 71. Es kann aber auch - etwa
abgestuft - individuelle Bemessung der Kontaktierungsfläche 171
vorgesehen sein. Auch die Form dieser Fläche 171 kann unterschiedlich
sein. Es können, wie in den Fig. 3 bis 5 angegebene Formen, z. B.
für den Einzelfall auszuwählen, vorgesehen sein. Fig. 3 zeigt die
rotationssymmetrische Form der Fig. 1 und Fig. 4 zeigt eine
länglich-symmetrische bzw. Fig. 5 eine platzsparende, nur einseitige
Verbreitung des Zusatz-Nadelteils 71′ und 71′′.
Die Ausführung der Leitungsverbindung der Nadeln 4 3 und 4 4 miteinander
ist entsprechend den im Anspruch 7 explizit angegebenen Merkmalen
ausgeführt. Mit 9 ist eine Leiterplatte, z. B. eine kupferkaschierte
Kunststoffplatte bezeichnet. Sie liegt auf der in der Fig. 1 oberen
Oberfläche der Nadel-Trägerplatte 2 fest auf. An den Stellen des
Durchgangs der Nadeln 4 3 und 4 4 durch diese Platte 9 ist durch je eine
Lötverbindung 10 eine elektrische Verbindung mit einer Leiterbahn 19
auf der Oberfläche der Platte 9 hergestellt. Wie für Leiterplatten
üblich, ist eine elektrisch leitende Verbindung im Bereich zwischen
den Durchtritten der Nadeln 4 3 und 4 4 und um deren jeweiligen Durch
tritt herum belassen, und zwar zumindest elektrisch isoliert gegenüber
anderen Bereichen der elektrisch leitenden Oberflächenschicht der
Platte 9. Im Bereich der Durchdringung der Nadel 4 2 weist diese Platte
z. B. eine so große Bohrung auf, daß eine elektrische Kontaktgabe mit
dieser Nadel ausgeschlossen ist. Eine Kontaktgabe zwischen der Nadel
4 1 und dieser Platte 9 kann z. B., wie dargestellt, durch entsprechend
verkürzte Ausführung der Nadel bewirkt sein. Es kann aber der Einheit
lichkeit halber auch im Bereich der Nadel 4 1 eine der elektrischen
Isolation dienende Bohrung in der Platte 9 vorgesehen sein, wie dies
ebenfalls dargestellt ist.
An sich könnte man sämtliche vorzusehenden elektrischen Leitungsver
bindungen auch in der Ausführung des Anspruches 4 ausgestalten und für
notwendige Überkreuzungen von verbindenden Leiterbahnen auf der Platte
9 diese u. a. in an sich bekannter Mehrschichttechnik ausführen. Eine
besonders günstige Ausführung einer dem ganzen Erfindungsgedanken
entsprechenden Adaptereinrichtung ist je nach spezifischer Anforderung
eine Ausführungsform wie für die Nadeln 4 1 und 4 2 oder eine Aus
führungsform wie für die Nadeln 4 3 und 4 4. Die letztere Ausgestaltung
ist insbesondere für sehr nahe beieinander stehende, elektrisch
miteinander zu verbindende Nadeln geeignet, da kurze Verbindungswege
(auf der Platte 9) selten der Notwendigkeit einer Überkreuzung mit
einer anderen Leiterbahn unterliegen. Noch gravierender kann in diesem
Falle aber der Vorteil sein, daß bei so relativ eng nebeneinander
stehenden Nadeln die Wire-Wrap-Technik schwierig oder gar nicht
ausführbar ist.
Fig. 6 zeigt in vergrößerter Aufsicht einen Anteil der Oberfläche
bzw. Metallkarschierung 119 der Leiterplatte 9, und zwar der Umgebung
der Nadeln 4 3 und 4 4. Die Leiterbahn ist wieder mit 1g bezeichnet. Die
Umgebung dieser Leiterbahn 19 kann aus der Kaschierung der
Leiterplatte 9 weggeätzt sein oder es kann eine (wie dargestellt)
diese Leiterbahn 19 gegenüber der Umgebung isolierende Trennfuge 219,
z. B. durch Fräsen hergestellt, vorgesehen sein.
Claims (11)
1. Adaptereinrichtung,
zu verwenden in einer Prüfvorrichtung für Schaltungsplatinen,
wobei die Adaptereinrichtung eine Nadel-Trägerplatte mit darin
angeordneten Nadeln hat und die individuellen Positionen der Nadeln
einer ersten Gruppe dieser Nadeln vorgegebenen Positionen von
Kontakten der Prüfvorrichtung und die Positionen der Nadeln einer
zweiten Gruppe den Positionen von Kontakten der betreffenden
Schaltungsplatine entsprechen,
wobei eine Nadel dieser ersten Gruppe mit einer Nadel der zweiten
Gruppe mittels einer Draht-Leitungsverbindung (8) elektrisch verbunden
ist und dazu das eine Nadelende (8 2) um das Nadelende der in der
Trägerplatte feststehenden, elektrisch zu verbindenden Nadel (4 2)
gewickelt ist,
gekennzeichnet dadurch,
daß ein Zusatz-Nadelteil (7) vorgesehen ist, das mit einem für eine mechanische Steckverbindung mit einem Nadelende (114) verwendeten Auf-/Einsteckende (17) ausgebildet ist, wobei das Auf-/Einsteckende (17) und das Nadelende (114) miteinander klemmend entsprechend angepaßt geformt sind, und
an das Zusatz-Nadelteil (7) das andere Drahtende (8 1) der Draht- Leitungsverbindung (8) elektrisch verbunden befestigt ist, und dadurch,
daß nur das eine Drahtende (8 2) in bisher üblicher Weise auf die feststehende Nadel (4 2) gewickelt ist.
daß ein Zusatz-Nadelteil (7) vorgesehen ist, das mit einem für eine mechanische Steckverbindung mit einem Nadelende (114) verwendeten Auf-/Einsteckende (17) ausgebildet ist, wobei das Auf-/Einsteckende (17) und das Nadelende (114) miteinander klemmend entsprechend angepaßt geformt sind, und
an das Zusatz-Nadelteil (7) das andere Drahtende (8 1) der Draht- Leitungsverbindung (8) elektrisch verbunden befestigt ist, und dadurch,
daß nur das eine Drahtende (8 2) in bisher üblicher Weise auf die feststehende Nadel (4 2) gewickelt ist.
2. Adaptereinrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch, daß
das andere Drahtende (8 1) durch wenigstens ein Loch des Zusatz-Nadel
teils (7) hindurchgesteckt befestigt und angelötet elektrisch
verbunden ist.
3. Adaptereinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet
dadurch, daß das Zusatz-Nadelteil (7) an seinem dem Auf-/Einsteckende
(17) entgegengesetzten Ende zur direkten Kontaktierung mit einem
Kontaktstift (5 1) der Prüfvorrichtung ausgebildet ist.
4. Adaptereinrichtung
zu verwenden in einer Prüfvorrichtung für Schaltungsplatinen,
wobei die Adaptereinrichtung eine Nadel-Trägerplatte mit darin
an9eordneten Nadeln hat und die individuellen Positionen der Nadeln
einer ersten Gruppe dieser Nadeln vorgegebenen Positionen von
Kontakten der Prüfvorrichtung und die Positionen der Nadeln einer
zweiten Gruppe den Positionen von Kontakten der betreffenden
Schaltungsplatine entsprechen, insbesondere nach Anspruch 1 oder 2,
gekennzeichnet dadurch,
daß auch wenigstens eine Nadel (4 11) vorhanden ist, die beiden Gruppen zuzurechnen und die dazu vorgesehen ist, eine direkte Kontaktverbindung eines solchen Kontaktes (41 11) der Schaltungsplatine mit einem solchen Kontakt (5 11) der Prüfvorrichtung zu ermöglichen, bei denen die Positionen der beiden Kontakte - bezogen auf die Ausrichtung der Nadel (4 11) - maximal nur um ein solch geringes Maß zueinander versetzt sind, das in der Größenordnung des Nadelrasters liegt bzw. das nicht mehr als ein vorgegeben begrenztes Vielfaches des Durchmessers der Nadeln beträgt, und
daß das auf/in die Nadel (4 11) zu steckende Zusatz-Nadelteil (71) mit einer seinem Auf-/Einsteckende abgewandten Kontaktfläche (171) versehen ausgebildet ist, deren Abmessung quer zur Ausrichtung der Nadel (4 11) auf das Maß des Versatzes abgestimmt dieses übertrifft.
daß auch wenigstens eine Nadel (4 11) vorhanden ist, die beiden Gruppen zuzurechnen und die dazu vorgesehen ist, eine direkte Kontaktverbindung eines solchen Kontaktes (41 11) der Schaltungsplatine mit einem solchen Kontakt (5 11) der Prüfvorrichtung zu ermöglichen, bei denen die Positionen der beiden Kontakte - bezogen auf die Ausrichtung der Nadel (4 11) - maximal nur um ein solch geringes Maß zueinander versetzt sind, das in der Größenordnung des Nadelrasters liegt bzw. das nicht mehr als ein vorgegeben begrenztes Vielfaches des Durchmessers der Nadeln beträgt, und
daß das auf/in die Nadel (4 11) zu steckende Zusatz-Nadelteil (71) mit einer seinem Auf-/Einsteckende abgewandten Kontaktfläche (171) versehen ausgebildet ist, deren Abmessung quer zur Ausrichtung der Nadel (4 11) auf das Maß des Versatzes abgestimmt dieses übertrifft.
5. Adaptereinrichtung nach Anspruch 4, gekennzeichnet dadurch,
daß diese Abmessung auf das vorgegeben maximale Maß des Versatzes
abgestimmt ist.
6. Adaptereinrichtung nach Anspruch 4 oder 5, gekennzeichnet
dadurch,
daß eine gestreckte Form der Kontaktfläche vorgesehen ist, die auf die
Richtung des Versatzes abgestimmt ist (Fig. 4; 5).
7. Adaptereinrichtung
zu verwenden in einer Prüfvorrichtung für Schaltungsplatinen,
wobei die Adaptereinrichtung eine Nadel-Trägerplatte mit darin
angeordneten Nadeln hat und die individuellen Positionen der Nadeln
einer ersten Gruppe dieser Nadeln vorgegebenen Positionen von
Kontakten der Prüfvorrichtung und die Positionen der Nadeln einer
zweiten Gruppe den Positionen von Kontakten der betreffenden
Schaltungsplatine entsprechen, insbesondere nach einem der Ansprüche 1
bis 6, gekennzeichnet dadurch, daß anstelle einer jeweiligen Draht-
Leitungsverbindung einer Nadel (4 3) der ersten und einer Nadel (4 4)
der zweiten Gruppe
eine Leiterbahn-Verbindung (9, 10) vorgesehen ist,
wozu auf der der Schaltungsplatine zugewandten Oberfläche der Nadel-
Trägerplatte (2) wenigstens in dem für solche Leiterbahnverbindungen
vorgesehenen Bereich eine Leiterplatte (9) mit den vorgesehenen
Leiterbahnen aufgebracht ist.
8. Adaptereinrichtung nach Anspruch 7, gekennzeichnet dadurch, daß
die jeweilige als Leitungsverbindung vorgesehene Leiterbahn (19) der
Leiterplatte (9) mittels Lötverbindung (10) mit den jeweiligen Nadeln
(4 2, 4 4) elektrisch verbunden ist.
9. Adaptereinrichtung nach Anspruch 7 oder 8, gekennzeichnet
dadurch, daß die Leiterplatte eine Ein-Lagen-Leiterbahnplatte (9) ist.
10. Vorgefertigtes Zusatz-Nadelteil (7) zur Verwendung in einer
Adaptereinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 9,
gekennzeichnet dadurch ,
daß ein elektrischer Leitungsdraht (8) mit seinem einen Drahtende (8 1)
an diesem Nadelteil (7) elektrisch leitend mechanisch fest angebracht
ist und ein Ende (17) dieses Nadelteils (7) als Auf-/Einsteckende für
eine mechanische Steckverbindung mit einer Nadel der Adapterein
richtung ausgebildet ist (Fig. 2).
11. Vorgefertigtes Zusatz-Nadelteil (71) zur Verwendung in einer
Adaptereinrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 9, das als
auf-/einsteckbares Zusatz-Nadelteil (71) für eine Nadel (4 11) mit
einer dem Auf-/Einsteckende des Zusatz-Nadelteils abgewandten, quer zu
diesem Ende ausgerichteten Kontaktierungsfläche (171) mit einer ein
Mehrfaches der Dicke des Auf-/Einsteckendes betragenden Abmessung
versehen ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904010297 DE4010297A1 (de) | 1990-03-30 | 1990-03-30 | Adaptereinrichtung fuer eine automatische pruefvorrichtung zum pruefen von schaltungsplatinen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904010297 DE4010297A1 (de) | 1990-03-30 | 1990-03-30 | Adaptereinrichtung fuer eine automatische pruefvorrichtung zum pruefen von schaltungsplatinen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4010297A1 true DE4010297A1 (de) | 1991-10-02 |
Family
ID=6403433
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19904010297 Withdrawn DE4010297A1 (de) | 1990-03-30 | 1990-03-30 | Adaptereinrichtung fuer eine automatische pruefvorrichtung zum pruefen von schaltungsplatinen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4010297A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4226069A1 (de) * | 1992-08-06 | 1994-02-10 | Test Plus Electronic Gmbh | Adaptereinrichtung für eine automatische Prüfvorrichtung zum Prüfen von Schaltungsplatinen |
DE20103967U1 (de) * | 2001-03-07 | 2002-07-11 | PTR Meßtechnik GmbH & Co. KG, 59368 Werne | Schalt-Federkontaktstift |
DE10147510A1 (de) * | 2001-09-26 | 2003-04-30 | Grant Boctor | Direktkontakthülse-InCircuit-Prüfadapter unter Anwendung der Direktkontakthülse |
-
1990
- 1990-03-30 DE DE19904010297 patent/DE4010297A1/de not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4226069A1 (de) * | 1992-08-06 | 1994-02-10 | Test Plus Electronic Gmbh | Adaptereinrichtung für eine automatische Prüfvorrichtung zum Prüfen von Schaltungsplatinen |
WO1994004015A1 (de) | 1992-08-06 | 1994-02-17 | Test Plus Electronic Gmbh | Adaptereinrichtung für eine automatische prüfvorrichtung zur prüfen von schaltungsplatinen |
DE20103967U1 (de) * | 2001-03-07 | 2002-07-11 | PTR Meßtechnik GmbH & Co. KG, 59368 Werne | Schalt-Federkontaktstift |
DE10206756B4 (de) * | 2001-03-07 | 2004-05-13 | Ptr Messtechnik Gmbh & Co. Kg | Schalt-Federkontaktstift |
DE10147510A1 (de) * | 2001-09-26 | 2003-04-30 | Grant Boctor | Direktkontakthülse-InCircuit-Prüfadapter unter Anwendung der Direktkontakthülse |
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Date | Code | Title | Description |
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8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |