DE3936544A1 - Schaltungsanordnung zum schutz eines leistungs-mosfet - Google Patents

Schaltungsanordnung zum schutz eines leistungs-mosfet

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Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Schaltungsanordnung zum Schutz eines Leistungs-MOSFET beim Kurzschluß einer mit dem Leistungs-MOSFET in Reihe liegenden Last, mit einem zwischen Gateanschluß und Sourceanschluß des Leistungs-MOSFET liegenden steuerbaren Schalter.
Beim Kurzschluß einer mit einem Leistungs-MOSFET in Reihe liegen­ den Last oder bei einer niederohmigen Überbrückung der Last fällt ein großer Teil der Versorgungsspannung am Leistungs-MOSFET ab. Hierbei steigt die im Leistungs-MOSFET umgesetzte Verlustleistung drastisch an und führt ohne Schutzmaßnahmen zur Zerstörung. Eine z.B. in der DE-OS 30 34 927 beschriebene Schutzmaßnahme besteht darin, die Drain-Sourcespannung des Leistungs-MOSFET zu erfassen und bei Übersteigen eines vorgegebenen Wertes einen zwischen Gateanschluß und Sourceanschluß liegenden Transistor einzuschal­ ten. Dieser entlädt die Gate-Sourcekapazität des Leistungs-MOS- FET, wodurch dieser gesperrt wird.
Wird die Gate-Sourcekapaziät zu schnell entladen, so sperrt der Leistungs-MOSFET abrupt. Wegen der immer vorhandenen Induktivi­ täten im Lastkreis wird dann eine hohe Überspannung erzeugt, die den Transistor zerstören kann. Der Leistungs-MOSFET könnte zwar dadurch langsamer abgeschaltet werden, daß dem die Gate-Source­ kapaziät entladenden Transistor ein Widerstand in Reihe geschal­ tet wird. Wird jedoch Gatestrom über einen kräftigen Treiber nachgeliefert, so fließt dann ein großer Teil des Treiberstroms in die Gate-Sourcekapazität des Leistungs-MOSFET. Diese bleibt damit auf einer Spannung aufgeladen, die über der Einsatzspan­ nung liegt. Der Leistungs-MOSFET kann dann überhaupt nicht mehr gesperrt werden.
Ziel der Erfindung ist es, eine Schaltungsanordnung der angege­ benen Gattung derart auszubilden; daß der Leistungs-MOSFET im Fall eines teilweisen oder völligen Kurzschlusses der Last sanft, aber trotz eines hohen Treiberstroms sicher abgeschaltet werden kann.
Dieses Ziel wird erreicht durch die Merkmale:
  • a) der steuerbare Schalter wird eingeschaltet, wenn die Drain- Sourcespannung des Leistungs-MOSFET einen vorgegebenen Wert über­ steigt, der größer ist als die bei Nennstrom anliegende Drain- Sourcespannung,
  • b) zwischen Gateanschluß und Steuereingangsklemme liegt ein steuerbarer Widerstand,
  • c) der steuerbare Widerstand wird vom steuerbaren Schalter der­ art gesteuert, daß er bei gesperrtem steuerbarem Schalter einen niedrigen Widerstand und bei leitendem Schalter einen höheren Widerstand hat.
Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche. Die Erfindung wird anhand zweier Ausführungsbeispiele in Verbin­ dung mit Fig. 1 und 2 näher erläutert.
Der Leistungs-MOSFET ist in Fig. 1 mit 1 bezeichnet. Ihm ist drain­ seitig eine Last 2 in Reihe geschaltet. Die Reihenschaltung liegt über zwei Klemmen 3, 4 an einer Versorgungsspannung V BB. Ein steuerbarer Schalter 5 liegt über einen Widerstand 6 und eine Diode 7 zwischen dem Gateanschluß G und dem Sourceanschluß S von 1. Zwischen dem Gateanschluß G von 1 und einer Eingangsklemme 23 liegt die Drain-Sourcestrecke eines Depletion-FET 8. Sein Drain­ anschluß D ist mit 23 und sein Sourceanschluß S ist mit dem Gate­ anschluß G von 1 verbunden. Der Gateanschluß G von 8 ist einer­ seits über einen Widerstand 9 mit der Eingangsklemme 23 und an­ dererseits mit dem Widerstand 6 verbunden. Der Drainanschluß des FET 1 ist über eine Diode 10 mit einem Eingang 11 eines Kompara­ tors 14 und über einen Widerstand 20 mit der Eingangsklemme 23 verbunden.
Am anderen Eingang 12 des Komparators liegt eine Referenzspannung, die aus einer Referenzspannungsquelle stammt. Diese kann beispiels­ weise einen Widerstand 21 und eine damit in Reihe geschaltete Stromquelle 22 aufweisen. Die Reihenschaltung aus 21 und 22 liegt zwischen der Eingangsklemme 23 und der Ausgangsklemme 4. Der Aus­ gang 15 des Komparators 14 ist mit dem Steuereingang des steuer­ baren Schalters 5 verbunden.
Um den FET 1 leitend zu steuern, wird ein nicht dargestellter Treiber an die Eingangsklemme 23 angeschlossen, der einen z. B. impulsweisen kräftigen Steuerstrom liefert. Dieser lädt die Gate- Sourcekapazität von 1 auf. Der Depletion-FET 8 wird über die Diode 7 im leitenden Zustand gehalten und hat einen niedrigen Durchlaßwiderstand. Dadurch kann der FET 1 schnell eingeschaltet werden. Solange die Last 2 nicht ganz oder teilweise kurzgeschlos­ sen ist, fließt ein Strom in Höhe des Nennstroms durch 1. Dieser erzeugt an 1 einen Spannungsabfall, der den steuerbaren Schalter noch gesperrt hält.
Wird die Last 2 ganz oder teilweise kurzgeschlossen, so steigt die Spannung am Eingang 11 des Komparators 14 über die Diode 10 zur Spannung V BB an. Wird die am Widerstand 20 abfallende Span­ nung größer als die Referenzspannung, die am Widerstand 21 ab­ fällt, so gibt der Komparator 14 am Ausgang 15 ein Ausgangssig­ nal ab, das den steuerbaren Schalter 5 einschaltet.
Der leitend gesteuerte Schalter entlädt die Gate-Sourcekapazität von 1 über die Diode 7 und den Widerstand 6 mit einer vorgege­ benen Zeitkonstante. Damit sinkt das Potential am Gateanschluß G des Depletion-FET 8. Sein Widerstand wird damit höher. Das heißt, daß sich der über die Eingangsklemme 23 vom Treiber gelieferte Steuerstrom verringert. Damit wird die Gate-Sourcekapazität von 1 nunmehr nur noch mit einem verringerten Strom nachgeladen. Durch Abstimmen des als steuerbaren Ladewiderstand wirkenden De­ pletion-FET 8 und des durch den steuerbaren Schalter 5 und den Widerstand 6 gebildeten Entladewiderstandes läßt sich ein defi­ niertes, sanftes Abschalten des Leistungs-MOSFET 1 erreichen.
Die Schaltungsanordnung nach Fig. 2 ist um einen Temperatursensor 18, zwei Gatter 16 und 17 sowie um ein Verzögerungsglied 19 er­ weitert. Der Temperatursensor 18 steht mit dem Leistungs-MOSFET 1 in thermischem Kontakt. Er ist einerseits mit der Eingangsklem­ me 23 und anderseits mit einem Eingang eines ODER-Gatters 16 ver­ bunden. Ein zweiter Eingang des Gatters 16 ist mit dem Ausgang eines UND-Gatters 17 verbunden. Der Ausgang von 16 liegt am Ein­ gang des steuerbaren Schalters 5. Ein Eingang von 17 ist mit ei­ nem Ausgang eines Verzögerungsgliedes 19 verbunden. Das Verzö­ gerungsglied 19 ist mit der Eingangsklemme 23 verbunden. Der zweite Eingang des UND-Gatters 17 ist mit dem Ausgang 15 des Komparators 15 verbunden. Das Verzögerungsglied 19 erhält Signale von der Eingangsklemme 23.
Ein vollständiger oder teilweiser Kurzschluß führt wie oben be­ schrieben zum Abschalten des FET 1. Wird der FET 1 durch eine Impulsfolge angesteuert, so wird er während jedes Steuerimpulses abgeschaltet. Um einen Kurzschluß einwandfrei erfassen zu können, empfiehlt es sich, den steuerbaren Schalter 5 erst um eine Zeit t 0 gegen den Beginn des Steuerimpulses verzögert freizugeben. Die Zeit t 0 ist dabei kürzer als die Dauer der Steuerimpulse. Der Schalter 5 wird über die von 19 verzögerten Steuerimpulse mittels des UND-Gatters 17 freigegeben und dann vom Komparator 14 leitend gesteuert.
Dauert der Kurzschluß der Last 2 länger an, so kann trotz des periodischen Abschaltens des FET 1 über die in Verbindung mit Fig. 1 beschriebene Anordnung die Temperatur von 1 soweit anstei­ gen, daß er zerstört werden kann. Daher ist der Temperatursen­ sor 18 vorgesehen, der bei Erreichen der kritischen Temperatur ein Signal abgibt, das über das Gatter 16 den steuerbaren Schal­ ter 5 einschaltet. Dieser bleibt solange eingeschaltet, bis die kritische Temperatur unterschritten wird und der Temperatursen­ sor kein Signal mehr abgibt.
Die Erfindung wurde für eine Schaltungsanordnung beschrieben, in der die Last zwischen dem Drainanschluß des Leistungs-MOSFET und der Versorgungsspannungsquelle liegt. Sie ist jedoch auch für einen Sourcefolger zu verwenden bei der die Last zwischen Sourceanschluß und Masse angeordnet ist.
Die Schaltungsanordnung kann derart abgewandelt werden, daß der Leistungs-MOSFET 1 beim Kurzschluß der Last durch den steuerba­ ren Schalter nicht vollständig abgeschaltet wird, sondern daß der Strom nur durch Vermindern der Gate-Sourcespannung auf einen Bruchteil des Kurzschlußstroms eingestellt wird. Das vollständige Abschalten wird dann durch den Temperatursensor 18 bewirkt.
Der Widerstand 6 kann selbstverständlich in den steuerbaren Schalter integriert oder auch der Innenwiderstand des Schalters sein.
Die Höhe des Steuerstroms kann zur Statusanzeige des FET 1 aus­ gewertet werden. Dazu könnte eine dem Steuerstrom proportionale Spannung an einem der Eingangsklemme 23 vorgeschalteten Wider­ stand abgegriffen und mit einem üblichen Komparator mit einer Re­ ferenzspannung verglichen werden. Das Ausgangssignal des Kompa­ rators zeigt dann an, ob Normalbetrieb oder Kurzschluß, Überlast, Übertemperatur vorliegt.
Die Schaltungsanordnung zum Steuern des steuerbaren Schalters 5 wird über die Eingangsklemme 23 mit Strom versorgt. Es ist aber auch möglich, eine gesonderte Stromversorgung vorzusehen.

Claims (8)

1. Schaltungsanordnung zum Schutz eines Leistungs-MOSFET (1) beim Kurzschluß einer mit dem Leistungs-MOSFET in Reihe liegen­ den Last (2) mit einem zwischen Gateanschluß und Sourceanschluß des Leistungs-MOSFET liegenden steuerbaren Schalter (5), gekennzeichnet durch die Merkmale:.
  • a) der steuerbare Schalter (5) wird eingeschaltet, wenn die Drain- Sourcespannung des Leistungs-MOSFET (1) einen vorgegebenen Wert übersteigt, der größer ist als die beim Nennstrom anliegende Drain-Sourcespannung,
  • b) zwischen Gateanschluß (G) Eingangsklemme (23) liegt ein steuer­ barer Widerstand (2),
  • c) der steuerbare Widerstand wird vom steuerbaren Schalter der­ art gesteuert, daß er bei gesperrtem steuerbarem Schalter einen niedrigen Widerstand und bei leitendem Schalter einen höheren Widerstand hat.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der steuer­ bare Widerstand ein Depletion-FET (8) ist.
3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß mit dem Leistungs-MOSFET ein Temperatursensor (18) in thermischen Kon­ takt steht, daß der Temperatursensor bei Erreichen einer vorge­ gebenen Temperatur ein Signal abgibt und daß dieses Signal den steuerbaren Schalter (5) einschaltet.
4. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der Eingangsklemme (23) und dem Steuereingang des steuerbaren Schal­ ters ein Verzögerungsglied (19) liegt und daß das Ausgangssignal des Verzögerungsgliedes den steuerbaren Schalter (5) freigibt.
5. Schaltungsanordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Drain­ anschluß des Depletion-FET mit der Steuereingangsklemme, sein Sourceanschluß mit dem Gateanschluß des Leistungs-MOSFET, sein Gateanschluß über einen Widerstand mit der Steuereingangsklemme und mit dem steuerbaren Schalter und über eine Diode mit dem Gateanschluß des Leistungs-MOSFET verbunden ist.
6. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß dem steuer­ baren Schalter (5) ein Widerstand (6) in Reihe geschaltet ist.
7. Schaltungsanordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Wider­ stand (6) der Innenwiderstand des Schalters (5) ist.
8. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Eingangs­ klemme (23) Mittel zur Erfassung des Steuerstroms vorgeschaltet sind.
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Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4237119C1 (de) * 1992-11-03 1994-02-24 Texas Instruments Deutschland Schaltungsanordnung zum kontrollierten Abschalten eines Metall-Oxid-Halbleiter-Feldeffekttransistors
EP0631390A2 (de) * 1993-06-22 1994-12-28 Philips Electronics Uk Limited Halbleiter-Leistungsschaltung
FR2710191A1 (fr) * 1993-09-14 1995-03-24 Int Rectifier Corp MOSFET de puissance avec protection de sur-intensité et de surchauffe.
US5401996A (en) * 1991-07-19 1995-03-28 U.S. Philips Corporation Overvoltage protected semiconductor switch
FR2717323A1 (fr) * 1993-09-14 1995-09-15 Int Rectifier Corp MOSFET de puissance avec protection de sur-intensité et de surchauffe.
DE4429285C1 (de) * 1994-08-18 1995-10-12 Siemens Ag Ansteuerschaltung für ein feldeffektgesteuertes Leistungs-Halbleiterbauelement
EP0809295A2 (de) * 1996-05-21 1997-11-26 Siemens Aktiengesellschaft MOSFET mit Temperaturschutz
EP0822661A2 (de) * 1996-08-02 1998-02-04 Siemens Aktiengesellschaft Ansteuerschaltung für ein Feldeffekt gesteuertes Leistungs-Halbleiterbauelement
EP0825716A2 (de) * 1996-08-19 1998-02-25 Siemens Aktiengesellschaft Ansteuerschaltung für ein Feldeffekt gesteuertes Halbleiterbauelement
DE19634612A1 (de) * 1996-08-27 1998-03-12 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Optimierung des Abschaltvorgangs eines nichteinrastenden, abschaltbaren Leistungs-Halbleiterschalters
DE19702602C1 (de) * 1997-01-24 1998-08-20 Sgs Thomson Microelectronics Treiber- und Überlastungsschutzschaltung
DE19742930C1 (de) * 1997-09-29 1998-11-19 Siemens Ag Leistungsschalter mit Überlastschutz
DE19742167C1 (de) * 1997-09-24 1999-01-21 Siemens Ag Ansteuerschaltung für einen Leistungs-MOSFET
DE19739999A1 (de) * 1997-09-11 1999-03-18 Siemens Ag Ansteuerschaltung für ein Feldeffekt gesteuertes Leistungs-Halbleiterbauelement
EP1017173A2 (de) * 1998-12-28 2000-07-05 Yazaki Corporation Spannungsversorgungs-Steuervorrichtung und entprechendes Steuerverfahren
DE10035387A1 (de) * 2000-07-20 2002-02-07 Infineon Technologies Ag Stromschaltanordnung
GB2373383A (en) * 2000-11-15 2002-09-18 Yazaki Corp Wiper control device with abnormal drain voltage detection
DE10020981B4 (de) * 1999-04-30 2004-04-29 International Rectifier Corp., El Segundo Motor-Steuergerät mit Fehlerschutzschaltung
DE102005014167A1 (de) * 2005-03-29 2006-10-05 Hkr Climatec Gmbh Treiberschutzschaltung
EP1837846A2 (de) * 2006-03-23 2007-09-26 Lg Electronics Inc. Plasmaanzeigevorrichtung
US7671636B2 (en) 2006-03-22 2010-03-02 Denso Corporation Switching circuit and driving circuit for transistor

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2632612A1 (de) * 1976-07-20 1978-01-26 Siemens Ag Schaltungsanordnung zum schutz der transistoren in schaltstufen
DE3430961A1 (de) * 1984-08-20 1986-02-27 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Halbleiterschalter
US4698655A (en) * 1983-09-23 1987-10-06 Motorola, Inc. Overvoltage and overtemperature protection circuit

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2632612A1 (de) * 1976-07-20 1978-01-26 Siemens Ag Schaltungsanordnung zum schutz der transistoren in schaltstufen
US4698655A (en) * 1983-09-23 1987-10-06 Motorola, Inc. Overvoltage and overtemperature protection circuit
DE3430961A1 (de) * 1984-08-20 1986-02-27 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Halbleiterschalter

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
FURHMANN, B., Prof. Dr.-Ing.: "Verbesserte Strombegrenzung für Leistungstransistoren. "In: Elektronik, H. 11, 30.5.1986, S. 118-120 *

Cited By (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5401996A (en) * 1991-07-19 1995-03-28 U.S. Philips Corporation Overvoltage protected semiconductor switch
DE4237119C1 (de) * 1992-11-03 1994-02-24 Texas Instruments Deutschland Schaltungsanordnung zum kontrollierten Abschalten eines Metall-Oxid-Halbleiter-Feldeffekttransistors
EP0631390A2 (de) * 1993-06-22 1994-12-28 Philips Electronics Uk Limited Halbleiter-Leistungsschaltung
EP0631390A3 (de) * 1993-06-22 1995-12-13 Philips Electronics Uk Ltd Halbleiter-Leistungsschaltung.
FR2710191A1 (fr) * 1993-09-14 1995-03-24 Int Rectifier Corp MOSFET de puissance avec protection de sur-intensité et de surchauffe.
FR2717323A1 (fr) * 1993-09-14 1995-09-15 Int Rectifier Corp MOSFET de puissance avec protection de sur-intensité et de surchauffe.
DE4429285C1 (de) * 1994-08-18 1995-10-12 Siemens Ag Ansteuerschaltung für ein feldeffektgesteuertes Leistungs-Halbleiterbauelement
EP0809295A2 (de) * 1996-05-21 1997-11-26 Siemens Aktiengesellschaft MOSFET mit Temperaturschutz
EP0809295A3 (de) * 1996-05-21 2000-07-05 Siemens Aktiengesellschaft MOSFET mit Temperaturschutz
EP0822661A2 (de) * 1996-08-02 1998-02-04 Siemens Aktiengesellschaft Ansteuerschaltung für ein Feldeffekt gesteuertes Leistungs-Halbleiterbauelement
EP0822661A3 (de) * 1996-08-02 1999-11-24 Siemens Aktiengesellschaft Ansteuerschaltung für ein Feldeffekt gesteuertes Leistungs-Halbleiterbauelement
DE19633367A1 (de) * 1996-08-19 1998-03-26 Siemens Ag Ansteuerschaltung für ein Feldeffekt gesteuertes Halbleiterbauelement
EP0825716A2 (de) * 1996-08-19 1998-02-25 Siemens Aktiengesellschaft Ansteuerschaltung für ein Feldeffekt gesteuertes Halbleiterbauelement
EP0825716A3 (de) * 1996-08-19 1999-11-03 Siemens Aktiengesellschaft Ansteuerschaltung für ein Feldeffekt gesteuertes Halbleiterbauelement
US5939921A (en) * 1996-08-19 1999-08-17 Siemens Aktiengesellschaft Drive circuit for a field-effect-controlled semiconductor component which opens a switch when a predetermined current is exceeded
DE19634612A1 (de) * 1996-08-27 1998-03-12 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Optimierung des Abschaltvorgangs eines nichteinrastenden, abschaltbaren Leistungs-Halbleiterschalters
US5943205A (en) * 1997-01-24 1999-08-24 Stmicroelectronics, Gmbh Driver and overload protection circuit
DE19702602C1 (de) * 1997-01-24 1998-08-20 Sgs Thomson Microelectronics Treiber- und Überlastungsschutzschaltung
DE19739999A1 (de) * 1997-09-11 1999-03-18 Siemens Ag Ansteuerschaltung für ein Feldeffekt gesteuertes Leistungs-Halbleiterbauelement
DE19739999C2 (de) * 1997-09-11 2002-03-07 Infineon Technologies Ag Ansteuerschaltung für ein mittels Feldeffekt gesteuertes Leistungs-Halbleiterbauelement
DE19742167C1 (de) * 1997-09-24 1999-01-21 Siemens Ag Ansteuerschaltung für einen Leistungs-MOSFET
EP0905899A2 (de) * 1997-09-29 1999-03-31 Siemens Aktiengesellschaft Leistungsschalter mit Überlastschutz
EP0905899A3 (de) * 1997-09-29 1999-12-22 Siemens Aktiengesellschaft Leistungsschalter mit Überlastschutz
DE19742930C1 (de) * 1997-09-29 1998-11-19 Siemens Ag Leistungsschalter mit Überlastschutz
US6137668A (en) * 1997-09-29 2000-10-24 Siemens Aktiengesellschaft Power switch with overload protection
EP1017173A3 (de) * 1998-12-28 2003-07-30 Yazaki Corporation Spannungsversorgungs-Steuervorrichtung und entprechendes Steuerverfahren
EP1017173A2 (de) * 1998-12-28 2000-07-05 Yazaki Corporation Spannungsversorgungs-Steuervorrichtung und entprechendes Steuerverfahren
DE10020981B4 (de) * 1999-04-30 2004-04-29 International Rectifier Corp., El Segundo Motor-Steuergerät mit Fehlerschutzschaltung
DE10035387B4 (de) * 2000-07-20 2006-03-09 Infineon Technologies Ag Stromschaltanordnung
DE10035387A1 (de) * 2000-07-20 2002-02-07 Infineon Technologies Ag Stromschaltanordnung
GB2373383A (en) * 2000-11-15 2002-09-18 Yazaki Corp Wiper control device with abnormal drain voltage detection
US6624604B2 (en) 2000-11-15 2003-09-23 Yazaki Corporation Wiper controller with fault detector device
GB2373383B (en) * 2000-11-15 2004-03-24 Yazaki Corp Wiper control device
DE102005014167B4 (de) * 2005-03-29 2010-06-17 Hkr Climatec Gmbh Treiberschutzschaltung
DE102005014167A1 (de) * 2005-03-29 2006-10-05 Hkr Climatec Gmbh Treiberschutzschaltung
US7982508B2 (en) 2006-03-22 2011-07-19 Denso Corporation Switching circuit and driving circuit for transistor
US7671636B2 (en) 2006-03-22 2010-03-02 Denso Corporation Switching circuit and driving circuit for transistor
US8179169B2 (en) 2006-03-22 2012-05-15 Denso Corporation Driving circuit with variable resistor for transistor
DE102007063687B4 (de) * 2006-03-22 2013-03-14 Denso Corporation Schaltkreis mit einem Transistor
US8519748B2 (en) 2006-03-22 2013-08-27 Denso Corporation Driving circuit for driving transistor based on control current
DE102007013824B4 (de) * 2006-03-22 2013-10-24 Denso Corporation Schaltkreis mit einem Transistor
DE102007063721B4 (de) * 2006-03-22 2014-05-08 Denso Corporation Schaltkreis mit einem Transistor und einer Ansteuerschaltung zur Ansteuerung des Transistors
EP1837846A3 (de) * 2006-03-23 2008-05-28 Lg Electronics Inc. Plasmaanzeigevorrichtung
EP1837846A2 (de) * 2006-03-23 2007-09-26 Lg Electronics Inc. Plasmaanzeigevorrichtung
US7990340B2 (en) 2006-03-23 2011-08-02 Lg Electronics Inc. Plasma display apparatus

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