DE3925949A1 - Elektronenrastermikroskop mit nachruestmodul - Google Patents
Elektronenrastermikroskop mit nachruestmodulInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Elektronenrastermikroskop mit einem
ein- oder zweikanaligen Szintillator, der mit einer zentrischen
Durchführung für den Elektronenstrahl und einem Lichtleitsystem
zu einer außerhalb des Vakuumgefäßes angeordneten Meß- und Auswerteelektronik
und mit einem Rechner versehen ist.
Entsprechend den unterschiedlichen physikalischen Effekten in
der REM (Rasterelektronenmikroskopie, engl. SEM = Scanning Electron
Microskopy) sind mehrere Arten von Detektoren bekannt. Es
werden zwei Arten von Detektoren benutzt. Die SE-Detektoren erfassen
die ausgelösten Sekundärelektronen (engl. Secondary
Electrons), die BSE-Detektoren erfassen den unmittelbar von den
Atomkernen zurückgestreuten Teil (Back Scattered Electrons) des
Primärstrahls. Stereoskopische Erfassung erfordert mindestens
zwei getrennte, an verschiedenen Orten angeordnete Detektorflächen.
Mittels eines REM mit SE-Detektoren kann die Oberflächentopographie
einer Probe in atomaren Größenordnungen betrachtet werden.
Um die Elementverteilung des Materials zu bestimmen, aus denen
diese Oberfläche besteht, werden zusätzlich BSE-Detektoren in
REMs eingebaut. Kenntnisse über Oberflächen sind in Forschung,
Materialprüfung und Qualitätssicherung gefragt. Die Überlagerung
von BSE- und SE-Bild einer Probe ist deshalb besonders informativ
für viele Fragestellungen der Materialprüfung, da sich z. B.
Korngrenzen von Legierungsbestandteilen nicht nur aufgrund von
topographischen Unterschieden, die oft weniger auffällig sind,
sondern auch aufgrund unterschiedlicher Elementverteilung darstellen
lassen.
Bekannt sind nun Rasterelektronenmikroskope mit stereoskopischen
SE-Detektoren nach dem Dual- oder Quadrantensystem und von zwei
Ports aus fest eingebauten zusätzlichen stereoskopischen BSE-Detektoren
als Dualsystem. Diese Dualdetektoren haben zwei aus
Halbkreisen bestehende oder zwei ein Rechteck bildende Detektorflächen
und zwei aus dem Vakuumgefäß des REM herausgeführte
Lichtleiter. Die zwei Lichtleiter ragen fingerartig in das Vakuumgefäß
hinein, erfassen die aus einer Ebene projezierten
Lichtimpulse in zwei aneinandergrenzenden Halbebenen und leiten
diese zu einer Auswerteelektronik. Je ein Lichtleiter leitet die
Impulse einer Halbebene aus dem Vakuumbereich des REM zu der
Auswerteelektronik. Die beiden Lichtleiter gehen in diametraler
Richtung auseinander und erfordern deshalb zwei entsprechende
Ports.
Bekannt sind ferner Rasterelektronenmikroskope mit stereoskopischen
SE-Detektoren nach dem Dual- oder Quadrantensystem und von
zwei Ports aus fest eingebauten zusätzlichen stereoskopischen
BSE-Detektoren als Quadrantensystem. Diese Multidetektoren nach
dem Quadrantensystem haben vier aus Viertelkreisen bestehende
oder vier ein Rechteck bildende Detektorflächen und vier aus dem
Vakuumbereich herausgeführte Lichtleiter. Die vier Lichtleiter
ragen fingerartig in die Vakuumkammer hinein und erfassen die
auf einer Ebene projezierten Lichtimpulse in vier aneinandergrenzenden
Viertelebenen und leiten diese zu einer Auswerteelektronik.
Je ein Lichtleiter leitet die Impulse einer Viertelebene
aus dem Vakuumbereich des SEM zu der Auswerteelektronik. Je zwei
Lichtleiter sind in jedem der zwei sich gegenüberliegenden Ports
angeordnet und arbeiten dann auf einen gemeinsamen Photomultiplier.
Die erforderliche Kanalseparation wird durch eine mechanisch
umlaufende Blende erreicht.
Nachteilig bei derartigen Rasterelektronenmikroskopen ist, daß
an einem Port höchstens zwei Lichtleiter aus dem Vakuumbereich
nach außen geführt sind. In ein Rasterelektronenmikroskop mit
einem Port kann ein BSE-Detektor als Dualsystem eingebaut werden,
für den Einbau eines BSE-Detektors als Quadrantensystem
werden zwei Ports benötigt. Die Nachrüstung eines serienmäßigen
REM mit einem zweiten Port ist aus Platz- und Kostengründen
nicht möglich. Die bei Multidetektoren übliche mechanische Kanalseparation
ist im Verhältnis zur videofrequenten Ablenkung
des Elektronenstrahls langsam, so daß das stereoskopische Bild
nur aus wenigen Zeilen besteht, eine lange Bildaufbauzeit und
schlechte Bildqualität aufweist.
Bei den bekannten REM wird das elektrische Signal vom BSE-Detektor
verstärkt und auf den Bildschirm einer Bildröhre dargestellt,
so daß visuell nur Unterschiede von etwa 5% erkannt
werden können.
Nachteilig dabei ist bei Dual- und Multidetektoren, daß das Bild
nicht elektronisch gespeichert ist, nicht mit anderen Bildern
z. B. der SE-Detektoren gemischt und nicht durch die Software
eines Rechnersystems aufgearbeitet werden kann.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein REM mit einem
Nachrüstmodul zu versehen, welches, ohne die Arbeitsweise der SE-Detektoren
zu beeinflussen, gleichzeitig und synchron zu den
laufenden Messungen die BSE erfaßt. Das Nachrüstmodul soll ohne
störende Inneneinbauten in ein übliches REM älterer Bauart mit
nur einem Port in den Vakuumbereich geführt werden, stereoskopische
BSE-Bildaufnahmen erlauben und weiterhin einen schnellen
videofrequenten Bildaufbau, die Bearbeitung per Rechner und
ein Mischen mit anderen Bildern ermöglichen.
Zur Lösung dieser Aufgabe wird bei einem Elektronenrastermikroskop
ein BSE-Detektor als Nachrüstmodul vorgeschlagen, welches
durch die Vereinigung folgender Merkmale gekennzeichnet ist:
- A. der Szintillator des Detektors besteht aus einem ebenen, scheibenförmigen, mit der Scheibenunterseite der Probe zugewandten Körper geringstmöglicher Dicke,
- B. das Lichtleitsystem zur Weiterleitung der im Szintillatorkörper durch BSE-Elektronen erzeugten Lichtimpulse durch den Port ist an der Scheibenoberseite des Szintillatorkörpers angekoppelt und besteht aus wenigstens einem Lichtleiter, der vakuumdicht durch einen Flansch durchgeführt ist,
- C. die Scheibenoberseite des Szintillatorkörpers weist an den Ankoppelflächen zum Lichtleitsystem eine größtmögliche optische Transmissionsfähigkeit auf,
- D. die Scheibenunterseite und die Seitenkanten des Szintillatorkörpers weisen eine größtmögliche Reflektionsfähigkeit auf.
Marktgängig ist ein nachrüstbarer, einkanaliger BSE-Detektor unter
der Firmenbezeichnung "Robinson detector Model RBC-250R" und
"RBP-505R", der als eine an einem Vakuumflansch aufgebaute Einheit
seitlich durch den Port in das Vakuumgefäß des REM eingeführt
ist. Der Lichtleiter, bestehend aus Acrylglas, und Szintillator
bilden eine Einheit. Der Szintillator ist fein verteilt
im gesamten Lichtleiter enthalten, so daß Selbstabsorption unvermeidbar
ist.
Von Nachteil ist bei einem derartigen Detektor, daß der in Acrylglas
eingeschmolzene Phosphor eine lange Abklingzeit hat.
Plexiglas altert und ist anfällig für die Ausbildung von Mikrorissen
an den bearbeiteten Flächen. Da nur ein Lichtleiter vorhanden
ist, sind stereoskopische Messungen nicht möglich. Dieses
Nachrüstmodul ist also mit dem erfindungsgemäßen nicht vergleichbar.
Das möglichst behinderungsfreie Einfügen eines zusätzlichen BSE-Nachrüstmoduls
unmittelbar über der Probe erfordert besondere
flache geometrische Abmessungen. Eine niedrige Bauhöhe bei stereoskopischen,
jedoch fest (von zwei Ports aus) eingebauten BSE-Detektoren
wird bisher dadurch erreicht, daß die Lichtimpulse an
den Kantenflächen des Szintillators, der dazu an die Dicke des
Lichtleiters angepaßt werden mußte, ausgekoppelt werden. Ein
Auskoppeln der Lichtimpulse auf der Oberfläche wurde bisher nicht
in Erwägung gezogen, da die dafür erforderliche optische Umlenkung
um ca. 90 Winkelgrad aus geometrischen und optischen Gründen
schwierig und mechanisch anspruchsvoll ist.
Die Umlenkung zu den auskoppelnden Kantenflächen wird bei den
beschriebenen Anordnungen dadurch erreicht, daß die Unterseite
des Szintillators regulär reflektierend und die Oberseite matt
diffus bearbeitet ist. Ein erfindungsgemäßer, meist monokristalliner
Szintillator hat demgegenüber eine die Lichtimpulse reflektierende
Unterseite und Kantenfläche sowie eine für die
Lichtimpulse durchlässige Oberseite.
Billige, einfach herzustellende Szintillatoren sind dadurch zu
erreichen,
daß der Szintillator aus einer transparenten Trägerscheibe und einer aufgedampften dünnen Schicht aus einem Phosphor besteht und
das der Szintillator aus einer dünnen Scheibe eines dotierten Einkristalls besteht.
daß der Szintillator aus einer transparenten Trägerscheibe und einer aufgedampften dünnen Schicht aus einem Phosphor besteht und
das der Szintillator aus einer dünnen Scheibe eines dotierten Einkristalls besteht.
Eine präzise Ausgestaltung mit hoher Auflösung durch einen lichtempfindlichen
Szintillator mit kurzer Abklingzeit wird dadurch
erreicht,
daß der Szintillator Cer in einer monokristallinen Yttrium-Aluminium-Pervoskite
(sogenannter YAP : CE³⁺) oder in einer monokristallinen
Yttrium-Aluminium-Granat-Scheibe ist.
Bei bisherigen Ankopplungen dieser Szintillatoren vom Rand her
ist die Oberseite diffus rauh und die Unterseite lichtreflektierend
ausgestaltet. Ein erfindungsgemäßes Merkmal ist,
daß das Lichtleitsystem aus einem Bündel von dünnstmöglichen Lichtleitfasern besteht, die bei senkrechtem oder nahezu senkrechtem Aufsitzen der Faserenden auf der Scheibenoberseite zum seitlichen, möglichst flachen Herausführen durch den Port genügend biegungs- bzw. krümmungsfähig sind und
daß auf die starr fixierte und optisch vorbereitete, aus den Einzelfasern z. B. durch Verkleben und Polieren gebildete Stirnfläche des Faserbündels der Szintillator direkt in dünner Schicht aufgebracht ist.
daß das Lichtleitsystem aus einem Bündel von dünnstmöglichen Lichtleitfasern besteht, die bei senkrechtem oder nahezu senkrechtem Aufsitzen der Faserenden auf der Scheibenoberseite zum seitlichen, möglichst flachen Herausführen durch den Port genügend biegungs- bzw. krümmungsfähig sind und
daß auf die starr fixierte und optisch vorbereitete, aus den Einzelfasern z. B. durch Verkleben und Polieren gebildete Stirnfläche des Faserbündels der Szintillator direkt in dünner Schicht aufgebracht ist.
Eine Verbesserung der optischen Ankoppelung ist darin zu sehen,
daß als Koppelelement zwischen den Enden des Lichtleiters und
der Oberseite des Szintillators Prismen oder Kugelelemente befestigt
sind. Die aus der Oberseite austretenden Lichtimpulse werden
an den Innenflächen des Kugelsegments - je nach Bearbeitung
- regulär oder diffus in den Akzeptanzwinkel des angesetzten
Lichtleiters reflektiert. Gebräuchliche optische Reflektoren, wie
Prismen usw., sind demgegenüber optisch weniger effektiv.
Ein gutes Koppeln der Enden des Lichtleiters mit der Oberseite
des Szintillators wird dadurch hergestellt,
daß die Scheibenoberseite des Szintillatorkörpers und die Stirnfläche
des Faserbündels des Lichtleitsystems zur Transmission
der Lichtimpulse adhäsiv aneinander haftend poliert sind.
Eine besonders leicht herzustellende und billige Ausgestaltung
der Erfindung ist darin zu sehen, daß die Kugelsegmente nicht
als Teil einer Vollkugel z. B. aus geeignetem Glas hergestellt,
sondern in Form von Hohlkugelsegmenten durch entsprechende Herausarbeitung
aus einem äußeren starren Trägermaterial, z. B. Metall
oder Plastik, realisiert werden. Die Innenoberfläche dieser
Hohlkugelsegmente ist reflektierend oder diffus beschichtet, die
Lichtleiter befinden sich in entsprechenden Kanälen im Trägermaterial.
Die Oberseite der Szintillatorscheibe ist antireflex beschichtet.
Stereoskopische Bilder werden dadurch erreicht,
daß der Szintillator rund und in mehrere Segmente unterteilt ist, denen optisch getrennte Lichtleitsysteme zugeordnet sind,
daß der Szintillator rund und in mehrere Ringe oder Quadranten unterteilt ist, denen optisch getrennte Lichtleitsysteme zugeordnet sind,
daß der Szintillator rechteckig und in wenigstens vier Quadranten unterteilt ist und jeder Teilszintillator über ein separates Lichtleit- und Detektorsystem simultan erfaßt werden kann.
daß der Szintillator rund und in mehrere Segmente unterteilt ist, denen optisch getrennte Lichtleitsysteme zugeordnet sind,
daß der Szintillator rund und in mehrere Ringe oder Quadranten unterteilt ist, denen optisch getrennte Lichtleitsysteme zugeordnet sind,
daß der Szintillator rechteckig und in wenigstens vier Quadranten unterteilt ist und jeder Teilszintillator über ein separates Lichtleit- und Detektorsystem simultan erfaßt werden kann.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung gewährleisten das Verarbeiten,
Speichern und Analysieren der durch Messungen erhaltenen
Bilder
durch Speicherung der mittels der segmentierten Szintillatoren erfaßten und optisch getrennt weitergeleiteten Lichtimpulse in zugeordneten optisch-elektronischen Empfängereinheiten und deren Weiterleitung zu einer rechnergestützten Verarbeitung,
durch elektronischen Vorab-Grobausgleich von unterschiedlichen Empfindlichkeiten der einzelnen Kanäle in der Empfängereinheit
und durch einen rechnerseitig nachgeschalteten Feinabgleich und durch Manipulierung der gespeicherten Bilder mittels hochauflösender digitaler Bildverarbeitungssoftware im Rechnersystem.
durch Speicherung der mittels der segmentierten Szintillatoren erfaßten und optisch getrennt weitergeleiteten Lichtimpulse in zugeordneten optisch-elektronischen Empfängereinheiten und deren Weiterleitung zu einer rechnergestützten Verarbeitung,
durch elektronischen Vorab-Grobausgleich von unterschiedlichen Empfindlichkeiten der einzelnen Kanäle in der Empfängereinheit
und durch einen rechnerseitig nachgeschalteten Feinabgleich und durch Manipulierung der gespeicherten Bilder mittels hochauflösender digitaler Bildverarbeitungssoftware im Rechnersystem.
Die mit der Erfindung erzielten Vorteile im Vergleich zu bekannten
BSE-Detektoren als Quadrantensystem liegen insbesondere darin,
daß durch die geometrische Anordnung des Lichtleitsystems
nur ein Port an dem REM gebraucht wird, daß keine Befestigungen
innerhalb des REM erforderlich sind und daß somit ein leichter
Ein- und Ausbau möglich ist.
Die mit der Erfindung erzielten Vorteile im Vergleich zu bekannten
BSE-Detektoren besteht insbesondere darin, daß die Bildaufnahme
stereoskopisch erfolgt. Das Lichtleitsystem besteht nicht
aus Plexiglas, das unter Elektronenstrahlung schnell altert,
sondern aus Glaslichtleitern. Die unterschiedlichen Funktionen:
mechanische Halterung, Szintillation, Ankoppelung und Lichtleitung
sind - anders als beim genannten Robinson-Detektor - separiert,
so daß sie voneinander unabhängig optimiert und durch die
bestgeeigneten Materialien realisiert werden können. Die verwendeten,
neuartigen Szintillatoren haben eine kürzere Abklingzeit,
wodurch das BSE-Rasterelektronenbild schneller aufgebaut
werden kann.
Ein erheblicher erzielter Vorteil liegt in der simultanen Auslesung
einzelner Kanäle, die bisher insbesondere bei digitaler
Bildverarbeitung zu den schwächsten Gliedern des Gesamtsystems
gehörten. Die verwendeten bekannten monokristallinen YAG : CE³⁺-
oder YAP : CE³⁺-Szintillatoren haben eine hohe Empfindlichkeit
und kurze Abklingzeit. Diese Szintillatoren sind in der erfindungsgemäßen
Anordnung dünner als bisherige und daher billiger
herstellbar. Außerdem wird dadurch eine kleinere Selbstabsorption
im Szintillator und somit eine höhere Lichtausbeute erreicht.
In den Zeichnungen ist schematisch der Stand der Technik und daran
anknüpfend die Erfindung in mehreren Ausführungsbeispielen
dargestellt und im folgenden näher beschrieben, und es sind daraus
weitere Besonderheiten und vorteilhafte Merkmale zu entnehmen.
Es zeigen den Stand der Technik:
Fig. 1 ein schematisch dargestelltes REM mit einem Port und
herkömmlichen Detektor in Seitenansicht,
Fig. 2 ein schematisch dargestelltes REM mit zwei Ports und
herkömmlichem BSE-Detektor in Draufsicht,
Fig. 3 die optische Durchführung im Port mit einem aus zwei
separaten Lichtfasern bestehenden Lichtleiter für einen
stereoskopischen Detektor.
Es zeigen die Erfindung:
Fig. 4 ein schematisch dargestelltes REM mit einem Port und
BSE-Detektor nach der Erfindung,
Fig. 5 einen BSE-Detektor nach Fig. 4 mit einer detaillierten
Ausführungsform des Lichtleitsystems in Seitenansicht
entsprechend Anspruch 6 und 7,
Fig. 6 der in Fig. 5 dargestellte BSE-Detektor in Draufsicht,
Fig. 7 die optische Durchführung im Port mit aus vier separaten
Leitfasern bestehendem Lichtleiter,
Fig. 8 ein BSE-Detektor mit einer weiteren detaillierten Ausführungsform
des Lichtleitsystems nach Anspruch 4,
Fig. 9 der in Fig. 8 dargestellte BSE-Detektor in Draufsicht,
Fig. 10 ein BSE-Detektor nach Fig. 8 mit einer weiteren
detaillierten Ausführungsform des Lichtleitsystems mit
direkt aufgebrachtem Phosphor nach Anspruch 5,
Fig. 11 BSE-Detektor mit einer weiteren detaillierten Ausführungsform
nach Anspruch 8.
Das REM in Fig. 1 ist ohne Elektronenkanone, ohne Vakuumpumpvorrichtung,
ohne elektronenoptische Elemente wie Kondensatorlinsen,
Stigmatoren, Ablenkspulen und Kondensatorlinsen und ohne
Elektronenkollektor und -detektor für die Sekundärelektronen
und der dazugehörigen Auswerteeinheit dargestellt. Beschrieben
werden stereoskopische Detektoren gemäß dem Stand der Technik
zur Aufnahme der zurückgestreuten (backscattered) Elektronen, im
folgenden mit BSE bezeichnet.
Der Szintillator 6 fängt die von dem Elektronenstrahl 1 bei Auftreffen
auf die im Vakuum V befindliche Probe 3 zurückgesteuerten
BSE auf, die Lichtimpulse hervorrufen. Der in Segmente unterteilte
runde oder in Quadranten unterteilte rechteckige,
mit einer Durchführung 5 für den Elektronenstrahl 1 versehene
Szintillator 6 ist als Scheibe in dem Streukegel der BSE angeordnet.
Die Lichtimpulse werden von der Oberseite 11 und Unterseite
9 reflektiert und werden durch die Kantenfläche 8 in den
Lichtleiter 7 geleitet, der in dem Port 4 durchgeführt und gehaltert
einer Auswerteeinheit 10 außerhalb des Vakuums V, bestehend
aus Photomultiplier, Versorgung und Auswerteelektronik,
führt.
In Fig. 2 ist der Vakuumbereich V des REM 2 in Draufsicht mit
dem viergeteilten YAP- oder YAG-Szintillator mit der Durchführung
5 für den Elektronenstrahl 1 dargestellt. Die Lichtimpulse
werden an den Außenkanten 8 des Szintillators 6 von den beiden
zweigeteiltem Lichtleitern 7 abgegriffen und je durch einen Port
4 aus dem Vakuumbereich V herausgeführt zu der Auswerteeinheit
10. Nur für einen Dualdetektor ist ein Port ausreichend, für
einen stereoskopischen Multidetektor werden zwei im allgemeinen
gegenüberliegende Ports benötigt.
In Fig. 3 ist eine typische Durchführung durch einen Port 4 mit
zweigeteiltem Lichtleiter 7 in Draufsicht dargestellt.
Die Szintillatorscheiben aus YAP oder YAG müssen, wenn die Ankopplung
zum Lichtleiter über Rand erfolgt, eine möglichst große
Dicke d aufweisen. Die Absorption der BSE-Elektronen und damit
die Lichterzeugung erfolgt jedoch nur in einer wenige µm dicken
Schicht an der Unterseite. Von Elektronen geringer Energie erzeugte
schwache Lichtimpulse können deshalb infolge Selbstabsorption
und schlechter Ankopplung verlorengehen.
Ein anderer als BSE-Detektor benutzter Szintillator besteht aus
einem, der in einem Acrylglaskörper eingeschmolzen ist und in
seiner geometrischen Form den Gegebenheiten des REM angepaßt
werden kann. Bei derartigen Detektoren besteht der Szintillator
6, der Lichtleiter 7 und der mechanische Halter aus demselben
homogenen Acrylglaskörper, der auffällig für die Bildung von Mikrorissen
ist. Die Reflexion an der Ober- und Unterseite 9
wird durch einen außen befestigten Reflektor oder durch Grenzwinkelreflexion
erzielt. Bauartbedingt weist dieser Typ eine
nicht behebbare Unsymmetrie in der Erfassung des Rückstreukegels
auf. Stereoskopische Detektoren in dieser Bauweise sind nicht
bekannt.
Die Merkmale, Einzelheiten und Vorteile der Erfindung sind nun
den in weiteren Zeichnungen schematisch dargestellten Ausführungsbeispielen
zu entnehmen, welche nachstehend näher erläutert
sind.
Das in Fig. 4 dargestellte Ausführungsbeispiel paßt sich in der
äußeren Geometrie dem zum Stand der Technik beschriebenen REM 1
gemäß Fig. 1 an. Der in Segmente unterteilte runde oder in
Quadranten unterteilte rechteckige Szintillator 6 kann auch aus
einer Anzahl von eine Kreisscheibe mit einer Durchführung 5 bildenden
Kreisringen bestehen. Die Lichtimpulse werden von der Unterseite
9 und der rundumlaufenden Kante 8 reflektiert. Die
Oberkante 11 ist durch Bearbeiten wie z. B. Polieren oder aufgrund
geeigneter Beschichtung lichtdurchlässig. Der durch den
Port 4 durchgeführte Lichtleiter 7 lenkt die aus dem Szintillator
austretenden Lichtblitze um ca. 90 Winkelgrad um und führt sie
einer Auswerteeinheit 10 außerhalb des Vakuums V.
In Fig. 5 ist ein Quadranten-BSE-Detektor mit nach der Lehre der
Erfindung geeignetem Lichtleitsystem in Seitenansicht, in Fig. 6
in Draufsicht dargestellt. In Fig. 7 ist die Durchführung der vier
einzelnen, vakuumdicht miteinander verbundenen Lichtleitern 7
dargestellt. Der Lichtleiter 7, der aus vier Lichtleitstäben
oder Fasernbündeln besteht, leitet die an der Oberkante 11 des
Szintillators austretenden Lichtimpulse, die durch Reflexion an
der Innenoberfläche von Halbkugeln 15 ca. 90 Grad umgelenkt wurden,
der Auswerteeinheit 10 zu. Die Halbkugeln 15 sind den Quadranten
des Szintillators 6 zugeordnet. Ein bei dieser Anordnung
zweckmäßig zu verwendender Szintillator stellt YAP : CE³⁺
YAG : CE³⁺ dar.
In Fig. 8 ist eine weitere Ausführungsform der Erfindung in Seitenansicht
und in Fig. 9 in Draufsicht dargestellt. Die Endflächen
16 der vier Lichtleitstäbe 14 oder Faserbündeln 17 des
Lichtleiters 7 sind gekrümmt oder schräg zur Oberfläche 11 angeordnet
und leiten die Lichtimpulse durch innere Reflexion Auswerteeinheit
10.
Bei der in Fig. 10 dargestellten Ausführungsform der Erfindung
ist der Szintillator direkt auf den Endflächen 16 der Lichtleitstäbe
oder Faserbündel aufgebracht. Der Szintillator besteht
entweder aus separaten YAG : CE³⁺- oder YAP : CE³⁺-Scheiben oder ist
vorzugsweise ein aufgedampfter Phosphor.
Nicht dargestellt sind den Fig. 8 bis 10 ähnliche Ausführungsformen,
deren Lichtleiter 7 nicht aus vier, sondern aus mehreren,
vakuumdicht verbundenen Lichtleitstäben 14 oder Faserbündeln 13
Lichtleiter mit tausenden von Einzelfasern sind Stand der Technik,
deren Endflächen den Fig. 8 und 10 entsprechend mechanisch
fixiert und senkrecht oder leicht schräg angeschliffen
nach Angabe konfektioniert werden können.
Benennung
1 Elektronenstrahl
2 REM
3 Probe
4 Port
5 Durchführung
6 Szintillator
7 Lichtleiter
8 Außenkante Szintillator
9 Unterseite Szintillator
10 Auswerteeinheit
11 Oberseite Szintillator
12 Flansch
13 Bündel
14 Leiterfaser
15 Linsen
16 Endfläche
17 starrer Träger
d Dicke des Szintillators
V Vakuumbereich des SEM
2 REM
3 Probe
4 Port
5 Durchführung
6 Szintillator
7 Lichtleiter
8 Außenkante Szintillator
9 Unterseite Szintillator
10 Auswerteeinheit
11 Oberseite Szintillator
12 Flansch
13 Bündel
14 Leiterfaser
15 Linsen
16 Endfläche
17 starrer Träger
d Dicke des Szintillators
V Vakuumbereich des SEM
Claims (15)
1. Elektronenrastermikroskop mit einem ein- oder mehrkanaligen
Szintillator, der mit einer zentrischen Durchführung für den
Elektronenstrahl und einem Lichtleitsystem zu einer außerhalb
des Vakuumgefäßes angeordneten Meß- und Auswerteelektronik und
mit einem Rechner versehen ist,
gekennzeichnet durch
ein seitlich an einen Port (4) anflanschbares Nachrüstmodul mit
folgenden Eigenschaften:
- A. der Szintillator (6) des Detektors besteht aus einem ebenen, scheibenförmigen, mit der Scheibenunterseite (9) der Probe (3) zugewandten Körper geringstmöglicher Dicke (d),
- B. das Lichtleitsystem zur Weiterleitung der im Szintillatorkörper (6) durch BSE-Elektronen erzeugten Lichtimpulse durch den Port (4) ist an der Scheibenoberseite (11) des Szintillatorkörpers (6) angekoppelt und besteht aus wenigstens einem Lichtleiter (7), der vakuumdicht durch einen Flansch (12) durchgeführt ist,
- C. die Scheibenoberseite (11) des Szintillatorkörpers (6) weist an den Ankoppelflächen zum Lichtleitsystem eine größtmögliche optische Transmissionsfähigkeit auf,
- D. die Scheibenunterseite (9) und die Seitenkanten (8) des Szintillatorkörpers (6) weisen eine größtmögliche Reflexionsfähigkeit auf.
2. Elektronenrastermikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Szintillator (6) aus einer transparenten
Trägerscheibe und einer aufgedampften dünnen Schicht aus einem
Phosphor besteht.
3. Elektronenrastermikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Szintillator (6) aus einer dünnen Scheibe
eines dotierten Einkristalls besteht.
4. Elektronenrastermikroskop nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß der Szintillator (6) Cer in einer monokristallinen
Yttrium-Aluminium-Perovskite (sogenannter YAP : CE³⁺) oder
in einer monokristallinen Yttrium-Aluminium-Granat- (sogenannter
YAG : CE³⁺) Scheibe ist.
5. Elektronenrastermikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß das Lichtleitsystem aus einem Bündel (13) von
dünnstmöglichen Lichtleitfasern besteht, die bei senkrechtem
oder nahezu senkrechtem Aufsitzen der Faserenden auf der Scheibenoberseite
(11) zum seitlichen, möglichst flachen Herausführen
durch den Port (4) genügend biegungs- bzw. krümmungsfähig sind.
6. Elektronenrastermikroskop nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß auf die starr fixierte und optisch vorbereitete,
aus den Einzelfasern z. B. durch Verkleben und Polieren
gebildete Stirnfläche des Faserbündels der Szintillator (6) direkt
in dünner Schicht aufgebracht ist.
7. Elektronenrastermikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß als Koppelelement zwischen den Enden des
Lichtleiters und der Oberseite (11) des Szintillators (6)
Prismen oder Kugelelemente (15) befestigt sind.
8. Elektronenrastermikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Scheibenoberseite (11) des Szintillatorkörpers
(6) und die Stirnfläche des Faserbündels des Lichtleitsystems
zur Transmission der Lichtimpulse adhäsiv aneinanderhaftend
poliert sind.
9. Elektronenrastermikroskop nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß als Koppelelemente zwischen den Enden des
Lichtleiters (7) und der antireflexbeschichteten Oberseite (11)
des Szintillators (6) aus einem äußeren starren Träger (17)
herausgearbeitete Hohlkugelsegmente dienen.
10. Elektronenrastermikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Szintillator (6) rund und in mehrere Segmente
unterteilt ist, denen optisch getrennte Lichtleitsysteme
zugeordnet sind.
11. Elektronenrastermikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Szintillator (6) rund und in mehrere
Ringe oder Quadranten unterteilt ist, denen optisch getrennte
Lichtleitsysteme zugeordnet sind.
12. Elektronenrastermikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Szintillator (6) rechteckig und in wenigstens
vier Quadranten unterteilt ist, denen optisch getrennte
Lichtleitsysteme zugeordnet sind.
13. Elektronenrastermikroskop nach wenigstens einem der vorstehenden
Ansprüche, gekennzeichnet durch Speicherung der
mittels der segmentierten Szintillatoren erfaßten und optisch
getrennt weitergeleiteten Lichtimpulse in zugeordneten optisch-elektronischen
Empfängereinheiten und deren Weiterleitung zu
einer rechnergestützten Verarbeitung.
14. Elektronenrastermikroskop nach Anspruch 13, gekennzeichnet
durch elektronischen Vorab-Grobausgleich von unterschiedlichen
Empfindlichkeiten der einzelnen Kanäle in der Empfängereinheit
und durch einen rechnerseitig nachgeschalteten Feinabgleich.
15. Elektronenrastermikroskop nach den Ansprüchen 13 und 14,
gekennzeichnet durch Manipulierung der gespeicherten Bilder
mittels hochauflösender digitaler Bildverarbeitungssoftware im
Rechnersystem.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19893925949 DE3925949A1 (de) | 1989-08-05 | 1989-08-05 | Elektronenrastermikroskop mit nachruestmodul |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19893925949 DE3925949A1 (de) | 1989-08-05 | 1989-08-05 | Elektronenrastermikroskop mit nachruestmodul |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3925949A1 true DE3925949A1 (de) | 1991-02-07 |
Family
ID=6386580
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19893925949 Withdrawn DE3925949A1 (de) | 1989-08-05 | 1989-08-05 | Elektronenrastermikroskop mit nachruestmodul |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3925949A1 (de) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0561584A1 (de) * | 1992-03-19 | 1993-09-22 | Hitachi, Ltd. | Rasterelektronenmikroskop und Methode zum Steuern desselben |
WO1998040906A1 (en) * | 1997-03-13 | 1998-09-17 | Preciosa A.S. | Scanning electron microscope detection system |
EP1916696A1 (de) | 2006-10-25 | 2008-04-30 | ICT, Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik Mbh | Detektor für geladene Teilchen, Teilchenstrahlapparat und Verfahren zur Erzeugung eines Bildes |
WO2010021012A1 (en) * | 2008-08-20 | 2010-02-25 | Advantest Corporation | Electron detection device and scanning electron microscope |
US7872236B2 (en) * | 2007-01-30 | 2011-01-18 | Hermes Microvision, Inc. | Charged particle detection devices |
US7919760B2 (en) | 2008-12-09 | 2011-04-05 | Hermes-Microvision, Inc. | Operation stage for wafer edge inspection and review |
US7960697B2 (en) | 2008-10-23 | 2011-06-14 | Hermes-Microvision, Inc. | Electron beam apparatus |
US8094924B2 (en) | 2008-12-15 | 2012-01-10 | Hermes-Microvision, Inc. | E-beam defect review system |
DE112018007843B4 (de) | 2018-09-21 | 2024-05-29 | Hitachi High-Tech Corporation | Mit einem strahl geladener teilchen arbeitende vorrichtung |
-
1989
- 1989-08-05 DE DE19893925949 patent/DE3925949A1/de not_active Withdrawn
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0561584A1 (de) * | 1992-03-19 | 1993-09-22 | Hitachi, Ltd. | Rasterelektronenmikroskop und Methode zum Steuern desselben |
WO1998040906A1 (en) * | 1997-03-13 | 1998-09-17 | Preciosa A.S. | Scanning electron microscope detection system |
EP1916696A1 (de) | 2006-10-25 | 2008-04-30 | ICT, Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik Mbh | Detektor für geladene Teilchen, Teilchenstrahlapparat und Verfahren zur Erzeugung eines Bildes |
US7842930B2 (en) | 2006-10-25 | 2010-11-30 | ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterpruftechnik mbH | Charged particle detector assembly, charged particle beam apparatus and method for generating an image |
US7928383B2 (en) | 2007-01-30 | 2011-04-19 | Hermes-Microvision, Inc. | Charged particle system including segmented detection elements |
US7872236B2 (en) * | 2007-01-30 | 2011-01-18 | Hermes Microvision, Inc. | Charged particle detection devices |
JP2012500447A (ja) * | 2008-08-20 | 2012-01-05 | 株式会社アドバンテスト | 電子検出装置及び走査型電子顕微鏡 |
WO2010021012A1 (en) * | 2008-08-20 | 2010-02-25 | Advantest Corporation | Electron detection device and scanning electron microscope |
US8354638B2 (en) | 2008-08-20 | 2013-01-15 | Advantest Corp. | Electron detection device and scanning electron microscope |
US7960697B2 (en) | 2008-10-23 | 2011-06-14 | Hermes-Microvision, Inc. | Electron beam apparatus |
TWI382442B (zh) * | 2008-10-23 | 2013-01-11 | Hermes Microvision Inc | 電子束裝置 |
US7919760B2 (en) | 2008-12-09 | 2011-04-05 | Hermes-Microvision, Inc. | Operation stage for wafer edge inspection and review |
US8094924B2 (en) | 2008-12-15 | 2012-01-10 | Hermes-Microvision, Inc. | E-beam defect review system |
DE112018007843B4 (de) | 2018-09-21 | 2024-05-29 | Hitachi High-Tech Corporation | Mit einem strahl geladener teilchen arbeitende vorrichtung |
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