DE3842044A1 - Flugzeit(massen)spektrometer mit hoher aufloesung und transmission - Google Patents
Flugzeit(massen)spektrometer mit hoher aufloesung und transmissionInfo
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf Flugzeit(massen)spek
trometer mit einer einen gepulsten Ionenstrahl erzeu
genden Ionenquelle mit einer Folge von Elektroden und
potentialformenden Einrichtungen, einem Reflektor mit
Geschwindigkeitsfokussierung durch Strahlumkehr und
einem Detektor.
Massenspektrometer der vorstehend genannten Art sind
im Handel erhältlich und enthalten üblicherweise
sowohl in der Ionenquelle als auch im Reflektor sowie
ggf. am Detektor potentialformende Drahtnetze. Durch
solche wird die Transmission der Geräte vermindert
und es können störende Sekundäreffekte auftreten.
Ziel der Erfindung ist ein Gerät mit demgegenüber
verbesserter Transmission bei gleichzeitig hoher
Massenauflösung und Vermeidung von Störeffekten.
Das zu diesem Zweck entwickelte erfindungsgemäße
Gerät der eingangs genannten Art ist dadurch gekenn
zeichnet, daß als Einrichtung zur Potentialformung
anstelle sonst üblicher Gitter in der Ionenquelle und
ggf. im Reflektor eine programmierte Potentialvertei
lung an den Elektroden und/oder eine programmierte
Gestaltung der Elektrodenform vorgesehen sind.
Die Ionen werden in der Ionenquelle insbesondere
durch eine lasergepulste Ionenerzeugung gebildet.
Die Programmierung erfolgt vorzugsweise nach einem
Overrelaxationsverfahren unter Lösung der Laplace-
Gleichungen unter Zugrundelegung von einer Folge von
potentialformenden Elektroden, deren Gestalt und/oder
unterschiedliche Potentiale als Optimierungselemente
dienen.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der beigefügten
schematischen Zeichnungen erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 die grundsätzliche Anordnung eines
Flugzeit(massen)spektrometers mit
erfindungsgemäß optimiertem
Strahlverlauf;
Fig. 2 eine optimierte Potentialverteilung
in der Ionenquelle;
Fig. 3 eine optimierte Elektrodengeometrie
in der Ionenquelle;
Fig. 4 Potential- und Strahlverlauf im
erfindungsgemäßen elektrostatischen
Reflektor;
Fig. 5 einen üblichen (a) und einen erfin
dungsgemäßen (b) Detektor und
Fig. 6 die Signalverteilung für eine Unter
suchung von Eisenclustern (Fe10) im
erfindungsgemäßen Gerät.
Fig. 1 zeigt die Form des Ionenpakets einer Masse
(von z. B. 560 amu) in Zeitschritten von 200 ns. Wie
man sieht, wird beim Flugzeit(massen)spektrometer
(das im übrigen auch für Flugzeitspektrometrie unab
hängig von der Massenerkennung dienen kann) ein in
der Ionenquelle erzeugter gepulster Ionenstrahl (her
stammend von einem eingeschossenen Neutralteilchen
strahl, Oberflächensputterung oder dergleichen) durch
eine Folge von Elektroden 2 räumlich und zeitlich
gebündelt und gelangt zum Reflektor 3 (für den ein
Optimierungsbeispiel in Fig. 4 gezeigt ist), der
ebenfalls eine Folge von Elektroden aufweist und in
dem eine Geschwindigkeitsbündelung durch Richtungsum
kehr erfolgt, die sich am Detektor 4 bemerkbar macht.
Üblicherweise enthalten sowohl die Ionenquelle als
auch der Reflektor potentialformende Drahtnetze und
häufig ist auch am Detektor ein weiteres Netz vorge
sehen.
Erfindungsgemäß wird nun auf solche Netze vollständig
verzichtet und damit sowohl eine verbesserte Trans
mission erreicht als auch eine Unterdrückung störender
Sekundäreffekte. Erfindungsgemäß werden vielmehr die
an den Elektroden entstehenden Felddurchgriffe zur
Strahlführung und Strahlformung ausgenutzt, indem
eine diesem Umstand Rechnung tragende programmierte
Potentialverteilung an den Elektroden 2 vorgesehen
wird, wie z.B. in Fig. 2 gezeigt ist und/oder eine
der gewollten Optimierung angepaßte Elektrodenform
vorgesehen wie in Fig. 3 angedeutet ist.
Ein Vergleich der Figuren a und b von Fig. 5 zeigt
die Wirkung eines dreh- und verfahrbar justierten
Kanalplattendetektors, durch dessen Einjustierung
eine Optimierung der Auflösung und Empfindlichkeit
zusätzlich erreicht wird. Die Kanalplatte(n) ist bzw.
sind nur schematisch angedeutet. Die schraffierte
Fläche gibt lediglich die Lage der Platte(n) an.
Das Ergebnis einer Ionenclusteruntersuchung von Eisen
clusterionen ist in Fig. 6 dargestellt, aus der die
hervorragende Massenauflösung erkennbar ist. Erfin
dungsgemäß wird eine Auflösung m/Δm von einigen Tausend
bei praktisch 100%-iger Transmission erreicht.
Claims (4)
1. Flugzeit(massen)spektrometer mit einer einen ge
pulsten Ionenstrahl erzeugenden Ionenquelle mit
einer Folge von Elektroden und potentialformenden
Einrichtungen, einem Reflektor mit Geschwindig
keitsfokussierung durch Strahlumkehr und einem
Detektor,
dadurch gekennzeichnet,
daß als Einrichtung zur Potentialformung anstelle
sonst üblicher Gitter in der Ionenquelle und ggf.
im Reflektor eine programmierte Potentialverteilung
an den Elektroden und/oder eine programmierte
Gestaltung der Elektrodenform vorgesehen sind.
2. Spektrometer nach Anspruch 1,
gekennzeichnet durch
eine lasergepulste Ionenerzeugung.
3. Spektrometer nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Programmierung auf ein Overrelaxationsver
fahren unter Optimierung der elektrostatischen
Potentiale durch Lösung der Laplace-Gleichung
zurückgeht.
4. Spektrometer nach einem der vorangehenden Ansprüche,
gekennzeichnet durch
einen Kanalplattendetektor mit Justierungsmitteln
zur Einrichtung der Position der Detektoreinfalls
fläche und ihres Winkels relativ zum Strahl.
Priority Applications (3)
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DE3842044A DE3842044A1 (de) | 1988-12-14 | 1988-12-14 | Flugzeit(massen)spektrometer mit hoher aufloesung und transmission |
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ID=6369123
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