DE3734561A1 - Dehnungsmessverfahren - Google Patents
DehnungsmessverfahrenInfo
- Publication number
- DE3734561A1 DE3734561A1 DE19873734561 DE3734561A DE3734561A1 DE 3734561 A1 DE3734561 A1 DE 3734561A1 DE 19873734561 DE19873734561 DE 19873734561 DE 3734561 A DE3734561 A DE 3734561A DE 3734561 A1 DE3734561 A1 DE 3734561A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- grating
- grid
- test specimen
- frequency
- photo
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
- G01B11/165—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge by means of a grating deformed by the object
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Dehnungsmessung
an Festkörpern (im folgenden auch Prüfkörper genannt).
Die Dehnungsmessung erfolgt heute zum überwiegenden Teil
mit Hilfe von Dehnungsmeßstreifen nach dem Prinzip der
elektrischen Widerstandsmessung. Wird der Dehnungsmeßstrei
fen auf einen Prüfkörper aufgeklebt, so macht er die bei
Belastung an der Meßstelle auftretenden Dehnungen oder
Stauchungen mit, was zu einer elastischen Längung oder
Kürzung des Widerstanddrahtes und als Folge davon zu einer
Widerstandsänderung führt. Die Widerstandsänderung kann
an einem Instrument, das eine Wheatstone-Brücke enthält,
abgelesen und unmittelbar in eine Dehnung oder Spannung
umgerechnet werden. Bei der Widerstands-Dehnungsmessung
handelt es sich also um eine Kontaktmethode, bei der Wider
standsdrähte unmittelbar auf dem Prüfkörper angebracht
werden müssen.
Weiter ist es bekannt, Dehnungsmessungen mit Hilfe rein
optischer Verfahren mit Hilfe von Moir´-Streifen durchzu
führen. Bei dieser Moir´-Methode wird der Streifenabstand
oder die Änderung der Streifenlage (Gradient) als Parameter
zur Berechnung der Dehnung gemessen (vgl. Fu-Pen Chiang:
"Moire Methods of Strain Analysis", Kapital 6 in Manual
on Experimental Stress Analysis, März, 1978, herausgegeben
von der Society of Experimental Mechanics, 3. Auflage).
Bei der Ausmessung der geometrischen Streifenabstände
und bei der Gradientenbestimmung von Streifenpositionen
treten meßtechnische Probleme auf, die einer weiten Ver
breitung der optischen Dehnungsmessung bisher entgegenstan
den.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein optisches
Dehnungsmeßverfahren unter Verwendung von Moir´-Streifen
zu entwickeln, das meßtechnisch einfach durchführbar ist.
Zur Lösung dieser Aufgabe werden die in den Ansprüchen
1 und 6 angegebenen Verfahrensschritte vorgeschlagen.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen
des Erfindungsgedankens ergeben sich aus den Unteransprü
chen.
Unter einem Gitter wird im folgenden ein geometrisches
Muster von abwechselnd dunklen und hellen geraden Streifen
mit konstanter Teilung verstanden, die beispielsweise
auf einem Film- oder Glassubstrat aufgedruckt sein können.
Werden zwei solcher Gitter mit leicht unterschiedlicher
Teilung und/oder Ausrichtung optisch überlagert, entsteht
ein Interferenzmuster, das sogenannte Moir´-Muster. Dieses
Muster bildet eine räumliche Welle aus dunklen und hellen
Streifen, deren Intensitätsprofil nahezu sinusförmig ist.
Wenn nun eines der Gitter in einer senkrecht zu den Gitter
linien verlaufenden Richtung bewegt wird, wandern auch
die Moir´-Streifen, aber mit einer gegenüber der Bewegung
erhöhten Geschwindigkeit. Wenn nun der kleine Unterschied
in der Gitterteilung darauf zurückzuführen ist, daß eines
der Gitter einer mechanischen Dehnung unterworfen wurde,
kann die Dehnung gemäß der Erfindung durch Bestimmung
der Phasendifferenz zwischen zwei Punkten der vorbeilaufen
den Moir´-Streifen oder auch der Frequenz der vorbeilaufen
den Moir´-Streifen an einem Punkt abgeleitet werden. Im
konkreten Anwendungsfall wird eines der Gitter auf der
Oberfläche des Prüfkörpers oder in dessen Inneren ange
bracht, beispielsweise aufgeklebt oder eingraviert, und
einer mechanischen Dehnung unterworfen. Weiter wird ein
Referenzgitter dem Gitter des Prüfkörpers optisch überla
gert, um die Moir´-Streifen zu bilden. Diese Überlagerung
kann entweder durch unmittelbaren physischen Kontakt oder
durch ein optisches Abbildungssystem erzeugt werden. In
der sogenannten Phasenmethode werden zwei Fotoempfänger
verwendet. Die bewegten Moir´-Streifen werden dadurch
gebildet, daß das Referenzgitter entlang einer zu den
Gitterstreifen senkrechten Richtung verschoben wird, wäh
rend das Gitter auf dem Prüfkörper und die Empfänger räum
lich festgehalten werden. Bei der Frequenzmethode wird
nur ein Fotoempfänger verwendet. Die bewegten Moir´-Strei
fen werden hier durch Verschiebung des Referenzgitters
zusammen mit dem Fotoempfänger erzeugt. Die Phasen- bzw.
Frequenz-Information der bewegten Moir´-Streifen kann
entweder aus einer Darstellung dieser Signale auf einem
Oszilloskop oder mit Hilfe eines elektronischen Phasen
messers oder Frequenzzählers gemessen oder nach vorherge
hender Digitalisierung der Signale in einem Computer bei
spielsweise unter Anwendung einer Fourier-Transformation
(FFT - fast Fourier transform) berechnet werden.
Im folgenden wird die Erfindung anhand der in der Zeich
nung schematisch dargestellten Ausführungsbeispiele näher
erläutert. Es zeigt
Fig. 1a eine Anordnung zur optischen Dehnungsmessung
nach der Phasenmethode;
Fig. 1b ein gegenüber Fig. 1a abgewandeltes Ausführungs
beispiel;
Fig. 2 ein Diagramm der Ausgangssignale der Fotoempfän
ger nach Fig. 1a bzw. 1b;
Fig. 3 eine Anordnung zur optischen Dehnungsmessung
nach der Frequenzmethode;
Fig. 4 ein Diagramm des Ausgangssignals des Fotoempfän
gers nach Fig. 3;
Fig. 5 ein gegenüber Fig. 1a und 1b abgewandeltes Aus
führungsbeispiel eines Dehnungsmessers in perspek
tivischer Darstellung mit zugehörigem Diagramm der
Ausgangssignale der beiden Fotoempfänger;
Fig. 6 ein gegenüber Fig. 3 abgewandeltes Ausführungs
beispiel eines Dehnungsmessers in perspektivi
scher Darstellung mit Diagramm des Ausgangssig
nals des zugehörigen Fotoempfängers.
Die in den Fig. 1a und 1b schematisch dargestellten Anord
nungen zur optischen Dehnungsmessung arbeiten nach der
sogenannten Phasenmethode. Bei dem Ausführungsbeispiel
nach Fig. 1a ist das Gitter GR 1 auf die Oberfläche des
Prüfkörpers S aufgeklebt, aufzementiert oder eingraviert.
Der Prüfkörper S wird in Richtung der beiden Pfeile einer
mechanischen Belastung unterworfen. Das in seiner Struktur
im wesentlichen dem körperfesten Gitter GR 1 entsprechende
Referenzgitter GR 2 befindet sich auf einer mechanischen
Vorrichtung, beispielsweise einem Objektträger, der paral
lel in Kontakt oder in unmittelbarer Nähe zu dem Gitter GR 1
beispielsweise mit Hilfe eines Schrittmotors verschiebbar
angeordnet ist. Die Beleuchtung der Gitter erfolgt mit
einer nicht dargestellten Gleichstrom-Lichtquelle, die
auf jeder Seite der betreffenden Gitter angeordnet sein
kann. Die sich ergebenden Moir´-Streifen werden über eine
Linse L auf eine Mattscheibe GG abgebildet. Hinter der
Mattscheibe sind zwei Fotoempfänger D 1 und D 2 im Abstand
d voneinander angeordnet. Wenn nun das Referenzgitter
GR 2 in seiner Ebene mit konstanter Geschwindigkeit v senk
recht zur Ausrichtung der Gitterlinien verschoben wird,
laufen auf der Mattscheibe vor den beiden Empfängern D 1
und D 2 Moir´-Streifen vorbei, deren Ausgangssignale (Inten
sität über Zeit) einen sinusförmigen Verlauf aufweisen,
wie in dem Diagramm nach Fig. 2 dargestellt ist. Zwischen
den beiden Wellen ergibt sich eine Phasendifferenz Φ.
Bei dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 1b ist die optische
Anordnung dahingehend geändert, daß die beiden Gitter
GR 1 und GR 2 in großem Abstand voneinander angeordnet sind.
Das auf dem Prüfkörper befindliche Gitter GR 1 befindet
sich in der Objektebene und das Referenzgitter GR 2 in
der Bildebene der fotografischen Linse L. Das Referenzgit
ter GR 2 befindet sich dabei in unmittelbarem Kontakt mit
der Mattscheibe GG. Die beiden im Abstand d voneinander
angeordneten Fotoempfänger D 1 und D 2 sind wiederum hinter
der Mattscheibe angeordnet. Das Referenzgitter GR 2 wird
entweder separat oder zusammen mit der Mattscheibe bei
festgehaltenen Fotoempfängern D 1 und D 2 mit der Geschwin
digkeit v verschoben.
Im folgenden wird zur Vereinfachung der Beschreibung die
Vergrößerung des optischen Abbildungssystems mit eins
angenommen (für andere Vergrößerungen muß noch ein Korrek
turfaktor hinzugefügt werden). Aus der Phasendifferenz
Φ der beiden Ausgangssignale der Fotoempfänger kann der
Dehnungswert e gemittelt über den Abstand der beiden Em
pfänger an den zugehörigen Stellen der Prüfkörperoberfläche
wie folgt berechnet werden:
- e = p Φ/360d
wobei p die Teilung des Referenzgitters (und des Gitters
auf dem Prüfkörper ohne Dehnung) und d der Abstand zwi
schen den Empfängern D 1 und D 2 bedeuten.
In Fig. 3 ist eine Anordnung zur Dehnungsmessung nach
der Frequenzmethode dargestellt. Die optische Anordnung
ist ähnlich wie die in Fig. 1b mit folgender Ausnahme:
Anstelle der beiden Fotoempfänger wird nur ein Fotoem
pfänger D verwendet. Weiter sind das Referenzgitter GR 2,
die Mattscheibe GG und der Fotoempfänger D starr mit
einander verbunden, so daß sie nur als Einheit verschoben
werden können. Wenn nun diese Einheit mit einer konstan
ten Geschwindigkeit v senkrecht zu den Gitterstreifen
verschoben wird, bewegen sich wiederum Moir´-Streifen
an dem Fotoempfänger D vorbei. Das sinusförmige Ausgangs
signal (Intensität über Zeit) ist in Fig. 4 dargestellt.
Es hat eine charakteristische Frequenz f. Die Dehnung
e an dem der Empfängerposition entsprechenden Punkt des
Prüfkörpers ergibt sich aus folgender Beziehung:
- e = 1 - fp/v = 1 - f/f o = 1 - T o /T
wobei p die Teilung des Referenzgitters (und des Gitters
auf dem ungedehnten Prüfkörper), v die Vorschubgeschwin
digkeit der Gitter-Mattscheibe-Empfänger-Einheit, f o die
Frequenz des Moir´-Signals bei unbelastetem oder mit einer
Ausgangsbelastung beaufschlagtem Prüfkörper, und f die
Frequenz des Moir´-Signals bei gedehntem Prüfkörper auf
grund einer aufgewandten Belastung. T o und T sind die
Perioden des Signals, die den Frequenzen f o und f ent
sprechen.
Die in den Fig. 5 und 6 gezeigten Meßanordnungen ent
sprechen denen der Fig. 1 und 2. Es wurde lediglich das
optische Abbildungssystem weggelassen. Die Empfänger sind
daher in unmittelbarer Nachbarschaft der Gitter angeord
net. Im Falle der Anordnung nach Fig. 5 (Phasenmethode)
wird das Referenzgitter relativ zum Prüfkörper und zu
den Empfängern mit konstanter Geschwindigkeit v bewegt,
während im Falle der Fig. 6 (Frequenzmethode) der Fotoem
pfänger und das Referenzgitter gemeinsam mit der Geschwin
digkeit v gegenüber dem Prüfkörper bewegt werden.
Die Phasendifferenz Φ oder der Frequenzwert f (und f o )
können auf verschiedene Weise bestimmt werden. Am ein
fachsten lassen sich diese Parameter aus dem Oszilloskop
bild der Signale ausmessen. Weiter können sie an einem
Phasenmesser oder einem Frequenzzähler abgelesen werden.
Bei höheren Genauigkeitsanforderungen werden die Ausgangs
signale der Fotoempfänger mit Hilfe eines Analog-Digital
wandlers digitalisiert und in einen Computer eingegeben.
Unter Verwendung numerischer Filtermethoden kann hierbei
das Signal/Rauschverhältnis verbessert werden. Durch An
wendung einer Fourier-Transformation (FFT - fast Fourier
transform) erhält man das Frequenzspektrum der Signale.
Bei der Phasenmethode werden sowohl die Amplituden-Fre
quenzverteilung als auch die Phasen-Frequenzverteilung
für die beiden Signale erzeugt. Die Maximalwerte der Ampli
tuden-Frequenzverteilung werden hierbei zur Lokalisierung
der zugehörigen Phasensignale verwendet, deren Differenz
dann zur Berechnung der Dehnungswerte herangezogen wird.
Bei der Frequenzmethode wird dagegen der Maximalwert der
Amplituden-Frequenzverteilung unmittelbar zur Berechnung
der Dehnung herangezogen.
Bei einer Auswertung der Meßwerte nach der FFT-Methode
(fast Fourier transform) können Dehnungswerte bis zu 1 Mi
krodehnung gemessen werden.
Claims (12)
1. Verfahren zur Dehnungsmessung an Prüfkörpern mit Hilfe
eines auf die Oberfläche des Prüfkörpers aufgebrachten,
aus einer Anzahl zueinander paralleler dunkler und
heller Streifen mit im wesentlichen konstanter Teilung
bestehenden ersten Gitters, eines im wesentlichen
die gleiche Struktur wie das erste Gitter aufweisenden
zweiten Gitters, einer die beiden Gitter beleuchtenden
Lichtquelle und eines in der Nähe des zweiten Gitters
angeordneten Fotoempfängers, bei welchem
- - das von den beiden Gittern bei zueinander paralleler Ausrichtung ihrer Streifen abgegebene Licht überlagert und dem Fotoempfänger zugeleitet wird,
- - das zweite Gitter zusammen mit dem Fotoempfänger im wesentlichen parallel zum ersten Gitter und im wesentlichen senkrecht zur Streifenrichtung bewegt wird, wodurch am Ausgang des Fotoempfängers ein oszil lierendes Intensitätssignal erhalten wird,
- - und bei welchem die mittlere Frequenz des oszillie renden Intensitätssignals als Maß für die Dehnung des Prüfkörpers gemessen wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß das oszillierende Intensitätssignal digitalisiert und einer Fourier-Transformation unterzogen wird, und
daß die mittlere Frequenz aus dem Amplitudenmaximum der hierdurch erhaltenen Amplituden-Frequenzverteilung bestimmt wird.
daß das oszillierende Intensitätssignal digitalisiert und einer Fourier-Transformation unterzogen wird, und
daß die mittlere Frequenz aus dem Amplitudenmaximum der hierdurch erhaltenen Amplituden-Frequenzverteilung bestimmt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß das vorzugsweise auf einem Träger befindliche
erste Gitter mit der Oberfläche des Prüfkörpers verbun
den, vorzugsweise auf diese aufgeklebt oder aufzemen
tiert wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich
net, daß das Gitter in die Oberfläche des Prüfkörpers
unmittelbar eingebraucht, vorzugsweise eingeritzt
oder eingeätzt wird.
5. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach einem
der Ansprüche 1 bis 4, gekennzeichnet durch ein opti
sches Abbildungssystem, in dessen Objektebene das
erste Gitter und in dessen Bildebene das zweite Gitter
mit dem Fotoempfänger angeordnet sind.
6. Verfahren zur Dehnungsmessung an Prüfkörpern mit Hilfe
eines auf die Oberfläche des Prüfkörpers aufgebrachten,
aus einer Anzahl zueinander paralleler dunkler und
heller Streifen mit im wesentlichen konstanter Teilung
bestehenden ersten Gitters, eines im wesentlichen
die gleiche Struktur wie das erste Gitter aufweisenden
zweiten Gitters, einer die beiden Gitter beleuchtenden
Lichtquelle und zweier in der Nähe des zweiten Gitters
angeordneter Fotoempfänger, bei welchem
- - das von den beiden Gittern bei zueinander paralleler Ausrichtung ihrer Streifen abgegebene Licht überlagert und dem Fotoempfänger zugeleitet wird,
- - das zweite Gitter im wesentlichen parallel zum ersten Gitter und im wesentlichen senkrecht zur Strei fenrichtung bewegt wird, wodurch am Ausgang der einen vorgegebenen Abstand voneinander aufweisenden Foto empfänger oszillierende Intensitätssignale mit im wesentlichen gleicher Frequenz aber unterschiedlicher Phase erhalten werden,
- - und bei welchem die mittlere Phasendifferenz zwischen den beiden oszillierenden Intensitätssignalen als Maß für die Dehnung des Prüfkörpers gemessen wird.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß die beiden oszillierenden Intensitätssignale digi
talisiert und einer Fourier-Transformation (fast
Fourier transform) unterzogen werden, und daß die
mittlere Phasendifferenz aus dem dem Amplitudenmaximum
entsprechenden Phasenwert der hierdurch erhaltenen
Amplituden-Frequenz- sowie Phasen-Frequenzverteilungen
ermittelt wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 oder 7, dadurch
gekennzeichnet, daß das erste und das zweite Gitter
unmittelbar nebeneinander angeordnet werden.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch
gekennzeichnet, daß das vorzugsweise auf einem Träger
befindliche erste Gitter mit der Oberfläche des Prüf
körpers verbunden, vorzugsweise auf diese aufgeklebt
oder aufzementiert wird.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch
gekennzeichnet, daß das erste Gitter in die Oberfläche
des Prüfkörpers unmittelbar eingebracht, vorzugsweise
eingeritzt oder eingeätzt wird.
11. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach einem
der Ansprüche 6 bis 10, gekennzeichnet durch ein opti
sches Abbildungssystem, in dessen Objektebene das
erste Gitter und in dessen Bildebene das zweite Gitter
und die Fotoempfänger angeordnet sind.
12. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach einem
der Ansprüche 1 bis 10, gekennzeichnet durch ein opti
sches Abbildungssystem, in dessen Objektebene das
erste und zweite Gitter und in dessen Bildebene die
Fotoempfänger angeordnet sind.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/918,522 US4722600A (en) | 1986-10-14 | 1986-10-14 | Apparatus and method for measuring strain |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3734561A1 true DE3734561A1 (de) | 1988-04-21 |
Family
ID=25440514
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19873734561 Withdrawn DE3734561A1 (de) | 1986-10-14 | 1987-10-13 | Dehnungsmessverfahren |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4722600A (de) |
DE (1) | DE3734561A1 (de) |
GB (1) | GB2197466B (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3939811A1 (de) * | 1989-12-01 | 1991-06-06 | Klaus Pfister | Hochaufloesende beobachtung von moiremustern bei statischen messungen |
DE19815646C1 (de) * | 1998-04-07 | 1999-09-23 | Siemens Ag | Verfahren zur Auslegung von Wänden |
DE112015002452B4 (de) * | 2014-06-27 | 2020-01-30 | Illinois Tool Works Inc. | Optischer Dehnungsmesser |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8615196D0 (en) * | 1986-06-21 | 1986-07-23 | Renishaw Plc | Opto-electronic scale reading apparatus |
US4728773A (en) * | 1986-12-08 | 1988-03-01 | Ex-Cell-O Corporation | Laser processing center |
US4958071A (en) * | 1989-01-13 | 1990-09-18 | Advanced Gravis Computer Technology, Ltd. | A joystick including an optical encoder with film strips in sliding contact |
US5075560A (en) * | 1990-09-20 | 1991-12-24 | Eastman Kodak Company | Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface |
US5075562A (en) * | 1990-09-20 | 1991-12-24 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for absolute Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface |
NL9200071A (nl) * | 1992-01-15 | 1993-08-02 | Stichting Science Park Maastri | Inrichting voor het bepalen van de topografie van een gekromd oppervlak. |
US5671042A (en) * | 1992-02-18 | 1997-09-23 | Illinois Institute Of Technology | Holomoire strain analyzer |
EP0599601A3 (de) * | 1992-11-23 | 1995-07-19 | British Aerospace | Schwingplatten Analyse. |
US5438402A (en) * | 1993-03-05 | 1995-08-01 | Trustees Of Dartmouth College | System and method for measuring the interface tensile strength of planar interfaces |
US5432595A (en) * | 1993-07-13 | 1995-07-11 | Pechersky; Martin J. | Method for measuring residual stresses in materials by plastically deforming the material and interference pattern comparison |
US5693889A (en) * | 1996-08-27 | 1997-12-02 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Method for monitoring surface stress |
US6189386B1 (en) * | 1997-12-05 | 2001-02-20 | Ford Global Technologies, Inc. | Method of using a microscopic digital imaging strain gauge |
US6069985A (en) * | 1998-08-10 | 2000-05-30 | Albin; Sacharia | Cross-fiber Bragg grating transducer |
US6639685B1 (en) | 2000-02-25 | 2003-10-28 | General Motors Corporation | Image processing method using phase-shifted fringe patterns and curve fitting |
US6934013B2 (en) * | 2002-08-20 | 2005-08-23 | Reginald Vachon | Compressed symbology strain gage |
KR101026956B1 (ko) * | 2004-03-05 | 2011-04-11 | 더 리전트 오브 더 유니버시티 오브 캘리포니아 | 극박 필름의 분리를 위한 유리-변형 응력파 및나노일렉트로닉스 장치 제작 |
US7533818B2 (en) | 2005-06-28 | 2009-05-19 | Direct Measurements Inc. | Binary code symbol for non-linear strain measurement and apparatus and method for analyzing and measuring strain therewith |
US7377181B2 (en) * | 2006-03-10 | 2008-05-27 | Northrop Grumman Corporation | In-situ large area optical strain measurement using an encoded dot pattern |
WO2008033329A2 (en) | 2006-09-15 | 2008-03-20 | Sciammarella Cesar A | System and method for analyzing displacements and contouring of surfaces |
GB0909512D0 (en) * | 2009-06-03 | 2009-07-15 | Airbus Uk Ltd | Weight measurement apparatus and method |
WO2011034910A2 (en) | 2009-09-18 | 2011-03-24 | Illinois Tool Works Inc. | Remote displacement sensor, including an optical strain gauge, an assembly and system therewith |
FR2994262B1 (fr) * | 2012-08-02 | 2014-08-29 | Turbomeca | Mesure du fluage d'une pale de turbine |
JP6741409B2 (ja) * | 2015-09-16 | 2020-08-19 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 変形量測定方法、プログラム、サーバ装置、およびシステム |
JP6820539B2 (ja) * | 2016-06-14 | 2021-01-27 | 大日本印刷株式会社 | 変位可視化センサー |
WO2018156702A1 (en) | 2017-02-23 | 2018-08-30 | Nikon Corporation | Measurement of a change in a geometrical characteristic and/or position of a workpiece |
US11428589B2 (en) | 2017-10-16 | 2022-08-30 | Saf-Holland, Inc. | Displacement sensor utilizing ronchi grating interference |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3768911A (en) * | 1971-08-17 | 1973-10-30 | Keuffel & Esser Co | Electro-optical incremental motion and position indicator |
GB1516536A (en) * | 1975-08-22 | 1978-07-05 | Ferranti Ltd | Measuring apparatus |
US4014613A (en) * | 1975-09-10 | 1977-03-29 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Method and apparatus for determining changes in spacing between two positions of interest |
US4050818A (en) * | 1975-09-10 | 1977-09-27 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Method for determining changes in spacing between two positions of interest |
US4051483A (en) * | 1976-09-03 | 1977-09-27 | Fuji Photo Optical Co., Ltd. | System for measuring and recording three dimensional configuration of object |
US4127109A (en) * | 1977-06-16 | 1978-11-28 | Ronald P. Jensen, M.D., Inc. | System of controlling astigmatism during cataract surgery |
US4560280A (en) * | 1982-08-31 | 1985-12-24 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Apparatus for optically measuring the distance between two grating-like structures and the size of periodic pattern elements forming one of the grating-like structures |
US4525858A (en) * | 1983-01-03 | 1985-06-25 | General Electric Company | Method and apparatus for reconstruction of three-dimensional surfaces from interference fringes |
DE3323281A1 (de) * | 1983-06-28 | 1985-01-10 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Verfahren und anordnungen zur fehlerueberwachung bei einer messeinrichtung |
US4684257A (en) * | 1984-02-02 | 1987-08-04 | Mitutoyo Mfg. | Measuring instrument |
-
1986
- 1986-10-14 US US06/918,522 patent/US4722600A/en not_active Expired - Fee Related
-
1987
- 1987-10-13 DE DE19873734561 patent/DE3734561A1/de not_active Withdrawn
- 1987-10-13 GB GB8723975A patent/GB2197466B/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3939811A1 (de) * | 1989-12-01 | 1991-06-06 | Klaus Pfister | Hochaufloesende beobachtung von moiremustern bei statischen messungen |
DE19815646C1 (de) * | 1998-04-07 | 1999-09-23 | Siemens Ag | Verfahren zur Auslegung von Wänden |
DE112015002452B4 (de) * | 2014-06-27 | 2020-01-30 | Illinois Tool Works Inc. | Optischer Dehnungsmesser |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2197466A (en) | 1988-05-18 |
US4722600A (en) | 1988-02-02 |
GB8723975D0 (en) | 1987-11-18 |
GB2197466B (en) | 1990-05-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3734561A1 (de) | Dehnungsmessverfahren | |
DE2201830C3 (de) | ||
DE10153237A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur automatisierten Bestimmung der Modulations-Transfer-Funktion (MTF) von Focal-Plane-Array (FPA)- Kameras | |
DE2737554A1 (de) | Vorrichtung zur haertepruefung | |
EP0135597B1 (de) | Verfahren und Einrichtung zum gegenseitigen Ausrichten von Objekten | |
DE3022111A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum messen der elektrophoretischen beweglichkeit von zellen | |
DE112006003663T5 (de) | Drehkodierer | |
DE112005002197T5 (de) | Berührungsloses Verfahren zur Messung von Zahnradteilungen und Schraubensteigungen | |
DE3382706T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Relativwegmessung. | |
DE112004001034T5 (de) | 3D- und 2D-Meßsystem und -verfahren mit erhöhter Sensitivität und erhöhtem Dynamikbereich | |
DE3900247C2 (de) | ||
EP0891532B1 (de) | Verfahren zur bestimmung einer dicke einer schicht aus elektrisch leitendem material | |
DE183226T1 (de) | Randdetektionsvorrichtung in optischem messinstrument. | |
DE69103514T2 (de) | Moire distanzmessungen mit einem aus objekt fixiertem oder aufgedrucktem raster. | |
DE69126918T2 (de) | Messverfahren des Einfallwinkels eines Lichtstrahls, Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens sowie deren Verwendung zur Entfernungsmessung | |
EP0255552B1 (de) | Verfahren und Anordnung zur berührungslosen Messung von Längenänderungen an Bauteilen | |
DE3120653C2 (de) | Vorrichtung zur Bestimmung von Bewegungsgrößen bzw. Kriechzuständen an Materialien | |
DE2733285C2 (de) | ||
DE4202560A1 (de) | Vorrichtung zur erzeugung oberwellenfreier periodischer signale | |
DE3309951C2 (de) | Optoelektronisches Dehnungsmeßgerät mit berührungsloser Abtastung eines oder mehrerer am Meßobjekt angebrachter Meßgitter | |
DE4313497C2 (de) | Verfahren und Gerät zum Bestimmen von Richtung und Geschwindigkeit eines Objektes | |
DE2622787C2 (de) | Verfahren zur interferometrischen Abstands-, Dicken- oder Ebenheitsmessung | |
DE3129847A1 (de) | "verfahren und anordnung zur messung mechanischer groessen" | |
DE3319563A1 (de) | Verkippungsunabhaengiges spanndrahtlineal | |
DE3605403A1 (de) | Optoelektronischer niveausensor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: WOLF, E., DIPL.-PHYS. DR.-ING., PAT.-ANW., 7000 ST |
|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |