DE3715671A1 - Einrichtung zum pruefen und sortieren von elektronischen bauelementen insbesondere chips mit integrierten schaltungen (ic's) - Google Patents
Einrichtung zum pruefen und sortieren von elektronischen bauelementen insbesondere chips mit integrierten schaltungen (ic's)Info
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung nach
dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Eine Einrichtung dieser Art ist in der DE-OS 35 31 120
beschrieben und dargestellt. Bei dieser bekannten Ausge
staltung ergibt sich das Austritts-Stopp-Element dadurch,
daß das Shuttle schwenkbar angeordnet ist und seine
Bewegungsbahn in der gegenüber dem Magazinkanal des
Ausgangsmagazins verschwenkten Position wenigstens
teilweise durch eine Leiste gesperrt ist, die sich
über die gesamte Breite des mehrere Magazinkanäle aufwei
senden Ausgangsmagazins erstreckt. Bei dieser bekannten
Ausgestaltung ist es zum Wirksamwerden des Austritt-Stopp-
Elements notwendig, das Shuttle zu schwenken, wodurch
eine verhältnismäßig aufwendige Konstruktion vorgegeben
ist. Außerdem sind zwei Antriebe für das Shuttle, nämlich
ein Schwenkantrieb und ein Verfahrantrieb vorzusehen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Ausgestal
tung zu finden, bei der das Austritt-Stopp-Element
auch bei einem nicht quer zur Ebene des Ausgangsmagazins
schwenkbaren Shuttle funktionsfähig ist.
Diese Aufgabe wird durch die kennzeichnenden Merkmale
des Anspruchs 1 gelöst.
Bei der erfindungsgemäßen Ausgestaltung wird ein vorhan
dener Antrieb dazu heran gezogen, das Austritt-Stopp-Ele
ment zu betätigen, wodurch ein besonderer Antrieb auch
eine eigene Steuerung für das Austritt-Stopp-Element
entfällt. Dies erfolgt in einfacher Weise durch ein
Kupplungsglied, das zwischen dem vorhandenen Antrieb
und dem Austritt-Stopp-Element wirksam ist. Hierdurch
ist eine einfache, kleine und funktionsfähige Bauweise
vorgegeben, die es ermöglicht, ein Shuttle zu verwenden,
das nicht quer zur Ebene des Ausgangsmagazins schwenkbar
bzw. bewegbar ist.
Die Ausgestaltung nach Anspruch 2 ist aus funktionstechni
schen Gründen vorteilhaft.
Die Ausgestaltung nach Anspruch 3 führt deshalb zu
einer wesentlichen Vereinfachung, weil die Umrüstung
auf ein Bauelement unterschiedlicher Bauart oder unter
schiedlicher Abmessung vereinfacht und erleichtert
ist. Die Umrüstarbeiten können von der Einrichtung
in einfacher Weise entfernter Baueinheit durchgeführt
werden. Außerdem können der Einrichtung mehrere Bauein
heiten für bestimmte Bauelement-Arten zugeordnet werden,
so daß die Umrüstung auf die andere Art in einfacher
Weise durch Austausch der Baueinheiten erfolgen kann.
Andererseits ist es auch beim Vorhandensein von nur
zwei Baueinheiten möglich, die nicht in Funktion befind
liche Baueinheit auf die nächste zu prüfende Art Chips
einzustellen, während die andere Baueinheit in Funktion
ist, so daß auch in diesem Fall das Umrüsten der Einrich
tung einfach und schnell durch Austausch der voreingestell
ten Baueinheit erfolgen kann.
Gemäß den Ansprüchen 4 bis 6 wird auf eine bewährte
Ausgestaltung für die Vereinzelungsvorrichtung zurückge
griffen, wobei gemäß Anspruch 5 eine Anpaßbarkeit an
Bauelemente verschiedener Länge gewährleistet ist.
Die Ausbildungen nach den Ansprüchen 7 bis 17 führen
zu einfachen und praktischen Ausgestaltungen bzw. zu
einfachen Funktionen, die auch eine einfache und kosten
günstige Herstellung ermöglichen.
Die Erfindung bezieht sich auch auf eine Einrichtung
nach dem Oberbegriff des Anspruchs 18, die ebenfalls
in der schon erwähnten DE-OS 35 31 120 beschrieben
und dargestellt ist. Bei dieser Einrichtung sind dem
Eingangsmagazin mehrere Magazinkanäle zugeordnet, wobei
das Eingangsmagazin quer zu den Magazinkanälen und
in deren Ebene verstellbar ist, wodurch jeder Magazinkanal
in Flucht mit der sich im Bereich der Prüfeinrichtung
bzw. Prüfeinheit befindlichen Bewegungsbahn für die
Bauelemente bringbar ist.
Auch diese Einrichtung umfaßt einen verhältnismäßig
aufwendigen Aufbau, weil aufwendige Führungen für das
Eingangsmagazin ausgebildet werden müssen.
Durch die Ausgestaltung gemäß Anspruch 18 wird diese
Einrichtung wesentlich vereinfacht, weil aufgrund der
Ausgestaltung des Eingangsmagazins als Schwenkeinheit
ein wesentlich einfacherer Aufbau vorgegeben ist, der
sich bei Gewährleistung einer sicheren Funktion kosten
günstig herstellen läßt. Hierzu tragen auch die Ausgestal
tungen nach den Ansprüchen 19 bis 22 in weiterer Ausgestal
tung bei.
Die Erfindung bezieht sich auch auf eine Einrichtung
nach dem Oberbegriff des Anspruchs 23, die in der älteren
deutschen Patentanmeldung P 36 15 941.7 beschrieben
und dargestellt ist. Bei dieser Ausgestaltung ist die
Einrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektronischen
Bauelementen nur verhältnismäßig schwierig und zeitaufwen
dig und somit nur mit einem erheblichen Kostenaufwand
mit dem Testcomputer zu verbinden bzw. von diesem zu
lösen, wobei zu berücksichtigen ist, daß es einer aufwendi
gen elektrischen Verbindung zwischen dem Textcomputer
und der Prüfeinheit der Einrichtung bedarf.
Bei der Ausgestaltung nach Anspruch 23 ist dem Testcomputer
ein Anschlußkontaktblock zugeordnet, der durch eine
einfache Steckverbindung mit dem Prüfsockel der Einrichtung
in Verbindung zu bringen ist und zwar bei der Verankerung
der Einrichtung auf dem Gehäuse des Testcomputers.
Dabei ist die Einrichtung mit ihrem Trägergestell schwenk
bar am mit dem Gehäuse des Textcomputers verankerbaren
Träger verbunden, so daß durch Hochschwenken des schwenk
baren Teils der Einrichtung diese für Wartungs- oder
Montage- bzw. Demontagearbeiten leicht zugänglich ist.
Letzteres gilt insbesondere für den Fall, in dem gemäß
Anspruch 24 der Prüfsockel von unten in die Prüfeinheit
bzw. in den schwenkbaren Teil der Einrichtung einsetzbar
ist. Im hochgeschwenkten Zustand des schwenkbaren Teils
der Einrichtung kann der Prüfsockel einfach, leicht
und schnell ausgetauscht werden, z.B. um die Einrichtung
für Bauelemente unterschiedlicher Bauart bzw. Abmessungen
umzurüsten.
Die in den Ansprüchen 25 und 26 angegebenen Merkmale
ermöglichen mit einfachen Mitteln einen einfachen und
praktischen sowie leicht und schnell durchführbaren
und dabei paßgenauen Anschluß der Einrichtung zum Prüfen
und Sortieren an das Gehäuse des Testcomputers.
Die Ansprüche 27 bis 30 beziehen sich auf einen Führungs
mechanismus zum seitlichen Verstellen eines eine Magazin
stange seitlich begrenzenden Führungsleitungspaares,
der eine gleiche seitliche Verstellung der Führungsleisten
erzwingt. Es werden einfache und zweckmäßige Merkmale
vorgeschlagen, die eine leichte Funktion und eine einfache
und preiswerte Herstellung ermöglichen.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand in einer Zeichnung
dargestellter bevorzugter Ausführungsbeispiele erläutert.
Es zeigt:
Fig. 1 eine erfindungsgemäß ausgestaltete Einrichtung
zum Prüfen und Sortieren von IC′s in perspek
tivischer Darstellung;
Fig. 2 die Einrichtung in der Seitenansicht von
links;
Fig. 3 die Einrichtung im vertikalen Längsschnitt
gesehen von links.
Fig. 4 eine Einzelheit der Magazinstangenhalterung
in der Draufsicht.
Fig. 5 die Einzelheit in der Ansicht von unten.
Die in den Figuren allgemein mit 1 bezeichnete Einrichtung
ist auf dem Gehäuse 2 eines Testcomputers 3 angeordnet,
der in mehreren Ebenen beweglich an einem Manipulator
mit Tragarmen 4 gehalten ist, nämlich um eine quer
zur Längsrichtung der Einrichtung 1 horizontal verlaufende
Schwenkachse 5 schwenkbar, höhenverstellbar, horizontal
um eine im Bereich des Ständers des Manipulators verlaufen
de vertikale Achse schwenkbar oder horizontal längs
der Schwenkachse 5 verschiebbar und/oder quer zur Schwenk
achse 5 horizontal verschiebbar. Wenigstens nach solchen
Verstellbewegungen, in denen die Einrichtung 1 mit
dem Testcomputer 3 außer Gleichgewicht kommen kann,
sind die verstellten Bauteile feststellbar. Ein Beispiel
hierfür sei eine Klemmschraube 6 in Fig. 2, mit der
der dargestellte Tragarm 4 und eine Klemmscheibe 8
miteinander verklemmbar sind, wodurch die Einrichtung
1 gegen ein Verschwenken um die Schwenkachse 5 feststellbar
ist. Der insgesamt nicht dargestellte Manipulator kann
zumindest prinzipiell einer von der in der deutschen
Patentanmeldung P 36 15 942.5 beschriebenen Bauart
sein. Auf die darin enthaltene Beschreibung wird in
vollem Umfang Bezug genommen.
Die wesentlichen Teile der Einrichtung 1 sind ein platten
förmiger Träger 9, der mittels einer Anschlußvorrichtung
11 an das Gehäuse 2 des Testcomputers 3 anschließbar
ist, ein Eingangsmagazin 12, ein Ausgangsmagazin 13,
eine sich zwischen letzteren erstreckende Bewegungsbahn
14 für IC′s, eine Vereinzelungseinrichtung 15, eine
zwischen dem Eingangsmagazin 12 und dem Ausgangsmagazin
13 angeordnete Prüfanordnung bzw. Prüfeinheit 16 und
eine der Prüfeinheit 15 in Durchgangsrichtung 17 nachgeord
nete Sortiervorrichtung 18 mit einem Shuttle 19, das
die geprüften, in Fig. 1 nicht dargestellten IC′s 20
wahlweise zu den Magazinstangen 21 des Ausgangsmagazins
13 zu transportieren vermag, von denen beim vorliegenden
Ausführungsbeispiel zwei Magazinstangen 21 dargestellt
sind. Die Einrichtung 1 befindet sich in einer Schräglage,
in der die Durchgangsrichtung 17 ausgehend vom Eingangs
magazin 12 zum Ausgangsmagazin 13 geneigt ist, so daß
die IC′s 20 aufgrund der Schwerkraft automatisch auf
der vorgegebenen Gleitbahn herunterrutschen. Die Bewegun
gen der IC′s 20 liegen in einer Arbeitsebene E (Fig. 2),
die die Durchgangsrichtung 17 und die Magazinstangen
21, 22 schneidet, von denen die mit 21 bezeichnete in
der Durchgangsrichtung 17 und die mit 22 bezeichnete
in der Durchgangsrichtung 17 b liegt, die gegenüber
der Durchgangsrichtung 17 in der Ebene E parallelversetzt
ist.
Das Eingangsmagazin 12 weist ebenfalls zwei Magazinstangen
23, 24 auf, und wird durch eine Schwenkeinheit 25 gebildet,
die um eine nur in Fig. 2 dargestellte aufwärts gerichtete
Schwenkachse derart schwenkbar ist, daß jede Magazinstange
23, 24 in Flucht mit der Bewegungsbahn 14 schwenkbar
und in dieser Stellung feststellbar ist. Die Magazinstangen
23, 24 sind auf Platten 27 angeordnet, die um in der
Arbeitsstellung der jeweiligen Magazinstange 23, 24
quer zur Bewegungsbahn 14 und parallel zur Ebene E
verlaufenden Schwenkachsen 26 frei schwenkbar gelagert
sind, die in einem Abstand a vom Anfang einer die Bewe
gungsbahn 14 im Bereich der Prüfeinheit 15 bildenden
Führungsnut 29 angeordnet sind. Dabei ist die Anordnung
auch so getroffen, daß in einem Abstand b von der mit
28 bezeichneten Schwenkachse, der durch den Anfang
der Führungsnut 29 definiert ist, Begrenzungselemente
31 vorhanden sind, und zwar sowohl für die sich in Arbeits
stellung befindliche Magazinstange 23 als auch die
sich in der Bereitschaftsstellung befindliche Magazinstange
24. Die Begrenzungselemente sperren den Ausgang der
mit ihren vorderen Enden herunter geschwenkten Magazin
stangen 23, 24, so daß ein unbeabsichtigter Austritt
von IC′s aus dem sich in Bereitschaftsstellung befindlichen
Stangenmagazin 24 als auch während des Schwenkvorgangs
verhindert ist. Es ist vorteilhaft, die Begrenzungselemente
31 auf der beide Magazine 12, 13 aufnehmenden platten
förmigen Traggestell 32 anzuordnen. Die Schwenkeinheit
25 ist in der jeweiligen Arbeitsstellung feststellbar.
Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel dient hierzu
jeweils ein von den Platten 27 stirnseitig vorspringender
Arretierungsstift 33, der in einen sich vertikal er
streckenden Freiraum bzw. Nut zwischen bzw. in den
Begrenzungselementen 31 einfaßt. Zur Halterung der
Platten 27 in deren Schwenkendstellungen sind Permanent
magnete 30 a, 30 b an Anbauteilen der Platten 27 und
des Traggestells 32 angeordnet. Diese Anbauteile sind
vorzugsweise in nicht dargestellter Weise höhenverstellbar,
so daß der in Fig. 3 mit c bezeichnete Schwenkbereich
der Platten 27 bzw. Magazinstangen 23, 24 einstellbar
ist, wobei diese Teile jeweils in eine Aussparung 30
des Traggestells 32 eintauchen können. Die Schwenkeinheit
25 ist unterhalb der Tragplatte angeordnet.
Im Gegensatz zum Eingangsmagazin 12 sind die Magazinstangen
21, 22 des Ausgangsmagazins 13 auf einer stationären
Platte 35 angeordnet.
Die Halterung für alle Magazinstangen 21 bis 24 ist
gleich ausgebildet. Sie umfaßt auf den Platten 27,
28, 35 achsparallel zur Bewegungsbahn 14 angeordnete
Führungsleisten 36, deren Abstand d voneinander wahlweise
einstellbar und somit an die Breite der Magazinstangen
21 bis 24 anpaßbar ist. Jedem Paar Führungsleisten
36 ist ein Mechanismus zugeordnet, der bei einer Ver
stellung der Führungsleisten deren bezüglich der Bewegungs
bahn 14 symmetrische Anordnung gewährleistet, d.h.,
bei einer Verstellung werden beide Führungsleisten
36 eines Führungsleistenpaares um das gleiche Maß seitlich
verstellt. Eine solche Anordnung bzw. Ausgestaltung
ist in der Patentanmeldung P 36 38 430.5 beschrieben
und dargestellt. Auf diese Beschreibung wird im vollen
Umfang Bezug genommen.
Die zwischen den Führungsleisten 36 gehaltenen Magazin
stangen 21 bis 24 werden durch eine jeder Magazinstange
21 bis 24 zugeordnete Druckbacke 37 gegen die sie tragende
Platte 27, 35 gedrückt und somit gehalten. Die Druckbacken
37 sind an Brücken 38 vertikal schwenkbar gelagert
und durch Federn, insbesondere Blattfedern 39, gegen
die Platten 27, 35 bzw. gegen die Magazinstangen 21
bis 24 vorgespannt.
Die Führungsnut 29 ist in einer Führungsplatte 41 ausgebil
det, die auf dem Traggestell 32 befestigt ist, die
auch die Schwenkeinheit 25, die Prüfeinheit 16, die
Sortiereinrichtung 17 und das Ausgangsmagazin 13 trägt,
und die um eine horizontale, am unteren Ende des schräg
gestellten Trägers 9 verlaufende Schwenkachse 43 vertikal
schwenkbar am Träger 9 gelagert ist. Hierzu dienen
am Traggestell 32 seitlich befestigte Gelenkstücke
44 (Fig. 2), die mit einer am Träger 9 gehaltenen Rund
stange 45 ein Schwenkgelenk 46 bilden.
Oberhalb der Führungsplatte 41 ist ein die Prüfeinheit
16 bildender Block 47 in Form eines Komplett-Anbauteiles
angeordnet, der in seinem unteren Bereich einen Prüfkäfig
48 trägt, der an einem vertikal verschiebbar im Block
47 gehaltenen Stößel 49 befestigt ist. Der Prüfkäfig
48 ist in seiner Formgebung an die Bauart des zu prüfenden
IC′s 20 angepaßt. Es ist der Zweck des Prüfkäfigs 48,
daß IC′s 20 mit Kontakten eines unterhalb des Prüfkäfigs
48 angeordneten, in einer Fassung 51 in Form einer
Ausnehmung oder eines Durchbruchs in der Führungsplatte
41 und/oder im Traggestell 32 eingesetzten Prüfsockels
52, der beim vorliegenden Ausführungsbeispiel von unten
eingesetzt ist. Die Prüfkontakte des Prüfsockels 52
befinden sich unterhalb der Bewegungsbahn 14. Beim
vorliegenden Ausführungsbeispiel muß der Prüfkäfig
48 das zu prüfende IC 20 zum Prüfsockel 52 herunter
drücken und nach Prüfung wieder heraufziehen. Hierzu
ist der Prüfkäfig U-förmig ausgebildet mit einem dem
Querschnitt der Bewegungsbahn 14 entsprechenden Frei
schnitt. Ein solcher Prüfkäfig, der in der Fachsprache
auch mit Prüfkassette bezeichnet wird, ist in der DE-OS
35 31 120, Fig. 10b dargestellt und im zugehörigen
Beschreibungsteil beschrieben. Auf diese Darstellung
bzw. Beschreibung wird in vollem Umfang Bezug genommen.
Der Antrieb für den Prüfkäfig 48 wird durch einen Fluid
zylinder 53 gebildet, der beim vorliegenden Ausführungs
beispiel ein einfacher und wirksamer Zylinder ist mit
einer Zuleitung 54.
Die Vereinzelungsvorrichtung 15 für die IC′s 20 wird
im eigentlichen Sinne durch ein vorzugsweise in einer
Nut 50 längs der Bewegungsbahn 14 verstellbares und
feststellbares Vor-Stopp-Element 55 und ein Haupt-Stopp-
Element 56 gebildet, die dem Prüfkäfig 48 vorgeordnet
und von oben in die Bewegungsbahn 14 beweglich im Block
47 geführt sind. Hierzu sind im Block 47 in Fig. 3
durch gestrichelte Linien angedeutete Führungen vorgesehen.
Den Stopp-Elementen 55, 56 sind aufwärts gerichtete
Stöße 57, 58 zugeordnet, die an ihren oberen Enden schwenk
bar mit den freien Enden eines Doppelhebels 59 verbunden
sind, der an einer etwa mittigen Lagerstelle 61 schwenkbar
gelagert ist, und zwar beim vorliegenden Ausführungsbeispiel
an einer Außenseite des Blocks 47. Das in die Durchgangs
richtung 17 weisende Ende des Doppelhebels 59 ist durch
eine Gelenkachse mit dem einen freien Ende eines zweiten
Doppelhebels 62 gelenkig verbunden, der an einer etwa
mittigen Lagestelle 63 vertikal schwenkbar am Block
47 gelagert ist, und zwar beim vorliegenden Ausführungs
beispiel auf der anderen Seite des Blocks 47.
An der in die Durchgangsrichtung 17 weisenden Seite
des Prüfkäfigs 48 ist ein Prüf-Stopp-Element 64 angeordnet,
das als zur Vereinzelungsvorrichtung 15 zugehörig betrach
tet werden kann und ebenfalls von oben in die Bewegungsbahn
14 bewegbar ist, wozu eine aufwärts gerichtete Führung
und ein Stößel 65 im Block 47 dienen. Letzterer wirkt
mit einem Fluidzylinder 66 zusammen, der - wie schon
der Fluidzylinder 53 in einer Brücke 67 oberhalb der
Stößel 57, 65 gelagert ist. Auch der Fluidzylinder 66
ist ein einfach wirksamer Zylinder mit einer Zuleitung
68. Durch Beaufschlagung der Fluidzylinder 53, 66 werden
der Prüfkäfig 48 und das Prüf-Stopp-Element 64 nach
unten geschoben. Die Rückstellbewegung erfolgt durch
nicht dargestellte Federn. Der Fluidzylinder 66 treibt
zugleich das Vor-Stopp-Element 55, das Haupt-Stopp-Element
56 und das Prüf-Stopp-Element 64 an. Hierzu ist das
in die Durchgangsrichtung 17 weisende Ende des Doppelhebels
62 mit dem Stößel 65 bzw. mit der aus Vereinfachungsgründen
nicht dargestellten Kolbenstange des Fluidzylinders
66 schwenkbar verbunden. Im Bereich der Lagerstellen
zwischen den Doppelhebeln 59, 62 und den Stößeln 57, 58, 65
ist ein geringes Lagerspiel parallel zur Ebene E vorhanden.
Das Shuttle 19 ist ein auf einer runden Führungsstange
71, quer zur Bewegungsbahn 14 und horizontal verschieb
barer Schlitten, der beim vorliegenden Ausführungsbeispiel
durch einen doppelt wirksamen Fluidzylinder 73 mit
Kolbenstange 74 zwischen einer Aufnahmestellung, in
der ein an seiner Oberseite angeordneter Bewegungsbahnab
schnitt 14 a mit der Bewegungsbahn 14 fluchtet, und
zwei Abgabestellungen, in denen der Bewegungsbahnabschnitt
14 a mit den Magazinstangen 21, 22 fluchtet, verschiebbar
ist. Der Bewegungsbahnabschnitt 14 a wird durch zwei
sich längs erstreckende, an der Oberseite des Shuttles
19 angeordnete Führungsleisten 75 gebildet, die in
gleicher Weise wie die Führungsleisten 36 verstellbar
sind, und zwar zwecks Anpassung an IC′s 20 unterschiedlicher
Breite. Das zweite Führungselement für das Shuttle
19 ist ein in eine Führungsnut einfassender Arm, was
bei 72 angedeutet ist.
Dem Shuttle 19 ist ein Austritt-Stopp-Element 76 zugeord
net, das als Schwenkteil unterhalb des Shuttles bzw.
zwischen dessen an der Führungsstange 71 gelagerten
Seitenwänden angeordnet ist und in seiner Arbeitsstellung
die Platte 77 des Shuttles 19 von unten in einer Ausnehmung
durchfaßt und in den Bewegungsbahnabschnitt 14 a hineinragt.
Das Austritt-Stopp-Element 76 ist durch ein vom Prüf-Stopp
-Element 64 ausgehendes und somit ebenfalls durch den
Fluid-Zylinder 66 verstellbares Kupplungsglied 78 beauf
schlagbar, das als starrer Arm seitlich am in die Durch
gangsrichtung 17 weisenden Ende des Blocks 47 angeordnet
ist. Das Kupplungsglied 78 ragt soweit seitlich weg,
daß es den in seine Aufnahmestellung befindlichen Shuttle
seitlich übergreift. An dieser Stelle ist neben dem
Shuttle ein Schwenkhebel 79 auf der Führungsstange
71 schwenkbar gelagert. Ein zweiter gleicher Schwenkhebel
79 befindet sich auf der anderen Seite des Shuttles
19. Der Abstand zwischen den Schwenkhebeln 79 ist größer
bemessen, als die Summe aus der Breite des Shuttles
19 und dessen Verschiebehub. An den freien Enden der
Schwenkhebel 79 ist eine sich parallel zur Führungsstange
71 erstreckende Hilfsführungstange 81 befestigt, die
das Austritt-Stopp-Element 76 durchfaßt, wodurch eine
Führung 83 für letzeres gebildet ist, wenn das Shuttle
hin und her verschoben wird. Die durch die beiden Schwenk
hebel 79, die Hilfsführungsstange 81 und das Austritt
-Stopp-Element 76 gebildete Schwenkeinheit ist durch
eine nicht dargestellte Feder, vorzugsweise eine von
unten gegen die freien Enden der Schwenkhebel 79 wirksame
Blattfeder, in die Stopp-Stellung des Austritt-Stopp-Ele
ments 76 vorgespannt. Wenn das Prüf-Stopp-Element 64
mit dem Kupplungsglied 78 heruntergeschoben wird,
drückt das Kupplungsglied 78 mittels eines vertikal
einstellbaren Stellglieds 84 vorzugsweise in Form einer
Stellschraube gegen das freie Ende des sich darunter
befindlichen Schwenkhebels 79, wodurch das Austritt-Stopp--
Element 76 in seine Freigabestellung bewegt wird.
Der Block 47 stellt mit der Vereinzelungsvorrichtung
15, dem Prüfkäfig 48, dem Kupplungsglied 78 und den
zugehörigen Antrieben eine Anbaueinheit dar, die in
einfacher Weise und mit wenigen Handgriffen aufsteckbar
ist. Hierzu dienen zwei zu beiden Seiten des Blocks
47 am Traggestell 32 befestigte und von diesem hochragende
Haltebolzen 84, 85, auf die der Block 47 mittels seitlich
daran befestigten Aufnahmestücken 86, 87 mit entsprechenden
Aufnahmelöchern aufsteckbar ist. Der Block 47 ist durch
eine dem Aufnahmestück 86 zugeordnete Klemmschraube
88 am Haltebolzen 84 festklemmbar und somit gegen eine
unbeabsichtigte Bewegung nach oben gesichert. Der Block
47 ist durch eine Stellschraube 89 höheneinstellbar,
die am Aufnahmestück 86 angeordnet ist und stirnseitig
gegen den Haltebolzen 84 wirkt.
Zum Umrüsten der Einrichtung 1 auf ein IC 20 anderer
Bauart oder anderer Abmessung ist es lediglich erforder
lich, den Prüfsockel 52 und den vorzugsweise lösbar
an dem zugehörigen Stößel 59 befestigten Prüfkäfig
48 auszutauschen, sowie die Vereinzelungsvorrichtung
15 auf die Abmessungen des neuen IC′s 20 einzustellen.
Der Austausch des Prüfsockels 52 kann in einfacher
Weise durch Hochschwenken des Traggestells 32 erfolgen,
wodurch ein leichter Zugang zum Prüfsockel 52 geschaffen
wird. Der Austausch bzw. die Umrüstung am Block 47
kann in einfacher Weise im abgebauten Zustand erfolgen
oder es kann in einfacher Weise ein zwischenzeitlich
eingerichteter oder wenigstens ein weiterer, für spezielle
IC′s 20 vorgesehener Block 47 angebaut werden. Ein
Umrüstung läßt sich somit einfach und schnell durchführen.
Der mit 90 bezeichnete Kasten umfaßt eine Steuereinrichtung.
Im folgenden wird die Funktion der Einrichtung 1 ins
besondere anhand Fig. 3 beschrieben.
Die in der Magazinstange 23 des Eingangsmagazins 12
befindlichen IC′s 20 rutschen aufgrund der Schräglage
automatisch gegen das Haupt-Stopp-Element 56, das in
der Normalstellung den Durchgang in der Bewegungsbahn
14 sperrt. Hierbei befindet sich das Vor-Stopp-Element
55 in seiner Freigabestellung. Zur Einleitung eines
Prüfvorgangs wird der Fluidzylinder 66 für die Vereinze
lungsvorrichtung ausgefahren, wodurch die Doppelhebel
59, 62 in einander entgegengesetzte Schwenkrichtungen
geschwenkt werden und das Haupt-Stopp-Element 56 in
seine Freigabestellung hochgezogen und das Vor-Stopp-Ele
ment 55 und das Prüf-Stopp-Element 64 in ihre Sperrstellun
gen heruntergeschoben werden. Gleichzeitig beaufschlagt
das Kupplungsglied 78 das Austritt-Stopp-Element 76,
wodurch ein vor dem Austritt-Stopp-Element 76 liegendes
IC 20 d freigegeben wird und je nach Abgabestellung
des Shuttles 19 in die eine oder andere Magazinstange
21 oder 22 weiterrutschen kann. Das Vor-Stopp-Element
55 ist durch eine nicht dargestellte Feder in seine
Stoppstellung beaufschlagt und kann somit nachgeben,
wodurch es eine elastische Bremswirkung auf das sich
darunter befindliche IC 20 a ausübt und dieses an einem
Weiterrutschen hindert. Das vor dem nun in seiner Freigabe
stellung befindlichen Haupt-Stopp-Element 56 liegende
IC 20 b vermag in die Prüfstellung weiterzurutschen,
wo es durch das sich in seiner Sperrstellung befindliche
Prüf-Stopp-Element 64 gestoppt wird. Anschließend kann
die nicht dargestellte Kolbenstange des Fluidzylinders
53 heruntergeschoben werden, wobei das sich im Bereich
des Prüfkäfigs 48 befindliche IC 20 c mit dem Prüfsockel
52 kontaktiert und geprüft wird. Anschließend wird
der Prüfkäfig 48 und das Prüf-Stopp-Element 64 wieder
hochgefahren, wonach das IC 20 c weiterrutschen kann
und in den Bewegungsbahnabschnitt 14 a auf das Shuttle
19 rutscht, wo es vor dem sich nun in seiner Sperrstellung
befindlichen Austritt-Stopp-Element 76 zu liegen kommt
(IC 20 d). Zwischenzeitlich ist vom Testcomputer 3 ermittelt
worden ob das geprüfte IC ein Gutteil oder Ausschuß
ist. Entsprechend einem solchen Signal wird das Shuttle
19 in seiner mit der Magazinstange 21 fluchtenden Abgabe
stellung belassen (Gutteil) oder in die mit der Magazin
stange 22 fluchtenden Abgabestellung verschoben (Ausschuß).
Bei der Inbetriebsetzung der Vereinzelungsvorrichtung
15 zur Einleitung der Prüfung des nächsten IC′s 20
wird das Austritt-Stopp-Element 76 in seine Freigabe
stellung geschwenkt, wodurch das darauf befindliche
IC 20 b freigegeben wird und in die betreffende Magazin
stange 22, 23 rutschen kann.
Der Einrichtung ist vor dem Haupt-Stopp-Element 56,
das heißt im Bereich der IC′s 20 a oder 20 b sowie vor
dem Austritt-Stopp-Element 76 jeweils eine Lichtschranke
zugeordnet, die das Vorhandensein eines IC′s meldet
und mit 91 bzw. 92 bezeichnet ist. Es ist auch vorteilhaft,
eine solche Lichtschranke auch dem Prüf-Stopp-Element
64 direkt vorzuordnen. Außerdem ist dem Shuttle 19
wenigstens eine vorzugsweise zwei Lichtschranken 93
zugeordnet, die dessen Vorhandensein in der Aufnahme
stellung und/oder Abgabestellung ermittelt. Die Steuerung
ist so ausgelegt, daß jeweils der nächste Arbeitsschritt
erst dann ausgeführt wird, wenn das Vorhandensein der
vorgenannten Teile ermittelt worden ist. Hierdurch
werden Störungen des automatischen Arbeitsablaufs ausge
schlossen, die durch falsche Stellungen der genannten
Teile entstehen können.
Die Anschlußvorrichtung 11 zum Anschließen der Einrichtung
1 an das Gehäuse 2 des Testcomputers 3 weist wenigstens
zwei oder mehrere von der Einrichtung 1 nach unten
ausgehende Führungs- und/oder Zentrierstifte 95, 96
auf, von denen die Führungsstifte 95 in nicht dargestellte
Führungslöcher am Gehäuse 2 und die Zentrierstifte
96 in Zentrierlöcher 97 eines am Testcomputer 3 bzw.
an dessen Gehäuse 2 angebrachten Kontaktsockels 98
einsteckbar sind. Der Prüfsockel 52 und der Kontaktsockel
98 weisen miteinander korrespondierende Kontakte auf,
von denen nur die des Prüfsockels 92 dargestellt und
mit 99 bezeichnet sind. Beim vorliegenden Ausführungsbei
spiel gehen die Zentrierstifte 96 vom Prüfsockel 52
aus (Fig. 3).
Die Anschlußvorrichtung 11 weist auch Spannmittel bzw.
eine Spannvorrichtung auf, mit der die Einrichtung
1 gegen das Gehäuse 3 spannbar ist. Hierzu dienen an
einer Leiste oder an einem Rahmen 101 des Gehäuses
2 befestigte Kupplungsstifte 102, die in der Spannstellung
von Schrägkanten 103 eine Leiste 104 hintergriffen
sind, die in Führungen 105 etwa parallel zum Gehäuse
2 verschiebbar an der Unterseite des Trägers 9 gelagert
sind. Zur Verschiebung der wenigstens einen Leiste
104 dient ein in Fig. 2 dargestelltes Hebelgetriebe
mit einem Handhebel 106 mit einem festen Hebelarm 107,
der durch eine Zug- bzw. Druckstange 108 gelenkig mit
der Leiste 104 verbunden ist. Der Handhebel 106 ist
vorzugsweise an der unteren Längskante des Trägers
9 angeordnet und kann vorteilhaft auf der Schwenkachse
43 gelagert sein.
Die Schrägkanten 103 werden durch schräge Nuten 109
in der Leiste 104 gebildet. Für eine befriedigende
Festlegung reichen zwei Kupplungsstifte 102 und zwei
Schrägkanten 103 aus, die beiderseits des Kontaktsockels
98 angeordnet sind. Es ist jedoch auch vorteilhaft,
vier Kontaktstift/Schrägkantenpaare vorzusehen, die
eine rahmenförmige Festlegung der Einrichtung 1 am
Gehäuse 2 ermöglichen.
Die Fig. 4 und 5 zeigen einen Abschnitt der sich
rechtwinklig zueinander erstreckenden Abschnitte 111
des Eingangsmagazins 12 in vereinfachter Darstellung,
d.h. es sind keine schwenkbar gelagerte Platten 27
vorhanden und die rohrförmige Magazinstange 23 liegt
ähnlich wie beim Ausgangsmagazin 13 auf einer starr
befestigten Platte 112 auf, die den Abschnitt 111 bildet
und die Magazinstange 23 trägt. Gleiche Teile sind
bei diesem Ausführungsbeispiel mit gleichen Positionszahlen
bezeichnet. Die Druckbacke zur klemmenden Halterung
der Magazinstange 23 ist teilweise weggebrochen.
Bei diesem Ausführungsbeispiel ist den die Magazinstange
23 seitlich begrenzenden Führungsleisten 36 ein allgemein
mit 113 Scheiben angeordnet, die das Führungsteil 115
bzw. dessen Rumpfstück 117 untergreifen und somit an
der Unterseite der Platte 112 halten. In den Kreuzungs
punkten der Führungsnuten 118 und 121 sind weitere
Führungszapfen 124 in den Führungsleisten 36 verankert,
die von deren Unterseite nach unten vorragen und sowohl
die Führungsnuten 121 als auch die Führungsnuten 118
durchfassen oder in letztere zumindest einfassen. Im
Bereich der Führungsnuten 122 durchfassen Klemmschrauben
125 mit einem Werkzeugangriffsglied an der Oberseite
die Führungsleisten 36, und sie erstrecken sich auch
durch die Führungsnuten 122, wobei sie in Muttern 126
eingeschraubt sind, die formschlüssig in eine flache
Nut 127 eingesetzt sind, die sich längs den Führungsnuten
122 an der Unterseite der Platte 112 erstreckt. Jede
Führungsleiste 36 ist somit durch zwei Führungszapfen
124 sowie eine Klemmschraube 125 quer zur Mittelachse
114 geführt, wobei sie mittels der Klemmschraube 125
nach erfolgter Einstellung festgeklemmt werden kann.
Aufgrund der sich quer zueinander erstreckenden Führungs
nuten 118 und 121 sind Fixpunkte für die Führungszapfen
124 vorgegeben, die eine Verlagerung quer zur Mittelachse
112 der Führungsleisten 36 erzwingen, wenn entweder
die Führungsleiste 36 quer zur Mittelachse 114 oder
das Führungsteil 115 längs zur Mittelachse 114 verschoben
werden. Je genauer die Passung zwischen den Führungszapfen
123, 124 und den Führungsnuten 118, 119 ist, desto
genauer ist auch die Einstellung der Führungsleisten
36. Da die Führung in den Fixpunkten bestimmt ist, brauchen
die Nuten 122 nicht zur Führung beizutragen, d.h. sie
können ein größeres Spiel aufweisen und hauptsächlich
der Klemmung dienen.
Die Längen der Führungsnuten 118, 119 sowie gegebenenfalls
auch 122 sind so angeordnet und so groß bemessen, daß
sie einander nicht behindern, und daß der angestrebte
Verstellbereich eingestellt werden kann.
Die der Prüfeinheit 16 abgewandten Enden der Führungs
leisten 36 verlaufen nach außen divergierend, wodurch
das Einschieben der Magazinstange 23 erleichtert wird.
Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel besteht das platten
förmige Führungsteil 115 aus Messing und die Führungszapfen
123, 124 aus Stahl, wodurch eine verhältnismäßig lange
Lebensdauer bei guten Gleiteigenschaften gewährleistet
ist.
Die erfindungsgemäße Einrichtung 1 eignet sich insbesondere
für Bauelemente 20, die in der Fachsprache unter der
Bezeichnung CLCC (ceramic leadless chip carrier) bekannt
sind. Ein solcher Chip besteht aus einem Keramikgrund
körper, der in der Mitte mit einer Erhöhung versehen
ist. Anstelle solcher Chips können auch in der Fachsprache
unter der Bezeichnung PLCC verwendet werden da sich
auch hierfür die erfindungsgemäße Einrichtung eignet.
Diese Chips bestehen aus einem Plastikgehäuse, von
dessen Rand an allen vier Seiten Anschlußkontakte aus
gehen. Vorgenannte Chips sind in der DE-OS 35 31 143
beschrieben und dargestellt. Hierauf wird in vollem
Umfang Bezug genommen.
Claims (30)
1. Einrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektronischen
Bauelementen, insbesondere Chips mit integrierten
Schaltungen (IC′s), in der die Bauelemente zumindest
streckenweise durch Schwerkraft vorwärts bewegt
werden,
- - mit einem Eingangsmagazin, das mindestens einen die zu prüfenden Bauelemente enthaltenden Magazinkanal aufweist,
- - mit einer sich daran anschließenden Vereinzelungsvor richtung,
- - mit einer sich daran anschließenden auswechselbaren Prüfeinheit, in der die Bauelemente durch einen Kontaktierungsantrieb mit einem Prüfsockel kontaktiert werden, welcher mit einem Testcomputer verbindbar ist,
- - mit einem Ausgangsmagazin, welches mindestens zwei zur Aufnahme der geprüften Bauelemente dienende Magazinkanäle aufweist,
- - mit einem zwischen dem Ausgangsmagazin und der Prüfeinrichtung angeordneten, verfahrbaren Sor tier-Shuttle, welches einerseits in Übernahmeposition mit der Prüfeinheit und andererseits in Abgabepo sition mit jedem der Ausgangsmagazinkanäle bringbar ist,
- - und mit einem Austritts-Stoppelement am Shuttle, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfeinheit (16) mindestens einen Antrieb (53, 66) aufweist, der mit einem verstellbaren Kupplungs glied (78) mechanisch verbunden ist, welches seinerseits in mechanischer Wirkverbindung mit dem Austritts-Stopp- Element (76) des Shuttles (19) steht.
2. Einrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Kupplungsglied (78) mit dem Antrieb (53)
für die Vereinzelungsvorrichtung (15) verbunden
ist.
3. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Vereinzelungsvorrichtung (15) und ein Prüfkäfig
(48) für die Bauelemente (20) einschließlich des
wenigstens einem Antriebs (53, 66) hierfür zu einer
Anbaueinheit (47) zusammengefaßt sind.
4. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Vereinzelungsvorrichtung (15) ein vor-Stopp-Ele
ment (55) und ein Haupt-Stopp-Element (56) aufweist,
die in einander entgegengesetzten Richtungen in
die Bewegungsbahn (14) für die Bauelemente (20)
bewegbar sind und einen Abstand voneinander aufweisen,
der größer ist als die Länge des zu prüfenden Bauelemen
tes (20).
5. Einrichtung nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Vor-Stopp-Element (55) längs der Bewegungsbahn
(14) vorzugsweise in einer Nut (50) verstellbar
und in der jeweiligen Verstellposition feststellbar
ist.
6. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß ein Prüf-Stopp-Element (64) vorgesehen ist,
das in einer die Prüfstellung des Bauelements (20 c)
definierenden Postion in die Bewegungsbahn (14)
des Bauelements bewegbar ist.
7. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Kupplungsglied (78) ein mit dem Prüf-Stopp-Ele
ment (64) oder dem Prüfkäfig (48) verbundener Arm
ist.
8. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Vereinzelungsvorrichtung (15) und/oder dem
Kontaktierungsantrieb jeweils ein Fluidzylinder
(53, 66) als Antrieb zugeordnet ist.
9. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen dem Haupt-Stopp-Element (56) und dem
Prüf-Stopp-Element (64) eine Antriebsverbindung
in Form eines doppelarmigen Hebels (62) angeordnet
ist.
10. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 9,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen dem Haupt-Stopp-Element (56) und dem
Vor-Stopp-Element (55) eine Antriebsverbindung
in Form eines doppelarmigen Hebels (59) angeordnet
ist.
11. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Shuttle (19) ein quer zur Bewegungsbahn
(14) und im wesentlichen horizontal verschiebbarer
Schieber ist.
12. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11,
dadurch gekennzeichnet,
daß dem Shuttle ein vorzugsweise doppelt wirksamer
Fluidzylinder als Antrieb zugeordnet ist.
13. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 12,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Durchgangsrichtung (17) für die IC′s (20)
in einer Ebene (E) liegt.
14. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 13,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Austritt-Stopp-Element (76) aus einer Position
unterhalb des Shuttles (19) in die Bewegungsbahn
(14) bewegbar ist.
15. Einrichtung nach Anspruch 14,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Austritt-Stopp-Element (76) ein Schwenkteil
ist, das auf einer Schlittenführungsstange (71)
des Shuttles schwenkbar gelagert ist.
16. Einrichtung nach Anspruch 15,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Austritt-Stopp-Element (76) an einer parallel
zur Schlittenführungsstange (71) verlaufenden Hilfs
stange (81) geführt ist, die mittels einem Schwenkhebel
(79) um die Schlittenführungsstange (81) schwenkbar
gelagert ist, und das Kupplungsglied (78) lose
auf das Schwenkteil gegen eine Rückstellfeder drückt.
17. Einrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 16,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Anbaueinheit (47) an einer Führungsstange
(84) gehalten sowie durch eine Schwenksperre (85, 87)
und eine Klemm- oder Knebelschraube (88) arretiert
ist.
18. Einrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektronischen
Bauelementen, insbesondere von Chips mit integrierten
Schaltungen (IC′s), in der die Bauelemente zumindest
streckenweise durch Schwerkraft vorwärts bewegt
werden,
- - mit einem mindestens zwei Magazinkanäle aufweisenden Eingangsmagazin für die zu prüfenden Bauelemente, welches derart beweglich ist, daß ein ausgewählter Magazinkanal in Abgabeposition bringbar ist,
- - mit einer sich daran anschließenden Prüfeinheit,
- - und mit einem mindestens zwei Magazinkanäle aufwei senden Ausgangsmagazin zur Aufnahme der geprüften Bauelemente, dadurch gekennzeichnet, daß das Eingangsmagazin (12) eine um eine Schwenkachse (28) bewegliche Schwenkeinheit (25) ist, daß die Magazinkanäle von handelsüblichen zur Aufbewahrung und zum Transport der Bauelemente (20) dienenden rohrförmigen Magazinstangen (21 bis 24) gebildet sind, und daß an der Schwenkeinheit (25) lösbare Befestigungsmittel (36, 37) für die Magazinstangen (21 bis 24) vorgesehen sind.
19. Einrichtung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet,
daß die Magazinstangen (21 bis 24) durch federbeauf
schlagte Druckbacken (37) gehalten sind.
20. Einrichtung nach Anspruch 18 oder 19, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Magazinstangen (23 bis 24) zwischen
seitlich verstellbaren Führungselementen (36) gehalten
sind.
21. Einrichtung nach einem der Ansprüche 18 bis 20,
dadurch gekennzeichnet, daß die Magazinstangen
(23, 24) auf vertikal schwenkbaren Trägern (27)
angeordnet sind, und daß den Austrittsenden der
Magazinstangen (23, 24) in der ausgeschwenkten Stellung
Sperr- bzw. Begrenzungselemente (31) vorgeordnet
sind.
22. Einrichtung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet,
daß die Träger (27) in ihren Schwenkendstellungen
fixiert, vorzugsweise magnetisch fixiert sind.
23. Einrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektronischen
Bauelementen, insbesondere von Chips mit integrierten
Schaltungen (IC′s), bei der die Bauelemente zumindest
streckenweise durch Schwerkraft bewegt werden,
mit einer sich daran anschließenden Prüfeinheit,
die mit einem in einem Gehäuse befindlichen Test
computer verbindbar ist,
und mit einem Ausgangsmagazin für die geprüften
und sortierten Bauelemente,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Eingangsmagazin (12) die Prüfeinheit (16)
und das Ausgangsmagzin (13) an einem gemeinsamen
Trägergestell (32) befestigt sind, daß an einem
Träger (9) vorzugsweise in Form einer Grundplatte
schwenkbar gelagert ist, der auf dem mittels eines
Manipulators (4) schräg stellbaren Gehäuse (2)
des Testcomputers (3) verankerbar ist, derart,
daß der zur Prüfeinheit (16) gehörende Prüfsockel
(52) in Kontakt mit einem am Gehäuse (2) befindlichen
Kontaktsockel (98) ist.
24. Einrichtung nach Anspruch 23,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Prüfsockel (52) von unten in seine Prüfposition
einsetzbar ist.
25. Einrichtung nach Anspruch 23 oder 24,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Träger (9) mittels relativ zueinander verstell
baren Schrägkanten (103) und von letzterem hingriffenen
oder letztere hintergreifenden Verankerungselementen
(102) am Gehäuse (2) spannbar ist.
26. Einrichtung nach Anspruch 25,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Schrägkanten (103) an einer in einer Führung
(105) geführten Schiene (104) verschiebbar sind
und die Schiene durch einen Handhebeltrieb (106, 107,
108) verschiebbar ist.
27. Einrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektronischen
Bauelementen, insbesondere von Chips mit integrierten
Schaltungen (IC′s) in der die Bauelemente zumindest
streckenweise durch Schwerkraft vorwärts bewegt
werden,
- - mit einem mindestens eine Magazinstange aufwei senden Eingangsmagazin für die zu prüfenden Bau elemente,
- - mit einer sich daran anschließenden Prüfeinheit,
- - und mit einem mindestens eine Magazinstange aufweisenden Ausgangsmagazin zur Aufnahme der geprüften Bauelemente, dadurch gekennzeichnet, daß zur Halterung der Magazinstangen (21, 22, 23 und/oder 24) letztere seitliche begrenzende Führungs leisten (36) vorgesehen sind, die seitlich verstellbar sind, und daß den Führungsleisten (36) ein Führungs mechanismus (113) zugeordnet ist, der für beide Führungsleisten (36) bei deren seitlichen Verstellung ein gleiches Verstellmaß (e) erzwingt.
28. Einrichtung nach Anspruch 27,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Führungsmechanismus (113) ein in einer
ersten Führung (119) längs des Stangenmagazins
(21, 22, 23, und/oder 24) verschiebbar geführtes
Führungsteil (115) aufweist, an dem beiderseits
der Mittelachse (114) der Magazinstange divergierend
verlaufende Führungsflächen (118) angeordnet sind
und daß die Führungsleisten (36) in einer dritten
Führung (121, 122) quer zur Magazinstange geführt
sind und mit den divergierenden Führungsflächen
(118) des Führungsteils (115) korrespondierende
Führungsflächen (124) aufweisen.
29. Einrichtung nach Anspruch 28,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Längsführung für das Führungsteil (115),
die divergierenden Führungsflächen am Führungsteil
(115) und/oder die Querführung für die Führungsleisten
(36) durch Nuten (118, 119; 122) und daran einfassende
Führungszapfen (123, 124; 125) gebildet sind.
30. Einrichtung nach einem der Ansprüche 27 bis 29,
dadurch gekennzeichnet,
daß jeder Führungsleiste (36) wenigstens eine Klemm
schraube (125) zugeordnet ist, die eine Quernut
in der die Führungsleisten (36) tragenden Bauteil
durchfaßt.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19873715671 DE3715671A1 (de) | 1987-05-11 | 1987-05-11 | Einrichtung zum pruefen und sortieren von elektronischen bauelementen insbesondere chips mit integrierten schaltungen (ic's) |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19873715671 DE3715671A1 (de) | 1987-05-11 | 1987-05-11 | Einrichtung zum pruefen und sortieren von elektronischen bauelementen insbesondere chips mit integrierten schaltungen (ic's) |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3715671A1 true DE3715671A1 (de) | 1988-11-24 |
Family
ID=6327272
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19873715671 Withdrawn DE3715671A1 (de) | 1987-05-11 | 1987-05-11 | Einrichtung zum pruefen und sortieren von elektronischen bauelementen insbesondere chips mit integrierten schaltungen (ic's) |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3715671A1 (de) |
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1987
- 1987-05-11 DE DE19873715671 patent/DE3715671A1/de not_active Withdrawn
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