DE3715671A1 - Einrichtung zum pruefen und sortieren von elektronischen bauelementen insbesondere chips mit integrierten schaltungen (ic's) - Google Patents

Einrichtung zum pruefen und sortieren von elektronischen bauelementen insbesondere chips mit integrierten schaltungen (ic's)

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Hans-Heinrich Willberg
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    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34Sorting according to other particular properties
    • B07C5/344Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
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Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Eine Einrichtung dieser Art ist in der DE-OS 35 31 120 beschrieben und dargestellt. Bei dieser bekannten Ausge­ staltung ergibt sich das Austritts-Stopp-Element dadurch, daß das Shuttle schwenkbar angeordnet ist und seine Bewegungsbahn in der gegenüber dem Magazinkanal des Ausgangsmagazins verschwenkten Position wenigstens teilweise durch eine Leiste gesperrt ist, die sich über die gesamte Breite des mehrere Magazinkanäle aufwei­ senden Ausgangsmagazins erstreckt. Bei dieser bekannten Ausgestaltung ist es zum Wirksamwerden des Austritt-Stopp- Elements notwendig, das Shuttle zu schwenken, wodurch eine verhältnismäßig aufwendige Konstruktion vorgegeben ist. Außerdem sind zwei Antriebe für das Shuttle, nämlich ein Schwenkantrieb und ein Verfahrantrieb vorzusehen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Ausgestal­ tung zu finden, bei der das Austritt-Stopp-Element auch bei einem nicht quer zur Ebene des Ausgangsmagazins schwenkbaren Shuttle funktionsfähig ist.
Diese Aufgabe wird durch die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs 1 gelöst.
Bei der erfindungsgemäßen Ausgestaltung wird ein vorhan­ dener Antrieb dazu heran gezogen, das Austritt-Stopp-Ele­ ment zu betätigen, wodurch ein besonderer Antrieb auch eine eigene Steuerung für das Austritt-Stopp-Element entfällt. Dies erfolgt in einfacher Weise durch ein Kupplungsglied, das zwischen dem vorhandenen Antrieb und dem Austritt-Stopp-Element wirksam ist. Hierdurch ist eine einfache, kleine und funktionsfähige Bauweise vorgegeben, die es ermöglicht, ein Shuttle zu verwenden, das nicht quer zur Ebene des Ausgangsmagazins schwenkbar bzw. bewegbar ist.
Die Ausgestaltung nach Anspruch 2 ist aus funktionstechni­ schen Gründen vorteilhaft.
Die Ausgestaltung nach Anspruch 3 führt deshalb zu einer wesentlichen Vereinfachung, weil die Umrüstung auf ein Bauelement unterschiedlicher Bauart oder unter­ schiedlicher Abmessung vereinfacht und erleichtert ist. Die Umrüstarbeiten können von der Einrichtung in einfacher Weise entfernter Baueinheit durchgeführt werden. Außerdem können der Einrichtung mehrere Bauein­ heiten für bestimmte Bauelement-Arten zugeordnet werden, so daß die Umrüstung auf die andere Art in einfacher Weise durch Austausch der Baueinheiten erfolgen kann. Andererseits ist es auch beim Vorhandensein von nur zwei Baueinheiten möglich, die nicht in Funktion befind­ liche Baueinheit auf die nächste zu prüfende Art Chips einzustellen, während die andere Baueinheit in Funktion ist, so daß auch in diesem Fall das Umrüsten der Einrich­ tung einfach und schnell durch Austausch der voreingestell­ ten Baueinheit erfolgen kann.
Gemäß den Ansprüchen 4 bis 6 wird auf eine bewährte Ausgestaltung für die Vereinzelungsvorrichtung zurückge­ griffen, wobei gemäß Anspruch 5 eine Anpaßbarkeit an Bauelemente verschiedener Länge gewährleistet ist.
Die Ausbildungen nach den Ansprüchen 7 bis 17 führen zu einfachen und praktischen Ausgestaltungen bzw. zu einfachen Funktionen, die auch eine einfache und kosten­ günstige Herstellung ermöglichen.
Die Erfindung bezieht sich auch auf eine Einrichtung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 18, die ebenfalls in der schon erwähnten DE-OS 35 31 120 beschrieben und dargestellt ist. Bei dieser Einrichtung sind dem Eingangsmagazin mehrere Magazinkanäle zugeordnet, wobei das Eingangsmagazin quer zu den Magazinkanälen und in deren Ebene verstellbar ist, wodurch jeder Magazinkanal in Flucht mit der sich im Bereich der Prüfeinrichtung bzw. Prüfeinheit befindlichen Bewegungsbahn für die Bauelemente bringbar ist.
Auch diese Einrichtung umfaßt einen verhältnismäßig aufwendigen Aufbau, weil aufwendige Führungen für das Eingangsmagazin ausgebildet werden müssen.
Durch die Ausgestaltung gemäß Anspruch 18 wird diese Einrichtung wesentlich vereinfacht, weil aufgrund der Ausgestaltung des Eingangsmagazins als Schwenkeinheit ein wesentlich einfacherer Aufbau vorgegeben ist, der sich bei Gewährleistung einer sicheren Funktion kosten­ günstig herstellen läßt. Hierzu tragen auch die Ausgestal­ tungen nach den Ansprüchen 19 bis 22 in weiterer Ausgestal­ tung bei.
Die Erfindung bezieht sich auch auf eine Einrichtung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 23, die in der älteren deutschen Patentanmeldung P 36 15 941.7 beschrieben und dargestellt ist. Bei dieser Ausgestaltung ist die Einrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektronischen Bauelementen nur verhältnismäßig schwierig und zeitaufwen­ dig und somit nur mit einem erheblichen Kostenaufwand mit dem Testcomputer zu verbinden bzw. von diesem zu lösen, wobei zu berücksichtigen ist, daß es einer aufwendi­ gen elektrischen Verbindung zwischen dem Textcomputer und der Prüfeinheit der Einrichtung bedarf.
Bei der Ausgestaltung nach Anspruch 23 ist dem Testcomputer ein Anschlußkontaktblock zugeordnet, der durch eine einfache Steckverbindung mit dem Prüfsockel der Einrichtung in Verbindung zu bringen ist und zwar bei der Verankerung der Einrichtung auf dem Gehäuse des Testcomputers. Dabei ist die Einrichtung mit ihrem Trägergestell schwenk­ bar am mit dem Gehäuse des Textcomputers verankerbaren Träger verbunden, so daß durch Hochschwenken des schwenk­ baren Teils der Einrichtung diese für Wartungs- oder Montage- bzw. Demontagearbeiten leicht zugänglich ist.
Letzteres gilt insbesondere für den Fall, in dem gemäß Anspruch 24 der Prüfsockel von unten in die Prüfeinheit bzw. in den schwenkbaren Teil der Einrichtung einsetzbar ist. Im hochgeschwenkten Zustand des schwenkbaren Teils der Einrichtung kann der Prüfsockel einfach, leicht und schnell ausgetauscht werden, z.B. um die Einrichtung für Bauelemente unterschiedlicher Bauart bzw. Abmessungen umzurüsten.
Die in den Ansprüchen 25 und 26 angegebenen Merkmale ermöglichen mit einfachen Mitteln einen einfachen und praktischen sowie leicht und schnell durchführbaren und dabei paßgenauen Anschluß der Einrichtung zum Prüfen und Sortieren an das Gehäuse des Testcomputers.
Die Ansprüche 27 bis 30 beziehen sich auf einen Führungs­ mechanismus zum seitlichen Verstellen eines eine Magazin­ stange seitlich begrenzenden Führungsleitungspaares, der eine gleiche seitliche Verstellung der Führungsleisten erzwingt. Es werden einfache und zweckmäßige Merkmale vorgeschlagen, die eine leichte Funktion und eine einfache und preiswerte Herstellung ermöglichen.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand in einer Zeichnung dargestellter bevorzugter Ausführungsbeispiele erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 eine erfindungsgemäß ausgestaltete Einrichtung zum Prüfen und Sortieren von IC′s in perspek­ tivischer Darstellung;
Fig. 2 die Einrichtung in der Seitenansicht von links;
Fig. 3 die Einrichtung im vertikalen Längsschnitt gesehen von links.
Fig. 4 eine Einzelheit der Magazinstangenhalterung in der Draufsicht.
Fig. 5 die Einzelheit in der Ansicht von unten.
Die in den Figuren allgemein mit 1 bezeichnete Einrichtung ist auf dem Gehäuse 2 eines Testcomputers 3 angeordnet, der in mehreren Ebenen beweglich an einem Manipulator mit Tragarmen 4 gehalten ist, nämlich um eine quer zur Längsrichtung der Einrichtung 1 horizontal verlaufende Schwenkachse 5 schwenkbar, höhenverstellbar, horizontal um eine im Bereich des Ständers des Manipulators verlaufen­ de vertikale Achse schwenkbar oder horizontal längs der Schwenkachse 5 verschiebbar und/oder quer zur Schwenk­ achse 5 horizontal verschiebbar. Wenigstens nach solchen Verstellbewegungen, in denen die Einrichtung 1 mit dem Testcomputer 3 außer Gleichgewicht kommen kann, sind die verstellten Bauteile feststellbar. Ein Beispiel hierfür sei eine Klemmschraube 6 in Fig. 2, mit der der dargestellte Tragarm 4 und eine Klemmscheibe 8 miteinander verklemmbar sind, wodurch die Einrichtung 1 gegen ein Verschwenken um die Schwenkachse 5 feststellbar ist. Der insgesamt nicht dargestellte Manipulator kann zumindest prinzipiell einer von der in der deutschen Patentanmeldung P 36 15 942.5 beschriebenen Bauart sein. Auf die darin enthaltene Beschreibung wird in vollem Umfang Bezug genommen.
Die wesentlichen Teile der Einrichtung 1 sind ein platten­ förmiger Träger 9, der mittels einer Anschlußvorrichtung 11 an das Gehäuse 2 des Testcomputers 3 anschließbar ist, ein Eingangsmagazin 12, ein Ausgangsmagazin 13, eine sich zwischen letzteren erstreckende Bewegungsbahn 14 für IC′s, eine Vereinzelungseinrichtung 15, eine zwischen dem Eingangsmagazin 12 und dem Ausgangsmagazin 13 angeordnete Prüfanordnung bzw. Prüfeinheit 16 und eine der Prüfeinheit 15 in Durchgangsrichtung 17 nachgeord­ nete Sortiervorrichtung 18 mit einem Shuttle 19, das die geprüften, in Fig. 1 nicht dargestellten IC′s 20 wahlweise zu den Magazinstangen 21 des Ausgangsmagazins 13 zu transportieren vermag, von denen beim vorliegenden Ausführungsbeispiel zwei Magazinstangen 21 dargestellt sind. Die Einrichtung 1 befindet sich in einer Schräglage, in der die Durchgangsrichtung 17 ausgehend vom Eingangs­ magazin 12 zum Ausgangsmagazin 13 geneigt ist, so daß die IC′s 20 aufgrund der Schwerkraft automatisch auf der vorgegebenen Gleitbahn herunterrutschen. Die Bewegun­ gen der IC′s 20 liegen in einer Arbeitsebene E (Fig. 2), die die Durchgangsrichtung 17 und die Magazinstangen 21, 22 schneidet, von denen die mit 21 bezeichnete in der Durchgangsrichtung 17 und die mit 22 bezeichnete in der Durchgangsrichtung 17 b liegt, die gegenüber der Durchgangsrichtung 17 in der Ebene E parallelversetzt ist.
Das Eingangsmagazin 12 weist ebenfalls zwei Magazinstangen 23, 24 auf, und wird durch eine Schwenkeinheit 25 gebildet, die um eine nur in Fig. 2 dargestellte aufwärts gerichtete Schwenkachse derart schwenkbar ist, daß jede Magazinstange 23, 24 in Flucht mit der Bewegungsbahn 14 schwenkbar und in dieser Stellung feststellbar ist. Die Magazinstangen 23, 24 sind auf Platten 27 angeordnet, die um in der Arbeitsstellung der jeweiligen Magazinstange 23, 24 quer zur Bewegungsbahn 14 und parallel zur Ebene E verlaufenden Schwenkachsen 26 frei schwenkbar gelagert sind, die in einem Abstand a vom Anfang einer die Bewe­ gungsbahn 14 im Bereich der Prüfeinheit 15 bildenden Führungsnut 29 angeordnet sind. Dabei ist die Anordnung auch so getroffen, daß in einem Abstand b von der mit 28 bezeichneten Schwenkachse, der durch den Anfang der Führungsnut 29 definiert ist, Begrenzungselemente 31 vorhanden sind, und zwar sowohl für die sich in Arbeits­ stellung befindliche Magazinstange 23 als auch die sich in der Bereitschaftsstellung befindliche Magazinstange 24. Die Begrenzungselemente sperren den Ausgang der mit ihren vorderen Enden herunter geschwenkten Magazin­ stangen 23, 24, so daß ein unbeabsichtigter Austritt von IC′s aus dem sich in Bereitschaftsstellung befindlichen Stangenmagazin 24 als auch während des Schwenkvorgangs verhindert ist. Es ist vorteilhaft, die Begrenzungselemente 31 auf der beide Magazine 12, 13 aufnehmenden platten­ förmigen Traggestell 32 anzuordnen. Die Schwenkeinheit 25 ist in der jeweiligen Arbeitsstellung feststellbar. Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel dient hierzu jeweils ein von den Platten 27 stirnseitig vorspringender Arretierungsstift 33, der in einen sich vertikal er­ streckenden Freiraum bzw. Nut zwischen bzw. in den Begrenzungselementen 31 einfaßt. Zur Halterung der Platten 27 in deren Schwenkendstellungen sind Permanent­ magnete 30 a, 30 b an Anbauteilen der Platten 27 und des Traggestells 32 angeordnet. Diese Anbauteile sind vorzugsweise in nicht dargestellter Weise höhenverstellbar, so daß der in Fig. 3 mit c bezeichnete Schwenkbereich der Platten 27 bzw. Magazinstangen 23, 24 einstellbar ist, wobei diese Teile jeweils in eine Aussparung 30 des Traggestells 32 eintauchen können. Die Schwenkeinheit 25 ist unterhalb der Tragplatte angeordnet.
Im Gegensatz zum Eingangsmagazin 12 sind die Magazinstangen 21, 22 des Ausgangsmagazins 13 auf einer stationären Platte 35 angeordnet.
Die Halterung für alle Magazinstangen 21 bis 24 ist gleich ausgebildet. Sie umfaßt auf den Platten 27, 28, 35 achsparallel zur Bewegungsbahn 14 angeordnete Führungsleisten 36, deren Abstand d voneinander wahlweise einstellbar und somit an die Breite der Magazinstangen 21 bis 24 anpaßbar ist. Jedem Paar Führungsleisten 36 ist ein Mechanismus zugeordnet, der bei einer Ver­ stellung der Führungsleisten deren bezüglich der Bewegungs­ bahn 14 symmetrische Anordnung gewährleistet, d.h., bei einer Verstellung werden beide Führungsleisten 36 eines Führungsleistenpaares um das gleiche Maß seitlich verstellt. Eine solche Anordnung bzw. Ausgestaltung ist in der Patentanmeldung P 36 38 430.5 beschrieben und dargestellt. Auf diese Beschreibung wird im vollen Umfang Bezug genommen.
Die zwischen den Führungsleisten 36 gehaltenen Magazin­ stangen 21 bis 24 werden durch eine jeder Magazinstange 21 bis 24 zugeordnete Druckbacke 37 gegen die sie tragende Platte 27, 35 gedrückt und somit gehalten. Die Druckbacken 37 sind an Brücken 38 vertikal schwenkbar gelagert und durch Federn, insbesondere Blattfedern 39, gegen die Platten 27, 35 bzw. gegen die Magazinstangen 21 bis 24 vorgespannt.
Die Führungsnut 29 ist in einer Führungsplatte 41 ausgebil­ det, die auf dem Traggestell 32 befestigt ist, die auch die Schwenkeinheit 25, die Prüfeinheit 16, die Sortiereinrichtung 17 und das Ausgangsmagazin 13 trägt, und die um eine horizontale, am unteren Ende des schräg gestellten Trägers 9 verlaufende Schwenkachse 43 vertikal schwenkbar am Träger 9 gelagert ist. Hierzu dienen am Traggestell 32 seitlich befestigte Gelenkstücke 44 (Fig. 2), die mit einer am Träger 9 gehaltenen Rund­ stange 45 ein Schwenkgelenk 46 bilden.
Oberhalb der Führungsplatte 41 ist ein die Prüfeinheit 16 bildender Block 47 in Form eines Komplett-Anbauteiles angeordnet, der in seinem unteren Bereich einen Prüfkäfig 48 trägt, der an einem vertikal verschiebbar im Block 47 gehaltenen Stößel 49 befestigt ist. Der Prüfkäfig 48 ist in seiner Formgebung an die Bauart des zu prüfenden IC′s 20 angepaßt. Es ist der Zweck des Prüfkäfigs 48, daß IC′s 20 mit Kontakten eines unterhalb des Prüfkäfigs 48 angeordneten, in einer Fassung 51 in Form einer Ausnehmung oder eines Durchbruchs in der Führungsplatte 41 und/oder im Traggestell 32 eingesetzten Prüfsockels 52, der beim vorliegenden Ausführungsbeispiel von unten eingesetzt ist. Die Prüfkontakte des Prüfsockels 52 befinden sich unterhalb der Bewegungsbahn 14. Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel muß der Prüfkäfig 48 das zu prüfende IC 20 zum Prüfsockel 52 herunter­ drücken und nach Prüfung wieder heraufziehen. Hierzu ist der Prüfkäfig U-förmig ausgebildet mit einem dem Querschnitt der Bewegungsbahn 14 entsprechenden Frei­ schnitt. Ein solcher Prüfkäfig, der in der Fachsprache auch mit Prüfkassette bezeichnet wird, ist in der DE-OS 35 31 120, Fig. 10b dargestellt und im zugehörigen Beschreibungsteil beschrieben. Auf diese Darstellung bzw. Beschreibung wird in vollem Umfang Bezug genommen. Der Antrieb für den Prüfkäfig 48 wird durch einen Fluid­ zylinder 53 gebildet, der beim vorliegenden Ausführungs­ beispiel ein einfacher und wirksamer Zylinder ist mit einer Zuleitung 54.
Die Vereinzelungsvorrichtung 15 für die IC′s 20 wird im eigentlichen Sinne durch ein vorzugsweise in einer Nut 50 längs der Bewegungsbahn 14 verstellbares und feststellbares Vor-Stopp-Element 55 und ein Haupt-Stopp- Element 56 gebildet, die dem Prüfkäfig 48 vorgeordnet und von oben in die Bewegungsbahn 14 beweglich im Block 47 geführt sind. Hierzu sind im Block 47 in Fig. 3 durch gestrichelte Linien angedeutete Führungen vorgesehen. Den Stopp-Elementen 55, 56 sind aufwärts gerichtete Stöße 57, 58 zugeordnet, die an ihren oberen Enden schwenk­ bar mit den freien Enden eines Doppelhebels 59 verbunden sind, der an einer etwa mittigen Lagerstelle 61 schwenkbar gelagert ist, und zwar beim vorliegenden Ausführungsbeispiel an einer Außenseite des Blocks 47. Das in die Durchgangs­ richtung 17 weisende Ende des Doppelhebels 59 ist durch eine Gelenkachse mit dem einen freien Ende eines zweiten Doppelhebels 62 gelenkig verbunden, der an einer etwa mittigen Lagestelle 63 vertikal schwenkbar am Block 47 gelagert ist, und zwar beim vorliegenden Ausführungs­ beispiel auf der anderen Seite des Blocks 47.
An der in die Durchgangsrichtung 17 weisenden Seite des Prüfkäfigs 48 ist ein Prüf-Stopp-Element 64 angeordnet, das als zur Vereinzelungsvorrichtung 15 zugehörig betrach­ tet werden kann und ebenfalls von oben in die Bewegungsbahn 14 bewegbar ist, wozu eine aufwärts gerichtete Führung und ein Stößel 65 im Block 47 dienen. Letzterer wirkt mit einem Fluidzylinder 66 zusammen, der - wie schon der Fluidzylinder 53 in einer Brücke 67 oberhalb der Stößel 57, 65 gelagert ist. Auch der Fluidzylinder 66 ist ein einfach wirksamer Zylinder mit einer Zuleitung 68. Durch Beaufschlagung der Fluidzylinder 53, 66 werden der Prüfkäfig 48 und das Prüf-Stopp-Element 64 nach unten geschoben. Die Rückstellbewegung erfolgt durch nicht dargestellte Federn. Der Fluidzylinder 66 treibt zugleich das Vor-Stopp-Element 55, das Haupt-Stopp-Element 56 und das Prüf-Stopp-Element 64 an. Hierzu ist das in die Durchgangsrichtung 17 weisende Ende des Doppelhebels 62 mit dem Stößel 65 bzw. mit der aus Vereinfachungsgründen nicht dargestellten Kolbenstange des Fluidzylinders 66 schwenkbar verbunden. Im Bereich der Lagerstellen zwischen den Doppelhebeln 59, 62 und den Stößeln 57, 58, 65 ist ein geringes Lagerspiel parallel zur Ebene E vorhanden.
Das Shuttle 19 ist ein auf einer runden Führungsstange 71, quer zur Bewegungsbahn 14 und horizontal verschieb­ barer Schlitten, der beim vorliegenden Ausführungsbeispiel durch einen doppelt wirksamen Fluidzylinder 73 mit Kolbenstange 74 zwischen einer Aufnahmestellung, in der ein an seiner Oberseite angeordneter Bewegungsbahnab­ schnitt 14 a mit der Bewegungsbahn 14 fluchtet, und zwei Abgabestellungen, in denen der Bewegungsbahnabschnitt 14 a mit den Magazinstangen 21, 22 fluchtet, verschiebbar ist. Der Bewegungsbahnabschnitt 14 a wird durch zwei sich längs erstreckende, an der Oberseite des Shuttles 19 angeordnete Führungsleisten 75 gebildet, die in gleicher Weise wie die Führungsleisten 36 verstellbar sind, und zwar zwecks Anpassung an IC′s 20 unterschiedlicher Breite. Das zweite Führungselement für das Shuttle 19 ist ein in eine Führungsnut einfassender Arm, was bei 72 angedeutet ist.
Dem Shuttle 19 ist ein Austritt-Stopp-Element 76 zugeord­ net, das als Schwenkteil unterhalb des Shuttles bzw. zwischen dessen an der Führungsstange 71 gelagerten Seitenwänden angeordnet ist und in seiner Arbeitsstellung die Platte 77 des Shuttles 19 von unten in einer Ausnehmung durchfaßt und in den Bewegungsbahnabschnitt 14 a hineinragt. Das Austritt-Stopp-Element 76 ist durch ein vom Prüf-Stopp­ -Element 64 ausgehendes und somit ebenfalls durch den Fluid-Zylinder 66 verstellbares Kupplungsglied 78 beauf­ schlagbar, das als starrer Arm seitlich am in die Durch­ gangsrichtung 17 weisenden Ende des Blocks 47 angeordnet ist. Das Kupplungsglied 78 ragt soweit seitlich weg, daß es den in seine Aufnahmestellung befindlichen Shuttle seitlich übergreift. An dieser Stelle ist neben dem Shuttle ein Schwenkhebel 79 auf der Führungsstange 71 schwenkbar gelagert. Ein zweiter gleicher Schwenkhebel 79 befindet sich auf der anderen Seite des Shuttles 19. Der Abstand zwischen den Schwenkhebeln 79 ist größer bemessen, als die Summe aus der Breite des Shuttles 19 und dessen Verschiebehub. An den freien Enden der Schwenkhebel 79 ist eine sich parallel zur Führungsstange 71 erstreckende Hilfsführungstange 81 befestigt, die das Austritt-Stopp-Element 76 durchfaßt, wodurch eine Führung 83 für letzeres gebildet ist, wenn das Shuttle hin und her verschoben wird. Die durch die beiden Schwenk­ hebel 79, die Hilfsführungsstange 81 und das Austritt­ -Stopp-Element 76 gebildete Schwenkeinheit ist durch eine nicht dargestellte Feder, vorzugsweise eine von unten gegen die freien Enden der Schwenkhebel 79 wirksame Blattfeder, in die Stopp-Stellung des Austritt-Stopp-Ele­ ments 76 vorgespannt. Wenn das Prüf-Stopp-Element 64 mit dem Kupplungsglied 78 heruntergeschoben wird, drückt das Kupplungsglied 78 mittels eines vertikal einstellbaren Stellglieds 84 vorzugsweise in Form einer Stellschraube gegen das freie Ende des sich darunter befindlichen Schwenkhebels 79, wodurch das Austritt-Stopp-- Element 76 in seine Freigabestellung bewegt wird.
Der Block 47 stellt mit der Vereinzelungsvorrichtung 15, dem Prüfkäfig 48, dem Kupplungsglied 78 und den zugehörigen Antrieben eine Anbaueinheit dar, die in einfacher Weise und mit wenigen Handgriffen aufsteckbar ist. Hierzu dienen zwei zu beiden Seiten des Blocks 47 am Traggestell 32 befestigte und von diesem hochragende Haltebolzen 84, 85, auf die der Block 47 mittels seitlich daran befestigten Aufnahmestücken 86, 87 mit entsprechenden Aufnahmelöchern aufsteckbar ist. Der Block 47 ist durch eine dem Aufnahmestück 86 zugeordnete Klemmschraube 88 am Haltebolzen 84 festklemmbar und somit gegen eine unbeabsichtigte Bewegung nach oben gesichert. Der Block 47 ist durch eine Stellschraube 89 höheneinstellbar, die am Aufnahmestück 86 angeordnet ist und stirnseitig gegen den Haltebolzen 84 wirkt.
Zum Umrüsten der Einrichtung 1 auf ein IC 20 anderer Bauart oder anderer Abmessung ist es lediglich erforder­ lich, den Prüfsockel 52 und den vorzugsweise lösbar an dem zugehörigen Stößel 59 befestigten Prüfkäfig 48 auszutauschen, sowie die Vereinzelungsvorrichtung 15 auf die Abmessungen des neuen IC′s 20 einzustellen. Der Austausch des Prüfsockels 52 kann in einfacher Weise durch Hochschwenken des Traggestells 32 erfolgen, wodurch ein leichter Zugang zum Prüfsockel 52 geschaffen wird. Der Austausch bzw. die Umrüstung am Block 47 kann in einfacher Weise im abgebauten Zustand erfolgen oder es kann in einfacher Weise ein zwischenzeitlich eingerichteter oder wenigstens ein weiterer, für spezielle IC′s 20 vorgesehener Block 47 angebaut werden. Ein Umrüstung läßt sich somit einfach und schnell durchführen.
Der mit 90 bezeichnete Kasten umfaßt eine Steuereinrichtung.
Im folgenden wird die Funktion der Einrichtung 1 ins­ besondere anhand Fig. 3 beschrieben.
Die in der Magazinstange 23 des Eingangsmagazins 12 befindlichen IC′s 20 rutschen aufgrund der Schräglage automatisch gegen das Haupt-Stopp-Element 56, das in der Normalstellung den Durchgang in der Bewegungsbahn 14 sperrt. Hierbei befindet sich das Vor-Stopp-Element 55 in seiner Freigabestellung. Zur Einleitung eines Prüfvorgangs wird der Fluidzylinder 66 für die Vereinze­ lungsvorrichtung ausgefahren, wodurch die Doppelhebel 59, 62 in einander entgegengesetzte Schwenkrichtungen geschwenkt werden und das Haupt-Stopp-Element 56 in seine Freigabestellung hochgezogen und das Vor-Stopp-Ele­ ment 55 und das Prüf-Stopp-Element 64 in ihre Sperrstellun­ gen heruntergeschoben werden. Gleichzeitig beaufschlagt das Kupplungsglied 78 das Austritt-Stopp-Element 76, wodurch ein vor dem Austritt-Stopp-Element 76 liegendes IC 20 d freigegeben wird und je nach Abgabestellung des Shuttles 19 in die eine oder andere Magazinstange 21 oder 22 weiterrutschen kann. Das Vor-Stopp-Element 55 ist durch eine nicht dargestellte Feder in seine Stoppstellung beaufschlagt und kann somit nachgeben, wodurch es eine elastische Bremswirkung auf das sich darunter befindliche IC 20 a ausübt und dieses an einem Weiterrutschen hindert. Das vor dem nun in seiner Freigabe­ stellung befindlichen Haupt-Stopp-Element 56 liegende IC 20 b vermag in die Prüfstellung weiterzurutschen, wo es durch das sich in seiner Sperrstellung befindliche Prüf-Stopp-Element 64 gestoppt wird. Anschließend kann die nicht dargestellte Kolbenstange des Fluidzylinders 53 heruntergeschoben werden, wobei das sich im Bereich des Prüfkäfigs 48 befindliche IC 20 c mit dem Prüfsockel 52 kontaktiert und geprüft wird. Anschließend wird der Prüfkäfig 48 und das Prüf-Stopp-Element 64 wieder hochgefahren, wonach das IC 20 c weiterrutschen kann und in den Bewegungsbahnabschnitt 14 a auf das Shuttle 19 rutscht, wo es vor dem sich nun in seiner Sperrstellung befindlichen Austritt-Stopp-Element 76 zu liegen kommt (IC 20 d). Zwischenzeitlich ist vom Testcomputer 3 ermittelt worden ob das geprüfte IC ein Gutteil oder Ausschuß ist. Entsprechend einem solchen Signal wird das Shuttle 19 in seiner mit der Magazinstange 21 fluchtenden Abgabe­ stellung belassen (Gutteil) oder in die mit der Magazin­ stange 22 fluchtenden Abgabestellung verschoben (Ausschuß). Bei der Inbetriebsetzung der Vereinzelungsvorrichtung 15 zur Einleitung der Prüfung des nächsten IC′s 20 wird das Austritt-Stopp-Element 76 in seine Freigabe­ stellung geschwenkt, wodurch das darauf befindliche IC 20 b freigegeben wird und in die betreffende Magazin­ stange 22, 23 rutschen kann.
Der Einrichtung ist vor dem Haupt-Stopp-Element 56, das heißt im Bereich der IC′s 20 a oder 20 b sowie vor dem Austritt-Stopp-Element 76 jeweils eine Lichtschranke zugeordnet, die das Vorhandensein eines IC′s meldet und mit 91 bzw. 92 bezeichnet ist. Es ist auch vorteilhaft, eine solche Lichtschranke auch dem Prüf-Stopp-Element 64 direkt vorzuordnen. Außerdem ist dem Shuttle 19 wenigstens eine vorzugsweise zwei Lichtschranken 93 zugeordnet, die dessen Vorhandensein in der Aufnahme­ stellung und/oder Abgabestellung ermittelt. Die Steuerung ist so ausgelegt, daß jeweils der nächste Arbeitsschritt erst dann ausgeführt wird, wenn das Vorhandensein der vorgenannten Teile ermittelt worden ist. Hierdurch werden Störungen des automatischen Arbeitsablaufs ausge­ schlossen, die durch falsche Stellungen der genannten Teile entstehen können.
Die Anschlußvorrichtung 11 zum Anschließen der Einrichtung 1 an das Gehäuse 2 des Testcomputers 3 weist wenigstens zwei oder mehrere von der Einrichtung 1 nach unten ausgehende Führungs- und/oder Zentrierstifte 95, 96 auf, von denen die Führungsstifte 95 in nicht dargestellte Führungslöcher am Gehäuse 2 und die Zentrierstifte 96 in Zentrierlöcher 97 eines am Testcomputer 3 bzw. an dessen Gehäuse 2 angebrachten Kontaktsockels 98 einsteckbar sind. Der Prüfsockel 52 und der Kontaktsockel 98 weisen miteinander korrespondierende Kontakte auf, von denen nur die des Prüfsockels 92 dargestellt und mit 99 bezeichnet sind. Beim vorliegenden Ausführungsbei­ spiel gehen die Zentrierstifte 96 vom Prüfsockel 52 aus (Fig. 3).
Die Anschlußvorrichtung 11 weist auch Spannmittel bzw. eine Spannvorrichtung auf, mit der die Einrichtung 1 gegen das Gehäuse 3 spannbar ist. Hierzu dienen an einer Leiste oder an einem Rahmen 101 des Gehäuses 2 befestigte Kupplungsstifte 102, die in der Spannstellung von Schrägkanten 103 eine Leiste 104 hintergriffen sind, die in Führungen 105 etwa parallel zum Gehäuse 2 verschiebbar an der Unterseite des Trägers 9 gelagert sind. Zur Verschiebung der wenigstens einen Leiste 104 dient ein in Fig. 2 dargestelltes Hebelgetriebe mit einem Handhebel 106 mit einem festen Hebelarm 107, der durch eine Zug- bzw. Druckstange 108 gelenkig mit der Leiste 104 verbunden ist. Der Handhebel 106 ist vorzugsweise an der unteren Längskante des Trägers 9 angeordnet und kann vorteilhaft auf der Schwenkachse 43 gelagert sein.
Die Schrägkanten 103 werden durch schräge Nuten 109 in der Leiste 104 gebildet. Für eine befriedigende Festlegung reichen zwei Kupplungsstifte 102 und zwei Schrägkanten 103 aus, die beiderseits des Kontaktsockels 98 angeordnet sind. Es ist jedoch auch vorteilhaft, vier Kontaktstift/Schrägkantenpaare vorzusehen, die eine rahmenförmige Festlegung der Einrichtung 1 am Gehäuse 2 ermöglichen.
Die Fig. 4 und 5 zeigen einen Abschnitt der sich rechtwinklig zueinander erstreckenden Abschnitte 111 des Eingangsmagazins 12 in vereinfachter Darstellung, d.h. es sind keine schwenkbar gelagerte Platten 27 vorhanden und die rohrförmige Magazinstange 23 liegt ähnlich wie beim Ausgangsmagazin 13 auf einer starr befestigten Platte 112 auf, die den Abschnitt 111 bildet und die Magazinstange 23 trägt. Gleiche Teile sind bei diesem Ausführungsbeispiel mit gleichen Positionszahlen bezeichnet. Die Druckbacke zur klemmenden Halterung der Magazinstange 23 ist teilweise weggebrochen.
Bei diesem Ausführungsbeispiel ist den die Magazinstange 23 seitlich begrenzenden Führungsleisten 36 ein allgemein mit 113 Scheiben angeordnet, die das Führungsteil 115 bzw. dessen Rumpfstück 117 untergreifen und somit an der Unterseite der Platte 112 halten. In den Kreuzungs­ punkten der Führungsnuten 118 und 121 sind weitere Führungszapfen 124 in den Führungsleisten 36 verankert, die von deren Unterseite nach unten vorragen und sowohl die Führungsnuten 121 als auch die Führungsnuten 118 durchfassen oder in letztere zumindest einfassen. Im Bereich der Führungsnuten 122 durchfassen Klemmschrauben 125 mit einem Werkzeugangriffsglied an der Oberseite die Führungsleisten 36, und sie erstrecken sich auch durch die Führungsnuten 122, wobei sie in Muttern 126 eingeschraubt sind, die formschlüssig in eine flache Nut 127 eingesetzt sind, die sich längs den Führungsnuten 122 an der Unterseite der Platte 112 erstreckt. Jede Führungsleiste 36 ist somit durch zwei Führungszapfen 124 sowie eine Klemmschraube 125 quer zur Mittelachse 114 geführt, wobei sie mittels der Klemmschraube 125 nach erfolgter Einstellung festgeklemmt werden kann.
Aufgrund der sich quer zueinander erstreckenden Führungs­ nuten 118 und 121 sind Fixpunkte für die Führungszapfen 124 vorgegeben, die eine Verlagerung quer zur Mittelachse 112 der Führungsleisten 36 erzwingen, wenn entweder die Führungsleiste 36 quer zur Mittelachse 114 oder das Führungsteil 115 längs zur Mittelachse 114 verschoben werden. Je genauer die Passung zwischen den Führungszapfen 123, 124 und den Führungsnuten 118, 119 ist, desto genauer ist auch die Einstellung der Führungsleisten 36. Da die Führung in den Fixpunkten bestimmt ist, brauchen die Nuten 122 nicht zur Führung beizutragen, d.h. sie können ein größeres Spiel aufweisen und hauptsächlich der Klemmung dienen.
Die Längen der Führungsnuten 118, 119 sowie gegebenenfalls auch 122 sind so angeordnet und so groß bemessen, daß sie einander nicht behindern, und daß der angestrebte Verstellbereich eingestellt werden kann.
Die der Prüfeinheit 16 abgewandten Enden der Führungs­ leisten 36 verlaufen nach außen divergierend, wodurch das Einschieben der Magazinstange 23 erleichtert wird.
Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel besteht das platten­ förmige Führungsteil 115 aus Messing und die Führungszapfen 123, 124 aus Stahl, wodurch eine verhältnismäßig lange Lebensdauer bei guten Gleiteigenschaften gewährleistet ist.
Die erfindungsgemäße Einrichtung 1 eignet sich insbesondere für Bauelemente 20, die in der Fachsprache unter der Bezeichnung CLCC (ceramic leadless chip carrier) bekannt sind. Ein solcher Chip besteht aus einem Keramikgrund­ körper, der in der Mitte mit einer Erhöhung versehen ist. Anstelle solcher Chips können auch in der Fachsprache unter der Bezeichnung PLCC verwendet werden da sich auch hierfür die erfindungsgemäße Einrichtung eignet. Diese Chips bestehen aus einem Plastikgehäuse, von dessen Rand an allen vier Seiten Anschlußkontakte aus­ gehen. Vorgenannte Chips sind in der DE-OS 35 31 143 beschrieben und dargestellt. Hierauf wird in vollem Umfang Bezug genommen.

Claims (30)

1. Einrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektronischen Bauelementen, insbesondere Chips mit integrierten Schaltungen (IC′s), in der die Bauelemente zumindest streckenweise durch Schwerkraft vorwärts bewegt werden,
  • - mit einem Eingangsmagazin, das mindestens einen die zu prüfenden Bauelemente enthaltenden Magazinkanal aufweist,
  • - mit einer sich daran anschließenden Vereinzelungsvor­ richtung,
  • - mit einer sich daran anschließenden auswechselbaren Prüfeinheit, in der die Bauelemente durch einen Kontaktierungsantrieb mit einem Prüfsockel kontaktiert werden, welcher mit einem Testcomputer verbindbar ist,
  • - mit einem Ausgangsmagazin, welches mindestens zwei zur Aufnahme der geprüften Bauelemente dienende Magazinkanäle aufweist,
  • - mit einem zwischen dem Ausgangsmagazin und der Prüfeinrichtung angeordneten, verfahrbaren Sor­ tier-Shuttle, welches einerseits in Übernahmeposition mit der Prüfeinheit und andererseits in Abgabepo­ sition mit jedem der Ausgangsmagazinkanäle bringbar ist,
  • - und mit einem Austritts-Stoppelement am Shuttle, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfeinheit (16) mindestens einen Antrieb (53, 66) aufweist, der mit einem verstellbaren Kupplungs­ glied (78) mechanisch verbunden ist, welches seinerseits in mechanischer Wirkverbindung mit dem Austritts-Stopp- Element (76) des Shuttles (19) steht.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Kupplungsglied (78) mit dem Antrieb (53) für die Vereinzelungsvorrichtung (15) verbunden ist.
3. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Vereinzelungsvorrichtung (15) und ein Prüfkäfig (48) für die Bauelemente (20) einschließlich des wenigstens einem Antriebs (53, 66) hierfür zu einer Anbaueinheit (47) zusammengefaßt sind.
4. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Vereinzelungsvorrichtung (15) ein vor-Stopp-Ele­ ment (55) und ein Haupt-Stopp-Element (56) aufweist, die in einander entgegengesetzten Richtungen in die Bewegungsbahn (14) für die Bauelemente (20) bewegbar sind und einen Abstand voneinander aufweisen, der größer ist als die Länge des zu prüfenden Bauelemen­ tes (20).
5. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Vor-Stopp-Element (55) längs der Bewegungsbahn (14) vorzugsweise in einer Nut (50) verstellbar und in der jeweiligen Verstellposition feststellbar ist.
6. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß ein Prüf-Stopp-Element (64) vorgesehen ist, das in einer die Prüfstellung des Bauelements (20 c) definierenden Postion in die Bewegungsbahn (14) des Bauelements bewegbar ist.
7. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß das Kupplungsglied (78) ein mit dem Prüf-Stopp-Ele­ ment (64) oder dem Prüfkäfig (48) verbundener Arm ist.
8. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Vereinzelungsvorrichtung (15) und/oder dem Kontaktierungsantrieb jeweils ein Fluidzylinder (53, 66) als Antrieb zugeordnet ist.
9. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen dem Haupt-Stopp-Element (56) und dem Prüf-Stopp-Element (64) eine Antriebsverbindung in Form eines doppelarmigen Hebels (62) angeordnet ist.
10. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen dem Haupt-Stopp-Element (56) und dem Vor-Stopp-Element (55) eine Antriebsverbindung in Form eines doppelarmigen Hebels (59) angeordnet ist.
11. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß das Shuttle (19) ein quer zur Bewegungsbahn (14) und im wesentlichen horizontal verschiebbarer Schieber ist.
12. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß dem Shuttle ein vorzugsweise doppelt wirksamer Fluidzylinder als Antrieb zugeordnet ist.
13. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Durchgangsrichtung (17) für die IC′s (20) in einer Ebene (E) liegt.
14. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß das Austritt-Stopp-Element (76) aus einer Position unterhalb des Shuttles (19) in die Bewegungsbahn (14) bewegbar ist.
15. Einrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß das Austritt-Stopp-Element (76) ein Schwenkteil ist, das auf einer Schlittenführungsstange (71) des Shuttles schwenkbar gelagert ist.
16. Einrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß das Austritt-Stopp-Element (76) an einer parallel zur Schlittenführungsstange (71) verlaufenden Hilfs­ stange (81) geführt ist, die mittels einem Schwenkhebel (79) um die Schlittenführungsstange (81) schwenkbar gelagert ist, und das Kupplungsglied (78) lose auf das Schwenkteil gegen eine Rückstellfeder drückt.
17. Einrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß die Anbaueinheit (47) an einer Führungsstange­ (84) gehalten sowie durch eine Schwenksperre (85, 87) und eine Klemm- oder Knebelschraube (88) arretiert ist.
18. Einrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektronischen Bauelementen, insbesondere von Chips mit integrierten Schaltungen (IC′s), in der die Bauelemente zumindest streckenweise durch Schwerkraft vorwärts bewegt werden,
  • - mit einem mindestens zwei Magazinkanäle aufweisenden Eingangsmagazin für die zu prüfenden Bauelemente, welches derart beweglich ist, daß ein ausgewählter Magazinkanal in Abgabeposition bringbar ist,
  • - mit einer sich daran anschließenden Prüfeinheit,
  • - und mit einem mindestens zwei Magazinkanäle aufwei­ senden Ausgangsmagazin zur Aufnahme der geprüften Bauelemente, dadurch gekennzeichnet, daß das Eingangsmagazin (12) eine um eine Schwenkachse (28) bewegliche Schwenkeinheit (25) ist, daß die Magazinkanäle von handelsüblichen zur Aufbewahrung und zum Transport der Bauelemente (20) dienenden rohrförmigen Magazinstangen (21 bis 24) gebildet sind, und daß an der Schwenkeinheit (25) lösbare Befestigungsmittel (36, 37) für die Magazinstangen (21 bis 24) vorgesehen sind.
19. Einrichtung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Magazinstangen (21 bis 24) durch federbeauf­ schlagte Druckbacken (37) gehalten sind.
20. Einrichtung nach Anspruch 18 oder 19, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Magazinstangen (23 bis 24) zwischen seitlich verstellbaren Führungselementen (36) gehalten sind.
21. Einrichtung nach einem der Ansprüche 18 bis 20, dadurch gekennzeichnet, daß die Magazinstangen (23, 24) auf vertikal schwenkbaren Trägern (27) angeordnet sind, und daß den Austrittsenden der Magazinstangen (23, 24) in der ausgeschwenkten Stellung Sperr- bzw. Begrenzungselemente (31) vorgeordnet sind.
22. Einrichtung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß die Träger (27) in ihren Schwenkendstellungen fixiert, vorzugsweise magnetisch fixiert sind.
23. Einrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektronischen Bauelementen, insbesondere von Chips mit integrierten Schaltungen (IC′s), bei der die Bauelemente zumindest streckenweise durch Schwerkraft bewegt werden, mit einer sich daran anschließenden Prüfeinheit, die mit einem in einem Gehäuse befindlichen Test­ computer verbindbar ist, und mit einem Ausgangsmagazin für die geprüften und sortierten Bauelemente, dadurch gekennzeichnet, daß das Eingangsmagazin (12) die Prüfeinheit (16) und das Ausgangsmagzin (13) an einem gemeinsamen Trägergestell (32) befestigt sind, daß an einem Träger (9) vorzugsweise in Form einer Grundplatte schwenkbar gelagert ist, der auf dem mittels eines Manipulators (4) schräg stellbaren Gehäuse (2) des Testcomputers (3) verankerbar ist, derart, daß der zur Prüfeinheit (16) gehörende Prüfsockel (52) in Kontakt mit einem am Gehäuse (2) befindlichen Kontaktsockel (98) ist.
24. Einrichtung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß der Prüfsockel (52) von unten in seine Prüfposition einsetzbar ist.
25. Einrichtung nach Anspruch 23 oder 24, dadurch gekennzeichnet, daß der Träger (9) mittels relativ zueinander verstell­ baren Schrägkanten (103) und von letzterem hingriffenen oder letztere hintergreifenden Verankerungselementen (102) am Gehäuse (2) spannbar ist.
26. Einrichtung nach Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, daß die Schrägkanten (103) an einer in einer Führung (105) geführten Schiene (104) verschiebbar sind und die Schiene durch einen Handhebeltrieb (106, 107, 108) verschiebbar ist.
27. Einrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektronischen Bauelementen, insbesondere von Chips mit integrierten Schaltungen (IC′s) in der die Bauelemente zumindest streckenweise durch Schwerkraft vorwärts bewegt werden,
  • - mit einem mindestens eine Magazinstange aufwei­ senden Eingangsmagazin für die zu prüfenden Bau­ elemente,
  • - mit einer sich daran anschließenden Prüfeinheit,
  • - und mit einem mindestens eine Magazinstange aufweisenden Ausgangsmagazin zur Aufnahme der geprüften Bauelemente, dadurch gekennzeichnet, daß zur Halterung der Magazinstangen (21, 22, 23 und/oder 24) letztere seitliche begrenzende Führungs­ leisten (36) vorgesehen sind, die seitlich verstellbar sind, und daß den Führungsleisten (36) ein Führungs­ mechanismus (113) zugeordnet ist, der für beide Führungsleisten (36) bei deren seitlichen Verstellung ein gleiches Verstellmaß (e) erzwingt.
28. Einrichtung nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet, daß der Führungsmechanismus (113) ein in einer ersten Führung (119) längs des Stangenmagazins (21, 22, 23, und/oder 24) verschiebbar geführtes Führungsteil (115) aufweist, an dem beiderseits der Mittelachse (114) der Magazinstange divergierend verlaufende Führungsflächen (118) angeordnet sind und daß die Führungsleisten (36) in einer dritten Führung (121, 122) quer zur Magazinstange geführt sind und mit den divergierenden Führungsflächen (118) des Führungsteils (115) korrespondierende Führungsflächen (124) aufweisen.
29. Einrichtung nach Anspruch 28, dadurch gekennzeichnet, daß die Längsführung für das Führungsteil (115), die divergierenden Führungsflächen am Führungsteil (115) und/oder die Querführung für die Führungsleisten (36) durch Nuten (118, 119; 122) und daran einfassende Führungszapfen (123, 124; 125) gebildet sind.
30. Einrichtung nach einem der Ansprüche 27 bis 29, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Führungsleiste (36) wenigstens eine Klemm­ schraube (125) zugeordnet ist, die eine Quernut in der die Führungsleisten (36) tragenden Bauteil durchfaßt.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1832886A1 (de) * 2006-03-08 2007-09-12 Rasco GmbH Vorrichtung und Verfahren zum Testen von elektronischen Bauteilen
CN106180004A (zh) * 2016-08-08 2016-12-07 深圳市华宇半导体有限公司 指纹分选机的控制***及控制方法
CN109772728A (zh) * 2019-01-26 2019-05-21 苏州科技大学 一种usb自动高压测试设备
CN112588614A (zh) * 2021-01-20 2021-04-02 福州派利德电子科技有限公司 集成电路测试分选机压测测试装置及其工作方法
CN114769165A (zh) * 2022-06-20 2022-07-22 杭州宇称电子技术有限公司 一种用于高性能单光子探测芯片检测设备及方法
CN115228775A (zh) * 2022-07-31 2022-10-25 无锡市华宇光微电子科技有限公司 一种芯片自动检测分料设备
CN117031184A (zh) * 2023-10-09 2023-11-10 深圳市高微科电子有限公司 一种贴片电阻检测装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1832886A1 (de) * 2006-03-08 2007-09-12 Rasco GmbH Vorrichtung und Verfahren zum Testen von elektronischen Bauteilen
US7673520B2 (en) 2006-03-08 2010-03-09 Rasco Gmbh Device and method for testing electronic components
CN106180004A (zh) * 2016-08-08 2016-12-07 深圳市华宇半导体有限公司 指纹分选机的控制***及控制方法
CN109772728A (zh) * 2019-01-26 2019-05-21 苏州科技大学 一种usb自动高压测试设备
CN112588614A (zh) * 2021-01-20 2021-04-02 福州派利德电子科技有限公司 集成电路测试分选机压测测试装置及其工作方法
CN112588614B (zh) * 2021-01-20 2022-07-08 福州派利德电子科技有限公司 集成电路测试分选机压测测试装置及其工作方法
CN114769165A (zh) * 2022-06-20 2022-07-22 杭州宇称电子技术有限公司 一种用于高性能单光子探测芯片检测设备及方法
CN114769165B (zh) * 2022-06-20 2022-09-16 杭州宇称电子技术有限公司 一种用于高性能单光子探测芯片检测设备及方法
CN115228775A (zh) * 2022-07-31 2022-10-25 无锡市华宇光微电子科技有限公司 一种芯片自动检测分料设备
CN117031184A (zh) * 2023-10-09 2023-11-10 深圳市高微科电子有限公司 一种贴片电阻检测装置
CN117031184B (zh) * 2023-10-09 2024-02-27 深圳市纬盛电子有限公司 一种贴片电阻检测装置

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