DE3633089A1 - Anordnung zur pruefung der kantenqualitaet bei plattenfoermigen halbzeugen - Google Patents
Anordnung zur pruefung der kantenqualitaet bei plattenfoermigen halbzeugenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Prüfung der Kantenqualität
bei plattenförmigen Halbzeugen wie vorzugsweise bei Spanplattenzuschnitten
auf herstellungs- oder bearbeitungsbedingte
Kantenausbrüche im unmittelbaren Anschluß an die Herstellung oder
den Formatschnitt der unbeschichteten Halbzeuge oder der Formatbearbeitung
der oberflächenbeschichteten Halbzeuge.
Für die Qualitätskontrolle von Kanten oder Oberflächen hinsichtlich
Ausbrüche oder geometrischen Unregelmäßigkeiten sind eine
Vielzahl optisch/elektrischer/elektronischer Prüfanordnungen bekannt,
von denen sich Anordnungen mit auf das zu prüfende Objekt
gerichteten Lichtquellen und mit Lichtempfängern für den vom zu
prüfenden Objekt reflektierten Lichtanteil unter industriemäßigen
Bedingungen durchgesetzt haben, da hierbei ein vergleichsweise
günstiges Verhältnis vom Investitionsaufwand zur Qualität der
Prüfergebnisse und zur Zuverlässigkeit der Prüfanordnungen gewährleistet
ist. Derartige Anordnungen sind aus der Patentliteratur
beispielsweise von der DD-PS 2 05 989 oder der DE-OS 34 12 108
(beide G 01 B 11/30 Int. Cl.) oder aus der Fachliteratur von der
Veröffentlichung "Die Dynamik der Kantenflucht" (Hopmann/Haaften,
Farbe und Lack, Vincentz Verlag Hannover 12/84, S. 1001 bis 1005)
bekannt. So wird in letztgenannter Patentschrift beschrieben, daß
ein Beleuchtungsbündel senkrecht auf eine zu prüfende Oberfläche
gerichtet wird und die Rauheit der Oberfläche durch Messung der
Intensität des gestreuten Lichtes in mindestens zwei unterschiedlichen
Polarwinkeln bestimmt wird, währenddessen die genannte
Fachliteraturstelle eine Anordnung beschreibt, bei der ein Laserstrahl
auf eine zu prüfende Materialkante gelenkt wird und eine
im Winkel dazu angeordnete Fotokamera die reflektierten Lichtanteile
empfängt. Alle diese Anordnungen haben für den speziellen
Anwendungsfall der Kantenqualitätsprüfung den Nachteil, daß -
um verwertbare Meßergebnisse zu erhalten - der auf das zu prüfende
Objekt gelenkte Beleuchtungsstrahl exakt auf den betreffenden
Objektbereich gerichtet sein muß, was bei plattenförmigen
Halbzeugen, welche sich in einem industriemäßigen Durchlauf befinden
und somit Vibrationen ausgesetzt sind, keine definierte
Lage einnehmen und welche außerdem in einem bestimmten Maße
dickentoleranzbehaftet sind, praktisch nicht realisierbar ist.
Als weiterer Mangel gelten die zumeist zum Einsatz gebrachten
fotografischen Lichtempfängersysteme, die eine Qualitätsprüfung
im Echtzeitbetrieb prinzipiell nicht zulassen. Echtzeitmessungen
lassen sich andererseits mittels der allgemein bekannten CCD-
Bildsensortechnik vornehmen. Die Literaturstelle "CCD-Bildsensortechnik"
(Linnemann/Wurmus, Technische Hochschule Ilmenau, KDT-
Bezirksvorstand Suhl 1983) gibt eine Zusammenfassung der zu dieser
Technik bekannten Prüfanordnungen. Für den Anwendungsfall
der Kantenqualitätsprüfung ist auf Seite 182 eine Anordnung zur
Erkennung von Fehlstellen, Löchern und Kantenausbrüchen an Keramikhalbschalen
im Auflicht-Lichtschnittverfahren mit Binärverarbeitung
erwähnt. Außerdem sind aus der allgemeinen Praxis der CCD-
Technik Durchlicht-Meßanordnungen bekannt, bei denen ein Beleuchtungsstrahl
eine zu prüfende Kante im Winkel von 45° streift
und eine hinter der Kante angeordnete CCD-Kamera den die Kante
überstreichenden Lichtanteil erfaßt und in Form eines elektrischen
Signals einer Aufbereitung zuführt.
Alle derartigen Anordnungen haben den Nachteil, daß Lage- oder
Dickeabweichungen des zu untersuchenden Gutes sowie Oberflächenfarbunregelmäßigkeiten
wie beispielsweise Holzdekormaserungen
oder aber Vibrationsbewegungen bewegter Halbzeuge einen signifikanten
Einfluß auf die Verwertbarkeit der Prüfergebnisse haben und
sich die Anwendbarkeit solcher Prüfanordnungen deshalb auf Laboruntersuchungen
beschränkt. Eine Ermittlung der geometrischen Ausdehnung
von Kantenausbrüchen, welche beispielsweise Rückschlüsse
auf den Werkzeugverschleiß der zur Kantenbearbeitung eingesetzten
Werkzeuge zuließe, ist mit vorgenannten Prüfanordnungen nur bedingt
möglich. Eine darauf aufbauende Steuerung von technologischen
Prozeß- oder Fertigungsbedingungen im Echtzeitbetrieb wie beispielsweise
eine automatische Prüfung und Prozeßsteuerung bei der
Spanplattenverarbeitung ist nicht realisierbar.
Das Ziel der Erfindung ist die Entwicklung einer Anordnung zur
berührungslosen Prüfung der Kantenqualität bei plattenförmigen
Halbzeugen wie vorzugsweise bei Spanplattenzuschnitten, welche
für die kontinuierliche Qualitätsprüfung von im industriellen
Durchlauf befindlichen Halbzeugen geeignet ist.
Aufgabe der Erfindung ist eine solche Anordnung von an sich bekannten
CCD-Bildsensorelementen, die es gestattet, die Kantenqualität
von im produktionsmäßigen Durchlauf befindlichen
plattenförmigen industriellen Halbzeugen wie vorzugsweise von
Spanplattenzuschnitten kontinuierlich und unabhängig von Lage-,
Dicken- oder Farbdifferenzen sowie von transporttechnologisch
bedingten Materialvibrationsbewegungen mit sofortiger Abgreifbarkeit,
in guter Qualität und hinsichtlich der geometrischen
Ausdehnung von Kantenausbrüchen quantifizierbar zu erfassen.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß ein von
einer Beleuchtungsquelle ausgehendes Lichtbündel so auf eine
zu prüfende Kante eines plattenförmigen Halbzeuges gerichtet
ist, daß dieses Lichtbündel teilweise senkrecht auf die Schmalfläche
des Halbzeuges trifft und teilweise parallel streifend
zur Breitfläche des plattenförmigen Halbzeuges einfällt. Im Bereich
der mit einer Neigung von 90° zur Einfallsrichtung dieses
primären Lichtbündels reflektierten Lichtanteiles, senkrecht
über der zu prüfenden Halbzeugkante ist linienförmig parallel
zur Einfallsrichtung des primären Lichtbündels eine an sich bekannte
CCD-Zeile einer CCD-Kamera mit einstellbarem Objektiv
angeordnet. Das Kameraobjektiv ist so eingestellt, daß die zu
prüfende Halbzeugkante mit dem zu prüfenden Objektbereich auf
der CCD-Zeile der CCD-Kamera abgebildet ist.
In einer vorteilhaften Gestaltung der Erfindung ist dem Lichtbündel
vor Auftreffen auf die zu prüfende Halbzeugkante eine
Zylinderlinse vorgeschaltet und das Lichtbündel als Lichtstreifen
ausgebildet.
Vorteilhaft ist es weiterhin, daß als Beleuchtungsquelle eine
Halogenlichtquelle Anwendung findet.
Schließlich ist die zur Lichtsignalaufnahme zur Anwendung gebrachte
CCD-Kamera in einer vorteilhaften Gestaltung der Erfindung
so ausgebildet, daß in Anpassung an die Transportgeschwindigkeit
des plattenförmigen Halbzeuges eine Integrationszeit im
Bereich von 30 µs bis 250 µs vorliegt.
Bei Auftreffen des in beschriebener Weise auf die zu prüfende
Materialkante des plattenförmigen Halbzeuges gelenkten und gegebenenfalls
mittels Zylinderlinse zu einem Lichtstreifen konzentrierten
Lichtbündels treten Reflexionen im Mikrobereich ein.
Im Bereich zwischen Schmal- und Breitfläche des zu prüfenden
Halbzeuges sowie bei Kanten- und Beschichtungsmaterialausbrüchen
wirken Mikroflächen mit unterschiedlicher Neigung als Reflektoren
für das einfallende Licht. Bei einer Neigung dieser Mikroflächen
um 45 wird das Licht senkrecht zur Einfallsrichtung reflektiert.
Mit den linienförmig angeordneten CCD-Fotoempfängerelementen
wird die Intensität des reflektierten Lichtes gemessen.
Die auf die einzelnen Fotoempfängerelemente entfallenden Lichtmengen
ermöglichen einen genauen Rückschluß auf die geometrische
Form der geprüften Kante. Bei der auf diese Weise vorgenommenen
Kantenqualitätsprüfung haben Lage-, Dicken- oder Farbdifferenzen
des zu prüfenden Gutes sowie produktionstechnologisch bedingte
Einflüsse wie Vibrationen gemäß dem Wirkprinzip der beschriebenen
Anordnung keinen Einfluß auf die Qualität der vorgenommenen
Messung.
Die Erfindung soll nachstehend an einem Ausführungsbeispiel erläutert
werden.
In den zugehörigen Abbildungen zeigen
Fig. 1: Die Vorderansicht und die Seitenansicht des auf eine
zu prüfende Halbzeugkante auftreffenden Lichtbündels
Fig. 2: Analog- und Binärbilder von Halbzeugen mit fehlerfreien
Kanten, mit Kantenausbrüchen und mit Beschichtungsmaterialausbrüchen
Ein von einer Halogenlichtquelle mit nachgeschalteter Zylinderlinse
ausgehendes Lichtbündel 2 trifft teilweise senkrecht auf
die Schmalfläche 6 des auf Kantenqualität der Kante 3 zu prüfenden
plattenförmigen Halbzeuges 1 auf und fällt mit dem anderen
Anteil parallel streifend zur Breitfläche 5 des Halbzeuges
1 ein. An der Halbzeugkante 3 treten Mikroreflexionen an
Mikroflächen auf, wobei diese als Reflektoren wirkenden Mikroflächen
einerseits im Bereich zwischen Schmal- und Breitfläche
6 und 5 des zu prüfenden Halbzeuges 1 oder aber im Bereich von
Kantenausbrüchen 8 oder randbeschädigten Oberflächenbeschichtungen
9 auftreten. Ausgehend von Mikroflächen, welche gegenüber der
Einfallsrichtung des auf die zu prüfende Kante 3 des plattenförmigen
Halbzeuges 1 gerichteten Lichtbündels 2 um 45° geneigt
sind, wird ein Teil des reflektierten Lichtes 4 auf die senkrecht
über der zu prüfenden Kante 3 und parallel linienförmig zur Einfallsrichtung
des Lichtbündels 2 angeordneten CCD-Zeile 7 einer
CCD-Kamera mit vorgeschaltetem, die zu prüfende Kante 3 auf der
CCD-Zeile 7 abbildenden Objektiv und mit einer Integrationszeit
von 250 µs gelenkt.
In Fig. 2 sind typische Kantenausbildungen plattenförmiger Halbzeuge
1 und deren Reflexionsbilder dargestellt. So ergibt sich
bei einer unbeschädigten Kante 3 ein Analogbild 10, bei einem
Kantenausbruch 8 ein Analogbild 11 und bei einer Randbeschädigung
9 des Oberflächenbeschichtungsmaterials ein Analogbild 12. Als
Maß für die Breite von Kantenausbrüchen 8 oder Oberflächenbeschichtungsmaterial-
Randbeschädigungen 9 werden die Analogwerte
aller CCD-Fotoempfängerelemente der CCD-Zeile 7 binarisiert. Dazu
wird eine Komperatorschwelle in wählbarer Höhe vorgegeben. Die
unter dieser Schwelle liegenden Analogwerte ergeben ein O-Signal,
die darüberliegenden ein L-Signal. Das Maß für die Breite der
Kantenfehler 8 und 9 ist die Anzahl der Bildpunkte zwischen der
ersten O/L- und der letzten L/O-Flanke.
Da das auf die zu prüfende Kante 3 gerichtete Lichtbündel 2 anordnungsgemäß
den gesamten in Betracht kommenden Lage- und
Dickentoleranzbereich des auf Kantenqualität zu prüfenden
plattenförmigen Halbzeuges 1 überdeckt und auch die CCD-Zeile 7
einen vergleichsweise großen Meßbereich erfaßt, ist die vorgenannte
Prüfanordnung weitgehend unempfindlich gegenüber Bedingungen,
wie sie beispielsweise bei der industriemäßigen
Spanplattenherstellung und -verarbeitung herrschen. Die eingesetzte
Halogenlichtquelle mit dem für derartige Lichtquellen
typischen Regenerationsverhalten sichert zu jedem Zeitpunkt der
Prüfung reproduzierbare Prüfbedingungen.
- Aufstellung der verwendeten Bezugszeichen
1 plattenförmiges Halbzeug
2 Beleuchtungsbündel
3 zu prüfende Kante
4 reflektiertes Licht
5 Breitfläche des plattenförmigen Halbzeuges
6 Schmalfläche des plattenförmigen Halbzeuges
7 CCD-Zeile
8 Kantenausbruch
9 randbeschädigtes Oberflächenbeschichtungsmaterial
10 Analogbild einer unbeschädigten Kante
11 Analogbild einer Kante mit Kantenausbruch
12 Analogbild einer Kante mit randbeschädigtem Oberflächenbeschichtungsmaterial
13 Binärbild einer unbeschädigten Kante
14 Binärbild einer Kante mit Kantenausbruch
15 Binärbild einer Kante mit randbeschädigtem Oberflächenbeschichtungsmaterial
Claims (4)
1. Anordnung zur Prüfung der Kantenqualität bei plattenförmigen
Halbzeugen wie vorzugsweise bei Spanplattenzuschnitten, welche
sich im industriellen Durchlauf befinden, mittels an sich bekannter
CCD-Bildsensortechnik, gekennzeichnet dadurch, daß ein
von einer Beleuchtungsquelle ausgehendes Lichtbündel (2) so
auf eine zu prüfende Kante (3) eines plattenförmigen Halbzeuges
(1) gerichtet ist, daß das Lichtbündel (2) mit einem Lichtbündelanteil
senkrecht auf die Schmalfläche (6) des plattenförmigen
Halbzeuges (1) auftrifft und mit dem verbleibenden
Lichtbündelanteil parallel streifend zur Breitfläche (5) des
plattenförmigen Halbzeuges (1) einfällt und daß im Bereich der
mit einer Neigung von 90° zur Einfallsrichtung dieses Lichtbündels
(2) reflektierten Lichtanteiles (4) und senkrecht über der
zu prüfenden Kante (3) des plattenförmigen Halbzeuges (1)
parallel linienförmig zur Einfallsrichtung des Lichtbündels (2)
eine CCD-Zeile (7) einer CCD-Kamera mit einem die Kante (3) im
zu prüfenden Bereich auf der CCD-Zeile (7) abbildenden Objektiv
angeordnet ist.
2. Anordnung zur Prüfung der Kantenqualität bei plattenförmigen
Halbzeugen nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch, daß der
Beleuchtungsquelle eine Zylinderlinse unmittelbar nachgeschaltet
ist und daß das Lichtbündel (2) als Lichtstreifen ausgebildet
ist.
3. Anordnung zur Prüfung der Kantenqualität bei plattenförmigen
Halbzeugen nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch, daß die
Beleuchtungsquelle eine Halogenlichtquelle ist.
4. Anordnung zur Prüfung der Kantenqualität bei plattenförmigen
Halbzeugen nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch, daß die
Integrationszeit der CCD-Kamera 30 µs bis 250 µs beträgt.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD85282892A DD257953A3 (de) | 1985-11-15 | 1985-11-15 | Anordnung zur pruefung der kantenqualitaet bei plattenfoermigen halbzeugen |
Publications (1)
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DE3633089A1 true DE3633089A1 (de) | 1987-05-21 |
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Family Applications (1)
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DE (1) | DE3633089A1 (de) |
IT (1) | IT1214740B (de) |
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- 1985-11-15 DD DD85282892A patent/DD257953A3/de not_active IP Right Cessation
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1986
- 1986-09-29 DE DE19863633089 patent/DE3633089A1/de not_active Withdrawn
- 1986-11-13 IT IT8648653A patent/IT1214740B/it active
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DE102021124153A1 (de) | 2021-09-17 | 2023-03-23 | Homag Plattenaufteiltechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Qualitätsprüfung einer Kante eines plattenförmigen Werkstücks |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
IT8648653A0 (it) | 1986-11-13 |
DD257953A3 (de) | 1988-07-06 |
IT1214740B (it) | 1990-01-18 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
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