DE3341844C2 - - Google Patents
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Meßanordnung zum Bestimmen von
Projektionsflächen zwei- und/oder dreidimensionaler Objekte, mit
einem die Kontur der Projektionsfläche erfassenden optoelektro
nischen Sensor, dessen Ausgangssignale in elektronischen Schalt
stufen digitalisiert und zur Konturbestimmung verarbeitet werden.
Bei der Bestimmung der Daten von Projektionsflächen ist es be
kannt, Fotokopien von Meßobjekten manuell auszuwerten oder Meßob
jekte mit Hilfe berührender Sensoren, z. B. Meßtaster oder be
rührungsloser Sensoren, wie z. B. optischer Sensoren, abzutasten.
Auf diese Weise lassen sich z. B. die Konturen von Luftfahrzeugen
oder Kraftfahrzeugen ermitteln und damit die Widerstandsbeiwerte
(C w -Wert) dieser Strömungskörper bestimmen.
Bei der berührungslosen Bestimmung von Projektionsflächen ist es
bekannt, mit einem Laser einen Flächenbereich, in welchem das Meß
objekt angeordnet ist, zeilenweise zu überstreichen. Ein hinter
dem Meßobjekt vorgesehener synchron mit dem Laser bewegter Emp
fangssensor nimmt dabei den Laserstrahl auf, welcher durch das
Meßobjekt beim Überstreichen des Flächenbereiches unterbrochen
wird. Aus den Positionsdaten der Strahlunterbrechung bzw. des
Strahldurchganges läßt sich dann die Kontur der abgetasteten Pro
jektionsfläche ermitteln.
Obwohl diese Verfahrensweise relativ genaue Daten der zu be
stimmenden Projektionsflächen ergibt, ist sie unbefriedigend, weil
das synchrone Mitführen eines Empfangssensors zum einen recht auf
wendig und das zeilenweise Abtasten des gesamten Flächenbereiches
zum andern sehr zeitraubend ist.
Weiterhin geht aus der EP 00 53 730 A1 hervor, Flächen mit opti
schen Sensoren abzutasten und die Ausgangssignale dieser Sensoren
nach Digitalisierung für den gewünschten Zweck zu verarbeiten. Auf
diese Weise kann ein vollautomatisches Erkennen von Schlüsseln,
vorzugsweise Flachschlüsseln, erzielt werden und zwar sowohl in
der Schaftprofilierung als auch in der Bartform. Dies geschieht
mit einer Beleuchtungsoptik und mit einer Abbildungsoptik, welche
den ingesamt ausgeleuchteten Flächenbereich erfaßt und auswertet.
Zur Konturerfassung großflächiger dreidimensionaler Objekte ist
ein solches Verfahren aber nicht geeignet.
Ferner ist es zur Erfassung von Tunnelwänden bekannt, Hüllkurven
meßverfahren zu benutzen, wie z. B. in der DE-OS 26 12 751 vorge
schlagen. Bei einem solchen Hüllkurvenmeßverfahren tastet eine
Fernsehkamera die mit einem Infrarotlaser bestrahlten Tunnelwände
ab, so daß sich aufgrund der Vorwärtsbewegung eines Trägerfahrzeu
ges eine schraubenlinige Tunnelabtastung ergibt.
Schließlich ist es bei der Herstellung von Halbleiterchips be
kannt, elektronische Steuerungen zur Ausrichtung der optisch er
faßten Chips zu benutzen. Wie die US-PS 42 13 117 zeigt, sind sol
che Steuerungen zur Konturerfassung großflächiger dreidimensiona
ler Objekte nicht geeignet.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Meßanordnung
zum berührungslosen Bestimmen von Projektionsflächen durch Kontur
erfassung mit optoelektronischen Sensoren vorzusehen, welche mit
vergleichsweise geringem Aufwand genaue und schnell durchführbare
Messungen erlaubt. Gemäß der Erfindung ist diese Aufgabe dadurch
gelöst, daß die Ausgangssignale des optoelektronischen Sensors ei
nem Amplitudendiskriminator zugeleitet sind, dessen digitalisierte
Ausgangssignale einem durch einen Adressengenerator adressier
bare Datenspeicher zugeleitet sind, daß die Daten des Datenspei
chers sowohl einer digitalen Fokussiereinheit zum Ansteuern einer
Sensoroptik für ein automatisches Fokussieren des Sensorsehfeldes
auf die Entfernung des je
weiligen Konturpunktes als auch über einen Bildinformationsadapter
einer Kontur-Recheneinheit zugeführt sind, deren Ausgangssignale
eine Verfahreinrichtung ansteuern, die den optoelektronischen Sen
sor automatisch der Kontur nachführt und aus deren Positionsdaten
die Projektionsfläche des Objekts bestimmbar ist.
Die erfindungsgemäße Maßnahme nutzt die Möglichkeiten optoelektro
nischer Sensoren z. B. einer Video-Kamera, zur berührungslosen
Erfassung der Kontur eines Meßobjektes aus. Das Sensorsignal wird
hierbei nach Digitalisierung Recheneinheiten zugeleitet, deren
Ausgangssignale eine den Sensor der Kontur des Meßobjektes nach
führende Verfahreinrichtung ansteuern. Die Konturdaten der zu be
stimmenden Projektionsfläche werden daher aus den Positionsdaten
der Verfahreinheit beim Umfahren der Projektionsfläche ermittelt
und stehen damit als elektronische Daten zur Weiterverarbeitung
zur Verfügung.
Bei einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist vorge
sehen, das Sensorsehfeld mit seiner Mitte auf die Kontur der Pro
jektionsfläche auszurichten und den optischen Sensor in zwei senk
rechten Richtungen (x, y) zur Sensorrichtung mit der Verfahrein
richtung nachzuführen. Hierdurch wird einerseits Abstandsän
derungen des Meßobjektes zum Sensor Rechnung getragen, während an
dererseits die Positionsdaten der Verfahreinrichtung direkt zur
Bestimmung der Projektionsflächen benutzt werden können.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind den An
sprüchen 3 bis 6 zu entnehmen.
Die Erfindung wird anhand der Zeichnung näher erläu
tert. Es zeigt
Fig. 1 ein Blockschaltbild einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen Meßanordnung und
Fig. 2 eine Prinzipdarstellung zur Objektbestimmung und Kontur
nachführung.
In der Darstellung nach Fig. 1 ist das Blockschaltbild einer Ausführungsform der erfin
dungsgemäßen Meßanordnung abgebildet, bestehend aus einem opto
elektronischen Sensor 1, z. B. einer Video-Kamera, dessen Aus
gangssignal einem Amplitudendiskriminator 2 und einem Adressen
generator 3 zugeführt sind. Der Amplitudendiskriminator 2 ist als
mehrstufiger Analog-Digital-Wandler ausgebildet und wandelt die
zugeführten Bildsignale in digitale Bilddaten. Diese digitalen
Bilddaten gelangen zu einem durch den Adressengenerator 3
adressierbaren Datenspeicher 4, wovon sie zur Weiterverarbeitung
einer digitalen Fokussiereinheit 5 bzw. einem Bildinformationsa
dapter 6 zur Verfügung stehen. Mit der digitalen Fokussiereinheit
5 wird eine dem optoelektronischen Sensor 1 vorgeschaltete Sensor
optik 12 automatisch auf die jeweilige Entfernung des Konturpunk
tes einer Projektionsfläche fokussiert, während der Bildinforma
tionsadapter 6 die vom Datenspeicher 4 zugeführten digitalen Bild
daten für eine nachgeschaltete Kontur-Recheneinheit 7 anpaßt. Die
se Anpassung kann, wie durch einen Pfeil am Bildinformationsadap
ter 6 angedeutet, durch Befehle so eingestellt werden, daß die
Kontur-Recheneinheit 7 optimale Bilddaten zur Konturerfassung und
zur Ermittlung des Richtungsverlaufs einer Projektionsfläche er
hält. Mit der Ausgangssignalen der Kontur-Recheneinheit 7 wird
eine den optoelektronischen Sensor verstellende Verfahreinheit 8
angesteuert, welche das Sensorsehfeld 17 des Sensors 1 automatisch
um ein Meßobjekt zur Konturerfassung bewegt.
Bei der Durchführung einer Messung können die Daten einer erfaßten
Kontur 15 von den Positionsdaten der Verfahreinrichtung 8 bzw. von
der Kontur-Recheneinheit 7, wie angedeutet, abgeleitet werden. Es
ist bei einer Messung auch möglich, die erfaßte Kontur 15 eines
Meßobjektes auf einem Bilddarstellungsgerät 9 darzustellen. Dazu
ist es lediglich notwendig, die Ausgangssignale des optoelektro
nischen Sensors 1 über eine Mischstufe 11 dem Bilddarstellungsge
rät 9, z. B. einem Monitor, zuzuführen. Dieser Monitor kann z. B.
auch aktuelle Auswertungszustände, wie z. B. erfaßte Kantenposi
tionen oder Richtungen, einblenden, wofür ein Symbolgenerator 10
vorgesehen ist, welcher seine Daten der durch den Adressengenera
tor 3 gesteuerten Mischstufe zuführt.
Wie aus der Prinzipdarstellung nach Fig. 2 hervorgeht,
ist es mit der erfindungsgemäßen Meßanordnung möglich,
Projektionsflächen beliebiger Objekte 16 zu erfassen.
Das Sensorsehfeld 17 des Sensors 1 wird dabei auf die
Kontur 15 des Objektes gerichtet und nachgeführt, daß
die Kontur 15 stets in der Mitte des Sensorsehfeldes
17 liegt. Die Steuerung der Verfahreinrichtung 8 kann
dabei in zwei zueinander senkrechten Richtungen (x, y),
wie durch das Achsenkreuz angedeutet, erfolgen. Das Sen
sorsehfeld braucht dabei nicht die dargestellte quadra
tische Form haben, sondern kann jede andere geeignete
Form haben. Das Suchen, Erfassen und anschließende Um
fahren des Sensors 1 entlang der Kontur eines Objektes
erfolgt, wie schon erwähnt, automatisch. Für den Fall,
daß das zu vermessende Objekt einen Durchbruch oder ei
ne Unterbrechung innerhalb der Projektionsfläche be
sitzt, ist es notwendig, den Sensor manuell bis zum Er
fassen der Durchbruchkontur zu verfahren. Hierzu dient
auch das Bilddarstellungsgerät, welches mit seiner An
zeige das manuelle Verfahren zu überwachen gestattet.
Die Berechnung des Durchbruches bzw. seiner Daten er
folgt dann auf die bisher beschriebene Weise.
Claims (6)
1. Meßanordnung zum Bestimmen von Projektionsflächen zwei-
und/oder dreidimensionaler Objekte mit einem die Kontur der Pro
jektionsfläche erfassenden optoelektronischen Sensor, dessen Aus
gangssignale in elektronischen Schaltstufen digitalisiert und zur
Konturbestimmung verarbeitet werden, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Ausgangssignale des optoelektronischen
Sensors (1) einem Amplitudendiskriminator (2) zugeleitet sind,
dessen digitalisierte Ausgangssignale einem durch einen Adressen
generator (3) adressierbaren Datenspeicher (4) zugeleitet sind,
daß die Daten des Datenspeichers (4) sowohl einer digitalen Fo
kussiereinheit (5) zum Ansteuern einer Sensoroptik (12) für ein
automatisches Fokussieren des Sensorsehfeldes (17) auf die Entfer
nung des jeweiligen Konturpunktes als auch über einen Bildinforma
tionsadapter (6) einer Kontur-Recheneinheit (7) zugeführt sind,
deren Ausgangssignale eine Verfahreinrichtung (8) ansteuern, die
den optoelektronischen Sensor (1) automatisch der Kontur (15)
nachführt und aus deren Positionsdaten die Projektionsfläche des
Objekts (16) bestimmbar ist.
2. Meßanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Sensorsehfeld (17) mit seiner Mitte auf
die Kontur (15) der Projektionsfläche gerichtet ist und daß der
optoelektronische Sensor (1) in zwei senkrechten Richtungen (x, y)
zur Sensorrichtung mit der Verfahreinrichtung (8) nachgeführt
wird.
3. Meßanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 2,
dadurch gekennzeichnet, daß der Amplituden
diskriminator (2) als mehrstufiger Analog-Digital-Wandler ausge
bildet ist.
4. Meßanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß der Bildinforma
tionsadapter (6) durch eingebbare Befehle zur Angabe optimal ange
paßter Daten für die nachgeschaltete Kontur-Recheneinheit (7) an
steuerbar ist.
5. Meßanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß das Ausgangssi
gnal des optoelektronischen Sensors (1) über eine Mischstufe (11)
einem Bilddarstellungsgerät (9) zur Direktbeobachtung zugeführt
ist.
6. Meßanordnung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß der Mischstufe
(11) ein durch den Adressengenerator (3) adressierbarer Symbolge
nerator (10) zum Einblenden von Symbolen auf dem Bilddarstellungs
gerät (9) zugeordnet ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19833341844 DE3341844A1 (de) | 1983-11-19 | 1983-11-19 | Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19833341844 DE3341844A1 (de) | 1983-11-19 | 1983-11-19 | Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3341844A1 DE3341844A1 (de) | 1985-05-30 |
DE3341844C2 true DE3341844C2 (de) | 1989-08-17 |
Family
ID=6214724
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19833341844 Granted DE3341844A1 (de) | 1983-11-19 | 1983-11-19 | Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3341844A1 (de) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH061288B2 (ja) * | 1986-10-07 | 1994-01-05 | 富士通株式会社 | 高さ補正による自動焦点合せ装置 |
DE4003390A1 (de) * | 1990-02-05 | 1991-08-08 | Emco Maier Gmbh | Vorrichtung zum erfassen der kontur eines werkstueckes |
DE4105284A1 (de) * | 1991-02-20 | 1992-11-05 | Bacher Gmbh B | Verfahren und vorrichtung zur videounterstuetzten montage |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4063283A (en) * | 1975-04-03 | 1977-12-13 | Chemetron Corporation | Automatic envelope measuring system |
US4213117A (en) * | 1977-11-28 | 1980-07-15 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for detecting positions of chips on a semiconductor wafer |
DE3044611A1 (de) * | 1980-11-27 | 1982-11-25 | Webb Service GmbH, 6000 Frankfurt | Verfahren und vorrichtung zur erkennung von querschnittsprofilen von objekten |
-
1983
- 1983-11-19 DE DE19833341844 patent/DE3341844A1/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3341844A1 (de) | 1985-05-30 |
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