DE3334976A1 - Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen ermittlung von rundlaufabweichungen eines rotationskoerpers - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen ermittlung von rundlaufabweichungen eines rotationskoerpersInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 sowie eine Vorrichtung nach dem Oberbegriff des
Anspruchs 10.
Es sind Verfahren und Vorrichtungen bekannt, Rund 1 aufabweichungen,
insbesondere den Höhenschlag eines Rotationskörpers,
z.B. eines Kraftfahrzeugreifens mit Hilfe.von aufgesetzten
Rollen und damit verbundenen Wegaufnehmern zu bestimmen.
Der dabei mechanisch aufgenommene Höhenschlag wird z.B. durch induktive Wegaufnehmer in ein elektrisches Signal umgesetzt.
Die Messung kann hierbei nur durch mechanischen Kontakt erfolgen. Andererseits ist es bekannt, den Wellenschlag
gummi erter Papierwalzen mit Hilfe eines Ref1ektionsmeßverfahrens
zu ermitteltn. Dabei wird die gummierte Oberfläche der Papierwalze durch eine von einem Sender ausgesendete
Strahlung bestrahlt und die von der gummierten Oberfläche reflektierte Strahlung von einem Empfänger empfangen und gemessen.
Bei Rotationskörpern, deren Umf angsf1äche mit einer
Profilierung oder mit einer bestimmten Rauhigkeit versehen ist, wie beispielsweise Kraftiahrzeugreifen, kann zwar mit
Hilfe der Reflektionsmethode eine qualitative Aussage über
die Seitenwände getroffen werden, jedoch bereitet die berührungslose Ermittlung des Höhenschlags derartiger Rotationskörper
erhebliche Schwierigkeiten, insbesondere dann,
wenn die Profiltiefe bedeutend größer ist als der Höhenschlag. Bei Kraftfahrzeugreifen beträgt die Profiltiefe etwa
8 nrm und der Höhenschlag bewegt sich in aller Regel in der Größenordnung von 0,2 rrm. Das durch die Profilierung bzw.
durch die Oberflächenrauhigkeiten hervorgerufene Störsignal überdeckt daher das Nutzsignal.
durch die Oberflächenrauhigkeiten hervorgerufene Störsignal überdeckt daher das Nutzsignal.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, ein Verfahren und eine Vorrichtung zur berührungslosen Ermittlung von Rundlaufabweichungen
eines Rotationskörpers, insbesondere Kraftfahrzeugreifens
zu schaffen, die geeignet sind für mit einer
Profilierung versehenen Rotationskörpern, insbesondere Kraftfahrzeugreifen, wobei der durch die Profilierung entstehende Störanteil im Nutzsignal gering gehalten ist.
Profilierung versehenen Rotationskörpern, insbesondere Kraftfahrzeugreifen, wobei der durch die Profilierung entstehende Störanteil im Nutzsignal gering gehalten ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß bei dem eingangs genannten
Verfahren durch die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs und bei der eingangs genannten Vorrichtung durch die kennzeichnenden
Merkmale des Anspruchs 10 gelöst.
Durch die Erfindung wird eine berührungslose Messung der
Rund laufabweichungen eines Rotationskörpers, insbesondere
Kraftfahrzeugreifens ermöglicht, das wenig durch Störgrößen
beeinflußt ist und bei dem das Meßsystem relativ weit
vom zu vermessenden Objekt entfernt angeordnet werden kann. Im Gegensatz zu der bekannten Reilektionsmethode erfolgt die
Messung nicht über eine Abstandsmessung zur Oberfläche sondern tangential zu der Oberfläche, deren Rund laufeigenschaften
untersucht werden sollen.
Es ist zwar bekannt, mit Hilfe der Abschattung eines optischen
Strahlenbündels durch einen in diesem Strahlenbündel angeordneten
Gegenstand, Abmessungen dieses Gegenstands zu messen (DE-PS 27 18 807 und DE-OS 28 18 789), jedoch wird hierbei
die Messung an einem ruhenden Objekt vor genommen, wobei von
der Strahlung das gesamte Objekt erfaßt wird, d.h. das Objekt wird zum größten Teil in einer von der tangentialen Richtung
stark abweichenden Bestrahlungsrichtung bestrahlt und die meßbare
Größe des Objektes hängt ab von der Größe der Meßeinrichtung, d.h. das Objekt kann nicht größer sein als das von der
Meßeinrichtung erzeugte parallele Strahlenbündel.
Hiervon unterscheidet sich die Erfindung dadurch, daß das
parallele Strahlenbündel tangential zu der Fläche am umlaufenden
Rotor gerichtet wird, an der die Rund 1 aufabweichungen zu messen sind. Hierbei ist es lediglich erforderlich, daß der
Rotor im Bereich dieser Fläche in den Strahlengang gelangt,
d.h. es muß nicht der gesamte Rotationskörper in den Strahlengang
gebracht werden, wie das jedoch bei den Meßverfahren nach der DE-PS 27 18 807 und der DE-OS 28 18 789 der Fall
ist, weil dort die Abmessungen des ruhenden Objekts gemessen
werden sollen. Auf diese Weise ist es bei der Erfindung möglich, Änderung der Oberfläche auch an mit Rauhigkeiten und
Profilierungen versehenen umlaufenden Rotationskörpern zu
me ssen.
Das parallele Strahlenbündel wird bevorzugt zur Erzielung
einer verbesserten Meßwirkung senkrecht zur Rotorachse ausgerichtet.
Ferner wird bevorzugt die Abschattung innerhalb einer begrenzten
Abtastspurbreite gemessen.
Um bei relativ geringen Strahlungsleistungen von Fremdlicht
unbeeinflußt messen zu können, wird die Lichtquelle des Senders bevorzugt mit Stromimpulsen angesteuert oder mit
einem mit einer bestimmten Frequenz modulierten Wechselstrom. Die empfangene abgeschattete Strahlung wird dann
selektiv hinsichtlich der Frequenz der ausgesendeten Strahlung ausgewertet.
Bei der Auswertung der auf den Empfänger auffallenden abgeschatteten
Strahlung spielen die Temperatur der verwendeten Bauteile bei der Auswertung, insbesondere Halb 1eiterbautei1e
sowie die Alterung der Strahlungsquelle im Sender eine Rolle.
Unter Verwendung der bei den bekannten Verfahren und Vorrichtungen vorhandenen Regelung der Sendeleistung der Strahlungsquelle
über einen Referenzkreis wurden Ungenauigkeiten
auftreten. Demgegenüber wird bevorzugt die Sendeleistung der
im Sender vorgesehenen Strahlungsquelle in den Pausen zwischen
aufeinanderfolgenden Messungen mittels eines vom Empfänger
abgegebenen Stroms so geregelt, daß dieser Strom konstant bleibt. Diese Regelung der Sendeleistung der Strahlungsquelle
kann während der eigentlichen Messung, d.h., wenn der Rotationskörper im Strahlengang des parallelen Strahlenbündels
sich befindet, abgeschaltet sein. Auf diese Weise wird
erreicht, daß temperatur- oder alterungsbedingte Driften von
■Bauteilen, insbesondere HaIbI eiterbautei1 en im Empfänger und
in der Auswerteelektronik sowie Verschmutzung der Optiken von
Sender und Empfänger zu keinem Meßfehler führen.
Um Fremdkörper partike1, die bei der Drehung des Rotationskörpers
in den ausgesendeten Strahlengang gelangen können, zu entfernen, ist es von Vorteil, quer zum ausgesendeten
Strahlengang einen Luftstrom vorzusehen, durch den diese Fremdkörper tei1chen, insbesondere Schmutz und Feuchtigkeits-
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teilchen beseitigt werden. Insbesondere bei der Messung an Kraftfahrzeugreifen können Wasser partikel von der Seifung
beim Reifenaufziehen auf die Felgen und Gurrmi par t i ke 1 von der
Vulkanisierung vom sich drehenden Reifen wegfliegen. Durch
diese Fremdkör per tei1e kann die Messung nachteilig beeinflußt
we r d e η .
Es ist auch möglich, zum Schutz der Optik gegenüber derartigen Fremdkörpern eine strahlungsdurchlässige Schutzscheibe
vor der Optik des Senders vorzusehen. Es ist dann von
ο Vorteil den Luftstrahl in einem Winkel von > O , insbeson-
o
dere etwa 2O gegen diese Schutzscheibe zu richten.
dere etwa 2O gegen diese Schutzscheibe zu richten.
Der Luftstrahl läßt sich so anordnen und dosieren, daß der zu
untersuchende Rotationskörper nicht zu Schwingungen angeregt
wird. Durch den Luftstrahl kann die Schutzscheibe gleichzeitig
gereinigt werden.
Anhand der beiliegenden Figuren wird die Erfindung noch näher erläutert. Es zeigt.
Fig. 1 eine schematische Darstellung eines Ausführungsbeispiels unter Verwendung einer Lichtquelle für
den Sender, die ein stark divergierendes Strahlenbündel
aussendet, welches dann durch die Optik des
Senders parallel gerichtet wird;
Fig. 2 ein Ausführungsbeispiel, bei dem die Lichtquelle
als Laser ausgebildet wird, deren Laserstrahl zunächst divergiert und dann parallel gerichtet
wi rd;
Fig. 3 ein Ausführungsbeispiel, bei dem die Lichtquelle
ein Laser ist, dessen Laserstrahl durch eine Parallelablenkeinrichtung
in der Meßebene des Empfängers parallel abgelenkt wird;
Fig. 4 in Draufsicht ein Ausführungsbeispiel, bei dem ein
Luftstrom quer zu dem vom Sender ausgesendeten Strahlenbündel in dieses Strahlenbündel gerichtet
ist;
Fig. 5 eine Seitenansicht der in der Fig. h
dargeste 111 ten Anordnung;
Fig. 6 ein weiteres Ausführungsbeispiel., bei dem ein
Luftstrom in das vom Sender ausgesendete Strahlenbündel gerichtet ist in Draufsicht und
Fig. 7 eine Seitenansicht der in der Fig. 6' dargestell-
ten Anordnung.
Bei dem in der Fig. 1 dargestellten Ausführungsbej spiel ist
ein Sender 1 vorgesehen mit einer Strahlungsquelle la, die
eine kleine Abstrah 1f1äche aufweist. Die Strahlungsquelle,
welche beispielsweise als Infrarot1umi neszenzdiode ausgebildet
sein kann, sendet eine stark divergierende Strahlung
aus. Die Strahlungsquelle la ist im Brennpunkt einer Linse Ib
angeordnet, deren Brennweite etwa 100 bis 500 mal größer ist als der Durchmesser der Abstrah1fJäche der Strahlungsquelle
la. Die aus der Linse Ib austretende Strahlungsleistung ist
hinreichend für die Messung. Das die Linse Ib verlassende Strahlenbündel 3 besitzt gute Parallelität. In den Strahlengang
des parallelen Strahlenbündels 3 ist ein hinsichtlich
Rund 1 aufabweichungen zu untersuchender Rotationskörper h angeordnet.
Die Achse dieses Rotationskörpers 4 verläuft senkrecht
zu der Strahlungsrichtung des parallelen Strahlenbündels
3. Das parallele Strahlenbündel 3 ist tangential auf die
hinsichtlich des Rund 1 aufverha 1 tens zu untersuchende Oberfläche
des Rotationskörpers 4 gerichtet. Beim dargestellten
Ausführungsbeispiel handelt es sich um die Umfangsf1äche des
Rotationskörpers 4, der z.B. ein Kraftfahrzeugreifen sein
kann, der auf seiner Lauffläche ein Profil aufweist.
In einem Abstand, beispielsweise von etwa 1 m vom Sender 1
befindet sich ein Empfänger 2, auf den das durch den Rotationskörper
4 teilweise abgeschattete Strahlenbündel auftrifft. Der Empfänger besitzt eine Blende 2c zur Begrenzung
des eintretenden Strahlenbündels 3, wobei die Breite der
rechteckigen Blende 2c auf die gewünschte Abtast spurbreite
eingestellt werden kann. Ferner besitzt der Empfänger 2 eine Linse bzw. Optik 2b, durch die das durch die Blende 2c eintretende
parallele Strahlenbündel auf einen Detektor, insbesondere
Fotodetektor 2a konvergiert wird.
Der Fotodetektor 2a gibt einen von der auf ihn auftreffenden Lichtmenge abhängigen elektrischen Strom ab.
An den Detektor 2a ist eine Auswerteschaltung 5 angeschlossen.
In dieser Auswerteschaltung werden die Änderungen der
Abschattung, welche durch Rund laufabweichungen bei der
Drehung des Rotationskörper 5 auftreten aus den vom Detektor
2a abgegebenen Stromsignalen ermittelt und in geeigneter
Weise angezeigt.
Um Fremd 1ichteinf1üsse auszuschalten, kann die Strahlungsquelle
la mit Stromimpulsen angesteuert werden, wodurch sie
entsprechende Strah 1 ungsimpu1 se, insbesondere Lichtimpulse
abgibt. Die dem Detektor 2a nachgeschaltete Auswerteschaltung
5 enthält ein Bandfilter, das auf die Frequenz der
Lichtimpulse abgestimmt ist, und somit eine selektive Auswertung
bewirkt. Fremd 1ichteinf1üsse sind daher unterdrückt.
Auf diese Weise lassen sich aus dem vom Detektor 2a abgegebenen
Strom Änderungen der durch den Rotationskörper 4 hervorgerufenen
Abschattung in der Auswerteschaltung 5 einwandfrei
ermitteln. Aus den Schwankungen der Abschattung während der Drehung des Rotationskörpers 4 läßt sich der Höhenschlag
bzw. Rund 1 aufabweichungen des Rotationskörpers k bestimmen.
Der vom Detektor 2a abgegebene Strom ist von der auftreffenden Strahlungsleistung, von der Temperatur, von dem Temperaturverhalten
der verwendeten Bauteile, insbesondere Halbleiterbauteile sowie von der Alterung, insbesondere der Strahlungsquelle
la abhängig. Um diese Einflüsse auszuschalten,
wird in bevorzugter Weise der vom Detektor 2a abgegebene Strom in der Zeit zwischen aufeinanderfolgenden Messungen,
d.h., wenn kein Rotationskörper 4 im Strahlenbündel 3 angeordnet
ist, mit Hilfe des der Strahlungsquelle la zugeführten
Stroms durch die Auswerteschaltung 5 auf einen konstanten
vorgegebenen Wert geregelt. Während der Messung wird diese Regelung abgeschaltet. Auf diese Weise erzielt man das
temperatur- und alterungsbedingte Driften der Bauteile, insbesondere
Halbleiterbautei1e oder auch eine Verschmutzung der
Linsen und Optiken im Sender und Empfänger, die Meßgenauigkeit
nicht beeinträchtigen.
Anstelle einer Infrarotlumineszenzdiode als Strahlungsquelle
la kann als Strahlungsquelle auch ein Laser 6 verwendet
werden, wie das in den Ausführungsbeispielen der Fig. 2 und
dargestellt ist. Beim Ausführungsbeispiel der Fig. 2 wird ein
vom Laser 6 abgegebener Laserstrahl 8 durch eine Teleskopoptik 7 zunächst divergiert und dann in einen Strahl mit
einem gewünschten Durchmesser umgewandelt. Die Auswertung erfolgt in der gleichen Weise wie beim Ausführungsbeispiel
der Fig. 1 mit Hilfe des Empfängers 2 und der Auswerteschaltung 5, die an den Detektor, insbesondere Fotodetektor
2a angeschlossen ist.
Beim Ausführungsbeispiel der Fig. 3 wird der Laserstrahl 8
des Lasers 6 mittels eines Drehspiegels 9, dessen Rotationsachse durch den Brennpunkt einer Zylinderlinse 10 gelegt ist,
abgelenkt. Die Ablenkung erfolgt so, daß der Laserstrahl parallel in der Meßebene, d.h. in einer Ebene senkrecht zur
Rotorachse verschoben wird. Diese Para]1 elverschiebung erfolgt
zumindest während der Dauer der Auswertung bzw. Ermittlung der Abschattungsänderungen.
In den Fig. k und 5 ist ein Ausführungsbeispiel dargestellt,
bei dem in das vom Sende'r 1 ausgesendete Strahlenbündel ein
Luftstrahl 11 gerichtet ist. Der Luftstrahl 11 ist im wesentlichen
senkrecht zur Strahlungsrichtung des vom Sender ausgesendeten
Strahlenbündels gerichtet und wird mit 'Hilfe einer
Düse 14 eingeblasen. In einem Auffangbehälter 13 werden
Fremdkör per tei1e, beispielsweise Schmutz- und Feuchtigkeitsteile
oder im Falle eines Kraft fahrzeugsreifens Wasserpartikel
von der Seifung beim Reifenaufziehen und Gunrnipartikel
von der Vulkanisierung aus dem Strahlengang des Strahlenbündels
3 ausgeblasen und vom Auffangbehälter 13 aufgefangen.
Zusätzlich kann eine strahlungsdurchlässige Schutzscheibe 12
vor der Optik des Senders 1 angeordnet sein um den Sender bzw..dessen Optik vor den vom Rotationskörper wegfliegenden
Teilchen zu schützen. Die Drehrichtung des Rotationskörpers
ist, wie insbesondere aus der Fig. 5 zu ersehen ist, an der
Fläche des Rotationskörpers, auf den das parallele Strahlenbündel
3 gerichtet ist, auf den Sender 1 zu gerichtet.
Wie aus dem Ausführungsbeispiel der Fig. 6 und 7 zu ersehen
ist, kann der Luftstrahl der Düse 14 in einem bestimmten
Winkel in den Strahlengang des Strahlenbündels 3 eingeleitet
werden. Der Winkel ist so bemessen, daß der Luftstrahl in
ο
einem Winkel von 20 auf die Schutzscheibe 12 auftrifft.
einem Winkel von 20 auf die Schutzscheibe 12 auftrifft.
Auf diese Weise wird die Schutzscheibe 12 vor Verschmutzung
geschützt. Wie aus der Fig. 6 zu ersehen ist, wird die
Schutzscheibe 12 in einem Rahmen 15 gehalten. Ferner ist der
Aufίangbehälter 13 vorhanden um die aus dem Strahlenbündel 3
entfernten Partikel aufzufangen- Sollte die Verschmutzung der
Schutzscheibe 13 trotz der Reinigung durch den Luftstrahl
einen bestimmten Wert überschreiten, kann ein Warnsignal
abgegeben werden und die Schutzscheibe, welche insbesondere aus Glas besteht, kann ausgetauscht werden oder entsprechend
gereinigt werden.
Bei den vorstehenden Ausführungsbeispielen ist die Ermittlung
des Höhenschlags eines Rotationskörpers im einzelnen erläutert
worden, jedoch kann das Prinzip der Abschattungsmessung auch bei der Messung des Seitenschlags' eines Rotationskörpers
eingesetzt werden.
Claims (25)
1. J Verfahren zur berührungslosen Ermittlung von Rundlaufabweichungen
eines Rotationskörpers, insbesondere Kraftfahrzeugreifens, bei dem der in Drehung versetzte Rotationskörper
im Hinblick auf Schwankungen des Rundlaufs durch Strahlung abgetastet wird, dadurch gekennzeichnet
, daß ein paralleles Strahlenbündel tangential zur Rotorfläche auf den in den parallelen Strahlengang
gebrachten Rotationskörper gerichtet wird und aus den Schwankungen der Abschattung des parallelen durch den Rotationskörper
abgeschatteten Strahlenbündels die Rundlaufabweichungen des Rotationskörpers ermittelt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch g e kennze
i chnet , daß das parallele Strahlenbündel senkrecht zur Rotationsachse ausgerichtet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Abschattung innerhalb
einer begrenzten Abtastspurbreite gemessen wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die ausgesendete
Strahlung mit einer bestimmten Frequenz gepulst oder
moduliert wird und daß die empfangene abges.chattete Strahlung selektiv hinsichtlich der Frequenz der ausgesendeten
Strahlung ausgewertet wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis Ψ, dadurch gekennzeichnet, daß Infrarotstrahlung
verwendet wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, da durch
gekennzeichnet, daß Strahlung im sichtbaren Wellenlängenbereich verwendet wird.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß Laser.l i cht
verwendet wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß der Laserstrahl zu einem parallelen Strahlenbündel aufgeweitet wird.
9. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch g e kennze ichnet , daß der Laserstrahl f.ür die
Dauer der Ermittlung der Abschattung parallel bewegt wird.
10. Vorrichtung zur berührungs1 ösen Ermittlung von Rundlaufabweichungen
eines Rotationskörpers, insbesondere Kraftfahrzeugreifens,
mit einer Einrichtung zum Drehen des Rotationskörpers und einer Abtasteinrichtung mit einem Sender zum
Aussenden einer auf den Rotationskörper gerichteten Strahlung
und einem Empfänger für die durch den Rotationskörper beeinflußte
Strahlung zur Durchführung eines Verfahrens nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet,
daß der Sender (1) ein paralleles Strahlenbündel (3) aussendet,
daß der Rotationskörper ((f) im Strahlengang dieses
parallelen Strahlenbündels (3) so angeordnet ist, daß das
parallele Strahlenbündel (3) tangential zur Fläche des
Rotationskörpers (4) verläuft, daß der Empfänger (2) das
durch den Rotationskörper (4) abgeschattete parallele Strah-
lenbündel empfängt und daß eine an den Empfänger (2) angeschlossene
Auswerteschaltung (5) Schwankungen der Abschattung
ermittelt und ein entsprechendes Signal erzeugt.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß der Sender (2) eine stark
divergierend strahlende Strahlungsquelle (la) aufweist, deren
2 3 Abs t rah ] ungsf I äche um das IO - bis IO -iache ,kleiner ist,
als die Brennweite der. Optik (Ib), mit der die von der Strahlungsquelle
(la) ausgesendete Strahlung parallel gerichtet wi rd.
12. Vorrichtung nach Anspruch 10 oder 11, · dadurch
gekennzeichnet , daß die Sendeleistung der im
Sender (1) vorgesehenen Strahlungsquelle (la) in den Pausen
zwischen aufeinanderfolgenden Messungen mittels eines vom
Empfänger (2) abgegebenen Stroms so geregelt ist, daß dieser Strom konstant ist.
13. Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Regelung der Sendeleistung
der Strahlungsquelle (la) abgeschaltet ist, wenn der
Rotationskörper Ct) sich im Strahlengang des Strahlenbündels
(3) befindet.
14. . Vorrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlungsquelle
(la) des Senders (1) ein Infrarotstrahler ist.
15. Vorrichtung nach Anspruch 14,, dadurch gekennzeichnet
, daß der Infrarotstrahler eine Infrarotlumineszenzdiode
ist.
16. Vorrichtung nach einem Ansprüche 10 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlungsquelle
(la) als Laser (6) ausgebildet ist.
17. Vorrichtung nach Anspruch 16, dadurch g e k
en nzeichnet , daß der Laserstrahl auf eine Para11 el -Verschiebeeinrichtung (9, 10) gerichtet ist, durch
die der Laserstrahl in der Meßebene parallel verschoben wird.
18. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 17, dadurch gekennzeichnet, daß in den
Strahlengang des auf den Rotationskörper (4) gerichteten
Strahlenbündels (3) quer zu diesem Strahlengang ein Luftstrahl
(11) gerichtet ist.
19. Vorrichtung nach Anspruch IS, dadurch gekennzeichnet,
daß der Luftstrahl (H) in einem
ο
Winkel von α > O auf eine senkrecht·zum Strahlengang des abgeschatteten Strahlenbündels (3) angeordnete strahlungsdurchlässige Schutzscheibe (12) für die Optik (2b, 2c) des Senders (1) gerichtet ist.
Winkel von α > O auf eine senkrecht·zum Strahlengang des abgeschatteten Strahlenbündels (3) angeordnete strahlungsdurchlässige Schutzscheibe (12) für die Optik (2b, 2c) des Senders (1) gerichtet ist.
20. Vorrichtung nach Anspruch 18 oder 19, dadurch
gekennzeichnet , daß der Winkel α zwischen
ο Schutzscheibe (12) und Luftstrahl (11) etwa 2O beträgt.
21. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 18 bis 20, dadurch gekennzeichnet, daß ein Auffangbehälter
(13) für die aus dem abgeschatteten Strahlenbündel
(3) durch den Luftstrahl (11) entfernten Fremdkör per tei1e
(Schmutz, Feuchtigkeit) vorgesehen ist.
22. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 21, dadurch gekennzeichnet, daß die Drehrichtung
der Fläche des Rotationskörpers (Ψ), auf den das
parallele Strahlenbündel (3) gerichtet ist, auf den Sender
(1) ger i chtet ist.
23. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 22, dadurch gekennzeichnet, daß das parallele
Strahlenbündel (3) tangential zu der zu untersuchenden in
den Strahlengang des parallelen Strahlenbündels (3) gebrachten
Oberfläche des Rotationskörpers (4) gerichtet wird.
2k. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 22, dadurch gekennzeichnet, daß das parallele
Strahlenbündel (3) auf die Umfangsf1Mche des Rotationskörpers
(4) ger i chtet ist.
25. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 22, dadurch gekennzeichnet, daß das parallele
Strahlenbündel (3) auf die Seitenflächen des Rotationskörpers
(4) gerichtet ist.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19833334976 DE3334976A1 (de) | 1983-09-27 | 1983-09-27 | Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen ermittlung von rundlaufabweichungen eines rotationskoerpers |
US06/654,494 US4676648A (en) | 1983-09-27 | 1984-09-26 | Method and apparatus for non-contact determination of run-out of a rotating body |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19833334976 DE3334976A1 (de) | 1983-09-27 | 1983-09-27 | Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen ermittlung von rundlaufabweichungen eines rotationskoerpers |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3334976A1 true DE3334976A1 (de) | 1985-04-18 |
DE3334976C2 DE3334976C2 (de) | 1989-10-26 |
Family
ID=6210202
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19833334976 Granted DE3334976A1 (de) | 1983-09-27 | 1983-09-27 | Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen ermittlung von rundlaufabweichungen eines rotationskoerpers |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4676648A (de) |
DE (1) | DE3334976A1 (de) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4650334A (en) * | 1985-10-18 | 1987-03-17 | Caterpillar Inc. | Optical straightness gauge and method |
EP0255552A1 (de) * | 1986-08-06 | 1988-02-10 | Carl Schenck Ag | Verfahren und Anordnung zur berührungslosen Messung von Längenänderungen an Bauteilen |
DE3841834A1 (de) * | 1988-12-13 | 1990-06-21 | Dieter Boehmer | Verfahrenstechnisches messsystem |
FR2687342A1 (fr) * | 1992-02-19 | 1993-08-20 | Lorraine Laminage | Procede et dispositif de controle de l'etat de surface d'un cylindre de lamininoir. |
AU640879B2 (en) * | 1991-11-15 | 1993-09-02 | Telecom Italia S.P.A. | Method of and apparatus for measuring the geometric characteristics of nominally cylindrical guiding structures |
EP0562932A1 (de) * | 1992-03-26 | 1993-09-29 | Framatome Connectors International | Vorrichtung zum Messen mindestens einer Abmessung einer Probe |
AT268U1 (de) * | 1990-11-22 | 1995-06-26 | Oesterr Forsch Seibersdorf | Einrichtung zur feststellung des konturenverlaufes |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4907035A (en) * | 1984-03-30 | 1990-03-06 | The Perkin-Elmer Corporation | Universal edged-based wafer alignment apparatus |
US4966460A (en) * | 1987-10-28 | 1990-10-30 | The Ingersoll Milling Machine Company | Laser gauging of rotary cutting tools |
US4863275A (en) * | 1988-04-20 | 1989-09-05 | Ball Corporation | Portable, shock-proof container surface profiling instrumentation |
US4872757A (en) * | 1988-04-20 | 1989-10-10 | Ball Corporation | Optical convex surface profiling and gauging apparatus and method therefor |
US4906098A (en) * | 1988-05-09 | 1990-03-06 | Glass Technology Development Corporation | Optical profile measuring apparatus |
JPH04241281A (ja) * | 1991-01-10 | 1992-08-28 | Fuji Photo Film Co Ltd | 磁気ディスクカートリッジの検査方法 |
US5113591A (en) * | 1991-03-20 | 1992-05-19 | Crucible Materials Corporation | Device for measuring out-of-roundness |
DE4224253C1 (de) * | 1992-07-22 | 1994-03-03 | Kaspar Walter Maschf Kg | Verfahren und Einrichtung zum automatischen Bestimmen der Abmessungen von Druckzylindern |
US5383021A (en) * | 1993-04-19 | 1995-01-17 | Mectron Engineering Company | Optical part inspection system |
DE4436200A1 (de) * | 1994-10-11 | 1996-04-18 | Patrick Schulz | Verfahren und Vorrichtung zur Beseitigung von Höhenunterschieden an Laufflächenbeschichtungen |
DE19757067C2 (de) * | 1997-12-20 | 2002-03-07 | Sikora Industrieelektronik | Verfahren zur Messung des Durchmessers eines Stranges |
GB0317961D0 (en) * | 2003-08-01 | 2003-09-03 | Renishaw Plc | Measuring device and method |
US20140340511A1 (en) * | 2013-05-14 | 2014-11-20 | Android Industries Llc | Uniformity Testing System and Methodology for Utilizing the Same |
CN106403822A (zh) * | 2016-06-27 | 2017-02-15 | 西南科技大学 | 一种利用激光监测土木工程室内模型位移的装置 |
CN108413890B (zh) * | 2017-12-25 | 2021-02-09 | 重庆近江智信零部件有限公司 | 一种多功能汽车排气管检测装置 |
US11409022B2 (en) | 2019-10-30 | 2022-08-09 | General Electric Company | System and method for optical measurements in a rotary machine |
US11400527B2 (en) | 2019-10-30 | 2022-08-02 | General Electric Company | System and method for machining a slot in an inner surface of a casing for a gas turbine engine |
US11060847B2 (en) * | 2019-10-30 | 2021-07-13 | General Electric Company | System and method for optical measurements in a rotary machine |
US11635750B2 (en) | 2019-10-30 | 2023-04-25 | General Electric Company | System and method for removably inserting a sensor assembly into a compressor casing |
CN111256613B (zh) * | 2020-02-25 | 2021-10-08 | 厦门市省力机械有限公司 | 一种圆度测试仪和圆度测试方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE854587C (de) * | 1938-07-17 | 1952-11-06 | Siemens Ag | Lichtelektrisches Pruefungsverfahren oder lichtelektrische Steuer-einrichtung zur Festlegung der Schlagfreiheit von Rotationskoerpern |
DE1219244B (de) * | 1955-02-22 | 1966-06-16 | Dr Techn Ing Walter Hesse | Einrichtung zur UEberpruefung des Umrisses von grossen Werkstuecken, wie z. B. von bei Eisenbahnfahrzeugen ueblichen Radsaetzen |
DE2818060A1 (de) * | 1977-04-25 | 1978-11-02 | Sopelem | Verfahren und vorrichtung zur optischen mass-pruefung |
DE2854057A1 (de) * | 1977-12-16 | 1979-06-28 | Canon Kk | Ebenheits-messeinrichtung |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3398023A (en) * | 1964-01-21 | 1968-08-20 | Detrex Chem Ind | Sight glass cleaning |
US3604940A (en) * | 1969-08-04 | 1971-09-14 | Laser Systems Corp | Radiant energy inspection system for rotating objects |
US3826576A (en) * | 1972-12-20 | 1974-07-30 | Goodyear Aerospace Corp | Laser measuring or monitoring system |
US4021119A (en) * | 1975-06-24 | 1977-05-03 | Honeywell Inc. | Position gauge |
CH611017A5 (de) * | 1976-05-05 | 1979-05-15 | Zumbach Electronic Ag | |
DE2818789A1 (de) * | 1978-04-28 | 1979-11-08 | Wolfgang Dipl Phys Dr I Schulz | Dickenmessgeraet |
-
1983
- 1983-09-27 DE DE19833334976 patent/DE3334976A1/de active Granted
-
1984
- 1984-09-26 US US06/654,494 patent/US4676648A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE854587C (de) * | 1938-07-17 | 1952-11-06 | Siemens Ag | Lichtelektrisches Pruefungsverfahren oder lichtelektrische Steuer-einrichtung zur Festlegung der Schlagfreiheit von Rotationskoerpern |
DE1219244B (de) * | 1955-02-22 | 1966-06-16 | Dr Techn Ing Walter Hesse | Einrichtung zur UEberpruefung des Umrisses von grossen Werkstuecken, wie z. B. von bei Eisenbahnfahrzeugen ueblichen Radsaetzen |
DE2818060A1 (de) * | 1977-04-25 | 1978-11-02 | Sopelem | Verfahren und vorrichtung zur optischen mass-pruefung |
DE2854057A1 (de) * | 1977-12-16 | 1979-06-28 | Canon Kk | Ebenheits-messeinrichtung |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4650334A (en) * | 1985-10-18 | 1987-03-17 | Caterpillar Inc. | Optical straightness gauge and method |
EP0255552A1 (de) * | 1986-08-06 | 1988-02-10 | Carl Schenck Ag | Verfahren und Anordnung zur berührungslosen Messung von Längenänderungen an Bauteilen |
DE3841834A1 (de) * | 1988-12-13 | 1990-06-21 | Dieter Boehmer | Verfahrenstechnisches messsystem |
DE3844825C2 (de) * | 1988-12-13 | 1996-06-05 | Rheinmetall Ind Gmbh | Meßeinrichtung zum Überprüfen von Gewindetoleranzen von Treibkäfigen |
AT268U1 (de) * | 1990-11-22 | 1995-06-26 | Oesterr Forsch Seibersdorf | Einrichtung zur feststellung des konturenverlaufes |
AU640879B2 (en) * | 1991-11-15 | 1993-09-02 | Telecom Italia S.P.A. | Method of and apparatus for measuring the geometric characteristics of nominally cylindrical guiding structures |
FR2687342A1 (fr) * | 1992-02-19 | 1993-08-20 | Lorraine Laminage | Procede et dispositif de controle de l'etat de surface d'un cylindre de lamininoir. |
EP0562932A1 (de) * | 1992-03-26 | 1993-09-29 | Framatome Connectors International | Vorrichtung zum Messen mindestens einer Abmessung einer Probe |
FR2689229A1 (fr) * | 1992-03-26 | 1993-10-01 | Souriau & Cie | Dispositif de mesure d'au moins une dimension d'un échantillon. |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3334976C2 (de) | 1989-10-26 |
US4676648A (en) | 1987-06-30 |
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