DE3045319C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung geht aus von einer Vorrichtung zum Messen
bestimmter ausgewählter Eigenschaften einer bewegten
Bahn mit einem Gehäuse auf der einen Seite der bewegten
Bahn, in dem sich eine Strahlungsquelle zur Erzeugung einer elek
tromagnetischen Strahlung, die so gewählt ist, daß sie
durch die ausgewählten Eigenschaften der bewegten Bahn
beeinflußt wird sowie eine Sammeleinrichtung zur Auf
nahme der von den ausgewählten Eigenschaften der beweg
ten Bahn beeinflußten, rückgestreuten Strahlung befin
det, einer ersten Haltevorrichtung zur Einstellung eines
konstanten Abstandes des Gehäuses von der Bahn, einem
Detektor im Lichtweg nach der Sammeleinrichtung zur Er
zeugung eines Meßsignals, einer Kalibriereinrichtung mit einem
Kalibrierstandard auf der anderen Seite der bewegten Bahn,
gegenüber dem Gehäuse, einer zweiten Haltevorrichtung
zur Einstellung eines konstanten Abstandes der Kalibrierein
richtung von der bewegten Bahn, und mit Mitteln zur ge
meinsamen Bewegung des Gehäuses und der Kalibriereinrichtung
quer zur bewegten Bahn, wie sie aus der DE-OS 23 43 869 be
kannt ist.
Wie in der US-PS 36 41 349 beschrieben, kann eine Eigen
schaft eines band- oder bahnförmigen Materials, wie es
beispielsweise in einer Papiermaschine hergestellt werden
kann, durch Anbringung von Sensoren oder Meßwertfühlern
und Detektoren auf einem Schlitten gemessen werden. Der
Schlitten bewegt sich in Querrichtung, während das bahn
förmige Material sich in Arbeitsrichtung der Maschine
bewegt, also senkrecht zur Querrichtung. Meßfühler oder
Sensoren zum Messen ausgewählter Eigenschaften wie z. B.
der Farbe, der Helligkeit oder des Glanzes einer beweg
ten Bahn sind bekannt. Ein derartiger Sensor kann beim
Schwingen oder Flattern der Bahn keine genaue Messung
gewährleisten. Diese Beschränkungen führen zu zwei Pro
blemen: Erstens, der Sensor ist nicht in der Lage, eine
genaue Messung quer über die Breite der Bahn zu liefern;
zweitens, der Sensor ist, da er Flatterbewegungen der
Bahn nicht ausgleichend zu berücksichtigen vermag, be
stimmten Beschränkungen seiner Anwendbarkeit unterworfen.
Daher ist der bekannte Sensor oder Meßwertfühler verhält
nismäßig ungenau und auch nicht allgemein anwendbar.
Auch ist bereits bekannt, der Oberfläche einer zu mes
senden Bahn Prüflicht über eine Faseroptik zuzuführen
(US-PS 34 55 637).
Bei einer Vorrichtung zur Prüfung von Druckmaschinen zu
geführten Papierbahnen im Hinblick auf Papierbruch ist
bereits vorgeschlagen worden, die die Prüfelemente bein
haltenden Gehäuse zur Reinhaltung der entsprechenden
Lichtquelle und des Detektors von Staub oder Abrieb mit
Frischluft zu durchspülen und die Spülluft im Bahnober
flächenbereich abzublasen (US-PS 19 78 589).
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung eine Vorrich
tung der eingangs genannten Art so zu schaffen, daß
durch genaue Einhaltung der Abstände Gehäuse-Bahn und
Bahn-Standardisierungsglied d. h. Kalibrierstandard und durch Vermeidung jeder
Flatterbewegung eine weit höhere Genauigkeit und damit
ein erheblich erweiterter Anwendungsbereich erreicht
wird.
Diese Aufgabe wird durch die im Patentanspruch 1 gekenn
zeichneten Merkmale gelöst.
Die Vorteile dieser Vorrichtung sind folgende:
Jeder der beiden Teile der Vorrichtung, nämlich sowohl das Gehäuse als auch das Standardisierungsglied wird in einem konstanten Abstand von der Bahn gehalten, so daß das Ge rät unempfindlich gegen Schwankungen oder Flattern der Bahn ist, d. h. gegen die unvorhersehbare Bewegung der Bahn in einer Richtung mit einer Komponente senkrecht zu ihrer Fläche. Hierdurch, d. h. durch die größere Genauig keit, bietet die Vorrichtung bedeutend mehr Anwendungs möglichkeiten als die bereits bekannte.
Jeder der beiden Teile der Vorrichtung, nämlich sowohl das Gehäuse als auch das Standardisierungsglied wird in einem konstanten Abstand von der Bahn gehalten, so daß das Ge rät unempfindlich gegen Schwankungen oder Flattern der Bahn ist, d. h. gegen die unvorhersehbare Bewegung der Bahn in einer Richtung mit einer Komponente senkrecht zu ihrer Fläche. Hierdurch, d. h. durch die größere Genauig keit, bietet die Vorrichtung bedeutend mehr Anwendungs möglichkeiten als die bereits bekannte.
Vorteilhafte Möglichkeiten zur Weiterbildung dieser Er
findung sind in den nachgeordneten Ansprüchen 2 bis 4
gekennzeichnet.
Im folgenden ist die Erfindung anhand eines Ausfüh
rungsbeispiels näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 eine perspektivische Darstellung wesent
licher Teile eines Ausführungsbeispiels einer Vorrichtung
zum Messen ausgewählter Eigenschaften einer
sich bewegenden Bahn, und
Fig. 2 eine schematische Darstellung eines Teils
der Vorrichtung von Fig. 1 im Schnitt.
Fig. 1 zeigt eine Abtastvorrichtung 10 mit einem Ge
stell 11, das einen oberen und parallel dazu einen
unteren Balken 12 bzw. 13 trägt, die sich seitlich
über die bewegte Bahn 14 erstrecken, die
beispielsweise von einer Papiermaschine (nicht dar
gestellt) erzeugt wird. Die Bahn 14 läuft in der durch
den Pfeil 16 angedeuteten Richtung durch die Abtast
vorrichtung 10. Ein oberer Meßkopf 17 und ein unterer
Meßkopf 18 sind an dem Gestell 11 vorgesehen und so
angeordnet, daß sie in Längsrichtung des Gestells 11
und in Querrichtung zu der Bahn 14 laufen können.
Die Bahn 14 läuft durch einen Spalt 19 zwischen den
Meßköpfen 17 und 18. Der Laufweg für die Meßköpfe 17,
18 ist so ausgebildet, daß diese bei jeder Laufbewe
gung aus dem Bereich der Bahn seitlich wegbewegt
werden können.
In Fig. 2 ist die Vorrichtung 20 veranschaulicht. In
dem oberen Meßkopf 17 ist auf der einen Seite der Bahn
ein Gehäuse 22 vorgesehen. Dieses besteht aus einem
ersten Dom 24 und einem zweiten Dom 26,
welche beide eine halbkugelförmige Gestalt haben, und
einem ringförmigen Glied 28, das im wesentlichen flach
liegend angeordnet ist. Das Innere des ersten Domes 24
kann eine reflektierende, streuende oder verspie
gelte Oberfläche aufweisen. Der zweite Dom 26 ist ein
Fenster. Beide Dome 24 und 26 liegen konzentrisch zu
einander und sind durch das ringförmige Glied 28 ver
bunden. Das Gehäuse 22 ist so angeordnet, daß das ring
förmige Glied 28 nahezu parallel zu der Bahn 14 ver
läuft und sich zu dieser in geringerem Abstand befin
det als der erste Dom 24 oder der zweite Dom 26.
Eine Strahlungsquelle 30 in dem Gehäuse 22 dient zur
Aussendung eines Strahls elektromagnetischer Strah
lung 32. Zur Messung der Farbe oder der Helligkeit
wird eine ringförmige, pulsierend betriebene Xenon
röhre verwendet. Die Strahlung 32 aus der Strahlungs
quelle 30 ist so gerichtet, daß sie den zweiten Dom 26
durchsetzt und auf die Bahn 14 auftrifft. Sie ist als
gestrichelte Linie dargestellt. Das Licht aus der
Strahlungsquelle 30, das nicht auf direktem Wege auf
die Bahn 14 auftrifft, wird von dem ersten Dom 24
auf die Bahn 14 reflektiert. Die Strahlung aus der
Strahlungsquelle 30 kann durch die Bahn 14 absorbiert
und reflektiert werden. Ein Teil der von der Bahn 14
reflektierten Strahlung, nämlich die reflektierte
Strahlung 34, wird von einem Kollektor gesammelt, der
aus einer Linse 36 und einer Faseroptik 38 besteht.
Die reflektierte Strahlung 34 folgt einem als strich
punktierte Linie gezeichneten Weg. Die Linse 36 fo
kussiert die reflektierte Strahlung 34 auf das eine
Ende der Faseroptik 38 in dem Gehäuse 22. Die Lin
se 36 ist in oder nahe an dem zweiten Dom 26 ange
ordnet. Die Faseroptik 38 wird von dem Gehäuse 22
weggeleitet. Am anderen Ende der Faseroptik 38 wird
die reflektierte Strahlung 34 so gerichtet, daß sie auf
ein Gitter 40 auftrifft und von da auf einen Detek
tor 42 reflektiert wird. Das Gitter 40 wird bei der
Messung der Farbe der Bahn 14 benutzt, derart, daß das
Farbspektrum der reflektierten Strahlung 34 aufgespalten
wird und auf den Detektor 42 fällt. Der Detektor 42
kann eine Diodengruppe sein.
In dem ersten Dom 24 befindet sich ein Lufteinlaß 44.
Der Lufteinlaß 44 erlaubt den Eintritt von Luft in das
Gehäuse 22. Mehrere Luftauslässe 46 sind in dem ring
förmigen Glied 28 angeordnet. Die Luftauslässe 46 ge
statten der Luft das Austreten aus dem Gehäuse 22
unter konstantem Druck und das Auftreffen auf die
Bahn 14 einer im wesentlichen zu dieser senkrechten
Richtung.
Auf der anderen Seite der Bahn befindet sich eine
Kalibriereinrichtung 50. Die Kalibriereinrichtung 50 ist im
wesentlichen flach und verläuft parallel zu der
Bahn 14. Die Kalibriereinrichtung 50 hat eine Fläche 52,
die der Bahn 14 gegenübersteht, welche eine bekannte
Reflexionscharakteristik für die einfallende Strahlung 32
besitzt. Während der Kalibrierung,
d. h. wenn die Bahn 14 sich nicht zwischen dem oberen
und unteren Meßkopf 17 bzw. 18 befindet und die Meß
köpfe 17 und 18 nach der einen Seite des Gestells 11
hingeführt sind, wird die Strahlung 32 so gerichtet, daß
sie auf die Fläche 52 der Kalibriereinrichtung 50 auftrifft.
Die von der Fläche 52 reflektierte Strahlung 34 dient
zum Vergleich mit einem bekannten Standard. Dieser Ver
gleich bezweckt die Korrektur von Störeinflüssen wie
elektronischer Drift, Lampenalterung und Schmutz auf
der Linse 36. Die Luftauslässe 54 in der Kalibriereinrich
tung 50 erlauben das Auftreffen von Luft auf die Bahn 14
in einer zu dieser im wesentlichen senkrechten Richtung.
Die Luftauslässe 54 sind im wesentlichen fluchtend ausgerich
tet zu den Luftauslässen 46 des Gehäuses 22.
Beim Betrieb der Vorrichtung wird Luft unter Druck
durch den Lufteinlaß 44 in das Gehäuse 22 eingeführt.
Die Luft tritt unter konstantem Druck aus dem Ge
häuse 22 durch die Luftauslässe 46 aus. Die Luft ist so
gerichtet, daß sie auf die Bahn 14 im wesentlichen
senkrecht zu dieser auftrifft. Bei konstantem Druck
hält die Luft das Gehäuse 22 in einem konstanten Ab
stand von der Bahn 14. In gleicher Weise strömt Luft
unter konstantem Druck aus der Kalibriereinrichtung 50 so
aus, daß sie auf die Bahn 14 in einer im wesentlichen
senkrechten Richtung zu dieser auftrifft und fluchtend
mit den Luftauslässen 46 des ersten Gehäuses 22 ausgerich
tet ist. Durch das Auftreffen von Luft auf die Bahn 14
wird die Kalibriereinrichtung 50 in einem konstanten Ab
stand von der Bahn 14 gehalten. Während des Betriebes
der Vorrichtung 20 emittiert die Strahlungsquelle 30 eine
Strahlung 32 gegen die Bahn 14. Die reflektierte Strahlung 34
wird durch die Linse 36 gesammelt und auf das eine Ende
der Faseroptik 38 fokussiert. Das andere Ende der Faser
optik 38 leitet die reflektierte Strahlung 34 zum
Detektor 42. Verschiedene Eigenschaften der Bahn wie
Farbe oder Helligkeit können durch richtige Wahl der
Spektralfrequenz aus der Strahlungsquelle 30 und die
Spektralansprechcharakteristik des Detektors 42 analy
siert werden.
Während der Kalibrierung wird die Vor
richtung 20 von der Bahn wegbewegt, d. h. die Bahn 14
wird weggenommen. Da die Luft aus dem Gehäuse 22 nun
nicht mehr auf die Bahn 14 auftrifft, um das Gehäuse 22
von der Bahn "abzuheben", und da die Luft aus der Kalibrier
einrichtung 50 nicht mehr auf die Bahn 14 auftrifft,
bewegen sich das Gehäuse 22 und die Kalibriereinrichtung 50
dichter aufeinander zu, bis ihr gegenseitiger Abstand
im wesentlichen der gleiche ist wie der Abstand zwischen
dem Gehäuse 22 und der Bahn 14. Kurz gesagt, die Kalibrier
einrichtung 50 bewegt sich relativ zu dem Gehäuse 22
in die Stellung, die vorher von der Bahn 14 eingenommen
wurde.
Im allgemeinen kann das Gehäuse 22 jede geometrische
Gestalt haben. Da die Luft auf die Bahn 14 auftreffen
und das Gehäuse 22 "anheben" soll, ist die aufzuwen
dende Luftmenge umso kleiner, je leichter das Gehäuse 22
ist. Der Vorteil der Sammeleinrichtung bestehend aus der Lin
se 36 und der Faseroptik 38 zum Erfassen der Strahlung 34
und ihrer Hinleitung zu dem Detektor 42 außerhalb des
Gehäuses 22, besteht darin, das Gewicht des Gehäuses 22
zu verkleinern. Das Gehäuse 22 bezweckt nur das Halten
der Strahlungsquelle 30 und der Sammeleinrichtung. Die Strah
lungsquelle 30 und die Linse 36 sowie die Faseroptik 38
können jede beliebige geometrische Gestalt haben. Zur
weiteren Verringerung des Gewichts des Gehäuses 22 kann
die Strahlungsquelle 30 auch außerhalb des Gehäuses 22
angeordnet werden und Faseroptiken können dazu dienen,
das Licht zu dem Gehäuse 22 zu führen und es auf die
Bahn 14 auftreffen zu lassen. Die Strahlungsquelle 30
kann jede Art elektromagnetischer Strahlung einschließ
lich Infrarot und Ultraviolett hervorbringen. Zur Mes
sung von Farbe wird eine D65-Strahlungsquelle (Tages
licht am nördlichen Himmel) verwendet. (D65 ist eine
durch die CIE - Commission Internationale de l'Eclairage -
festgesetzte Norm.)
Claims (4)
1. Vorrichtung zum Messen bestimmter ausgewählter Ei
genschaften einer bewegten Bahn mit einem Gehäuse
auf der einen Seite der bewegten Bahn, in dem sich
eine Strahlungsquelle zur Erzeugung einer elektromagnetischen
Strahlung, die so gewählt ist, daß sie durch die
ausgewählten Eigenschaften der bewegten Bahn beein
flußt wird sowie eine Sammeleinrichtung zur Aufnahme
der von den ausgewählten Eigenschaften der bewegten
Bahn beeinflußten, rückgestreuten Strahlung befin
det, einer ersten Haltevorrichtung zur Einstellung
eines konstanten Abstandes des Gehäuses von der Bahn,
einem Detektor im Lichtweg nach der Sammeleinrich
tung zur Erzeugung eines Meßsignals, einer Kalibrierein
richtung mit einem Kalibrierstandard auf der anderen
Seite der bewegten Bahn, gegenüber dem Gehäuse,
einer zweiten Haltevorrichtung zur Einstellung ei
nes konstanten Abstandes der Kalibriereinrichtung von
der bewegten Bahn, und mit Mitteln zur gemeinsamen
Bewegung des Gehäuses und der Kalibriereinrichtung quer
zur bewegten Bahn,
dadurch gekennzeichnet,
daß zur Einstellung des konstanten Abstandes des Ge
häuses (22) von der bewegten Bahn (14) Mittel zur Er
zeugung einer Strömung eines Mediums aus dem Gehäu
se (22) vorgesehen sind, derart, daß die Strömung auf
die bewegte Bahn (14) im wesentlichen senkrecht auftritt,
und daß zur Einstellung des konstanten Abstandes der
Kalibriereinrichtung (50) von der bewegten Bahn (14) Mit
tel zur Erzeugung einer Strömung eines Mediums aus
der Kalibriereinrichtung (50) vorgesehen sind, derart, daß
die Strömung auf die bewegte Bahn (14) im wesentlichen senk
recht und mit der Strömung aus dem Gehäuse (22) fluch
tend auftrifft.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Sammeleinrichtung eine Linse (36) und eine Faserop
tik (38) aufweist und die Linse (36) so angeordnet
ist, daß sie einen Teil der von der Bahn (14) re
flektierten Strahlung auf das eine Ende der Faser
optik (38) fokussiert, und daß das andere Ende der
Faseroptik auf den Detektor (42) gerichtet ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Strahlung der Strahlungsquelle (30) im sicht
baren Bereich des elektromagnetischen Spektrums
liegt.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Strahlungsquelle (30) eine ringförmige,
pulsierend betriebene Xenonröhre ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/100,416 US4277177A (en) | 1979-12-05 | 1979-12-05 | Apparatus to measure select properties of a moving sheet |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3045319A1 DE3045319A1 (de) | 1981-09-17 |
DE3045319C2 true DE3045319C2 (de) | 1990-07-12 |
Family
ID=22279656
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19803045319 Granted DE3045319A1 (de) | 1979-12-05 | 1980-12-02 | Vorrichtung zum messen bestimmter ausgewaehlter eigenschaften einer bewegten bahn |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4277177A (de) |
JP (1) | JPS56103357A (de) |
CA (1) | CA1139962A (de) |
DE (1) | DE3045319A1 (de) |
FI (1) | FI73082C (de) |
GB (1) | GB2066452B (de) |
SE (1) | SE450422B (de) |
Families Citing this family (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4422766A (en) * | 1981-07-27 | 1983-12-27 | Ppg Industries, Inc. | Method of and device for reducing apparatus response time during the testing for moisture content in moving spaced plastic sheets |
US4528507A (en) * | 1981-10-26 | 1985-07-09 | Accuray Corporation | Sheet measuring apparatus with two structurally isolated non-contacting surface follower bodies and wireless signal transmission |
US4660984A (en) * | 1984-09-04 | 1987-04-28 | Eastman Kodak Company | Reflectometer featuring an integrated cavity of enhanced efficiency |
KR940004652B1 (ko) * | 1984-11-06 | 1994-05-27 | 매슈렉스 코포레이숀 | 재질의 색상을 측정하는 장치 |
GB2175390A (en) * | 1985-05-14 | 1986-11-26 | Coal Ind | Probe for sensing outlines |
DE3701721A1 (de) * | 1987-01-22 | 1988-08-04 | Zeiss Carl Fa | Remissionsmessgeraet zur beruehrungslosen messung |
US4830504A (en) * | 1987-06-24 | 1989-05-16 | Measurex Corporation | Gloss gauge |
DK163837C (da) * | 1987-11-10 | 1994-09-05 | Neltec As | Apparat til farvekontrol af genstande |
US4824248A (en) * | 1987-12-21 | 1989-04-25 | Environmental Research Institute Of Michigan | Stabilized sensor device |
DE3806382A1 (de) * | 1988-02-29 | 1989-09-07 | Feldmuehle Ag | Verfahren und vorrichtung zum pruefen von laufenden transparenten bahnen |
JPH0314408U (de) * | 1989-06-27 | 1991-02-14 | ||
US5113081A (en) * | 1990-12-27 | 1992-05-12 | Eastman Kodak Company | Web inspection system and method with exposure, detection and sampling means |
US5338361A (en) * | 1991-11-04 | 1994-08-16 | Measurex Corporation | Multiple coat measurement and control apparatus and method |
US5276327A (en) * | 1991-12-09 | 1994-01-04 | Measurex Corporation | Sensor and method for mesaurement of select components of a material |
US5274243A (en) * | 1992-05-29 | 1993-12-28 | Eastman Kodak Company | Cylindrical allumination system for inspection of sheet material |
EP0677739B1 (de) * | 1994-04-14 | 1998-08-19 | Honeywell Ag | Vorrichtung zur Messwerterfassung |
WO1996035112A1 (en) * | 1995-05-05 | 1996-11-07 | Measurex Corporation | Sheet stabilizer for optical sensor |
US6982794B1 (en) | 1995-06-07 | 2006-01-03 | The Boeing Company | Directional reflectometer |
US5642189A (en) * | 1995-06-12 | 1997-06-24 | Measurex Corporation | Color sensor simulating standard source illuminant |
US5714697A (en) * | 1996-06-19 | 1998-02-03 | Xerox Corporation | Sheet materials mass measuring system |
US5934140A (en) * | 1996-06-19 | 1999-08-10 | Xerox Corporation | Paper property sensing system |
US5835975A (en) * | 1996-06-19 | 1998-11-10 | Xerox Corporation | Paper property sensing system |
US6483590B1 (en) | 2000-12-18 | 2002-11-19 | The Boeing Company | Instrument for rapidly characterizing material reflectance properties |
US6813026B2 (en) * | 2001-04-11 | 2004-11-02 | Therma-Wave, Inc. | Purge system for optical metrology tool |
US6588118B2 (en) * | 2001-10-10 | 2003-07-08 | Abb Inc. | Non-contact sheet sensing system and related method |
DE102006034783A1 (de) | 2006-07-27 | 2008-01-31 | Giesecke & Devrient Gmbh | Sensor und Vorrichtung zur Prüfung von Blattgut und Verfahren zur Sensor-Vorjustage |
JP2009058293A (ja) * | 2007-08-30 | 2009-03-19 | Hamamatsu Metrix Kk | シート状ワーク検査装置 |
FR2925686B1 (fr) * | 2007-12-19 | 2012-02-24 | Le Verre Fluore | Dispositif optique de mesures par reflectance |
US8752831B2 (en) * | 2008-10-06 | 2014-06-17 | Xerox Corporation | Systems and methods for controlling substrate flatness in printing devices using the flow of air |
US8186675B2 (en) * | 2008-10-06 | 2012-05-29 | Xerox Corporation | Systems and methods for controlling substrate flatness in printing devices using vacuum and/or the flow of air |
US7957657B2 (en) * | 2009-02-12 | 2011-06-07 | Xerox Corporation | Universal module for enabling measurements on color printers |
DE102011083653A1 (de) * | 2011-09-28 | 2013-03-28 | Voith Patent Gmbh | Messvorrichtung und Messverfahren zur Messung von Bahneigenschaften |
US9036153B1 (en) * | 2013-08-30 | 2015-05-19 | Google Inc. | Instrument for reflectivity measurement |
US9470633B2 (en) | 2014-02-14 | 2016-10-18 | Google Inc. | Method, apparatus and system for transmittance measurement |
JP6394825B1 (ja) | 2018-02-08 | 2018-09-26 | 横河電機株式会社 | 測定装置および測定方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US1978589A (en) * | 1932-10-03 | 1934-10-30 | Maynard D Mcfarlane | Web detector for printing presses |
US3455637A (en) * | 1964-08-07 | 1969-07-15 | Giannini Controls Corp | Method and apparatus for measuring the opacity of sheet material |
US3476482A (en) * | 1967-09-27 | 1969-11-04 | Conrac Corp | Opacimeter for comparing light from different areas of sample sheet |
US3641349A (en) * | 1969-09-29 | 1972-02-08 | Measurex Corp | Method for measuring the amount of substance associated with a base material |
US3793524A (en) * | 1972-09-05 | 1974-02-19 | Measurex Corp | Apparatus for measuring a characteristic of sheet materials |
US3890049A (en) * | 1973-09-17 | 1975-06-17 | Howell Lab Inc | Glossmeter for providing a linear response corresponding to true gloss readings |
US3936189A (en) * | 1974-03-13 | 1976-02-03 | Sentrol Systems Ltd. | On-line system for monitoring the color, opacity and brightness of a moving web |
US4029420A (en) * | 1974-12-27 | 1977-06-14 | Romilly John Simms | Light reflectance instrument |
US4033698A (en) * | 1975-10-10 | 1977-07-05 | International Business Machines Corporation | Apparatus for textile color analysis |
NL7711138A (nl) * | 1976-11-01 | 1978-05-03 | Ici Ltd | Detectie van discontinuiteiten in bewegende banen van plastic materiaal. |
JPS5937684Y2 (ja) * | 1978-02-22 | 1984-10-19 | 横河電機株式会社 | 厚さ測定装置 |
-
1979
- 1979-12-05 US US06/100,416 patent/US4277177A/en not_active Expired - Lifetime
-
1980
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