DE3222915C1 - Helligkeitsregelung fuer Mikroskopieeinspiegelung - Google Patents
Helligkeitsregelung fuer MikroskopieeinspiegelungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Anpassung der Helligkeit von in den Strahlengang von
Mikroskopen eingespiegelten Markierungen an die Helligkeit des mikroskopischen Bildes, wobei die
Lichtstärke einer Lichtquelle zur Beleuchtung der eingespiegelten Markierungen regelbar ist.
Es ist bekannt, verschiedene Zeichen, Raster, Maßstäbe usw. in den Abbildungsstrählengang eines
Mikrriskopes einzuspiegeln. Die Einspiegelung erfolgt meistens über Teilerspiegel oder Teilerprismen. Die
Zeichen oder Markierungen sind lichtdurchlässige Stellen auf lichtdurchlässigen Plättchen, die mit einer
Lichtquelle von hinten beleuchtet werden. Sie erscheinen daher im BHd hell auf — je nach mikroskopischem
Verfahren — hellem oder dunklem Untergrund, wobei der Untergrund hell bei der Hellfeldmethode, der
Untergrund mittel bei der PhasenkontrasWInterferenzkontrastmethode
und der Untergrund zumindest teilweise dunkel bei der Polarisations-/Dunkelfeld-/oder
Fluoreszenzmethode ist. Da also der Untergrund im Einblick oder am Photo, auf dem das mikroskopische
Bild festgehalten wird, von sehr hell bis sehr dunkel sein kann, besteht der Wunsch, die Helligkeit der eingespiegelten
Markierungen dem Untergrund anzupassen, um einerseits durch genügende Helligkeit die Markierungen
deutlich zu sehen und andererseits Überstrahlungen und damit Störungen in der Sichtbarkeit des mikroskopischen
Bildes zu vermeiden. Dies wurde bei der eingangs genannten Vorrichtung (DE-PS 23 61 692)
bisher durch manuelle Regelung der Lichtstärke der die einzuspiegelnden Markierungen beleuchtenden Lichtquelle,
beispielsweise mit Hilfe eines Potentiometers, - durchgeführt. Da sich der Untergrund in der Helligkeit
oft ändern kann, ist es umständlich, die Lichtstärke der Lichtquelle laufend nachregeln zu müssen.
Es ist auch bekannt (DE-OS 24 43 775), die Helligkeit einer Anzeige im Sucher einer Kamera automatisch an
die Sucherhelligkeif dadurch anzupassen, daß eine Photozelle die Sucherhelligkeit mißt und eine Schaltung
ansteuert, welche die Stromzufuhr zu den Leuchtelementen so regelt, daß das Helligkeitsverhältnis subjektiv
über den gesamten Regelbereich konstant bleibt.
Der Erfindung liegt nunmehr die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung der eingangs genannten Art derart
auszubilden, daß die Helligkeit der Mikroskopieeinspiegelung automatisch der Helligkeit des mikroskopischen
Bildes angepaßt wird, wobei die Helligkeitsanpassung durch den Beobachter entsprechend den jeweiligen
vorliegenden Verhältnissen' einstellbar sein soll.
Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung dadurch gelöst, daß eine Photozelle 7ur Messung der Helligkeit
des mikroskopischen Bildes und eine Schaltung mit einer nichtlinearen Recheneinheit, einer Anpassungsstufe
und einer Leistungsendstufe zur Regelung der elektrischen Stromzuführung zu der Lichtquelle vorgesehen
sind, wobei die Anpassungsstufe eine extern bedienbare Einstelleinrichtung aufweist zur Einstellung
eines über den gesamten Regelbereich konstanten die Grundhelligkeit der Markierung und/oder das Helligkeitsverhältnis
zwischen Markierung und Hintergrund bestimmendes Wertes.
Vorzugsweise wird in einer ersten Ausführungsform der Wert zur Festlegung der Grundhelligkeit mittels der
Recheneinheit zu dem von der gemessenen Helligkeit abhängigen Meßwert addiert. Somit wird die Helligkeit
der Mikroskopieeinspiegelung nicht nur automatisch der Helligkeit des mikroskopischen Bildes derart
angepaßt, daß das Helligkeitsverhältnis subjektiv über den gesamten Regelbereich konstant bleibt, sondern
wird gleichzeitig auch dafür Sorge getragen, daß bei dunklen Bildern die eingespiegelten Markierungen in
ihrer Helligkeit gut sichtbar werden. Im Extremfall kann sogar bei einem völlig dunklen Bild die eingespiegelte
Markierung sichtbar gemacht werden.
In einer zweiten Ausführungsform wird vorzugsweise der von der gemessenen Helligkeit abhängige Meßwert
mittels der Recheneinheit mit dem Wert zur Festlegung des Helligkeitsverhältnisses multipliziert. Auf diese
Weise läßt sich das Verhältnis zwischen der Helligkeit der 'eingespiegelten Markierungen und der Helligkeit
des Untergrundes verstellen.
Beide Maßnahmen können natürlich auch gleichzeitig getroffen werden.
Die Erfindung wird nun an einem Ausführungsbeispiel und anhand der Zeichnung näher beschrieben. In
der Zeichnung stellt dar
F i g. 1 schematisch eine Anordnung zur Einspiegelung von Markierungen in den Strahlengang'eines
Mikroskops für die Photofokussierung und
Fig.2 das Blockschaltbild einer Schaltung, die im
Zusammenhang mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung verwendet wird.
In F i g. 1 ist mit 10 der vom Objekt 12 kommende Objektstrahl bezeichnet, von dem mittels einer Strahlenteilerfläche
14 ein Beobachtungsstrahlengang 16 und ein Photostrahlengang 18 abzweigen. Der Beobachtungsstrahlengang
16 wird an der unteren Horizontalfläche 20 des Prismas 22, das auch die Strahlenteilerfläche
14 aufweist, total reflektiert. Mit 24 ist ein Indikatorstrahlengang bezeichnet, der von einer Lichtquelle
26 über eine Kollektorlinse 28, ein Raster 30 (oder eine sonstige Markierung) und eine Abbildungsoptik 32
zum Strahlenteiler 14 führt. Eine Kamera 34 hat eine
Optik 36. Diese Anordnung ist insoweit aus der DE-PS 23 61 692 bekannt.
Da die Filmebene der Kamera 34 in einer zum Raster 30 konjugierten Ebene angebracht ist, das über die
Abbildungsoptik und den Strahlenteiler gleichzeitig in die Beobachtungsebene und gleichzeitig in die Filmebene
abgebildet wird, läßt sich das von hinten beleuchtete Raster zur Photofokussierung verwenden. Nach der
DE-PS 23 61692 wird die Helligkeit der Lichtquelle dabei von Hand mit Hilfe eines Potentiometers
eingestellt und dem Untergrund angepaßt.
Über einen in den Photostrahlengang 18 ein- und ausschwenkbaren Spiegel 38 wird das mikroskopische
Bild und das Bild des Rasters ausgespiegelt und zu einer nicht dargestellten Photozelle geleitet. Das Raster stört '5
die Messung praktisch nicht, da es zwar heller ist als das mikroskopische Bild, aber nur eine sehr geringe Fläche
bedeckt. Die Photozelle, die in F i g. 2 mit 40 bezeichnet ist, gibt dann ein der gemessenen Helligkeit entsprechendes
Ausgangssignal an eine Anpassungsstufe 42 ab, die ihrerseits ihr Ausgangssignal an. eine
nichtlineare Recheneinheit 44 abgibt, in der das Ausgangssignal aus der Photozelle 40 zur Ansteuerung
einer die Lichtquelle 26 unmittelbar ansteuernden Leistungsendstufe 46 gemäß einer bestimmten Funktion
umgewandelt wird (beispielsweise viermal potenziert wird) derart, daß in etwa die Helligkeit der Lichtquelle
26, die zur Beleuchtung des Rasters 30 verwendet wird, sich subjektiv proportional mit der Helligkeit des
mikroskopischen Bildes ändert, wobei das über den gesamten Regelbereich konstante Helligkeitsverhältnis
in der Anpassungsstufe 42 ebensowie die Grundhelligkeit der Lichtquelle 26 eingestellt werden können.
Die Erfindung kann auch bei anderen Einspiegelungsanordnungen angewandt werden, beispielsweise bei
Einspiegelungen ins Okular für Meßzwecke oder bei Einspiegelungen auf Photos für Dokumentationszwekke.
Ferner kann anstelle des nichtlinearen Rechenelements auch ein Mikrosprozessor mit Konversionsprogramm
verwendet werden. Im oben geschilderten Fall werden beispielsweise der Spiegel 38 und die Photozelle
40 auch zur Belichtungssteuerung der Kamera verwendet. In anderen Fällen, insbesondere in denen, wo keine
Kamera verwendet wird, müßte dann für das erfindungsgemäße Vorgehen eine besondere Photozelle
vorgesehen werden.
- Leerseite -
Claims (3)
1. Vorrichtung zur Anpassung der Helligkeit von in Mikroskope eingespiegelten Markierungen an die
Helligkeit des mikroskopischen Bildes, wobei die Lichtstärke einer Lichtquelle zur Beleuchtung der
eingespiegelten Markierungen regelbar ist, gekennzeichnet durch eine Photozelle (40) zur
Messung der Helligkeit des mikroskopischen Bildes und eine Schaltung mit einer nichtlinearen Rechen- '"
einheit (44), einer Anpassungsstufe (42) und einer Leistungsendstufe (46) zur Regelung der elektrischen
Stromzuführung zu der Lichtquelle (26), wobei die Anpassungsstufe {42) eine extern bedienbare
Einstelleinrichtung aufweist zur Einstellung eines über den gesamten Regelbereich konstanten die
Grundhelligkeit der Markierung und/oder das Helligkeitsverhältnis zwischen Markierung und
Hintergrund bestimmenden Wertes.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Wert zur Festlegung der
Grundhelligkeit mittels der Recheneinheit (44) zu dem von der gemessenen Helligkeit abhängigen
Meßwert addiert wird.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der von der gemessenen
Helligkeit abhängige Meßwert mittels der Recheneinheit (44) mit dem Wert zur Festlegung des
Helligkeitsverhältnisses multipliziert wird.
Priority Applications (4)
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DE3222915C1 true DE3222915C1 (de) | 1983-12-15 |
Family
ID=6166352
Family Applications (1)
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