DE3143114C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Messen der Kapazität
eines Probenkondensators nach dem Oberbegriff des Patentan
spruchs 1 sowie eine Schaltungsanordnung zur Durchführung dieses Ver
fahrens nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 2. Hierbei sei
erwähnt, daß unter dem Begriff "Probenkondensator" ein beliebi
ges Schaltungselement zu verstehen ist, das eine meßbare Kapa
zität aufweist.
Aus der Druckschrift "Electronic Engineering", Vol. 47,
Oktober 1975, Seiten 17, 19, sind ein Verfahren und eine Vorrich
tung der eingangs genannten Art bekannt; eine wirkungs
ähnliche Anordnung ist aus der DE 28 19 516 A1 bekannt. In
beiden Fällen hängt die Amplitude des dort vorgesehen ka
pazitätsproportionalen Ausgangssignals von der Frequenz
eines Generators ab, so daß exakte Meßergebnisse sehr auf
wendige Schaltungen erfordern.
Aus der DE-OS 23 47 450 ist ferner eine Meßschaltung bekannt,
deren Genauigkeit ausschließlich von der Genauigkeit eines
dort vorgesehenen Impulsgenerators abhängt.
Die herkömmliche Schaltung basiert auf der Gleichung:
I = CVf
wobei
- I = Entladungsstrom
- C = Kapazität
- V = Versorgungsspannung
- f = Frequenz des Ladungs-/Entladungszyklus
Eine genaue Messung der Kapazität kann nur erhalten wer
den, indem man den Strom überwacht, wenn die Spannung und
die Frequenz konstant gehalten werden. Eine Änderung der
Spannung kann dadurch kompensiert werden, daß man die Re
ferenzstrom-Spannung abhängig macht. Es ist jedoch schwie
rig, eine Frequenzkompensation zu erreichen, und somit ist
eine Versorgungsquelle stabiler Frequenz erforderlich.
Versorgungsquellen stabiler Frequenz, wie z. B. Kristall
oszillatoren, stehen selbstverständlich zur Verfügung, je
doch sind sie kostspielig und können daher bei vielen An
wendungsfällen nicht verwendet werden.
Ausgehend vom obengenannten Stand der Technik, ist es
Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren und eine Schaltungsanordnung zur
Durchführung des Verfahrens der eingangs genannten Art
dahingehend weiterzubilden, daß eine exakte Kapazitäts
messung mit geringem Schaltungsaufwand ermöglicht wird.
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren nach Anspruch 1
bzw. eine Schaltungsanordnung nach Anspruch 2 gelöst.
Mit der vorliegenden Erfindung wird ein vollständig ande
rer Weg beschritten, als dieser bisher gegangen wurde. Es
wird nämlich gemäß der Erfindung die im gemessenen Konden
sator gespeicherte Ladung und die im Referenzkondensator
gespeicherte Ladung in einem oder zwei Kondensator(en)
zwischengespeichert und die zum Konstanthalten der zwi
schengespeicherten Ladungen benötigten Ströme gemessen und
miteinander verglichen.
Die Verwendung eines Referenzkondensators und die Durch
führung eines Vergleichs der Ströme macht die Unterschei
dung ihrer Kapazitäten unabhängig von der Stabilität der
Versorgungsspannung und der Betriebsfrequenz der Schal
tungsanordnung. Wenn die Schaltung so ausgelegt wird, daß
die verglichenen Ströme anfangs identisch sind, kann nur
eine anschließende Änderung der Kapazität dafür sorgen,
daß die verglichenen Ströme aus dem Gleichgewicht heraus
kommen. Die Genauigkeit der Messung beruht nur auf stati
schen Komponenten und ist somit unbegrenzt stabil.
Die Schaltung spricht auf die Differenz zwischen den bei
den Kapazitäten an, nicht auf das Verhältnis ihrer Werte,
und Änderungen der Versorgungsspannung und der Frequenz
beeinflussen nur die Differenz, nicht die stehende Kapazi
tät des Referenzkondensators. Somit kann eine Zunahme der
Kapazität, die prozentual betrachtet klein ist, ohne wei
teres aufgelöst werden. Außerdem kann die erforderliche
Zuwachsmessung durchgeführt werden, indem man irgendeinen
Wert der Referenzkapazität innerhalb des gewählten Be
triebsbereichs der Schaltung verwendet.
Vorzugsweise besitzt die Schalteranordnung zwei Festkör
perschalter, die vom Ausgangssignal eines Oszillators ge
steuert sind.
Bei einer Ausführungsform ist der eine Schalter in Reihe
mit dem Probenkondensator parallel zur Versorgung geschal
tet. Die Schalter werden so gesteuert, daß sie ihre jewei
ligen Kondensatoren gleichzeitig aufladen und sie dann in
entsprechende größere Speicherkondensatoren entladen. Die
Entladungsströme werden verglichen, indem man Rückkopp
lungsströme vergleicht, die erforderlich sind, um die
Spannung parallel zu den Speicherkondensatoren konstant zu
halten.
Bei einer anderen Ausführungsform sind die beiden Schalter
in Reihe parallel zur Versorgung geschaltet und so gesteu
ert, daß sie die eine Kapazität auf die Versorgungsspan
nung und die andere Kapazität auf eine feste Spannung pro
portional zur Versorgungsspannung aufladen. Die eine Kapa
zität wird dann auf die feste Spannung entladen, und die
andere Kapazität wird vollständig entladen. Ein größerer
Speicherkondensator ist so angeordnet, daß er von dem ei
nen Entladestrom aufgeladen und von dem anderen entladen
wird. Der erforderliche Strom, um die Spannung parallel
zum Speicherkondensator konstant zu halten, wird überwacht
und liefert ein Maß für die Differenz zwischen den beiden
Entladungsströmen und somit für die beiden zu vergleichen
den Kapazitäten.
Bei den oben angegebenen Ausführungsformen wird die Takt-
oder Schaltfrequenz so gewählt, daß der Probenkondensator
und der Referenzkondensator vollständig geladen und dann
im Laufe jedes Schaltzyklus vollständig entladen werden.
Die Erfindung wird nachstehend anhand der Beschreibung von
Ausführungsbeispielen und unter Bezugnahme auf die
Zeichnungen näher erläutert. Hierbei zeigt
Fig. 1 ein Schaltbild zur Erläuterung einer ersten
Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 2 ein Schaltbild zur Erläuterung einer zweiten
Ausführungsform der Erfindung; und in
Fig. 3 ein Schaltbild zur Erläuterung einer abge
wandelten Ausführungsform der Schaltung ge
mäß Fig. 1.
Bei der Schaltungsanordnung gemäß Fig. 1 wird die Leitung
1 auf einer konstanten Gleichspannung von +V gegenüber
der Erdleitung 2 gehalten. Zwischen die Leitungen 1
und 2 sind Umschalter S 1 und S 2 als Schalteranordnung parallelgeschaltet,
die synchron mit dem Ausgangssignal eines nicht darge
stellten Oszillators betätigt werden, um abwechselnd
die Leitung 1 mit den Leitungen 3 bzw. 4 und die Lei
tungen 3 und 4 mit den Leitungen 5 bzw. 6 zu verbinden.
Im ersten Zustand sind die Kondensatoren C 1 und C 2 para
llel zur Versorgung geschaltet, und im zweiten Zustand
sind die Kondensatoren C 1 und C 2 parallel zu den Konden
satoren C 3 bzw. C 4 als Speicherkondensatoren geschaltet. Die Kondensatoren C 3
und C 4 haben im wesentlichen gleiche Kapazität, die
um ein Vielfaches größer ist als die der Kondensatoren
C 1 und C 2.
Der Kondensator C 1 stellt als Probenkondensator das Schaltungselement dar,
dessen Kapazität zu messen ist, während der Kondensator
C 2 einen Referenzkondensator bildet. Die Kondensatoren
C 1 und C 2 haben im wesentlichen die gleiche Kapazität.
Die nicht-invertierenden Eingänge von ähnlichen Opera
tionsverstärkern A 1 und A 2 sind an die Erdleitung 2 ange
schlossen. Die invertierenden Eingänge der Operationsver
stärker A 1 und A 2 sind an die Leitungen 5 bzw. 6 ange
schlossen. Die Ausgänge der Operationsverstärker A 1
und A 2 sind an Ausgangs-Anschlüsse 7 bzw. 8 und über
Rückkopplungs-Widerstände R 1 und R 2 an die Leitungen
5 bzw. 6 angeschlossen.
Die Schalter S 1 und S 2 arbeiten in der Weise, daß sie
gleichzeitig die Kondensatoren C 1 und C 2 mit der Leitung
1 verbinden, und zwar für eine ausreichende Zeit, die
es ermöglicht, daß beide Kondensatoren auf die Spannung
+V aufgeladen werden. Dann schalten die Schalter gleich
zeitig um, um den Kondensator C 1 mit dem Kondensator
C 3 und den Kondensator C 2 mit dem Kondensator C 4 zu
verbinden. Die Kondensatoren C 1 und C 2 entladen sich
in die Kondensatoren C 3 und C 4 für eine ausreichende
Zeitspanne, die eine vollständige Entladung erlaubt.
Dann schalten die Schalter S 1 und S 2 zurück, und die
Kondensatoren C 1 und C 2 werden wieder geladen. Dieser
Zyklus wird ständig wiederholt.
Die Verstärker A 1 und A 2 halten die Ströme I 1 und
I 2 durch die Widerstände R 1 bzw. R 2 aufrecht, wobei
die Ströme ausreichend sind, um die Spannungen parallel
zu den Kondensatoren C 3 und C 4 im wesentlichen auf Null
zu halten. Diese Ströme I 1 und I 2 sind gleich den und
tatsächlich die Ströme, die von den Kondensatoren C 1
und C 2 entladen werden, und somit sind die Ausgangsspan
nungen V 1 und V 2, die an den Anschlüssen 7 bzw. 8 auf
treten, jeweils I 1 × R 1 bzw. I 2 × R 2. Somit sind die
Ausgangsspannungen V 1 und V 2 exakt proportional zu der
Kapazität der Kondensatoren C 1 bzw. C 2, da die Spannung
+V und die Frequenz des Schaltbetriebes für beide Teile
der Schaltung die gleichen sind. C 3 und C 4 haben die
gleiche Kapazität, und R 1 und R 2 haben den gleichen
Widerstandswert. Somit sind jegliche Differenzen zwischen
den Spannungen V 1 und V 2 ein Maß für die Differenz zwi
schen den Kapazitäten der Kondensatoren C 1 und C 2.
Wenn die Kapazitäten der Kondensatoren C 1 und C 2 gleich
sind, dann gilt V 1 = V 2. Wenn die Kapazität des Konden
sators C 1 abweicht, kann die Abweichung gemessen werden,
indem man den Wert von V 1 beobachtet und ihn mit dem
Wert von V 2 vergleicht. Beispielsweise kann dieser Ver
gleich vorgenommen werden, indem man die Ausgänge mit
den Eingängen eines Operationsverstärkers A 3 als Überwachungseinrichtung verbindet,
der dann ein Ausgangssignal liefert, das eine Funktion
der Abweichung der Kapazität des Kondensators C 1 ist.
Dieses Ausgangssignal vom Operationsverstärker A 3 kann
beispielsweise einem Relais 9 zugeführt werden, das
so eingestellt ist, daß es dann anspricht, wenn das Aus
gangssignal vom Operationsverstärker A 3 einer vorgege
benen Abweichung des Kondensators C 1 entspricht, die abge
tastet oder gemessen werden soll. Der Punkt, bei dem
das Relais 9 anspricht, hat eine hohe Stabilität, und
die Empfindlichkeit des Systems wird die gleiche für
jeden Wert von C 1 und C 2 sein. Wenn beispielsweise die
Verstärkung des Operationsverstärkers A 3 so gewählt
ist, daß das Relais 9 anspricht, wenn der Wert von C 1
den Wert von C 2 um beispielsweise 0,1 pF überschreitet, so
wird das Relais immer dann schalten, wenn diese Differenz er
reicht wird, u. zw. sowohl wenn z. B. C 2 den Wert 10 pF hat und C 1
ursprünglich den Wert 10 pF hatte als auch wenn C 2 den Wert
500 pF hat und C 1 ursprünglich den Wert 500 pF besaß.
Eine zweite Ausführungsform des Systems ist in Fig.
2 dargestellt. Bauelemente, die den Bauelementen in
Fig. 1 entsprechen, haben die gleichen Bezugszeichen.
Die Schalter S 1 und S 2 sind in Reihe zwischen den Lei
tungen 1 und 2 geschaltet. Wenn der Schalter S 1 die
Leitung 3 mit der Leitung 1 verbindet, verbindet der
Schalter S 2 den Kondensator C 2 über die Leitung 4 mit
dem Kondensator C 3. Wenn der Schalter S 1 den Kondensator
C 1 mit dem Kondensator C 3 verbindet, schließt der Schal
ter S 2 den Kondensator C 2 kurz. Im ersten Zustand wird
der Kondensator C 1 auf die Spannung +V aufgeladen, und
der Kondensator C 2 wird auf die Spannung aufgeladen,
die parallel zum Kondensator C 3 liegt, während im zweiten
Zustand sich der Kondensator C 1 in den Kondensator C 3
entlädt und der Kondensator C 2 vollständig entladen
wird.
Der Kondensator C 3 ist an den invertierenden Eingang
eines Operationsverstärkers A 4 angeschlossen, dessen
anderer Eingang eine Spannung mit dem Wert +V/2 erhält,
die von einem Teiler geliefert wird, der gleiche Wider
stände R 3 und R 4 aufweist. Ein Rückkopplungs-Widerstand
R 5 ermöglicht es dem Verstärker A 4 einen Rückkopplungs
strom zu liefern, um die Spannung parallel zum Kondensa
tor C 3 konstant und gleich einem Wert von +V/2 zu halten.
Im Laufe jedes Schaltungszyklus' wird der Kondensator
C 1 zu Beginn auf eine Spannung von +V aufgeladen, und
gleichzeitig wird der Kondensator C 2 auf eine Spannung
von V/2 aufgeladen. Die Schalter S 1 und S 2 schalten
dann um, und der Kondensator C 1 wird auf V/2 entladen
und der Kondensator C 2 wird auf Erdpotential entladen.
Wenn die Kondensatoren C 1 und C 2 die gleiche Kapazität
haben, wird die Ladung, die von dem einen entladen
wird, gleich der vom anderen entladenen Ladung sein,
und die Ladung im Kondensator C 3 bleibt unverändert.
Die Spannung parallel zum Kondensator C 3 wird somit
auf einem Wert von +V/2 bleiben, es wird kein Strom
durch den Rückkopplungs-Widerstand R 5 fließen, und der
Ausgang des Verstärkers A 3 wird auf dem Wert +V/2 blei
ben.
Wenn C 1 größer als C 2 ist, wird C 3 mit mehr Energie
geladen, als über C 2 entladen wird. Der Verstärker A 4
spricht in der Weise an, daß er die Spannung parallel
zu Kondensator C 3 auf dem Wert +V/2 durch eine negative
Rückkopplung aufrechterhält, wobei die Ausgangsspannung
des Verstärkers A 4 so abfällt, daß eine Spannungsdiffe
renz V 3 zwischen dem Ausgang und dem +V/2-Eingang auf
tritt.
Sollte C 2 größer als C 1 sein, dann wird C 3 mit weniger
Energie von C 1 geladen als sie über den Kondensator
C 1 entladen wird, und die Ausgangsspannung des Verstär
kers A 4 steigt an, um eine positive Rückkopplung zu
erzeugen.
Die Ausgangsspannung V 3 ist eine Funktion der Entladungs
ströme von C 1 und C 2 und ist somit ein Maß für die Diffe
renz der Kapazitäten zwischen den Kondensatoren C 1 und
C 2.
Wenn man abtasten oder messen will, wenn sich der Wert
des Kondensators C 1 ändert, wobei der Wert von C 2 festge
halten ist und die Kondensatoren C 1 und C 2 zu Beginn
die gleiche Kapazität haben, dann kann die der Änderung
entsprechende Ausgangsspannung V 3 verwendet werden,
um beispielsweise ein Relais 9 zu betätigen, um anzuzei
gen, daß die Änderung erfolgt ist.
Die Schaltung gemäß Fig. 2 ist insofern wirtschaftlicher
als die gemäß Fig. 1, als sie nur einen Verstärker er
fordert. Dies deswegen, weil bei der Anordnung gemäß
Fig. 2 die Entladeströme vor der Verstärkung ver
glichen werden, während bei der Anordnung gemäß Fig.
1 der Vergleich nach der Verstärkung erfolgt.
Bei den oben beschriebenen Ausführungsformen ist die
Stabilität der Schaltung, wenn C 1 gleich C 2 ist, ab
hängig von der Stabilität der Widerstände R 1 und R 2
bei der Anordnung gemäß Fig. 1 bzw. der Stabilität der
Widerstände R 3 und R 4 bei der Anordnung gemäß Fig. 2.
Wenn diese Widerstände die gleichen Temperaturkoeffizi
enten haben, werden die Schaltungen vollständig stabil
sein.
Vorzugsweise sind beide Schalter S 1 und S 2 als Festkörperschalter, nämlich als CMOS-Anord
nungen auf dem gleichen Siliziumchip ausgebildet. Beide Schalter
werden vom selben Oszillator und in der Weise
gesteuert, daß sie Umschalter mit Unterbrechung dar
stellen, um Stromlecks während der Schaltungsübergänge
zu eliminieren. Unter Verwendung derartiger Schalter
sollte kein statisches Leck auftreten. Wenn aber ein
kleines Leck vorhanden ist, hebt es sich im ausgegli
chenen System auf, wobei dies für sämtliche Temperaturen
gelten soll.
Wie oben bereits angegeben, haben, wenn C 1 = C 2 ist,
Schwankungen oder Änderungen der Versorgungsspannung
oder der Schaltfrequenz keinerlei Konsequenz. Wenn ge
wünscht ist, die Größe der Differenz zwischen C 1 und
C 2 zu messen, ist der Zusammenhang zwischen dem Ausgangs
signal und der Größe der Differenz abhängig von der
Spannung und Frequenz, jedoch können diese beiden Para
meter leicht überwacht und kontrolliert werden,
um eine Stabilität zu liefern, die eine Ablesung von
3 1/2 Stellen (1 Teil von 2000) ermöglicht. Beispiels
weise liefert ein billiger Keramikresonator eine ädaquate
Frequenzstabilität für die beschriebenen Anordnungen.
Die Schaltfrequenz ist so gewählt, daß die Zeit es jedem
Kondensator ermöglicht, eine vollständige Ladung und
vollständige Entladung während jedes Schaltungszyklus'
durchzuführen, der abwechselnd die beiden Kondensatoren
mit der gleichen Spannung und mit der gleichen Frequenz
lädt bzw. entlädt. Dies gewährleistet, daß jeder der
beiden Ströme, die von den beiden Kondensatoren entladen
werden, eine perfekte lineare Relation zur Kapazität
des jeweiligen Kondensators besitzt.
Da sämtliche Messungen gegenüber Erde durchgeführt wer
den, z. B. ist die eine Platte des Probenkondensators geerdet,
kann es erforderlich sein, in einigen Anwendungsfällen
jegliche möglichen Lecks gegenüber Erde zu verhindern,
damit die hohe Genauigkeit des Systems aufrechterhalten
bleibt.
Somit kann in Anwendungsfällen, wo ein Leck bei der
Isolation auftreten kann, die die stromführende Platte
des Probenkondensators trägt, ein Faraday'scher Käfig ver
wendet werden, um sämtliche möglichen Lecks aufgrund
von Kondensation oder anderen Verunreinigungen zu eli
minieren. Zu diesem Zweck kann eine zusätzliche Elek
trode geeigneter Gestalt - z. B. ein Schutzring - auf der Oberfläche des Isola
tors angeordnet werden, so daß sie die Meßelektrode
gegenüber Erde isoliert, wobei die Elektrode mit einer
Spannung beaufschlagt wird, die in Größe und Phase gleich
der Spannung ist, die an der Meßelektrode und dem Schutz
ring anliegt, so daß kein Strom an der Oberfläche des
Isolators und somit keine Fehler bei der Messung auf
treten. Der Strom kann nun vom Schutzring zur Erde flie
ßen, jedoch ist die Quelle dieses Stromes vollständig
getrennt von der Meßschaltung.
Wie oben beschrieben, ermöglichen es die dargestellten
Schaltungen, eine Kapazitätsdifferenz mit einem Grad
an Genauigkeit zu messen, der sich bislang nicht er
reichen ließ. Wenn es beispielsweise erforderlich ist,
eine Zunahme von etwa 5 pF bei einer Kapazität von z. B.
500 pF zu messen, kann eine herkömmliche genaue Präzi
sionsbrücke verwendet werden, die auf der 10 000 pF-Skala
ein Auflösungsvermögen von 0,1% oder 0,01% hat, so daß
man 10 pF im ersten Falle oder 1 pF im zweite Falle
unterscheiden kann. Eine Brücke ist aber nur in der
Lage, die Zunahme oder das Inkrement in der Gesamtskala
aufzulösen und liefert eine Verhältnis-Messung.
Die beschriebenen Ausführungsformen gemäß der Erfindung
sind lineare Anordnungen, keine Verhältnis-Anordnungen.
Die lineare Anordnung subtrahiert 4995 pF und mißt
die übrigen 5 pF mit einer Genauigkeit von beispiels
weise vier Stellen. Somit ist es möglich, beispielsweise
0,001 pF zu messen. Wie oben bereits erläutert, ist
die Subtraktion von 4995 pF unbegrenzt stabil. Nur
das Inkrement von 5 pF unterliegt dem Erfordernis einer
stabilen Spannung und Frequenz, und diese können mit
abzeptabler Genauigkeit stabilisiert werden.
Wenn die Schaltung als Meßinstrument eingesetzt wird,
erhöht die Abhängigkeit von der Frequenz die Flexibili
tät der Anordnung und ermöglicht eine genaue Eichung
bei niedrigen Kapazitätswerten von bekannten Standards
hoher Werte.
Die Grundfrequenz der Anordnung kann mit einem Quarz
kristall oder einem Keramikresonator fixiert werden,
und die Frequenz kann auf irgendein Unter-Vielfaches
der Grundfrequenz umgeschaltet werden. Wenn somit die
Anordnung eine Teilung derart hat, daß der volle Skalenaus
schlag beispielsweise 5000 pF beträgt, wenn die Schal
ter mit einer Frequenz F betrieben werden, dann wird
sich bei F × 10 ein voller Skalenausschlag von 500 pF
und bei F × 100 ein voller Skalenausschlag von 50 pF
ergeben. Der Strom, der aus der Entladung von beiden
Kondensatoren fließt ist exakt proportional zur
Zeit, die sie geladen und entladen werden.
Die oben beschriebenen Schaltungen können bei Kapazitäts
anordnungen verwendet werden, um den Pegel zu messen,
der von einem flüssigen oder granulatförmigen Material
erreicht wird. Beispielsweise kann ein Paar von im Ab
stand angeordneten Platten oder Stangen eine horizontale
Sonde in einer Höhe bilden, von der man wissen will,
wenn das flüssige oder granulatförmige Material sie
erreicht hat. Die Kapazität der Sonde ändert sich, wenn
sie von einem Material mit einer anderen Dielektrizi
tätskonstate als Luft berührt wird. Die Sonde
und ein Verbindungs-Koaxialkabel bilden den Probenkondensator
C 1, der überwacht werden soll, und ein fester Konden
sator und/oder ein Doppelkabel bilden den Referenzkon
densator C 2. Die Zuwachsänderung wird die Änderung der
Kapazität des Kondensators C 1 aufgrund des die Sonde
berührenden Materials sein, und dieses Inkrement kann das
Ansprechen eines Relais 9 hervorrufen.
Wenn die Sonde im wesentlichen vertikal in einem Behäl
ter angeordnet ist, wird die Kapazität des Kondensators
C 1 linear zunehmen, wenn das Material in dem Behälter
bis zur Sonde hochsteigt. Die Kapazität der Sonde und
des Verbindungskabels, wenn sich das Material auf dem
niedrigsten Pegel im Behälter befindet, wird durch die
Kapazität des Kondensators C 2 ausgeglichen, der ein
fester Kondensator und/oder Doppelkabel ist. Das Inkre
ment oder der Zuwachs ist nun die Differenz zwischen
C 1 und C 2, die durch das Material hervorgerufen wird,
das vom Bodenpegel, wo C 1 = C 2 ist, zum oberen Pegel
ansteigt, wo C 1 größer als C 2 ist.
Das System kann bei der Messung veränderlicher physi
kalischer Größe verwendet werden, z. B. bei Druck, Be
lastung, Zug, Gewicht oder Relativstellungen, bei denen
eine Änderung einer charakteristischen Größe eine pro
portionale relative Bewegung von einer Platte eines
Kondensators relativ zur anderen Platte bewirkt, welche
fest sein kann. Die Kapazität von C 2 wird so ausgelegt,
daß sie gleich der von C 1 ist, wenn die Kondensator
platten sich in einer Ausgangsposition befinden. C 2
kann ein fester Kondensator sein, wird jedoch eine voll
ständige Duplizierung der Anordnung von C 1 sein, so
daß irgendwelche Effekte von Umgebungsänderungen ausge
glichen werden. Das zu messende Inkrement ist nun die
sich ändernde Kapazität aufgrund der sich ändernden
Position einer Kondensatorplatte im Verhältnis zur an
deren Kondensatorplatte.
Das System kann auch verwendet werden, um die Dielektri
zitätskonstanten von zwei Substanzen zu vergleichen.
Bei einer derartigen Anordnung besteht die Kapazität
C 1 aus einem ersten Kondensator und die Kapazität C 2
aus einem zweiten Kondensator von im wesentlichen iden
tischem Aufbau. Wenn sich nur Luft zwischen den Platten
der Kondensatoren befindet, ist die Kapazität des Konden
sators C 1 gleich der Kapazität des Kondensators C 2.
Wenn dann Substanzen zwischen die Platten der jeweili
gen Kondensatoren eingebracht werden, z. B. durch Ein
tauchen der Kondensatoren in die Substanzen, sind irgend
welche resultierenden Differenzen, die zwischen C 1 und
C 2 beobachtet werden, eine Funktion der Differenz der
Dielektrizitätskonstanten dieser Substanzen. Dies kann
bei der Prüfung der Reinheit oder einer Qualitätskon
trolle der Substanzen verwendet werden. Die Referenz
substanz der gewünschten Reinheit oder Qualität wird
zwischen den Platten des zweiten Kondensators angeordnet,
und eine Probe der Substanz, deren Reinheit oder Quali
tät untersucht werden soll, wird zwischen den Platten
des ersten Kondensators angeordnet. Wenn die beiden
Substanzen von gleicher Reinheit oder Qualität sind, sind
ihre Dielektrizitätskonstanten gleich und
C 1 und C 2 haben gleiche Werte, sonst aber nicht.
Beispielsweise kann eine derartige Technik verwendet
werden, um festzustellen, ob Flugzeugtreibstoff z. B.
mit Wasser verunreinigt worden ist, wenn man den zwei
ten Kondensator in eine Probe von reinem Treibstoff
eintaucht.
Die Schaltungen gemäß Fig. 1 oder 2 können in einem
Meßinstrument zu Testzwecken oder zur Benutzung im Labor
verwendet werden. Zu Beginn werden lange Koaxialkabel
an die Anschlüsse des Instrumentes angeschlossen, um
die Kapazitäten C 1 und C 2 zu bilden, die auf gleiche
Werte gebracht werden, indem man geeignete Kabellängen
verwendet. Dann wird eine Kapazität, die gemessen wer
den soll, parallel zu C 1 geschaltet und die resultie
rende Zunahme der Kapazität gemessen.
Nachstehend wird, unter Bezugnahme auf Fig. 3 eine abge
wandelte Ausführungsform der Schaltung gemäß Fig. 1
beschrieben. Die Ausführungsform gemäß Fig. 3 enthält
Zusätze zur Basisschaltung gemäß Fig. 1, um bestimmten
Anwendungsfällen Rechnung zu tragen. Bei der Messung
der Dielektrizitätskonstanten von bestimmten Flüssig
keiten oder Festkörpern ist es wünschenswert, wenn man
in der Lage ist, jeglichen Fehler aufgrund einer Wider
standskomponente auszuscheiden, die auf einem Schaltungs
leck oder irgendeiner leichten Leitfähigkeit der in
Prüfung befindlichen Substanz beruhen kann.
Die Schaltung gemäß Fig. 1 ist besonders geeignet, die
sem Erfordernis zu genügen. Der
Probenkondensator C 1 wird auf eine feste Spannungsquelle
umgeschaltet und auf diese Spannung vollständig aufgela
den. Er wird somit auf dieser Spannung von der Span
nungsquelle gehalten, unabhängig von irgendeinem Leck
widerstand, der in Fig. 3 schematisch mit Rx bezeich
net ist. Er wird dann von der Spannungsquelle auf den
Speicherkondensator C 3 umgeschaltet, und der resultie
rende Rückkopplungsstrom ist gleich der im Kondensator
C 1 gespeicherten Energie.
In der Praxis ist jedoch der Schalter ein Festkörperschalter,
der sich nicht von einem Null-Widerstand
auf einen Widerstand mit unbegrenztem Wert ändert; in
Wirklichkeit erfolgt eine Änderung von einigen hundert
Ohm auf einige Megohm. Wenn infolgedessen irgendein
Leckstrom aufgrund eines Leckwiderstandes Rx auftritt,
wird ein kleiner Potentialabfall am Schalter in
geschlossenem Zustand auftreten. Der Kondensator C 1
wird somit auf ein kleineres Potential als die erforder
liche feste Spannung aufgeladen.
Die Schaltung gemäß Fig. 3, die nur die eine Hälfte
einer vollständigen Schaltung zeigt, wie sich im Ver
gleich mit Fig. 1 ergibt, ist dahingehend modifiziert,
daß sie die Ladungsspannung des Kondensators
auf einem konstanten Wert hält, indem man die an den
Schalter angelegte Spannung einstellt. Dies wird er
reicht, indem man zwei Spitzengleichrichter verwendet,
von denen nur einer in Fig. 3 dargestellt ist. Die Spit
zengleichrichter messen die Spitzenladungsspannung in
den Kondensatoren C 1 und C 2 und sind an zwei Operations
verstärker angeschlossen, die die Spitzenspannungen
in den jeweiligen Kondensatoren mit einer festen Refe
renzspannung vergleichen. Diese Verstärker liefern die
Schalterspannungen und halten die Kondensator-Ladespan
nung konstant, unabhängig vom Schalterwiderstand.
Fig. 3 zeigt diese zusätzliche Ausführungsform gemäß
der Erfindung. Der Deutlichkeit halber ist nur die eine
Hälfte der vollständigen Schaltung dargestellt, während
die andere Hälfte identisch aufgebaut ist und auch den
Verstärker A 3 und die Überwachungseinheit 9 gemäß Fig.
1 enthält.
Bei der Anordnung gemäß Fig. 3 bezeichnen gleiche Bezugs
zeichen wie in Fig. 1 und 2 identische Baugruppen. Es
ist ein weiterer Schalter S 3 vorgesehen, der synchron
mit dem Schalter S 1 betrieben wird, so daß dann, wenn
die Leitung 3 über den Schalter S 1 an die Leitung 14
angeschlossen ist, die Leitung 3 auch über die Leitung
10 mit der Leitung 12 verbunden und somit an den inver
tierenden Eingang eines Verstärkers A 4 über den Wider
stand R 3 angeschlossen ist. Diese Konfiguration der
Schaltung bildet eine Spannung auf der Leitung 3 wäh
rend der Ladungsperiode aus, die gleich der Spannung
auf der Leitung 13 ist, wobei letztere an eine feste
Referenzspannung angeschlossen ist. Welchen Serienwi
derstand der Schalter S 1 zum Kondensator C 1 mit einem
parallel dazu liegenden Leckwiderstand Rx auch haben
mag, der Verstärker A 4 stellt die Spannung auf der Lei
tung 14 so ein, daß der Spannungsabfall parallel zur
Widerstandskomponente von S 1 kompensiert wird, was dazu
führt, daß die Spannung, auf welche der Kondensator
C 1 aufgeladen wird, gleich der Referenzspannung auf
der Leitung 13 ist.
Der Widerstand des Schalters S 3 ist von geringer Be
deutung, da der Eingangsstrom zum Ver
stärker A 4 über den Widerstand R 3 vernachlässigbar ist.
Das parallel zum Verstärker A 4 geschaltete Bauelement
C 5 gewährleistet eine Schaltungsstabilität und wirkt
auch als Integrationskondensator, um die Spannungen
auf den Leitungen 12 und 14 sehr dicht bei ihren Nor
malwerten zu halten, wenn der Kondensator C 1 über die
Leitungen 3 bzw. 5 sowie den Schalter S 1 zusammen mit
den Leitungen 10 und 11 um den Schalter S 3 zum Konden
sator C 3 und dem Meßverstärker A 1 entladen wird.
Claims (10)
1. Verfahren zum Messen der Kapazität eines Probenkondensators
durch Vergleich des zum Auf-/Entladen des Probenkondensators
benötigten Stroms mit dem Strom, der zum Auf-/Entladen eines
Referenzkondensators benötigt wird,
dadurch gekennzeichnet,
daß die im Probenkondensator gespeicherte Ladung und die im
Referenzkondensator gespeicherte Ladung entweder nacheinander auf
einen Speicherkondensator oder gleichzeitig auf jeweils einen
Speicherkondensator übertragen werden, daß die in dem Speicher
kondensator bzw. den Speicherkondensatoren gespeicherte Ladung
durch Einspeisen von Strömen weitgehend konstant gehalten
wird und daß die zum Konstanthalten benötigten Ströme aus der
Rückkopplungsschaltung gemessen und miteinander verglichen
werden.
2. Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens nach An
spruch 1 mit einem Referenzkondensator, mit einer Schalteran
ordnung zum abwechselnden Laden und Entladen des Probenkon
densators und des Referenzkondensators mit gleicher Takt
rate, wobei das Laden des Probenkondensators entweder
mit dem Laden oder dem Entladen des Referenzkondensators
synchronisiert ist, und mit einer Vergleichseinrichtung
zum Vergleichen der Lade-/Entlade-Ströme des Probenkon
densators und des Referenzkondensators, um eine Messung
der Differenz zwischen den Kapazitäten des Referenzkon
densators und des Probenkondensators vorzunehmen, wobei
der Probenkondensator und der Referenzkondensator von
einer gemeinsamen Spannungsquelle geladen werden,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Vergleichseinrichtung mindestens einen Speicher kondensator (C 3; C 3, C 4) aufweist,
daß die Schalteranordnung (S 1, S 2; S 1, S 3) den Probenkon densator (C 1) und den Referenzkondensator (C 2) entweder nacheinander dem einen Speicherkondensator (C 3) parallel schaltet oder gleichzeitig zu jeweils einem Speicherkon densator (C 3, C 4) abwechselnd parallel schaltet und ab koppelt,
daß eine Rückkopplungsschaltung (A 1/R 1, A 2/R 2; A 4/R 5) vor gesehen ist, um die von dem mindestens einen Speicherkon densator (C 3; C 3, C 4) gespeicherte Ladung (Q 1; Q 2) durch Einspeisen von Strömen (I 1, I 2) im wesentlichen konstant zu halten und
daß eine Überwachungseinrichtung (A 3, 9) vorgesehen ist, in der die zum Konstanthalten der Ladung der Speicherkon densatoren benötigten Ströme (I 1, I 2) aus der Rückkopp lungsschaltung gemessen und verglichen werden.
daß die Vergleichseinrichtung mindestens einen Speicher kondensator (C 3; C 3, C 4) aufweist,
daß die Schalteranordnung (S 1, S 2; S 1, S 3) den Probenkon densator (C 1) und den Referenzkondensator (C 2) entweder nacheinander dem einen Speicherkondensator (C 3) parallel schaltet oder gleichzeitig zu jeweils einem Speicherkon densator (C 3, C 4) abwechselnd parallel schaltet und ab koppelt,
daß eine Rückkopplungsschaltung (A 1/R 1, A 2/R 2; A 4/R 5) vor gesehen ist, um die von dem mindestens einen Speicherkon densator (C 3; C 3, C 4) gespeicherte Ladung (Q 1; Q 2) durch Einspeisen von Strömen (I 1, I 2) im wesentlichen konstant zu halten und
daß eine Überwachungseinrichtung (A 3, 9) vorgesehen ist, in der die zum Konstanthalten der Ladung der Speicherkon densatoren benötigten Ströme (I 1, I 2) aus der Rückkopp lungsschaltung gemessen und verglichen werden.
3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Schalteranordnung zwei Festkörperschalter (S 1,
S 2) aufweist, die vom Ausgangssignal eines Oszillators
gesteuert sind.
4. Schaltungsanordnung nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß der eine Schalter (S 1) in Reihe mit dem Probenkonden
sator (C 1) parallel zur gemeinsamen Spannungsquelle (+V)
geschaltet ist, daß der andere Schalter (S 2) in Reihe
mit dem Referenzkondensator (C 2) parallel zur gemeinsamen
Spannungsquelle (+V) geschaltet ist, daß eine Steuerein
richtung die Schalter (S 1, S 2) steuert, um ihre jeweili
gen Kondensatoren (C 1, C 2) von der gemeinsamen Spannungs
quelle (+V) gleichzeitig aufzuladen und sie dann in die
jeweiligen Speicherkondensatoren (C 3, C 4) zu entladen,
wobei die Kapazitäten der Speicherkondensatoren (C 3, C 4)
größer sind als die Kapazitäten des Probenkondensators
(C 1) und des Referenzkondensators (C 2) und wobei die den
Speicherkondensatoren (C 3, C 4) zugeführten Rückkopplungs
ströme (I 1, I 2) von den jeweiligen Rückkopplungsschaltun
gen (R 1, R 2) verglichen werden, indem sie die Spannungen
parallel zu den Speicherkondensatoren (C 3, C 4) konstant
halten.
5. Schaltungsanordnung nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die beiden Schalter (S 1, S 2) in Reihe parallel zur
gemeinsamen Spannungsquelle (+V) geschaltet sind, daß
eine Steuerungseinrichtung zur Steuerung der Schalter
(S 1, S 2) vorgesehen ist, um erst den einen Kondensator
(C 1) parallel zur gemeinsamen Spannungsquelle (+V) und
den anderen Kondensator (C 2) parallel zu einem Speicher
kondensator (C 3) zu schalten, wobei eine von der gemein
samen Spannungsquelle (+V) versorgte Rückkopplungsschal
tung (A 4, R 5) vorgesehen ist, um die Spannung über dem
Speicherkondensator (C 3) auf einer festen Spannung propor
tional zu der gemeinsamen Spannungsquelle (+V) zu halten
und um dann den einen Kondensator (C 1) parallel zum Spei
cherkondensator (C 3) zu schalten und den anderen Konden
sator (C 2) vollständig zu entladen.
6. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Taktfrequenz der Schalteranordnung (S 1, S 2) ei
nen solchen Wert hat, daß der Probenkondensator (C 1) und
der Referenzkondensator (C 2) vollständig geladen und
dann im Laufe jedes Schaltzyklus vollständig entladen
werden.
7. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß sie aufweist eine Meßeinrichtung zum Messen der
Spitzenladungsspannung im Probenkondensator (C 1) und im
Referenzkondensator (C 2), eine Vergleichseinrichtung zum
Vergleich der gemessenen Spitzenladungsspannungen mit
einer festen Referenzspannung und eine Steuereinrichtung
zur Steuerung der an die Schalteranordnung (S 1, S 2) an
gelegten Spannungen, um die Spitzenladungsspannungen un
abhängig von Widerständen der Schalteranordnungen (S 1, S 2)
konstant zu halten.
8. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Probenkondensator (C 1) eine Meßplatte umfaßt, die
gegenüber Erde durch einen Faradayschen Käfig, bestehend
aus einer Scheibe oder einem Ring isoliert ist, und daß
die Scheibe oder der Ring über eine Spannungsquelle gerin
ger Impedanz, die von der Meßschaltung isoliert ist, mit
einer Spannung versorgt wird, welche die gleiche Amplitude
und Phase aufweist wie die am Probenkondensator (C 1) an
liegende Spannung.
9. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Taktrate der Schalteranordnung (S 1, S 2) durch ei
nen Keramikresonator stabilisiert ist.
10. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 9,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Schalter (S 1, S 2) einen CMOS-Bilateralschalter
umfassen, der so ausgebildet ist, daß beide Schalter
auf demselben Siliziumchip angeordnet sind, während der
Oszillator und die ihm zugeordneten Schaltungen so aus
gebildet sind, daß bei beiden Schaltern zwischen dem Auf
trennen der alten Verbindung und dem Schließen der neuen Ver
bindung eine merkliche Zeit vergeht, um Leckströme beim
Schaltübergang zu eliminieren.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB8035807 | 1980-11-07 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3143114A1 DE3143114A1 (de) | 1982-07-15 |
DE3143114C2 true DE3143114C2 (de) | 1989-02-02 |
Family
ID=10517158
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19813143114 Granted DE3143114A1 (de) | 1980-11-07 | 1981-10-30 | Verfahren und schaltung zur messung von kapazitaeten |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4459541A (de) |
JP (1) | JPS57131072A (de) |
DE (1) | DE3143114A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19701899C2 (de) * | 1996-01-21 | 2001-01-25 | Ifm Electronic Gmbh | Schaltungsanordnung und Verfahren zur Erfassung der Kapazität bzw. einer Kapazitätsänderung eines kapazitiven Schaltungs- oder Bauelementes |
DE19945330A1 (de) * | 1999-09-22 | 2001-04-26 | Sie Sensorik Ind Elektronik Gm | Verfahren zur Detektion und Auswertung kleiner Kapazitätsänderungen zur Umsetzung in ein Schaltsignal und kapazitiver Sensor hierzu |
DE10158268A1 (de) * | 2001-11-28 | 2003-06-18 | Siemens Ag | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Überprüfen eines Notenergiespeichers |
Families Citing this family (51)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3544187A1 (de) * | 1985-12-13 | 1987-06-19 | Flowtec Ag | Kapazitaetsmessschaltung |
GB8602742D0 (en) * | 1986-02-04 | 1986-03-12 | Mestra Ag | Capacitive sensor circuit |
US4806846A (en) * | 1987-07-06 | 1989-02-21 | Kerber George L | High accuracy direct reading capacitance-to-voltage converter |
US4794320A (en) * | 1987-08-10 | 1988-12-27 | Moore Products Co. | Multi-frequency capacitance sensor |
DE3831593A1 (de) * | 1988-09-15 | 1990-03-22 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung mit einer einer mechanischen verstimmung ausgesetzten differentialkondensator-anordnung |
US5021740A (en) * | 1989-03-07 | 1991-06-04 | The Boeing Company | Method and apparatus for measuring the distance between a body and a capacitance probe |
DE69010568T2 (de) * | 1989-05-19 | 1994-11-24 | Murata Manufacturing Co | Keramisches resonanzartiges Elektrostatikfühlergerät. |
US5042299A (en) * | 1990-07-23 | 1991-08-27 | Iimorrow, Inc. | Capacitive fluid level sensor |
US5339022A (en) * | 1992-09-24 | 1994-08-16 | The Whitaker Corporation | Capacitive cable length indicator |
DE19513022C1 (de) * | 1995-04-06 | 1996-08-14 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung und Verfahren zur Bestimmung von Kapazitätsdifferenzen |
US5802728A (en) * | 1995-08-17 | 1998-09-08 | Watson Industries, Inc. | Liquid level and angle detector |
US5663506A (en) * | 1995-08-21 | 1997-09-02 | Moore Products Co. | Capacitive temperature and pressure transducer |
US6010613A (en) * | 1995-12-08 | 2000-01-04 | Cyto Pulse Sciences, Inc. | Method of treating materials with pulsed electrical fields |
US6194903B1 (en) | 1996-01-21 | 2001-02-27 | I F M Electronic Gmbh | Circuit for acquisition of the capacitance or capacitance change of a capacitive circuit element or component |
DE19744152A1 (de) * | 1997-10-07 | 1999-04-29 | Ifm Electronic Gmbh | Schaltungsanordnung zur Erfassung der Kapazität bzw. einer Kapazitätsänderung eines kapazitiven Schaltungs- oder Bauelementes |
US5786698A (en) * | 1996-03-07 | 1998-07-28 | Ade Corporation | Transducer Bootstrapping apparatus |
US6486680B1 (en) | 2000-06-13 | 2002-11-26 | The North American Manufacturing Company | Edge detector |
US6509745B1 (en) * | 2000-09-25 | 2003-01-21 | Detroit Diesel Corporation | Method and apparatus for measuring liquid dielectric behavior |
US6476621B1 (en) | 2001-06-29 | 2002-11-05 | Ade Corporation | Self-bootstrapping transducer interface |
CA2366030A1 (en) * | 2001-12-20 | 2003-06-20 | Global E Bang Inc. | Profiling system |
US7308013B2 (en) * | 2002-11-05 | 2007-12-11 | Lambda Physik Ag | Excimer or molecular fluorine laser system with precision timing |
US6731129B1 (en) | 2002-12-17 | 2004-05-04 | International Business Machines Corporation | Apparatus for measuring capacitance of a semiconductor device |
JP4447952B2 (ja) * | 2004-04-07 | 2010-04-07 | アルプス電気株式会社 | 電荷検出回路及びそれを用いた指紋センサ |
US7301350B2 (en) * | 2005-06-03 | 2007-11-27 | Synaptics Incorporated | Methods and systems for detecting a capacitance using sigma-delta measurement techniques |
US7777501B2 (en) * | 2005-06-03 | 2010-08-17 | Synaptics Incorporated | Methods and systems for sigma delta capacitance measuring using shared component |
US7288946B2 (en) * | 2005-06-03 | 2007-10-30 | Synaptics Incorporated | Methods and systems for detecting a capacitance using sigma-delta measurement techniques |
US7902842B2 (en) * | 2005-06-03 | 2011-03-08 | Synaptics Incorporated | Methods and systems for switched charge transfer capacitance measuring using shared components |
US7449895B2 (en) * | 2005-06-03 | 2008-11-11 | Synaptics Incorporated | Methods and systems for detecting a capacitance using switched charge transfer techniques |
JP5395429B2 (ja) * | 2005-06-03 | 2014-01-22 | シナプティクス インコーポレイテッド | シグマデルタ測定法を使用してキャパシタンスを検出するための方法およびシステム |
US7868874B2 (en) * | 2005-11-15 | 2011-01-11 | Synaptics Incorporated | Methods and systems for detecting a position-based attribute of an object using digital codes |
US7924029B2 (en) | 2005-12-22 | 2011-04-12 | Synaptics Incorporated | Half-bridge for capacitive sensing |
US8717302B1 (en) * | 2006-06-30 | 2014-05-06 | Cypress Semiconductor Corporation | Apparatus and method for recognizing a gesture on a sensing device |
JP5191769B2 (ja) * | 2008-03-27 | 2013-05-08 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 容量検出装置及び方法 |
US7982471B2 (en) * | 2009-03-16 | 2011-07-19 | Texas Instruments Incorporated | Capacitance measurement system and method |
US8018238B2 (en) | 2009-03-27 | 2011-09-13 | Texas Instruments Incorporated | Embedded sar based active gain capacitance measurement system and method |
US8228076B2 (en) * | 2009-03-27 | 2012-07-24 | Texas Instruments Incorporated | Deconvolution-based capacitive touch detection circuit and method |
DE102009017011A1 (de) * | 2009-04-14 | 2010-10-28 | Balluff Gmbh | Schaltungsanordnung zur Bestimmung einer Messkapazität |
CH702180B1 (de) * | 2009-11-02 | 2015-02-13 | Tecan Trading Ag | Verfahren zum Testen eines Laborgeräts und entsprechendes Laborgerät. |
US8174273B2 (en) * | 2010-01-07 | 2012-05-08 | 3M Innovative Properties Company | Capacitance measurement circuit with dynamic feedback |
US8847899B2 (en) | 2010-09-16 | 2014-09-30 | Synaptics Incorporated | Systems and methods for signaling and interference detection in sensor devices |
DE102010042477B4 (de) * | 2010-10-14 | 2012-11-22 | E.G.O. Elektro-Gerätebau GmbH | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen einer Kapazität und/oder einer Kapazitätsänderung eines kapazitiven Sensorelements |
US8743080B2 (en) | 2011-06-27 | 2014-06-03 | Synaptics Incorporated | System and method for signaling in sensor devices |
US8766949B2 (en) | 2011-12-22 | 2014-07-01 | Synaptics Incorporated | Systems and methods for determining user input using simultaneous transmission from multiple electrodes |
WO2013091909A1 (en) * | 2011-12-23 | 2013-06-27 | Imec | Method and system for measuring capacitance difference between capacitive elements |
US9274643B2 (en) | 2012-03-30 | 2016-03-01 | Synaptics Incorporated | Capacitive charge measurement |
US9063608B2 (en) | 2012-06-14 | 2015-06-23 | Synaptics Incorporated | Systems and methods for sensor devices having a non-commensurate number of transmitter electrodes |
US9240296B2 (en) | 2012-08-06 | 2016-01-19 | Synaptics Incorporated | Keyboard construction having a sensing layer below a chassis layer |
DE102013110243A1 (de) * | 2013-09-17 | 2015-04-02 | Endress + Hauser Flowtec Ag | Verfahren zur Überwachung eines Messgerätes der Automatisierungstechnik |
US9176633B2 (en) | 2014-03-31 | 2015-11-03 | Synaptics Incorporated | Sensor device and method for estimating noise in a capacitive sensing device |
US10025428B2 (en) | 2015-11-19 | 2018-07-17 | Synaptics Incorporated | Method and apparatus for improving capacitive sensing detection |
US10019122B2 (en) | 2016-03-31 | 2018-07-10 | Synaptics Incorporated | Capacitive sensing using non-integer excitation |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US27829A (en) * | 1860-04-10 | Sausage-stuffer | ||
GB939660A (en) * | 1959-11-20 | 1963-10-16 | Carl Gustav Hansson | Apparatus and method for measuring capacitance |
US3165694A (en) * | 1960-08-30 | 1965-01-12 | Adage Inc | Average signal value measuring means using storage means alternately connected to the signal and a d.c. measuring means |
US3886447A (en) * | 1972-05-17 | 1975-05-27 | Iwatsu Electric Co Ltd | Capacitance-voltage converter |
JPS539542B2 (de) * | 1972-09-21 | 1978-04-06 | ||
US4149231A (en) * | 1977-05-04 | 1979-04-10 | Bunker Ramo Corporation | Capacitance-to-voltage transformation circuit |
JPS5537900U (de) * | 1978-09-05 | 1980-03-11 | ||
US4339750A (en) * | 1980-08-20 | 1982-07-13 | Rosemount Inc. | Low power transmitter |
-
1981
- 1981-10-30 DE DE19813143114 patent/DE3143114A1/de active Granted
- 1981-11-02 US US06/317,273 patent/US4459541A/en not_active Expired - Lifetime
- 1981-11-07 JP JP56177854A patent/JPS57131072A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19701899C2 (de) * | 1996-01-21 | 2001-01-25 | Ifm Electronic Gmbh | Schaltungsanordnung und Verfahren zur Erfassung der Kapazität bzw. einer Kapazitätsänderung eines kapazitiven Schaltungs- oder Bauelementes |
DE19945330A1 (de) * | 1999-09-22 | 2001-04-26 | Sie Sensorik Ind Elektronik Gm | Verfahren zur Detektion und Auswertung kleiner Kapazitätsänderungen zur Umsetzung in ein Schaltsignal und kapazitiver Sensor hierzu |
DE19945330C2 (de) * | 1999-09-22 | 2002-10-31 | Sie Sensorik Ind Elektronik Gm | Verfahren zur Detektion und Auswertung kleiner Kapazitätsänderungen zur Umsetzung in ein Schaltsignal und kapazitiver Sensor hierzu |
DE10158268A1 (de) * | 2001-11-28 | 2003-06-18 | Siemens Ag | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Überprüfen eines Notenergiespeichers |
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US4459541A (en) | 1984-07-10 |
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