DE3129324C2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE3129324C2 DE3129324C2 DE3129324A DE3129324A DE3129324C2 DE 3129324 C2 DE3129324 C2 DE 3129324C2 DE 3129324 A DE3129324 A DE 3129324A DE 3129324 A DE3129324 A DE 3129324A DE 3129324 C2 DE3129324 C2 DE 3129324C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- light
- grating
- partial
- relief
- diffraction grating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 10
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 5
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims 3
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 claims 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 3
- NLYAJNPCOHFWQQ-UHFFFAOYSA-N kaolin Chemical compound O.O.O=[Al]O[Si](=O)O[Si](=O)O[Al]=O NLYAJNPCOHFWQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 95
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 9
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 9
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 8
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- NCGICGYLBXGBGN-UHFFFAOYSA-N 3-morpholin-4-yl-1-oxa-3-azonia-2-azanidacyclopent-3-en-5-imine;hydrochloride Chemical compound Cl.[N-]1OC(=N)C=[N+]1N1CCOCC1 NCGICGYLBXGBGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 241000276420 Lophius piscatorius Species 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 101100001669 Emericella variicolor andD gene Proteins 0.000 description 4
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 4
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 4
- 230000011514 reflex Effects 0.000 description 4
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 3
- 101100379080 Emericella variicolor andB gene Proteins 0.000 description 2
- 239000004568 cement Substances 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000004512 die casting Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012549 training Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0477—Prisms, wedges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4209—Photoelectric exposure meters for determining the exposure time in recording or reproducing
- G01J1/4214—Photoelectric exposure meters for determining the exposure time in recording or reproducing specially adapted for view-taking apparatus
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4228—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors arrangements with two or more detectors, e.g. for sensitivity compensation
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/08—Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
- G03B7/099—Arrangement of photoelectric elements in or on the camera
- G03B7/0993—Arrangement of photoelectric elements in or on the camera in the camera
- G03B7/0997—Through the lens [TTL] measuring
- G03B7/09971—Through the lens [TTL] measuring in mirror-reflex cameras
- G03B7/09976—Through the lens [TTL] measuring in mirror-reflex cameras the sensor being mounted in, before, or behind the porro-prism
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Lichtmeßvorrichtung gemäß
dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Eine Lichtmeßvorrichtung dieser Art ist in der US-PS 41 03 153
beschrieben. Bei dieser bekannten Lichtmeßvorrichtung
wird ein einfallendes Strahlenbündel mit einer Strahlteilervorrichtung
aufgeteilt, die für jeden Teilstrahl ein Relief-Beugungsgitter
aufweist. Die Gitterelemente besitzen eine
vorgegebene Krümmung, um den jeweiligen Teilstrahl auf einen
Konzentrationspunkt zu konzentrieren und eine möglichst gute
Ausnutzung des Lichts durch eine angeschlossene Lichtempfangsvorrichtung
zu gewährleisten. Da die einzelnen Teilstrahlen
unterschiedliche Informationen über die Lichtstärke
des Objektes liefern, sind bei dieser bekannten Lichtmeßvorrichtung
in die Teilstrahlen Filter eingeschaltet, die
eine Angleichung der Teillichtströme bewirken.
Die GB-PS 14 61 084 zeigt ebenfalls einen Strahlteiler in
Form eines Beugungsgitters, der in einer Lichtmeßvorrichtung
verwendet wird. Durch entsprechende Auslegung der Beugungsgitter
kann die Beugungsausbeute verändert und somit die
Lichtmenge eines Teillichtstroms festgelegt werden. Die
gegenseitige Angleichung von Teillichtströmen verschiedener
Beugungsgitter ist hierbei nicht beschrieben.
Auch können an aneinandergrenzenden Schichten einer Strahlteilervorrichtung
Verfälschungen des Lichtstrahls, wie z. B.
unerwünschte Reflexionen oder Streuungen auftreten.
Gemäß der US-PS 34 64 337, die einen Strahlteiler mit einem
prismatischen Linienraster zeigt, werden zwei Teilkörper des
Strahlteilers mit einem Klebemittel zusammengefügt, das den
gleichen Brechungsindex wie die zusammenzufügenden Teilkörper
besitzt, um Einflüsse der Trennschicht auf den Lichtstrahl
gering zu halten.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Lichtmeßvorrichtung
gemäß dem Oberbegriff der Patentansprüche 1, 2 und 3
derart weiterzubilden, daß die Lichtmeßvorrichtung bei
kompakter Ausbildung für unterschiedliche Lichtmeßarten des
Objektlichtes ausgebildet ist und jeweils genaue Lichtmeßwerte
liefert.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit den in den kennzeichnenden
Teilen der Patentansprüche 1, 2 und 3 angegebenen
Merkmalen alternativ gelöst.
Hierdurch wird bei den unterschiedlichen Meßbereichen bzw.
Lichtmeßarten, die in der Lichtmeßvorrichtung integriert
sind, bei kompakter Ausbildung der Lichtmeßvorrichtung eine
jeweils genaue Lichtmessung ermöglicht, ohne beispielsweise
eine Nachjustierung in einer nachgeschalteten Verstärkerschaltung
vornehmen zu müssen.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand
der Unteransprüche.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von Ausführungsbeispielen
unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher beschrieben.
Es zeigt:
Fig. 1 den Querschnitt eines Beugungsgitters vom
Relieftyp,
Fig. 2, 3, 4, 5, 6A und 6B erläuternde Darstellungen zu einer Lichtmeßvorrichtung,
die ein Beugungsgitter vom Relieftyp gemäß
dem Stand der Technik verwendet,
Fig. 7A, 7B, 7C eine Aufsicht und Querschnitte in
zwei zueinander senkrechten Richtungen einer
Vorrichtung gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel,
bei der Gitterwinkel
bei zwei Gittern unterschiedlich ausgeführt sind,
Fig. 8, 9 und 10 die Änderung der Lichtmenge am Detektor
in Abhängigkeit vom Gitterwinkel,
Fig. 11A und 11B eine Aufsicht und einen Querschnitt
der Vorrichtung gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel,
bei der zwei Gitter in
derselben Ebene vorgesehen sind,
Fig. 12A und 12B eine Aufsicht und einen Querschnitt
einer Vorrichtung, bei der der Gitterwinkel
in demselben Gitter variiert wird,
Fig. 13A, 13B und 13C eine Aufsicht und Querschnitte
in zwei zueinander senkrechten Richtungen
eines zweiten Ausführungsbeispiels, bei dem
die Reflexionsfaktoren der Beugungsgitterfläche
zweier Gitter unterschiedlich sind,
Fig. 14A, 14B und 14C eine Aufsicht und zwei Querschnitte
einer Vorrichtung, bei der die
Reflexionsfaktoren der Gitterflächen dreier
Gitter unterschiedlich sind,
Fig. 15A und 15B eine Aufsicht und einen Querschnitt
einer Vorrichtung gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel,
bei dem der Anteil der
wirksam reflektierenden
Fläche für zwei Gitter unterschiedlich ausgeführt
ist,
Fig. 16A, 16B und 16C eine Aufsicht und zwei Querschnitte
einer Vorrichtung, bei der die
Verteilung des Anteils der effektiv reflektierenden
Fläche in einem der beiden Gitter
vorgesehen ist,
Fig. 17 einen Querschnitt durch ein Diamant-Schneidewerkzeug,
das zur Herstellung der in
Fig. 16A gezeigten Vorrichtung verwendet
wird, und
Fig. 18A, 18B und 18C eine Aufsicht und zwei Querschnitte
einer Vorrichtung, bei der zwei
Gitter, die sich im Anteil der wirksam
reflektierenden Fläche unterscheiden, in
derselben Ebene vorgesehen sind.
Unter Bezugnahme auf Fig. 1 soll die Beugungscharakteristik
eines Beugungsgitters vom Relieftyp (insbesondere
eines "Blaze"-Beugungsgitters) beschrieben werden. Ein in
der offengelegten japanischen Patentanmeldung 42042/1978
beschriebener Strahlteiler verwendet von den Beugungsgittern
vom Relieftyp insbesondere ein "Blaze"-Beugungsgitter mit
einer Charakteristik, die nahezu die gesamte einfallende
Lichtmenge in eine spezielle Beugungsordnung beugt und die
Beugungsausbeute des in nullter Ordnung in Transmission gebeugten
Lichts, das die Information des Objektbildes trägt,
auf 90% oder höher, die Beugungsausbeute des
primär - bzw. in erster Ordnung gebeugten Lichts zur Lichtmessung auf einige % und
die Beugungsausbeute des in anderer Ordnung gebeugten Lichts
im wesentlichen auf Null bringt.
In Fig. 1 bezeichnet das Bezugszeichen 1 ein Blaze-Beugungsgitter
vom Relieftyp mit einer konkav-konvexen Struktur
mit einer Teilung (Periodenabstand) d und einer konkav-konvexen
Ausbildung auf der Oberfläche des transparenten
Elements mit dem Brechungsindex n.
Das auf das Beugungsgitter einfallende Licht 2 wird gebeugt,
wobei in Transmission in nullter Ordnung gebeugtes
Licht 3, das in derselben Richtung wie das einfallende
Licht hindurchgeht, und in N-ter Ordnung in Transmission gebeugtes
Licht 3 als hindurchgehendes Licht erzeugt werden,
wobei in nullter Ordnung in Reflexion gebeugtes Licht 5, das
in Richtung der Spiegelreflexion
reflektiert wird, und in N-ter Ordnung in Reflexion
gebeugtes Licht 5 als reflektiertes Licht erzeugt
werden. N ist eine willkürliche ganze Zahl.
Fig. 2 zeigt ein Beispiel, bei dem eine Lichtmessung mit dem
Beugungsgitter vom Relieftyp gemäß Fig. 1 ausgeführt
wird, das in einem
optischen Abbildungssystem angeordnet ist.
Dieses optische Abbildungssystem entspricht dem
Fotoobjektiv, dem optischen Suchersystem oder dergl. in
einer Kamera. Das optische Abbildungssystem bildet ein
Objektbild 10 des Objekts 7 mittels Linsen 8 und 9; das
Beugungsgitter 1 ist in dem optischen Weg des optischen Abbildungssystems
angeordnet. Wenn die Lichtmessung unter
Verwendung des in N-ter Ordnung in Transmission gebeugten
Lichts 4 ausgeführt wird, ist zu diesem Zweck ein Lichtdetektor
14 vorhanden; wenn die Lichtmessung unter Verwendung
des in N-ter Ordnung in Reflexion gebeugten Lichts 6 ausgeführt
wird, ist zu diesem Zweck ein Lichtdetektor 16 vorhanden.
Exemplarisch soll der erste Fall beschrieben werden;
damit sich kein Einfluß auf die Wirkung der Abbildungsvorrichtung
ergibt, muß der Lichtdetektor außerhalb des optischen
Wegs des Abbildungslichtstrahls angeordnet sein, und
das gebeugte Licht muß in eine Richtung außerhalb der Linse
9 gebeugt werden.
Der hier verwendete Ausdruck "Abbildungslichtstrahl" bezieht
sich auf einen Lichtstrahl bzw. Lichtstrahlenbündel mit der Information des Objektbildes,
unabhängig davon, ob er sich vor oder hinter der
Objektbildebene befindet. Folglich entspricht bei einer einäugigen
Spiegelreflexkamera dieser Lichtstrahl dem Lichtstrahl,
der die Filmfläche erreicht oder dem durch das
optische Suchersystem durchgehenden Lichtstrahl.
Der Grund, warum bei dem in der offengelegten japanischen
Patentanmeldung 42042/1978 beschriebenen Strahlteiler das
in erster Ordnung gebeugte Licht als das zur Lichtmenge entnommene, abgeteilte
gebeugte Licht verwendet wird, ist - wie ebenfalls
dort beschrieben - daß es mit den gegenwärtig bekannten
Blaze-Beugungsgittern sehr schwierig ist, lediglich die
Beugungsausbeuten zweier gebeugter Lichtstrahlen, deren
Beugungsanordnungen nicht benachbart sind, beispielsweise
lediglich die Beugungsausbeute des in nullter und des in
fünfter Ordnung in Transmission gebeugten Lichts, höher
als die Beugungsausbeuten der anderen gebeugten Lichtstrahlen
zu machen.
Wenn Licht in Richtung des Beugungswinkels R unter Verwendung
des Beugungsgitters mit der Teilung d abgeteilt
werden soll, gilt die folgende Beziehung zwischen der Teilung
d und dem Beugungswinkel R der N-ten Ordnung:
d · sin R = N λ (1)
(λ: Wellenlänge des einfallenden
Lichts).
Wie man leicht aus dieser Gleichung erkennt, sind
der Beugungswinkel R und die Teilung d kleiner,
wenn
die Ordnung N des zur Lichtmessung gebeugten Lichts niedriger
ist.
Der Beugungswinkel R muß jedoch größer als ein bestimmter
Winkel, beispielsweise etwa 30° sein, damit das zur
Lichtmessung gebeugte Licht aus dem Abbildungslichtstrahl
herausgeführt werden kann. Wenn deshalb beispielsweise das
in nullter Ordnung in Transmission gebeugte Licht und
das in erster Ordnung gebeugte Licht als Abbildungslicht bzw. zur Lichtmessung
verwendet werden, wie bei dem in der offengelegten
japanischen Patentanmeldung 42042/1978 beschriebenen Strahlteiler
(N = 1), und wenn das zur Lichtmessung gebeugte Licht
mit einer Wellenlänge λ = 0,55 µm unter einem Beugungswinkel
R = 30° aufzuteilen ist, ist die Teilung d des Beugungsgitters
gemäß Gleichung (1) 1,1 µm; diese
sehr feine Teilung
macht die Anwendung von hochentwickelten Herstellungsverfahren
nötig und führt zu unerwünscht hohen Herstellungskosten.
Andererseits ist
in der offengelegten japanischen Patentanmeldung
10190/1979
ein Verfahren beschrieben, bei dem das in zweiter
und höherer Ordnung in Reflexion gebeugte Licht als abgeteiltes
Licht entnommen wird, und die Erzeugung von in
niedrigerer Ordnung gebeugtem Licht minimiert wird, wodurch
die Anforderungen an das Relief-Beugungsgitter herabgesetzt
werden und ein Strahlteiler erhalten wird, der
leicht herzustellen ist.
Dieser
Strahlteiler soll im folgenden beschrieben
werden.
Damit ein Strahlteiler gemäß der offengelegten japanischen Patentanmeldung
in der Lichtmeßvorrichtung
einer Kamera verwendet werden kann, muß
das bei dem Strahlteiler verwendete Gitter eine Beugungsausbeute
für die nullte Transmissionsordnung von 90% oder
mehr und eine Transmissions- oder Reflexions-Beugungsausbeute
in der N-ten Ordnung von einigen % für den Lichtstrahl zur
Lichtmessung haben.
Es ist ferner notwendig, daß die anderen Ordnungen eine
Beugungsausbeute von nahezu Null haben. Dies hat seine Ursache
darin, daß das gebeugte Licht Geisterbilder oder Streulicht
erzeugt.
Fig. 3 zeigt ein Beispiel des in der offengelegten japanischen Patentanmeldung
10190/1979 beschriebenen Strahlteilers.
Gemäß Fig. 3 ist auf der Oberfläche eines optisch
transparenten Elements 18, das beispielsweise aus Acryl,
Polystyren oder Polycarbonid hergestellt ist und einen
Brechungsindex n₁ hat, ein
Beugungsgitter vom Relieftyp ausgebildet.
Ein Kittmittel 19
(beispielsweise ein Epoxy-Kitt bzw. Klebemittel) ist in einer
ausreichenden Dicke aufgebracht, um das Beugungsgitter vom Relieftyp
einzubetten und hat denselben Brechungsindex wie das transparente
Element 18. Ein optisch transparentes Element
20 ist aus einem dem Kittmittel 19 ähnlichen Material hergestellt
und optisch einstückig mit dem transparenten
Element 18 durch das Kittmittel 19 verbunden. Diese Elemente
bilden zusammen den Strahlteiler 25. Ferner ist ein
aus Siliciumoxid oder Titanoxid gebildeter dielektrischer
Film durch Aufdampfen auf der Oberfläche des Relief-Beugungsgitters
zur Bildung eines Reflexionsfilms 21 mit einem
geeignet gewählten Reflexionsfaktor bzw. Reflexionsgrad aufgebracht.
Im folgenden soll der Fall betrachtet werden, daß der
Strahlteiler 25 in der Nähe der Brennebene des Suchers
der einäugigen Spiegelreflexkamera angeordnet ist und ein
Lichtstrahl 22 von einem Objekt auf ihn auftrifft. Ein Teil
des auffallenden Lichts 22 wird durch den Reflexionsfilm
21 auf der Oberfläche des Beugungsgitters vom Relieftyp
reflektiert; der verbleibende einfallende Lichtstrahl 23
geht hindurch. Der von dem Reflexionsfilm 21 reflektierte
Lichtstrahl erhält durch die konkav-konvexe Struktur des
Reflexionsfilms 21 eine Phasendifferenz, so daß ein reflektierter
gebeugter Lichtstrahl 24 erzeugt wird. Für die
Beugungsausbeute η R (N) des in N-ter Ordnung in Reflexion gebeugten
Lichts gilt die folgende Gleichung:
Hierbei ist R der Reflexionsfaktor des Reflexionsfilms 21.
Die obige Gleichung gilt angenähert für den Fall, daß die
Größe der Konkav-Konvexdifferenz Δ des Beugungsgitters klein
verglichen mit der Teilung d ist.
Wenn in fünfter Ordnung in Reflexion gebeugtes Licht als
Lichtstrahl zur Lichtmessung verwendet wird, wird die
Größe der Konkav-Konvexdifferenz Δ so bestimmt, daß für die
Phasendifferenz β = 5 π gilt, und entsprechend die Beugungsgitterfläche
ausgebildet. Betrachtet man das von dem
Beugungsgitter reflektierte Licht, so tritt lediglich das
in fünfter Ordnung in Reflexion gebeugte Licht 24 auf; in
anderen Ordnungen in Reflexion gebeugtes Licht existiert
nicht. Dies ist in Fig. 4 gezeigt. Die Beugungsausbeute
des in fünfter Ordnung in Reflexion gebeugten Lichts 24
ist gemäß Gleichung (2) gegeben durch η R(5) = R; durch
geeignete Bestimmung des Reflexionsfaktors des Reflexionsfilms
20 kann ein Lichtstrahl zur Messung mit einer gewünschten
Intensität erhalten werden. Dieser Lichtstrahl
zur Messung ist in fünfter Ordnung gebeugtes Licht; deshalb
kann, verglichen mit dem Fall, daß in erster Ordnung gebeugtes
Licht verwendet wird, das in dem Strahlteiler verwendete
Beugungsgitter ein Beugungsgitter mit einer
Teilung sein, die fünfmal so groß wie üblich ist.
Als nächstes soll das durchgehende Licht betrachtet werden.
Gemäß Fig. 3 trifft der Lichtstrahl 22 auf den Strahlteiler
25 auf; der Anteil (1 - R) des Lichts, das heißt das auftreffende
Licht außer dem in Reflexion gebeugten Licht,
geht durch den Strahlteiler 25 hindurch, wenn keine Reflexion
an anderen Flächen als dem Reflexionsfilm 21 oder
kein Lichtverlust in dem Medium auftritt. In dem Strahlteiler
ist der Brechungsindex des transparenten Elements
18 gleich dem des Kittmittels 19; es tritt keine Phasendifferenz
in dem hindurchgehenden Licht
auf; somit wird kein
Licht außer dem Licht nullter Ordnung erzeugt; folglich ist
nahezu das gesamte hindurchgehende Licht in nullter Ordnung
in Transmission gebeugtes Licht mit der Bildinformation.
Eine vergrößerte Ansicht eines Teils des Beugungsgitters
vom Relieftyp gemäß Fig. 3 ist in Fig. 5 gezeigt.
Wie hieraus ersichtlich, erhält man bei einem Strahlteiler,
der von einem auf einem transparenten Körper vorgesehenen
Beugungsgitter gebildet ist und der eine Vielzahl von
teilreflektierenden geneigten und periodisch angeordneten
Flächen aufweist, lediglich in hoher Ordnung in Reflexion
gebeugtes Licht, das zur Lichtmessung nutzbar ist, und
in nullter Ordnung in Transmission gebeugtes Licht, das als
Abbildungslichtstrahl nutzbar ist; nicht nutzbares, gebeugtes
weiteres Licht wird nicht erzeugt. Das Verhältnis der entsprechenden
Beugungsausbeuten der beiden gebeugten Lichtstrahlen
kann durch geeignetes Einstellen des Reflexionsfaktors
des Reflexionsfilms 21 gesteuert werden.
Dies ist im einzelnen in der offengelegten japanischen Patentanmeldung
10190/1979 beschrieben.
Dieser bekannte Strahlteiler ist so ausgebildet, daß die Beugungsgitterfläche
eines Beugungsgitters als eine Reflexionsfläche
ausgebildet ist und daß in höherer
Ordnung in Reflexion gebeugtes Licht aufgrund dieser Reflexionsfläche
erhalten werden kann; für das durch die Reflexionsfläche
durchgehende Licht hat dieser Strahlteiler
eine Einrichtung, die die Phasendifferenz des hindurchgehenden
Lichts steuert, wodurch außer dem gewünschten Licht kein störendes Licht
erzeugt wird und ein großer Aufteilwinkel
sogar bei Verwendung eines Beugungsgitters einer
relativ großen Teilung möglich ist. Dies erlaubt eine relativ
einfache Serienherstellung des Strahlteilers.
Im folgenden soll der Fall beschrieben werden, daß ein mit
dem beschriebenen Beugungsgitter vom Relieftyp
versehener Strahlteiler in der Lichtmeßvorrichtung einer
einäugigen Spiegelreflexkamera oder dergl. verwendet wird.
Die Fig. 6A und 6B zeigen einen Strahlteiler, der zum
Herausleiten des Lichts gut geeignet ist. Fig. 6A zeigt
eine Aufsicht auf einen derartigen Strahlteiler und Fig. 6B
einen Querschnitt. Der Strahlteiler hat eine hohe Brauchbarkeit
für eine Lichtmeßvorrichtung. Bei diesem Strahlteiler
ist das in Reflexion gebeugte Licht, das zur Lichtmessung
abgespalten wird, auf eine Lichtempfangsvorrichtung in Form eines Lichtdetektors 34 gerichtet,
wobei es an der inneren Oberfläche des transparenten Körpers
27 total reflektiert wird. Folglich ist der Beugungswinkel
des in Reflexion gebeugten Lichts durch die Bedingung
für Totalreflexion bestimmt.
Bei dem Totalreflexion ausnutzenden Strahlteiler sind das
Licht-Durchlaßelement und das Beugungsgitter einstückig
ausgeführt; deshalb kann dieser Strahlteiler sehr vorteilhaft
in einer optischen Einrichtung angeordnet werden.
Wie man aus Fig. 6A erkennt, sind die Gitterstriche 39 gekrümmt,
damit das von irgendeinem Punkt abgespaltene
Licht mit hoher Ausbeute in den Detektor 34 eintritt. Folglich
kann der Strahlteiler gemäß Fig. 6A, der in dem Abbildungslichtstrahl
einer Kamera angeordnet ist, mit einer
Licht-Konzentrationswirkung versehen werden, so daß er einen
Teil des abgespaltenen Abbildungslichtstrahls auf den
Lichtdetektor richtet und ferner das Licht wirksam auf den
Lichtdetektor mit einer kleinen Lichtempfangselementfläche,
wie dies beispielsweise bei einem Silicium-Detektor der
Fall ist, konzentriert. Wenn, wie in Fig. 6B gezeigt ist, die
Gitterzeilen in Form von konzentrischen Kreisen, deren
Mittelpunkt im Lichtdetektor liegt, ausgebildet sind, kann
das gebeugte Licht auf den Lichtdetektor fokussiert werden,
um eine wirksame Nutzung des Meßlichtstrahls zu
ermöglichen. Ferner kann die Menge des für den Lichtdetektor
abgeteilten Lichts durch den Reflexionsfaktor bzw. Reflexionsgrad des
Reflexionsfilms auf dem Beugungsgitter vom Relieftyp gesteuert
werden; wenn dieser Reflexionsfaktor von einer
Stelle zur anderen unterschiedlich gemacht wird, kann die Lichtverteilung
für die Messung gesteuert werden. Wenn ferner bei einem Strahlteiler
unterschiedliche Beugungsgitterstrukturen
entsprechend der aufzuteilenden Fläche vorhanden sind, und
Lichtdetektoren so angeordnet sind, daß sie das entsprechend
gebeugte Licht empfangen, kann jeder einzelne Bereich durch
jeweils einen Lichtdetektor individuell gemessen werden.
Bei der Lichtmessung einer einäugigen Spiegelreflexkamera
sind unterschiedliche Lichtmeßsysteme, wie Durchschnittslichtmessung,
Teillichtmessung und Spotlichtmessung
in Abhängigkeit von der Größe des Meßbereichs relativ zu
dem Objektgesichtsfeld möglich.
Die vorliegende Vorrichtung realisiert zwei oder
mehr dieser Lichtmeßsysteme mittels eines einzigen Strahlteilers;
darüber hinaus schafft sie einen Strahlteiler,
der es möglich macht, die Ausgangspegel der Lichtmeßsysteme,
d. h. die gesamten auf die Lichtdetektoren auftreffenden
Lichtmengen dadurch miteinander übereinstimmend zu machen,
daß sich die Charakteristiken der Relief-Beugungsgitter
voneinander unterscheiden. Die Tatsache, daß die
Ausgangspegel der Lichtmeßsysteme untereinander übereinstimmen,
bedeutet, daß die Lichtempfangskoeffizienten von
Kameras (definiert als der Logarithmus der Basis 2 des
Verhältnisses der Menge des gemessenen Lichts bezogen
auf die Beleuchtungsstärke der Filmfläche) gleich sind; dies bedeutet,
daß selbst wenn das Lichtmeßsystem ausgetauscht
wird, keine Einstellung der Meßschaltung entsprechend dem
Lichtmeß-Ausgangspegel notwendig ist.
Die Vorrichtung gemäß den Ausführungsbeispielen
macht die Lichtmessung durch verschiedene
Lichtmeßsysteme ohne Austauschen des Strahlteilers
durch einen Strahlteiler mit einer Vielzahl von unterschiedlichen
Beugungsgittern möglich;
ferner macht die Vorrichtung die Gitterbedingungen der
Beugungsgitter voneinander unterschiedlich, damit die
Pegel der Lichtmenge der aufgeteilten Lichtstrahlen unabhängig
von der Fläche einander gleich sind, wodurch die
Notwendigkeit, den Detektor auf jedes Lichtmeßsystem einzustellen,
entfällt.
Bei dem ersten Ausführungsbeispiel ist die
Verteilung des Gitterwinkels des Beugungsgitters unterschiedlich
ausgeführt, so daß hierdurch die Pegel der
Lichtmenge der abgeteilten Lichtstrahlen eingestellt werden.
Fig. 7A zeigt eine Aufsicht auf die Vorrichtung gemäß einem
ersten Ausführungsbeispiel und das gesamte Lichtmeß-Gesichtsfeld
103. Innerhalb des Lichtmeß-Gesichtsfelds
103 sind zwei Zonen A und B vorgesehen, wobei mindestens
ein Abschnitt hiervon dem anderen überlagert ist;
die kreisförmige Zone A entspricht der Teillichtmessung und
die rechteckförmige Zone B der Durchschnittslichtmessung.
Die Gitter der Zonen A und B besitzen eine Lichtkonzentrationsfunktion;
die Gitterstriche haben die Form
konzentrischer Kreise, deren Mittelpunkt im Lichtdetektor
liegt, wodurch der Lichtmeßstrahl wirksam genutzt werden
kann. Das in die Zone A eintretende Licht wird gebeugt,
und zu dem Lichtdetektor D A geführt; das in die Zone B
eintretende Licht wird gebeugt und zu dem Lichtdetektor
D B geführt.
Fig. 7B zeigt einen Querschnitt bei der Linie X-X′ in
Fig. 7A und Fig. 7C einen Querschnitt bei der Linie
Y-Y′ in Fig. 7A. In den Fig. 7B und 7C bezeichnet das Bezugszeichen
104 einen Reflexionsfilm auf der Relief-Beugungsgitterfläche
in Zone B und das Bezugszeichen 105 einen
Reflexionsfilm auf der Relief-Beugungsgitterfläche in
Zone A; die Bezugszeichen 106, 108 und 110 bezeichnen optisch
transparente Körper, 107 und 109 optisch transparente
Kittschichten bzw. Klebemittelschichten, das Bezugszeichen 111 das einfallende
Licht und D B eine Lichtempfangsvorrichtung in Form eines Lichtdetektors, der in der Nähe des
Mittelpunkts der Krümmung des Gitters in der Zone B angeordnet
ist. D A bezeichnet einen Lichtdetektor, der in der
Nähe des Mittelpunkt der Krümmung des Gitters in der
Zone A angeordnet ist. Das vorliegende Ausführungsbeispiel
bietet einen Strahlteiler, der Relief-Beugungsgitter
mit mindestens zwei Lichtkonzentrationspunkten aufweist
und der zwei oder mehr Lichtmeßsysteme mittels eines
einzigen Strahlteilers realisiert und bei dem die Ausgangspegel
der Lichtmeßsysteme dadurch miteinander übereinstimmend
gemacht werden,
daß die Form, insbesondere der Gitterwinkel des Relief-Beugungsgitters
geändert wird.
Nimmt man an, daß die Gitterwinkel der Zonen A und B α A
bzw. α B sind, so besteht gemäß den Fig. 7A und 7B die
Relation α A < α B für die entsprechenden Zonen. Die Menge
des in den Zonen A und B gemessenen Lichts kann dadurch
gleichgemacht werden, daß der Gitterwinkel entsprechend
der geringeren Größe des Lichtmeßgebiets erhöht wird. Der
Gitterwinkel ist der Winkel, der durch die tatsächlich reflektierende
Fläche, die das abgeteilte Licht erzeugt, mit
der Beugungsgitterfläche, in der das Beugungsgitter liegt,
in einem im wesentlichen senkrechten Querschnitt zu den
Gitterstrichen gebildet wird.
In Verbindung mit Fig. 8 soll
der Grund beschrieben werden, warum die Meßlichtmenge erhöht
wird, wenn der Gitterwinkel vergrößert wird. Fig. 8 zeigt
den Zustand, daß das Licht mit einem Einfallswinkel
R A eintritt, und der Strahlteiler mit einem Relief-Beugungsgitter
einen Gitterwinkel α hat. Nimmt man an, daß
der Eintrittswinkel im Strahlteiler R A′ und der Brechungsindex
des Strahlteilers n ist, so breitet sich das Licht
nach der Reflexion an dem Reflexionsfilm 120 mit einem
Winkel von etwa 90° - (2α + α A′) in bezug auf die obere
und untere Grenzfläche des Strahlteilers aus. Im folgenden
soll der Fall betrachtet werden, daß α 45°.
Nimmt man an, daß der Austrittswinkel des aus der End- oder Stirnfläche
123 auf der Lichtdetektorseite
austretenden reflektierten Lichts R d ist, so besteht
für R d die folgende Beziehung:
R d = sin⁻¹[n sin{90° - (2 α + R A′)}]
= sin⁻¹{n cos(2 α + R A′)} (5)
= sin⁻¹{n cos(2 α + R A′)} (5)
Wenn das Licht in den Strahlteiler senkrecht eintritt,
d. h. wenn R A = R A′ = 0°, so erhält man aus Gleichung
(5)
R d = sin⁻¹{n cos(2 α)} (6)
Wie man aus den Gleichungen (5) und (6) sieht, wird
der Austrittswinkel R d kleiner, wenn der Gitterwinkel
α des Relief-Beugungsgitters größer wird. Wenn
beispielsweise n = 1,49, so folgt aus Gleichung (6), daß
der Austrittswinkel
R d 35,6° ist, wenn der Gitterwinkel α 33,5° ist und daß der Austrittswinkel R d 21,1° ist, wenn der Gitterwinkel α 38°
ist.
Wenn der Gitterwinkel α größer als 45° ist, müssen die
Gleichungen (5) und (6) folgendermaßen umgeschrieben
werden:
R d = sin⁻¹[n sin{(2 α + R A′) - 90°}]
= sin⁻¹{n cos(2 α + R A′)} (7)
= sin⁻¹{n cos(2 α + R A′)} (7)
insbesondere wenn R A = R A′ = 0°
R d = sin⁻¹{n cos 2 α} (8)
Auch in diesem Falle kann der Austrittswinkel R d passend
durch Einstellen des Gitterwinkels α gesteuert werden.
Ferner besteht eine Korrelation zwischen dem Austrittswinkel
R d und der in den Lichtdetektor eintretenden
Lichtmenge; dies soll unter Bezugnahme auf Fig. 9 beschrieben
werden.
Fig. 9 zeigt einen Vergleich zwischen den in den Lichtdetektor
eintretenden Lichtmengen, wenn der Austrittswinkel
R d zwei unterschiedliche Werte annimmt.
Die Pfeile mit durchgehenden Linien gelten für den Fall,
daß der Austrittswinkel R d groß ist, die gestrichelten
Pfeile für den Fall, daß der Austrittswinkel klein ist.
Die mit durchgehenden und gestrichelten Linien dargestellten
Lichtstrahlen sind mit a und b sowie einer hinzugefügten
Ziffer bezeichnet. Die in Fig. 9 gezeigten Lichtstrahlen
geben den Verlauf des am oberen und unteren Ende aus
der Endfläche 126 des Strahlteilers austretenden Lichts
an. Folglich ist das aus dem Strahlteiler austretende
Licht das Licht zwischen den Lichtstrahlen a-1 und a-2
sowie das Licht zwischen den Strahlen a-3 und a-4, wenn
der Austrittswinkel R d groß ist, und das Licht zwischen
den Lichtstrahlen b-1 und b-2 sowie das Licht zwischen
den Lichtstrahlen b-3 und b-4, wenn der Austrittswinkel
R d klein ist. Wenn das Austrittsende des Strahlteilers
und der Detektor 125 voneinander beabstandet sind,
ist, wie man aus Fig. 12 bzw. 9 erkennt, die in den Lichtdetektor
125 eintretende Lichtmenge kleiner, wenn der Austrittswinkel
R d groß ist, als in dem Fall, daß der Austrittswinkel R d
klein ist. Dies bedeutet, daß
die in den Lichtdetektor 125 eintretende
Lichtmenge größer ist, wenn der Austrittswinkel R d kleiner ist und daß die Empfindlichkeit für die
Lichtmeßfläche in Abhängigkeit des Gitterwinkels variiert.
Aus den Gleichungen (5) und (6) sieht man, daß der Austrittswinkel
R d kleiner und die in den Lichtdetektor
125 eintretende Lichtmenge größer werden, wenn der Gitterwinkel
α größer wird. Fig. 10 zeigt die Funktion der Meßlichtmenge
entsprechend der empirisch erhaltenen Variation
von α, wenn die in den Lichtdetektor von einer Einheits-Lichtmeßfläche
eintretende Meßlichtmenge 100 bei einem
Gitterwinkel von 33° ist.
Somit ist die Menge des gemessenen Lichts I in der Einheits-Lichtmeßfläche
eine Funktion des Gitterwinkels α in der
Lichtmeßfläche; deshalb kann I allgemein ausgedrückt werden
als I (α); nimmt man an, daß die Gesamtmenge des Meßlichts
in den Zonen A und B, I A bzw. I B sind, so gilt
I A = ∫ SAI(α A)dS
I B = ∫ SBI(α B)dS
I B = ∫ SBI(α B)dS
wobei S A und S B die Lichtmeßflächen in den Zonen A bzw. B
sind. Wenn sich folglich der Gitterwinkel α unterscheidet,
können die Gesamtmengen des Meßlichts, d. h. die Licht-Empfangskoeffizienten
in den entsprechenden Zonen dadurch
übereinstimmend gemacht werden, daß die Werte von α A und
α B so eingestellt werden, daß I A = I B, selbst wenn sich die
Flächen der entsprechenden Zonen voneinander unterscheiden.
Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel werden diese Eigenschaften
verwendet und der Gitterwinkel für jedes Relief-Beugungsgitter
in den entsprechenden Zonen, deren
Flächen sich voneinander unterscheiden, variiert, wodurch
es möglich wird, daß die Mengen des gemessenen Lichts der
entsprechenden Lichtmeßsysteme einander gleich werden.
Gleichzeitig kann in jeder Zone α konstant gehalten werden
oder eine vorgegebene Verteilung entsprechend dem Lichtmeßsystem
vorgesehen werden; der Reflexionsfaktor des auf
der Gitterfläche vorgesehenen Reflexionsfilms kann konstant
sein. Aus diesem Grund wird die in Fig. 7A gezeigte Teillichtmessung
der Zone A und die Durchschnittslichtmessung
der Zone B auf einem einzigen Strahlteiler möglich; zudem sind die
Mengen des gemessenen Lichts einander gleich. Bei dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel sind die Gitterwinkel, d. h.
α A und α B in den entsprechenden Zonen konstant.
Es ist nicht unbedingt notwendig, daß,
wie in den Fig. 7B und 7C gezeigt, die Ebenen, in
denen die den entsprechenden Lichtmeßgebieten entsprechenden
Beugungsgitter vorhanden sind, sich voneinander unterscheiden;
selbst wenn die Beugungsgitter in derselben Ebene
vorhanden sind, ist es möglich, die Lichtmeßmengen der entsprechenden
Lichtmeßgebiete einander anzugleichen.
Fig. 11 zeigt eine Vorrichtung mit zwei Beugungsgittern
vom Relieftyp in derselben Ebene. Die Fig. 11A und 11B sind
Querschnitte durch eine Vorrichtung, bei der zwei Arten
von Lichtmeßsystemen, d. h. Durchschnittslichtmessung
(Integrallichtmessung) und Teillichtmessung mittels eines
einzigen Strahlteilers realisiert sind. Diese Vorrichtung
unterscheidet sich von der Vorrichtung in Fig. 7 darin,
daß die Beugungsgitter, die zwei Arten von Lichtmeßsystemen
ermöglichen, in derselben Ebene liegen. Fig. 11B
ist ein Querschnitt bei der Linie X-X′ in Fig. 11A.
Das Bezugszeichen 131 bezeichnet ein Lichtmeß-Gesichtsfeld,
132 einen auf dem Relief-Beugungsgitter in Zone B
vorgesehenen Reflexionsfilm, 133 einen auf dem Relief-Beugungsgitter
in Zone A vorgesehenen Reflexionsfilm,
134 das einfallende Licht, 135 und 137 optisch transparente
Körper und 136 eine transparente Klebeschicht
(Kittmittelschicht, Kittschicht). Die Zone B besteht aus
zwei Teilzonen B₁ und B₂. Die Zone A dient zur Teillichtmessung
und die Zone B zur Durchschnittslichtmessung;
wenn die Gitterwinkel der Zone A, B₁ und B₂ α A, α B 1,
α B 2 sind, besteht die Beziehung α A < α B 1 < a B 2; die
Meßlichtmenge der Durchschnittslichtmessung in Zone B ist
gleich der Meßlichtmenge der Teillichtmessung in Zone A;
die Durchschnittslichtmessung in Zone B ist eine Lichtmessung
mit Gewichtung des Mittelbereichs. D A und D B sind
Lichtdetektoren bzw. Lichtempfangselemente, auf die die in Reflexion gebeugten
Lichtstrahlen der Zonen A bzw. B auftreffen.
Fig. 12 zeigt eine Vorrichtung, bei der der Gitterwinkel
kontinuierlich variiert wird. Fig. 12A zeigt das gesamte
Lichtmeß-Gesichtsfeld, Fig. 12B einen Querschnitt durch
den Strahlteiler bei der Linie X-X′ in Fig. 12A. In den
Fig. 12A und 12B entspricht die Zone B der Durchschnittslichtmessung
und die Zone A der Teillichtmessung. 138
bezeichnet das Lichtmeß-Gesichtsfeld, 139 einen auf dem
Beugungsgitter vom Relieftyp in Zone B vorgesehenen Reflexionsfilm,
140 einen auf dem Beugungsgitter vom Relieftyp
in Zone A vorgesehenen Reflexionsfilm, 141 das einfallende
Licht, 142, 144 und 146 transparente Körper, 143 und
145 transparente Kittschichten und D A und D B Lichtdetektoren,
die das von den Beugungsgittern in Zone A bzw. B auf
sie gerichtete Licht empfangen. Gemäß Fig. 12B variiert der
Gitterwinkel des Relief-Beugungsgitters in Zone B von einer
Teilung zur nächsten. In der Figur ist α₁ < α₂ . . . < α N
in Zone B; die Lichtmeß-Empfindlichkeit ist
so eingestellt, daß sie zu den Enden des Lichtmeß-Gesichtsfeldes
hin abnimmt. Die Zone A hat einen vorgegebenen
Gitterwinkel α A; für die beiden Zonen gilt:
I A = I B. Der Strahlteiler gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
kann durch ein Verfahren erhalten werden, bei dem ein Kunststoffmaterial
mit einer Matrix geformt und so ein
Relief-Beugungsgitter hergestellt wird.
In diesem Fall kann eine Metallform, die die Matrix darstellt,
durch mechanisches Schneiden mit einem Diamant-Schneidewerkzeug
hergestellt werden; während des Schneidevorgangs
wird der Neigungswinkel des Schneidewerkzeugs bezüglich
des Rohstücks für die Metallform für jede Teilung
geändert.
Wie vorstehend ausgeführt, zeichnet sich die Vorrichtung
gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel dadurch aus,
daß bei einem Strahlteiler, der mindestens zwei Beugungsgitter
aufweist, wenn eine Lichtmessung mit mindestens
zwei Arten von Lichtmeßbereichen ausgeführt wird, die Form,
insbesondere die Verteilung, des Gitterwinkels der Beugungsgitter
unterschiedlich zwischen den Beugungsgittern ausgeführt
ist, um hierdurch die Meßlichtmengen der Lichtmeßbereiche
einander anzugleichen. Dies wiederum
ermöglicht es, zwei oder mehr Lichtmeßsysteme
mittels eines einzigen Strahlteilers zu realisieren
und darüber hinaus die Lichtempfangskoeffizienten der
Lichtmeßsysteme einander anzugleichen. Somit entfällt die
Einstellung der Lichtmeß-Ausgangspegel für jedes Lichtmeßsystem.
Hierbei ist mit dem Ausdruck, daß die Verteilung
des Gitterwinkels unterschiedlich ist, entweder ein Fall
gemeint, in dem α A ungleich a B ist, wie bei der Vorrichtung
gemäß Fig. 7B oder 7C, oder ein Fall, in dem der
Grad der Änderung von α in der Vorrichtung wie in Fig. 12
unterschiedlich ist.
Bei der Vorrichtung gemäß dem zweiten Ausführungsbeispiel
sind die Reflexionsfaktoren bzw. Reflexionsgrade der teilreflektierenden
geneigten Oberflächen unterschiedlich für jedes
Gitter entsprechend den Lichtmeßsystemen ausgeführt, um
hierdurch den Pegel der Ausgangslichtmenge jedes Gitters
einzustellen.
Fig. 13 zeigt ein zweites Ausführungsbeispiel,
bei dem zwei Licht-Konzentrationpunkte vorhanden
sind und ein Lichtdetektor an jedem der Konzentrationspunkte
angeordnet ist. Fig. 13A zeigt das Gesamt-Lichtmeß-Gesichtsfeld 203.
Zwei Zonen, nämlich die Zone A und die Zone B sind so
ausgebildet, daß sie den Mittelpunkt des Lichtmeß-Gesichtsfelds
als Mittelpunkt haben, so daß das Licht, das auf die kreisförmige
Zone A aufgetroffen ist, gebeugt und zu einem Lichtdetektor
D A geführt wird, und das Licht, das auf die
rechteckige Zone B aufgetroffen ist, gebeugt und zu einem
Lichtdetektor D B geführt wird. Die Gitter in den Zonen A
und B besitzen eine Lichtkonzentrationswirkung,
wie dies in Fig. 6 gezeigt ist; die Gitterlinien sind in
Form konzentrischer Kreise ausgebildet, deren Mittelpunkt
im Lichtdetektor liegt, um zu ermöglichen, daß der Meßlichtstrahl
wirksam genutzt wird. Fig. 13B ist ein Querschnitt
bei der Linie X-X′ in Fig. 13A und Fig. 13C ein Querschnitt
bei der Linie Y-Y′ in Fig. 13A. In Fig. 13B bezeichnet 204
einen Reflexionsfilm auf der Oberfläche des Relief-Beugungsgitters
in Zone B, 205 einen Reflexionsfilm auf der
Oberfläche des Relief-Beugungsgitters in Zone A, 206 und
208 optisch transparente Körper, 207 eine optisch transparente
Kitt- bzw. Klebemittelschicht, 209 das einfallende Licht und D B einen
Lichtdetektor, der am Lichtkonzentrationspunkt des Gitters
in Zone B angeordnet ist. In Fig. 13C bezeichnet das Bezugszeichen
205 einen Reflexionsfilm auf der Oberfläche
des Relief-Beugungsgitters in Zone A, 204 einen Reflexionsfilm
auf der Oberfläche des Relief-Beugungsgitters
in Zone B, 206 und 208 optisch transparente Körper,
207 eine optisch transparente Kittschicht, 210 das einfallende
Licht und D A einen Lichtdetektor, der am Lichtkonzentrationspunkt
des Gitters in Zone A angeordnet ist.
Wie man in Fig. 13B und 13C sehen kann, sind die Gitterflächen
in Zone A und Zone B doppelt vorhanden und liegen nicht in derselben
Ebene. Wie man in Fig. 13A sehen kann,
ist die Fläche der Zone A kleiner als die Fläche der Zone
B, und die Zone B schließt die Zone A ein. Deshalb
hätte die Zone A den Reflexionsfilm mit der Zone B gemeinsam,
und beide Zonen hätten denselben Reflexionsfaktor, wenn die
Zonen in derselben Ebene vorgesehen wären. In
diesem Fall wäre es unmöglich, die Gesamtmengen der auf
die Lichtdetektoren entsprechenden Zonen auftreffenden
Lichtmengen dadurch gleichzumachen, daß lediglich der
Reflexionsfaktor des Reflexionsfilms gesteuert wird. Damit
die Gesamtmengen des auf die Lichtdetektoren auftreffenden
Lichts der entsprechenden Lichtmeßsysteme durch Einstellen
des Reflexionsfaktors des Reflexionsfilms gleichgemacht
werden können, ist es notwendig, daß die Gitteroberflächen
nicht in derselben Ebene, sondern in unterschiedlichen
Ebenen liegen.
In Fig. 13A sei R A der Reflexionsfaktor des Reflexionsfilms
im Beugungsgitter vom Relieftyp in Zone A und R B der Reflexionsfaktor
des Reflexionsfilms auf dem Beugungsgitter
vom Relieftyp in Zone B. Dann kann die Bedingung, daß
die Gesamtlichtmengen des auf die Lichtdetektoren von den
Gittern auftreffenden Lichts in den entsprechenden Zonen
gleich sind, wie folgt ausgedrückt werden:
∫η (R A)dS = ∫η (R B)dS (9)
Fläche der Zone A Fläche der Zone B
In Gleichung 9 steht S für die Fläche und η für die Wahrscheinlichkeit
(%), mit der das einfallende Licht auf den
Lichtdetektor auftrifft und die allgemein proportional
zum Reflexionsfaktor erhöht wird. Da das Gebiet bzw. die Fläche
der Zone B größer als die Fläche der Zone A ist, kann die
Gleichung 9 dadurch erfüllt werden, daß der Reflexionsfaktor
R A größer als der Reflexionsfaktor R B ist. Damit
können die abgeteilten Lichtmengen, das heißt die zu
messenden Gesamtlichtmengen durch Erhöhen des Reflexionsfaktors
des Reflexionsfilms entsprechend der kleineren Fläche
gleichgemacht werden. In Fig. 13A wird die Zone A zur
Teillichtmessung und die Zone B zur Durchschnittslichtmessung
verwendet; wie vorstehend
beschrieben, kann der Reflexionsfilm in den entsprechenden
Zonen entweder gleichförmig sein oder die Zone B
kann in verschiedene Gebiete unterteilt werden,
in denen Reflexionsfilme mit unterschiedlichen Reflexionsfaktoren
vorgesehen sind, wobei die Gesamtmenge des Meßlichts
in Zone B und die Gesamtmenge des Meßlichts in
Zone A einander gleichgemacht werden.
Die Fig. 14A, 14B und 14C zeigen ein weiteres Ausführungsbeispiel.
Drei Zonen A, B und C sind in
dem gesamten Lichtmeß-Gesichtsfeld 215 vorhanden. Die Reflexionsfaktoren
der entsprechenden Zonen sind so bemessen,
daß die Gesamt-Meßlichtmessungen der entsprechenden Zonen
gleich sind. Nimmt man an, daß die Reflexionsfaktoren der
Reflexionsfilme in den Zonen A, B und C R A, RB und R C sind,
so erfüllen die Reflexionsfaktoren die Beziehung R A < R B < R C
entsprechend der Beziehung der Lichtmeßflächen. Die Reflexionsfaktoren
werden um das Inverse der Größenverhältnisse
der Flächen erhöht, so daß die Gesamtmengen des Meßlichts
in den entsprechenden Zonen gleich sind. Die Zone A
dient zur Spot-Lichtmessung, die Zone B zur Teillichtmessung
und die Zone C zur Durchschnittslichtmessung; wie in
Fig. 14A gezeigt ist, sind die Gitter in den entsprechenden
Zonen in Form konzentrischer Kreise ausgebildet,
deren Mittelpunkt bei Lichtdetektoren D A, DB bzw. D C liegen.
Fig. 14B zeigt einen Querschnitt bei der Linie X-X′ in
Fig. 14A und 14C einen Querschnitt bei der Linie Y-Y′ in
Fig. 14A. 216 bezeichnet einen Reflexionsfilm auf dem
Relief-Beugungsgitter in Zone A, 217 einen Reflexionsfilm
auf dem Relief-Beugungsgitter in Zone B und 218 einen
Reflexionsfilm auf dem Relief-Beugungsgitter in Zone C.
220, 222 und 224 bezeichnen optisch transparente Körper
und 221 sowie 223 optisch transparente Kittschichten. 219
und 228 bezeichnen das einfallende Licht. Nimmt man beispielsweise
an, daß die Lichtmeßfläche der Zone für Durchschnittslichtmessung
28 mm × 16 mm ist, die der Zone für
Teillichtmessung 8 mm × 12 mm und die der Zone für Spotlichtmessung
den Durchmesser 6 mm hat, so können
die Lichtempfangskoeffizienten der
entsprechenden Lichtmeßsysteme dadurch übereinstimmend gemacht
werden, daß die Reflexionsfilme in den Zonen
A, B und C in der Größenordnung von 4%, 10% bzw. 20% gewählt
werden, wie empirisch gefunden wurde. Der in den Fig. 14A, 14B und 14C gezeigte Strahlteiler kann mittels des
Kopierverfahrens wie beispielsweise eines Druck- bzw.
Preßverfahrens mittels einer Matrix hergestellt werden;
dieses Verfahren kann beispielsweise folgendermaßen ausgeführt
werden:
- (i) Drei Matrizenarten entsprechend den Lichtmeßsystemen A, B und C werden unter Verwendung eines Diamant-Schneidewerkzeugs hergestellt.
- (ii) Das Ergebnis eines Druck- bzw. Preßvorgangs mittels der dem Lichtmeßsystem C entsprechenden Matrix ist in den Fig. 14B und 14C mit 220 bezeichnet. Das Ergebnis eines Druck- bzw. Preßgangs, bei dem das Element zwischen zwei den Lichtmeßsystemen A und B entsprechenden Matrizen gehalten worden ist, ist in den Fig. 14B und 14C mit 222 bezeichnet.
- (iii) Durch Aufdampfen werden Reflexionsfilme auf den Oberflächen der mittels des Druckverfahrens im Schritt (ii) erhaltenen Elemente abgeschieden.
- (iv) Die gepreßten Elemente mit dem darauf durch Aufdampfen abgeschiedenen Reflexionsfilm und ein optisch transparenter Körper zum Abdecken werden mittels eines Kittmittels zur Bildung einer Einheit miteinander verbunden.
Wie vorstehend erläutert, besitzt der Strahlteiler gemäß dem
Ausführungsbeispiel
Beugungsgitter für mindestens zwei Lichtkonzentrationspunkte
und kann die Lichtmessung mit mindestens zwei
Arten von Lichtmeßbereichen ausführen; wenn sich die
Oberflächen, auf denen die Beugungsgitter entsprechend den
jeweiligen Lichtmeßbereichen befinden, voneinander unterscheiden,
können die Meßlichtmengen der entsprechenden
Lichtmeßbereiche dadurch gleichgemacht werden, daß der Reflexionsfaktor
auf dem Relief-Beugungsgitter vorgesehenen
Reflexionsfilm entsprechend eingestellt wird. Somit werden bei
dem zweiten Ausführungsbeispiel zwei oder
mehr Lichtmeßsysteme mittels eines einzelnen Strahlteilers
realisiert; darüber hinaus können die Lichtempfangskoeffizienten
der entsprechenden Meßsysteme gleichgemacht
werden, wodurch die Notwendigkeit entfällt, die Ausgangspegel der Lichtmeßvorrichtung
für jedes Lichtmeßsystem einzustellen.
Bei der Vorrichtung gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel
unterscheidet sich der Flächenanteil
der wirksam reflektierenden Oberfläche der einzelnen Beugungsgitter,
wenn das Beugungsgitter mikroskopisch betrachtet wird,
wodurch die Pegel der Ausgangslichtmengen
der Beugungsgitter eingestellt werden.
Die Fig. 15A und 15B zeigen eine Aufsicht bzw. einen
Querschnitt der Vorrichtung gemäß dem dritten Ausführungsbeispiel,
die zwei Lichtkonzentrationspunkte
hat, und bei der ein Bilddetektor an jedem Lichtkonzentrationspunkt
angeordnet ist. Fig. 15A zeigt das gesamte
Lichtmeß-Gesichtsfeld 303, in dem zwei Zonen, nämlich
die Zone A und die Zone B angeordnet sind, deren Mittelpunkt
der Mittelpunkt des Meß-Gesichtsfelds ist. Die beiden
Zonen sind z. T. übereinander angeordnet, so daß das in
die kreisförmige Zone A eintretende Licht gebeugt und zu
dem Lichtdetektor D A und das in die rechteckige
Zone B eintretende Licht gebeugt und zu dem Lichtdetektor
D B geführt wird. Die Gitter der Zonen A und B
sind mit einer Lichtkonzentrationswirkung entsprechend dem
in Fig. 6 gezeigten Strahlteiler versehen; die Gitterstriche
sind in Form von konzentrischen Kreisen ausgebildet, deren Mittelpunkt
im Lichtdetektor liegt, um eine wirksame
Ausnutzung des Meßlichtstrahls zu ermöglichen. Fig. 15B
zeigt einen Querschnitt bei der Linie X-X′ in Fig. 15A.
In Fig. 15B bezeichnet das Bezugszeichen 304 einen Reflexionsfilm
auf der Oberfläche des Relief-Beugungsgitters
in Zone B, 305 einen Reflexionsfilm auf der Oberfläche
des Relief-Beugungsgitters in Zone A, 307,
309 und 311 optisch transparente Körper, 308 und 310 optisch
transparente Schichten, 306 das einfallende Licht
und D B einen in der Nähe des Krümmungsmittelpunkts des
Gitters der Zone B angeordneten Lichtdetektor. Wenn in
Fig. 15B das einfallende Licht 306 von dem Reflexionsfilm
304 reflektiert und an der oberen und unteren Grenze des
Strahlteilers total reflektiert und hierdurch von der
Austritts-Endfläche zu dem dieser Fläche gegenüberliegenden
Lichtdetektor D B gerichtet wird, wird die Oberfläche des
Relief-Beugungsgitters, die bewirkt, daß das einfallende
Licht 306 sich hin zu der Seite des Lichtdetektors D B bewegt,
als effektive reflektierende Fläche
bezeichnet. In Fig. 15B ist durch Schraffieren hervorgehobene
Fläche die effektive reflektierende Fläche zur
Bildung für die Messung abgeteilten Lichts.
Die Vorrichtung gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
weist eine Gitterstruktur mit mindestens zwei
Lichtkonzentrationspunkten auf, und zeichnet sich dadurch
aus, daß, wenn die Lichtmessung mit mindestens zwei Arten
von Lichtmeßbereichen ausgeführt wird, die Mengen des
gemessenen Lichts in den entsprechenden Lichtmeßbereichen
dadurch gleichgemacht werden, daß das Flächenverhältnis
der effektiven reflektierenden Fläche der Gitterstruktur
gesteuert wird. Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
ist es nicht immer notwendig, daß die Oberflächen,
auf denen die Beugungsgitter ausgebildet sind,
entsprechend den Lichtmeßbereichen, wie sie in Fig. 15B
gezeigt sind, sich voneinander unterscheiden; selbst
wenn die Beugungsgitter in derselben Fläche liegen, ist
es möglich, die Meßlichtmengen der entsprechenden Lichtmeßbereiche
gleichzumachen. Mit der Flächenbemessung der
effektiven reflektierenden Fläche ist der Anteil der in
einer Einheitsfläche tatsächlich reflektierenden Fläche
gemeint; in einem im wesentlichen senkrechten Querschnitt
zu den Relief-Beugungsgitterstrichen ist sie als Anteil
im Bereich der Länge L definiert, die ausreichend klein
verglichen mit der Länge einer Seite des Strahlteiler-Oberflächenbereichs
(bei der Lichtmeßvorrichtung der
Lichtmeßfläche) ist; im Falle einer einäugigen Spiegelreflexkamera
ist L beispielsweise in der Größenordnung
von 1 bis 2 mm. Wenn man gemäß Fig. 15B annimmt, daß
die Breite einer Teilung des Relief-Beugungsgitters p,
die Breite der reflektierenden Fläche, die zur Aufteilung
des in den Lichtdetektor eintretenden Lichts
wirksam ist, e ist und daß Ng-Teilungen des Relief-Beugungsgitters
über der Länge L vorhanden sind, so ist die Flächenbemessung bzw.
der Flächenanteil der tatsächlich reflektierenden Fläche
gegeben durch Nge/L. In diesem Fall ist jedoch zu beachten,
daß die über der Länge L liegenden Gitter die gleiche
Teilung haben. In Fig. 15B erreicht das Licht, das in
den Abschnitt (p-e) des Gitters eingetreten ist,
nicht die Seite, auf der der Lichtdetektor D B angeordnet
ist, selbst
wenn es von dem Reflexionsfilm 304 reflektiert wird;
dieser Abschnitt trägt nicht direkt zur Messung
bei. Aus dem Vergleich der Fig. 5 und 15 ist ersichtlich,
daß bei dem Relief-Beugungsgitter gemäß dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel, bei dem ein Teil der Spitze bzw.
des Tals der Konkav-Konvexstruktur als ebener Abschnitt
ausgebildet ist, das in den Strahlteiler eintretende
einfallende Licht auf den ebenen Abschnitt im wesentlichen
senkrecht auftrifft und damit wenig oder kein Licht
reflektiert wird, selbst wenn der ebene Abschnitt mit
einem Reflexionsfilm versehen ist. Folglich trägt der
ebene Abschnitt mit zur Lichtaufteilung bei; deshalb
kann durch beliebige Bestimmung der Größe des ebenen
Abschnittes das Flächenverhältnis der effektiv reflektierenden
Fläche auf den gewünschten Wert eingestellt werden.
Durch Variieren des Anteils, der von dem Abschnitt
e der effektiv reflektierenden Fläche über die Länge
L eingenommen wird, ist es möglich, die Meßlichtmengen
in den Lichtmeßgebieten A und B gleichzumachen, während
der Reflexionsfaktor des Reflexionsfilms konstant bleibt.
Entsprechend der Tatsache, daß A bezüglich des Lichtmeßbereichs
größer als B ist, kann der Flächenanteil der
effektiven reflektierenden Fläche größer sein als B.
Wie in Fig. 15B gezeigt, ist die Teilung P nicht variabel;
wenn Licht 306 mit einer Wellenlänge λ eintritt
und das abgeteilte Licht unter einem Winkel R in
Reflexion gebeugt wird, besteht die Beziehung
2 np sin R = N × λ (10)
zwischen dem Beugungswinkel R und der Ordnung N des gebeugten
Lichts (N ist eine ganze Zahl); somit ist, auch
wenn ein ebener Abschnitt in dem Gitter vorgesehen ist,
die Richtung der Beugung des gebeugten Lichts nicht variabel.
In Gleichung 10 ist n der Brechungsindex des
optisch transparenten Körpers 209.
Die Fig. 16A, 16B und 16C zeigen eine weitere Modifikation.
In Fig. 16A sind zwei Zonen A und B im Lichtmeß-Gesichtsfeld
312 vorhanden; die Zone A entspricht der Teillichtmessung
und die Zone B der Durchschnittslichtmessung;
die Zone B ist in zwei Teilzonen B 1 und B 2 geteilt.
Die Fig. 16B und 16C zeigen Querschnitte bei der
Linie X-X′ und der Linie Y-Y′ in Fig. 16A; der Gitterabstand
ist teilweise größer gezeigt. In Fig. 16B und 16C
bezeichnen die Bezugszeichen 315 und 323 einfallende
Lichtstrahlen, 313 einen auf dem Gitter in Zone B vorgesehenen
Reflexionsfilm, 314 einen auf dem Gitter in Zone
A vorgesehenen Reflexionsfilm, 316, 318 und 320 optisch
transparente Körper und 317 und 319 transparente Kittschichten.
Nimmt man an, daß die Breiten der effekten reflektierenden
Flächen in Zone A, B 1 und B 2, gesehen von
der Lichteinfallseite, im Querschnitt im wesentlichen
senkrecht zu den Gitterstrichen e A, eB 1 und e B 2 sind, so
gilt bei diesem Strahlteiler für die Breite e A < e B 1 < e B 2;
die Meßlichtmenge in Zone A ist gleich der Lichtmenge
in Zone B; die Zone B ist derart ausgebildet, daß
der mittlere Abschnitt des Lichtmeß-Gesichtsfeldes bevorzugt
gemessen wird. Die Zonen A, B 1 und B 2 haben gleiche
Teilung der Gitter; die Meßlichtmengen werden durch Ändern
lediglich der Flächenanteile e A, eB 1 und e B 2 der
effektiven reflektierenden Fläche gleichgemacht. Wenn
man als Verfahren zur Herstellung der flachen Abschnitte
des in den Fig. 16B und 16C gezeigten Gitters ein Verfahren
wählt, bei dem der optisch transparente Körper durch
ein Druckgußverfahren hergestellt wird, kann das Ende eines
Diamant-Schneidewerkzeugs zur Herstellung der Matrix
für das Druckgußverfahren gemäß Fig. 17 ausgebildet
sein. In Fig. 17 entsprechen die Benennungen der Schneidewerkzeuge
den Berechnungen der entsprechenden Zonen.
Die Fig. 18A, 18B und 18C zeigen eine weitere Modifikation.
In Fig. 18A sind, wie bei dem in Fig. 15A, 15B
gezeigten Beispiel, zwei Arten von Lichtmeßbereichen
in dem Lichtmeß-Gesichtsfeld 329 vorhanden; Lichtdetektoren
D A und D B sind in der Nähe der Lichtkonzentrationspunkte
des Gitters entsprechend den jeweiligen
Lichtmeßbereichen angeordnet. Die Fig. 18B und 18C zeigen
Querschnitte bei der Linie X-X′ und der Linie Y-Y′ in
Fig. 18A. A ist das Gebiet für die Teillichtmessung
und B das Gebiet für die Durchschnittslichtmessung.
Wie in den Fig. 18B und 18C gezeigt ist, liegen bei diesem
Ausführungsbeispiel die Gitter der Zonen A und B
in derselben Ebene. 331 bezeichnet einen auf der Beugungsgitterfläche
zum Richten des Lichts auf den Lichtdetektor
D A vorgesehenen Reflexionsfilm, 330 einen auf
der Beugungsgitterfläche zum Richten des Lichts auf den
Lichtdetektor D B vorgesehenen Reflexionsfilm, 335 den
einfallenden Lichtstrahl, 332 und 334 optisch transparente
Körper und 333 eine transparente Schicht. Da der Bereich
der Zone A kleiner als der Bereich der Zone B ist,
werden die Meßlichtmengen in den Zonen A und B dadurch
gleichgemacht, daß die Länge der effektiven reflektierenden
Fläche erhöht wird. Dies bedeutet, daß e A < e B.
Bei den Ausführungsbeispielen gemäß den Fig. 15, 16 und
18 ist bei jeder Teilung ein ebener Abschnitt vorgesehen
und der Flächenanteil der effektiven reflektierenden
Fläche wird dadurch variiert, daß das Verhältnis des
ebenen Abschnittes zur Teilung geändert wird; alternativ
kann jedoch der Flächenanteil der effektiven reflektierenden
Fläche dadurch variiert werden, daß ein ebener Abschnitt
mit einer Größe von einer Teilung nach jeweils
einigen Teilungen vorgesehen wird. Im allgemeinen ist
das Flächenverhältnis der
effektiven reflektierenden Fläche (Ng-Ng′) c/p × Ng,
wenn ein flacher Abschnitt entsprechend Ng′-Teilungen
bei allen Ng-Teilungen vorgesehen ist;
durch geeignete Einstellung der Länge des flachen oder ebenen Abschnittes
kann der Flächenanteil der tatsächlich reflektierenden
Fläche auf die gewünschte Größe eingestellt
werden. Es ist möglich, den Bereich jedes Lichtmeßsystems
in einige Unterbereiche einzuteilen und den Flächenanteil
der effektiv reflektierenden Fläche in einem feineren
Einheitsbereich zu variieren. Auch in diesem Fall ist
es möglich, die Lichtmengen der entsprechenden Lichtmeßsysteme
gleichzumachen.
Wie vorstehend ausgeführt worden ist, ist die Vorrichtung
gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel ein Strahlteiler,
der eine Vielzahl von Beugungsgittern zum Aufteilen
eines Teils des einfallenden Lichts in unterschiedliche
Richtungen aufweist und bei dem
die Mengen des abgeteilten Lichts in den
entsprechenden Strahlteilerbereichen dadurch gleichgemacht
werden können, daß die Form der Beugungsgitter und insbesondere
der Flächenanteile der effektiven reflektierenden
Fläche gesteuert wird, wenn die Strahlaufteilung mit
mindestens zwei Arten von Strahlteilerbereichen durchgeführt
wird. Wenn somit die Vorrichtung in
einer Lichtmeßvorrichtung verwendet wird, können
zwei oder mehr Lichtmeßsysteme durch einen
einzigen Strahlteiler realisiert und darüber
hinaus die Lichtempfangskoeffizienten der entsprechenden
Lichtmeßsysteme gleichgemacht werden, wodurch
die Notwendigkeit entfällt, das Meßausgangssignal jedes
Lichtmeßsystems einzustellen bzw. zu kalibrieren.
Der vorstehend beschriebene Strahlteiler,
der für Lichtmeßvorrichtungen einer Kamera vorteilhaft
ist, kann in dem Lichtstrahl eines Objektes angeordnet
werden, der in die Kamera eintritt, und kann einen
Teil des Lichtstrahls ohne Beeinträchtigung
abteilen. Die Position, an der der Strahlteiler
angeordnet wird, kann in der Nähe der Bildebene des
Suchersystems oder auch an einer der verschiedenen anderen
Positionen innerhalb der Kamera sein, wie sie in
der offengelegten japanischen Patentanmeldung 42042/1978
beschrieben sind. Selbstverständlich sind auch
andere Anwendungen möglich.
Claims (6)
1. Lichtmeßvorrichtung mit einem optischen System, einer in
dessen Strahlengang angeordneten Strahlteilervorrichtung zum
Abtrennen von zumindest zwei Teilstrahlen aus dem einfallenden
Strahlenbündel und einer Lichtempfangsvorrichtung mit
mehreren Lichtempfangselementen, die jeweils einen der Teilstrahlen
aufnehmen, wobei die Strahlteilervorrichtung für jeden
Teilstrahl ein Relief-Beugungsgitter aufweist, das Gitterelemente
mit vorgegebener Krümmung hat, die den gebeugten
Teilstrahl auf einen Konzentrationspunkt konzentrieren und zu
einem der Lichtempfangselemente richten, wobei die mehreren
Relief-Beugungsgitter voneinander verschiedene beugende Flächen
aufweisen, wobei die Lichtmengen der auf die Lichtempfangselemente
gelangenden Teilströme einander gleich sind
und wobei die Relief-Beugungsgitter geneigte Oberflächen aufweisen,
dadurch gekennzeichnet, daß die geneigten Oberflächen
jedes Relief-Beugungsgitters im Bereich seiner beugenden
Fläche eine teilreflektierende Beschichtung (204, 205) aufweisen,
daß die Gitterelemente mit einem den gleichen Brechungsindex
wie das die Gitterelemente tragende Substrat (206, 208)
aufweisenden Klebemittel (207) ausgefüllt sind und daß sich
die Reflexionsgrade der teilreflektierenden Beschichtungen
der mehreren Relief-Beugungsgitter derart unterscheiden, daß
die mehreren Relief-Beugungsgitter die Gleichheit der Lichtmengen
der Teilströme bewirken.
2. Lichtmeßvorrichtung mit einem optischen System, einer in
dessen Strahlengang angeordneten Strahlteilervorrichtung zum
Abtrennen von zumindest zwei Teilstrahlen aus dem einfallenden
Strahlenbündel und einer Lichtempfangsvorrichtung mit
mehreren Lichtempfangselementen, die jeweils einen der Teilstrahlen
aufnehmen, wobei die Strahlteilervorrichtung für jeden
Teilstrahl ein Relief-Beugungsgitter aufweist, das Gitterelemente
mit vorgegebener Krümmung hat, die den gebeugten
Teilstrahl auf einen Konzentrationspunkt konzentrieren und zu
einem der Lichtempfangselemente richten, wobei die mehreren
Relief-Beugungsgitter voneinander verschiedene beugende Flächen
aufweisen, wobei die Lichtmengen der auf die Lichtempfangselemente
gelangenden Teilströme einander gleich sind
und wobei die Relief-Beugungsgitter geneigte Oberflächen aufweisen,
dadurch gekennzeichnet, daß die geneigten Oberflächen
jedes Relief-Beugungsgitters im Bereich seiner beugenden
Fläche eine teilreflektierende Beschichtung (104, 105) aufweisen,
daß die Gitterelemente mit einem den gleichen Brechungsindex wie
das die Gitterelemente tragende Substrat (106, 108, 110) aufweisenden
Klebemittel (107, 109) ausgefüllt sind und daß sich
die Neigungswinkel (α A, α B) der teilreflektierenden geneigten
Oberflächen der mehreren Relief-Beugungsgitter derart unterscheiden,
daß die mehreren Relief-Beugungsgitter die Gleichheit
der Lichtmengen der Teilströme bewirken.
3. Lichtmeßvorrichtung mit einem optischen System, einer in
dessen Strahlengang angeordneten Strahlteilervorrichtung zum
Abtrennen von zumindest zwei Teilstrahlen aus dem einfallenden
Strahlenbündel und einer Lichtempfangsvorrichtung mit
mehreren Lichtempfangselementen, die jeweils einen der Teilstrahlen
aufnehmen, wobei die Strahlteilervorrichtung für jeden
Teilstrahl ein Relief-Beugungsgitter aufweist, das Gitterelemente
mit vorgegebener Krümmung hat, die den gebeugten
Teilstrahl auf einen Konzentrationspunkt konzentrieren und zu
einem der Lichtempfangselemente richten, wobei die mehreren
Relief-Beugungsgitter voneinander verschiedene beugende Flächen
aufweisen, wobei die Lichtmengen der auf die Lichtempfangselemente
gelangenden Teilströme einander gleich sind
und wobei die Relief-Beugungsgitter geneigte Oberflächen aufweisen,
dadurch gekennzeichnet, daß die geneigten Oberflächen jedes
Relief-Beugungsgitters im Bereich seiner beugenden Fläche
eine teilreflektierende Beschichtung (304, 305) aufweisen, daß die
Gitterelemente mit einem den gleichen Brechungsindex wie
das die Gitterelemente tragende Substrat (307, 309, 311) aufweisenden
Klebemittel (308, 310) ausgefüllt sind und daß sich
der Anteil der teilreflektierenden geneigten Oberflächen an
der beugenden Fläche des Relief-Beugungsgitters bei den
mehreren Relief-Beugungsgitter derart unterscheidet, daß die
mehreren Relief-Beugungsgitter die Gleichheit der Lichtmengen
der Teilströme bewirken.
4. Lichtmeßvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Beugungsgitter (A, B)
sich zumindest teilweise überlappen.
5. Lichtmeßvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Oberflächen der Beugungsgitter
(A, B) in unterschiedlichen Ebenen liegen.
6. Lichtmeßvorrichtung nach Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die Neigungswinkel (α) der
teilreflektierenden geneigten Oberflächen innerhalb der
Beugungsgitter variieren.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10191180A JPS5727224A (en) | 1980-07-25 | 1980-07-25 | Optical separator |
JP10191080A JPS5727223A (en) | 1980-07-25 | 1980-07-25 | Optical separator |
JP55101912A JPS5762018A (en) | 1980-07-25 | 1980-07-25 | Optical splitter |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3129324A1 DE3129324A1 (de) | 1982-05-06 |
DE3129324C2 true DE3129324C2 (de) | 1990-11-22 |
Family
ID=27309575
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19813129324 Granted DE3129324A1 (de) | 1980-07-25 | 1981-07-24 | "vorrichtung zur messung des auf ein optisches system einfallenden lichts" |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4544269A (de) |
DE (1) | DE3129324A1 (de) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61248024A (ja) * | 1985-04-25 | 1986-11-05 | Canon Inc | カメラの測光装置 |
JPH0630164B2 (ja) * | 1985-12-16 | 1994-04-20 | キヤノン株式会社 | 光ヘツド装置 |
JPS63176A (ja) * | 1986-06-19 | 1988-01-05 | Honda Motor Co Ltd | 複合型光センサ |
EP0339722B1 (de) * | 1988-04-26 | 1993-10-06 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Anordnung zum optischen Abtasten eines magneto-optischen Aufzeichnungsträgers |
US4898467A (en) * | 1988-11-07 | 1990-02-06 | Eastman Kodak Company | Spectrometer apparatus for self-calibrating color imaging apparatus |
US5283690A (en) * | 1989-04-04 | 1994-02-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical diffraction grating element |
JP3342100B2 (ja) * | 1993-05-25 | 2002-11-05 | 理想科学工業株式会社 | 孔版印刷用版胴 |
JP2012151441A (ja) * | 2010-12-28 | 2012-08-09 | Ricoh Co Ltd | 光デバイス、光走査装置及び画像形成装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3464337A (en) * | 1966-04-15 | 1969-09-02 | Pentacon Dresden Veb | Mirror reflex camera with internal photoelectric light meter |
DE2361626C3 (de) * | 1972-12-11 | 1979-01-25 | Canon K.K., Tokio | Anordnung zur Messung der Intensität eines Strahlenbündels in einem optischen System |
US4178084A (en) * | 1975-06-06 | 1979-12-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Device for measuring light incident on an image forming optical system |
US4103153A (en) * | 1975-06-06 | 1978-07-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Device for measuring light incident on an image forming optical system |
-
1981
- 1981-07-16 US US06/284,114 patent/US4544269A/en not_active Expired - Lifetime
- 1981-07-24 DE DE19813129324 patent/DE3129324A1/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4544269A (en) | 1985-10-01 |
DE3129324A1 (de) | 1982-05-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3003467C2 (de) | ||
DE60035834T2 (de) | Diffraktives optisches Element | |
DE69831041T2 (de) | Diffraktives optisches Element und optisches System unter Verwendung desselben | |
DE69919218T2 (de) | Stufenförmige streuplatte | |
DE2500196C3 (de) | Prismenfarbteiler für Farbfernsehkameras | |
DE2361626C3 (de) | Anordnung zur Messung der Intensität eines Strahlenbündels in einem optischen System | |
DE3218268A1 (de) | Lichtabsorbierender belag mit reflexionsvermindernden eigenschaften | |
DE69818581T2 (de) | Beugungselement und damit ausgestattetes optisches System | |
DE2857061C2 (de) | Linsensystem zur Strahlungskonzentration | |
DE3129324C2 (de) | ||
DE3026370A1 (de) | Spiegel | |
DE68908495T2 (de) | Optischer Strahlteiler. | |
EP1130422B1 (de) | Optisches Reflexionsgitter und Verfahren zu seiner Optimierung sowie optisches Spektrometer | |
DE3824969C2 (de) | Objektiv für den Infrarot- und den sichtbaren Wellenlängenbereich | |
DE60128761T2 (de) | Diffraktives optisches Element und optisches System mit diesem | |
DE3113984C2 (de) | Doppelmonochromator | |
DE3544512C2 (de) | ||
DE3246832A1 (de) | Strahlteiler | |
DE3129325C2 (de) | ||
DE3129164A1 (de) | Vorrichtung zur messung des in ein optisches system einfallenden lichts | |
DE3145638C2 (de) | Schwenkspiegel für eine einäugige Spiegelreflexkamera. | |
DE69115460T2 (de) | Hochleistungs-absorptionsdetektor mit blitzlampe und kompaktem gefaltetem optischem system | |
DE3525228A1 (de) | Optisches element | |
DE3041969C2 (de) | ||
DE60304750T2 (de) | Dispersionskompensator mit flacher Durchlasskurve |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition |