DE3125189C2 - Fehlersuchgerät für breite Bahnen - Google Patents

Fehlersuchgerät für breite Bahnen

Info

Publication number
DE3125189C2
DE3125189C2 DE3125189A DE3125189A DE3125189C2 DE 3125189 C2 DE3125189 C2 DE 3125189C2 DE 3125189 A DE3125189 A DE 3125189A DE 3125189 A DE3125189 A DE 3125189A DE 3125189 C2 DE3125189 C2 DE 3125189C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
light
daughter
mirror
mother
troubleshooting device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE3125189A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3125189A1 (de
Inventor
Erwin Dr. e.h. 8021 Icking Sick
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Erwin Sick GmbH Optik Elektronik
Original Assignee
Erwin Sick GmbH Optik Elektronik
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Erwin Sick GmbH Optik Elektronik filed Critical Erwin Sick GmbH Optik Elektronik
Priority to DE3125189A priority Critical patent/DE3125189C2/de
Priority to GB08216483A priority patent/GB2101308B/en
Priority to US06/388,860 priority patent/US4500208A/en
Priority to IT21989/82A priority patent/IT1152992B/it
Priority to JP57108254A priority patent/JPS588178A/ja
Priority to FR8211139A priority patent/FR2508642B1/fr
Publication of DE3125189A1 publication Critical patent/DE3125189A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3125189C2 publication Critical patent/DE3125189C2/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Treatment Of Fiber Materials (AREA)

Abstract

Ein Fehlersuchgerät für die Ermittlung von Fehlern in Teppichbahnen (15) weist ein erstes Mutter-Spiegelrad (17) auf, welches von einem Laserstrahl (18) beaufschlagt wird und über einen sphärischen Hohlspiegel (13) einen periodisch parallel zu sich selbst verschobenen Abtastfahrstrahl (14) erzeugt. Dieser wird schräg auf mehrere nebeneinander angeordnete Tochter-Spiegelräder (11a bis 11i) geschickt, welche sich wesentlich schneller drehen als das Mutter-Spiegelrad (17) und auf der Teppichbahn (15) einen Abtastlichtstreifen erzeugen. Auf der anderen Seite der Teppichbahn (15) befindet sich eine Lichtempfangsvorrichtung, bestehend aus nebeneinander angeordneten Linsen (20a bis 20i) und einem Lichtleitstab (22) mit einem Photomultiplier (23) an einer Stirnseite.

Description

Die Erfindung betrifft ein Fehlersuchgerät für breitbandige laufende Bahnen nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Insbesondere bei Lochsuchgeräten für kontinuierlich in ihrer Längsrichtung bewegten breiten Bahnen wie Teppichen usw. ist es bereits bekannt, mittels eines Lasers, eines Spiegelrades und einer Linse oder eines Hohlspiegels einen parallel zu sich selbst verschobenen Fahrstrahl zu erzeugen, welcher entweder über hintereinander angeordnete, seitlich versetzte Stufenspiegel (DE-PS 28 08 359) oder durch teilweise seitlich versetzte, hintereinander angeordnete Strahlenteilerspiegel (L)E-OS 29 34 554) in mehrere in Breitenrichtung der Bahn hintereinander liegende Teilfahrstrahlen aufgespalten wird, um auch breitere Bahnen mit einem einen Lichtfleck auf der Bahn bildenden Fahrstrahl abtasten zu können.
Die bekannien Lochsuchgeräte haben jedoch den Nachteil, daß entweder Lücken in dem Abtastlichtstreifen auf der Bahn entstehen, erhebliche Lichtverluste auftreten, welche zu einem Abtastlichtfleck von zu geringer Lichtintensität auf der Bahn führen, hochwertige und genau zu justierende Umlenkspiegel verwendet werden müssen und/oder kein auf einer geraden Linie ohne seitliche Versetzungen verlaufender Abtastlichtfleck erzeugt werden kann.
Das Ziel der vorliegenden Erfindung besteht somit darin, ein Fehlersuchgerät für breite Bahnen der eingangs genannten Gattung zu schaffen, mit dem ohne das Erfordernis hochwertiger und genau zu justierender Umlenkspiegel und versetzter Teilabtastbereiche eine hohe Lichtintensität des Abtastlichtfleckes auf der Bahn erzielt wird, wobei nur eine einzige Lichtquelle erforderlich sein soll.
Zur Lösung dieser Aufgabe sind die Merkmale des Patentanspruchs 1 vorgesehen.
Da jede Tochter-Lichtablenkvorrichtung eine eigene periodische Abtastbewegung durchführt, können die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen gemeinsam ohne Lichtverlust einen auch für sehr breite Materialbahnen ausreichenden durchgehenden Abtastlichtstrich erzeugen. Von seilen des Mutter-Abbiidungselementes muß lediglich ci;is von den Tochter-Lichlablenkvorrichlungcn periodisch über die Bahn geführte Licht statisch oder quasi-statisch zur Verfugung gestellt werden.
Der Erfindungsgedanke ist also darin zu sehen, daß auf einer geraden Linie aneinandergereiht und im Ab-
stand voneinander schwenk- oder drehbare Tochter-Lichtablenkvorrichtungen angeordnet sind, deren Schwenk- bzw. Drehachsen parallel zueinander und senkrecht zu ihrer Verbindungslinie verlaufen. Das Licht von dem Mutter-Abbildungselement fällt schräg auf die Linearanordnung der Tochter-Lichtablenkvorrichtungen, so daß sie alle von dem gemeinsamen Mutter-Abbildungselement beaufschlagt werden, ohne daß Lichtverluste etwa durch die Verwendung halbdurchlässiger Strahlenteiler hingenommen werden müßten. Je κι kleiner der Auftreffwinkel ist, um so mehr hintereinander angeordnete Tochter-Lichtablenkvorrichtungen können von einem nicht zu lang ausgebildeten Mutter-Abbildungselement erfaßt werden. Vorzugsweise sind zur Erfassung von Teppichbreiten von 5 m etwa fünf bis zwanzig Tochter-Lichtablenkvorrichtungen im Abstand voneinander angeordnet.
Da die von den Tochter-Lichtablenkvorrichtungen abgelenkten Abtastlichtstrahlen alle in einer Ebene liegen, bilden die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen zusammen einen einzigen geradlinigen Abtastlichtstreifen auf der Oberfläche der Bahn.
Das optische Mutter-Abbildungselement ist vorzugsweise ein streifenförmiger, sphärischer Hohlspiegel, welcher vorzugsweise korrigiert ist. Die Längsrichtung des streifenförmigen Hohlspiegels verläuft senkrecht zu den Schwenk- bzw. Drehachsen der Tochter-Lichtablenkvorrichtungen. Je größer die Längserstreckung des streifenförmigen Mutter-Abbildungselementes ist, um so mehr Tochter-Lichtablenkvorrichtungen werden er- jo faßt. Durch einen relativ kleinen Auftreffwinkel können mit einem relativ kurzen Mutter-Abbildungselement ohne weiteres zehn bis zwanzig Tochter-Lichtablenkvorrichtungen beaufschlagt werden.
Zweckmäßigerweise ist die Anordnung so, daß die optische Achse des optischen Mutter-Abbildungselementes unter dem gleichen Winkel zur Verbindungslinie der Tochter-Lichtablenkvorrichtung wie die die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen beaufschlagenden Lichtstrahlen verläuft. Mit anderen Worten wird das vorzugsweise durch den Hohlspiegel gebildete optische Mutter-Abbildungselement schräggestellt, um das Licht schräg auf die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen fallen zu lassen.
Eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung kennzeichnet sich dadurch, daß die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen jeweils im wesentlichen in der Brennebene eines optischen Tochter-Abbildungselementes, insbesondere einer Linse oder eines Hohlspiegels, angeordnet sind, welches das von der Tochter-Lichtablenkvorrichtung kommende Licht im wesentlichen parallel richtet. Auf diese Weise werden parallel zueinander verlaufende Fahrstrahlen erzielt.
Benachbarte Teilstreifen sollen sich geringfügig überlappen, um Lücken zwischen den Teilstreifen mit Sicherheit zu vermeiden.
Dies kann z. B. nach einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung dadurch erzielt werden, daß die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen derart etwas aus der Brennebene der optischen Tochter-Abbildungselemente heraus verschoben sind, daß das aus den optischen Tochter-Abbildungselementen austretende Licht etwas divergent ist, so daß durch einen geringen Abstand benachbarter optischer Tochter-Abbildungselemente, oder deren Stoßstelle bedingte Lücken in dem vom Licht beaufschlagten Streifen vermieden sind.
Der Winkel zwischen der Verbindungslinie der Tochter-Lichtablenkvorrichtungen und der optischen Achse des Mutter-Abbildungselementes soll 1 bis 5° und insbesondere etwa 2° betragen.
Die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen sind zweckmüßigerweise Tochter-Spiegelräder, welche vorzugsweise fünf bis fünfzehn und insbesondere etwa zehn Spiegelflächen aufweisen.
Ein besonders intensiver Abtastlichtfleck wird erzielt, wenn die die Tochter-Lichtablcnkvorrichtungen beaufschlagenden Lichtstrahlen durch eine dreh- oder schwenkbare Mutter-Lichtablenkvorrichtung erzeugt sind, die von einem Lichtstrahl beaufschlagt sind, wobei die Abtastfrequenz der Mutter-Lichtablenkvorrichlung um mindestens eine Zehnerpotenz und vorzugsweise um zwei Zehnerpotenzen geringer ist als die Abtastfrequenz der Tochier-Lichtablenkvorrichtungen. Mit anderen Worten müssen während der Zeit, während der der Abtastlichtstrahl der Mutter-Lichtablenkvorrichlung eine bestimmte Tochter-Lichtablenkvorrichtung beaufschlagt, von letzterer mehrere und vorzugsweise zehn bis hundert Abtastungen vollzogen werden, damit der die Tochter-Lichtablenkvorrichtung beaufschlagende Lichtstrahl als quasi-stationär angesehen werden kann.
Erfindiingsgemäß werden also die verschiedenen Tochter-Lichtablenkvorrichtungcn nacheinander von ein und demselben Abtastlichtstrahl beaufschlagt. Diese Ausführungsform eignet sich besonders für die Kehlersuche an Teppichherstellungsmaschinen, deren Ausgangsvorschub etwa 5 cm/sec beträgt. Bisher arbeitete man bei derartigen Maschinen so, daß zwei Personen den Teppich auf Fehler beobachteten. Ein sehr häufig vorkommender Fehler ist das Fehlen eines in Längsrichtung verlaufenden Drahtes, welcher dann nach dem Erkennen des Fehlers und dem Anhalten der Maschine von dem zweiten Mann nachträglich von Hand eingezogen wird, um den betreffenden Fehler zu reparieren. Dieses Verfahren ist jedoch sehr aufwendig und hängt in seiner Qualität vom Beobachtungsvermögen der beteiligten Personen ab.
Ein weiteres Problem bei der Locherkennung besonders bei Tufting-, Schlingen- oder Florware besteht darin, daß beim senkrechten Draufschauen gegen einen hellen Untergrund sehr viele keine Fehler darstellenden Löcher (»Sternenhimmel«) erkennbar sind, welche die Fehlererkennung nicht beeinflussen dürfen. Um letzteres zu vermeiden, wird der Teppich vorzugsweise unter einem Winkel in der Größenordnung von 45 "zur Abtastebene durch das erfindungsgemäße Fehlersuchgerät hindurchgeführt.
Weiter ist es vorteilhaft, wenn bei einem Teppichloch-Suchgerät der Abtastüchtfleck die Form eines Abtast lichtbalkens von bis zu mehreren Zentimetern Länge hat. Dieser Abtastlichtbalken soll sich in Längsrichtung der Teppichbahn erstrecken, weil auch die unter Umständen fehlenden Drähte einen entsprechenden Verlauf haben. Bei einem fehlenden Draht gelangt also sehr viel Licht durch die Fehlerstelle hindurch zu der auf der anderen Seite der Bahn vorgesehenen Lichtempfangsvorrichtung. Das auf die Bahn geworfene Licht muß aber gleichwohl sehr intensiv sein, weil auch an den Stellen, wo ein Teppichdraht fehlt, noch das durchscheinende Grundgewebe vorhanden ist, welches eine starke Lichtstreuung hervorruft
Es genügt vollauf, wenn bei einem Teppichloch-Suchgerät mit einer Teppichvorschubgeschwindigkeit von 5 cm/sec die Mutter-Lichtablenkvorrichtung mit einer Frequenz von nur 10 Hz arbeitet, so daß sie die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen alle '/losec einmal über-
streicht. In dieser Zeit bewegt sich nämlich die aus der Teppichherstellungsmaschine austretende Teppichbahn nur ein Stück von 5 mm. Der Abtastlichtspalt erhält erfindungsgemäß vorzugsweise eine Länge von 30 bis 60 mm und insbesondere von etwa 50 mm. Fehlerhafte Stellen in der Bahn werden somit von insgesamt zehn Abtastungen der Mutter-Lichtablenkvorrichtung erfaßt, was zur sicheren Fehlererkennung voll ausreichend ist.
Die der Erfindung zugrunde liegende Erkenntnis besteht also darin, daß man bei nur relativ langsam kontinuierlich vorgeschobenen Bahnen die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen nacheinander mit einem einzigen sehr intensiven Lichtstrahl beaufschlagen kann, welcher zweckmäßigerweise von einem Laser stammt.
Es können so sehr breite Teppichbahnen {bis zu ca. 5 m) mit sehr intensivem Licht, das nur von einer einzigen Lichtquelle stammt, abgetastet werden. Hierdurch machen sich die durch das Trägermaterial des Teppichs (durchscheinendes Gewebe) hervorgerufenen Lichtverluste nicht mehr in einer solchen Weise bemerkbar, daß der Raum, in dem das erfindungsgemäße Gerät aufgestellt wird, abgedunkelt werden müßte.
Sofern die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen Spiegelräder mit zehn Spiegelflächen sind, laufen die Tochter-Spiegelräder mit einer Drehzahl von etwa 6000 UpM, was 1000 Abtastungen pro Sekunde entspricht.
Vorteilhafterweise ist auch die Mutter-Lichablenkvorrichtung ein Mutter-Spiegelrad, welches allerdings mehr Spiegelflächen als die Tochter-Spiegelräder, nämlich zweckmäßig 15 bis 25 und insbesondere etwa 20 aufweisen sollte, um dem geringeren Abtastwinkcl Rechnung zu tragen.
Die Mutter-Lichtablenkvorrichtung befindet sich vorzugsweise in der Brennebene des optischen Mutter-Abbildungselementes, wie das an sich bei Vorrichtungen zur Erzeugung eines parallel zu sich selbst verschobenen Laser-Fahrstrahls bekannt ist.
Nach einer ersten praktischen Ausführungsform ist vorgesehen, daß die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen unmittelbar schräg von den vom Mutter-Abbildungselement kommenden Lichtstrahlen beaufschlagt sind.
Um zu erreichen, daß das die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen, insbesondere Tochter-Spiegelräder beaufschlagende Licht im wesentlichen senkrecht auf deren Umfang auffällt, kann nach einer Weiterbildung der Erfindung vorgesehen sein, daß zwischen die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen und das Mutter-Abbildungselement hintereinander in einer Reihe angeordnete Umlenkspiegel vorgesehen sind, die das von dem Mutter-Abbildüngsc'emeni kommende Lichi zu den Lichtablenkvorrichtungen umlenken. Insbesondere soll die Ausbildung so sein, daß die Linie, auf der die Umlenkspiegel angeordnet sind, parallel zu der Linie verläuft, auf der die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen angeordnet sind. Die Umlenkspiegel sind zweckmäßig so angeordnet, daß das von ihnen zu den Lichtablenkgliedern umgelenkte Licht im wesentlichen senkrecht auf den Umfang der Tochter-Lichtablenkvorrichtungen auftriffL
Auf diese Weise wird erreicht, daß das die Tochter-Spiegelräder beaufschlagende Licht symmetrisch zu deren Drehachse zentral auftritt.
Bei Lochsuchgeräten ist es zweckmäßig, wenn auf der von den Tochter-Lichtablenkvorrichtungen abgewandten Seite der Bahn optische Abbildungselemente, insbesondere Linsen nebeneinander angeordnet sind. Dabei sind nach einer ersten Ausführungsform in der Brennebene der optischen Abbildungselemente photoelektrische Wandler angeordnet. Diese Ausbildung der Lichtempfangsmittel entspricht der Ausbildung nach der DE-PS 28 08 359.
Die vor und hinter der Bahn angeordneten Linsen sind zweckmäßigerweise Fresnel-Linsen, deren optische Qualität für die Zwecke der Lochsuche voll ausreichend ist.
ίο Es ist aber auch möglich, daß in der Brennebene der optischen Abbildungselemente ein oder zwei vorzugsweise runde Lichtleitstäbe angeordnet sind, an deren wenigstens einer Stirnseite ein Photomultiplier vorgesehen ist. Der Lichtleitstab ist vorzugsweise ein solcher mit einer Stufenspiegelanordnung auf der von der Lichtcintrittsseite äbgewandten Mamelseite, wie er beispielsweise aus der DE-PS 25 08 366 bekannt ist.
Um die durch die Verwendung von Fresnel-Linsen und/oder des Lichtleitstabes mit Stufenspiegelanordnung auftretenden Unsymmetrien beim Lichtempfang durch den Photomultiplier zu kompensieren, soll zwischen jedem optischen Abbildungselement und dem Lichtleitstab eine Zylinderlinse aus Grauglas angeordnet sein. Der besondere Vorteil der aus Grauglas hergestellten Zylinderlinse besteht darin, daß beim Schleifen der Linse aus Grauglas zu den Rändern hin eine erhöhte Lichtdurchlässigkeit und zur Mitte hin eine verringerte Transmission automatisch erzielt wird. Die in der Mitte auftreffenden Lichtstrahlen werden also stärker geschwächt als die seitlichen Lichtstrahlen, welche jedoch aufgrund der Effekte der Fresnel-Linsen und der Stufenspiegelanordnung bei der Weiterleitung innerhalb des Lichtleitstabes stärker geschwächt werden.
Eine gute Richtwirkung und damit eine Herabsetzung des Einflusses von Fremdlicht kann insbesondere dadurch erzielt werden, daß der Empfangsseite eine Zylinderlinse, deren Achse parallel zu der Linie, auf der die Lichtablenkvorrichtungen angeordnet sind, verläuft, und dahinter parallel ein Lichtleitstab mit Stufenspiegelanordnung und einem Photomultiplier an wenigstens einer Stirnseite vorgesehen sind. Die Richtwirkung wird gesteigert, wenn vor der Zylinderlinse eine Lamellenanordnung zur Lichtrichtung vorgesehen ist.
Wie bereits oben erwähnt wurde, kommt es darauf r.n, daß die Mutter-Lichtablenkvorrichtung mit einer wesentlich niedrigeren Frequenz als die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen arbeitet. Insbesondere soll das Verhältnis der Zahl der pro Sekunde erfolgenden Abtastungen der Mutter-Lichtablenkvorrichtung einerseits zu der Zahl der pro Sekunde erfolgenden Abtastungen jeder Tochter-Lichtablenkvorrichtung andererseits zwischen i : 5ö und 1 :150 und insbesondere bei etwa 1 : 100 liegen.
Zur Erzielung eines kompakten Aufbaus kennzeichnet sich eine weitere Ausführungsform dadurch, daß das Licht von den Tochter-Lichtablenkvorrichtungen aufgrund einer Kippung der Achsen der Tochter-Lichtablenkvorrichtungen in einen Bereich oberhalb der Umlenkspiegel zurückreflektiert wird, wo Streifenplanspiegel angeordnet sind, und daß die Streifenplanspiegel das auftreffende Abtastlicht zu Hohlspiegeln reflektieren, die hintereinander in einem Bereich oberhalb der Tochter-Lichtablenkvorrichtungen angeordnet sind, wobei der Brennpunkt der Hohlspiegel im Bereich der Oberfläche der Lichtablenkvorrichtungen liegt Hierbei soll die Oberfläche der Tochter-Lichtablenkvorrichtungen so weit innerhalb der Brennweite der Hohlspiegel liegen, daß von letzteren im Randbereich leicht divereente
Tochter-Fahrstrahlen ausgehen.
Bevorzugt sind alle Tochter-Lichtablenkvorrichtungen an einen gemeinsamen Antrieb angeschlossen.
Die Erfindung wird im folgenden beispielsweise anhand der Zeichnungen beschrieben; in dieser zeigt ■>
F i g. 1 eine schematische Draufsicht eines erfindtingsgemäßen Lochsuchgerätes für relativ langflorige Teppiche,
F i g. 2 eine teilweise geschnittene Ansicht nach Linie 11-11 in Fi g. 1,
Fig. 3 eine schematische Draufsicht des Bandantriebs der Tochter-Spiegelräder nach Linie III-III in Fig. 2, wobei die Tochter-Spiegelräder 11, Hein ihrer konzentrischen Anordnung zu den Antriebsrollen 51 angedeutet sind,
F i g. 4 einen vergrößerten Ausschnitt aus F i g. 1 zur Veranschaulichung einer Einzelheit,
F i g. 5 eine vergrößerte Schnittansicht nach Linie V-Vin Fig. 1,
Fig.6 eine Ansicht analog Fig. 6 bei einem in Remission arbeitenden Fehlersuchgerät,
F i g. 7 eine mit photoelektrischen Wandlern arbeitende Lichtempfangsvorrichtung,
F i g. 8 eine Seitenansicht der beim Ausführungsbeispiel nach F i g. 1 verwendeten Zylinderlinse 24 in vergrößerter Darstellung,
F i g. 9 eine Draufsicht des Gegenstandes der F i g. 8,
Fig. 10 eine schematische Draufsicht analog Fig. 1 einer weiteren Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Lochsuchgerätes mit zentraler Lichtbeaufschlagung der Tochter-Spiegelräder und
F i g. 11 eine Ansicht nach Linie Xl-Xl in F i g. 10.
Nach den Fig. 1 und 2 ist in bzw. an einem Gehäuse 25, welches sich quer über eine Teppichbahn 15 erstreckt, ein Laser 26 im Bereich des einen Endes der js Längserstreckung des Gehäuses 25 befestigt. Der aus dem Laser 26 austretende Lichtstrahl IS wird über einen Umlenkspiegel 60 und ein Mikroobjektiv 27 von beispielsweise 50 mm Brennweite auf dem Umfang eines Mutterspiegelrades 17 konzentriert. Das Spiegelrad 17 weist auf seinem Umfang zwanzig ebene Spiegelflächen auf und wird durch einen Motor 28 (F i g. 2) zu einer Drehbewegung angetrieben. Die Drehzahl beträgt etwa 0,5 Umdrehungen pro Sekunde.
Wie insbesondere aus Fig. 2 zu erkennen ist. ist die Drehachse des Spiegelrades 17 unter einem Winkel β zur Grundebene 29 des Gehäuses 25 angeordnet, und zwar derart, daß der auf das Spiegelrad 17 auftreffende Laserlichtstrahl 18 gemäß Fig. 2 gegenüber der Auftreffstelle 30 auf dem Spiegelrad 17 in eine einen größeren Abstand von der Grundebene 29 aufweisende Ebene 31 reflektiert wird, damit er später am Spiegelrad 17 vorbeitreten kann. In einem Abstand von etwa 500 mm von der Lichtauftreffstelle 30 ist ein streifenförmiges sphärischer Hohlspiegel 13 derart angeordnet, daß er gemäß F i g. 2 das auftreffende Lichtbündel in die Ebene 31 entlang der Längserstreckung L des Gehäuses 25 reflektiert Der Hohlspiegel 13 weist eine Brennweite von 500 mm auf, so daß vom Hohlspiegel 13 ein in sich paralleler Lichtstrahl 14 parallel zur optischen Achse 19 des Hohlspiegels reflektiert wird. Da auch das Mikroobjektiv 27 sich im Abstand seiner Brennweite von der Auftreffstelle 30 befindet, erfolgt durch das Mikroobjektiv 27 und den Hohlspiegel 13 eine Aufweitung des Laserstrahls 18 im Verhältnis 1 :10. Dies bedeutet, daß, wenn der Laserstrahl 18 einen Durchmesser von 1 mm hat. der vom Hohlspiegel 13 abgegebene Lichtstrahl 14a einen Durchmesser von 10 mm aufweist Diese Aufweitung wird deswegen durchgeführt, um die Divergenz des Laser-Fahrstrahls 14, welcher beim Drehen des Spiegelrades 17 parallel zu sich selbst verschoben wird, in den erforderlichen Grenzen zu halten.
Gemäß F i g. 1 ist der Hohlspiegel 13 innerhalb des Gehäuses 25 so angeordnet, daß seine optische Achse relativ zur Längserstreckung L des Gehäuses 25 einen Winkel λ einschließt, welcher beim dargestellten Ausfiihrungsbeispiel etwa 4° beträgt.
Die in F i g. 2 dargestellte Breite b des Hohlspiegels 13 braucht nur so groß zu sein, daß der auftreffende Lichtstrahl auch im Falle von geringfügigen Erschütterungen noch voll von der Spiegeloberfläche erfaßt wird. Die aus Fig. 1 ersichtliche Länge des Hohlspiegels 13 ist so zu wählen, daß die beiden End-Abtastlichtstrahlen ί4<7, Ι4ό, wenn sie auf eine parallel zur Längserstrekkung L des Gehäuses 25 verlaufende Linie 12 fallen, dort einen Abstand entlang der Linie 12 aufweisen, der der Breitenerstreckung SderTeppichbahn 15 entspricht.
Auf der im hinteren Bereich des Gehäuses angeordneten Verbindungslinie 12 liegen die Achsen von im gleichen Abstand angeordneten Tochter-Spiegelrädern 11a bis 11/ Die Achsen dieser Spiegelräder verlaufen senkrecht zu der vom AbtastfahrstraW 14 definierten Ebene.
Die Tochter-Spiegelräder Ha bis 11/weisen auf ihrem Umfang nur zehn ebene Spiegelflächen auf.
Die räumliche Anordnung der Tochter-Spiegelräder 11.7 bis 11/ist nach den Fig. 1 und 2 so. daß der Abtastfahrstrahl 14;iam Beginnseiner Abtastbewegungderart auf das erste Tochter-Spiegelrad I la fällt, daß der Fahrstrahl im wesentlichen senkrecht zur Längserstreckung L und bei rotierendem Spiegelrad Ha sektorförmig 33 in Richtung der Lichtaustrittsöffnung 32 des Gehäuses 25 reflektiert wird.
Während sich das Mutterspiegelrad 17 so langsam dreht, daß in einer Sekunde nur etwa zehn Abtastperioden durchlaufen werden, drehen sich die Tochter-Spiegelräder Ha bis 11/so schnell, daß sie etwa tausendmal in der Sekunde den Abtastsektor 33 (welcher nur beim Tochterspiegelrad Ha angedeutet ist) überstreichen. Wegen dieser erheblichen Differenz in der Abtastfrequenz kann man den Abtastfahrstrahl 14a in Fig. 1 als quasi-stationär ansehen.
Am Ende seiner Abtastbewegung nimmt der Abtastfahrstrahl die Position 146 in Fig. 1 ein. Er trifft jetzt das letzte Tochter-Spiegelrad 11/
In Zwischenstellungen (z. B. 14c oder \4d) werden nacheinander die übrigen Tochter-Spiegelräder (z. B. 116,11cJ vom Ablastfahrstrahl beaufschlagt.
In einem Abstand im wesentlichen senkrecht zur Längserstreckung L von den Tochter-Spiegelrädern 11.7 bis Il /sind unmittelbar aneinander angrenzend Fresnel-Linsen 16a bis 16/ vorgesehen, deren Brennpunkt sich an der Reflexionsstelle auf den Tochter-Spiegelrädern lla bis 11/befindet Aus diesem Grunde richten die Linsen 16a bis 16/ die auftreffenden Lichtstrahlen parallel. In dieser Weise fallen die Lichtstrahlen auf die Oberfläche der Teppichbahn 15 auf, welche nach den Fig. 1 und 5 einen Winkel von etwa 45° mit der Abtastebene gemäß F i g. 1 einschließt Aus diesem Grunde können — wie in F i g. 5 angedeutet ist — normalerweise zwischen den Florteilen 34 vorhandene Löcher 35 kein Fehlersignal auslösen, was erwünscht ist weil diese Löcher 35 wie gesagt bei derartigem Teppichmaterial normal und keine Fehlerstellen sind.
In einem Abstand hinter der Teppichbahn 15 befindet sich eine weitere Anordnung nebeneinanderliegender
Frcsncl-Linsen 2Oj bis 20/. Dahinter erstreckt sich parallel zu der Anordnung von Fresnel-Linsen 20.7 bis 20/ein Lichileitstab 22, dessen eine Stirnseite 36 verspiegelt ist und an dessen anderer Stirnseite ein das elektrische Ausgangssignal liefernder Photomultiplier 23 vorgesehen ist. An der dem Lichteintritt gegenüberliegenden Mantelseiic weist der Liehileitstab 22 eine Stufenspiegelanordnung 37 auf. wie sie aus der DE-PS 25 08 366 bekannt ist.
Zwischen der Anordnung von Fresnel-Linsen 20a bis 20/ und dem Lichtleitstab 22 befinden sich Zylinderlinsen 24a. welche in den F i g. 8 und 9 vergrößert gezeigt sind. Die Achse der Zylinderlinsen 24a bis 24/ verläuft senkrecht zur Achse des Lichtleitstabes 22 und parallel zu den Spiegelflächen der Stufenspicgelanordnung 37.
Nach den F i g. 8 und 9 sind die Zylinderlinsen 24 aus Cirauglas. d.h. aus einem im gewissen Grade Licht absorbierenden, jedoch ansonsten durchsichtigem Material hergestellt. Das Ausgangsmaterial ist an jeder Stelle gleichmäßig Licht absorbierend. Aufgrund des aus den Fig. 8 und 9 ersichtlichen Zylinderschliffes ändert sich jedoch die Durchlässigkeit der Zylinderlinse 24 von der Mitte zum Rande hin in abnehmendem Sinne. Hierdurch werden durch die Fresnel-Linsen 16, 20 sowie die Stufenspiegelanordnung 37 hervorgerufene Fehler automatisch kompensiert.
Nach Fig.4 liegen die Fresnel-Linsen 16 den Tochter-Spiegelrädern 11 etwas näher, als dies der Brennweite entspricht, so daß die austretenden Lichtfahrstrahlen so, wie das in F i g. 4 bei 10 angedeutet ist, leicht divergieren. Der Divergenzwinkel wird dabei so gewählt, daß. wenn ein Lichtstrahl nahe dem Rande einer Fresnel-Linse 16 eintritt, er nach dem Durchlaufen eines Loches in der Bahn 15 nicht in die zugeordnete Empfangs-Fresnel-Linse, sondern in die benachbarte (in Fig. 4 20i> bzw. 2Od) eintritt. Auf diese Weise können Lücken bei der Abtastung der Teppichbahn 15 im Bereich der Stoßstellen der Fresnel-Linsen 16, 20 wirksam vermieden werden.
Besonders wichtig für eine optimale Fehlererkennung mit dem erfindungsgemäßen Fehlersuchgerät sind die in den Fig. 1 und 2 dargestellten Zylinderlinsen 38, 39. welche senkrecht aufeinanderstellende Achsen besitzen. Die zuerst im Strahlengang angeordnete Zylinderlinse 38 hat eine in der Ebene der Fig. 1, d. h. in der Ebene des Fahrstrahls 14 liegende Achse 40. Wie in F i g. 2 am Tochter-Spiegelrad 11/'angedeutet ist, konzentriert die Zylinderlinse 38 den Lichtstrahl 14 zunächst auf dem Spiegelrad. Von dort divergiert dann das ausgehende Lichtbündel so stark (F i g. 5). daß es die gesamte Höhe h der Eingangs-Fresnel-Linsen 16/ausleuchtct. Die Achse 41 der Zylinderlinse 39 liegt in der Ebene der F i g. 2 bzw. steht senkrecht auf der Ebene der Fig. 1. Wie das in F ig. 1 am Tochter-Spiegelrad 11a veranschaulicht ist, bewirkt die Zylinderlinse 39, daß der Lichtstrahl 1 la bei 42 auf der Oberfläche der Teppichbahn 15 konzentriert wird. Im Zusammenhang mit der sich aus Fig.5 ergebenden Lichtstrahlaufweitung, entsteht somit auf der Oberfläche der Teppichbahn 15 ein Lichtspalt 42, welche in F i g. 1 und 5 schematisch angedeutet ist
Dieser Lichtspalt verläuft in der Bewegungsrichtung (fin F i g. 5) der Bahn, so daß er mit den in erster Linie in dieser Richtung verlaufenden Fehlstellen 43 (Fig. 1, 5) ausgerichtet ist
In F i g. 1 und 5 ist beipielsweise ein solcher Längsfehler 43 so dargestellt, daß er von einem von Tochter-Spiegelrad 11/"ausgehenden Lichtstrahl 44 erfaßt wird. Wegen der Parallelität des Spaltes 42 und der Fehlstelle 43 durchquert jetzt gemäß F i g. 5 ein breites Lichtband 45 die Fehlstelle 43, was zu einem ausgeprägten elektrischen Fehlersignal am Photomultiplier 23(Fi g. 1) führt. Nach F i g. 7 kann auch in der Brennebene jeder Fresncl-Linsc 20a bis 20/ein Photowandler 21a bis 21/angeordnet sein, ähnlich, wie das in der DE-PS 28 08 359 gezeigt und beschrieben ist. Die Photowandler werden miteinander parallel geschaltet. Auch die Verwendung von Diodenmatritzen als Photowandler 21a bis 21/ ist
ίο möglich. Bei dem Ausführungsbeispiel nach Fig.7 entfallen die Graukeil-Zylinderlinsen 24.
F i g. 6 zeigt die Anwendung der Erfindung bei der Fehlerkennung in Remission. Die Bahn 15 kann hier beispielsweise Oberflächenfehler 61 aufweisen, welche sich in einer unterschiedlichen Remission des auftreffenden Lichts bemerkbar machen. Um das remittierte Licht zu empfangen, ist hinter der Fresnel-Linse i6; eine etwa doppelt so breite Fresnel-Linse 46 seitlich versetzt angeordnet. Durch die Linse 46 wird das Licht zur optisehen Achse hin gebrochen und aufgrund geeigneter Brennweitenwahl auf der Oberfläche der Bahn 15 konzentriert. Das remittierte Licht wird von der anderen Hälfte der Linse 46 aufgenommen und über eine neben der Linse 16/angeordnete weitere Fresnel-Linse 56/"auf einem Photowandler 47/ oder einem Lichtleitstab 48 konzentriert. Die Erfindung ist also nicht auf die Anwendung bei Lochsuchgeräten beschränkt.
Nach den Fig.2 und 3 sind die Spiegelräder 11a in Lagern 49 am Gehäuse 25 gelagert. Sich aus dem Gehäuse heraus erstreckende Teile des Schaftes 50 sind mit Antriebsrollen 51 versehen, über die gernäß Fig.2 und 3 ein Treibriemen geführt ist, welcher von einem am einen Ende des Gehäuses angebrachtem Motor 52 mit einer Antriebsrolle 53 angetrieben und am entgegengesetzten Ende über eine am Gehäuse befestigte Umlenkrolle 54 in die entgegengesetzte Richtung umgelenkt wird. Zwischen den Antriebsrollen 51 sind Spannrollen 55 vorgesehen, welche einen größeren Umschlingungswinkel um die Antriebsrollen 51 herum gewährleisten.
Das von der Umlenkrolle 54 zur Motorrolle 53 zurückgeführte Trum des Treibriemens 56 ist zum Vermeiden des Flatterns an Stützrollen 57 entlanggeführt.
Aufgrund der erfindungsgemäßen Ausbildung führt der Treibriemen 56 in der aus F i g. 3 ersichtlichen Weise wellenförmig abwechselnd um eine Antriebsrolle 51 und eine Spannrolle 55 herum. Mit einem einzigen Motor 52 können somit sämtliche Tochter-Spiegelräder 11a bis 11/ zu einer gemeinsamen Drehbewegung mit gleicher Drehzahl angetrieben werden.
so Bei dem Ausführungsbeispiel nach den F i g. 10 und 11 bezeichnen gleiche Bezugszahlen entsprechende Teile wie in den vorangehenden Ausführungsfermen.
Nach Fig. 10 entwirft der Laser 26 über den Umlenkspiegel 60 und die Linse 27 wieder einen Lichtpunkt auf den Umfang des Spiegelrades 17. Vom Spiegelrad 17 wird der Lichtstrahl 18 zu dem sphärischen Hohlspiegel 13 reflektiert Beim Drehen des Spiegelrades in Pfeilrichtung wird somit der Hohlspiegel 13 in der dargestellten Weise sektorförmig von dem Lichtstrahl 18 ab- getastet Die durch die Linse 27 und den Hohlspiegel 13 erzielte Konzentration bzw. Parallelisierung des Lichtstrahls 13 ist in F i g. 10 nicht im einzelnen dargestellt, da insoweit die Verhältnisse genauso sind wie bei dem Ausführungsbeispiel nach Fi g. 1.
Beim Drehen des Spiegelrades 17 entsteht also wieder ein schräg zur Längsachse des Gehäuses 25 verlaufender Fahrstrahl 14, welcher innerhalb der Länge L des streifenförmigen Hohlspiegels 13 periodisch parallel zu
sich selbst verschoben wird. Zur Veranschaulichung des Strahlengangs ist jedoch in Fig. 10 der Fahrstrahl 14 gleichzeitig an mehreren verschiedenen Orten dargestellt Tatsächlich lirjt zu einem Zeitpunkt immer nur ein Fahrstrahl 14 einer Stelle vor.
Im Unterschied zu dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 1, 2 ist der Hohlspiegel 13 bei der Ausführungsform nach Fig. 10, 11 gerade in entgegengesetzter Richtung relativ zur Längsachse des Gehäuses 25 gekippt Er beaufschlagt somit eine parallel zur Längsachse des Gehäuses 25 verlaufende Linie 12 mit Fahrstrahlen 14, welche sich auf der entgegengesetzten Seite des Gehäuses 25 wie die Tochter-Spiegelräder 11a befindet, welche ebenfalls auf einer parallel zur Längsachse des Gehäuses 25 verlaufenden Linie 12' angeordnet sind.
Auf der Linie 12 sind im Abstand Umlenkspiegel 62a, 62Z\ 62a 62c/, 62e derart gestaffelt angeordnet, daß der Fahrsirahl 14 innerhalb seines Abtastbereiches nacheinander auf die Umlenkspiegel 62a bis 62e auftrifft. Relativ zu den Tochter-Spiegelrädern Ha bis He sind die Umlenkspiegel 62a bis 62e so angeordnet, daß der von den Umlenkspiegeln 62a bis 62e zu den Tochter-Spiegelrädern tla bis lie reflektierte Lichtstrahl 14' senkrecht zur Längsachse des Gehäuses 25 bzw. zu den Linien 12,12' verläuft Auf diese Weise werden die Tochter-Spiegelräder lla bis He im wesentlichen zentral und senkrecht zu ihrem Umfang von den Lichtstrahlen 14' getroffen. Im Gegensatz zu der Lichtbeaufschlagung gemäß Fig. 1 entsteht so eine zentralsymmetrische der Spiegelräder, was wesentliche Vorteile hinsichtlich der optischen Abbildungsqualität hat.
Die hinsichtlich ihrer Wirkungsweise dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 1,2 analogen Zylinderlinsen 38, 39 sind bei dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 10, 11 vor den Umlenkspiegeln 62a bis 62e angeordnet.
Um die Fahrstrahlen 14 in die aus Fig. 10 ersichtliche Richtung senkrecht zur Längsachse des Gehäuses 25 umzulenken, müssen die Umlenkspiegel 62a bis 62e unter Winkeln von etwas weniger als 45° zur Längsachse des Gehäuses 25 bzw. zur Linie 12 angeordnet sein. Der Winkel λ, unter dem die Linie 12 von den Fahrstrahlen 14 beaufschlagt wird, ist im wesentlichen der gleiche wie bei der Ausführungsform nach F i g. 1,2.
Im Unterschied zu dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 1,2 erzeugen die Tochter-Spiegelräder H a bis He nach den Fig. 10, 11 die parallel zu sich selbst verschobenen Tochter-Abtaststrahlen nicht mittels Fresnel-Linsen sondern mittels jeweils eines sphärischen Hohlspiegels 64a, 64<b, 64c, 64t/, 64e.
In den F i g. 10 und 11 ist die Erzeugung von Tochter-Abtastfahrstrahlen 14" anhand des Tochter-Spiegelrades lic veranschaulicht. Die Tochter-Fahrstrahlerzeugung der übrigen Tochter-Spiegelräder erfolgt analog.
Nach den Fig. !0, 11 sind die Drehachsen 69 der Tochter-Spiegelräder lic geringfügig schräggestellt, derart, daß das von den Umlenkspiegel 62a bis 62e reflektierte Licht 14' von den Spiegelrädern 11a bis lic in eine Ebene oberhalb der Umlenkspiegel 62a bis 62e reflektiert wird, was besonders deutlich aus F i g. 11 zu erkennen ist. Im Bereich oberhalb der Umlenkspiegel 62a bis 62e befinden sich Streifenplanspiegel 63a bis 63e, welche parallel zur I .ängsachse des Gehäuses 25 bzw. zur Linie 12 verlaufen und im Abstand gegenüber dem zugeordneten Tochur-Spiegelrad Ha bis He angeordnei sind. Da die Li htstrahlen 14' beim Drehen der Tochter-Spiegelradei lla bis He innerhalb eines Abtastsektors 33 reflektiert werden, müssen die Spiegel 63.-i bis 63t· eine solche Länge haben, daß alle reflektierten Lichtstrahlen innerhalb des Abtastsektors 33 von diesem erfaßt werden.
Im Bereich oberhalb der Tochter-Spiegelräder Ha bis He befinden sich in enger Nebeneinanderanords nung sphärische Hohlspiegel 64a bis 64e, welche das von den Streifenplanspiegeln 63a bis 63e reflektierte Licht empfangen. Die Anordnung und die Ausbildung der Spiegelräder lla bis lie ist so, daß die innerhalb des Abtastsektors 33 abgelenkten Lichtstrahlen die einzelnen streifenförmigen sphärischen Hohlspiegel 64a bis 64e vollständig überstreichen. Die Hohlspiegel liegen unmittelbar aneinander, so daß die Tochter-Fahrstrahlen 14" benachbarter Hohlspiegel aneinandergrenzen und ein durchgehender Überwachungsbereich erzielt
is wird.
Die Tochter-Spiegelräder lla bis He sind unter Berücksichtigung der Strahlknickung durch die Streifenplanspiegel 63a bis 63e etwas innerhalb der Brennweite der Hohlspiegel angeordnet damit wieder laicht diver- gierende Tochter-Fahrstrahlen 14" erzielt werden und keine Lücken zwischen benachbarten Tochter-Abtastanordnungen entstehen.
Analog dem Ausführungsbeispiel nach den Fig. t und 2 überstreichen die Tochter-Fahrstrahlen 14" dann wieder die auf Fehler zu untersuchende Bahn 15. In Fig. 10 ist gezeigt, daß der eine Tochter-Fahrstrahl 14" gerade eine Fehlstelle 43 in der Teppichbahn 15 durchläuft.
Aus F i g. 11, welche eine Ansicht analog F i g. 5 zeigt.
ist ersichtlich, daß auch hier die Teppichbahn 15 unter einem Winkel zu den auf sie auftreffenden Fahrstrahlen verläuft. Die Bahn wird in Richtung des Pfeiles F bewegt.
Auf der von den Tochter-Spiegelrädern Ha bis He abgewandten Seite ist eine Empfangsanordnung 70 vorgesehen, welche beim vorliegenden Ausführungsbeispiel eine sich über den Abtastbereich erstreckende Zylinderlinse 65 und einen dahinter angeordneten Lichtleitstab 62 mit einer Stufenspiegelanordnung 37 auf der vom Lichteintritt abgewandten Mantelseite aufweist. Die Anordnung ist derart, daß lediglich das parallel in die Zylinderlinse 65 eintretende Licht auf die Stufenspiegelanordnung 37 konzentriert wird, wodurch eine gewisse Richtwirkung erzielt wird und Fremdlicht die Empfangsanordnung kaum stören kann.
Die Achse 66 der Zylinderlinse 65 veriMuft parallel zu den Linien 12,12' im Empfangsteil. Der Lichtleitstab 22 ist seinerseits parallel zur Achse 66 der Zylinderlinse 65 angeordnet. An seinem einen Ende befindet sich ein Photomultiplier 23, während die entgegengesetzte Stirnseite bei 36 verspiegelt ist.
Um die Richtwirkung der Empfangsanordnung 70 noch zu verbessern ist vor der Zylinderlinse 65 eine Lamellenanordnung 67 vorgesehen, welche aus im geringen Absland angeordneten mattgeschwärzten Wänden 68 besteht die vertikal und parallel zum einfallenden Tochter-Fahrstrahl 14" verlaufen. Schräg auf die Lamellenanordnung 67 auftreffendes Fremdlicht kann auf diese Weise die Zylinderlinse 65 und damit den Lichtleitstab 22 und den Photomultiplier 23 nicht erreichen.
Der Vorteil der Verwendung von Hohlspiegeln 64a bis 64e gegenüber von Fresnel-Linsen besieht darin, daß das Öffnungsverhältnis der Hohlspiegel wesentlich größer sein kann. Während Fresnel-Linsen im allgemeinen nur eine Lange von 65 cm haben können, ist es ohne weiteres möglich, den streifenförmigen Hohlspiegeln 64a bis 64e eine Länge von 50 cm zu geben. Man beiiö-
15
tigt also für die gleiche Abtastlänge lediglich die halbe Zahl von Tochter-Lichtablenkvorrichtungen. Es kann so der Aufwand für die Erzielung einer Abtastlänge von z. B. 5 m wesentlich herabgesetzt werden.
Besonders hervorzuheben ist, daß bei dem erfindungsgemäßen Fehlersuchgerät für sämtliche Tochter-Lichtablenkvorrichtungen und den gesamten, äußerst breiten Abtaststrahl nur ein einziger Laser erforderlich ist. Außerdem ist hervorzuheben, daß für die zahlreichen Tochter-Lichtablenkvorrichtungen insbesondere Tochter-Spiegelräder nur ein einziger Antriebsmotor gegebenenfalls mit Getriebe vorzusehen ist.
Es ist nochmals zu betonen, daß der Winkel λ so groß zu wählen ist, daß die vom Spiegelrad kommenden parallelen bewegten Lichtbündel beim Übergang von einem Umlenkspiegel zum nächsten das nachfolgende Strahlenbündel nicht behindern.
Die Materialführungsvorrichtung kann vorteilhafterweisc auch kippbar bzw. verstellbar sein, damit der Winkel, unter dem das Licht auf die quer abgetastete Materialbahn fällt, optimal auf das verwendete Material eingestellt werden kann.
In den Fig. 1 und 10 ist ein wesentlich geringerer Kippwinkel der Bahn 15 angenommen als in F i g. 5, d. h., daß die Bahn 15 relativ zur Zeichnung in den F i g. 1 und 10 steiler steht.
Hierzu 6 Blatt Zeichnungen
30
45
55 I

Claims (32)

Patentansprüche:
1. Fehlersuchgerät für breitbandige laufende Bahnen aus verschiedenem Material, wie Papier, Wirkwaren aller Art, Glas, Laminaten, Holz, Non-Woven-Ware, Tuftingware, Blech, Metall, Folien, bei dem ein von einem Mutterabbildungselement auf der Bahnebene scharf abgebildeter Lichtfleck quer zur Laufrichtung bewegt wird und die zu kontrollierende Bahn in Transmission oder Reflexion auf Fehler in der gesamten Breitenausdehnung mit voller Oberdeckung des abtastenden Strahls prüft, bei dem entlang der Bahn oder quer zur Bahn in Transmission und/oder Reflexion im transmittierten und/oder is reflektierten Bereich Lichtempfangsmiuel angeordnet sind, die zumindest eine.i photoelektrischen Wandler umfassen, der entsprechend den festgestellten Fehlern Signale abgibt, und bei dem das Mutterabbildungselement das Abtastlicht auf mehrere auffallendes Licht zu einem linearen Abtastbereich führende, im Abstand auf einer Linie angeordnete Tochter-Lichtablenkvorrichtungen lenkt, derart, daß der auf der Bahnebene vorhandene Abtastbereich aus einzelnen, von dem von jeweils einer zugeordneten Tochter-Lichtablenkvorrichtung kommenden Licht erzeugten Teilstreifen zusammengesetzt ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen (Ha bis Hi) unter einem Winkel (λ) schräg zu der Linie (12), auf der sie angeordnet sind, von den vom Mutterabbildungselement (13) kommenden Lichtstrahlen beaufschlagt und derart dreh- oder schwenkbar sind, daß das schräg auf sie fallende Licht periodisch über die zugeordneten Teilstreifen geführt ist. j5
2. Fehlersuchgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen (Ha bis 11 /^jeweils im wesentlichen in der Brennebene eines optischen Tochter-Abbildungselementes, insesondere einer Linse (16a bis i6i) oder -to eines Hohlspiegels (64a bis 64e), angeordnet sind, welches das von der Tochter-Lichtablcnkvorrichtung (Ha bis Wi) kommende Licht im wesentlichen parallel richtet.
3. Fehlersuchgerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß sich benachbarte Teilstreifen geringfügig überlappen.
4. Fehlersuchgerät nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen (lla bis Wi) derart etwas aus der Brennebene der optischen Tochter-Abbildungselemente (16a bis 16Ä 64a bis (Ae) heraus verschoben sind, daß das aus den optischen Tochter-Abbildungselementen (16a bis 16a 64a bis 64e^ austretende Licht etwas divergent ist, so daß durch einen geringen Abstand benachbarter optischer Tochter-Abbildungselemente (16a bis 16a 64a bis 64ejl oder deren Stoßstelle bedingte Lücken in dem vom Licht beaufschlagten Streifen vermieden sind.
5. Fehlersuchgerät nach einem der vorhergehen- to den Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Winkel («), unter dem das Mutterabbildungselement (13) das Licht auf die Linie (12) lenkt, auf Her die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen (lla bis II/, 62a bis62e/)angeordnc; sind, 1 bis 5° beträgt. es
6. Fehlersuchgei ät nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß iler Winkel (*) etwa 2' beträgt.
7. Fehlersuchgerät nach einem der \orliergehen-
den Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen Toehter-Spiegelräde r (11 a bis Π i) sind.
8. Fehlersuchgerät nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Tochter-Spiegelräder (lla bis 11 i) fünf bis fünfzehn Spiegelflächen aufweisen.
9. Fehlersuchgerät nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Tochter-Spiegelräder (1 la bis 1\j)zehn Spiegelflächen aufweisen.
10. Fehlersuchgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen (Ha bis Wi) beaufschlagenden Lichtstrahlen durch eine dreh- oder schwenkbare Mutter-Lichtablenkvorrichtung (17) erzeugt sind, die von einem Lichtstrahl (!8) beaufschlagt ist, wobei die Abtastfrequenz der Mutter-Lichtablenkvorrichtung um mindestens eine Zehnerpotenz geringer ist als die Abtastfrequenz der Tochter-Lichtablenkvorrichtungen.
11. Fehlersuchgerät nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtastfrequenz der Mutter-Lichtablenkvorrichtung (17) um zwei Zehnerpotenzen geringer ist als die Abtastfrequenz der Tochter-Lichtablenkvorrichtungen.
12. Fehlersuchgerät nach Anspruch 10oder I !.dadurch gekennzeichnet, daß die Mutter-Lichtablenkvorrichtung ein Mutter-Spiegelrad (17) ist.
Ij. Fehlersuchgerät nach Anspruch 12. dadurch gekennzeichnet, daß das Mutter-Spiegelrad (17) fünfzehn bis fünfundzwanzig Spiegelfächen aufweist.
14. Fehlersuchgerät nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß das Mutter-Spiegelrad (17) zwanzig Spiegelflächen aufweist.
15. Fehlersuchgerät nach einem der Ansprüche 10 bis U, dadurch gekennzeichnet, daß die Mutter-Lichtablenkvorrichtung sich in der Brennebene eines sammelnden optischen Mutter-Abbildungsfclementes( 13) befindet.
Ib. Fehlersuchgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Achse (19) des optischen Mutter-Abbildungselementes (13) unter dem gleichen Winkel (et) zu der Linie (12), auf der die Tochlcr-l.ichtablenkvorrieh· Hingen (lla bis 11/,62a bis62c/angeordnet sind, wie die die Tochter-Lichtablenkvorriehlungen (lla bis 1 M)beaufschlagenden Lichtstrahlen (14) verläuft.
17. Fehlersuchgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Tochter-Lichtablcnkvorrichtungen (Wa bis Wi) unmittelbar schräg von den vom Mutter-Abbildungselement (13) kommenden Lichtstrahlen (14) beaufschlagt sind (Fi g. 1,2).
18. Fehlersuchgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen die Tochter-Lichtabienkvorrichtungen (lla bis We)und das Mutter-Abbildungselement (13) hintereinander in einer Reihe angeordnete Umlenkspiegel (62a bis §2e) vorgesehen sind,die das von dem Mutter-Abbildungselement (13) kommende Licht (14) zu den Tochter-Liehtablenkvorrichtungen (1 la bis 11 e) umlenken (Fi g. 10,11).
19. Fehlersuchgerät nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Linie (12, 12') auf der die Umlenkspiegel (12, 12') angeordnet sind, parallel /u der Linie (12,12') verläuft, auf der die Toch te r-Lieh ία blcnk vorrichtungen (1 1.7 bis 1 te)angeordnet sind.
20. Fehlersuchgerät nach Anspruch 18 oder 19. da-
durch gekennzeichnet, daß die Umlenkspiegel (62a bis 62ejso angeordnet sind, daß das von ihnen zu den Tochter-Lichtablenkvorrichtungenillabis Ile,)umgeienkte Licht im wesentlichen senkrecht auf den Umfang der Tochter-Lichtablenkvorrichtungen (Ha bis We)auftrifft
21. Fehlersuchgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß auf der von den Tochter-Lichtabienkvorrichtungen (11a bis Wi) abgewandten Seite der Bahn (15) optische Abbildungselemente, insbesondere Linsen (20a bis 20/]/nebeneinander angeordnet sind.
22. Fehlersuchgerät nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß in der Brennebene der optischen Abbildlingselemente (20a bis 20// photoelektrischer Wandler (21 a bis 21 i) angeordnet sind.
23. Fehlersuchgerät nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß in der Brennebene der optischen Abbildungselemente (20a bis 20i) ein oder zwei Lichtleitstäbe (22) angeordnet sind, an deren wenigstens einer Stirnseite ein Photomultiplier (23) vorgesehen ist und welche sich parallel /u der Linie (12), auf der die Tochter-Lichtablenkvorrichtungen (1 la bis 11 λ62a bis 62e,langeordnet sind, erstrecken.
24. Fehlersuchgerät nach Anspruch 23. mit einem eine Stufenspiegclanordnung auf der dem Lichteintritt gegenüberliegenden Mantelseite aufweisenden Lichtleitstab, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen jedem optischen Abbildungselement (20a bis 2Oi) und dem Lichtleitstab (22) eine Zylinderlinse (24a bis 24// aus Grauglas angeordnet ist, deren Ach:a senkrecht zur Achse des Lichtleitstabes (22) verläuft.
25. Fehlersuchgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 20, dadurch gekennzeichnet, daß der Empfangsseite eine Zylinderlinse (65), deren Achse (66) paral-IeI zu der Linie (12), auf der die Lichablenkvorrichtungen (Ha bis 11/. 62a bis f>2e) angeordnet sind, verläuft, und dahinter parallel ein Lichtleitstab (22) mit Stufenspiegelanordnung (37) und einem Photomultiplier (23) an wenigstens einer Stirnseite vorgesehen sind.
26. Fehlersuchgerät nach Anspruch 24. dadurch gekennzeichnet, daß vor der Zylinderlinse (65) eine Lamellenanordnung (67) zur Lichtrichtung vorgesehen ist.
27. Fehlersuchgerät nach einem der Ansprüche 10 bis 26. dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis der Zahl der pro Sekunde erfolgenden Abtastungen der Mutter-Lichtablenkvorrichtung (17) einerseits zu der Zahl der pro Sekunde erfolgenden Abtastungen jeder Tochter-Lichtablenkvorrichtung (11a bis 1 !//andererseits zwischen 1 : 50 und 1 : 150 liegt.
28. Fehlersuchgerät nach Anspruch 27. dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis 1 : 100 beträgt.
29. Fehlersuchgerät nach einem der Ansprüche 2 bis 28, dadurch gekennzeichnet, daß das Licht von den Tochtcr-Lichtablenkvorrichtungen (Ua bis We) aufgrund einer Kippung der Achsen (69) der Tochter-Lichtablenkvorrichlungen in einen Bereich oberhalb der Umlenkspiegel (62a bis 62e/ zurückreflek- bo tiert wird, wo Streifenplanspiegel (63a bis 63eJ angeordnet sind, und daß die Streifenplanspiegel (63a bis eic) das auftreffende Abtastlicht /u Hohlspiegeln (64,7 bis Me) reflektieren, die hintereinander in einem Bereich oberhalb der Tochter-Lichuiblenkvor- tv> richtungen (11a bis I ic) angeordnet sind, wobei der Brennpunkt der Hohlspiegel (64</bis 64ej im Bereich der Oberfläche der Lichiablenkvorrichtungen (W:i bis 11 fliegt
30. Fehlersuchgerät nach Anspruch 28, dadurch gekennzeichnet, daß die Oberfläche der Tochter-Lichtablenkvorrichtungen (Ha bis llej so weit innerhalb der Brennweite der Hohlspiegel (64a bis 64e) liegt, daß von letzteren im Randbereich leicht divergente Tochter-Fahrstrahlen (14") ausgehen.
31. Fehlersuchgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Sendelicht (45) unter einem optimal an das Material angepaßten Winkel von 45° auf den Teppich fällt (F ig. 5).
32. Fehlersuchgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß alle Tochter-Lichtablenkvorrichtungen (Ha bis Wi) an einen gemeinsamen Antrieb (52, 53) angeschlossen sind.
DE3125189A 1981-06-26 1981-06-26 Fehlersuchgerät für breite Bahnen Expired DE3125189C2 (de)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3125189A DE3125189C2 (de) 1981-06-26 1981-06-26 Fehlersuchgerät für breite Bahnen
GB08216483A GB2101308B (en) 1981-06-26 1982-06-07 Apparatus for seeking faults in wide material webs
US06/388,860 US4500208A (en) 1981-06-26 1982-06-16 Apparatus for seeking faults in wide material webs
IT21989/82A IT1152992B (it) 1981-06-26 1982-06-22 Apparecchio rivelatore di difetti per nastri larghi
JP57108254A JPS588178A (ja) 1981-06-26 1982-06-23 ウエブの探傷装置
FR8211139A FR2508642B1 (fr) 1981-06-26 1982-06-25 Appareil de recherche de defauts pour materiaux en bandes larges

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3125189A DE3125189C2 (de) 1981-06-26 1981-06-26 Fehlersuchgerät für breite Bahnen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3125189A1 DE3125189A1 (de) 1983-03-03
DE3125189C2 true DE3125189C2 (de) 1984-06-14

Family

ID=6135467

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3125189A Expired DE3125189C2 (de) 1981-06-26 1981-06-26 Fehlersuchgerät für breite Bahnen

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4500208A (de)
JP (1) JPS588178A (de)
DE (1) DE3125189C2 (de)
FR (1) FR2508642B1 (de)
GB (1) GB2101308B (de)
IT (1) IT1152992B (de)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3212438C2 (de) * 1982-04-02 1984-10-25 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Verfahren zur Auswertung der analogen elektrischen Ausgangssignale einer photoelektrischen Lichtempfangsvorrichtung in optischen Bahnabtastvorrichtungen
DE3219388C2 (de) * 1982-05-24 1986-05-22 Dipl.-Ing. Bruno Richter GmbH & Co. Elektronische Betriebskontroll-Geräte KG, 8602 Stegaurach Optisch-elektrische Meßeinrichtung zum Messen der Lage und/oder der Abmessung von Gegenständen
DE3324746C2 (de) * 1983-07-08 1986-04-10 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Drehspiegelanordnung
DE3325136C1 (de) * 1983-07-12 1984-11-22 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Fehlersuchgerät für Bahnen
DE3325127C1 (de) * 1983-07-12 1985-01-31 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Schaltungsanordnung zum Ausgleich von Amplitudenschwankungen eines Empfangssignals bei einer optischen Abtastvorrichtung
DE3334357C2 (de) * 1983-09-22 1986-04-10 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Optisches Fehlersuchgerät für Bahnen
JPS62120147A (ja) * 1985-11-20 1987-06-01 Fujitsu Ltd 論理パス接合通信方式
US4900942A (en) * 1988-02-10 1990-02-13 Milliken Research Corporation Fabric pile lay detector using mirror system with means to rotate 360 degrees
JPH0641923B2 (ja) * 1988-09-20 1994-06-01 株式会社東芝 表面検査装置
US4916691A (en) * 1988-10-28 1990-04-10 American Telephone And Telegraph Company Telecommunications switching system
US5068523A (en) * 1990-03-02 1991-11-26 Intec Corp. Scanner detector array and light diffuser
US5073712A (en) * 1991-04-11 1991-12-17 Abb Process Automation, Inc. Light scanner web profile measurement apparatus and method
GB2255650A (en) * 1991-05-08 1992-11-11 Spectra Physics Scanning Syst Laser bar code scanner producing parallel scan lines
CA2108940A1 (en) * 1992-11-13 1994-05-14 James W. Oram Material fault detector
DE4315105C1 (de) * 1993-05-06 1994-09-01 Sick Optik Elektronik Erwin Verfahren und Anordnung zum Winkeljustieren einer Linienabtastvorrichtung
ES2731276T3 (es) * 2016-08-29 2019-11-14 Siemens Ag Procedimiento para el funcionamiento de una máquina para la fabricación y/o el tratamiento de una banda de material
DE102018219344B3 (de) 2018-11-13 2019-12-24 Orafol Fresnel Optics GmbH System zur Abbildung von Oberflächenbereichen, insbesondere äußerer Mantelflächen dreidimensionaler Körper

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2222937A (en) * 1937-09-21 1940-11-26 Rca Corp Scanning device
US3135867A (en) * 1961-05-31 1964-06-02 Champion Papers Inc Apparatus for inspecting a moving web
US3393322A (en) * 1965-03-23 1968-07-16 Linderman Engineering Company Photosensitive device for protecting the photoresponsive transducer in a pinhole detector
US3535535A (en) * 1966-10-03 1970-10-20 Paul Nash Inspection and sorting of sheet materials by photoelectric means
BE699861A (de) * 1967-06-13 1967-11-16
US3760184A (en) * 1972-03-10 1973-09-18 Sick Erwin Fa Photoelectric monitoring device for pluralities of threads
US3843890A (en) * 1973-07-27 1974-10-22 Du Pont Optical-electrical web inspection system
US3958128A (en) * 1973-09-28 1976-05-18 Kawasaki Steel Corporation System for determining a transversal position of any defect in a traveling sheet material
JPS5248031B2 (de) * 1974-05-13 1977-12-07
DE2433682C3 (de) * 1974-07-12 1979-02-15 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Vorrichtung zur Überwachung einer Materialbahn oder einer sonstigen Abtastebene
DE2550814C3 (de) * 1975-11-12 1979-08-09 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Zeilentastvorrichtung für Materialbahnen zur Fehlstellenermittlung
US4057351A (en) * 1976-02-23 1977-11-08 Greenwood Mills, Inc. Coherent scanning system for fabric inspection
DE2808359C3 (de) * 1978-02-27 1980-09-04 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Suchgerät für Löcher in Bahnen
US4260899A (en) * 1979-06-14 1981-04-07 Intec Corporation Wide web laser scanner flaw detection method and apparatus
DE2925734C3 (de) * 1979-06-26 1982-06-24 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Optisches Fehlersuchgerät für Materialbahnen
DE2932660A1 (de) * 1979-08-11 1981-02-26 Feldmuehle Ag Verfahren und vorrichtung zum definieren der fehlerart
DE2934554C2 (de) * 1979-08-27 1984-08-02 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Optoelektronisches Überwachungsgerät.
DE3000352C2 (de) * 1980-01-07 1986-07-24 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Optoelektronisches Überwachungsgerät

Also Published As

Publication number Publication date
US4500208A (en) 1985-02-19
IT1152992B (it) 1987-01-14
FR2508642B1 (fr) 1986-05-09
JPS6218667B2 (de) 1987-04-23
IT8221989A0 (it) 1982-06-22
DE3125189A1 (de) 1983-03-03
FR2508642A1 (fr) 1982-12-31
GB2101308B (en) 1985-03-06
JPS588178A (ja) 1983-01-18
GB2101308A (en) 1983-01-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3125189C2 (de) Fehlersuchgerät für breite Bahnen
DE3006072C2 (de) Fehlstellenermittlungsvorrichtung für Materialbahnen
DE2532602C3 (de) Optische Vorrichtung mit einem Lichtvorhang
DE2827704C3 (de) Optische Vorrichtung zur Bestimmung der Lichtaustrittswinkel
DE2433683C3 (de) Vorrichtung zur Überwachung einer Materialbahn auf Fehlstellen
DE2550815C3 (de) Optisches Abtastsystem
DE2532603C3 (de) Optische Vorrichtung zur Bestimmung des Lichtaustrittswinkels
DE3000352C2 (de) Optoelektronisches Überwachungsgerät
DE2338295C2 (de) Vorrichtung zum Feststellen von Fehlern auf gegenüberliegenden Flächen einer im wesentlichen ebenen Bahn
DE2550814C3 (de) Zeilentastvorrichtung für Materialbahnen zur Fehlstellenermittlung
DE2827705C3 (de) Gerät zur Feststellung von Fehlern an Bahnmaterial
DE2552331A1 (de) Vorrichtung zur vereinigung von von einem linearen abtastfeld ausgehendem licht auf einem empfaenger
DE2552332C3 (de) Abtastvorrichtung
DE2051908A1 (de) Photoelektronische Oberflachenabtast einrichtung
DE2552333C3 (de) Vorrichtung zur Vereinigung von von einem linearen Abtastfeld ausgehendem Licht auf einem Empfanger
DE3135452C2 (de)
DE2559881C3 (de) Optische Vorrichtung mit vorhangartig hin- und herbewegtem Lichtstrahl
DE8328870U1 (de) Optisches streifensuchgeraet
DE3325136C1 (de) Fehlersuchgerät für Bahnen
DE2904435A1 (de) Lochsuchgeraet fuer materialbahnen
DE2312944C3 (de) Vorrichtung zur Messung der Intensität eines Lichtbündels an unterschiedlichen Stellen eines linienförmigen Bereiches mit einem Lichtleitstab
DE2462346A1 (de) Vorrichtung zur ueberwachung einer materialbahn auf fehlstellen
DE2800351C (de) Optische Vorrichtung zur Bestimmung des Lichtaustrittswinkels bei einer mit einem Lichtfleck abgetasteten Materialbahn
DE2115979A1 (de) Vorrichtung zur Messung der Intensität von nacheinander an unterschiedlichen Stellen einer Linie auftretendem Licht mit einem Lichtleitstab
DE7112646U (de) Vorrichtung zur Messung der Inten sitat von nacheinander an unterschied liehen Stellen einer Linie auftretendem Licht mit einem Lichtleitstab

Legal Events

Date Code Title Description
OM8 Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee