DE2951943A1 - Verfahren zum erzielen der ausrichtung zwischen gegenstaenden - Google Patents
Verfahren zum erzielen der ausrichtung zwischen gegenstaendenInfo
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Description
VERFAHREN ZUM ERZIELEN DER AUSRICHTUNG
ZWISCHEN GEGENSTÄNDEN
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Erzielen der Ausrichtung zwischen Gegenständen und
insbesondere auf ein Verfahren zum automatischen Erzielen der Ausrichtung in einem computer-unterstützten Positionier-
und Montier-System hinsichtlich mindestens zweier Gegenstände, die einander zur Deckung zu bringen
sind.
Bei verschiedenen Arten von Montier-Systemen besteht im allgemeinen einer der wichtigen Vorgänge darin, das Ausrichten
zwischen Gegenständen zu erzielen, die einander zur Deckung zu bringen sind. Zum Beispiel in einem System
zur Herstellung gedruckter Schaltungsbaugruppen besteht einer der wichtigen Vorgänge darin, die Ausrichtung
zwischen ersten Gegenständen, d.h. einer Vielzahl von Anschlußflecken, die auf der Oberfläche der gedruckten
Platte angebracht sind, und zweiten Gegenständen, d.h. einer Vielzahl von Anschlüssen eines IC (Integrated
Circuit)-Bausteines, zu erzielen, wobei jeder der Anschlüsse mit dem entsprechenden, genannten Anschlußfleck
zur Deckung zu bringen ist, so daß die Anschlüsse und die entsprechenden Anschlußflecken exakt mit Lötmittel
verbunden werden. Da der IC-Baustein viele Anschlüsse besitzt, z.B. mehrere -zig Anschlüsse, ist es bei dem
Vorgang zum Erzielen der Ausrichtung zwischen den genannten Anschlüssen und den genannten, entsprechenden
Anschlußflecken sehr schwierig, die Ausrichtung zwischen so vielen Anschlüssen und den entsprechenden Anschlußflecken
mit großer Genauigkeit und in sehr kurzer Zeit zu erzielen.
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Gemäß dem Stande der Technik sind viele Verfahren zum
Erzielen der Ausrichtung zwischen Anschlüssen und den entsprechenden Anschlußflecken vorgeschlagen und in die
Praxis umgesetzt worden. Ein erstes Verfahren dafür wird unter Verwendung eines Strahlenteilers und eines Mikroskops
ausgeführt. In dem ersten Verfahren werden die Anschlüsse eines IC-Bausteines über den Anschlußflecken
mit einem Abstand von ungefähr 30 cm dazwischen angeordnet, und der IC-Baustein wird in einer horizontalen Ebene
durch eine mechanische Hand bewegt. Ein Prüfer beobachtet die Anschlußflecken direkt durch das Mikroskop
und den Strahlenteiler. Gleichzeitig beobachtet er ein Bild der Anschlüsse durch das Mikroskop, wobei das Bild
von dem Strahlenteiler reflektiert wird. Dann steuert er die mechanische Hand und verschiebt die Lage des IC-Bausteines
so, daß das Bild der Anschlüsse sich mit den entsprechenden Anschlußflecken deckt. Wenn eine Koinzidenz
erreicht ist, verschiebt er den Baustein nach unten, so daß die Anschlüsse exakt die entsprechenden Anschlußflecken
kontaktieren. Dieses erste Verfahren besitzt jedoch einen Mangel, weil es schwierig ist, das
Ausrichten zwischen ihnen mit hoher Genauigkeit und in sehr kurzer Zeit zu erzielen. Ein zweites Verfahren dafür
wird unter Verwendung einer Vergrößerungsapparatur ausgeführt. In dem zweiten Verfahren werden das Bild der
Anschlüsse und das Bild der Anschlußflecken auf einen Schirm projiziert. Der Prüfer steuert die genannte mechanische
Hand so, daß sich die beiden genannten Bilder auf dem Schirm decken, um dann, wenn Koinzidenz erreicht
ist, den Baustein nach unten zu verschieben und die Anschlüsse exakt mit den entsprechenden Anschlußflecken zu
kontaktieren. Dieses zweite Verfahren besitzt jedoch den
gleichen Mangel wie das erste Verfahren. Ein drittes Verfahren dafür wird unter Verwendung eines optischen
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Detektors ausgeführt. In dem dritten Verfahren ermittelt der optische Detektor den Endanschluß, der an der Ecke
des IC-Bausteines herausragt, und der Prüfer steuert die mechanische Hand so, daß der Endanschluß in eine Position
bewegt wird, die direkt über dem entsprechenden Anschlußfleck liegt. Dieses dritte Verfahren besitzt einen
Mangel, weil es schwierig ist, eine sehr genaue Ausrichtung zwischen den verbleibenden Anschlüssen und den verbleibenden
Anschlußflecken zu erzielen. Das liegt daran, daß dieser Endanschluß infolge von mechanischen Einwirkungen,
z.B. während des Transportes des IC-Bausteines, bogenförmig gekrümmt ist, obwohl der Endanschluß, der
als Skala für die Ausrichtung wirkt, geradlinig von dem IC-Baustein wegragen sollte. Ein letztes Verfahren dafür
ist das sogenannte Mustervergleichs-Verfahren. Bei diesem Verfahren ist der Bestimmungsort der Position jedes
Anschlusses im voraus in einer Speicheranordnung eines Computers gespeichert. Der Computer steuert die Position
jedes Anschlusses so, daß sich die tatsächlich vorliegende Position jedes Anschlusses mit dem gespeicherten
Bestimmungsort der Position des entsprechenden Anschlusses deckt. Dieses letzte Verfahren besitzt Mängel dadurch,
daß es erstens schwierig ist, selbst wenn die genannte Koinzidenz erreicht worden wäre, eine sehr genaue
Ausrichtung zwischen ihnen zu erzielen, da die Positionen der Anschlußflecken infolge einer leichten Verbiegung,
die auf der gedruckten Platte entsprechend der Veränderung der atmosphärischen Temperatur entstanden
ist, geringfügig von den vorherbestimmten Positionen abweichen, und dadurch, daß es zweitens unmöglich ist,
dieses letzte Verfahren auszuführen, wenn der Bestimmungsort der Position jedes Anschlusses nicht vorbereitet
und im voraus in der Speicheranordnung des Computers gespeichert ist.
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Deshalb ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zum Erzielen der Ausrichtung zwischen Gegenständen
zu schaffen, die einander zur Deckung zu bringen sind, wobei das Verfahren keine Mängel ähnlich
den oben erwähnten Mängeln aufweist, wie sie bei dem ersten bis vierten Verfahren des Standes der Technik
auftreten.
Die vorliegende Erfindung wird deutlicher durch die folgende Beschreibung mit Bezugnahme auf die zugehörigen
Zeichnungen.
ein Verfahren eines ersten Ausführungsbeispieles gemäß der vorliegenden Erfindung auszuführen.
Fig. 2 stellt ein Flußdiagramm dar, das zur Erklärung der Ausführung des Verfahrens gemäß der vorliegenden Erfindung
dient.
Fig. 3A zeigt eine Vorderansicht der in Fig. 1 dargestellten Sensorkamera 15 und von Anschlußflecken 11, die
auf einer gedruckten Platte 13 angeordnet sind.
Fig. 3B zeigt eine Teil-Draufsicht der Anschluß flecken 11, die auf der in Fig. 3A dargestellten gedruckten
Platte 13 angeordnet sind.
Fig. 4A zeigt eine Vorderansicht der in Fig. 1 dargestellten Anschlußflecken 11, die auf der gedruckten
Platte 13 angeordnet sind, der Anschlüsse 12, die aus dem IC-Baustein 14 herausragen, und der Sensorkamera
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yß
Fig. 4B zeigt eine Draufsicht der in Fig. 4A dargestellten Anschlußflecken 11, die auf der gedruckten Platte 13
angeordnet sind, und der Anschlüsse 12, die aus dem IC-Baustein 14 herausragen.
Fig. 5 stellt schematisch "0'711I"-Bitmuster von zu verarbeitenden
Daten dar, welche mit Hilfe der in den Figuren 3A und 4A gezeigten Sensorkamera 15 gesammelt werden.
Fig. 6 ist eine graphische Darstellung, die schematisch eine Beziehung zwischen einem Ausrichtungskoeffizientenfaktor
F und einer Verschiebung L wiedergibt.
Fig. 7 ist eine graphische Darstellung, die eine aktuelle Beziehung zwischen dem Faktor F und der Verschiebung
L wiedergibt, die aus dem experimentalen Ergebnis der Daten gewonnen wird.
Fig. 8 stellt eine Teil-Draufsicht des IC-Bausteines 14, der mit den Anschlüssen 12 versehen ist, und der Anschlußflecken
11 dar, die zum Erklären einer bestimmten, in die Beziehung zwischen dem Faktor F und der Verschiebung
L eingefügten Charakteristik dient.
Fig. 9 gibt graphische Darstellungen wieder, die die Abhängigkeitskurven
zwischen dem Faktor F und der Distanz L angeben; diese Beziehungen a), b), c) und d) werden
ermittelt, wenn die Anschlüsse 12 und die Flecken 11 in
entsprechender Weise entlang der in Fig. 8 gezeigten Abtastbereiche "a", "b", "c" und "d" abgetastet werden.
Fig. 1OA, Fig. 1OB und Fig. 1OC geben Teil-Draufsichten der Anschlüsse 12 und der Flecken 11 wieder, die einander
entsprechende irreguläre Teile enthalten.
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/At
Fig. 11 ist eine graphische Darstellung, die die Abhängigkeitskurve
zwischen dem Faktor F und der Distanz L wiedergibt, die unter Verwendung der in einer der Figuren
1OA, 10B und 10C gezeigten Anordnung der Anschlüsse 12 und der Flecken 11 gewonnen wird.
Fig. 12 zeigt schematisch eine allgemeine Ansicht eines Positionier- und Montier-Systems, das dafür vorgesehen
ist, um ein Verfahren eines zweiten Ausftihrungsbeispieles gemäß der vorliegenden Erfindung auszuführen.
Fig. 13 stellt eine Teil-Draufsicht des IC-Bausteines 14, der mit den Anschlüssen 12 versehen ist, und der Anschlußflecken
dar, die zum Erklären des zweiten Verfahrens der vorliegenden Erfindung benutzt wird.
Fig. 14 ist eine graphische Darstellung, die schematisch eine Beziehung zwischen einer Lichtmenge Q und einer
Verschiebung wiedergibt.
Fig. 15 stellt eine Teil-Draufsicht des IC-Bausteines 14, der mit den Anschlüssen 12 versehen ist, und der Anschlußflecken
dar, die auch zum Erklären des zweiten Verfahrens der vorliegenden Erfindung benutzt wird.
Fig. 16 zeigt schematisch eine allgemeine Ansicht eines Positionier- und Montier-Systems, das dafür vorgesehen
ist, um ein Verfahren eines dritten Ausführungsbeispieles gemäß der vorliegenden Erfindung auszuführen.
Fig. 17 stellt Wellenformen von Signalen dar, die in dem in Fig. 12 gezeigten System auftreten.
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Fig. 18 zeigt,sowohl eine Wellenform als auch eine graphische
Darstellung, die zum Erklären des dritten Verfahrens der vorliegenden Erfindung benutzt werden.
Fig. 19 gibt eine allgemeine Ansicht eines Positionier- und Montier-Systems wieder, das geeignet ist, ein modifiziertes
drittes Verfahren gemäß der vorliegenden Erfindung auszuführen.
Fig. 20 stellt Wellenformen eines Signals dar, die in dem System der Fig. 19 auftreten.
Die Figuren 21A und 21B sind graphische Darstellungen,
die die Abhängigkeitskurven zwischen einem Komponentenwert a und der Ordnungszahl η einer Harmonischen wiedergeben.
In Fig. 1, die schematisch eine allgemeine Ansicht eines Positionier- und Montier-Systems zeigt, das dafür vorgesehen
ist, um ein Verfahren eines ersten Ausführungsbeispieles gemäß der vorliegenden Erfindung auszuführen,
stellt die Bezugszahl 11 im allgemeinen einen ersten Gegenstand, z.B. einen Anschlußfleck, dar, der ausgerichtet
werden soll. Die Bezugszahl 12 stellt im allgemeinen einen zweiten Gegenstand dar, der mit dem ersten Gegenstand
ausgerichtet werden soll. Der zweite Gegenstand ist z.B. der Anschluß eines IC-Bausteines. Eine Vielzahl
von Anschlußflecken 11 ist auf einer gedruckten Platte 13 angeordnet. Eine Vielzahl von Anschlüssen 12 ragt aus
dem IC-Baustein 14 hervor. Eine Sensorkamera 15 ist direkt sowohl über den Anschlußflecken 11 als auch über
den Anschlüssen 12 fest angeordnet. Ein von der Kamera 15 erzeugtes Videosignal V wird an einen Schwingungsformerschaltkreis
16 angelegt und darin in ein Rechtecksignal umgewandelt. Das von dem Schaltkreis 16 erzeugte
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Rechteck-Videosignal wird als digitale Daten DT an eine Eingangsstufe einer Mikroprozessoreinheit (MPU) 18 übergeben.
Die Mikroprozessoreinheit 18 und der Schaltkreis 16 werden miteinander über ein konventionelles Ein-/Ausgabe-Interface
17 gekoppelt. Der Schaltkreis 16 kann außer den digitalen Daten DT ein Taktsignal CKL und auch
ein Startsignal ST erzeugen. Die Mikroprozessoreinheit 18 speichert im Inneren die Daten DT und verarbeitet die
Daten DT gemäß dem ersten Verfahren der vorliegenden Erfindung. Dann werden die durch die Bearbeitung der Einheit
18 gewonnenen, resultierenden Daten als Vorwärts-Bewegungssignal F und Rückwärts-Bewegungssignal B über
das Interface 17 an einen Antriebssteuerschaltkreis 19 angelegt. Der Schaltkreis 19 steuert den IC-Baustein 14
zusammen mit den Anschlüssen 12 mit Hilfe eines Impulsmotors (MOTOR) 20, einer Antriebsgewindespindel 21,
einer Laufmutter-Einrichtung 23 und einer Greifeinrichtung 24, die mit einer Spannfeder versehen ist, um ihn
vorwärts oder rückwärts in Pfeilrichtung X gemäß dem Signal F oder dem Signal B zu bewegen. Der IC-Baustein
14 wird in Pfeilrichtung X bewegt, bis jeder der Anschlüsse 12 mit jedem der entsprechenden Anschlußflecken
11 exakt ausgerichtet ist. Zuletzt wird der IC-Baustein 14 zusammen mit den Anschlüssen 12 so nach unten bewegt,
daß er sich exakt mit den entsprechenden Anschlußflecken
11 verbindet, und die Anschlüsse 12 und die Anschlußflecken 11 werden einem Lötprozeß unterworfen, so daß
die Anschlüsse 12 fest mit den entsprechenden Anschlußflecken 11 verbunden werden. Die vorbestimmten Programme
werden durch eine Tastatur 25 über ein Ein-/Ausgabe-Interface 26 in die Einheit 18 eingegeben.
Im folgenden wird der Ablauf des ersten Verfahrens gemäß der vorliegenden Erfindung mit Bezugnahme auf die Figuren
2, 3A, 3B, 4A, 4B und 5 erklärt. In Fig. 2, die das
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Flußdiagramm des Verlaufes der Ausführung des ersten Verfahrens gemäß der vorliegenden Erfindung darstellt,
bezeichnet die Bezugszahl (T) einen Verarbeitungsschritt, in dem die gedruckte Platte 13 zusammen mit den
Anschlußflecken 11 bewegt wird, so daß die Anschlußflecken 11 in das von der Sensorkamera 15 gesehene Gesichtsfeld
kommen. Das bedeutet, der Verarbeitungsschritt (jj entscheidet, ob die gedruckte Platte 13 in
der gewünschten Position exakt angeordnet ist oder nicht ("IST PLATTE 13 EXAKT ANGEORDNET?")· Dieser Verarbeitungsschritt
(Y) kann unter Verwendung eines sogenannten Grenzschalters (nicht in der Fig. 1 gezeigt) erreicht
werden, wobei die gedruckte Platte 13 bewegt wird, bis sie gegen den Grenzschalter stößt. Am Ende des Verarbeitungsschrittes
(T) sind die Anschlußflecken 11 auf der Platte 13 und die Sensorkamera 15 in einer Anordnung positioniert,
wie sie in Fig. 3A gezeigt ist, die eine Vorderansicht der in Fig. 1 gezeigten Sensorkamera 15
und der Anschluß flecken 12, die auf der gedruckten Platte 13 angebracht sind, darstellt. Fig. 3B stellt eine
Teil-Draufsicht der Anschlußflecken 11 dar, die auf der gedruckten Platte 13 angebracht sind. Wie der Fig. 3A zu
entnehmen ist, enthält die Sensorkamera 15 ein optisches Linsensystem 31 und einen CCD (Charge Coupled Device)
32. Das Bildmuster, das mit Hilfe des CCD 32 mit Unterstützung des Linsensystems 31 gesammelt wird, entspricht
dem in Fig. 3B gezeigten, gedruckten Muster. Der Verarbeitungsschritt Q) in Fig. 2 bezeichnet einen Verarbeitungsschritt,
in dem das sowohl durch die Anschlußflecken 11 als auch durch die gedruckte Platte 13 erzeugte
Bildmuster durch die Sensorkamera 15 gesammelt wird ("SAMMELN DES BILDMUSTERS DER FLECKEN 11 UND DER
PLATTE 13"). Das gesammelte Bildmuster wird an den Schwingungsformerschaltkreis 16 übergeben. Der Schalt-
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kreis 16 erzeugt die digitalen Daten DT in Form von logischen "O'V'T'-Bit-Daten und übergibt diese der Mikroprozessoreinheit
18 (Siehe Fig. 1). Die digitalen Daten DT werden in einer Speicheranordnung (nicht gezeigt) der
Einheit 18 als gesammelte Meister-Bildmuster-Daten gespeichert. Die Meister-Bildmuster-Daten sind aus 11O"/
"1"-Bit£olgen zusammengesetzt; die Zahl der Bitfolgen
ist z.B. 512, wenn der CCD 32 als 512-Bit-CCD ausgeführt ist. Jedes der MO"-Bits der Meister-Bildmuster-Daten
stellt ein durch den gedruckten Plattenbereich (13) in der Fig. 3B definiertes Muster dar. Jedes der 'T'-Bits
der Meister-Bildmuster-Daten stellt ein durch den Anschlußfleckenbereich (11) in der Fig. 3B definiertes Muster
dar. Als Ergebnis können die Meister-Bildmuster-Daten gewonnen werden, die eine wie in Reihe a) der Fig. 5
gezeigte Bit-Anordnung besitzen. In der Reihe a) der Fig. 5 entspricht jeder "O"-Bitbereich dem Bildmuster
der gedruckten Platte 13, und jeder "1"-Bitbereich entspricht dem Bildmuster der Anschlußflecken 11. Der Verarbeitungsschritt
(?) in Fig. 2 bezeichnet einen Verarbeitungsschritt, in dem der IC-Baustein, der die Anschlüsse
12 besitzt, so bewegt wird, daß die Anschlüsse 12 in das von der Sensorkamera 15 gesehene Gesichtsfeld
kommen. Das bedeutet, der Verarbeitungsschritt QT) entscheidet,
ob der IC-Baustein 14 exakt an der gewünschten Position angeordnet ist oder nicht ("IST BAUSTEIN 14
EXAKT ANGEORDNET"). Dieser Verarbeitungsschritt (?) kann unter Verwendung eines Grenzschalters (nicht in der Fig.
1 gezeigt) erreicht werden, wobei der IC-Baustein 14 bewegt wird, bis er gegen den Grenzschalter stößt. Am Ende
des Verarbeitungsschrittes (?) sind die auf der Platte angebrachten Anschlußflecken 11, die aus dem IC-Baustein
14 herausragenden Anschlüsse 12 und die Sensorkamera 15 in einer Anordnung, wie sie in der Fig. 4A gezeigt ist,
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die eine Vorderansicht der in Fig. 1 gezeigten, oben erwähnten Teile 11, 12, 13, 14 und 15 wiedergibt. Fig. 4B
stellt eine Teil-Draufsicht der oben erwähnten Teile 11 bis 14 dar; die Teile 31 und 32 in der Fig. 4A sind
schon unter Bezugnahme auf Fig. 3A erklärt worden. Ein Bildmuster, das mit Hilfe des CCD 32 mit Unterstützung
durch das Linsensystem 31 gesammelt wird, entspricht der Anordnung sowohl der Flecken 11 als auch der Anschlüsse
12. Der Verarbeitungsschritt (V) in Fig. 2 bezeichnet einen Verarbeitungsschritt, in dem der IC-Baustein 14
zusammen mit den Anschlüssen 12 entlang der in der Fig. 1 gezeigten Pfeilrichtung X vorwärts oder rückwärts bewegt
wird. Mit anderen Worten, der Verarbeitungsschritt (a) ist ein Verarbeitungsschritt zur Ausführung eines
Abtastvorganges ("ABTASTEN") durch die Kamera 15. Das durch diesen Abtast-Verarbeitungsschritt (V) erhaltene
Signal wird als 11O1V11I"-Bit-Daten DI über den Schwingungsformerschaltkreis
16 an die Mikroprozessoreinheit 18 übergeben (siehe Fig. 1). Die Bildmuster-Daten, die
durch diesen Verarbeitungsschritt (V) gewonnen werden, werden nachstehend als abgetastete Bildmuster-Daten bezeichnet.
Diese abgetasteten Bildmuster-Daten unterscheiden sich von den vorgenannten, im Verarbeitungsschritt (?) der Fig. 2 gesammelten Meister-Bildmuster-Daten.
Anfangs sind die Anschlüsse 12 noch nicht exakt mit den Anschlußflecken 11 ausgerichtet, wie in den Figuren
4A und 4B gezeigt ist, und folglich können die abgetasteten Bildmuster-Daten, die eine wie in Reihe b)
der Fig. 5 gezeigte Bitanordnung besitzen, gewonnen werden. Die Zahl der in Reihe b) gezeigten Bits "1" ist
größer als die Zahl der in Reihe a) der Fig. 5 gezeigten Bits "1". Das liegt daran, daß die den Anschlüssen 12
entsprechenden Bits "1" teilweise in die den Bereichen 13 entsprechenden "O"-Bitbereiche gelangen. Wenn jedoch
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y/
während des Abtastverarbeitungsschrittes (V) der Fig. 2 die Anschlüsse 12 exakt zu den Anschlußflecken 11 ausgerichtet
sind, wird die Zahl der in Reihe b) der Fig. 5 gezeigten Bits "1" gleich der Zahl der in Reihe a) gezeigten
Bits "1". Somit dürfte es klar sein, daß, wenn die Gesamtzahl der Bits Ί" der abgetasteten Bildmuster-Daten
(siehe Reihe b) der Fig. 5) während des Abtastverarbeitungsschrittes
(T) der Fig. 2 einen minimalen Wert annimmt, diese Tatsache aus einem anderen Gesichtspunkt
heraus angibt, daß die Anschlüsse 12 exakt zu den Anschlußflecken 11 ausgerichtet sind. Zu diesem Zeitpunkt
ist demzufolge der Vorgang zum Erzielen der Ausrichtung abgeschlossen. In diesem Fall gelangt kein dem Bildmuster
jedes Anschlusses 11 entsprechendes Bit "1" in die in der Reihe a) der Fig. 5 gezeigten "O"-Bitbereiche
Das Prinzip des ersten Verfahrens gemäß der vorliegenden Erfindung ist durch die oben erwähnten Verarbeitungsschritte
(T) bis (^) der Fig. 2 erklärt worden. In der
praktischen Nutzung jedoch entsteht oft ein Problem, wenn das Verfahren zum Erzielen der Ausrichtung von Gegenständen
nur gemäß diesem Prinzip ausgeführt wird. Das Problem besteht darin, daß die Ausrichtung nicht immer
perfekt, d.h. ohne Fehler erzielt wird. Der Grund dafür, daß das oben erwähnte Problem entsteht, ist folgender.
Da die Anschlußflecken 11 bei der Vorbereitung mit Lötmittel überzogen werden, ist im allgemeinen die Stärke
des von ihnen reflektierten Lichtstrahles nicht hoch, aber gleichmäßig. Deshalb können die den mit Lötmittel
überzogenen Anschlußflecken 11 entsprechenden Bildmuster-Daten immer ohne Fehler als "1"-Bit-Daten aufgesammelt
werden. Da die Anschlüsse 12 einen Vorverzinnungsprozeß durchlaufen, ist im allgemeinen, im Gegensatz zu oben,
die Stärke des von ihnen reflektierten Lichtstrahles
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nicht gleichmäßig, aber hoch. Deshalb können die den
vorverzinnten Anschlüssen 12 entsprechenden Bildmuster-Daten nicht immer als "1"-Bit-Daten gesammelt werden und
sind oft in unkorrekte "O"-Bit-Daten geändert. Das liegt daran, daß die Oberfläche jedes der vorverzinnten Anschlüsse
12 einen Bereich, von dem der Lichtstrahl stark reflektiert wird,.oder einen Bereich, von dem kein
Lichtstrahl reflektiert wird, besitzt. Demzufolge können die abgetasteten Bildmuster-Daten, die eine wie in Reihe
c) der Fig. 5 gezeigte Bitanordnung besitzen, gewonnen werden. In der Reihe c) der Fig. 5 stellen die MO"-Bits,
die oben Punkte haben, die unkorrekten "O"-Bit-Daten dar, die von den genannten, keinen Lichtstrahl reflektierenden
Bereichen der Oberflächen der vorverzinnten Anschlüsse 12 gesammelt werden. Es ist einleuchtend, daß
die Ausrichtung nicht mit hoher Genauigkeit erzielt werden kann, wenn solche unkorrekten "O"-Bits in den Bildmuster-Daten
enthalten sind. Das liegt daran, daß die oben erwähnte Gesamtzahl der "1"-Bits infolge der Anwesenheit
der unkorrekten "O"-Bits einen minimalen Wert annehmen würde, obwohl die Anschlüsse 12 nicht exakt zu
den Anschlußflecken 11 ausgerichtet sind.
Um das oben erwähnte Problem zu lösen, ist es wünschenswert, einen neuen Ausrichtungskoeffizientenfaktor F in
das System einzuführen. Dieser Faktor F wird durch die folgende Gleichung definiert:
F= Σ
n=l
n=l
Wenn der Wert dieses Faktors F ein Minimum erreicht, kann die Ausrichtung perfekt ohne Erzeugung irgendwel-
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eher Fehler vollendet werden, selbst wenn die unkorrekten
"O"-Bits noch in den abgetasteten Bildmuster-Daten enthalten sind. In der obigen Gleichung
m _
F=E (M 'S),
, π η
n=l
n=l
bezeichnet das Symbol M die invertierten Bitdaten des
η-ten Bits in den Meister-Bildmuster-Daten (siehe Reihe a) der Fig. 5). Folglich wird die Logik von Rn nur 11I",
wenn das n-te Bitdatum logisch "0" ist. Insbesondere wird nur die den "O"-Bitbereichen 13 in den Meister-Bildmuster-Daten
entsprechende Logik von ü "1". Da das Symbol S die Bitdaten des η-ten Bits in den abgetasteten
Bildmuster-Daten bezeichnet, wird nur die den "1"-Bitbereichen 11 entsprechende Logik von S logisch "1".
Alle logischen Produkte von Mn und S , d.h. (M n*s n)»
werden unter Einbeziehung aller Werte von η Zahlen, die von 1 bis m laufen, aufsummiert, d.h.
Gemäß dem vorher erwähnten Beispiel beträgt der Wert von m 512, wenn der CCD 32 als 512-Bit-CCD ausgeführt ist.
Auf diese Weise gibt der Faktor F die Gesamtzahl der "Γ'-Bits an, die in den in der Reihe a) der Fig. 5 gezeigten
"O"-Bitbereichen 13 erscheinen. Solche M1"-Bitdaten
werden in der Reihe c) der Fig. S insbesondere als mit einem Kreis versehene 1, d.h. (T), bezeichnet. Deshalb
kann das Verfahren zum Erzielen der Ausrichtung ohne Rücksicht auf die Anwesenheit der genannten unkorrekten
"0" Bitdaten, die als ό in der Reihe c) der Fig. 5 gezeigt sind, ausgeführt werden. Der Verarbeitungsschritt
\S) in Fig. 2 bezeichnet einen Verarbeitungsschritt,
in dem ein Verfahren zum bitweisen Vergleichen der Meister-Bildmuster-Daten (M_) mit den abgetasteten
Bildmuster-Daten (Sn) sequentiell ausgeführt wird ("VER-
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GLEICHE DAS ABGETASTETE BILDMUSTER MIT DEM MEISTER-BILDMUSTER") · Die Meister-Bildmuster-Daten sind während des
Verarbeitungsschrittes (2) der Fig. 2 gesammelt und in der Mikroprozessoreinheit 18 (siehe Fig. 1) gespeichert
worden. Folglich wird in dem Verarbeitungsschritt (s) ein Verfahren ausgeführt, das auf dem logischen Produkt
von (Mn^Sn) basiert. Der Verarbeitungsschritt (ö) in
Fig. 2 bezeichnet einen Verarbeitungsschritt, in dem der Wert des Faktors F berechnet wird ("BERECHNE DEN AUSRICHTUNGSKOEFFIZIENTENFAKTOR")
. Der Verarbeitungsschritt (jj bezeichnet einen Verarbeitungsschritt, in dem der
IC-Baustein 14 in Pfeilrichtung X (siehe Fig. 1) so vorwärts und rückwärts bewegt wird, daß der Wert des genannten
Faktors F einen minimalen Wert annimmt, so daß die Anschlüsse 12 exakt zu den Anschlußflecken 11 durch
einen Verarbeitungsschritt (_§) in Fig. 2 ausgerichtet
werden ("SIND DIE ANSCHLOSSE 12 EXAKT ZU DEN FLECKEN AUSGERICHTET?"). In dem Verarbeitungsschritt (§) wird
der IC-Baustein 14 vor- und rückwärts bewegt ("BEWEGE BAUSTEIN 14"). Dann ist das Verfahren zum Erzielen der
Ausrichtung bezüglich eines IC-Bausteines beendet ("ENDE") .
Der Ausrichtungskoeffizientenfaktor F wird im Detail mit Bezugnahme auf die Figuren 6 und 7 erklärt. Fig. 6 ist
eine graphische Darstellung, die schematisch die Abhängigkeit zwischen den Variablen F und L wiedergibt, wobei
F der oben erwähnte Faktor und L ein Wert der Verschiebung des IC-Bausteines 14 ist. Das Symbol D bezeichnet
die Position des Bestimmungsortes, an den der IC-Baustein transportiert werden muß, um die Anschlüsse 12 mit
den betreffenden Flecken 11 auszurichten. An diesem Bestimmungsort D wird der Faktor F im Prinzip Null, jedoch
infolge der Anwesenheit eines optischen und elektrischen
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Yzn
Rauschsignals nicht exakt Null. Der Wert des Faktors F vergrößert sich allmählich, wenn der IC-Baustein von dem
Bestimmungsort D abweicht, und nimmt schließlich den konstanten maximalen Pegel P an. Der maximale Pegel P
wird dann erhalten, wenn die Anschlüsse 12 in der Mitte der Bereiche, die zwischen zwei entsprechenden, angrenzenden
Flecken 11 existieren, angeordnet sind. Mit anderen Worten, die Anschlüsse 12 sind nicht über den
Flecken 11 sondern direkt über den entsprechenden gedruckten Plattenbereichen 13 angeordnet. Wie der Fig. 6
zu entnehmen ist, wird der Faktor F nicht nur am Bestimmungsort D im Prinzip Null, sondern auch innerhalb eines
Bereiches, der durch das Symbol W dargestellt wird. Wenn die Breite jedes Anschlusses 12 gleich oder größer als
die jedes Fleckens 11 ist, wird der Faktor F nur am Bestimmungsort D im Prinzip Null. Da die Breite jedes Anschlusses
12 jedoch gewöhnlich kleiner als die jedes Fleckens 11 gewählt wird, bleibt der Faktor F im Prinzip
Null, sofern jeder Anschluß 12 direkt über jedem Flecken 11 und innerhalb dessen Breite angeordnet ist, und folglich
entsteht der Bereich W der Fig. 6. Wenn gefordert wird, daß die Mitte jedes Anschlusses 12 zur Mitte jedes
Fleckens 11 ausgerichtet ist, um auf diese Weise die Ausrichtung mit einer sehr hohen Genauigkeit auszuführen,
muß der IC-Baustein 14 während des Verarbeitungsschrittes Q) der Fig. 2 direkt zu dem Bestimmungsort D
bewegt werden. Die Ermittlung des Bestimmungsortes D kann mit Unterstützung durch die Mikroprozessoreinheit
18 (Fig. 1) durch folgende zwei Schritte erreicht werden. Im ersten Schritt werden die Koordinaten der beiden
Enden des Bereiches W (Fig. 6) ermittelt. Ia zweiten Schritt wird der Mittelpunkt der Koordinaten, die in dem
oben erwähnten ersten Schritt ermittelt wurden, berechnet. Der berechnete Mittelpunkt stellt die Position des
030027/^843
Bestimmungsortes D selbst dar. Fig. 6 ist eine graphische Darstellung, die schematisch die Beziehung zwischen
den Variablen F und L wiedergibt; Fig. 7 ist jedoch eine graphische Darstellung, die die aktuelle Beziehung zwischen
ihnen wiedergibt. Diese graphische Darstellung ist in Übereinstimmung mit den experimentellen Ergebnissen
der Daten gezeichnet worden. Das Experiment zur Erlangung der in Fig. 7 gezeigten Beziehung wurde unter Bedingungen
ausgeführt, wo jeder Anschluß 12 eine Breite von 0,2 Mil, jeder Fleck 11 eine Breite von 0,3 Mil, der
Abstand, mit dem die Anschlüsse 12 angeordnet sind, eine Länge von 20 Mil und der Abstand, mit dem die Flecken
angeordnet sind, eine Länge von 20 Mil besitzt. In Fig. 7 gibt die Abszisse die Verschiebung L in Mil an und die
Ordinate den Faktor F, der durch die Zahl der eine logische "1" besitzenden Bits ausgedrückt wird. Der Bestimmungsort
D der Fig. 7 ist identisch mit dem Bestimmungsort D der Fig. 6. Die Symbole +D1 und -D' bezeichnen
Quasi-Bestimmungsorte, die nachfolgend erklärt werden.
Wenn das oben erwähnte erste Verfahren der vorliegenden Erfindung ausgeführt wird, entsteht ein weiteres Problem,
das anders ist als das vorher erwähnte. Das Problem liegt darin, daß während des Verarbeitungsschrittes Q)
der Fig. 2 viele Bestimmungsorte D ermittelt werden. Das liegt daran, daß die Anschlüsse 12 jedesmal zu den
Flecken 11 ausgerichtet sind, wenn der IC-Baustein 14 um das k-fache (k ■ 1, 2, 3 ...) des Abstandes, mit dem die
Anschlüsse 12 und auch die Flecken 11 angeordnet sind, versetzt wird. Deshalb ist es notwendig, daß der IC-Baustein
14 nur in Richtung des wahren Bestimmungsortes bewegt wird. Um den wahren Bestimmungsort zu finden, ist
es wünschenswert, eine besondere Charakteristik in die Beziehung zwischen den in den Figuren 6 und 7 angegebenen
Variablen F und L einzufügen. Die besondere Charak-
030027/0813
teristik wird mit Bezugnahme auf die Figuren 8, 9, 10A,
1OB, 10C und 11 erklärt. Fig. 8 stellt eine Teil-Draufsicht des IC-Bausteines 14, der mit den Anschlüssen 12
versehen ist, und der Anschlußflecken 11 dar, die zum
Erklären der Erzeugung der oben erwähnten besonderen Charakteristik dient. In einem Fall, wo die Sensorkamera
15 (Fig. 1) die Anschlüsse 12 und die Flecken 11 entlang eines Abtastbereiches "a" der Fig. 8 abtastet, wird die
in Reihe a) der Fig. 9 dargestellte Abhängigkeitskurve erhalten. Es soll darauf hingewiesen werden, daß alle in
Fig. 9 dargestellten Abhängigkeitskurven beim Bewegen des IC-Bausteines 14 nach rechts oder links bezüglich
der Anschlußflecken 11 erhalten werden. Wie aus der in Reihe a) dargestellten Kurve zu entnehmen ist, ist diese
Kurve eine monotone Kurve und enthält keine besondere Charakteristik. Deshalb werden viele Bestimmungsorte,
die gleich dem in Fig. 6 dargestellten Bestimmungsort D sind, ermittelt, und folglich ist es unmöglich, nur
einen wahren Bestimmungsort D zu finden. Das oben erwähnte Problem beruht insbesondere auf dieser Tatsache.
Um dieses Problem gemäß der vorliegenden Erfindung zu lösen, tastet die Kamera 15 (Fig. 1) entlang eines besonderen
Abtastbereiches ab, wie durch die Abtastbereiche "b", "c" oder Md" der Fig. 8 angegeben ist. Wenn die
Kamera 15 die Anschlüsse 12 und die Flecken 11 entlang des Abtastbereiches "b" der Fig. 8 abtastet, ergibt
sich, wie in Reihe b) der Fig. 9 gezeigt, die besondere Charakteristik in der Abhängigkeitskurve. Wenn der IC-Baustein
14 von der in Fig. 8 angegebenen Anordnung der Anschlüsse 12 und der Flecken 11 links abweicht, vergrößert
sich die Abhängigkeitskurve links in der in Reihe b) angegebenen graphischen Darstellung nach oben hin.
Wenn der IC-Baustein 14 von der in Fig. 8 angegebenen Anordnung der Anschlüsse 12 und der Flecken 11 rechts
m · - ■ 030027/1843
abweicht, vergrößert sich die Abhängigkeitskurve rechts
in der in Reihe b) angegebenen graphischen Darstellung nach oben hin. Daher drückt die V-förmig gestrichelte
Linie die oben erwähnte besondere Charakteristik aus. Auf diese Weise wird der Bestimmungsort D am unteren Ende
der Abhängigkeitskurve erreicht. Wenn die Kamera 15 die Anschlüsse 12 und die Flecken 11 entlang der Abtastlinie
"c" oder "d" der Fig. 8 abtastet, erscheint die
besondere Charakteristik in der entsprechenden Abhängigkeitskurve, wie in Reihe c) oder d) der Fig. 9 angegeben
(siehe entsprechende gestrichelte Linien). Daher erscheint der wahre Bestimmungsort D an dem Punkt, von dem
aus die Abhängigkeitskurve links oder rechts in der in den Reihen c) oder d) angegebenen graphischen Darstellung
nach oben hin in entsprechender Weise zunimmt.
Die besondere Charakteristik der Abhängigkeitskurve kann auch erzeugt werden, indem die Anschlüsse 12 und die
Flecken 11 mit einer speziellen Anordnung hergestellt werden. Drei Beispiele der speziellen Anordnung sind in
den Figuren 1OA, lOB und 1OC wiedergegeben. Jede der Figuren
1OA, 1OB und 1OC gibt eine Draufsicht der Anschlüsse 12 und der Flecken 11 wieder. In einem ersten
Beispiel gemäß der Fig. 1OA ist einer der Anschlüsse 12 von den IC-Baustein 14 und auch ein entsprechender Fleck
11 von der gedruckten Platte entfernt worden. In einem zweiten Beispiel gemäß der Fig. 1OB ist einer der Anschlüsse
12 von dem IC-Baustein 14 und auch ein entsprechender Fleck 11 von der gedruckten Platte entfernt worden.
Die Breite des in Fig. 1OB angegebenen entfernten Bereiches ist jedoch aus rationeller Sicht kleiner als
die des in Fig. 1OA angegebenen entfernten Bereiches gewählt. In einem dritten Beispiel gemäß der Fig. 1OC ist
einer der Anschlüsse 12, dargestellt durch einen breiten
■ K . '
V-
O30O27/0843
Anschluß 12', breiter im Vergleich zu den verbleibenden
Anschlüssen 12. Ein Anschlußfleck, dargestellt durch einen breiten Anschlußflecken 11', ist entsprechend dem
breiten Anschluß 12' ebenfalls breiter im Vergleich zu den verbleibenden Anschlußflecken 11. Auf diese Weise
enthalten die Anschlüsse 12 und auch die Anschlußflecken 11 mindestens einen irregulären Teil. Die Abhängigkeitskurve, die bei Benutzung eines der oben erwähnten irregulären
Teile erhalten wird, ist eine Kurve, wie sie in Fig. 11 wiedergegeben ist. In diesem Fall tastet die Kamera
15 die Anschlüsse 12 und die Flecken 11 entlang des Abtastbereiches "a" der Fig. 8 ab. Wie der Fig. 11 zu
entnehmen ist, unterscheidet sich der wahre Bestimmungsort deutlich von den anderen Quasi-Bestimmungsorten -D1
und +D', die auch in Fig. 7 dargestellt sind. Wenn die
Anschlüsse 12 und die Flecken 11 in einer normalen Anordnung liegen, wie jeweils in Teil a) der Figuren 1OA,
1OB und 1OC angegeben, kann der wahre Bestimmungsort D ermittelt werden. Wenn sich jedoch der IC-Baustein 14 in
einer um das k-fache (k = 1, 2, 3...) des Abstandes, mit dem die Anschlüsse 12 und auch die Flecken 11 angeordnet
sind, abweichenden Position gegenüber der gewünschten Position befindet, kann der Quasi-Bestimmungsort -D1
oder +D1 ermittelt werden. In diesem Fall liegen die Anschlüsse
12 und die Flecken 11 in einer abnormen Anordnung, wie jeweils in Teil b) der Figuren 1OA, 1OB und
1OC angegeben ist.
Es ist vorzuziehen, jeden der oben erwähnten unregelmäßigen Teile in dem Mittelbereich einer Gruppe von Anschlüssen
12 und ebenso in dem Mittelbereich einer Gruppe von Anschlußflecken 11 herzustellen. Dies deshalb,
weil diese mittleren Bereiche gewöhnlich nicht einer Beschädigung durch einen äußeren mechanischen Stoß ausge-
ti
030027/4843
setzt sind. Es ist weiterhin besser, in dem dritten Beispiel den breiten Anschluß 12· und die breiten Anschlußfleck
11' herzustellen, weil diese außerdem als Masseanschlüsse oder Stromversorgungsanschlüsse verwendet werden
können, durch die ein Strom großer Stärke fließt. Außerdem ist es nützlich, mindestens einen unregelmäßigen
Teil in der Gruppe von Anschlüssen 12 und ebenso in der Gruppe von Flecken zu schaffen, um die spezielle
Charakteristik, wie sie in Fig. 11 gezeigt ist, zu erzielen.
Die oben erwähnte erste Methode der vorliegenden Erfindung wird nach dem sogenannten Digitalmodus ausgeführt.
Im Gegensatz dazu wird eine Methode zum Erzielen der Ausrichtung nach einem zweiten Ausführungsbeispiel gemäß
der vorliegenden Erfindung nach dem sogenannten Analogmodus ausgeführt. Bei der zweiten Methode der vorliegenden
Erfindung wird die oben erwähnte Beziehung nicht durch den Ausrichtungskoeffizientenfaktor F, sondern
durch die Menge des von den Anschlüssen 12 und den Flecken 11 reflektierten Lichtes bestimmt. In Fig. 12,
die schematisch eine allgemeine Ansicht eines Positionier- und Montiersystems zeigt, das vorgesehen ist, die
Methode nach dem zweiten Ausführungsbeispiel gemäß der vorliegenden Erfindung auszuführen, sind die Teile, die
mit den gleichen Bezugszeichen oder Symbolen wie in Fig. 1 bezeichnet sind, mit diesen identisch. Deshalb sind
eine Sensorkamera 41 und ein Analog/Digital-Wandler (A/D) 42 die neue verwendeten Teile. Die Kamera 41 besteht
aus einem optischen Linsensystem 43 und einem Fototransistor 44. Im allgemeinen ist die Menge des sowohl
von den Anschlüssen 12 als auch von den Flecken 11 reflektierten Lichtes groß; die Menge des von der Leiterplatte
13 reflektierten Lichtes ist dagegen klein. Die
030027/1843
2/30.
Gesamtmenge des Lichtes wird durch den Fototransistor über die Linse 43 festgestellt. In dem Fall, daß sich
die Anschlüsse 12 und die Flecken 11 in einer solch abnormen Anordnung befinden, wie es im Teil (a) von Fig.
13 gezeigt ist, erreicht die Gesamtmenge des von den Anschlüssen 12, den Flecken 11 und der Leiterplatte 13 reflektierten
Lichts einen Maximalwert. In dem Fall jedoch, wo die Anschlüsse 12 und die Flecken 11 in einer
derart normalen Anordnung zueinander liegen, wie es im Teil (b) von Fig. 13 gezeigt ist, erreicht die Menge des
Lichtes einen Minimalwert. Wenn der IC-Baustein 14 nach links oder rechts bewegt wird, wird die Veränderung der
Gesamtmenge des reflektierten Lichtstrahles durch den Fototransistor 44 (Fig. 12) ermittelt. Dann erzeugt das
analoge Ausgangssignal von dem Fototransistor 44 die Abhängigkeitskurve, wie sie im Diagramm von Fig. 14 gezeigt
ist. Die in dem unteren Teil dieser Abhängigkeitskurve liegende Mitte stellt den Bestimmungsort D dar,
was oben bereits erläutert wurde. Weil die Breite der Anschlüsse 12 jeweils geringer als die der Flecken 11
ist, befindet sich der flache Teil W der Abhängigkeitskurve im unteren Teil. Das digitale Signal, welches die
Abhängigkeitskurve von Fig. 14 darstellt, wird mit Hilfe eines Analog/Digital-Wandlers 42 erzeugt und der Mikroprozessoreinheit
18 (Fig. 12) zugeleitet. Die Einheit verarbeitet das digitale Signal, um den flachen Teil der
Abhängigkeitskurve, die den Bestimmungsort D enthält, zu ermitteln. Wenn es erforderlich ist, die Mitte eines jeden
Anschlusses 12 zu der Mitte eines jeden Fleckens auszurichten, um die Ausrichtung mit einem sehr hohen
Grad an Genauigkeit auszuführen, muß der IC-Baustein auf den Bestimmungspunkt D hinbewegt werden. Die Feststellung
des Bestimmungsortes D selbst kann, wie oben erwähnt, mit Hilfe der Einheit 18 ausgeführt werden. Die
630027/8843
Einheit 18 ermittelt die entsprechenden Koordinaten der
beiden Enden des flachen Bereiches W (Fig. 14) und errechnet den Mittelpunkt der oben erwähnten beiden Koordinaten,
an dem der Bestimmungsort D liegt.
Es ist selbstverständlich, daß die Ausrichtung auch durch Ausnutzen des Maximalwertes des reflektierten
Lichtes erreicht werden kann (Siehe den in Fig. 14 gezeigten maximalen Pegel P). Der Maximalwert des reflektierten
Lichtstrahles (P) wird erhalten, wenn die Anschlüsse 12 und die Flecken 11 in einer solchen Anordnung
zueinander liegen, wie sie im Teil (a) von Fig. 13 gezeigt ist. Daher werden die Anschlüsse 12 und die
Flecken 11 zueinander ausgerichtet durch Bewegen des IC-Bausteines 14 um den halben Abstand, in welchem die Anschlüsse
12 und die Flecken 11 angeordnet sind. Die Bewegung des IC-Bausteines 14 um den halben Abstand kann
mit Hilfe der Mikroprozessoreinheit 18 durchgeführt werden. Die Bewegung des IC-Bausteins 14 um den halben Abstand
des Pegels P (Fig. 6) ist bei der oben erläuterten ersten Methode ebenfalls anwendbar.
Weil die Menge des Lichtes proportional denjenigen Bereichen der Anschlüsse 12 und der Flecken 11 ist, die
den Lichtstrahl reflektieren, ist es ferner selbstverständlich notwendig, das von der Kamera 41 (Fig. 2) aus
gesehene Gesichtsfeld zu begrenzen. In Fig. 13 stellen die durch gestrichelte Linien angedeuteten umschlossenen
Bereiche schematisch das von der Kamera 41 aus gesehene begrenzte Gesichtsfeld dar. Die Begrenzung des Gesichtsfeldes
kann durch geeignete Wahl des Vergrößerungsfaktors des optischen Linsensystems 43 (Fig. 12) erzielt
werden. Eine Begrenzung des Gesichtsfeldes kann aber auch durch Verwendung einer Platte 45 erzielt werden,
030027/0843
die mit einem (nicht dargestellten) rechteckigen Schlitz versehen ist.
Die zweite Methode hat dadurch einen Vorteil, daß es außerdem möglich ist, festzustellen, ob der IC-Baustein
14 nahe den Flecken 11 angeordnet ist oder nicht. Dieser
Vorteil wird unter Bezugnahme auf Fig. 15 erläutert. Wenn der IC-Baustein 14 nicht nahe den Flecken 11 angeordnet
ist, wie in Fig. 15 gezeigt ist, dann ist die Differenz zwischen der Lichtmenge, die durch das begrenzte
Gesichtsfeld festgestellt wird, das mit der Anordnung nach Teil (a) erhalten wird, und der Lichtmenge,
die auf gleiche Weise in der in Teil (b) gezeigten Anordnung festgestellt wird, sehr klein. Die begrenzten
Gesichtsfelder sind durch gestrichelte Linien angedeutet. Auf diese Weise kann auch festgestellt werden, daß
der IC-Baustein 14 sich nicht nahe den Flecken 11 befindet.
Es ist natürlich zu bevorzugen, die besondere Charakteristik in die Abhängigkeitskurve (Fig. 14) einzubeziehen,
um eine Fehlausrichtung auszuschalten, wie es durch die erste Methode getan wird. Die besondere Charakteristik
ist schon unter Bezugnahme auf die Figuren 8, 9, 1OA, 10B, 1OC und 11 erläutert worden.
Die oben erwähnte erste Methode der vorliegenden Erfindung wird unter Verwendung derjenigen Variablen ausgeführt,
die sich auf die Länge der Anschlüsse und der Flecken beziehen. Die oben erwähnte zweite Methode der
vorliegenden Erfindung wird durch Verwendung derjenigen Variablen ausgeführt, die sich auf die Fläche der Anschlüsse
und der Flecken beziehen. Die Methode eines dritten Ausführungsbeispiels gemäß der vorliegenden Er-
f! .
030027/1843
findung wird jedoch durch Verwendung derjenigen Variablen
ausgeführt, die sich auf ein Frequenzspektrum beziehen, welches in dem Ausgangssignal der Sensorkamera 15
enthalten ist. In Fig. 16 hat das Videosignal V, das durch einen Verstärker (AMP) 51 verstärkt wird, eine
Wellenform, wie sie in Zeile a) von Figur 17 gezeigt ist. Das verstärkte Videosignal V, das von einer Signalformer-Schaltung
52 erzeugt wird, hat eine Wellenform, wie sie in Zeile b) von Fig. 17 gezeigt ist. Das geformte
Wellensignal, welches von einem Bandpaßfilter 53 erzeugt wird, hat eine Wellenform, wie sie in Zeile c) von
Fig. 17 gezeigt ist. Das Filter 53 hat die Funktion, nur die Grundwellenkomponente aus dem Signal V herauszufiltern.
Diese Grundwellenkomponente hat eine Frequenz fgpp. Die Frequenz fBPF wird durch die folgende Gleichung
ausgedrückt.
fBPF
wobei das Symbol V die Abtastgeschwindigkeit des CCD 32 bezeichnet, der angesteuert wird durch einen CCD-Treiber
532, und das Bezugszeichen P1 einen Abstand bezeichnet,
in welchem die Anschlüsse 12 und die Flecken 11 angeordnet
sind. Wenn der in dem Durchlaßband des Filters 53 verursachte Verlust gleich Null ist, es entspricht das
Ausgangssignal von dem Filter 53 einem Signal, welches erhalten wird, wenn die Zahl (n) der Ordnung einer Harmonischen
in einer Fourierreihe gleich 1, d.h. η = 1 ist. Andererseits kann allgemein gesehen ein Rechteckwellensignal,
wie es in dem oberen Teil von Figur 18 gezeigt ist, das Spektrum a. der Grundwelle, die in dem
oben erwähnten Rechtecksignal enthalten ist, durch die folgende Gleichung ausgedrückt werden:
030027/1843
(O < τ < T and 0 < -Jj- <
1)
W
dert sich der Wert von ^-r innerhalb des Bereiches von 0,5 * Jn- « 1, wobei die Breite W definiert ist durch den Abstand zwischen einem Ende des Anschlusses 12 und einem Ende des entsprechenden Fleckens 11 (siehe auch W
dert sich der Wert von ^-r innerhalb des Bereiches von 0,5 * Jn- « 1, wobei die Breite W definiert ist durch den Abstand zwischen einem Ende des Anschlusses 12 und einem Ende des entsprechenden Fleckens 11 (siehe auch W
W
in Fig. 4B) und der Wert Yn- gesetzt werden kann für den Wert von £, d.h. prr β γ. Das Symbol tr bezeichnet die Impulsbreite des Rechtecksignals und das Symbol T bezeichnet eine Periode desselben (siehe Fig. 18). Wenn
in Fig. 4B) und der Wert Yn- gesetzt werden kann für den Wert von £, d.h. prr β γ. Das Symbol tr bezeichnet die Impulsbreite des Rechtecksignals und das Symbol T bezeichnet eine Periode desselben (siehe Fig. 18). Wenn
W1
der Wert von p-r ein Minimalwert wird, fluchten die Anschlüsse 12 mit den entsprechenden Flecken 11. In diesem Fall wird natürlich der Wert von y ein Minimalwert. Der Wert von τ--wird ein Minimalwert, wenn der Wert von w sich innerhalb des Bereiches von 0,5 s γ ~ 1 verändert, wie in Fig. 18 gezeigt ist, und die Grundwellenkomponente aj wird ein Minimalwert. Mit anderen Worten, der IC-Baustein 14 wird bewegt, bis die Grundwellenkomponente gleich einem Minimalwert wird. In Fig. 16 wird die Komponente a« von dem Bandpaßfilter 53 über eine Gleichrichterschaltung 54, ein Tiefpaßfilter (LPF) 55 und einen Analog/Digital-Wandler (A/D) 56 erhalten. Ein Mittelwert aQ, d.h. aQ β γ Έ , wird von einer Signalformerschaltung 52 über eine Gleichrichterschaltung 57, ein Tiefpaßfilter (LPF) 58 und einen Analog/Digital-Wandler (A/D) 59 erhalten. Der minimale Mittelwert aQ ist für die Erzielung einer Ausrichtung nur in dem Fall nützlich, wo jeder Anschluß 12 breiter ist als jeder Fleck 11.
der Wert von p-r ein Minimalwert wird, fluchten die Anschlüsse 12 mit den entsprechenden Flecken 11. In diesem Fall wird natürlich der Wert von y ein Minimalwert. Der Wert von τ--wird ein Minimalwert, wenn der Wert von w sich innerhalb des Bereiches von 0,5 s γ ~ 1 verändert, wie in Fig. 18 gezeigt ist, und die Grundwellenkomponente aj wird ein Minimalwert. Mit anderen Worten, der IC-Baustein 14 wird bewegt, bis die Grundwellenkomponente gleich einem Minimalwert wird. In Fig. 16 wird die Komponente a« von dem Bandpaßfilter 53 über eine Gleichrichterschaltung 54, ein Tiefpaßfilter (LPF) 55 und einen Analog/Digital-Wandler (A/D) 56 erhalten. Ein Mittelwert aQ, d.h. aQ β γ Έ , wird von einer Signalformerschaltung 52 über eine Gleichrichterschaltung 57, ein Tiefpaßfilter (LPF) 58 und einen Analog/Digital-Wandler (A/D) 59 erhalten. Der minimale Mittelwert aQ ist für die Erzielung einer Ausrichtung nur in dem Fall nützlich, wo jeder Anschluß 12 breiter ist als jeder Fleck 11.
090027/1843
Damit steuert die Mikroprozessoreinheit 18 die Steuerschaltung 19 so, daß der Wert der Grundwellenkomponente
ein Maximum wird. Der Maximalwert der Komponente a« entspricht dem oben erwähnten Bestimmungsort D. Es sei darauf hingewiesen, daß bei dem dritten Ausführungsbeispiel ebenfalls viele Bestimmungsorte D festgestellt werden,
wie bei der oben genannten ersten und zweiten Methode,
obwohl es nur einen wahren Bestimmungsort gibt. Dies
kommt daher, daß die Anschlüsse 12 jedesmal mit den
Flecken 11 ausgerichtet sind, wenn der IC-Baustein 14 um k mal (k = 1, 2, 3...) den Abstand verschoben wird, in
welchem die Anschlüsse 12 und die Flecken 11 angeordnet
sind. Deshalb wird in dem System von Fig. 16 ein Impulszähler 60 vorgesehen, der das Herausragen eines oder
mehrerer Anschlüsse 12 aus dem Fleckenbereich überwacht. Bei einer modifizierten dritten Methode werden der breite Anschluß 12' und der breite Fleck 11', die bereits
unter Bezugnahme auf Figur 1OC erläutert worden sind, in dem System verwendet. Das System, welches den breiten
Anschluß 12' und den breiten Fleck 11' verwendet, ist
schematisch in Figur 19 dargestellt. In Figur 19 sind
diejenigen Teile, die mit den gleichen Bezugszeichen
oder Symbolen wie in Figur 16 bezeichnet sind, identisch mit diesen. In Figur 19 tastet der CCD 32 die Anschlüsse 12 einschließlich dem breiten Anschluß 12' sowie die
Flecken 11 einschließlich dem breiten Fleck 11' ab. Der
Abtastbereich des CCD 32 ist der gleiche wie der in Figur 8 gezeigte Abtastbereich "a". Das Ausgangssignal des CCD 32 nach dem Verstärker 51 unÄ der Formerschaltung 52 wird im folgenden erläutert. Figur 20 stellt die von der Schaltung 52 erhaltenen Wellenformen des Ausgangssignals des CCD 32 dar. Die Wellenform des in Zeile a) von Figur 20 gezeigten Signals stellt eine normale Wellenform dar, die festgestellt wird, wenn die Anschlüsse 12 mit den
ein Maximum wird. Der Maximalwert der Komponente a« entspricht dem oben erwähnten Bestimmungsort D. Es sei darauf hingewiesen, daß bei dem dritten Ausführungsbeispiel ebenfalls viele Bestimmungsorte D festgestellt werden,
wie bei der oben genannten ersten und zweiten Methode,
obwohl es nur einen wahren Bestimmungsort gibt. Dies
kommt daher, daß die Anschlüsse 12 jedesmal mit den
Flecken 11 ausgerichtet sind, wenn der IC-Baustein 14 um k mal (k = 1, 2, 3...) den Abstand verschoben wird, in
welchem die Anschlüsse 12 und die Flecken 11 angeordnet
sind. Deshalb wird in dem System von Fig. 16 ein Impulszähler 60 vorgesehen, der das Herausragen eines oder
mehrerer Anschlüsse 12 aus dem Fleckenbereich überwacht. Bei einer modifizierten dritten Methode werden der breite Anschluß 12' und der breite Fleck 11', die bereits
unter Bezugnahme auf Figur 1OC erläutert worden sind, in dem System verwendet. Das System, welches den breiten
Anschluß 12' und den breiten Fleck 11' verwendet, ist
schematisch in Figur 19 dargestellt. In Figur 19 sind
diejenigen Teile, die mit den gleichen Bezugszeichen
oder Symbolen wie in Figur 16 bezeichnet sind, identisch mit diesen. In Figur 19 tastet der CCD 32 die Anschlüsse 12 einschließlich dem breiten Anschluß 12' sowie die
Flecken 11 einschließlich dem breiten Fleck 11' ab. Der
Abtastbereich des CCD 32 ist der gleiche wie der in Figur 8 gezeigte Abtastbereich "a". Das Ausgangssignal des CCD 32 nach dem Verstärker 51 unÄ der Formerschaltung 52 wird im folgenden erläutert. Figur 20 stellt die von der Schaltung 52 erhaltenen Wellenformen des Ausgangssignals des CCD 32 dar. Die Wellenform des in Zeile a) von Figur 20 gezeigten Signals stellt eine normale Wellenform dar, die festgestellt wird, wenn die Anschlüsse 12 mit den
030027/&843
Flecken 11 fluchten (im folgenden als Fall "1" bezeichnet). Die Wellenformen des in den Zeilen b) , c) und d)
von Figur 20 gezeigten Signale stellen anormale Wellenformen dar, die festgestellt werden, wenn die Anschlüsse
12 mit den Flecken 11 nicht korrekt ausgerichtet sind
(im folgenden als "Fall 2", "Fall 3" bzw. "Fall 4" bezeichnet). Entsprechend den Wellenformen von Figur 20
wird der Wert a im Fall 1 aus den folgenden Gleichungen erhalten, wobei das Symbol a eine Komponente einer Harmonischen
n-ter Ordnung (n = 1, 2t 3...) bezeichnet.
_ 3 7
a = —r— {J cosnxdx + J- cosnxdx +
0 f
f il· Γ if*
Jn cosnxdx +,/. _ cosnxdx
IT* IT* "
_! 7
2 rr ι . , 16π . r ι . . IeT*
"IT- ""BT sxnnxl . + Ι-ΞΓ sinnxl 5
0 16*
sinnx
f sin πηΐ + sin -s-^ ηττ - sin ^-^
η ir I 16 Io 16
ηπ
+ sin Tj-i ηπ - sin -τ? mr + sin -^ ηπ - εχη γ| nn}
Ib 16 Xo
Die Komponentenwerte a , die sich auf die restlichen Fälle 2 bis 4 beziehen, werden durch Gleichungen ähnlich
den oben für den Fall 1 zitierten Gleichungen erhalten. Im folgenden werden die Komponentenwerte a der Fälle 1
bis 4 in entsprechender Weise durch Symbole CI, C2, C3
030027/0843
und C4 dargestellt. Dann werden die Werte C1 bis C4 unter Verwendung von Fourierreihen ausgedrückt.
Im allgemeinen kann nach den Fourierreihen eine periodi sche Funktion f(x) ausgedrückt werden durch die folgenden
Gleichungen, d.h.
a0 F
f (x) = —-χ- ♦ , la cosnx + b sinnx]
2 n=i η η
wobei r π
ao " T" J- Ux) «*
1
L
"π
a = —— J f(χ) cosnxdx
η τι —ir
b =
η ir -'-ir
/ f(x) sinnxdx -'-ir
und weil jede Wellenform von Figur 20 durch eine gerade Funktion ausgedrückt ist, werden die Werte b und d
ö ' η η
ausgedrückt durch
2 f"
bn = °' an = J-O f(x) cosnxdx.
bn = °' an = J-O f(x) cosnxdx.
Auf diese Weise sind die Komponenten C1, C2, C3 und C4
in entsprechender Weise durch die folgenden Gleichungen ausgedrückt:
030027/0843
¥f Λ
Falli
Cl
{sin -Λ ηπ + sin -Λ ηπ - sin y^ ηπ
ι 16 Io χβ
" "ϋπ" ls>iU 16 "* τ OJ-" 16
+ sin ig ηπ - sin yg ηπ + sin yg ηπ - sin -j-j ηπ}
Fall 2
2 5 9 ~t
♦ Sin ig ηπ - sin -j^ ηπ - sin -j-g ηπ}
Fall 3
{ sin jj ni - sin -j| ηπ + sin yj
C3 = -~ { sin jj ni - sin -j| ηπ + sin yj ηπ
- sin. -jjr ηπ + sin ^r ηπ - sin yg· ηπ}
Fall 4
+ sin ig nif - sin γξ ηπ - sin -j-g ηπ}
Nunnehr wird der Wert jeder der Komponenten C1 bis C4
berechnet im Hinblick auf jede Ordnung der Harmonischen (n) innerhalb des Bereiches von η zwischen 1 und 34. Die
Figuren 21A und 21B stellen grafische Darstellungen dar,
welche die Veränderung der berechneten Werte der Komponenten CI bis C4 im Hinblick auf jede Ordnung η zwischen
1 und 34 zeigen. Mit anderen Worten, die Figuren 21A und
21B zeigen das in dem Ausgangssignal des CCD 32 (Fig. 19) enthaltene Frequenzspektrum.
Wie aus den Figuren 2IA und 21B zu ersehen ist, wird in
allen Fällen außer dem Fall 1, d.h. in all denjenigen
080027/0843
Fällen, wo die Anschlüsse 12 mit den entsprechenden Flecken 11 nicht korrekt ausgerichtet sind, der Komponentenwert
der Harmonischen vierter Ordnung, d.h. a. in den Fällen C2 und C4, gleich Null, und der Komponentenwert der Harmonischen dritter Ordnung, d.h. a, in dem
Falle C3, gleich Null. Im Gegensatz zu dem Obigen wird
in dem Falle C1, in welchem die Anschlüsse M mit den Flecken 11 fluchten, der Komponentenwert der Harmonischen
achter Ordnung, d.h. a«, ein Minimalwert. Folglich sind,
wenn die folgenden drei Bedingungen 1), 2) und 3) gleichzeitig erfüllt werden, die Anschlüsse 12 mit den
entsprechenden Flecken 11 korrekt ausgerichtet.
1) Die Komponente ag wird ein Minimalwert
2) die Komponente a? *st nicht gleich Null
3) die Komponente a. ist nicht gleich Null.
Gemäß Figur 19 filtern die Bandpaßfilter 61, 62 bzw. 63 die Signale mit den Frequenzen fg, fj un<* ^4 aus dem
Ausgangssignal des CCD 32 heraus. Die Frequenzen fg, iy
bzw. f. entsprechen den Komponentenwerten von a«, a? und
a4. Mit anderen Worten, fg, f2 bzw. f4 sind gleich 8fQ,
2fg und 4f~, wobei die Frequenz fQ ausgedrückt ist durch
£q b ψ. Das Symbol t bezeichnet die Zeit, die für die
Ausführung jeder Abtastoperation durch den CCD 32 erforderlich ist. Die Durchlaßbandsignale von den Filtern 61,
62 und 63 werden in entsprechender Weise einem Analogschalter 69 zugeführt. Der Schalter 69 sammelt, unter
der Steuerung der Einheit 18, die Werte a«, a, und a...
Jeder der gesammelten Werte ag, a, und a. wird der Einheit
18 über einen Analog/Digital-Wandler (A/D) 70 zugeführt. Die Einheit 18 bewegt den IC-Baustein 14, bis die
oben erwähnten drei Bedingungen 1), 2) und 3) erfüllt sind.
030027/9843
Es ist vorzuziehen, eine sogenannte FFT (Schnell-Fouriertransformations-)
Einrichtung zur Berechnung der oben genannten Fourierreihen zu benutzen.
090027/"Ö843
Claims (24)
- Patentansprüchey 1../Verfahren zum Erzielen der Ausrichtung zwischen ersten Gegenständen und zweiten Gegenständen, gekennzeichnet durch folgende Schritte:a) Anorden der zweiten Gegenstände etwas oberhalb der mit den zweiten Gegenständen auszurichtenden ersten Gegenstände,b) Abbilden der ersten und zweiten Gegenstände mit Hilfe einer Sensorkamera, die direkt darüber angeordnet ist,c) Bewegen der ersten und zweiten Gegenstände relativ zueinander innerhalb des von der Sensorkamera aus gesehenen Gesichtsfeldes,d) Erzeugen einer Abhängigkeitskurve im Hinblick auf die Veränderungen einer ersten Variablen und einer zweiten Variablen, wobei die erste Variable die Verschiebung der zweiten Gegenstände gegenüber den ersten Gegenständen anzeigt und die zweite Variable die Veränderung des Ausgangssignals der Sensorkamera darstellt, unde) Stoppen der Bewegung der zweiten Gegenstände während der Ausführung des Schrittes c, wenn der Wert der die Abhängigkeitskurve bestimmenden zweiten Variablen- · gleich einem vorherbestimmten gewünschten Wert ist.030027/0843ORIGINAL INSPECTED
- 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß die die Veränderung des Ausgangssignals von der Sensorkamera anzeigende zweite Variable die Gesamtlänge des Bildes der ersten und zweiten Objekte darstellt, und daß der vorherbestimmte gewünschte Wert durch die minimale Gesamtlänge der Bilder ausgedrückt ist.
- 3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß das Abbilden nach Schritt b) aus einem ersten Schritt und einem zweiten Schritt besteht, daß in dem ersten Schritt die Sensorkamera die ersten Bilder und außerdem dritte Gegenstände abbildet, auf welchen die ersten Gegenstände befestigt sind, in dem die zweiten Gegenstände aus dem Gesichtsfeld herausbewegt werden, um ein Meister-Bildmuster zu erzeugen, welches in einer Speichereinrichtung gespeichert wird, und daß in dem zweiten Schritt die Sensorkamera die Gesamtheit aus den ersten, den zweiten und den dritten Gegenständen abbildet durch Anordnen der zweiten Gegenstände direkt oberhalb der ersten Gegenstände, um ein abgetastetes Gesamtbildmuster zu erhalten, daß in dem Schritt d) die zweite Variable, die die Veränderung des Ausgangssignals der Sensorkamera anzeigt, die Veränderung der Gesamtlänge der zweiten Gegenstände darstellt, die nur oberhalb derjenigen dritten Objekte angeordnet sind, auf denen die ersten Objekte nicht befestigt sind, und daß in dem Schritt e) der vorbestimmte gewünschte Wert ausgedrückt ist durch die minimale Gesamtlänge der Bilder, die den zweiten Gegenständen entsprechen, die nur oberhalb der dritten Gegenstände angeordnet sind.
- 4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet , daß in dem Schritt d) die zweite Variable definiert ist durch einen Ausrichtungskoeffizientenfaktor F der gegeben ist durch die Gleichung030027/08432S519A3m _F= Σ (Mn-Sn), n=lwobei das Symbol M die invertierten Datenbits des n-ten' ηBits in den Daten des Meisterbildmusters bezeichnet, dasSymbol S die Bitdaten des η-ten Bits in den Daten des ηabgetasteten Gesamtbildmusters bezeichnet, das Symbol · ein logisches Produkt bezeichnet und das Symbol m die Gesamtzahl von Bits bezeichnet, die durch die Sensorkamera abzutasten sind, und daß in dem Schritt e) der vorbestimmte gewünschte Wert durch den Minimalwert des Faktors F ausgedrückt ist.
- 5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß in dem Schritt e) der Bestimmungsort, an welchem die zweiten Gegenstände mit den ersten Gegenständen fluchten, in der Mitte eines Bereiches festgestellt wird, in welchem der Minimalwert des Faktors F erhalten wird.
- 6. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet , daß in dem Schritt e) die zweiten Gegenstände an dem Bestimmungsort gestoppt werden, an welchem die zweiten Gegenstände mit den entsprechenden ersten Gegenständen fluchten, und zwar durch Verschieben um einen halben Abstand, in dem die ersten und zweiten Gegenstände von der Lage aus angeordnet sind, wo der Maximalwert des Faktors F erhalten wird.
- 7. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet , daß die Abhängigkeitskurve so erzeugt wird, daß sie eine bestimmte Charakteristik enthält, um nur einen wahren Bestimmungsort, an welchem die030027/0843zweiten Gegenstände mit den entsprechenden ersten Gegenständen fluchten, zu unterscheiden von einem ähnlichen Quasi-Bestimmungsort, an welchem die zweiten Gegenstände zwar mit den ersten Gegenständen fluchten, aber um k mal (k » 1, 2, 3 ...) den Abstand fehlausgerichtet sind, in welchem die ersten und zweiten Gegenstände angeordnet sind.
- 8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet , daß in dem Schritt b) die Sensorkamera die ersten und zweiten Gegenstände innerhalb eines von ihr aus gesehenen Gesichtsfeldes abbildet und das Gesichtsfeld mindestens die Gesamtheit aus ersten und zweiten Gegenständen umfaßt.
- 9. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß in dem Schritt b), bei dem die Sensorkamera die ersten und zweiten Gegenstände innerhalb eines von ihr aus gesehenen Gesichtsfeldes abbildet, das Gesichtsfeld entweder die beiden benachbarten Enden der ersten und zweiten Gegenstände oder die gegenüberliegenden beiden benachbarten Enden der ersten und zweiten Gegenstände umfaßt.
- 10. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet , daß in den zweiten Gegenständen ein irregulärer Teil erzeugt wird und daß ein ähnlicher irregulärer Teil auch in den ersten Gegenständen erzeugt wird.
- 11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß der irreguläre Teil erzeugt wird durch Entfernen eines der zweiten Gegenstände und daß ein ähnlicher irregulärer Teil erzeugt wird durch Entfernen des entsprechenden ersten Gegenstandes.030027/0843
- 12. Verfahren nach Anspruch tO, dadurch gekennzeichnet, daß der irreguläre Teil erzeugt wird durch Einfügen eines zweiten Gegenstandes, der im Vergleich zu den übrigen zweiten Gegenständen größer ist und daß ein ähnlicher irregulärer Teil erzeugt wird durch Einfügen eines entsprechenden größeren ersten Gegenstandes.
- 13. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß in dem Schritt d) die zweite Variable, die die Veränderung des Ausgangssignals von der Sensorkamera anzeigt, die Lichtmenge darstellt, die von den ersten und zweiten Gegenständen reflektiert wird, und daß in dem Schritt e) der vorbestimmte gewünschte Wert ausgedrückt ist durch die minimale Menge an reflektiertem Licht.
- 14. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch g e k^ennzeichnet, daß in dem Schritt e) der Bestimmungsort, an welchem die zweiten Gegenstände mit den ersten Gegenstände fluchten, im Mittelpunkt eines Bereiches festgestellt wird, in welchem die minimale Menge des reflektierten Lichtstrahles erhalten wird.
- 15. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet , daß in dem Schritt e) die zweiten Gegenstände an dem Bestimmungsort gestoppt werden, wo die zweiten Gegenstände mit den entsprechenden ersten Gegenständen fluchten, und zwar durch Verschieben UH den halben Abstand, mit dem die ersten und die zweiten Gegenstände angeordnet sind, von der Lage aus, wo der Maximalwert des reflektierten Lichtes erhalten wird.
- 16. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet , daß in dem Schritt d) die Abhängigkeitskurve so erzeugt wird, daß sie eine bestimmte030027/0843Charakteristik enthält, um nur einen wahren Bestimmungsort, an welchem die zweiten Gegenstände mit den entsprechenden ersten Gegenständen fluchten, zu unterscheiden vpn einem ähnlichen Quasi-Bestimmungsort, an welchem die zweiten Gegenstände zwar mit den ersten Gegenständen fluchten, aber um k mal (k ■ 1, 2, 3 ...) den Abstand fehlausgerichtet sind, in welchem die ersten und zweiten Gegenstände angeordnet sind.
- 17. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß in dem Schritt b) die Sensorkamera die ersten und zweiten Gegenstände innerhalb eines von ihr aus gesehenen Gesichtsfeldes abbildet und daß das Gesichtsfeld mindestens die Gesamtheit der ersten und zweiten Gegenstände umfaßt.
- 18. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch g e kennzeichn et , daß in dem Schritt b) die Sensorkamera die ersten und zweiten Gegenstände innerhalb eines von ihr aus gesehenen Gesichtsfeldes abbildet und daß das Gesichtsfeld entweder die benachbarten Enden der ersten und zweiten Gegenstände oder die entgegengesetzten beiden benachbarten Enden der ersten und zweiten Gegenstände umfaßt.
- 19. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet , daß ein irregulärer Teil in den zweiten Gegenständen erzeugt wird und daß ein ähnlicher irregulärer Teil in den ersten Gegenständen erzeugt wird.
- 20. Verfahren nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet , daß der irreguläre Teil erzeugt wird durch Entfernen eines der zweiten Gegenstände und außerdem der ähnliche irreguläre Teil erzeugt wird030027/0843durch Entfernen des entsprechenden ersten Gegenstandes.
- 21. Verfahren nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß der irreguläre Teil erzeugt wird durch Einfügen eines zweiten Gegenstandes, der größer ist verglichen mit den übrigen zweiten Gegenständen, und daß auch der ähnliche irreguläre Teil erzeugt wird durch Einfügen eines entsprechenden größeren ersten Gegenstandes.
- 22. Verfahren zum Erzielen der Ausrichtung zwischen ersten Gegenständen und zweiten Gegenständen, gekennzeichnet durch die folgenden Schritte:a) Anordnen der zweiten Gegenstände etwas oberhalb der mit den zweiten Gegenständen auszurichtenden ersten Gegenständen,b) Abbilden sowohl der ersten als auch der zweiten Gegenstände mit Hilfe einer Sensorkamera, die direkt über ihnen angeordnet ist,c) Bewegen der ersten und zweiten Gegenstände relativ zueinander innerhalb des von der Sensorkamera aus gesehenen Gesichtsfeldes,d) Erzeugen einer Abhängigkeitskurve, die ein Frequenzspektrum der Schwingungen des von der Sensorkamera erzeugten Ausgangssignals darstellt, unde) Stoppen der Bewegung der zweiten Gegenstände während der Ausführung des Schrittes c), wenn das Frequenzspektrum ein vorbestimmtes gewünschtes Merkmal des Spektrums anzeigt.
- 23. Verfahren nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet , daß in dem Schritt e) die Bewegung der zweiten Gegenstände gestoppt wird, wenn das Frequenzspektrum bezüglich der Grundwellenkomponente einen Maximalwert anzeigt und die Grundwellenkomponente030027/0843ρ, entspricht, wobei das Symbol V die Abtastgeschwindigkeit der Sensorkamera bezeichnet und das Symbol P' einen Abstand bezeichnet, in welchem die ersten Gegenstände bzw. die zweiten Gegenstände angeordnet sind.
- 24. Verfahren nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet , daß in dem Schritt e) die Zahl der ersten und zweiten Gegenstände gezählt und mit einer vorgegebenen Zahl verglichen wird, um nur einen wahren Bestimmungsort, an dem die zweiten Gegenstände mit den entsprechenden ersten Gegenstände fluchten, zu unterscheiden von einem ähnlichen Quasi-Bestimmungsort, an welchem die zweiten Gegenstände zwar mit den ersten Gegenständen fluchten, aber um k mal (k « 1, 2, 3 ...) den Abstand fehlausgerichtet sind, in welchem die ersten und zweiten Gegenstände angeordnet sind.030027/0843
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