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"Optischer Aufzeichnungsträger't
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Die Erfindung betrifft einen optischen Aufzeichnungsträger mit einer
Rhodiumschicht auf einem Substrat. Bei einem derartigen Aufzeichnungsträger wird
die jeweilige Information durch örtliches Entfernen bzw. Abtragen einer abzulösenden
Schicht registriert. Die Erfindung betrifft ferner einen solchen Aufzeichnungsträger,
der für einen fokussierten Lichtstrahl vorgegebener Frequenz vorgesehen ist und
aus einem Substrat, einer aus einem Material mit relativ zur thermischen Diffusionskonstanten
des Substrats kleiner thermischen Diffusionskonstanten bestehenden Wärme sperrschicht
und einer auf letzterer liegenden sowie aus einem gegenüber dem Licht der vorgegeben
Frequenz empfindlichen Material bestehenden Lichtabsorptionsschicht zusammengesetzt
ist, Schließlich betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Herstellen des Aufzeichnungsträgers.
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Unter anderem in der Rechner-, Radio- und Fernseh-Industrie besteht
ein zunehmender Bedarf an verbesserten Verfahren zum Aufnehmen und Speichern großer
Mengen von digitalen und analogen Informationen. Es ist in diesem Zusammenhang bekannt,
Informationen dadurch speichernd aufzunehmen, daß mit Hilfe eines Lasers eine Reihe
kleiner Löcher in einen Metallfilm, z.B. aus Wismut oder Rhodium auf einem Substrat,
durch örtliches Entfernen bzw. Abtragen oder Ablösen des Filmmaterials eingebracht
werden.
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Bei dem Verfahren wird ein fokussierter, modulierter Lichtstrahl,
z.B. ein Laser-Strahl eines Argon- oder Helium/ Kadmium-Lasers, auf einen lichtabsorbierenden
Aufzeichnungsträger gerichtet, der z.B. als Metallfilm auf einem Substrat ausgebildet
sein kann. Der ausgerichtete Laserstrahl verdampft den Metallfilm oder löst diesen
ab, so daß eine Reihe von kleinen Löchern entsteht, innerhalb derer das Substrat
freigelegt ist, wobei die Löcher der Modulation des Lichtstrahls entsprechen. Die
Schichtdicke des Metallfilms wird sowohl auf eine maximale Lichtabsorption als auch
derart ausgewählt, daß nicht absorbiertes Licht eher reflektiert als durch das Aufzeichnungsmedium
durchgelassen wird. Zum Auslesen bzw, Abspielen der Aufzeichnung wird ein schwächerer,
unmodulierter Lichtstrahl benutzt, um aus der Differenz zwischen der Reflektivität
der freigelegten Substratbereiche und des verbleibenen Metallfilms die eingespeicherte
Information zu rekonstruieren bzw. wiederzugewinnen. Alternativ kann auch die Lichtdurchlässigkeit
des freigelegten Substrats dazu ausgenutzt werden, die vorher aufgezeichnete Information
wiederzugeben.
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Die Empfindlichkeit eines Aufnahmemediums ist ein Maß dafür, wieviel
Lichtenergie erforderlich ist, um ein Signalelement bzw. einen Stromschritt zu bilden.
Es hat sich oft herausgestellt, daß eine Lichtabsorptionsschicht mit niedrigem Schmelzpunkt
bzw. niedriger Verdampfungstemperatur einen empfindlichen Aufzeichnungsträger ergibt.
Ein anderer Parameter bei der Bewertung eines Aufzeichnungsträgers ist das Signal-Rauschverhältnis
des Lese-Signals. Ein höheres Signal-Rauschverhältnis entspricht einer besseren
und störungsfreieren Signalqualität.
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Wismut ist ein weiches Material mit niedrigem Schmelzpunkt.
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Bei Anwendung als Aufzeichnungsträger eingangs genannter Art, ist
Wismut empfindlicher als das höher schmelzende Rhodiumç Allerdings ist das Signal-Rauschverhältnis
des
Wismuts beim Lesen gering. Das rührt daher, daß sich in Wismut
Filmüberzügen beim Schmelzen ausgezackte, unregelmäßig geformte Löcher bilden, wodurch
das Signal-Rauschverhältnis herabgesetzt wird. Ein Vorteil des Rhodiums besteht
darin, daß in ihm beim Schmelzen gleichmäßigere runde Löcher entstehen, aber wegen
des hohen Schmelzpunkts ist die Empfindlichkeit dieses Materials gering. Es ist
ferner darauf hinzuweisen, daß Wismut-Filme insofern unstabil sind, als sie ein
Oxid bilden, welches eine geringere Empfindlichkeit und schlechtere optische Eigenschaften
als das nichtoxidierte Metall besitzt. Es wäre daher ein Metallfilm erwünscht, der
die Fähigkeit und Zähigkeit des Rhodiums zum Bilden gleichförmiger Löcher beim Schmelzen
mit der Empfindlichkeit des Wismuts vereinigt.
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Zum Aufzeichnen der Informationen werden in der Regel im sichtbaren
Wellenlängenbereich emittierende Laser, z.B. Helium/ Kadmium- oder Argongas-Laser,
benutzt. Als Alternative wäre ein Festkörper-Lasersystem, z.B. ein Galliumarsenid-Laser,
natürlich billiger sowie kompakter und in einem erheblich weiteren Bereich kommerziell
anzuwenden, Vorteilhaft wären daher Materialien, die zum Aufzeichnen mit Hilfe eines
im Wellenlängenbereich von 800 Nanometern emittierenden Galliumarsenid-Festkörper-Lasers
geeignet sind, Im vorstehenden Sinne empfindliche organische Farbstoffe sind im
allgemeinen nicht über einen breiten Wellenlängenbereich anzuwenden und können weder
einfach gehandhabt noch gereinigt werden.
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Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Material für einen Aufzeichnungsträger
eingangs genannter Art zu schaffen, das empfindlich, panchromatisch und einfach
zu handhaben sowie zu reinigen ist, Die erfindungsgemäße Lösung dieser Aufgabe ist
gekennzeichnet durch eine bei Sauerstoff-Partialdruck vakuumaufgedampfte Rhodiumschicht
auf einem Substrat als optischer Aufzeichnungsträger
Die erfindungsgemäßen
auf ein Substrat in einem einen Sauerstoff-Partialdruck aufweisenden Vakuum niedergeschlagenen
Rhodium-Filme stellen ein ausgezeichnetes panohromatisches, d.h. in einem weiten
Wellenlängenbereich empfindliches, Aufzeichnungsmedium dar, das sowohl mit Gas-Lasern
als auch mit Galliumarsenid-Feststoff-Lasern zu verwenden ist.
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Es ist bekannt, daß im Hochvakuum bei einem Sauerstoff-Partialdruck
gebildete dünne Rhodiumüberzüge ein besseres Haftvermögen und eine gesteigerte Gleichförmigkeit
im Vergleich zu dünnen Rhodiumüberzügen aufweisen, die in Abwesenheit von Sauerstoff
hergestellt worden sind. Erfindungsgemäß hat sich nun überraschenderweise herausgestellt,
daß die bei einem Sauerstoff-Partialdruck vakuumaufgedampften dünnen Rhodiumfilme
überall im sichtbaren Wellenlängenbereich und im nahen infraroten Bereich des Spektrums,
d.h. panchromatisch absorbieren. Die Durchstrahlung eines 10,0 Nanometer (nm) dicken,
unter einem Sauerstoff-Partialdruck hergestellten Rhodiumfilms zeigt keine Änderung
des optischen Reflexionsvermögens und der Absorption zwischen der Wellenlänge von
488 nm, bei der Argon-Laser emittieren, und 800 nm, bei der Galliumarsenid-Laser
strahlen. Es ergibt sich also, daß die Empfindlichkeit bei den beiden Wellenlängen
im wesentlichen gleich ist.
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Erfindungsgemäß dünne Rhodiumüberzüge bzw. Rhodiumfilme könneu auf
bekannte Weise, z.B. nach einem in Joumal of Vacuum Science and Technology" (Band
13, 1976, Seiten 122 bis 126) beschriebenen Verfahren hergestellt werden. Beim Herstellen
erfindungsgemäßer Rhodiumfilme wurde das Metall auf ein als Glasscheibe ausgebildetes
Substrat aufgedampft.
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Beim Aufdampfen wurde ein Sauerstoff-Partialdruck von etwa 2,6 x 10
3 bis 6,7 x 10 2 Pa aufrechterhalten. Wenn der Sauerstoff-Partialdruck zu niedrig
ist, erhalten die hergestellten
Überzüge dieselben Eigenschaften
wie ein ohne die Anwesenheit von Sauerstoff hergestellter Rhodiumfilm.
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Wenn der Sauerstoff-Partialdruck zu hoch ist, entstehen optisch streuende,
schlecht haftende und fein unterteilte Filme, welche nicht brauchbar sind.
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In einer Sauerstoff-Partialatmosphäre hergestellte Filme bzw. Dnnschichten
sind transparenter als entsprechende bei Hochvakuum (weniger als 10 4Pa) hergestellte
Rhodiumfilme.
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Es hat sich aber herausgestellt, daß die Teilchengröße in den sauerstoffangereicherten
Filmen kleiner ist und daß diese Filme gleichmäßiger bzw. homogener sind. Wegen
der geringeren Absorption eines in einer Sauerstoffatmosphäre hergestellten Rhodiumüberzugs
werden bei dem erfindungsgemäßen Aufzeichnungsträger etwas größere Rhodium-Schichtdicken
benötigt, als bei herkömmlich vorbereitetem Absorptionsmetall. Überraschenderweise
ist der entstehende erfindungsgemäße Film trotz der größeren Schichtdicke empfindlicher.
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Die Schichtdicke der erfindungsgemäßen, sauerstoffmodifizierten Rhodiumüberzüge
auf einem Glassubstrat beträgt vorzugsweise etwa 10 bis 40 nm. Als besonders vorteilhaft
haben sich Schichtdicken zwischen 15 und 20 nm erwiesen.
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In dem bevorzugten Dickenbereich wird der nichtreflektierte Teil des
aufzeichnenden Lichtes fast vollständig in der Metallschicht absorbiert. Bei größeren
Schichtdicken wird die Menge des abzutragenden bzw. abzulösenden Metalls größer,
ohne eine entsprechende Vergrößerung der Menge des absorbierten Lichtes mit der
Folge, daß die Empfindlichkeit abnimmt.
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Bei kleineren Schichtdicken dagegen wird ein wesentlicher Teil des
aufzeichnenden Lichtes durch die Schicht zum Substrat hin durchgelassen, was zu
einer unwirtschaftlichen Ausnutzung der verfügbaren Lichtenergie und damit wiederum
zu geringerer Empfindlichkeit führt. Für Ablöse-Aufzeichnungsmaterialien ist eine
so hohe Lichtabsorption erwünscht, daß das gesamte einfallende nichtreflektierte
Licht absorbiert
und nicht etwa durch das Material hindurchgelassen
wird. Außerdem ist es vorteilhaft, wenn die Schichtdicke möglichst klein gehalten
wird, so daß zum Schmelzen der Metallschicht nur wenig Energie erforderlich ist.
Oberhalb der Schichtdicke von etwa 15 bis 20 nm zeigt der Rhodium-Überzug keine
wesentliche Abnahme der Durchlässigkeit im sichtbaren Bereich des Spektrums. Eine
wesentliche Erhöhung der Schichtdicke über 20 nm hinaus führt nur zu einer Abnahme
der Empfindlichkeit.
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Die Art des Substrats, auf das der erfindungsgemäß modifizierte Rhodiumfilm
niedergeschlagen wird, ist nicht kritisch, das Substrat muß jedoch eine optisch
glatte, ebene Fläche aufweisen, auf der der Rhodium-Überzug haften kann. Eine Platte
oder Scheibe aus Glas ist z.B. geeignet; ähnliches gilt für einen optisch glatten
Kunststoffkörper.
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In der älteren US-Patentanmeldung Ser.No. 796 570 ist ein Verfahren
zum Herstellen eines Informationsspeichers bzw.
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einer -platte beschrieben, bei dem ein thermisch isolierendes Material
zwischen die Metallschicht und das Substrat eingefügt wird. Die thermische Diffusionskonstante
dieses thermisch isolierenden bzw. eine Wärme sperre bildenden Materials ist kleiner
als die thermische Diffusionskonstante des Substrats. Folglich können billige Substrate
verwendet werden, wobei trotzdem der thermische Wirkungsgrad der Energie-Kupplung
in die Absorptionsschicht verbessert und damit die Empfindlichkeit erhöht wird.
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In zwei weiteren älteren Patentanmeldungen - nämlich US-Patentanmeldung
Ser.No. 668 495 und Ser.No. 782 032 -werden Aufzeichnungsträger bzw. -platten beschrieben,
in denen ein lichtabsorbierendes Material von einem lichtreflektierenden Material
durch ein Dielektrikum, wie Siliziumdioxid, getrennt ist. Die erfindungsgemäß unter
einem
Sauerstoff-Partialdruck hergestellten Rhodium-Überzüge können
bei dem bekannten Aufzeichnungsträger als lichtabsorbierendes Material verwendet
werden.
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Die zum Bilden eines kleinen Lochs in einem erfindungsgemäß bei Sauerstoff-Partialdruck
hergestellten Rhodium-Überzug erforderliche Mindestenergie beträgt bei einem Galliumarsenid-Festkörper-Laser
und einer Wellenlänge von etwa 800 nm - basierend auf den Ergebnissen bei einer
Wellenlänge von 488 nm und einem Argon-Laser - etwa 8 Milliwatt. Für einen auf einem
Glassubstrat in Abwesenheit von Sauerstoff hergestellten Rhodium-Überzug beträgt
die entsprechende Mindestenergie bei einer Wellenlänge von 800 nm zum Aufzeichnen
etwa 22 Milliwatt. Die beobachtete Mindest-Einfallenergie zum Einbringen einer Aufzeichnung
in einen 15 nm dicken auf ein Glassubstrat aufgedampften Wismut-Überzug beträgt
bei einer Wellenlänge von 800 nm 10 Milliwatt.
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Anhand der schematischen Zeichnung eines Ausführungsbeispiels werden
weitere Einzelheiten der Erfindung erläutert. Es zeigen: Fig. 1 einen Querschnitt
durch einen unbeschriebenen Aufzeichnungsträger; Fig. 2 einen Querschnitt durch
einen Aufzeichnungsträger mit Aufzeichnungsloch; Fig. 3 ein Block-Schaltbild eines
Systems zum Aufnehmen und Abspielen von Informationen mit dem Aufzeichnungsträger;
Fig. 4 einen Querschnitt eines unbeschriebenen Aufzeichnungsträgers mit einer Wärmesperrschicht;
und Fig. 5 einen Querschnitt durch einen beschriebenen Aufzeichnungsträger mit einer
Wärmesperrschicht.
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Fig. 1 zeigt einen noch keinem aufzeichnenden Lichtstrahl ausgesetzten
erfindungsgemäßen Aufzeichnungsträger 24.
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Diesei;#esteht im wesentlichen aus einem Glassubstrat 110 und einer
in einer Sauerstoffatmosphäre gebildeten Rhodiumschicht 112. In Fig. 2 ist ein erfindungsgemäßer
Aufzeichnungsträger 24 nach der Einwirkung eines aufzeichnenden Lichtstrahls dargestellt.
Durch den Lichtstrahl ist ein Teil der Rhodiumschicht 112 abgelöst und dadurch ein
Loch 114 erzeugt worden. Nach dem Bespielen enthält der Aufzeichnungsträger eine
Vielzahl von Löchern 114 und nicht nur das in Fig. 2 als Beispiel dargestellte.
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Die Anwendung des erfindungsgemäßen Aufzeichnungsträgers 24 wird anhand
von Fig. 3 im einzelnen erläutert. Zur Aufnahme wird von einem Laser 10 emittiertes
Licht durch ein#Modulator 12 geleitet. Dort wird das Licht in Abhängigkeit von einer
elektrischen Eingangsspannungsquelle 14 moduliert.
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Mit Hilfe der Aufnahmeoptik 16 wird das intensitätsmodulierte Licht
verstärks um den Durchmesser des intensitätsmodulierten Laserstrahls so zu vergrößern,
daß dieser den gewünschten Öffnungswinkel einer Objektivlinse 18 ausfüllt. Nach
Totalreflexion des vergrößerten modulierten Laserstrahls durch eine poiaflsier#nde
Teilerplatte 20 wird das Licht durch ein strahlärehendes bzw. -polarisierendes Viertel-Wellenlängen-Plättchen
(Lambdaviertelplättchen) 22 zur Objektivlinse 18 geleitet. Der modulierte Strahl
fällt dann - vorzugsweise einer Spiralspur folgend - auf das Aufzeichnungsmedium
bzw. den Aufzeichnungsträger 24 gemäß Fig. 1 und löst bzw. schmilzt einen Teil der
lichtabsorbierenden Schicht ab, so daß ein Teil des nichtreflektierenden Substrats
freigelegt wird. Der Aufzeichnungsträger 24 wird während der Aufnahme mit Hilfe
eines Drehantriebs bzw. Drehtisches 26 mit etwa 1800 Umdrehungen pro Minute gedreht.
Ein Schärferegler 28 sorgt für einen konstanten Abstand zwischen der Objektivlinse
18 und der Oberfläche des Aufzeichnungsmediums 24.
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Zum Abspielen wird ein unmodulierter Laserstrahl mit einer geringeren
Intensität als der aufzeichnende Laser strahl verwendet, so daß keine Ablöse- oder
Abschmelzerscheinungen im Aufzeichnungsmedium verursacht werden.
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Der lesende Laserstrahl folgt demselben Weg wie der aufnehmende Laserstrahl
auf dem Aufzeichnungsträger 24. Das beim Bespielen erzeugte Muster einer Folge von
Reflexions- und Nichtreflexions-Bereichen moduliert das beim Abspielen reflektierte
Licht, welches durch die Objektivlinse 18 und das Lambda-Viertelplättchen 22 gelangt.
Das nunmehr durch zwei Passagen durch das Lambda-Viertelplättchen 22 durch Polarisation
um 900 gedrehte Licht durchläuft die polarisierende Teilerplatte 20 und wird mit
Hilfe der Wiedergabeoptik 30 auf einen Fotodetektor 32 gerichtet. Dieser wandelt
das reflektierte Licht in ein elektrisches Ausgangssignal um, das dem Eingangssignal
entspricht und an der Ausgangsklemme 34 abzunehmen ist. Ein Spurregler 36 ist dazu
vorgesehen, das durch die Wiedergabeoptik 30 geleitete Licht so zu steuern, daß
dessen Spur auf dem Aufzeichnungsträger 24 während des Abspielens dieselbe ist wie
bei der Aufnahme.
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Das Auslesen des Aufzeichnungsträgers kann auch mit Hilfe einer Durchsttahlungstechnik
erfolgen, wobei ebenfalls ein unmodulierter und wenig intensiver Laserstrahl zu
benutzen ist.
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In Fig. 4 ist ein noch nicht bespielter, erfindungsgemäßer Aufzeichnungsträger
25 dargestellt, der aus einem Glassubstrat 110, einem thermisch isolierenden Material
111 mit geringerer thermischer Diffusionskonstanten als das Substrat 110 und einer
in einer Sauerstoffatmosphäre hergestellten Rhodiumschicht 112 besteht. Die Fig.
5 zeigt einen erfindungsgemäßen Aufzeichnungsträger 25, der bereits einem aufzeichnenden
Lichtstrahl ausgesetzt war
und bei dem daher durch Ablösen bzw.
Abschmelzen eines Teils der Rhodiumschicht 112 ein Loch 116 entstanden ist. In einem
Aufzeichnungsmedium befinden sich nach der jeweiligen Aufnahme eine Vielzahl von
Löchern 116 und nicht nur das eine beispielhafte Loch gemäß Fig. 5.
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Die Erfindung wird anhand der folgenden Beispiele noch näher erläutert;
Beispiel 1 Auf ein Glassubstrat wurde durch Elektronenstrahlverdampfung bei einem
Sauerstoff-Partialdruck von etwa 2 bis 3 x10 2 Pa ein dünner Rhodiumüberzug mit
einer Schichtdicke von etwa 20 Nanometern (nm) von einer wassergekühlten Kupferelektrode
bzw. einem wassergefüllten Kupferherd aus niedergeschlagen.
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Der entstandene dünne Überzug wurde einem 80 Nanosekunden dauernden
Einzelimpuls des Lichtes eines Argon-Lasers mit einer Wellenlänge von 488 Nanometern
ausgesetzt. Die zu dieser Aufzeichnung benutzte Vorrichtung war ähnlich derjenigen
gemäß Fig. 3, sie wies jedoch nicht den Spurregler sowie den Schärferegler auf,
außerdem war der Aufnahmeträger bei der Aufnahme nicht auf einen Drehtisch 26 sondern
auf eine feste Unterlage gesetzt. Die Aufnahmeschwelle dieses Überzugs lag bei einer
auffallenden Energie von etwa 3,5 Milliwatt.
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Die optischen Eigenschaften bei einer Wellenlänge von 488 Nanometern
von nach dem vorgenannten Verfahren in einem Sauerstoff-Partialdruck hergestellten
dünnen Rhodium-Überzügen sind in Tabelle I zusammengefaßt.
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Tabelle I Optische Eigenschaften bei 488 um Wellenlänge eines unter
Sauerstoff gebildeten Rhodiumüberzugs
Dicke 0 2-Partialdruck Reflexions-
Durchlaß- Absorpvermögen vermögen tion nm Pa o/o 7% 10 1 x 10 2 35 25 40 20 1 x
10 2 62 2 36 40 1 x 10 2 -67 0 30 Zur Kontrolle wurde ein dünner Rhodium-Überzug
mit einer Schichtdicke von 10,0 Nanometern durch Elektronenstrahlverdampfung von
einem wassergekühlten Kupferherd in einem Hochvakuum von weniger als 10 -4 Pa auf
ein aus Glas bestehendes Substrat niedergeschlagen. Auch dieser Überzug wurde einem
80 Nanosekunden dauernden Einzelimpuls des Lichtes eines Argon-Lasers mit einer
Wellenlänge von 488 Nanometern ausgesetzt0 Die entsprechende Aufnahmevorrichtung
war die gleiche wie beim vorgenannten Versuch. Der in Abwesenheit von Sauerstoff
in einem Hochvakuum hergestellte Rhodiumfilm hatte einen Aufnahme schwellenwert
zum Bilden von Löchern von etwa 10,5 Milliwatt auf dem Film auffallender Strahlungsenergie.
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Die optischen Eigenschaften dieses Rhodiumfilms sind in Tabelle II
zusammengestellt.
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Tabelle II Optische Eigenschaften bei 488 nm Wellenlänge von Rhodiumüberzügen.
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Dicke 0 2-Partialdruck Reflexions- Durchlaß- Absorpvermögen vermögen
tion nm Pa 20 Nullmenge 60 8 32 38 Nullmenge 64 1 35 Die Nullmenge des Sauerstoff-Partialdrucks
liegt im Hochvakuum im allgemeinen weit unter 10 6 Pa.
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Beispiel 2 Es wurde ein etwa 22,0 Nanometer dicker Rhodiumfilm bei
einem einen Sauerstoff-Partialdruck von etwa 10 2 Pa enthaltenden Hochvakuum auf
eine Glasscheibe mit 30,07 cm Durchmesser wie im Beispiel 1 aufgebracht. Der prozentuale
Durchlässigkeitsgrad eines Films vor der Aufnahme bei 488 Nanometern Wellenlänge
betrug 200%. Bei Verwendung der Vorrichtung gemäß Fig. 3 lag die Aufnahme schwelle
zur Lochbildung bei 50 Milliwatt Ausgangsleistung des Argon-Lasers.
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Der maximale Kontrast von 47% wurde bei einer Laser-Ausgangsleistung
von etwa 500 Milliwatt erreicht. Der Kontrast ist dabei definiert als Differenz
der Reflexionsvermögen der Löcher und der unberührten Filmbereiche dividiert durch
die Summe der Reflexionsvermögen der Lochbereiche und des Hintergrundbereichs. Das
Signal-Rauschverhältnis betrug ungefähr 30 bis 35 Dezibel (dB). Weitere Werte sind
in Tabelle III angegeben.
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Tabelle III Aufzeichnungseigenschaften eines bei einem Sauerstoffpartialdruck
gebildeten Rho dium-Film-Übe rzug s Laser-Ausgangsleistung Kontrast mW 500 47 250
46 216 46 180 45 140 36 100 31 60 8 50 Schwelle Zur Kontrolle wurde ein 22,0 Nanometer
dicker Rhodiumfilm auf eine Glasscheibe mit 30,0 cm Durchmesser unter Hochvakuum
durch Elektronenstrahlniederschlag wie im ersten Teil dieses Beispiels aber in Abwesenheit
von Sauerstoff gebildet. Bei einer Wellenlänge von 488 Nanometern ergab sich ein
Durchlässigkeitsgrad von 7%. Es wurden Informationen mit Hilfe einer anhand von
Fig. 3 beschriebenen Vorrichtung bei 488 Nanometern Wellenlänge aufgenommen. Das
Signal-Rauschverhältnis beim höchsten Kontrastniveau betrug 35 dB.
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Die Ergebnisse sind in Tabelle IV zusammengefaßt.
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Tabelle IV Ohne Sauerstoff gebildete Rhodium-Scheiben
Laser-Ausgangsleistung
Kontrast mW 500 34 433 35 362 36 282 32 197 12 185 Schwellenwert In einem zweiten
Kontrollversuch wurde ein 19,0 Nanometer dicker auf eine Glasscheibe mit 30,0 cm
Durchmesser aufgedampfter Wismutfilm unter Verwendung der Vorrichtung gemäß Fig.
3 untersucht. Die Ausgangsschwellenspannung des Lasers betrug etwa 100 Milliwatt.
Der maximale Kontrast lag bei 52% mit einem Signal-Rauschverhältnis von 35 dB bei
einer Laser-Ausgangsleistung von 180 Milliwatt.
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