DE2732282C3 - Verfahren zum Herstellen einer magnetischen Speicherschicht - Google Patents
Verfahren zum Herstellen einer magnetischen SpeicherschichtInfo
- Publication number
- DE2732282C3 DE2732282C3 DE2732282A DE2732282A DE2732282C3 DE 2732282 C3 DE2732282 C3 DE 2732282C3 DE 2732282 A DE2732282 A DE 2732282A DE 2732282 A DE2732282 A DE 2732282A DE 2732282 C3 DE2732282 C3 DE 2732282C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- layer
- magnetic
- etching
- mask
- irradiation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 title claims description 58
- 238000003860 storage Methods 0.000 title claims description 24
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 6
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 41
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 22
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 12
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 230000005381 magnetic domain Effects 0.000 claims description 6
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 5
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 3
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 claims description 3
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 claims description 3
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 230000035515 penetration Effects 0.000 claims description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 claims 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 claims 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims 1
- 239000002223 garnet Substances 0.000 description 19
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 13
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 9
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000005293 ferrimagnetic effect Effects 0.000 description 5
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N iron Substances [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 3
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 2
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 2
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000006735 deficit Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 description 1
- 125000001475 halogen functional group Chemical group 0.000 description 1
- 238000007373 indentation Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 125000000896 monocarboxylic acid group Chemical group 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- 210000000352 storage cell Anatomy 0.000 description 1
- 239000011232 storage material Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/02—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
- G11C11/14—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using thin-film elements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/04—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using optical elements ; using other beam accessed elements, e.g. electron or ion beam
- G11C13/06—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using optical elements ; using other beam accessed elements, e.g. electron or ion beam using magneto-optical elements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F41/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
- H01F41/14—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10S428/90—Magnetic feature
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen einer magnetischen Speicherschicht für magnetooptische
Informationsspeicherung, bei dem auf ein Substrat eine magnetische Schicht mit zur Schichtebene senkrechter
magnetischer Vorzugsrichtung aufgebracht wird, die sich infolge einer Fehlanpassung der
Gitterkonstanten des Substrats und der magnetischen Schicht in einem mechanischen Spannungszustand
befindet, worauf mit Hilfe einer lonenbestrahlung die Schicht derart strukturiert wird, daß Informationen in
Form ortsstabiler magnetischer Domänen speicherbar
sind.
Derartige Schichten sind in IEEE Transactions on Magnetics, Vol. Mag-11, No. 5, September 1975, Seite
1097 bis 1102 beschrieben. Dabei ist die gespeicherte
-, binäre Information durch die Richtung dieser Magnetisierung gegeben. Damit in einer Schicht eine große
Informationsmenge gespeichert werden kann, muß diese Schicht strukturiert werden, indem sie in einzelne
Bereiche unterteilt wird, die vorzugsweise die Form von
m in Reihen und Spalten angeordneten Quadraten oder Kreisen haben. Die Unterteilung muß so vorgenommen
werden, daß sich die magnetische Domäne eines Bereiches nicht auf den nächsten Bereich ausbreiten
kann, was bei der bekannten magnetischen Schicht dadurch erreicht wurde, daß diese Schicht an den
Bereichsgrenzen bis auf ein Substrat weggeätzt wurde. Auf diese Weise wird eine Vielzahl von magnetischen
Inseln auf dem Substrat gebildet, wobei jeweils eine Domäne einer Insel entspricht, d. h. die Domänengrenze
ist der Rand der insel. Dadurch entsteht ein örtlicher Gradient der magnetischen Eigenschaften beim Übergang
von der magnetischen Schicht am Rand der Insel zu einem uiimagnetischen Material, im allgemeinen Luft.
Bei der bekannten magnetischen Schicht wurde das
2~> Gittermuster in diese Schicht dadurch geätzt, daß die
Schicht mit einer Maske bedeckt wird, die die Schicht an den Stellen der Bereiche bzw. Domänen bedeckt und an
den Stellen der auszuätzenden Gittermuster freiläßt. Durch die wegen eines ausreichenden Signal-/Rausch-Verhältnisse
geforderte Dicke der magnetischen Schicht müssen die herausgeätzten Nuten aus technologischen
Gründen eine bestimmte Mindestbreite haben. Andererseits wird jedoch angestrebt, die einzelnen
Domänen und deren Abstände klein zu halten, um eine
is möglichst hohe Speicherdichte, d. h. eine möglichst
große Informationsmenge pro Flächeneinheit zu erreichen. Alle bekannten Ätzverfahren liefern jedoch nur
begrenzte Auflösung und Kantensteilheit bei gegebener Ätztiefe, so daß der Wunsch nach einem leistungsfähigeren
Strukturierungsverfahren besteht, das zudem geometrisch beliebig Domänenmustcr zuläßt.
In der eingangs genannten Druckschrift ist ferner angegeben, die geometrische Stabilität von Domänen
durch Ausnutzen von Strahlungsschädeneffekten zu erreichen, die durch die Wandkoerzitivkraft erhöht
wird. Solche Strahlungsschädeneffekte entstehen durch lonenplantation, wie sie aus »Ion Implantation in
Semiconductors and other materials«, Plenum Publishing Corporation, New York, Seite 505 bis 525
■50 hervorgeht.
Dort wird durch Ionenimplantation eine gewisse Haftung für freibewegliche Domänen erreicht, jedoch
nicht bei magnetooptischen Speichern, sondern bei Speichern mit Domänen, die durch äußere Felder
bewegt werden. Auch hierbei ist die erreichbare Feinheit der Strukturen begrenzt.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren zum Herstellen einer magnetischen Speicherschicht anzugeben,
bei der die Strukturierung so vorgenommen wird, daß auch sehr kleine Domänen stabil und zuverlässig
gespeichert werden können.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Schicht gleichmäßig mit 106 bis 109 Ionen/cm2
bestrahlt wird, die auf eine derartige Energie beschleunigt sind, daß die mittlere Eindringtiefe größer als die
Schichtdicke ist, und daß anschließend mindestens ein Teil der Kernspuren ausgeätzt wird.
Bei Bestrahlung durch Ionen lassen sich im Prinzip
wesentlich feinere Strukturen erreichen, so daß eine hohe Speicherdichte erzielt werden kann. Die hochenergetischen
Ionen hinterlassen nämlich beim Eindringen in die magnetische Schicht Kernspuren mit hoher
Defektdichte und einem Durchmesser von etwa 100 A. ;
Das gestörte Volumen dieser Kernspuren läßt sich durch selektive Ätzmittel herauslösen, wodurch Kanäle
mit zylindrischem oder prismatischem Querschnitt entstehen. Der »Einfangquerschnitt« dieser Ätzkanäle
für magnetische Wände läßt sich weit über deren κι
Abmessungen auf etwa die »Dicke« der Wände erweitern, wenn Schichten z. B. mit planaren Fehlanpassungs-Spannungen
bestrahlt werden, so daß sich Spannungshöfe an den Ätzkanälen ausbilden können.
Über Magnetostriktion wirken diese Spannungshöfe als Haftregionen für magnetische Wände. Natürlich
würde eine ähnliche Haftwirkung auf die magnetischen Wände von den geätzten Kernspuren ausgehen, wenn
diese durch genügend langes Ätzen air* etwa die
Wanddicke aufgeweitet würden. Dadurch allerdings entstehen optische Streuzentren, wodurch Auslesewirkungsgrad
und magnetooptischer Kontrast stark vermindert werden. Die Erfindung indessen ermöglicht
in gespannten Schichten eine hohe Haftwirkung bei relativ geringem spezifischem Volumen der Kanäle. 2r>
Wird durch Wärmepuls, z. B. mittels fokussierendem Laserstrahl, im äußeren Feld örtlich eine magnetische
Domäne erzeugt, so bleibt die umgebende magnetische Wand nach dem Wärmepuls an den nächstgelegenen
Ätzkanälen haften. so
Eine Ausgestaltung der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß vor der Bestrahlung der magnetischen
Schicht eine Maske in Form einer Schicht aus einem Element mit hohem Atomgewicht, z. B. Gold,
aufgebracht wird, die die magnetische Schicht in si voneinander isolierten Bereichen bedeckt, und daß diese
Schicht nach der Bestrahlung entfernt wird. Dadurch bleiben die Bereiche, die anschließend Domänen
speichern sollen, völlig ungestört.
In den meisten Fällen ist die Störung durch die 4» Kernspuren allein jedoch sehr gering, und eine weitere
Ausgestaltung der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß vor dem Ätzen die bestrahlte magnetische
Schicht in voneinander isolierten Bereichen von einer Maske aus einem Material bedeckt wird, das weitgehend
resistent gegen das Ätzmittel ist, und daß die Maske nach dem Ätzen der Kernspuren ohne
Beeinträchtigung der magnetischen Eigenschaften der Schicht entfernt wird.
Dadurch werden nur die Kernspuren ausgeätzt, die nicht von der Maske bedeckt sind. Die nicht geätzten
Kernspuren bleiben magnetisch praktisch wirkungslos, da ihr Durchmesser (etwa 10 nm) wesentlich kleiner als
die Dicke der Wände 100 nm) ist. Dadurch läßt sich wieder ein definiertes Muster erzeugen. Außerdem bind
optische Streuverluste im Bereich der Speicherzellen minimiert. Dabei lassen sich auch in relativ dicken
Schichten (z.B. « ΙΟμίτι) sehr gute Auflösungen
erzielen, da es Unterätzung nicht gibt und im unten beschriebenen Fall eine hochauflösende Maskenstruktür
erreichbar ist. Deshalb kann die Dosis relativ hoch gewählt werden (>
109Cm-2), woraus eine große Wand Koerzitivfeldstärke Hc w resultiert. Bei d = 109cm-2
ergibt sich dann etwa ein spezifisches Streuvolumen von 3 · ΙΟ-4, das zu vernachlässigen ist gegenüber dem
magnetooptischen Wirkungsgrad und dem Auslesekontrast der ungestörten Speicherzelle. Eine weitere
Ausgestaltung des Verfahrens ist die Anwendung einer Ätzmaske mit einer ujt eine Größenordnung verbesserten
Auflösung. Dadurch wird eine bezüglich der Speicherplatzfestlegung quasi unstrukturierte Schicht
erhalten, die dem Laser-Ablenker keine Randbedingungen setzt Das ist möglich, weil das Maskenätzen von
Kernspuren hochauflösend ist, sofern die Dosis nicht zu
hoch gewählt wird und hochauflösende Masken resistent gegen das Ätzmittel sind.
Zum Ätzen können verschiedene selektiv wirkende Ätzlösungen verwendet werden. Vorteilhaft ist es zum
Beispiel, daß als Ätzlösung eine auf 500C bis 300C
erwärmte wässerige Lösung von 25% konzentrierter Salpetersäure und 25% konzentrierter Essigsäure
verwendet wird. Eine andere Ausgestaltung, die nicht mit einer flüssigen Ätzlösung arbeitet, ist dadurch
gekennzeichnet, daß an Stelle der Behandlung mit Ätzlösung ein Sputterätzen in einer sauerstoffhaltigen
Edelgasatmosphäre angewendet wird. Durch die Anwesenheit von Sauerstoff wird zwar die Ätzrate verringert,
jedoch die Selektivität beim Ätzen erhöht Allerdings ist die Tiefe der Ätzkanäle bei letzterer Ätztechnik
geringer als bei ersterer, und ihre Form ähnelt Kratern.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachstehend
anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt:
F i g. 1 eine scheinatische Darstellung einer gesamten
Speicheranordnung,
F i g. 2 die Abhängigkeit der Magnetisierung in einem ferrimagrietischen Granatmaterial von der Temperatur,
Fig.3 schematisch die bekannte Strukturierung durch Inselbildung,
F i g. 4 die Domänenwandhaftung bei Ausätzung aller Kernspuren,
F i g. 5 die Bildung von Domänengrenzen bei Bestrahltung mit Ionen kleiner Dosis und Ätzung aller
Kernspuren in Draufsicht,
F i g. 6 eine Schnittansicht der F i g. 5 längs A-A.
In der Speicheranordnung nach F i g. 1 erzeugt der Laser 1 einen linear polarisierten Lichtstrahl, der in
einem Lichtablenker 2, beispielsweise einem elektrooptischen Polarisationsschalter mit doppelbrechenden
Prismen, in verschiedene Richtungen wahlweise abgelenkt wird. Die Richtung der Lichtablenkung bestimmt
ein Adressensignal am Eingang 3.
Das abgelenkte Licht fällt je nach Richtung auf einen der magnetisierbaren Bereiche auf der Speicherplatte 4,
die auf einem unmagnetischen Substrat eine Anzahl in diesem Beispiel durch Inseln gebildete Bereiche aus
einem ferrimagnetischen Granatmaterial besitzt. Dieses Material möge auf Grund des Herstellungsverfahrens
eine derartige Anisotropie besitzen, daß der Magnetisierungsvektor senkrecht zur Oberfläche, d. h. in der
Richtung des Lichtes oder entgegengesetzt, steht.
Ferrimagnetische Granatmaterialien haben die Eigenschaft, daß sie eine unterhalb der Curietemperatur
Ta und oft im Bereich der Raumtemperatur liegende
Kompensationstemperatur T00 besitzen, bei der die
Magnetisierung verschwindet, wie aus Fig. 2 zu erkennen ist, die optische Aktivität jedoch erhalten
bleibt. In diesem Punkt läßt sich die Magnetisierungsrichtung durch äußere Magnetfelder nicht verändern.
Zum Einschreiben einer Information wird ein Bereich auf der Speicherplatte 4 durch den Lichtstrahl so auf
eine Schalttemperatur T5 erwärmt, bei der die Magnetisierung
wesentlich von Null unterschieden ist, und gleichzeitig wird ein Schaltmagnetfeld Hs angelegt.
Wenn der Magnetisierungsvektor des betreffenden Bereiches vorher in der Richtung des Lichtes verlief,
wird er jetzt durch das Schaltmagnetfeld in die
entgegengesetzte Richtung umgeschaltet (oder umgekehrt),
ohne daß die umliegenden Bereiche durch das Schaltmagnetfeld beeinflußt werden, wenn die Erwärmung
des einen Bereiches kurz genug andauert, so daß die umliegenden Bereiche sich noch nicht erwärmen.
Zum Auslesen wird ein polarisierter Lichtstrahl ohne angelegtes Feld auf den auszulesenden Bereich gerichtet,
und aus der Richtung der Drehung der Polarisationsebene des Lichtes des aus der Speicherplatte austretenden
Lichtstrahles ergibt sich die gespeicherte Information. Durch einen der Photodiode bzw. der Photodiodenmatrix
5 vorgeschalteten Analysator 7 kann die Polarisation des aus der Speicherschicht 4 austretenden
Lichtes in Helligkeitsunterschiede umgewandelt werden, die dann die Information angeben und die über
Photodioden in elektrische Signale umgewandelt und gegebenenfalls nach Verstärkung am Ausgang 6
abgegeben werden.
Um die Speicherschicht 4 gut auszunutzen und möglichst viele Informationen speichern zu können, soll
jeder Information nur ein flächenmäßig kleiner Bereich zugeordnet werden. Von der Speicheranordnung her ist
die minimale Größe und die maximale Dichte der Bereiche durch den kleinsten Durchmesser des Lichtfleckes
auf der Speicherschicht begrenzt, auf den der Lichtstrahl fokussiert werden kann, sowie durch die
Genauigkeit der Ablenkung. Außerdem müssen die einzelnen Bereiche sowohl in der Größe wie auch in der
Lage sehr stabil sein, um ein reproduzierbares Auslesen zu ermöglichen. Es ist bekannt, daß in spontan
magnetisierten Schichten magnetische Domänen existieren können, deren Magnetisierungsrichtung zu der
der angrenzenden Domänen entgegengesetzt gerichtet ist. Benachbarte Domänen trennt eine magnetische
Wand. Diese Domänen sind jedoch bei den Schichten, die für magnetooptische Speicher verwendet werden
und die sich mit geringen Schaltmagnetfeldern umschalten lassen, oft zu groß und unter Umständen zu leicht
verschiebbar. Sie müssen also durch zusätzliche Maßnahmen kleiner und ortsstabil gemacht werden. Die
ferrirnagnetische Granatschicht wird daher in einzelnen
Inseln unterteilt, wie in F i g. 3 dargestellt ist. Dazu wird
auf ein Substrat 10 eine ferrimagnetische Granatschicht
11 aufgebracht und danach mit einer Maske bedeckt, die
die Granatschicht an der Stelle der späteren Vertiefung
12 frei läßt, und dann wird die Granatschicht einem komplizierten Ätzprozeß ausgesetzt, der das Granatmaterial
an den unbedeckten Stellen entfernt, so daß die Vertiefungen 12 entstehen. Eine in einer Insel 11
vorhandenen Domäne erstreckt sich dann bis an den Rand dieser InseL Magnetische Wände können diesen
Rand jedoch nicht überschreiten, so daß jede Insel ein Eindomänengebiet darstellt, das unabhängig von den
umliegenden Inseln und deren Magnetisierung ist
In F i g. 5 ist eine Speicherschicht in Draufsicht und in F i g. 6 im Schnitt längs der Linie A-A dargestellt, die auf
eine andere Weise strukturiert wurde. Auch hier ist wieder ein Substrat 10 vorhanden, das beispielsweise
aus (Gd, Ca)3 (Ga, Zr)s O12 bestehen kann und
unmagnetisch ist Darauf ist z. B. auch eine ferrimagnetische einkristalline Granatschicht beispielsweise mit der
Zusammensetzung (Gd, Bi)3 (Fe, AL Ga)sOi2 durch
FIüssig-Epitaxie aufgebracht, deren Gitterkonstante nicht genau angepaßt ist. Diese Granatschicht wird
einer Bestrahlung mit Ionen ausreichend hoher Energie,
aber kleiner Dosis ausgesetzt.
Die Granatschicht 11 wird ohne Bedeckung mit einer
Maske vollständig mit Ionen bestrahlt. Die einzelnen Ionen hinterlassen im Kristallgefüge der Granatschicht
11 sogenannte Kernspuren mit einem Durchmesser in der Größenordnung 10 nm, in denen das Kristallgitter
stark gestört ist, was sich jedoch noch nicht auf die magnetischen Wände der Schicht auswirkt, da diese
Dimensionen weit unterhalb der Wanddicke von Domänen liegen. Es wurden selektive Ätzlösungen
gefunden, beispielsweise eine heiße wäßrige Lösung von 25 Vol-o/o konz. HNO3 + 25 VoL-% konz. CH3COOH, in
in der das gestörte Kristallgefüge ein sehr viel größeres
Lösungsvermögen hat als das ungestörte Kristallgefüge, (im beschriebenen Fall einige 102:1). Auch beim
Sputterätzen in einer Atmosphäre aus Argon und Sauerstoff wird durch den Sauerstoffanteil das gestörte
! ■-. Kristallgefüge stärker abgetragen als das nichtgestörte.
Wenn also eine bestrahlte Granatschicht beispielsweise in der o.g. flüssigen Ätzlösung bei 700C während 30
Min. behandelt wird, werden die Kernspuren als Kanäle
12 mit Kraterrand an der Schichtoberfläche ausgeätzt. Diese können bei geeigneter Dicke der Granatschicht
11 bzw. hinreichend hoher Ionenenergie durch die ganze Schicht hindurch bis in das Substrat hineinreichen.
Derartige Ätzkanäle 12 sind in Fig.5 und ein Querschnitt eines Ätzkanals ist in Fig.6 dargestellt.
_>-> Dort ist die Granatschicht 11 nach dem Bestrahlen mit
Ionen durch eine Maske 13 abgedeckt worden, deren Material gegen das verwendete Ätzverfahren weitgehend
resistent ist, und dann wurde die Schicht einer Ätzbehandlung ausgesetzt. Dadurch sind also nur die
jo Kernspuren zu Kanälen ausgeätzt worden, die nicht von
der Maske 13 bedeckt wurden. Die Bereiche mit ungeätzten Kernspuren stellen die Informationsspeicherzellen dar, in denen das gestörte Schichtvolumen
anteilmäßig sehr gering ist Hier sollten zweckmä-
j3 ßigerweise die Spannungshöfe Minima der Wandenergie
darstellen, d. h. bei planarer Druckspannung sollte die Schicht eine positive Magnetostriktionskonstante λ,
bei planarer Zugspannung eine negative Magnetostriktionskonstante λ aufweisen.
Denn besonders wirksam haften Magnetwände an diesen Ätzkanälen, wenn die Granatschicht 11 sich in
einem Spannungszustand befindet, d.h. daß in dieser
Schicht beispielsweise eine planare Druckspannung besteht, die dadurch erzeugt werden kann, daß die
Kristallgitterkonstante der Granatschicht 11 etwas größer ist als die des Substrates 10, beispielsweise einen
Unterschied von 2 pm besitzt An den Stellen der ausgeätzten Kanäle 12 gleicht sich diese Druckspannung
dann zumindest zum Teil aus, so daß in der
Umgebung eines Ätzkanals ein mechanischer Spannungsgradient auftritt wie durch den schraffierten
Bereich im Querschnitt der F i g. 6 in der Umgebung des Kanals 12 angedeutet ist Durch diesen mechanischen
Spannungsgradienten tritt über die Magnetostriktion ein Gradient der magnetischen Anisotropie auf.
Dadurch ändert sich die Wandenergie σ» bei negativem
A, so daß eine Domäne in ihrer Verschiebung durch einen solchen Kanal behindert wird. Liegen derartige
Kanäle genügend dicht läßt sich die Wand nur durch größere Magnetfelder verschieben. Dabei sollten sich
jedoch die Spannungshöfe nicht überschneiden, damit der volle Anisotropiegradient auf der Wand wirksam
wird. Daher erscheinen in diesem Fall Dosen > W/cm2
nicht zweckmäßig.
Dadurch ist es also möglich, daß in den infolge der Maske 13 nicht ausgeätzten Bereichen unabhängig
voneinander Domänen bestehen können, die sich gegenseitig nicht beeinflussen. Die minimale stabile
Größe der durch geätzte Kernspuren stabilisierten Domänen hängt bei optimaler Dosis von der Wandenergie
und dem Anisotropiegradienten ab. Bei optimaler Dosis kann die Auflösung dadurch vergrößert werden,
daß die Gitterfehlanpassung vergrößert oder die r>
Ätzzeit verlängert oder ein Material mit einer größeren Magnetostriktionskonstanten gewählt wird. In allen
Fällen wird nämlich der Wirkungsquerschnitt der Krater vergrößert. Es ist auch zweckmäßig, die
uniaxiale magnetische Anisotropie zu veiringern. Wird ι ο
die Dosis wesentlich über lO'cm-2 erhöht, so entstehen
durch Ätzung quasi zusammenhängende Lücken im Kristallgitter, die in der Wirkung dem in Fig. 3
dargestellten Verfahren entsprechen.
Bei der in Fig.4 dargestellten Speicherschicht !! ist ic·
dagegen weder beim Bestrahlen mit Ionen noch beim Ätzen eine Maske verwendet worden. Dadurch sind alle
Ionen, die die Speicherschicht beim Bestrahlen getroffen haben, danach zu Kanälen 12 ausgeätzt worden, wie
in F i g. 4 zu ersehen ist. Vorteil dieses Verfahrens ist, daß also zunächst überhaupt keine feste Struktur für die
Informationsbereiche vorgegeben ist.
Es werde angenommen, daß die Schicht in Fig.4
durch einen etwa kreisförmigen Lichtfleck, der durch die schraffierte Fläche 14 angedeutet ist, kurzzeitig
aufgeheizt wird, während gleichzeitig ein Schaltmagnetfeld ausreichender Größe mit einer Richtung entgegengesetzt
zu dem vorhandenen Magnetisierungsvektor anliege. Dann wird sich also in dem erwärmten Bereich
die Magnetisierung umkehren, d. h. es wird eine Domäne mit etwa zylindrischer Wand gebildet. Da ein
Schichtmaterial verwendet wird, in dem sich ohne Störungen nur sehr große Domänen aufrechterhalten
lassen (die Magnetisierung ist klein), wird sich die erzeugte Domäne also ausbreiten, bis die Wände
außerhalb des Lichtflecks durch Kanäle aufgehalten werden. Diese Domäne 15 sei durch die geradlinige
Verbindung 16 der Kanäle 12 außerhalb bzw. auf dem Rand des Lichtflecks mit der quer zur Schraffur des
Lichtflecks liegenden Schraffur angedeutet. Nach erfolgtem Wärmepuls bleibt diese Domäne bei hinreichend
hoher Defektdichte auf Grund der erhöhten Wandhaftung stabil, sofern ihr Durchmesser und die
Wandkoerzitivfeldstärke Hc w nicht zu klein sind.
Abgesehen davon, daß das Herstellungsverfahren einfacher ist ergibt sich dadurch auch der Vorteil, daß
das Lichtablenkermuster nicht mit einer vorgegebenen Schicht-Struktur übereinstimmen muß. Die unmagnetisierten
Bereiche, die jeweils eine Information enthalten, werden indessen durch den Lichtablenker selbst
bestimmt. Die bei der Bestrahlung verwendete Dosis ist zum einen dadurch bestimmt, daß die einzelnen Kanäle
12 genügend eng beieinanderliegen, so daß sich auch bei Aufheizen eines kleinen Flecks nicht zu große Domänen
ausbilden. Für eine Domänengröße von unter 10 μπι ist
daher eine Dosis von etwa 107 Ionen pro cm2 oder
größer notwendig. Andererseits darf die Dosis auch nicht zu hoch sein, damit sich die Spannungsausgleichhöfe
um die einzelnen Kanäle 12 nicht überlappen. Aus diesem Grunde ist die maximale Dosis bei vorgespannten
Schichten auf etwa 109 Ionen/cm2 begrenzt Im
vorstehend beschriebenen Fall sind allerdings auch wesentlich höhere Dosen gestattet wenngleich daraus
in Schichten mit planarer Spannung keine wesentliche Steigerung der Wandkoerzitivfeldstärke Hc wzu erwarten
ist, da sich die Spannungshöfe dann mehr und mehr überlappen.
Bei den zuletzt anhand der F i g. 4 bis 6 beschriebenen Schichten, bei denen die Haftstellen für die magnetischen
Wände durch Bestrahlung mit Ionen niedriger Dosis und anschließendes selektives Ätzen erzeugt
werden, tritt wie eingangs erwähnt eine Erhöhung der Einschreibempfindlichkeit auf. An den durch Ätzen
entstehenden Ätzkanälen kann ein in die magnetische Schicht durch Gitterfehlanpassung aus Substrat eingebauter
homogener Spannungszustand relaxieren, wobei ein Anisotropiegradient auftritt. Wenn also das Material
der magnetischen Schicht eine negative Magnetostriktionskonstante hat und um die Ätzkanäle Senken einer
planaren Zugspannung auftreten, lassen sich beim thermomagnetischen Schalten dort schon mit geringen
Magnetfeldern magnetische Wände erzeugen, die schließlich durch Verschiebung den ganzen Speicherplatz
umklappen. Dieser Effekt ist bei den Magnetschichten gemäß Fig.4, bei denen alle Kernspuren
ausgeätzt werden und somit auch die innerhalb eines Speicherbereiches liegenden, besonders ausgeprägt. Bei
Speicherschichten gemäß F i g. 5 und 6 tritt dieser Effekt nur auf, wenn beim Erwärmen eines Bereiches mittels
eines Laserstrahles auch der Randbereich, d. h. ein Teil des Bereiches mit den Ätzkanälen zwischen den
Speicherbereichen, merklich mit erwärmt wird.
In einem Beispiel wurde eine epitaktisch aufgebrachte Eisengranatschicht der Zusammensetzung (Gd, Bi)3 (Fe,
Ga, Al)sOi2 verwendet, wobei die Kristallgitterfehlanpassung
an das Substrat etwas größer als l°/oo war. Die uniaxiale Anisotropie der ungestörten Schicht war
kleiner als 103 erg/cm3 und die Kompensationstemperatur
der Magnetisierung lag zwischen etwa 00C und
400C. Bei Schichtdicken bis etwa 10 μπι konnten nach
Bestrahlung mit einer Dosis größer als 107 Ionen/cm2
magnetische Domänen mit beliebiger Flächenverteilung und Durchmessern von kleiner als ΙΟμηι gespeichert
werden.
Anstelle der Bestrahlung der magnetischen Schicht mit Ionen zur Erzeugung von Kristallgitterstörungen
kann auch das einkristalline Substrat auf das die magnetischen Schichten epitaktisch aufgebracht werden,
durch lonenbestrahlung gestört werden. Diese Störungen pflanzen sich bei dem Aufwachen der
magnetischen Schicht in dieser fort, so daß sich diese annährend wie bestrahlte Magnetschichten verhalten.
Es können also auf verschiedene Weise Speichermaterialien hergestellt werden, in denen Domänen mit
kleinen Abmessungen ortsstabil aufrechterhalten und umgeschaltet werden können. Allen Möglichkeiten ist
gemeinsam, daß die Domänen bzw. deren Wände durch Unregelmäßigkeiten in der Speicherschicht festgehalten
werden, die durch Bestrahlung mit Ionen erzeugt werden und die einen Gradienten der magnetischen
Eigenschaft d.h. der Anisotropie, der magnetischen Austauschenergie oder von beiden erzeugen. Die
genaue physikalische Wirkung der in beschriebener Weise erzeugten Störstellen auf die Wandhaftung ist
nicht im einzelnen beschrieben worden, da dies für das Prinzip der Erfindung und deren Verständnis nicht
notwendig erscheint Die Erfindung ist nicht auf ferrimagnetische Granatschichten oder auf durch
FIüssig-Epitaxie hergestellte magnetische Schichten beschränkt
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (7)
1. Verfahren zum Herstellen einer magnetischen Speicherschicht für magnetooptische Informationsspeicherung,
bei dem auf ein Substrat eine magnetische Schicht mit zur Schichtebene senkrechter
magnetischer Vorzugsrichtung aufgebracht wird, die sich infolge einer Fehlanpassung der Gitterkonstanten
des Substrats und der magnetischen Schicht in einem mechanischen Spannungszustand befindet,
worauf mit Hilfe einer Ionenbestrahlung die Schicht derart strukturiert wird, daß Informationen in Form
ortsstabiler magnetischer Domänen speicherbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß die
Schicht gleichmäßig mit 106 bis 109 Ionen/cm2 bestrahlt v/ird, die auf eine derartige Energie
beschleunigt sind, daß die mittlere Eindringtiefe größer als die Schichtdicke ist und daß anschließend
mindestens ein Teil der Kernspuren ausgeätzt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß vor der Bestrahlung der magnetischen
Schicht eine Maske in Form einer Schicht aus einem Element mit hohem Atomgewicht, z. B. Gold,
aufgebracht wird, die die magnetische Schicht in voneinander isolierten Bereichen bedeckt, und daß
diese Schicht nach der Bestrahlung entfernt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß vor dem Ätzen die bestrahlte magnetische Schicht in voneinander isolierten
Bereichen mit einer Maske aus einem Material bedeckt wird, das weitgehend resistent gegen das
Ätzmittel ist, und daß die Maske nach dem Ätzen der Kernspuren ohne Beeinträchtigung der magnetischen
Eigenschaften der Schicht entfernt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß als Ätzmaske ein Photoresist benutzt
wird.
5. Verfahren nach Anspruch 1 oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß als Ätzmittel
eine auf 500C erwärmte wäßrige Lösung von 25% konzentrierter Salpetersäure und 25% konzentrierter
Essigsäure verwendet wird.
6. Verfahren nach Anspruch 1 oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß das selektive
Ausätzen der Kernspuren durch Sputterätzen in einer sauerstoffhaltigen Edelgasatmosphäre erfolgt.
7. Abwandlung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat mit
hochenergetischen Ionen geringer Dosis (106 bis 109
cm-2) bestrahlt und selektiv geätzt wird und daß danach erst die Magnetschicht, unter Gitterfehlanpassung,
abgeschieden wird.
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2732282A DE2732282C3 (de) | 1977-07-16 | 1977-07-16 | Verfahren zum Herstellen einer magnetischen Speicherschicht |
FR7821038A FR2397707A1 (fr) | 1977-07-16 | 1978-07-13 | Couche magnetique a fonction de memoire |
CA000307360A CA1141464A (en) | 1977-07-16 | 1978-07-13 | Megneto optic memory layer |
GB7829765A GB2001219B (en) | 1977-07-16 | 1978-07-13 | Making magnetic structures |
US05/924,369 US4274935A (en) | 1977-07-16 | 1978-07-13 | Magnetic memory layer |
JP53085258A JPS5916358B2 (ja) | 1977-07-16 | 1978-07-14 | 磁性層の製造方法 |
US06/207,820 US4314894A (en) | 1977-07-16 | 1980-11-17 | Method of making a magnetic memory layer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2732282A DE2732282C3 (de) | 1977-07-16 | 1977-07-16 | Verfahren zum Herstellen einer magnetischen Speicherschicht |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2732282A1 DE2732282A1 (de) | 1979-01-18 |
DE2732282B2 DE2732282B2 (de) | 1981-07-09 |
DE2732282C3 true DE2732282C3 (de) | 1982-03-25 |
Family
ID=6014139
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2732282A Expired DE2732282C3 (de) | 1977-07-16 | 1977-07-16 | Verfahren zum Herstellen einer magnetischen Speicherschicht |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US4274935A (de) |
JP (1) | JPS5916358B2 (de) |
CA (1) | CA1141464A (de) |
DE (1) | DE2732282C3 (de) |
FR (1) | FR2397707A1 (de) |
GB (1) | GB2001219B (de) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2839216A1 (de) * | 1978-09-08 | 1980-03-20 | Philips Patentverwaltung | Magneto-optischer modulator |
DE151759T1 (de) * | 1979-10-13 | 1986-08-14 | Inoue-Japax Research Inc., Yokohama, Kanagawa | Verfahren zur behandlung magnetischer wirkstoffe und vorrichtung dafuer. |
JPS5680876A (en) * | 1979-12-03 | 1981-07-02 | Fujitsu Ltd | Magnetic bubble memory chip |
JPS5911988B2 (ja) * | 1980-01-23 | 1984-03-19 | 株式会社日立製作所 | イオン打込み方法 |
US4454014A (en) * | 1980-12-03 | 1984-06-12 | Memorex Corporation | Etched article |
JPS57186285A (en) * | 1981-05-11 | 1982-11-16 | Hitachi Ltd | Manufacture of magnetic bubble memory element |
DE3139487A1 (de) * | 1981-10-03 | 1983-04-21 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | "verfahren zum herstellen einer magnetischen speicherschicht" |
JPS58125081A (ja) * | 1982-01-20 | 1983-07-25 | 新明和工業株式会社 | 操縦教習具 |
US4584237A (en) * | 1983-04-04 | 1986-04-22 | Litton Systems, Inc. | Multilayer magneto-optic device |
US4664941A (en) * | 1984-01-24 | 1987-05-12 | Intel Corporation | Confinement channels for magnetic bubble memory devices |
US4728178A (en) * | 1984-07-02 | 1988-03-01 | Allied Corporation | Faceted magneto-optical garnet layer and light modulator using the same |
DE3605793A1 (de) * | 1986-02-22 | 1987-08-27 | Philips Patentverwaltung | Verfahren zur herstellung von strukturierten epitaxialen schichten auf einem substrat |
EP0296808B1 (de) * | 1987-06-22 | 1992-03-04 | Parker Hannifin Corporation | Einrichtung zum Erfassen der Position und zugehörige hin- und hergehende Kolbenstange |
US5587223A (en) * | 1992-10-19 | 1996-12-24 | Board Of Trustees Leland Stanford, Jr. University | High density magnetic information storage medium |
US5820769A (en) * | 1995-05-24 | 1998-10-13 | Regents Of The University Of Minnesota | Method for making magnetic storage having discrete elements with quantized magnetic moments |
US6388314B1 (en) | 1995-08-17 | 2002-05-14 | Micron Technology, Inc. | Single deposition layer metal dynamic random access memory |
US5903491A (en) * | 1997-06-09 | 1999-05-11 | Micron Technology, Inc. | Single deposition layer metal dynamic random access memory |
US6261961B1 (en) * | 1999-03-01 | 2001-07-17 | The Regents Of The University Of California | Adhesion layer for etching of tracks in nuclear trackable materials |
US6864042B1 (en) | 2000-07-25 | 2005-03-08 | Seagate Technology Llc | Patterning longitudinal magnetic recording media with ion implantation |
US8345374B2 (en) * | 2003-05-29 | 2013-01-01 | Seagate Technology, Llc | Patterned media for heat assisted magnetic recording |
US7521137B2 (en) * | 2005-01-12 | 2009-04-21 | Seagate Technology Llc | Patterned thin films and use of such films as thermal control layers in heat assisted magnetic recording media |
DE102005036682B4 (de) * | 2005-07-29 | 2009-04-16 | Leibniz-Institut Für Festkörper- Und Werkstoffforschung Dresden E.V. | Verfahren zur Herstellung eines Schicht-Substrat-Verbundes und Schicht-Substrat-Verbund |
US9685186B2 (en) * | 2009-02-27 | 2017-06-20 | Applied Materials, Inc. | HDD pattern implant system |
SG10201401235YA (en) * | 2009-04-10 | 2014-09-26 | Applied Materials Inc | Use special ion source apparatus and implant with molecular ions to process hdd (high density magnetic disks) with patterned magnetic domains |
CN107611258A (zh) * | 2011-11-23 | 2018-01-19 | 应用材料公司 | 用于氧化硅化学气相沉积光刻胶平坦化的方法 |
US10037777B1 (en) * | 2017-07-05 | 2018-07-31 | Uniwersytet W Bialymstoku | Ultrafast photomagnetic recording in a dielectric medium using anisotropic ions effective gilber damping |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3827036A (en) * | 1971-03-12 | 1974-07-30 | Rockwell International Corp | Magnetic bubble domain system |
US3792452A (en) * | 1971-06-10 | 1974-02-12 | Bell Telephone Labor Inc | Magnetic devices utilizing ion-implanted magnetic materials |
DE2223123A1 (de) * | 1972-05-12 | 1973-11-22 | Philips Patentverwaltung | Magnetische speicherschicht |
US3808068A (en) * | 1972-12-11 | 1974-04-30 | Bell Telephone Labor Inc | Differential etching of garnet materials |
US3996571A (en) * | 1974-03-08 | 1976-12-07 | International Business Machines Corporation | Double layer bubble domain lattice system |
GB1446823A (en) * | 1974-05-10 | 1976-08-18 | Plessey Co Ltd | Method of producing garnet materials for use in circular magnetic domain devices |
US4060448A (en) * | 1977-01-28 | 1977-11-29 | Allied Chemical Corporation | Yttrium iron garnet disks on gadolinium gallium substrates for microwave applications |
-
1977
- 1977-07-16 DE DE2732282A patent/DE2732282C3/de not_active Expired
-
1978
- 1978-07-13 US US05/924,369 patent/US4274935A/en not_active Expired - Lifetime
- 1978-07-13 CA CA000307360A patent/CA1141464A/en not_active Expired
- 1978-07-13 FR FR7821038A patent/FR2397707A1/fr active Granted
- 1978-07-13 GB GB7829765A patent/GB2001219B/en not_active Expired
- 1978-07-14 JP JP53085258A patent/JPS5916358B2/ja not_active Expired
-
1980
- 1980-11-17 US US06/207,820 patent/US4314894A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2397707A1 (fr) | 1979-02-09 |
US4274935A (en) | 1981-06-23 |
CA1141464A (en) | 1983-02-15 |
JPS5916358B2 (ja) | 1984-04-14 |
GB2001219B (en) | 1982-06-16 |
GB2001219A (en) | 1979-01-24 |
DE2732282A1 (de) | 1979-01-18 |
US4314894A (en) | 1982-02-09 |
JPS5421133A (en) | 1979-02-17 |
FR2397707B1 (de) | 1984-10-19 |
DE2732282B2 (de) | 1981-07-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2732282C3 (de) | Verfahren zum Herstellen einer magnetischen Speicherschicht | |
EP0076544B1 (de) | Magnetooptischer Modulator | |
DE69533636T2 (de) | Magnetowiderstandseffektvorrichtung und hiermit versehener Magnetkopf, Speicher- und Verstärkungsanordnung | |
DE2422927C2 (de) | Integrierte Anordnung magnetischer Wiedergabeelemente | |
DE602005002558T2 (de) | Abgeschirmte elektrische einrichtung und herstellungsprozess dafür | |
DE60222963T2 (de) | Herstellungsverfahren für einen magnetischen Tunnelübergang | |
DE19854519A1 (de) | GMR-Kopf, Verfahren für dessen Herstellung und Magnetplattenlaufwerk mit Verwendung des Kopfes | |
DE19956196A1 (de) | Magnetisches Material und Magnetkopf unter Verwendung desselben und Magnetspeichervorrichtung mit ihm | |
DE69727574T2 (de) | Magnetfeldfühler und verfahren zur herstellung eines magnetfeldfühlers | |
DE3390321C2 (de) | ||
DE2040278A1 (de) | Magnetschichtspeicher | |
DE1524786A1 (de) | Magnetische Speicheranordnung | |
DE69029234T2 (de) | Verfahren zur Herstellung von Dünnschichtsupraleitern und supraleitenden Einrichtungen | |
DE2527916A1 (de) | Magnetisches einzelwanddomaenensystem | |
DE69019416T2 (de) | Magnetische Vorrichtungen mit verbesserten Polen. | |
DE2833891A1 (de) | Amorphe magnetische schicht und verfahren zur aenderung der richtung leichter magnetisierung einer duennen amorphen magnetischen schicht | |
DE3905613C2 (de) | ||
DE69021293T2 (de) | Integrierter Magnetaufzeichnungskopf. | |
DE2223123A1 (de) | Magnetische speicherschicht | |
DE1774058C3 (de) | Zerstörungsfrei auslesbarer ruhender Magnetschichtspeicher | |
DE2252715B2 (de) | Optisch transparente Einkristallscheibe aus substituiertem Eisen-Granat und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
EP0263380A2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines magnetooptischen Aufzeichnungsmediums | |
DE1521342A1 (de) | Verfahren zur Herstellung einer duennen anisotropen Magnetschicht | |
DE2839216A1 (de) | Magneto-optischer modulator | |
DE1774058A1 (de) | Magnetische Anordnung fuer Informationsspeicher,diese Anordnung enthaltender Informationsspeicher und Verfahren zur Herstellung der magnetischen Anordnung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OAP | Request for examination filed | ||
OD | Request for examination | ||
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |