DE2709214A1 - ARRANGEMENT FOR LASER SPECTRAL ANALYSIS - Google Patents

ARRANGEMENT FOR LASER SPECTRAL ANALYSIS

Info

Publication number
DE2709214A1
DE2709214A1 DE19772709214 DE2709214A DE2709214A1 DE 2709214 A1 DE2709214 A1 DE 2709214A1 DE 19772709214 DE19772709214 DE 19772709214 DE 2709214 A DE2709214 A DE 2709214A DE 2709214 A1 DE2709214 A1 DE 2709214A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
sample
optical
focusing
laser
radiation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19772709214
Other languages
German (de)
Inventor
Winfried Dipl Phys Quillfeldt
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jenoptik AG
Original Assignee
Jenoptik Jena GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jenoptik Jena GmbH filed Critical Jenoptik Jena GmbH
Publication of DE2709214A1 publication Critical patent/DE2709214A1/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/71Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
    • G01N21/718Laser microanalysis, i.e. with formation of sample plasma

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Description

JENOPTtKJENA GmbHJENOPTtKJENA GmbH

27092U27092U

Titelt Anordnung für die Laser-Spektralanalyse Titles Arrangement for Laser Spectral Analysis Gebiet der Technik;Field of technology;

Die Erfindung betrifft eine Anordnung für die Laser-Spektralanalyse, bei der unter Einwirkung von fokussierter Laserstrahlung eine Probe partiell verdampft und die Strahlung des atotnisierten Probenmaterials spektralanalytisch untersucht wird·The invention relates to an arrangement for laser spectral analysis, in which under the action of focused Laser radiation partially evaporates a sample and the radiation of the atotized sample material is spectral analysis is examined

Charakteristik der bekannten technischen Lösungen:Characteristics of the known technical solutions: Es sind Anordnungen zur Laser-Spektralanalyse bekannt* dieThere are known arrangements for laser spectral analysis

mittels einer Laser-Lichtquelle zur Bestrahlung und Verdampfung einer zu analysierenden Probe und einem Spektralapparat zur spektroskopisehen Untersuchung der für das jeweilige Probenmaterial charakteristischen Strahlung ausgerüstet sind· Vielfach sind diese Geräte noch mit einer Vor-by means of a laser light source for the irradiation and evaporation of a sample to be analyzed and a spectral apparatus for the spectroscopic examination of the radiation characteristic of the respective sample material. richtung zur zusätzlichen Anregung des verdampften Probenmaterials· vorzugsweise einer elektrischen Funkenstrecke versehen.direction for additional excitation of the vaporized sample material · preferably an electrical spark gap Mistake.

Im Unterschied zur Emissionsspektralanalyse, bei der die vom verdampften« angeregten Probenmaterial emittierteIn contrast to emission spectral analysis, in which emitted by the vaporized, excited sample material Strahlung in die Spaltebene oder Optik des Spektralapparates abgebildet und anschließend ihr Emissionsspektrum analysiert wird* benutzt man bei der Absorptionsspektralanalyse den Laserbrennfleck bzw. Krater auf der Oberfläche der Probe als spektroskopy sehe Lichtquelle, deren kontinuRadiation is mapped into the slit plane or the optics of the spectral apparatus and then its emission spectrum is analyzed * the laser focal point or crater on the surface is used for absorption spectral analysis of the sample as spectroscopy see light source, whose continu ierliche Strahlung die zu analysierende* aus atomieiertenierliche radiation to be analyzed * from atomized

31 709850/086931 709850/0869

27092H27092H

Probenciaterial bestehende Dampfwolke durchsetzt und dabei bei der» für day jeweilige !»iaterial charakteristischen V/ellen-1 fangen (neöonanzlinien) eine Absorption erfährt. Aus dem Absorptionsspektrum u.it seinen Resonanzlini en läßt sich auf ν erh al tr: i sii: aß ig einfache We.iüe die stoffliche Zusammensetzung des Probendampfs bestimmen. Der Krater eignet sich gut als spekti'oskopische Lichtquelle, weil er bzw. seine nächste Umgebung die höchste Temperatur innerhalb der Prcbendempfwolke aufweist und deshalb auch eine kontinuierliche Strahlung aussendet. Es sind aber auch Anordnungen für die Laser-Mikro-Atomabsorptionsanalyse bekannt geworden, die als Primar-Strahlungsquelle eine separate Lichtquelle verwenden.Sample material penetrates the existing cloud of steam and at the same time as the material characteristic of the day catch (neo-resonance lines) experiences an absorption. From the The absorption spectrum and its resonance lines can be ν receives the material composition determine the sample vapor. The crater works well as a spectroscopic light source because he or his immediate surroundings the highest temperature within the final test cloud and therefore also a continuous radiation sends out. But there are also arrangements for laser micro-atomic absorption analysis became known that use a separate light source as the primary radiation source.

Die ohne Verwendung einer zusätzlichen Lichtquelle arbeitenden Anordnungen zur Laser-Atomabsorptionsanalyse haben jedoch den Nachteil, daß die Durchstrahlung der Probendampfwolke unter einem Winkel zu deren Längsachse erfolgt. Damit verkürzt sich der Lichtweg, den die vom Kraterfleck ausgehende kontinuierliche Strahlung durch den Probendampf nimmt und ermindert sich somit auch die Strahlungsabsorption.The arrangements for laser atomic absorption analysis that work without the use of an additional light source however, have the disadvantage that the sample vapor cloud is irradiated at an angle to its longitudinal axis. This shortens the light path from the crater spot Outgoing continuous radiation through the sample vapor decreases and thus also reduces the radiation absorption.

Außerdem erschweren diese Anordnungen die Beobachtung der Probe und damit die reproduzierbare Einstellung auf die optimale Emissions- bzw. Absorptionszene des Probenmikroplasmas. Durch Verwendung einer zusätzlichen Lichtquelle laseen sich diese Mangel zwar teilweise beheben, jedoch erhöht sich zugleich auch der apparative Aufwand und die Störanfälligkeit der Anordnung.In addition, these arrangements make it more difficult to observe the sample and thus make the reproducible setting to the optimum one more difficult Emission or absorption scene of the sample microplasma. You can use an additional light source Although this deficiency partially remedied, at the same time the expenditure on equipment and the susceptibility to failure also increased the arrangement.

Ziel der Erfindung;Aim of the invention;

Zweck der Erfindung ist es, eine Anordnung zu schaffen, die es gestattet, bei einem vergleichsweise geringen gerätetechnischen Aufwand spektralanalytische Untersuchungen mit einem hofcen·V/irkungsgrad durchzuführen.The purpose of the invention is to create an arrangement that allows, with a comparatively small amount of equipment Effort to carry out spectral analytical investigations with a high degree of efficiency.

3129 709850/0669 3129 709850/0669

27092ΊΑ ö27092ΊΑ ö

Darlegung des Wesens der Erfindung:Explain the essence of the invention:

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine geeignete Anordnung anzugeben, bei der die zu analysierende Strahlung die Probendampfwolke auf einer möglichst großen Wegstrecke durchläuft und demzufolge in den Wellenlängen äie den für die jeweilige Materialprobe charakteristischen Resonanzlinien entsprechen, eine starke Absorption erfährt. Diese Aufgabe wird mit einer Anordnung für die Laseraρektralana~ lyse gelöst, die im wesentlichen aus einem kohärentes Licht aussendenden Laser als Energiequelle zur Verdampfung und Anregung von Probenmaterial zur Lichtemiss ion, einem optischen System zur Fokussierung des kohärenten Lichtes auf eine zu analysierende Probe und einem Spektrographen «ur Untersuchung der Strahlung des erhitzten Probenrriaierials besteht und die erfindungsgemäß dadurch gekennzeichnet ist, daß im optischen Stx'ahlengang zwischen dem Laser und dem optischen System zur Fokussierung ein zur Einfausrichtung des kohärenten LichtesThe invention is based on the object of specifying a suitable arrangement in which the radiation to be analyzed passes through the sample vapor cloud over the greatest possible distance and consequently undergoes strong absorption in the wavelengths which correspond to the resonance lines characteristic of the respective material sample. This object is achieved with an arrangement for laser aρektralan a ~ lysis, which essentially consists of a coherent light emitting laser as an energy source for the evaporation and excitation of sample material for light emission, an optical system for focusing the coherent light on a sample to be analyzed and a There is a spectrograph for examining the radiation of the heated sample region and which is characterized according to the invention in that in the optical beam path between the laser and the optical system for focusing there is one for aligning the coherent light

geneigt angeordneter frequenzselektiver oder teilverspiegelter Auskopplungsspiegel angebracht ist, der die vom Prob encnate rial herrührende Strahlung nach ihrem Durchtritt durch das System zur Fokussierung umlenkt und in die Spaltebene des Spektrographen richtet.inclined arranged frequency-selective or partially mirrored decoupling mirror is attached, which encnate rial from the sample After passing through the system for focusing, the resulting radiation is deflected and into the slit plane of the spectrograph directs.

Es ist von Vorteil, wenn ein zusätzliches Abbildungssystem mit optischer Achse senkrecht zur optischen Achse des Systems zur Fokussierung vorgesehen ist, welrhea das quer zur Ausbreitungarichtung des Laserlichtes emittierte Licht des verdampften, angeregten Probenmaterials ebenfalls in die Spaltebene des Spektrographen abbildet. Auf diese Weise wird es möglich, mit dem Atomabsorptionsspektrum zugleich auch das Atomemissionsspektrum der Probe aufzunehmen.It is advantageous if an additional imaging system with an optical axis perpendicular to the optical axis of the System for focusing is provided, welrhea the light emitted transversely to the direction of propagation of the laser light of the vaporized, excited sample material also into the Depicts the slit plane of the spectrograph. In this way it becomes possible to use the atomic absorption spectrum at the same time as well record the atomic emission spectrum of the sample.

Weiterhin ist es von Vorteil, wenn das optische Mittel zur Fokussierung ein Linsenobjektiv ist.It is also advantageous if the optical means for focusing is a lens objective.

Außerdem ist es vorteilhaft, wenn das optische Mittel zur Fokussierung ein Spiegelobjektiv ist. Derartige Objektive besitzen gegenüber Linsenob.jektiven vor allem den VorteilIt is also advantageous if the optical means for focusing is a mirror lens. Such lenses have the main advantage over lens lenses

709850/0869709850/0869

31293129

daß sie eine bessere Farbkorrektur aufweisen und einen im Vergleich zur Brennweite verhältnismäßig großen Objektivabstand besitzen.that they have better color correction and an im Have a relatively large lens distance compared to the focal length.

Von Vorteil ist ferner, wenn im optischen Strahlengang zwischen dem frequenzselektiven Auskopplungsspiegel und der Spaltebene des Spektrographen ein optischer Kondensor angeordnet ist, der die vom Auskopplungsspiegel umgelenkte Strahlung auf den Spektrographenspalt richtet.It is also advantageous if in the optical beam path an optical condenser between the frequency-selective coupling-out mirror and the slit plane of the spectrograph is arranged, which directs the radiation deflected by the coupling-out mirror onto the spectrograph slit.

Schließlich ist es von Vorteil, wenn zwischen Probe und Objektiv eine lichtdurchlässige Schutzplatte zur Verminderung der Objektivverschmutzung durch Probendampf und aus der Probe geschleuderte Partikel angebracht ist. Ausführungsbeispiel:Finally, it is advantageous if there is a transparent protective plate between the sample and the objective to reduce the risk of damage lens contamination from sample vapor and particles thrown out of the sample. Embodiment:

Die Erfindung soll anhand von Ausführungsbeispielen und dazugehörigen schematischen Zeichnungen näher erläutert werden.The invention is to be explained in more detail on the basis of exemplary embodiments and the associated schematic drawings will.

Es zeigenShow it

Fig. 1 eine erfindungsgemäße Anordnung für spektrale Untersuchungen von Proben nach dem Atomabsorptionsverfahren, 1 shows an arrangement according to the invention for spectral examinations of samples according to the atomic absorption method,

Fig. 2 eine Anordnung zur Laser-Mikrospektralana-Fig. 2 shows an arrangement for laser microspectral analysis

lyse einer Probe bei gleichzeitiger Aufnahme ihres Emissions- und Absorptionsspektrums undanalysis of a sample with simultaneous uptake their emission and absorption spectrum and

Fig. 3 eine Anordnung zur Bestimmung des AtomabFig. 3 shows an arrangement for determining the atom

sorptionsspektrums einer Probe nach Fig. 1 mit einem Spiegelobjektiv zur Fokussierung des Laserstrahls auf die Oberfläche der zu analysierenden Probe.Sorption spectrum of a sample according to FIG. 1 with a mirror lens for focusing of the laser beam on the surface of the sample to be analyzed.

In der Anordnung nach Figur 1 wird ein Laserstrahlenbündel L einer Laser-Lichtquelle 1 durch einen geneigt zur Strahleneinfallsrichtung angeordneten, für die Laserstrahlung weitgehend durchlässigen Spiegel 2 hindurchgeführt und vermitels eines Linsenobjektivs 3 auf eine zu analysierende Probe 4 fokussiert.In the arrangement of Figure 1, a laser beam L is a laser light source 1 arranged by a inclined to the beam incident direction, passed to the laser radiation substantially transparent mirror 2 and vermitels a lens lens 3 au f focuses on a sample to be analyzed. 4

3129 709850/0669 3129 709850/0669

27092H27092H

Beim Auftreffen der fokussierten Läserstrahlung auf die Oberfläche der Probe verdampft infolge der beträchtlichen" Energiekonzertration ein Teil des Probenmaterials, wobei eine sich explosionsartig ausbreitende Materialdampfwolke 5 entsteht» An der Einschlagstelle der Laserstrahlung auf der Oberfläche der Probe 4 bildet sich dabei eir. heißer Verdampfungskrater 6 aus, der eine Strahlung mit kontinuierlichem Spektrum emittiert. Diese Strahlung ist in der Figur 1 durch ein durch die Strichlinie angedeutetes Strahlungsbündel M dargestellt, welches die Frobendampfwolke 5 durchläuft und anschließend mit Hilfe des Linsenobjektivs 3 und eines Kor.densorobjektivs 7 nach Reflexion am Spiegel 2 in die Öffnung eines Spaltes 8 des hier nicht, dargestellten Spektrographen gelenkt wird. Beim Durchlaufen der Materialdampfwolke wird ein Teil der kontinuierlichen Strahlung atomat absorbiert. In der Abbildungsebene des Spektrographen erhalt man auf diese Weise ein Spektrum mit den für jeweilige stoffliche Zusammensetzung der Probe typischen Absorptionslinien. Die Konzentrationsbe-Stimmung der einzelnen Elemente erfolgt durch Messung der Lichtschwächung, die das Licht einer absorbierenden Linie beim Durchgang durch die Probendampfwolke erfährt. Da die Probendampfwolke entlang ihrer Längserstreckung durchstrahlt wird, erhöht sich die Absorption des Strahlungsbündels M im Bereich der Resonanzlinien und wird dadurch die Nachweisempfindlichkeit der Atomabsorptions-Methode verbessert.When the focused laser radiation hits the surface of the sample, part of the sample material evaporates as a result of the considerable "energy concentration, creating an explosively spreading material vapor cloud 5" At the point where the laser radiation hits the surface of the sample 4, a hot evaporation crater 6 forms , which emits radiation with a continuous spectrum. This radiation is represented in FIG the opening of a slit 8 of the spectrograph, not shown here, is directed. When passing through the material vapor cloud, part of the continuous radiation is absorbed he composition of the sample typical absorption lines. The concentration of the individual elements is determined by measuring the light attenuation that the light from an absorbing line experiences when passing through the sample vapor cloud. As the sample vapor cloud is irradiated along its longitudinal extent, the absorption of the radiation beam M increases i m area of the resonance lines, and thereby improves the detection sensitivity of the atomic absorption method.

Die Apertur des Linsenobjektivs 3 ist so dimensioniert, daß die Laserstrahlung objektseitig eine große Strahlungsdichte besitzt und es zugleich einen beträchtlichen Anteil der entstehenden kontinuierlichen Strahlung erfaßt und über den teildurchlässigen Spiegel 2 in den Spektrographen gelangenjLäßt. Um eine Verschmutzung des Linsenobjektivs 3 durch Probendampfartikel zu verhindern, ist im optischen Strahlengang zwischen der Probe 4 und dem Linsenobjektiv eine durchsichtige, planparallele Schutzplatte 13 ange-The aperture of the lens objective 3 is dimensioned so that the laser radiation has a high radiation density on the object side possesses and at the same time it detects a considerable proportion of the resulting continuous radiation and over the partially transparent mirror 2 gets into the spectrograph. In order to prevent the lens objective 3 from being soiled by sample vapor particles, the optical A transparent, plane-parallel protective plate 13 is placed between the sample 4 and the lens objective.

3129 709850/0669 3129 709850/0669

27092ΊΑ27092ΊΑ

ordnet. Als Schutzvorrichtung könnte aber z. B. auch ein Objektivvorsatz mit einer der Objektivfrontfläche gegenüberliegend, geeignet dimensionierten Strahlendurchtrittsöffnung dienen.arranges. As a protective device, however, z. B. also a lens attachment with one of the lens front surface opposite, suitably dimensioned beam passage opening are used.

Bei geringfügiger Abwandlung der oben beschriebenen Anordnung erhält man den in Fig. 2 schematisch dargestellten Aufbau für spektralanalytische Untersuchungen. Diese Anordnung besitzt zusätzlich ein optisches System 9, durch welches die quer zur Ausbreitungsricbtung des Laserstrahlenbündels emittierte Strahlung (Strahlenbündel E) des verdampften, angeregten Probenmaterials gesammelt und über einen Umlenkspiegel 10 und Umlenkprisma 12 in eine Spaltöffnung B des Spektrographenspaltes 8 gelenkt wird. Gleichermaßen wird die kontinuierliche Strahlung (Strahlenbündel M) über einen Umlenkspiegel 11 und das Umlenkprisma 12 auf die Spaltöffnung A des Spektrographenspaltes gerichtet. In der Abbildungsebene des stigmatischen Spektrographen erhält man auf diese Weise zwei parallel zueinander verlaufende Spektrenbilder, von denen eines das Absorptionsspektrum und das andere das Emissionsspektrum der Probe wiedergibt. Die gleichzeitige Aufnahme sowohl des Absorptionsais auch des Emissionsspektrums hat den Vorteil, daß zum einen die schnelle Erkennbarkeit wichtiger, charakteristischer Spektrallinien und damit eine rasche qualitative Be-Stimmung der in der Probe enthaltenen Elemente und zum anderen eine genaue quantitative Bestimmung auch hoher Gebalte der in Frage kommenden chemischen Elemente mit Hilfe von Intensitätsmessungen der Spektrallinien des Emissionsund des Absorptionsspektrums möglich ist.If the arrangement described above is slightly modified, the arrangement shown schematically in FIG. 2 is obtained Setup for spectral analytical investigations. This arrangement also has an optical system 9, through which the perpendicular to the direction of propagation of the laser beam emitted radiation (bundle of rays E) of the vaporized, excited sample material collected and transferred over a deflecting mirror 10 and deflecting prism 12 is directed into a slit opening B of the spectrograph slit 8. In the same way, the continuous radiation (bundle of rays M) is transmitted via a deflecting mirror 11 and the deflecting prism 12 directed at the slit opening A of the spectrograph slit. In the imaging plane of the stigmatic spectrograph In this way, two spectra images running parallel to one another are obtained, one of which is the absorption spectrum and the other represents the emission spectrum of the sample. The simultaneous recording of both the absorption and the emission spectrum has the advantage that for on the one hand the quick recognition of important, characteristic spectral lines and thus a quick qualitative mood of the elements contained in the sample and, on the other hand, an exact quantitative determination of even high contents of the chemical elements in question with the help of intensity measurements of the spectral lines of the emission and of the absorption spectrum is possible.

OQ ' Damit zur Bestimmung der chemischen Bestandteile einer Probe auch der infrarote und der ultraviolette Spektralbereich ausgenutzt werden, ist es vielfach vorteilhaft, Linsenobjektive Bit entsprechender spektraler Durchlässigkeit, wie z. B. Quarz-Linsenobjektive zu verwenden. Von Nachteil ist, daß Linsenobjektive zumeist nicht für alle in Frage kommendenOQ 'This is used to determine the chemical constituents of a If the infrared and ultraviolet spectral ranges are also used in the sample, it is often advantageous to use lens objectives bits with a corresponding spectral transmittance, such as z. B. to use quartz lens lenses. The disadvantage is that lens objectives are mostly not suitable for all

3129 709850/0669 3129 709850/0669

Arbeitswellenlängen achromatisch korrigiert sind, d. h. zwischen der Strahlung des Laserlichtbündels und der des Kontinuums tritt für den ultravioletten bis blauen Wellenlängenbereich eine Pokusdifferenz auf. Diese Fokusdifferenz kann man aber auch ausnutzen, um das Linsenobjektiv gleichzeitig als Kondensor zu benutzen. Man ordnet zu diesem Zweck das Linsenobjektiv in einer Entfernung von der Probe und vom Spektrographenspalt an, daß die probenseitige Brennweite für den Laserstrahl (z. B. Rubinlaser mit Wellenlänget λ = 694 nm) und dessen probenseitige Schnittweite für eine mittlere Wellenlänge der Kontinuums strahlung (z. "B. ^ 2 = 300 nn) zusammenfallen und der Abstand Objektiv-Eintrittes palt des Spektrographen mit der spektrographenseitigen Schnittweite des Linsenobjektivs für die mittlere y/ellenlänge Ao übereinstimmt. In diesem Fall wird gewährleistet, da3 der Laserstrahl auf die Probenoberflache fokussiert ist und diese Probenoberfläche im Bereich der mittleren Wellenlängen der Kontinaumsstrahlung scharf in die Ebene des Spektrographenspaltes abgebildet wird.Working wavelengths are corrected achromatically, ie a focus difference occurs between the radiation of the laser light beam and that of the continuum for the ultraviolet to blue wavelength range. This focus difference can also be used to use the lens objective as a condenser at the same time. For this purpose, the lens objective is arranged at a distance from the sample and from the spectrograph slit so that the focal length on the sample side for the laser beam (e.g. ruby laser with wavelength λ = 694 nm) and its focal length on the sample side for a mean wavelength of the continuum radiation ( E.g. ^ 2 = 300 nm) coincide and the distance objective-entrance palt of the spectrograph corresponds to the spectrograph-side focal length of the lens objective for the mean λ / ellen length Ao. In this case it is ensured that the laser beam is focused on the sample surface and this sample surface is sharply mapped into the plane of the spectrograph slit in the range of the mean wavelengths of the continental radiation.

In der Fig. 3 ist eine Anordnung zur Erzeugung des Absorptionsspektrums einer durch Laserstrahlung hergestellten Probendampfwolke, bei der an Stelle des Linsenobjektivs nach Pig. 1 zur Fokussierung des Laserstrahlbündels L und der Abbildung des heißen Verdampfungskraters 6 auf Spalt ein dioptrisches Spiegelobjektiv 14 benutzt wird. Das Spiegelobjektiv besteht aus Spiegeln 15 und 16 mit einem konvexen und einem konkaven Spiegel. Bei Verwendung von Spiegelobjektiven ist die Brennweite für alle Wellenlängen dieselbe. Dadurch kann gewährleistet werden, daß auch tatsächlich nur die unmittelbar an der Probenoberfläche entstehende, spektrallinienfreie Kontinuumsstrahlung auf den Spalt 8 abgebildet und Störeinflüase durch Fremdstrahlung vermieden werden.In Fig. 3 is an arrangement for generating the absorption spectrum of a produced by laser radiation Sample vapor cloud in which the lens objective is replaced after Pig. 1 for focusing the laser beam L and imaging the hot evaporation crater 6 on the gap a dioptric mirror lens 14 is used. That Mirror objective consists of mirrors 15 and 16 with a convex and a concave mirror. When using Mirror lenses is the focal length for all wavelengths same. This ensures that only the material that occurs directly on the sample surface Spectral line-free continuum radiation mapped onto the slit 8 and interference from external radiation be avoided.

31293129

709850/0669709850/0669

Claims (6)

27092H27092H Erf indun^s ansprach;Erf indun ^ s addressed; M j Anordnung für die L'aser-Spektralanal.yae, bestehend im wesentlichen aus einem kohärentes Licht aussendendem Laser als Energiequelle zur Verdampfung und Anregung von Probenmaterial, mit einem optischen oyatem zur 7okussi9rung des kohärenten Lichtes auf eine zu analysierende Probe und einem Spektrographen zur Untersuchung des Spektrums der vom erhitzten Irobenr.aterial emittierten Strahlung, dadurch gekennzeichnet, daß i.-n optischen Strahlengang zwischen dem Laser und den optischen System zur Fokussierung der Laserstrahlung auf die Analysenprobe ein zur Einfallsrichtung des kohärenten Lichtes geneigt angeordnet, frequenzselektiver oder teilverspiegelter Auskopplungsspiegel angebracht ist, der die vom angeregten Probenmaterial herrührende Strahlung nach ihrem Durchtritt durch den Probendampf und ihrer Fokussierung durch das optische Sya tem umlenkt und in die Spaltebene des Spektrographen richtet.,M j arrangement for the L'aser-Spektralanal.yae, consisting essentially of a coherent light emitting Laser as an energy source for the evaporation and excitation of sample material, with an optical oyatem for focusing of the coherent light on a sample to be analyzed and a spectrograph to examine the spectrum of the radiation emitted by the heated Irobenr.material, thereby characterized in that i.-n optical beam path between the Laser and the optical system for focusing the laser radiation on the analysis sample to the direction of incidence of the coherent light inclined, frequency-selective or partially mirrored outcoupling mirror is attached, the radiation from the excited sample material after their passage through the sample vapor and their focusing deflected by the optical system and directed into the slit plane of the spectrograph., 2. Anordnung nach Funkt 1, dadurch gekennzeichnet, daß zusätzlich ein Abbildungssystem mit optischer Achse senkrecht zur optischen Achse des Fokussierungssystems vorgesehen ist, welches das quer zur Ausbreitungsrichtung des Laserlichtes emittierte Licht des verdampften, angeregten Probenraaterials ebenfalls in die Spaltebene des Spektrographen abbildet.2. Arrangement according to radio 1, characterized in that in addition an imaging system with an optical axis is provided perpendicular to the optical axis of the focusing system, which is transverse to the direction of propagation of the Laser light emitted light from the vaporized, excited sample material also into the slit plane of the spectrograph maps. 3. Anordnung nach Punkt 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das optische Mittel zur Fokussierung ein Linsenobjektiv i3t.3. Arrangement according to item 1 or 2, characterized in that the optical means for focusing is a lens i3t. 4. Anordnung nach Punkt 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das optische Mittel zur Fokussierung ein Spiegelobjektiv mit Zentralabschattung ist.4. Arrangement according to item 1 or 2, characterized in that the optical means for focusing is a mirror lens with central shading is. 5. Anordnung nach einem der Punkte 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß im optischen Strahlengang zwischen dem frequenzselektiven Auskopplungsspiegel und der Spaltebene des Spektrographen ein optischer Kondensor angeordnet ist.5. Arrangement according to one of points 1 to 4, characterized in that an optical condenser is arranged in the optical beam path between the frequency-selective coupling-out mirror and the slit plane of the spectrograph. 31293129 709850/0669 BAD ORIGINAL709850/0669 BATH ORIGINAL 6. Anordnung nach Punkt 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen Probe und Objektiv eine lichtdurchlässige Schutzvorrichtung zur Verminderung der Objektiwerschmutzung angebracht ist·6. Arrangement according to item 1 or 2, characterized in that that between the sample and the objective a translucent Protective device to reduce object contamination is appropriate 31293129 709850/0669709850/0669
DE19772709214 1976-05-27 1977-03-03 ARRANGEMENT FOR LASER SPECTRAL ANALYSIS Withdrawn DE2709214A1 (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD19304176A DD127779A1 (en) 1976-05-27 1976-05-27 ARRANGEMENT FOR LASER SPECTRAL ANALYSIS

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2709214A1 true DE2709214A1 (en) 1977-12-15

Family

ID=5504645

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19772709214 Withdrawn DE2709214A1 (en) 1976-05-27 1977-03-03 ARRANGEMENT FOR LASER SPECTRAL ANALYSIS

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JPS52146294A (en)
DD (1) DD127779A1 (en)
DE (1) DE2709214A1 (en)
FR (1) FR2353049A1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4040101A1 (en) * 1990-12-14 1992-06-17 Siemens Ag Non-destructing contactless measuring of moisture content of solid body - using two sources of EM radiation of known power, one directed to measuring spot on sample surface and other to vapour bubble produced
DE10361903A1 (en) * 2003-12-22 2005-07-28 Carl Zeiss Jena Gmbh Method for the spectroscopic analysis of a biological or chemical substance

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3942375A1 (en) * 1989-12-21 1991-06-27 Guenter Knapp DEVICE FOR SIMULTANEOUS DETECTION OF SEVERAL WAVELENGTH RANGES
DE4415381A1 (en) * 1994-05-02 1995-11-09 Nis Ingenieurgesellschaft Mbh Laser-based method for the determination of precious metal concentrations in metals

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4040101A1 (en) * 1990-12-14 1992-06-17 Siemens Ag Non-destructing contactless measuring of moisture content of solid body - using two sources of EM radiation of known power, one directed to measuring spot on sample surface and other to vapour bubble produced
DE10361903A1 (en) * 2003-12-22 2005-07-28 Carl Zeiss Jena Gmbh Method for the spectroscopic analysis of a biological or chemical substance

Also Published As

Publication number Publication date
FR2353049B3 (en) 1980-03-21
FR2353049A1 (en) 1977-12-23
DD127779A1 (en) 1977-10-12
JPS52146294A (en) 1977-12-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2852978C3 (en) Device for the spectroscopic determination of the speed of particles moving in a liquid
DE69634963T2 (en) fluorometer
DE4243144B4 (en) Lens for a FT Raman microscope
DE2014530B2 (en) Method and device for determining the concentration of particles suspended in a medium
DE2552541A1 (en) SIMULTANEOUS TRANSMISSION OF PERIODIC SPECTRAL COMPONENTS THROUGH MANY INTERFEROMETRIC DEVICES
WO1998003892A1 (en) Confocal microscope with doublet system
DE102017131224A1 (en) Method and device for detecting a focal position of a laser beam
DE2714397A1 (en) METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THIN FILMS WITH REFLECTIVE SURFACES USING INFRARED RADIATION
DE19523741C2 (en) Optical detector device for a flowing sample
DE1598882B2 (en) MULTI-CHANNEL ABSORPTION SPECTROMETER
DE2417427A1 (en) FLUORESCENCE SPECTRAL PHOTOMETER
DE2529999A1 (en) OPTICAL INSTRUMENT FOR MEASURING THE CONCENTRATION OF POLLUTION GASES ON LONG AND SHORT GEOMETRIC PATHS
DE2103318B2 (en) Scatter photometer
DE10297062T5 (en) Atomic Absorption Spectrometer
DE2709214A1 (en) ARRANGEMENT FOR LASER SPECTRAL ANALYSIS
DE19531988A1 (en) Remote measurement of U (Pu) in glasses
DE4006622A1 (en) DEVICE FOR MONITORING WORKPIECES MACHINED WITH LASER RADIATION
DE3214049A1 (en) SPECTRAL FLUOROMETER
DE102009025561A1 (en) Arrangement and method for determining the luminescence quantum yield of a luminescent sample
DE3318376C1 (en) Device for exciting photoluminescence and for observing the same
DE112017007750T5 (en) Far infrared spectral device and far infrared spectral method
DE10218415B4 (en) Particle Monitoring Equipment
DE10131724B4 (en) Optical absorption measuring device
DE19758399A1 (en) Spectral analysis of edible oil mixture components especially for detecting Soya oil in olive oil
DE10031636A1 (en) Spectrometer, has focal length of optical system set so that projected light image is at least as large as fiber opening diameter

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee