DE2651003A1 - Verfahren und vorrichtung zum messen der dicke von einem transparenten material auf einem basiselement - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zum messen der dicke von einem transparenten material auf einem basiselementInfo
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HOFFMANN · EITLE & PARTNER 2 6 5 Ί 0 Q
PATENTANWÄLTE DR. ING. E. HOFFMANN · DIPL.-ING. W. EITLE · DR. RER. NAT. K.HOFFMAN N · DIPL.-ING. W. LEH N
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28 69o t/fg
G-.V. Planer Limited, Sunbury-on-Thames, Middlesex /England
Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Dicke von einem transparenten Material auf einem Basiselement
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Messen der Dicke von einem transparenten Material auf
einem Basiselement. Sie bezieht sich insbesondere auf die Dickenmessung von Materialien, die für elektromagnetische
Strahlung durchlässig sind.
Ein Anwendungsgebiet der Erfindung ist die Dickenmessung
von einem Film aus feuchter Druckerfarbe oder Tinte auf einer Metallwalze, wie er beim Drucken nach dem Intaglio-Verfahren
verwendet wird. Jedoch ist auch die Dickenmessung von anderen
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und dickeren Materialien, z.B. das Ausmessen der Dicke von einer Farbbeschichtung vorgesehen.
Beim Drucken nach dem Intaglio-Verfahren ist es erwünscht,
dass die Dicke des auf die Druckwalze aufgegebenen Tintenfilms genau gesteuert wird. Diese Steuerung wird u.a. benötigt,
dass der Drucker eine bleibende Qualität am fertigen Druck aufrechterhalten kann und ein übermässiger Verbrauch
an Tinte vermieden wird. Ein Ziel der Erfindung ist es daher, ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Messen der Dicke von
einem Tintenfilm auf einer sich drehenden Druckwalze zu schaffen, bei denen keine mechanische Berührung mit der
Walze erforderlich ist, die unempfindlich gegenüber einer Exzentrizität der Walze sind, die eine Dickenmessung im
Bereich von 0 bis 1oo ,u erlauben, die eine Dickenmessung innerhalb der gravierten Zonen der Walze ermöglichen, und
die bei allen gewöhnlich verwendeten Tinten eingesetzt werden können.
Das erfindungsgemässe Verfahren zur Lösung dieses Ziels
zeichnet sich dadurch aus, dass eine elektromagnetische Strahlung auf eine Oberfläche des Materials unter einem
Einfallswinkel gerichtet wird, der im wesentlichen gleich dem Brewster1sehen Winkel ist, ein Detektor so angeordnet
wird, dass die aus dem Material nach Hindurchgang durch dieses und Reflexion von dessen anderen Oberflächen austretende
Strahlung aufgenommen wird, und dass ein Polarisator so angeordnet wird, dass die Strahlung, die im wesentlichen
unter dem Brewster'sehen Winkel von der einen Oberfläche
des Materials reflektiert wird, nicht den Detektor erreicht. Folglich handelt es sich bei der in das Material
einfallenden und vom Detektor aufgenommenen Strahlung im
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wesentlichen nur um diejenige, die durch das Material hindurchgegangen ist. Der Detektor wird ferner so angeordnet,
dass er einen Bezugsstrahl von der gleichen Quelle wie für die elektromagnetische Strahlung erhält, so dass ein
Vergleich zwischen den Intensitäten von Bezugsstrahl und austretendem Strahl vorgenommen werden kann. Die Intensität
der erfassten austretenden Strahlung in bezug auf die Referenz— oder Bezugsstrahlung wird somit im wesentlichen nur durch
die Dicke des Materials modifiziert,und auf diese Weise ist
die Dicke messbar.
Das Verfahren erfordert keine mechanische Berührung mit dem transparenten Material und eignet sich daher inbesondere,
wenn auch nicht ausschliesslich, für die Dickenmessung von feuchtem Material. Die Dicke einer trockenen Materialmasse
kann,vorausgesetzt, dass sie für die Strahlung transparent ist, ebenfalls erfindungsgemäss gemessen werden.
Die erfindungsgemässe Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
ist gekennzeichnet durch eine Einrichtung, die eine elektromagnetische Strahlung auf eine Oberfläche des Materials
unter einem Einfallswinkel richtet, der im wesentlichen gleich dem Brewster'sehen Winkel ist, eine Detektoreinrichtung zur
Aufnahme der aus dem Material austretenden Strahlung,nachdem
diese durch das Material hindurchgegangen und von der anderen Materialoberfläche reflektiert wurde, eine Einrichtung,
die verhindert, dass die von der einen Oberfläche des Materials reflektierte Strahlung zur Detektoreinrichtung gelangen kann,
und ist weiter dadurch gekennzeichnet, dass die Detektoreinrichtung einen elektrischen Schaltkreis enthält, der
ein Ausgangssignal entsprechend seinem optischen Eingangssignal schafft, das abhängig von der Materialdicke ist.
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Wenn die elektromagnetische Strahlung so ausgewählt wird, dass sie im infraroten Bereich des Spektrums liegt, dann
kann es sich zweckmässigerweise bei der Strahlungsquelle um eine Wolframfaden-Lichtquelle handeln^ und in diesem
Fall kann der Detektor ein Bleisulfid-Detektor sein, der gekoppelt mit einem Siliciumfilter eine Bandbreite zwischen
etwa 1 und 3 ,u schafft. Die Einrichtung, die verhindert, dass die reflektierte Strahlung durch den Detektor aufgenommen
wird, ist vorzugsweise ein Polarisator, der so angeordnet ist, dass ein Durchgang von elektromagnetischer Strahlung,
die im wesentlichen unter dem Brewster'sehen Winkel
reflektiert wurde, verhindert wird.
Lediglich aus Gründen der Einfachheit wird nachfolgend das transparente Material in bezug auf einen Film erläutert,
doch stellt dies keine Beschränkung hinsichtlich der Materialdicke dar.
Wenn ein Strahl aus nicht polarisiertem Licht eine Luft/Filmgrenzfläche
unter einem Einfallswinkel trifft, der im wesentlichen gleich dem Brewster'sehen Winkel für den Film ist,
dann wird ein gewisser Teil des Lichtes gebrochen, gelangt durch den Film, wird an der Oberfläche des Basiselementes
zurück durch den Film reflektiert und wird an der Film/Luftgrenzfläche erneut gebrochen. Der Intensitätsverlust des
hindurchgegangenen, austretenden Lichts in bezug auf die Intensität des einfallenden Lichtes hängt ab von der Absorption
durch den Film, der Absorption bei Reflexion an der Grenzfläche zwischen Tinte und Basiselemente und vom Verlust
durch Reflexion an einem bestimmten Basiselement. Für einen bestimmten Einfallswinkel sind die beiden letztgenannten
Verluste konstant. Daher ist der Intensitätsverlust
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des austretenden Lichtes im wesentlichen nur von der Absorption
durch den Film und damit von der Filmdicke abhängig. Das Licht wird auch von dem ursprünglichen Strahl
an der Luft/Filmgrenzfläche reflektiert,und dieses Licht
ist planpolarisiert. Es wird gewöhnlich festgestellt, dass ein Lichtdetektor, der so angeordnet ist, dass er das
hindurchgegangene, austretende Licht empfängt, auch das direkt reflektierte Licht aufnimmt, das gewöhnlich wesentlich
intensitätsstärker als das übertragene austretende Licht ist. Indem jedoch ein Polarisationsfilter vor dem
Detektor angeordnet wird, und der Filter bezüglich der Polarisationsebene des reflektierten Lichtes so angeordnet
wird, dass er querpolarisiert, kann der Effekt des direkt reflektierten Lichts auf dem Detektor beseitigt werden.
Der Detektor kann dann so kalibriert werden, dass er ein Ausgangssignal schafft, das im wesentlichen für die Filmdicke kennzeichnend ist.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnung und
unter Bezugnahme auf die Dickenmessung von einem Film aus feuchter Tinte auf einer Druckwalze näher beschrieben. Es
zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung zur Erläuterung
der der Erfindung zugrundeliegenden Theorie,
Fig. 2 eine schematische Darstellung der bei der Erfindung verwendeten Vorrichtung, und
Fig. 3 einen elektrischen Schaltkreis für einen Detektor an der Vorrichtung,der ein optisches Eingangssignal
in ein elektrisches Ausgangssignal umwandelt.
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Gemäss Fig. 1 ist die Oberfläche 1 einer gravierten, für
das Intaglio-Druckverfahren verwendeten Druckwalze eine hoch reflektierende Metalloberfläche. Ein Film 2 aus Drucktinte
ist auf der Walze zum Einsatz während des Drückens aufgegeben und hat gewöhnlich eine Dicke t bis zu 1oo ,u.
Ein Lichtstrahl 3 ist so angeordnet, dass er auf die obere Oberfläche 4 des Tintenfilms 2 unter einem Einfallswinkel
auftrifft, der gleich dem Brewster'sehen Winkel für das
Filmmaterial ist. Unter diesen Umständen ist der direkt reflektierte Strahl 5 planpolarisiert, wobei sein elektrischer
Vektor senkrecht zur Einfallsebene steht. Der gebrochene Strahl 6 liegt unter rechtem Winkel zum reflektierten
Strahl 5 und ist nur teilweise polarisiert. Der Strahl 6 wird unter einem Winkel 0 an der Oberfläche 1 der Walze
reflektiert und zurück durch den Tintenfilm 2 geschickt und an der oberen Oberfläche 4 des Tintenfilms erneut gebrochen,
so dass ein teilweise polarisierter austretender Strahl 7 vorliegt. Die beiden Strahlen 5 und 7, die den
Tintenfilm 2 verlassen, liegen parallel zueinander, wobei der Strahl 5 planpolarisiert und der Strahl 7 Strahlen
enthält, die senkrecht zur Polarisationsebene des Strahles 5 polarisiert sind. Der Strahl 7 ist durch den Tintenfilm
2 über eine Wegstrecke
2t/cos 0 =2 t/sin θη
gelaufen;und aufgrund der optischen Verluste längs dieser
Weglänge hat er an Intensität abgenommen. Die Intensität des Strahles 7 hängt von der Dicke t des Films 2 ab, so
dass die Messung der Intensität eine Messung der Dicke des Tintenfilms ermöglicht. Die Intensität des reflektierten
Strahles 5 jedoch ist weit höher als die Intensität des
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ff
austretenden Strahles 7, so dass der Effekt des Strahles 5, der nicht durch den Tintenfilm 2 hindurchgegangen ist, beseitigt
werden muss. Ein Polarisator 8 ist in den Weg der Strahlen 5 und 7 eingesetzt und so angeordnet, dass er zu
der Polarisationsebene des reflektierten Strahles 5 quer polarisiert. Durch diese Massnahme ist das alleinige Licht,
das durch den Polarisator 8 hindurchgelangt, das planpolarisierte mit einem elektrischen Vektor parallel zur Einfallsebene
und somit das Licht von dem austretenden Strahl 7. Ein Detektor 9 mit einer Fotozelle ist so angeordnet, dass
er den optischen Ausgang des Polarisators 8 empfängt und diesen in einen Wert für die Dicke t des Tintenfilms 2
umwandelt.
Fig. 2 zeigt eine für die in Verbindung mit Fig. 1 beschriebene Theorie verwendete Vorrichtung, bei der eine Lichtquelle
1o und ein Detektor 11 so angeordnet sind, dass die Strahlung auf den Tintenfilm an der Oberfläche 12
einer Druckwalze 13 gerichtet bzw. die vom Tintenfilm austretende reflektierte Strahlung aufgenommen wird. Zwei Lochplatten 14, 15 sind nahe der Walze 13 so angeordnet, dass
sie den Betrachtungswinkel der Lichtquelle 1o bzw. des Detektors 11 beschränken.
Ein Polarisator 16 ist zwischen der Platte 15 und dem
Detektor 11 angeordnet f und ein mechanischer Unterbrecher
17 ist hinter dem Polarisator 16 angebracht. Der Unterbrecher 17 unterbricht oder zerhackt den Lichtausgang
vom Polarisator 16 zweimal pro Umdrehung, wobei die wirksame Unterbrechungsfrequenz etwa 5o Hz ist. Dies wird in
Verbindung mit einer stabilisierten Gleichstromquelle für die Lichtquelle 1o eingesetzt, um Variationen in der
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Intensität des einfallenden Lichtes zu verringern. Der Ausgang des Detektors kann verstärkt und mittels des in
Fig. 3 gezeigten Schaltkreises rektifiziert werden.
Gemäss Fig. 3 wird ein Verstärker 18 mit sehr hoher Eingangsimpedanz,
z.B. ein RCA-Typ 313o, verwendet, um das Ausgangssignal der Fotozelle 19 des Detektors zu verstärken,
da dies eine sehr geringe Belastung der Fotozelle auferlegt. Die Wechselstromkopplung zwischen Fotozelle und Verstärker
und zwischen Verstärker und Gleichrichter 2o als auch die Rückkopplungskomponenten sind so ausgewählt, dass der
Schaltkreis eine angemessene Empfindlichkeit bei der Unterbrechungsfrequenz
(die anders als 5o Hz sein kann) schafft, und dennoch gegenüber viel höheren Frequenzen und Gleichstromsignalen
unempfindlich ist.
Die abschliessende Ausgangsspannung, die proportional zur
Spitzenintensität des in den Detektor eintretenden Lichtes ist, wird mit einem Digital-Voltmeter gemessen.
Beim Drucken nach dem Intaglio-Verfahren wird erwünscht,
dass die Dicke des auf die Druckwalze aufgegebenen Tintenfilmes genau gesteuert werden kann, um dem Drucker eine
Hilfe hinsichtlich der Aufrechterhaltung einer bleibenden Qualität am fertigen Druck zu geben und eine übermässige
Vergeudung von Tinte zu vermeiden. Um diese Überwachung vorzunehmen, wird vorteilhafterweise die Dicke des Tintenfilms
auf der sich drehenden Druckwalze gemessen, wobei es wichtig ist, dass die Messung unempfindlich gegenüber
einer Exzentrizität der Walze ist.
Als Alternative zur Bestimmung der Dicke des Tintenfilmes
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aus nur dem austretendem Licht kann der Detektor auch so
angeordnet werden, dass er das Licht von der Lichtquelle 1o direkt empfängt, d.h. das Licht, das nicht durch den
Tintenfilm hindurchgelangt oder von diesem reflektiert ist. Vorzugsweise trifft dieses Licht, das als Referenzstrahl
dient, auf den Detektor nach Reflexion von einer nicht tintenbehafteten Oberfläche der Druckwalze 13 auf, wodurch
eine einfache Kompensation hinsichtlich der Reflexionseigenschaft der Walzenoberfläche geschaffen wird. Der
austretende und Bezugsstrahl werden dann dem Detektor in
zeitlich beabstandeter Folge zugeführt, der dann einen Intensitätsvergleich zwischen beiden Strahlen vornimmt,
um die Dicke des Tintenfilmes zu bestimmen. Es ist auch möglich, den austretenden und Bezugsstrahl einschlägigen
Detektoren zuzuführen, deren Ausgänge nachfolgend zur Ableitung der Filmdicke verglichen werden.
Bei der Beschreibung des Verfahrens zur Dickenmessung anhand von Fig. 1 wurde von einem einzelnen, einfallenden Lichtstrahl
ausgegangen. In der Praxis jedoch trifft eine Vielzahl von Lichtstrahlen auf den Tintenfilm/und dies erzeugt
einen Bereich von Einfallswinkeln. Darüber hinaus kann sich
der mittlere Einfallswinkel ändern, wenn die Tintenoberfläche
gekräuselt ist. Diese beiden Faktoren in Kombination mit dem Umstand, dass Polarisatoren nicht ideal ausgebildet sind,
indem sie keine scharfe Abtrennung schaffen, bedeuten, dass
bei einer praktisch ausgeführten Vorrichtung das direkt von der oberen Oberfläche des Tintenfilms weg reflektierte
Licht nicht vollständig daran gehindert wird, den Detektor zu erreichen. Die Genauigkeit der Messung wird dadurch
nachteilig beeinflusst. Es wurde jedoch in der Praxis festgestellt, dass unter der Voraussetzung, dass die Durchlässigkeit
des Tintenfilmes einige wenige Prozent übersteigt.
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11,
das Verfahren dennoch ausreichend für praktische Anwendungsfälle genau ist, wenn der Umstand, dass die Durchlässigkeit
von der Wellenlänge der einfallenden Strahlung abhängt, in Betracht gezogen wird. D. h. die Beziehung zwischen der
Wellenlänge der Strahlung und der speziell verwendeten Tinte sollte vorzugsweise so gewählt werden, dass eine Durchlässigkeit
des Films insgesamt von wenigstens 1o % (z.B.) vorliegt. Andererseits ist bei hohen Werten für die Durchlässigkeit
des Filmes insgesamt die Empfindlichkeit der Vorrichtung nicht ausreichend, um eine praktische Filmdickenmessung
zu erhalten.
Um den unterschiedlichen Eigenschaften von Tinten oder anderen flüssigen Filmen, die zu unterschiedlichen Durchlässigkeiten
führen, Rechnung zu tragen, muss die Vorrichtung kalibriert werden und kann mit einem Steuerknopf versehen
werden, der in Durchlässigkeitseinheiten für den der Untersuchung unterliegenden speziellen flüssigen Film abgestuft
ist.
Ferner kann anstelle von monochromatischem Licht ein Band von Wellenlängen verwendet werden. Dies führt zu dem Vorteil,
dass ein weniger kompliziertes optisches System, höhere verwendbare Lichtintensitäten und der Einsatz bei
Filmen mit Strahlentransmissionsbändern vorgesehai werden
können. Durch Einsatz eines Filters, z.B. eines Filters mit einem Transmissionsbereich von 1 ,1 ,u bis 3,3,u, wurde
festgestellt, dass Durchlässigkeiten ähnlich denen für monochromatisches Licht erhalten werden können.
Die Bestimmung des Brewster1sehen Winkels für das spezielle
verwendete transparente Material kann auf irgendeine geeignete bekannte Weise erfolgen und braucht hier nicht näher beschrieben
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zu werden. Es wurde jedoch festgestellt, dass wenigstens für typische, beim Intaglio-Drucken verwendete Tinten eine Änderung
des Einfallswinkels zwischen etwa 45° und etwa 62° die Genauigkeit der Ablesung nicht ernstlich beeinflusst.
Daher kann bequemerweise der Einfallswinkel für alle derartigen Tinten bei 55 angenommen werden, was im wesentlichem
gleich dem Brewster' sehen Winkel is^und daher für
alle Tinten das optische System entsprechend eingestellt werden.
Es wurde ferner festgestellt, dass bei gewissen Tinten, die gewöhnlich beim Intaglio-Drucken verwendet werden,
ein spezielles einfaches Verfahren zum Kalibrieren der Vorrichtung bei all diesen Tinten möglich ist. Durch Beschränkung
des Filmdickenbereichs auf beispielsweise 15 bis 35/U kann die optische, den einfallenden Strahl definierende
öffnung oder der elektronische Verstärkungsfaktor des Verstärkers so gewählt werden, dass das Ausgangsspannungssignal
der Vorrichtung direkt für die Filmdicke kennzeichnend ist. Ein Steuerknopf an der Vorrichtung verändert
dann die optische Öffnung oder den elektronischen Verstärkungsfaktor
entsprechend der jeweiligen untersuchten Tinte. Der Dickenbereich wird dann durch einen zweiten separaten
Verstärkungsregler eingestellt.
Bei der praktischen Anwendung der Erfindung auf die Messung der Dicke von Tinte beim Intaglio-Drucken, kann die Vorrichtung
durchaus zum Arbeitseinsatz an einer Tinte mit einer Temperatur von 6o bis 7o° kommen, und es ist wichtig, dass
die Temperaturänderung mit in Betrachtung gezogen wird, da sich die Durchlässigkeit von Filmen durchaus mit der
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Temperatur ändern kann. Entweder kann eine Korrektur am Ausgang der Vorrichtung vorgenommen werden, oder das
Kalibrieren erfolgt bei Betriebstemperatur.
Bei der Anordnung, bei der ein Bezugs- oder Referenzstrahl
erzeugt wird, ist es ebenfalls möglich, dass die gesamte Quellenstrahlung von dem gleichen Teil des Lampenfadens abgeleitet
wird, wenn es sich bei der Quelle beispielsweise um eine Wolframfadenlampe handelt, wobei davon zwei Strahlen
mittels eines optischen Systems mit Teilerspiegel abgeleitet werden. Der Strahl, der als Bezugsstrahl verwendet
werden soll, wird dann auf eine nicht benetzte Oberfläche des Basiselementes für den Film, d.h. auf die Druckwalze
gemäss gegebenem Beispiel gerichtet, wobei die reflektierte Strahlung durch eine erste Fotozelle erfasst und
deren Intensität gemessen wird. Der Strahl, der in den Film hineingelangt und dann vom Basiselement zurück durch
den Film reflektiert wird, wird von einer zweiten Fotozelle empfangen. Die Intensität der Strahlungsquelle kann
in bequemer Weise durch die erste Fotozelle überwacht und durch Anordnung eines Servoverstärkers in der Rückführschleife
zwischen der ersten Fotozelle und der Strahlungsquelle auf einem im wesentlichen konstanten Wert gehalten
werden.
Die verwendete Strahlung ist vorzugsweise eine Infrarot-Strahlung mit breitem Spektrum, da dies Transmissionsbandeffekte
verhindert.
Ferner sind die Fotozellen und die Verstärker so ausgelegt, dass sie mit Gleichstrom gekoppelt werden können,
so dass Änderungen in der Dicke des Films aufgrund der
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Form der Flüssigkeit/Luftgrenzfläche, z.B. aufgrund von
Kräuselung der Tintenoberfläche, gemessen werden können, ohne dass hierzu ein sehr rasches optisches Unterbrechungssystem vorgesehen werden braucht.
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Leerseite
Claims (20)
- Patentansprüche1 . Verfahren zum Messen der Dicke von transparentem Material auf einem Basiselement, dadurch g e k e η η zeichnet, dass elektromagnetische Strahlung auf eine Oberfläche des Materials unter einem Einfallswinkel gerichtet wird, der im wesentlichem gleich dem Brewster1sehen Winkel ist, ein Detektor angeordnet wird, der die aus dem Material nach Hindurchgang durch dieses und Reflexion von der anderen Materialoberfläche austretende Strahlung empfängt, und dass ein Polarisator so angeordnet wird, dass Strahlung, die im wesentlichen unter dem Brewster'sehen Winkel von der einen Oberfläche des Materials reflektiert wird, daran gehindert wird, den Detektor zu erreichen.
- 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch g e k e η η zeichne t, dass ein Teil der auf das Material gerichteten elektromagnetischen Strahlung davon abgelenkt und auf den Detektor auftreffen gelassen wird, wobei dieser Teil als Bezugsstrahl verwendet wird, und dass der Detektor so ausgelegt ist, dass er einen Vergleich zwischen den Intensitäten von dem besagten Teil der Strahlung und der austretenden Strahlung vornimmt, um die Dicke des Materials zu bestimmen.
- 3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet , dass der Bezugsstrahl von einem Teil des Basiselementes vor Erreichen des Detektors weg reflektiert wird, der nicht durch das transparente Material bedeckt ist.709820/0755
- 4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet , dass die elektromagnetische Strahlung von einer Wolframfadenlichtqmelle erhalten wird.
- 5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch geke nnzeichnet, dass es sich, bei der elektromagnetischen Strahlung um eine Infrarot-Strahlung handelt.
- 6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor ein Bleisulfid—Detektor ist.
- 7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch g e k e η η zeichnet , dass der Bleisulfid-Detektor wirkungsmässig mit einem Siliciumfilter gekoppelt wird, um die Bandbreite der erfassten Strahlung zu begrenzen.
- 8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Jtosprüche, dadurch gekennzeichnet , dass die austretende Strahlung vor Erreichen des Detektors periodisch unterbrochen wird, um die Auswirkung von irgendwelchen Variationen in der Intensität der auf das Material einfallenden elektromagnetischen Strahlung auf die Messung zu reduzieren.
- 9. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet , dass die Dicke des Materials weniger als 1oo,u beträgt.
- 10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Dicke des Materials zwischen709820/0755- J* -365100315 und 35 ,u liegt.
- 11. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet , dass das Material eine Drucktinte ist und das Basiselement die Oberfläche von einer Druckwalze ist.
- 12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet , dass es sich bei der Tinte um Intaglio-Drucktinte handelt und der Einfallswinkel 55° beträgt.
- 13. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine Einrichtung (1o) vorgesehen ist, um eine elektromagnetische Strahlung auf eine Oberfläche (4, 12) des Materials unter einem Einfallswinkel zu richten, der im wesentlichen gleich dem Brewster'sehen Winkel ist, dass eine Detektoreinrichtung (11) so angeordnet ist, dass sie die vom Material nach Hindurchgang durch dieses und ; Reflexion von dessen anderen Oberfläche (1) austretende Strahlung aufnimmt, und dass eine Einrichtung (8, 16) so angeordnet ist, dass die von der einen Oberfläche (4) des Materials reflektierte Strahlung daran gehindert wird, zur Detektoreinrichtung (11) zu gelangen, wobei die Detektoreinrichtung (11) einen elektrischen Schalkreis (Fig. 3) enthält, der ein Ausgangssignal entsprechend seinem optischen Eingangssignal schafft, das von der Dicke des Materials abhängt.
- 14. Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass ein Teil der elektromagnetischen, auf die eine Oberfläche (4) des Materials gerichteten Strahlung davon abgelenkt und so ausgelegt ist, dass der Teil auf dem Detektor (11) auftrifft und als Bezugsstrahl dient, und709820/075Sdass der Detektor (11) eine Einrichtung aufweist, um die Intensitäten von austretendem (7) und Bezugsstrahl zu vergleichen, so dass das Ausgangssignal geschaffen wird.
- 15. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet , dass eine Einrichtung (17) so angeordnet ist, dass sie einen der Strahlen unterbricht, so dass der Detektor (11) die Strahlen in zeitmässig beabstandeten Intervallen empfängt.
- 16. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 13 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (1o) für die elektromagnetische Strahlung Infrarot-Strahlung aussendet.
- 17. Vorrichtung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor (11) ein Bleisulfid-Detektor ist.
- 18. Vorrichtung nach Anspruch 17, dadurch g e k e η η zeichnet , dass der Bleisulfid-Detektor (11) arbeitsmässig mit einem Siliciumfilter verbunden ist, um die Bandbreite an erfasster Strahlung zu begrenzen.
- 19. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 14 bis 18, dadurch gekennzeichnet , dass die Quelle (1o) für die elektromagnetische Strahlung eine Wolframfadenlampe ist.
- 20. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 14 bis 2o, dadurch gekennzeichnet , dass diese weiter eine Metalldruckwalze (13) umfasst, auf der das transparente Material in Form von Drucktinte aufgegeben wird.709820/0 7 55
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1976
- 1976-11-05 NL NL7612285A patent/NL7612285A/xx not_active Application Discontinuation
- 1976-11-08 DE DE19762651003 patent/DE2651003A1/de not_active Ceased
Non-Patent Citations (1)
Title |
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Applied Physics Letters, Vol. 11, Nr. 8, 1967, S. 257-259 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0768178A1 (de) * | 1995-10-11 | 1997-04-16 | MAN Roland Druckmaschinen AG | Verfahren zum Feststellen von Schichten auf metallischen Oberflächen in Druckmaschinen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL7612285A (nl) | 1977-05-10 |
GB1566398A (en) | 1980-04-30 |
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