DE2631509A1 - PROCEDURE FOR THE INDEPENDENT CHECK OF COUNTERS - Google Patents
PROCEDURE FOR THE INDEPENDENT CHECK OF COUNTERSInfo
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Description
263Ί509263Ί509
HELIOWATT WEKKE Berlin 12, den 24. Juni 1976HELIOWATT WEKKE Berlin 12, June 24, 1976
Elefctrizitäts-Gesellschaft mbH Wilmersdorf er Str. 39Elefctrizitäts-Gesellschaft mbH Wilmersdorf er Str. 39
2>- E 45 Go/sz - 0576.18 2> - E 4 5 Go / sz - 0576.18
Verfahren zur selbsttätigen überprüfung von ZählernSelf-checking procedure of counters
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur selbsttätigen überprüfung von Zählern, die der Messung verbrauchter elektronischer oder "anderer Energie dienen und die einen Mikrocomputer sowie eine Anzeigeeinrichtung enthalten und/oder in solchen Zählern enthaltene Zusatz einrichtungen, z. B. Maximuniwerke, mit einen microcomputer» einer Anzeigeeinrichtung und einem nichtflüchtigen Speicher. Der nichtflüchtige Speieher dient der Aufnahme aller Daten, die bei einem Hetzausfall nicht verloren gehen dürfen·The invention relates to a method for automatic Verification of meters that measure used electronic or "serve other energy and which contain and / or in a microcomputer and a display device such counters included additional facilities such. B. Maximuniwerke, with a microcomputer »a display device and a non-volatile memory. The non-volatile spear is used for recording all data that must not be lost in the event of a hate speech failure
Die Versorgungsunternehmen erwarten von solchen Energiezählern eine zuverlässige Funktion über mehrere Jahrzehnte. Für derart lange Zeitspannen liegen bei der Anwendung moderner !Technologien, z. B. der ilOS-Iechnik, in der heute übliche Großschaltkreise vorwiegend ausgeführt sind, z· Zt„ noch keine Zuverlässigkeitswerte vor. Aufgrund des konrplizierten Aufbaus ist die Zahl der möglichen Ausfallursachen große, wobei manche Fehler nur seitweise und/oder ' abhängig von bestimmten Temperaturbereiehea auftreten.The utility companies expect such energy meters a reliable function over several decades. For such long periods of time, the application of modern! Technologies, z. B. IOS technology, in which large circuits customary today are predominantly implemented, currently have no reliability values before. Due to the complex structure, the number of possible Causes of failure are large, with some errors only lateral and / or ' depending on certain temperature ranges.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabenstellung zugrunde, eine Prüfmöglichkeit zur rechtzeitigen Erkennung defekter elektronischer Einrichtungen in solchen Zählern zu schaffen. Wirdein nichtflüchtiger Speicher verwendet und liegt der Fehler nicht in diesem Speicher, so ist es vorteilhaft, wenn die dort enthaltenen Daten bewahrt bleiben, um sie trotz eines Gerätefehlers auswerten zu können.The invention is therefore based on the object of a To create a test facility for the timely detection of defective electronic equipment in such meters. If a non-volatile memory is used and the fault is not in this Memory, so it is advantageous if the data contained there remain preserved in order to evaluate them despite a device failure can.
Diese Aufgabe ist durch die in den Kennzeichnuagsteilea der Patentansprüche dargestellte Erfindung gelöst*This object is defined by what is stated in the characterizing parts of the claims represented invention solved *
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Die Energiezähler bzw« Teile dieser Zähler werden von einen Mikrocomputer gesteuert, dessen Programm in einem Pestwertspeicher enthalten ist. Der Festwertspeicher nimmt erfindungsgenäß ein Prüf programm auf, das entweder mit dem normalen Programa integriert oder auch zusätzlich gespeichert ist. Durch dieses Prüfprogramm werden in ausreichenden Abständen der Mikrocomputer selbst sowie sämtliche erfaßbaren Einrichtungen des Gerätes überprüft. Dabei ist die Auslösung des Prüfprogramms vorzugsweise durch eine meist ohnehin vorhandene Zeitbasis, die z. B. bei Haxinrumzählern der Festlegung der Meßperiodendauer dient, zu steuerne Ist keine Zeitbasis vorhanden, so steht solchen Zählern meist eine Metzfrequenz zur Verfügung, aus der sich eine Zeitbasis ableiten läßt oder es wird, falls kein Hetzanschluß vorhanden ist, wie z* B. bei Warmezählern, ein eingebauter freischwingender Oszillator verwendet.The energy meters or parts of these meters are controlled by a microcomputer, the program of which is contained in a value memory. According to the invention, the read-only memory takes on a test program that is either integrated with the normal program or also stored in addition. This test program checks the microcomputer itself and all detectable devices of the device at sufficient intervals. The test program is preferably triggered by a time base that is usually present anyway. As the measuring period used in Haxinrumzählern the determination to control e If no time base is present, such meters is usually a Metz frequency is available, can be derived from the one-time basis or, if no Hetzanschluß exists such * B. in heat meters, a built-in free-running oscillator is used.
Wird durch das Prüfprogramm ein Fehler festgestellt, so ist zunächst eine optische oder sonstwie geeignete Störungsanzeige ein- , zuschalten. Diese Störungsanzeige ist entweder dauernd eingeschaltet oder sie wird erst bei einer Abfrage oder Ablesung sichtbar. Je nach Art des Fehlers und Struktur des Prüfprogramms ist über das weitere Torgehen zu entscheiden! bei kleineren Fehlern kann das Gerät in einzelnen Seilen einwandfrei weiterfunktionieren; bei schwerwiegenden Fehlern stellt der Computer zweckmäßig die weitere Datenverarbeitung ein·If the test program detects an error, first of all switch on an optical or any other suitable fault indicator. This fault display is either switched on permanently or it only becomes visible when it is queried or read. Depending on the type of error and the structure of the test program to decide on the further goal! with minor errors the device can continue to function properly in individual ropes; in the event of serious errors, the computer expediently provides the further data processing a
Zur Kontrolle eines evtl. vorhandenen niehtflüchtigen Halbleiterspeichers, z. B. eines METOS-Speichers, sind besondere Haßnahmen zu ergreifen, die der Eigenart dieser Speicher Hechnung tragen. Solche Speicher erlauben nur eine "begrenzt© Zahl von Schreibzyklen und benötigen vor federn relativ lange dauernden Schreibvorgang eine LSschop'eration, die beispielsweise eine Sekunde dauert. Die gespeicherte Information eines solchen niehtflüchtigen Halbleiterspeicher muß in ausreichenden Abständen imaer wieder aufgefrischt' werden. Die Verwendung bekannter für Speicher üblich© Prüfverfahren ist der genannten Eigenschaften wegen nicht möglich bzw· nicht zweckmäßig.To check a possibly existing non-volatile semiconductor memory, e.g. B. a METOS memory, are special hatreds to seize the hechnung of the peculiarity of this memory. Such memories only allow a "limited" number of write cycles and need a relatively long writing process before feathers an LSschop'eration that lasts, for example, one second. the The information stored in such a non-volatile semiconductor memory must always be refreshed at sufficient intervals. will. The use of well-known test methods customary for memory © is not possible or not possible because of the properties mentioned expedient.
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Erfindungsgemäß wird daher vorgeschlagen, daß der Computer jedesmal, wenn er einen Wert in den nichtflüchtigen Speicher eingeschrieben hat, diesen zur Kontrolle wieder ausliect und mit dea eingeschriebenen Wert vergleicht. Ein großer Teil des Speicherinhalts wird Jedoch nur sehr selten bzw. überhaupt nur bei einer Wiederauffrischung neu eingeschrieben. Ein Fehler, der mittlerweile in einem solchen, selten benutzten Teil des Speichers aufgetreten ist, würde also erst beim nächsten Wiederauffrischungszyklus erkannt. Dieser Mangel ist grundsätzlich nicht behebbar, ohne die nutzbare Lebensdauer dieses Speichers zu verkürzen. Die Zahl der zusätzlichen Leseoperationen liegt Jedoch um einige Größenordnungen hoher, so daß es grundsätzlich, solange die lietzversorgung vorhanden ist, möglich ist alle im nichtflüchtigen Speicher aufbewahrten Daten auch im Arbeitsspeicher des Computers zu führen; damit ist in kürzeren Abständen die Übereinstimmung der beiden Speicherinhalte überprüfbar·According to the invention it is therefore proposed that the computer each time if he has written a value into the non-volatile memory, read it out again for control and press dea compares the registered value. A large part of the memory contents However, it is only very rarely re-enrolled or at all only when it is refreshed. An error that has now occurred in such a rarely used part of the memory would not be until the next refresh cycle recognized. In principle, this deficiency cannot be remedied without reducing the useful life of this memory. the However, the number of additional read operations is several orders of magnitude higher, so that it is basically as long as the lietzversorgung is available, all data stored in the non-volatile memory is also possible in the main memory of the computer respectively; This means that the correspondence of the two memory contents can be checked at shorter intervals.
Hauptaufgabe dea nichtflüchtigen Speichers ist es, bei Ausfall der Netzspannung alle Daten zu retten, die nach Setzwiederkehr benötigt werden. Hierzu wird im Hbrmalfall bei erkanntem Netzausfall eine Schreiboperatiozi durchgeführt· Im Stromversorgungsteil des Zählers muß genügend Energie gespeichert sein, um dem Computer zu ermöglichen, nach Einschreiben die Daten noch einmal auszulesen und auf ihre Richtigkeit zu kontrollieren, um bei einem erkannten Pehler noch die Störraeldung auslösen zu können, bevor die Speisespannung der Elektronik zusammenbricht«. Die Stör— meldung kann ihrer ITatur nach nur in einem nichtflüchtigen Speicherelement festgehalten werdeno Si© wird deshalb im allgemeinen durch Einschreiben in dea nichtflüchtigen Speicher registriert. Für den Fall, daß &i® Stösmeldung auch b©I ©ines Defekt dieses Speiehers erhalten bleiben soll, ist ©in susat2lich.es Speicherelement«, Ze B* ©ia bistabiles ReImIB9 ^o^gusehea,»The main task of the non-volatile memory is to save all the data that is required after the return of the mains voltage in the event of a mains voltage failure. For this purpose, a write operation is carried out in the event of a detected power failure. Sufficient energy must be stored in the power supply section of the meter to enable the computer to read out the data again after writing and to check that it is correct, in order to trigger the error message if a fault is detected to be able to before the supply voltage of the electronics breaks down «. The fault message may their ITatur after only held in a non-volatile storage element are o © Si is therefore registered by writing to dea non-volatile memory in general. In the event that the & i® trip message should also be retained in the event of a defect in this storage device, © is in susat2lich.es storage element «, Ze B * © ia bistable ReImIB 9 ^ o ^ gusehea,»
709882/0583709882/0583
Für die Speicherprüfung allgemein sind soge "walking bit patterns" gebräuchlich. Hierbei werden alle Plata© eines Speichers von einem Prüfbi traust er in zyklischer Folge belegt. Dieses Verfahren ist auch bei der Y/iederauffrischung des nichtflüchtigen Speichers anwendbar, so daß nach einigen V/iederauffrischungssyklen jeder gespeicherte Wert einmal jeden vorhandenen Speicherplatz belegt hat. Dieses Verfahren ist besonders zweckmäßig, wenn z. B. einer der gespeicherten Zahlenwerte hauptsächlich Kontrollzwecken dient. Bei einem elektronischen Maximumzähler werden z. B. die von dem Kilowattstundenzähler angelieferten verbrauehsproportionalen Impulse vom Mikrocomputer summiert und. auf der vorhandenen Anzeigeeinrichtung in Form einer Kilowattstundenanseige dargestellt. Hat der Kilowattstundenzahler eine eigene KHowattstundenanzeige, so gibt der Vergleich "beider Zählerstand© Aufschluß über die richtige Funktion des Maximumwerks« Bei Fetzausfall wird der aktuelle Stand des elektronischen Kilowattstundensählwerks in den nicht flüchtigen Speicher eingeschriebene Sritt ein Defekt an auch nur einem Speicherplatz auf „ so wird er- sieh "bei zyklischer Belegung der Speicherplätze nach einiger· Zeit darin äuSera5 daß die beiden KLlotrattstundenanzeigexi nicht mehs· For the memory test commonly known as e "walking bit patterns" are common. Here, all Plata © of a memory are occupied by a test log in a cyclical sequence. This method can also be used when the non-volatile memory is refreshed, so that after a few refresh cycles each stored value has once occupied every available memory location. This method is particularly useful when, for. B. one of the stored numerical values is mainly used for control purposes. In an electronic maximum counter z. B. the consumption-proportional pulses supplied by the kilowatt-hour meter from the microcomputer and summed up. shown on the existing display device in the form of a kilowatt hour display. If the kilowatt hour meter has its own KHowatt hour display, the comparison of "both meter readings" provides information about the correct function of the maximum mechanism ER look "at cyclic assignment of memory locations after some time · in äuSera 5 that the two KLlotrattstundenanzeigexi not Mehs ·
709882/0583 " 5 "709882/0583 " 5 "
Claims (1)
Anzeigeeinrichtung angezeigt wird.5) arrangement for the method according to claim 1 to 4-, characterized in that a detected error on the existing
Display device is displayed.
Ziffern der vorhandenen Anzeigeeinrichtung angezeigt wird«6) Arrangement for the method according to claim 1 to 5 »characterized in that a fixed error by flashing all
Digits of the existing display device is displayed «
Anzeigeeinrichtung in Form einer Meldung aus alphanumerischen Zeichen angezeigt wird.7) arrangement for the method according to claim 1 "to 6, characterized in that a detected error on-the existing
Display device is displayed in the form of a message of alphanumeric characters.
Anzeige von Werten auf .der vorhandenen Anseigeeinrichtung unterbunden wird.8) Arrangement for the method according to claim 1 to 71, characterized in that after detecting an error, the further
Display of values on the existing display device is prevented.
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