DE2631509A1 - PROCEDURE FOR THE INDEPENDENT CHECK OF COUNTERS - Google Patents

PROCEDURE FOR THE INDEPENDENT CHECK OF COUNTERS

Info

Publication number
DE2631509A1
DE2631509A1 DE19762631509 DE2631509A DE2631509A1 DE 2631509 A1 DE2631509 A1 DE 2631509A1 DE 19762631509 DE19762631509 DE 19762631509 DE 2631509 A DE2631509 A DE 2631509A DE 2631509 A1 DE2631509 A1 DE 2631509A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
arrangement
error
volatile memory
display device
microcomputer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE19762631509
Other languages
German (de)
Other versions
DE2631509B2 (en
Inventor
Artur Dr Ing Seibt
Omer Viaene
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Heliowatt Werke Elektrizitaet GmbH
Original Assignee
Heliowatt Werke Elektrizitaet GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Heliowatt Werke Elektrizitaet GmbH filed Critical Heliowatt Werke Elektrizitaet GmbH
Priority to DE19762631509 priority Critical patent/DE2631509B2/en
Priority to NL7704418A priority patent/NL7704418A/en
Priority to DK208277A priority patent/DK208277A/en
Priority to BE178583A priority patent/BE855873A/en
Priority to IT2538977A priority patent/IT1080626B/en
Priority to FR7721010A priority patent/FR2357909A1/en
Priority to GB2862677A priority patent/GB1542814A/en
Priority to IE141977A priority patent/IE45355B1/en
Priority to LU77710A priority patent/LU77710A1/xx
Publication of DE2631509A1 publication Critical patent/DE2631509A1/en
Publication of DE2631509B2 publication Critical patent/DE2631509B2/en
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/0703Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
    • G06F11/0751Error or fault detection not based on redundancy
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/30Marginal testing, e.g. by varying supply voltage
    • G01R31/3004Current or voltage test
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318522Test of Sequential circuits
    • G01R31/318527Test of counters
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/14Error detection or correction of the data by redundancy in operation
    • G06F11/1402Saving, restoring, recovering or retrying
    • G06F11/1415Saving, restoring, recovering or retrying at system level
    • G06F11/142Reconfiguring to eliminate the error
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30Monitoring
    • G06F11/32Monitoring with visual or acoustical indication of the functioning of the machine
    • G06F11/324Display of status information
    • G06F11/325Display of status information by lamps or LED's
    • G06F11/326Display of status information by lamps or LED's for error or online/offline status
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K21/00Details of pulse counters or frequency dividers
    • H03K21/40Monitoring; Error detection; Preventing or correcting improper counter operation
    • H03K21/403Arrangements for storing the counting state in case of power supply interruption

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Safety Devices In Control Systems (AREA)
  • Measurement Of Distances Traversed On The Ground (AREA)

Description

263Ί509263Ί509

HELIOWATT WEKKE Berlin 12, den 24. Juni 1976HELIOWATT WEKKE Berlin 12, June 24, 1976

Elefctrizitäts-Gesellschaft mbH Wilmersdorf er Str. 39Elefctrizitäts-Gesellschaft mbH Wilmersdorf er Str. 39

2>- E 45 Go/sz - 0576.18 2> - E 4 5 Go / sz - 0576.18

Verfahren zur selbsttätigen überprüfung von ZählernSelf-checking procedure of counters

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur selbsttätigen überprüfung von Zählern, die der Messung verbrauchter elektronischer oder "anderer Energie dienen und die einen Mikrocomputer sowie eine Anzeigeeinrichtung enthalten und/oder in solchen Zählern enthaltene Zusatz einrichtungen, z. B. Maximuniwerke, mit einen microcomputer» einer Anzeigeeinrichtung und einem nichtflüchtigen Speicher. Der nichtflüchtige Speieher dient der Aufnahme aller Daten, die bei einem Hetzausfall nicht verloren gehen dürfen·The invention relates to a method for automatic Verification of meters that measure used electronic or "serve other energy and which contain and / or in a microcomputer and a display device such counters included additional facilities such. B. Maximuniwerke, with a microcomputer »a display device and a non-volatile memory. The non-volatile spear is used for recording all data that must not be lost in the event of a hate speech failure

Die Versorgungsunternehmen erwarten von solchen Energiezählern eine zuverlässige Funktion über mehrere Jahrzehnte. Für derart lange Zeitspannen liegen bei der Anwendung moderner !Technologien, z. B. der ilOS-Iechnik, in der heute übliche Großschaltkreise vorwiegend ausgeführt sind, z· Zt„ noch keine Zuverlässigkeitswerte vor. Aufgrund des konrplizierten Aufbaus ist die Zahl der möglichen Ausfallursachen große, wobei manche Fehler nur seitweise und/oder ' abhängig von bestimmten Temperaturbereiehea auftreten.The utility companies expect such energy meters a reliable function over several decades. For such long periods of time, the application of modern! Technologies, z. B. IOS technology, in which large circuits customary today are predominantly implemented, currently have no reliability values before. Due to the complex structure, the number of possible Causes of failure are large, with some errors only lateral and / or ' depending on certain temperature ranges.

Der Erfindung liegt daher die Aufgabenstellung zugrunde, eine Prüfmöglichkeit zur rechtzeitigen Erkennung defekter elektronischer Einrichtungen in solchen Zählern zu schaffen. Wirdein nichtflüchtiger Speicher verwendet und liegt der Fehler nicht in diesem Speicher, so ist es vorteilhaft, wenn die dort enthaltenen Daten bewahrt bleiben, um sie trotz eines Gerätefehlers auswerten zu können.The invention is therefore based on the object of a To create a test facility for the timely detection of defective electronic equipment in such meters. If a non-volatile memory is used and the fault is not in this Memory, so it is advantageous if the data contained there remain preserved in order to evaluate them despite a device failure can.

Diese Aufgabe ist durch die in den Kennzeichnuagsteilea der Patentansprüche dargestellte Erfindung gelöst*This object is defined by what is stated in the characterizing parts of the claims represented invention solved *

70 9 88 2/0583 :70 9 88 2/0583:

■■"■■■■"■ ; - - 2 - ■■■ "■■■■" ■ ; - - 2 - ■

Die Energiezähler bzw« Teile dieser Zähler werden von einen Mikrocomputer gesteuert, dessen Programm in einem Pestwertspeicher enthalten ist. Der Festwertspeicher nimmt erfindungsgenäß ein Prüf programm auf, das entweder mit dem normalen Programa integriert oder auch zusätzlich gespeichert ist. Durch dieses Prüfprogramm werden in ausreichenden Abständen der Mikrocomputer selbst sowie sämtliche erfaßbaren Einrichtungen des Gerätes überprüft. Dabei ist die Auslösung des Prüfprogramms vorzugsweise durch eine meist ohnehin vorhandene Zeitbasis, die z. B. bei Haxinrumzählern der Festlegung der Meßperiodendauer dient, zu steuerne Ist keine Zeitbasis vorhanden, so steht solchen Zählern meist eine Metzfrequenz zur Verfügung, aus der sich eine Zeitbasis ableiten läßt oder es wird, falls kein Hetzanschluß vorhanden ist, wie z* B. bei Warmezählern, ein eingebauter freischwingender Oszillator verwendet.The energy meters or parts of these meters are controlled by a microcomputer, the program of which is contained in a value memory. According to the invention, the read-only memory takes on a test program that is either integrated with the normal program or also stored in addition. This test program checks the microcomputer itself and all detectable devices of the device at sufficient intervals. The test program is preferably triggered by a time base that is usually present anyway. As the measuring period used in Haxinrumzählern the determination to control e If no time base is present, such meters is usually a Metz frequency is available, can be derived from the one-time basis or, if no Hetzanschluß exists such * B. in heat meters, a built-in free-running oscillator is used.

Wird durch das Prüfprogramm ein Fehler festgestellt, so ist zunächst eine optische oder sonstwie geeignete Störungsanzeige ein- , zuschalten. Diese Störungsanzeige ist entweder dauernd eingeschaltet oder sie wird erst bei einer Abfrage oder Ablesung sichtbar. Je nach Art des Fehlers und Struktur des Prüfprogramms ist über das weitere Torgehen zu entscheiden! bei kleineren Fehlern kann das Gerät in einzelnen Seilen einwandfrei weiterfunktionieren; bei schwerwiegenden Fehlern stellt der Computer zweckmäßig die weitere Datenverarbeitung ein·If the test program detects an error, first of all switch on an optical or any other suitable fault indicator. This fault display is either switched on permanently or it only becomes visible when it is queried or read. Depending on the type of error and the structure of the test program to decide on the further goal! with minor errors the device can continue to function properly in individual ropes; in the event of serious errors, the computer expediently provides the further data processing a

Zur Kontrolle eines evtl. vorhandenen niehtflüchtigen Halbleiterspeichers, z. B. eines METOS-Speichers, sind besondere Haßnahmen zu ergreifen, die der Eigenart dieser Speicher Hechnung tragen. Solche Speicher erlauben nur eine "begrenzt© Zahl von Schreibzyklen und benötigen vor federn relativ lange dauernden Schreibvorgang eine LSschop'eration, die beispielsweise eine Sekunde dauert. Die gespeicherte Information eines solchen niehtflüchtigen Halbleiterspeicher muß in ausreichenden Abständen imaer wieder aufgefrischt' werden. Die Verwendung bekannter für Speicher üblich© Prüfverfahren ist der genannten Eigenschaften wegen nicht möglich bzw· nicht zweckmäßig.To check a possibly existing non-volatile semiconductor memory, e.g. B. a METOS memory, are special hatreds to seize the hechnung of the peculiarity of this memory. Such memories only allow a "limited" number of write cycles and need a relatively long writing process before feathers an LSschop'eration that lasts, for example, one second. the The information stored in such a non-volatile semiconductor memory must always be refreshed at sufficient intervals. will. The use of well-known test methods customary for memory © is not possible or not possible because of the properties mentioned expedient.

709882/0583709882/0583

5 -5 -

Erfindungsgemäß wird daher vorgeschlagen, daß der Computer jedesmal, wenn er einen Wert in den nichtflüchtigen Speicher eingeschrieben hat, diesen zur Kontrolle wieder ausliect und mit dea eingeschriebenen Wert vergleicht. Ein großer Teil des Speicherinhalts wird Jedoch nur sehr selten bzw. überhaupt nur bei einer Wiederauffrischung neu eingeschrieben. Ein Fehler, der mittlerweile in einem solchen, selten benutzten Teil des Speichers aufgetreten ist, würde also erst beim nächsten Wiederauffrischungszyklus erkannt. Dieser Mangel ist grundsätzlich nicht behebbar, ohne die nutzbare Lebensdauer dieses Speichers zu verkürzen. Die Zahl der zusätzlichen Leseoperationen liegt Jedoch um einige Größenordnungen hoher, so daß es grundsätzlich, solange die lietzversorgung vorhanden ist, möglich ist alle im nichtflüchtigen Speicher aufbewahrten Daten auch im Arbeitsspeicher des Computers zu führen; damit ist in kürzeren Abständen die Übereinstimmung der beiden Speicherinhalte überprüfbar·According to the invention it is therefore proposed that the computer each time if he has written a value into the non-volatile memory, read it out again for control and press dea compares the registered value. A large part of the memory contents However, it is only very rarely re-enrolled or at all only when it is refreshed. An error that has now occurred in such a rarely used part of the memory would not be until the next refresh cycle recognized. In principle, this deficiency cannot be remedied without reducing the useful life of this memory. the However, the number of additional read operations is several orders of magnitude higher, so that it is basically as long as the lietzversorgung is available, all data stored in the non-volatile memory is also possible in the main memory of the computer respectively; This means that the correspondence of the two memory contents can be checked at shorter intervals.

Hauptaufgabe dea nichtflüchtigen Speichers ist es, bei Ausfall der Netzspannung alle Daten zu retten, die nach Setzwiederkehr benötigt werden. Hierzu wird im Hbrmalfall bei erkanntem Netzausfall eine Schreiboperatiozi durchgeführt· Im Stromversorgungsteil des Zählers muß genügend Energie gespeichert sein, um dem Computer zu ermöglichen, nach Einschreiben die Daten noch einmal auszulesen und auf ihre Richtigkeit zu kontrollieren, um bei einem erkannten Pehler noch die Störraeldung auslösen zu können, bevor die Speisespannung der Elektronik zusammenbricht«. Die Stör— meldung kann ihrer ITatur nach nur in einem nichtflüchtigen Speicherelement festgehalten werdeno Si© wird deshalb im allgemeinen durch Einschreiben in dea nichtflüchtigen Speicher registriert. Für den Fall, daß &i® Stösmeldung auch b©I ©ines Defekt dieses Speiehers erhalten bleiben soll, ist ©in susat2lich.es Speicherelement«, Ze B* ©ia bistabiles ReImIB9 ^o^gusehea,»The main task of the non-volatile memory is to save all the data that is required after the return of the mains voltage in the event of a mains voltage failure. For this purpose, a write operation is carried out in the event of a detected power failure. Sufficient energy must be stored in the power supply section of the meter to enable the computer to read out the data again after writing and to check that it is correct, in order to trigger the error message if a fault is detected to be able to before the supply voltage of the electronics breaks down «. The fault message may their ITatur after only held in a non-volatile storage element are o © Si is therefore registered by writing to dea non-volatile memory in general. In the event that the & i® trip message should also be retained in the event of a defect in this storage device, © is in susat2lich.es storage element «, Ze B * © ia bistable ReImIB 9 ^ o ^ gusehea,»

709882/0583709882/0583

Für die Speicherprüfung allgemein sind soge "walking bit patterns" gebräuchlich. Hierbei werden alle Plata© eines Speichers von einem Prüfbi traust er in zyklischer Folge belegt. Dieses Verfahren ist auch bei der Y/iederauffrischung des nichtflüchtigen Speichers anwendbar, so daß nach einigen V/iederauffrischungssyklen jeder gespeicherte Wert einmal jeden vorhandenen Speicherplatz belegt hat. Dieses Verfahren ist besonders zweckmäßig, wenn z. B. einer der gespeicherten Zahlenwerte hauptsächlich Kontrollzwecken dient. Bei einem elektronischen Maximumzähler werden z. B. die von dem Kilowattstundenzähler angelieferten verbrauehsproportionalen Impulse vom Mikrocomputer summiert und. auf der vorhandenen Anzeigeeinrichtung in Form einer Kilowattstundenanseige dargestellt. Hat der Kilowattstundenzahler eine eigene KHowattstundenanzeige, so gibt der Vergleich "beider Zählerstand© Aufschluß über die richtige Funktion des Maximumwerks« Bei Fetzausfall wird der aktuelle Stand des elektronischen Kilowattstundensählwerks in den nicht flüchtigen Speicher eingeschriebene Sritt ein Defekt an auch nur einem Speicherplatz auf „ so wird er- sieh "bei zyklischer Belegung der Speicherplätze nach einiger· Zeit darin äuSera5 daß die beiden KLlotrattstundenanzeigexi nicht mehs· For the memory test commonly known as e "walking bit patterns" are common. Here, all Plata © of a memory are occupied by a test log in a cyclical sequence. This method can also be used when the non-volatile memory is refreshed, so that after a few refresh cycles each stored value has once occupied every available memory location. This method is particularly useful when, for. B. one of the stored numerical values is mainly used for control purposes. In an electronic maximum counter z. B. the consumption-proportional pulses supplied by the kilowatt-hour meter from the microcomputer and summed up. shown on the existing display device in the form of a kilowatt hour display. If the kilowatt hour meter has its own KHowatt hour display, the comparison of "both meter readings" provides information about the correct function of the maximum mechanism ER look "at cyclic assignment of memory locations after some time · in äuSera 5 that the two KLlotrattstundenanzeigexi not Mehs ·

709882/0583 " 5 "709882/0583 " 5 "

Claims (1)

Patentansprüche;:... Claims;:. .. 1) Verfahren zur selbsttätigen überprüfung von Zählern, die der Messung verbrauchter elektrischer oder anderer Energie dienen und die einen Mikrocomputer und eine Anzeigeeinrichtung enthalten und/oder in solchen Zählern enthaltene Zusatzeinrichtungen mit einem Mikrocomputer, einer Anzeigeeinrichtung und einem nichtflüchtigen Speicher, dadurch gekennzeichnet, daß der Pestwertspeicher des Mikrocomputers ein Prüfprogramm enthält, durch das in ausreichenden, selbsttätig oder durch äußere Befehle gesteuerten Abständen der Mikrocomputer und/oder sämtliche erfaßbaren Einrichtungen des elektronischen Zählers überprüft werden, bei Erkennen eines Fehlers dieser gemeldet und die weitere Datenverarbeitung und -registrierung blockiert wird, daß die bis zum Eintreten bzw. Erkennen eines Fehlers errechneten Zahlenwerte vor dem endgültigen Blockieren des Zählers in dan nichtflüchtigen Speicher eingeschrieben werden und daß zum Prüfen des nichtflüchtigen Speichers der Computer nach jedem Schreibvorgang einen Lesevorgang auslöst, die beiden Werte vergleicht und ^eder Speicherplatz einmal in wiederkehrendem !Turnus von einem Zeichen belegt wird·1) Procedure for the automatic checking of meters that are the Serve measurement of consumed electrical or other energy and contain a microcomputer and a display device and / or additional devices contained in such counters with a microcomputer, a display device and a non-volatile memory, characterized in that the microcomputer's pest value memory contains a test program, by the microcomputers and / or the intervals controlled automatically or by external commands in sufficient intervals all detectable devices of the electronic meter are checked, when an error is detected this is reported and further data processing and registration is blocked until an error occurs or an error is detected The calculated numerical values are written into the non-volatile memory before the counter is finally blocked and that to check the non-volatile memory the computer triggers a read process after each write process, compares the two values and each memory location once in a recurring ! Cycle is occupied by a character 2) Anordnung zum Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Stromversorgung des elektronischen Teiles des Energiezahlers ausreichend gepuffert ist, um eine sichere Übernahme der Daten in den nichtflüchtigen Speicher bei Ausfall der äußeren Stromversorgung zu gewährleisten.2) arrangement for the method according to claim 1, characterized in that that the power supply of the electronic part of the energy meter is sufficiently buffered to ensure a safe Transfer of the data to the non-volatile memory in the event of failure to ensure the external power supply. 3) Anordnung zum Verfahren nach· Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein festgestellter' Fehler das sofortige Einschreiben der zu rettenden Daten, ia den nichtflüchtigen Speicher einleitet«3) Arrangement for the method according to claim 1 and 2, characterized in that that a detected error requires the immediate writing of the data to be saved, generally the non-volatile memory initiates " 709882/0583709882/0583 ORIGINAL INSPECTEDORIGINAL INSPECTED 4) Anordnung zum Verfahren nach Anspruch 1 bis 3, dadurch, gekennzeichnet, da3 ein festgestellter Fehler optisch angezeigt wird·4) arrangement for the method according to claim 1 to 3, characterized in that that a detected error is displayed optically 5) Anordnung zum Verfahren nach Anspruch 1 bis 4-, dadurch gekennzeichnet, daß ein festgestellter Fehler auf der vorhandenen
Anzeigeeinrichtung angezeigt wird.
5) arrangement for the method according to claim 1 to 4-, characterized in that a detected error on the existing
Display device is displayed.
6) Anordnung zum Verfahren nach Anspruch 1 bis 5» dadurch gekennzeichnet, daß ein festgestallter Fehler durch Blinken aller
Ziffern der vorhandenen Anzeigeeinrichtung angezeigt wird«
6) Arrangement for the method according to claim 1 to 5 »characterized in that a fixed error by flashing all
Digits of the existing display device is displayed «
7) Anordnung zum Verfahren nach Anspruch 1 "bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß ein festgestellter Fehler auf-der vorhandenen
Anzeigeeinrichtung in Form einer Meldung aus alphanumerischen Zeichen angezeigt wird.
7) arrangement for the method according to claim 1 "to 6, characterized in that a detected error on-the existing
Display device is displayed in the form of a message of alphanumeric characters.
8) Anordnung zum Verfahren nach Anspruch 1 bis 71 dadurch gekennzeichnet, daß nach Feststellen eines Fehlers die weitere
Anzeige von Werten auf .der vorhandenen Anseigeeinrichtung unterbunden wird.
8) Arrangement for the method according to claim 1 to 71, characterized in that after detecting an error, the further
Display of values on the existing display device is prevented.
9) Anordnung zum Verfahren nach Anspruch 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß zum £rüfen des nichtflüchtigen Speichers in diesen durch den Mikrocomputer Prüfworte eingeschrieben, anschließend ausgelesen und mit dem Sollwert verglichen werden.9) arrangement for the method according to claim 1 to 8, characterized in that that to check the non-volatile memory in these Test words are written in by the microcomputer, then read out and compared with the nominal value. 70 9.8 82/058370 9.8 82/0583
DE19762631509 1976-07-09 1976-07-09 Procedure for the automatic checking of meters Ceased DE2631509B2 (en)

Priority Applications (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19762631509 DE2631509B2 (en) 1976-07-09 1976-07-09 Procedure for the automatic checking of meters
NL7704418A NL7704418A (en) 1976-07-09 1977-04-22 PROCEDURE FOR AUTOMATICALLY CHECKING OF COUNTERS.
DK208277A DK208277A (en) 1976-07-09 1977-05-12 PROCEDURE FOR AUTOMATIC TESTING OF COUNTERS
BE178583A BE855873A (en) 1976-07-09 1977-06-20 AUTOMATIC METER VERIFICATION PROCESS
IT2538977A IT1080626B (en) 1976-07-09 1977-07-05 DEVICE FOR AUTOMATIC CONTROL OF METERS
FR7721010A FR2357909A1 (en) 1976-07-09 1977-07-07 AUTOMATIC COUNTER CONTROL PROCESS
GB2862677A GB1542814A (en) 1976-07-09 1977-07-07 Energy meters
IE141977A IE45355B1 (en) 1976-07-09 1977-07-08 Energy meters
LU77710A LU77710A1 (en) 1976-07-09 1977-07-08

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19762631509 DE2631509B2 (en) 1976-07-09 1976-07-09 Procedure for the automatic checking of meters

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2631509A1 true DE2631509A1 (en) 1978-01-12
DE2631509B2 DE2631509B2 (en) 1978-04-27

Family

ID=5982921

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19762631509 Ceased DE2631509B2 (en) 1976-07-09 1976-07-09 Procedure for the automatic checking of meters

Country Status (9)

Country Link
BE (1) BE855873A (en)
DE (1) DE2631509B2 (en)
DK (1) DK208277A (en)
FR (1) FR2357909A1 (en)
GB (1) GB1542814A (en)
IE (1) IE45355B1 (en)
IT (1) IT1080626B (en)
LU (1) LU77710A1 (en)
NL (1) NL7704418A (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4298839A (en) * 1978-03-31 1981-11-03 Westinghouse Electric Corp. Programmable AC electric energy meter having radiation responsive external data interface
CH638043A5 (en) * 1979-07-20 1983-08-31 Landis & Gyr Ag Arrangement for the central measurement of the thermal energy drawn by a plurality of heat consumers
CH653778A5 (en) * 1980-05-02 1986-01-15 Landis & Gyr Ag CIRCUIT ARRANGEMENT FOR MONITORING A STATIC ELECTRICITY COUNTER.
JPS5764397A (en) * 1980-10-03 1982-04-19 Olympus Optical Co Ltd Memory device
WO1996005657A1 (en) * 1993-02-03 1996-02-22 The Genesis Group Limited Electronic counter device

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2285023A1 (en) * 1974-09-16 1976-04-09 Jerome Jacky Counting of electrical pulses caused by radioactive source - involves use of microprogrammed system to process count and time
DE2613112B2 (en) * 1976-03-24 1980-02-07 Heliowatt Werke Elektrizitaets-Gesellschaft Mbh, 1000 Berlin Electronic maximum counter

Also Published As

Publication number Publication date
DE2631509B2 (en) 1978-04-27
NL7704418A (en) 1978-01-11
LU77710A1 (en) 1977-10-05
BE855873A (en) 1977-10-17
GB1542814A (en) 1979-03-28
IE45355L (en) 1978-01-09
IT1080626B (en) 1985-05-16
FR2357909A1 (en) 1978-02-03
IE45355B1 (en) 1982-08-11
DK208277A (en) 1978-01-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19524551B4 (en) Electrical energy metering system, electric energy meter and method for recording calibration data
DE69233475T2 (en) Apparatus and method for testing electronic electricity meters
US3673397A (en) Circuit tester
DE3813498A1 (en) System for telemetering (remote metering) the electric power consumption of different loads (consumers)
DE2715029C3 (en) Circuit arrangement for diagnosing or testing functional hardware errors in a digital EDP system
DE2631509A1 (en) PROCEDURE FOR THE INDEPENDENT CHECK OF COUNTERS
CN110991076A (en) Method for predicting data storage state of NVRAM (non-volatile random Access memory) of relay protection device
DE2142860A1 (en) SYSTEM FOR DIRECT TESTING OF VEHICLE ELECTRICALS IN THE MANUFACTURING OF MOTOR VEHICLES
DE3743064A1 (en) Electrical service installation
US3735255A (en) Apparatus and method for testing a multi-terminal logic circuit capable of detecting fixed and intermittant faults
EP0499860A1 (en) Flowmeter
DE2635346A1 (en) Data read=out facility for energy consumption meters - has internally stored data displayed via LEDs and optically interrogated
DE2635463A1 (en) Automatic check of electric power consumption meter - uses current and voltage comparators to check operation of each segment of display in sequence
EP0199051A1 (en) Device for detection and evaluation of pulsed measuring results
DD201228A1 (en) DIAGNOSEGERAET
DE3330941A1 (en) Circuit arrangement for detecting and displaying the quantities of heat output by the heaters of flats in a block
Chen Common fault Analysis and Countermeasures of key Components of intelligent electricity meter
TMTE DUANE= _T The Duane Plot, as illustrated herewith, at the time of each failure takes a measure
DE4428186C2 (en) Expansion card for data processing systems suitable for accommodating expansion cards for decoding, evaluating and displaying signal levels and signal pulses
DE202007007255U1 (en) Heat cost meter for detection of heat consumption of e.g. single-family house, has display unit connected with computing unit for alphanumeric and colored display of signals derived from humidity measuring values of temperature sensor
DE19638614A1 (en) Electricity consumption counter
DE897287C (en) Electricity meter
CN117724450A (en) Control cabinet detection method and device, computer equipment and storage medium
Smorthit Counting the cost of ate
EP0499583A1 (en) Method and device for consumption determination

Legal Events

Date Code Title Description
OAP Request for examination filed
OD Request for examination
BHV Refusal