DE2611539A1 - Verfahren zur fehlersuche bei bewegten materialbahnen - Google Patents
Verfahren zur fehlersuche bei bewegten materialbahnenInfo
- Publication number
- DE2611539A1 DE2611539A1 DE19762611539 DE2611539A DE2611539A1 DE 2611539 A1 DE2611539 A1 DE 2611539A1 DE 19762611539 DE19762611539 DE 19762611539 DE 2611539 A DE2611539 A DE 2611539A DE 2611539 A1 DE2611539 A1 DE 2611539A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- scanning
- time
- counter
- pulse
- line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/8921—Streaks
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
5090 LEVERKUSEN. BAYERWERK
Patentabteilung
Tel: (0 21 72) 30(1)-
1 6. MRZ. 1976 Ki/eb
Verfahren zur Fehlersuche bei bewegten Materialbahnen
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Fehlersuche und zum Erkennen und Orten von längsorientierten Fehlern auf laufenden
Papier- oder Folienbahnen, insbesondere auf photographischen Materialien. Hierbei wird die Bahn quer zu ihrer Bewegungsrichtung
von einem feststehenden Abtastgerät, dessen Abtastzeilenlänge größer oder gleich der zu untersuchenden Materialbahnbreite
ist, zellenförmig optisch gescannt und in Reflexion abgetastet. Die vom Abtastgerät ausgehenden Momentanwerte des
reflektierten Abtastsignales werden gemittelt. Eine Fehleranzeige erfolgt nur dann, wenn eine Abweichung vom Mittelwert
vorhanden ist.
Bei der Herstellung von Materialbahnen, insbesondere von beschichteten
Folien, wie photographischen Filmen und Papieren, können auf der Materialbahn, insbesondere in den auf der Trägerfolie
aufgebrachten Schichten Fehler entstehen, die die spätere Benutzung der Bahn wesentlich beeinträchtigen. Neben
punktförmigen Fehlern, wie Schmutz, Blasen etc., sind es vor allem in Bahnrichtung verlaufende Längsfehler, wie Begußstreifen,
Kratzer, die sich oftmals über die gesamte Bahnlänge erstrecken können und damit zu einer erheblichen Minderung der
Qualität führen. Solche, in Bahnlängsrichtung auftretende Fehlstellen müssen unbedingt gefunden werden.
Die bekannten optischen Methoden zur Fehlersuche an bewegtem banförmigen
Material sind mit einem Nachteil behaftet.Das von der zu prüfenden Materialbahn über einen Photodetektor empfangene re-
A-G 1^84 709839/0216
Telex- 0 510 871 Verw. + Vertrieb Telegramme: Verkauf u. Verwaltung: Agfagevaert Leverkusen Konten: LZB Zweigstelle Leverkusen 375ΟΘΟΟΟ
8 510 870 Finanz · u. Rechngsw. Fabrik: Fotofabriken Leverkusen Postscheck Köln 472-5Ο7
VORSTAND Erich Lindemann. Vorsitzender; Paul Francken. VORSITZENDER DES AUFSICHTSRATS: Hendrik Cappuyns
stoM^r»- Vorsitzender Albert Beken. Johan Bisschops. SITZ DER GESELLSCHAFT Leverkusen
F · *■ jr>» ι vViVicirr. fi.-ihCf *.' * 1HiJ Pir hard Wk k Γ'\'τΡΛΓ,ι it jrj Amt<-,gr>nrhl ' r,.,r>'V -<-nn HPß 1?m
flektierte oder hind^chgelassene Licht ist auch bei fehlerfreiem
Bahnmaterial bereits durch die Materialeigenschaften der Bahn moduliert, da eine völlige Gleichmäßigkeit nicht vorausgesetzt
werden kann. Das am Photodetektor erzeugte Signal zeigt also auch bei fehlerfreier Bahn stets eine gewisse störende
Unruhe (Untergrundrausehen).
In den meisten Fällen wird durch amplitudenbegrenzende Maßnahmen (Schmitt-Trigger, Begrenzerdioden etc.) das Untergrundrauschen
elektronisch abgeschnitten, so daß nur Fehler auf der Materialbahn detektiert werden können, deren elektrische Impulse
größer als die höchsten Störimpulse und damit größer als die Diskriminatorspannung
sind. Eine Verbesserung bringt eine Methode, bei der ein für das zeitlich gemittelte Spitzenrauschen kennzeichnendes
modifiziertes Ausgangssignal des Photodetektors gebildet und dieses über einen Spannungskomparator mit dem ursprünglichen
Ausgangssignal des Photodetektors verglichen wird, so daß
unerwünschte Rauschanteile unterdrückt und der Komparator nur dann ein Ausgangssignal liefert, wenn ein echter Fehlerimpuls
vorliegt. Zusätzlich zur weiteren Verringerung von Fehlanzeigen bei fehlerhaftem Material wird das Ausgangssignal des Komparators
noch auf einen Diskriminator mit konstanter Schwellspannung gegeben
(US-PS 3 5IO 66k), Auch bringen zusätzliche frequenzbestimmende
Methoden in Form von Filtern zur Trennung zwischen Fehlerimpulsen und Untergrundrauschen (z.B. US-PS 3 5IO 66h und
3 206 606) keine optimale Lösung, da sich im allgemeinen Fehlerimpulse und Untergrundrauschen fl^quenzmäßig kaum unterscheiden.
Solche Anordnungen dienen lediglich dazu, Störfrequenzen, die nicht in den Meßfrequenzbereich fallen, herauszufiItem.
In neuerer Zeit wurde ein Verfahren zur Fehlersuche und zum Erkennen
und Orten von längsorientierten Fehlern auf bewegten Materialbahnen beschrieben (DT-OS 2 363 422), bei dem durch Einsatz eines optischen Scanners die Abtastzeile parallel zu sich
selbst und quer zur Bahnlängsrichtung verschoben wird. Durch Erzeugen von zwei definierten Zeitmarken in der Abtastzeile erfolgt
dabei eine sequentielle Abtastung der Materialbahn an diesen Marken, während die Abtastzeit mit konstanter Geschwindigkeit über
A-G 1384 - 2 -
709839/0216
die gesamte Bahn hin- und herbewegt wird. Durch quasi-kontinuierliche
Mittelwertbildung des von der Bahn erhaltenen und durch die Oberflächeneigenschaft der Bahn modulierten Signals an der jeweiligen
Zeitmarke wird das Untergrundrauschen eliminiert. Damit können auch sehr feine Längsfehler, deren Fehleramplituden gleich
oder kleiner als die Rauschamplituden sind, detektiert werden.
Dieses Verfahren ist für die Abtastung von relativ breiten Materialbahnen
konzipiert und hat sich hier auch sehr gut bewährt. Bei der Abtastung von relativ schmalen Bahnen (vor allem, wenn
die Bahnbreite kleiner als die Abtastzeilenlänge ist) ist jedoch der mechanische Aufwand für die Traversierung aufwendig.
Es wurde nun gefunden, daß man mit dem eingangs beschriebenen
Verfahren das gleiche Ziel erreichen kann, wenn erfindungsgemäß innerhalb der Abtastzeile elektronisch mindestens eine
Zeitmarke gebildet wird, die ausgehend von dem einen Ende des Abtastbereiches bei jeder Abtastung um einen konstanten Schritt
Tg weitergeschoben wird bis das andere Ende des Abtastbereiches
erreicht ist und der jeweils an der Zeitmarke erscheinende Momentanwert des reflektierten Abtastsignales über einen aus
mehreren Abtastungen bestehenden Abtastzyklus gemittelt wird. Zweckmäßig ist die Schrittweite und damit die Gesamtzahl der
Schritte innerhalb des Abtastbereiches einstellbar.
Eine bevorzugte Ausführung der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet,
daß die Zeitmarke durch die L-O-Flanke eines Impulses
erzeugt wird, der ausgehend von einem Zeilenstartimpuls über
ein Zeitglied getriggert wird, wobei die Impulslänge von Abtastzeile zu Abtastzeile um T2 vergrößert wird. Spezielle Ausführungen
und Weiterbildungen des erfindungsgemäßen Verfahrens sind darüber hinaus in den Unteransprüchen beschrieben.
Das erfindurg sgemäße Verfahren hat den Vorteil einer höheren
Betriebssicherheit, da die mechanische Traversierung des Meßkopfes entfällt. Ein weiterer wesentlicher Vorteil liegt in
der erleichterten Ortung von Fehlern. Das Meßprinzip der wan-
A-G 138*1 - 3 .-
709839/0216
dernden Zeitmarke ermöglicht eine bahnbreitenbezogene Ortung ohne Unterteilung der Bahn in eine Reihe von nebeneinander liegenden
festen Meßkanälen. "Bahnbreitenbezogen" bedeutet dabei,
daß die Lage eines Längsfehlers in bezug auf die Bahnbreite unabhängig von der Lage der Bahn relativ zum Abtastgerät in einem
ersten Durchgang der Zeitmarke ausgehend vom Fehler selbst für den nächstfolgenden Durchgang immer wieder neu festgelegt wird.
Die dazu erforderliche Elektronik ist - im Gegensatz zu der J oben erwähnten Kanaleinteilung - mit verhältnismäßig geringem
schaltungstechnischem Aufwand zu realisieren.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines in Zeichnungen erläuterten Ausführungsbeispieles näher beschrieben. Insbesondere
wird der Aufbau und die Wirkungsweise der dazugehörigen Schaltung erklärt. Es zeigen
Figur 1 den schematischen Aufbau des optischen Reflexions-Scanners,
Figur 2 das vom Photoempfänger aufgenommene Signal für eine Zeilenabtastung sowie den dazugehörigen Zeilenstartimpuls,
Figur J>a. das Blockschaltbild der Elektronik für das Verschieben
der Zeitmarken,
Figur 3b das zu Fig. 3a zugehörige Impuls-Zeitdiagramm für zwei
aufeinanderfolgende Zeilen des optischen Scanners,
Figur 4 das Prinzip der Bandbreitenzuordnung eines Längsfehlers,
Figur 5a das Blockschaltbild zur Prüfung der Zuordnung eines Längsfehlers zur Bandbreite,
Figur 5b das zu Fig. 5a zugehörige Impuls-Zeitdiagramm,
Figur 6 das Blockschaltbild der Auswerteelektronik zur Längsfehlererkennung.
A-G
709839/0216
Figur 1 zeigt eine vereinfachte perspektivische Prinzipdarstellung
eines Ausführungsbeispiels des optischen Scanners: Die Lichtquelle 1 besteht aus einer Wolframlampe. Sie beleuchtet
durch einen unter einem Winkel von z.B. 45° zur Strahleinfallsrichtung
angebrachten halbdurchlässigen Spiegel 2 hindurch den in Höhe und Breite verstellbaren Eintrittsspalt 3, der auf der
der Lampe abgewandten Seite des Spiegels 2 befestigt ist.
Ein mit Planspiegeln 4 bestücktes Spiegelrad 5, das von einem Motor 6 angetrieben wird, ist so drehbar angeordnet, daß sich
seine Peripherie, d.h. die Spiegel 4, bei Rotation des Rades im Brennpunkt eines Parabolspiegels 7 bewegen, der parallel
zu der in Pfeilrichtung sich bewegenden Materialbahn 8 angebracht ist. Zur Vermeidung von Bahnunruhen wird die Materialbahn 8 über
zwei eng benachbarte und möglichst stark umschlungene Walzen 9 und 10 geführt.
Mittels der Konvexlinse 11 wird der beleuchtete Spalt 3 über die
Spiegel 4 des Spiegelrades 5 und die Spiegeloberfläche des Parabolspiegels 7 als kleiner Abtastfleck 3a auf der Materialbahn 8
mit senkrecht zur Bahnoberfläche verlaufender Einfallsstrahllichtung
abgebildet. Spiegelrad 5 und Parabolspiegel 7 stehen, da das Spiegelrad unterhalb vom Parabolspiegel 7 angebracht ist,
aus strahlentechnischen Gründen etwas verkantet zueinander. Das von der Materialbahn 8 reflektierte und durch die Oberflächeneigenschaften
der Bahn modulierte Licht gelangt auf dem gleichen Weg über den Parabolspiegel 7, die Spiegel 4 und die Linse 11
zurück bis zum halbdurchlässigen Spiegel 2, an dem es durch Reflexion umgelenkt und schließlüi mittels der Konvexlinse 12
auf dem Photoempfänger 13, der z.B. eine schnelle, hochempfindliche und möglichst rauscharme Photodiode, Phototransistor oder
dergleichen sein kann, fokussiert wird. Der Scanner arbeitet also nach dem Autokollimationsprinzip.
Rotiert das Spiegelrad 5 im angezeigten Drehsinn, so verschiebt
sich der vom Parabolspiegel 7 reflektierte Strahl in der angegebenen
Richtung parallel, wobei der Abtastfleck 3a die Materialbahn
8 auf der Abtastlinie 14 abtastet. Die Anordnung ist so gewählt, daß für eine Abtastung nur jeweils ein Spiegel 4 des
A-G 1384 - 5 -
709839/0216
Spiegelrades 5 benutzt wird. Bei in Pfeilrichtung bewegter Materialbahn 8 erfolgt so eine zellenförmige, lückenlose Abtastung
der Bahn auf der Länge der Abtastlinie 14-.
Fehlstellen auf der Materialbahn werden vom Abtastfleck 3a erfaßt
und gelangen über Parabolspiegel 7, Spiegelrad 5, Linse 11, halbdurchlässigen Umlenkspiegel 2 und Linse 12 auf den Photodetektor
13, der sie in elektrische Fehlerimpulse umsetzt. Zwischen
Parabolspiegel 7 und Materialbahn 8 ist ein das sichtbare Spektrum
absorbierendes Infrarotfilter 15 eingeschaltet, wenn photographisches Material kontrolliert wird. An den Enden des Parabolspiegels
7 entstehen durch Herein- bzw. Herauslaufen des Abtaststrahls Impulse, die jedoch für das Verfahren keine störende
Wirkung haben. Seitlich neben dem Parabolspiegel ist eine weitere Photodiode 16 derart im Strahlengang angeordnet, daß sie
vom abtastenden Strahl überstrichen wird und vor Beginn einer jeden Abtastung einen Zeilenstartimpuls liefert. Zur Erzeugung
dieses Zeilenstartimpulses können auch andere Mittel verwendet werden, z.B. eine induktive Abtastung des Spiegelrades. In dem
Ausführungsbeispiel mit einer 7 cm breiten Abtastung, das entspricht der Länge der Abtastlinie 14, beträgt die Drehzahl des
Spiegelrades 50 U/sec. Bei einer Anzahl von 16 Spiegeln 4 ist demnach die Abtastfrequenz 800 Hz und damit die Gesamtdurchlaufzeit
für einen Spiegel 4, das ist die Summe der aus der eigentlichen Abtastzeit T auf der Bahn 8 und einer gewissen,
SL
durch die Geometrie und die Spiegelzahl bestimmten Dunkelzeit Td zwischen zwei Spiegeldurchgängen, T - 1,25 ras. Bei einer Bahngeschwindigkeit
von z.B. 40 m/min erhält die Bahn 8 in dieser Zeit (1,25 ms) einen Vorschub von 0,83 mm.
Figur 2a zeigt das vom Photoempfänger 13 aufgenommene Signal für
eine Zeilenabtastung bei fehlerfreier Bahn. Das Signal ist nur durch die normalen Oberflächeneigenschaften der Bahn moduliert.
Die Abtastung erfolgt von links nach rechts. 17 ist daher der von der Oberfläche der Bahn abhängige Hereinlaufimpuls, 18 der
zugehörige Herauslaufimpuls, T * 1,25 ms ist die Gesamtdurchlaufzeit
eines Spiegels, die sich aus der Abtastzeit T„ und der
el
Dunkelzeit T, zusammensetzt.
A-G 1384 - 6 -
709839/0218
In Figur 2b ist der zugehörige, vor jeder Zeilenabtastung liegende
von der Photodiode 16 aufgenommene Zeilenstartimpuls 19 dargestellt.
Figur 3a zeigt das Blockschaltbild für die Verschiebung der je
Abtastzeile erzeugten Zeitmarke (Zeitmarken) und Figur 3b das dazugehörige Impuls-Zeitdiagramm für zwei aufeinanderfolgende
Zeilenabtastungen des Scanners (Fig. 1 und Fig. 2). Zur besseren Erkennung der Wirkungsweise der elektronischen Schaltung werden
Fig. 3a und ~$b nebeneinander betrachtet.
Figur 3b-a zeigt den zeitlichen Verlauf des vom Photoempfänger 13 (Fig. 1) empfangenen und bereits verstärkten Signals für zwei
aufeinanderfolgende Abtastungen, 17 ist der bereits erwähnte Hereinlaufimpuls, 18 der Herauslaufimpuls für die erste Abtastzeile,
17' und 18' die entsprechenden Impulse für die folgende Abtastung.
T β 1,25 ms ist die Gesamtdurchlaufzeit eines Spiegels.
Der von der Photodiode 16 (Fig. 3a) vor Beginn einer jeden Abtastzeile
erzeugte Zeilenstartimpuls wird im Verstärker 20 verstärkt und durch den Schmitt-Trigger 21 in einen positiven Rechteckimpuls
umgeformt. Fig. 3b-b zeigt den zeitlichen Verlauf des Zeilenstartimpulsesl9
bzw. I91 für die folgende Abtastzeile, Fig. Jto-c den
daraus genormten Rechteckimpuls am Ausgang des Schmitt-Triggers 21«
Hinter diesen ist ein monostabiler Multivibrator 22 geschaltet, der von der L-0-Flanke des Schmitt-Triggers 21 ausgehend einen
weiteren positiven Rechteckimpuls vorgegebener Breite T1 liefert
(Fig. 3b-d), dessen L-0-Flanke zeitlich hinter den von der
Oberfläche der Materialbahn abhängigen Hereinlaufimpuls 17 bzw.
17' (Fig. 3b-a) fällt und damit den Beginn des zulässigen Abtastbereichs
des Scanners kennzeichnet. Der für die Abtastung störende Hereirilaufimpuls wird somit unterdrückt. Die Zeit T, des monostabilen
Multivibrators wird abhängig von der Breite des abzutastenden Materialbandes eingestellt. Das Materialband sollte zweckmäßig
symmetrisch zwischen den Hereinlaufimpulsen I7 bzw. 17f
und den Herauslaufimpulsen 18 bzw. I81 liegen. Die Zeit des monostabilen
Multivibrators und damit der Beginn des zulässigen Ab-
A-G 1384 - 7 -
709839/0216
tastbereichs des Scanners kann in bekannter Weise durch Änderung der Zeitkonstanten des monostabilen Multivibrators beliebig innerhalb
der Abtastzeile verschoben werden. Das Ende des Abtastbereichs des Scanners und damit die abzutastende Materialbreite wird
mit dem später beschriebenen Schrittvorwahlzähler 35 festgelegt. Die L-O-Flanke des positiven Rechteckimpulses am Ausgang des
monostabilen Multivibrators 22 steuert ein RS-Flip-Flop 23 an und
setzt über den S-Eingang 2k dessen Ausgang 25 auf positives (L)
Potential (Fig. 3b-e). Mit dieser O-L-Flanke wird ein bit über den
Eingang 26 in den Zähler 27 eingezählt (so daß dessen Inhalt von
z.B. Null ausgehend jetzt 1 ist), gleichzeitig wird ein weiterer Zähler 28 über den Steuereingang 29 zählbereit gemacht. Der Clockeingang
30 des Zählers 28 wird kontinuierlich von einem Taktgeber 31, hier im Ausführungsbeispiel ein Rechteckgenerator mit einer
Frequenz\( 2 = IA2 = 8192OO Hz gespeist. Der Zähler 28 kann jedoch
erst diese Werte übernehmen, nachdem das vom Flip-Flop 23 gelieferte
positive Signal an dessen Eingang 29 anliegt (Fig. 3b-e)·
Sobald dieses L-Signal nicht mehr anliegt, ist der Zähler nicht mehr zählbereit und wird auf Null gesetzt. Die Inhalte der Zähler
27 und 28 werden einem Vergleicher 32 zugeführt, der bei gleichen Inhalten der Zähler 27 und 28 an seinem Ausgang ein Signal liefert.
Dieses Signal setzt über den R-Eingang 32J- des Flip-Flop 23 dessen
Ausgang 25 wieder nach Null, d.h. der Inhalt des Zählers 28 wird
über den Eingang 29 gelöscht. Der Zeilenstartimpuls I91 der folgenden
Zeile (Fig. 3b-b) liefert in gleicher Weise wie oben beschrieben über den Verstärker 20, den Schmitt-Trigger 21, das
monostabile Zeitglied 22 eine weitere L-0-Flanke, die das Flip-Flop
23 setzt. Die am Flip-Flop-Ausgang entstehende O-L-Flanke zählt ein weiteres bit in den Zähler 27, dessen Inhalt jetzt mit
2 bewertet ist und macht den Zähler 28 zählbereit, der jetzt von 0 bis 2 zählen muß, bevor der Vergleicher ermittelt, daß die Inhalte
der Zähler 28 und 27 gleich sind. Dieses Gleich-Signal setzt das Flip-Flop 23 wieder in seine Ausgangslage, d.h. O-Potential
am Ausgang 25, zurück. Die Zeit t des Ausgangssignals des Flip-Flop 23, d.h. die Zeit, während der Ausgang 25 auf L-Potential
liegt, ist also variabel und wird von Abtastzeile zu Abtastzeile um T2 vergrößert (Fig. 3b-e und 3b-f). Es ist also der Zusammenhang
A-G 1384 _ g _
709839/0216
gegeben t = η T2, wobei η die Anzahl der Abtastzeilen ist. Die
L-O-Flanke des Flip-Flop 23 verschiebt sich also jeweils um
einen Schritt Tp von Abtastzeile zu Abtastzeile über den zulässigen
Abtastbereich des Scanners, dessen Eeginn, wie beschrieben,
durch die O-L-Flanke des Flip-Flop 23 festgelegt wurde (Fig.j5b-e
und 3b-a). Durch die L-O-Flanke des Flip-Flop 23 (Fig. 3b-e) ist
die Zeitmarke 34 bzw. 34' für die folgende Abtastzeile, d.h. der
Zeitpunkt der Abfrage des am Scanner anstehenden Signals definiert. Während der Scanner zeilenweise abtastet, wird also die Zeitmarke
34 in Schritten von T2 pro Abtastzeile verschoben. Die Abfrage des
anstehenden Scanner-Signals (Fig. 3b-a) erfolgt also an der über den Abtastbereich wandernden Zeitmarke. Das Ende des Abtastbereichs
ist durch die Anzahl η der Schritte gegeben; η wird in dem Schrittvorwahlzähler 35 festgelegt. Hat der Zähler 27, der mit dem
Eingang 36 des Schrittvorwahlzählers 35 verbunden ist, die vorgewählte
Schrittzahl η erreicht, ist das Ende des Meßbereichs, über den die Zeitmarke verschoben wird, erreicht und der Zähler 27 wird
über den Eingang 37 auf Null gesetzt, so daß der Vorgang der Zeitmarke nverschiebung wieder von vorn beginnen kann.
Der Vorgang sei an einem Zahlenbeispiel näher erläutert:
Bei einem optischen Scanner mit einer Abtastgeschwindigkeit auf der abzutastenden Bahn von z.B. V ■ 65,6 m/s = 0,0656 mm/tts und
der im Beispiel angegebenen Taktfrequenz S> 2 «= 1/T2 = 8!92OO Hz
ergibt sich für T2 = 1/^2 = I/8I92OO = 1,22 · lo"° s « 1,22/<s.
Man erhält bei diesem Ausführungsbeispiel eine auf den Meßbereich bezogene örtliche Verschiebung der Zeitmarke (« Abtastmarke) 34
bzw. 34' (Fig. 3b-a) von Abtastzeile zu Abtastzeile x-T« * ν ·=
0,0656 mm/jus · 1,22/is ■ 0,08 mm. Bei einer Schrittvorwahl von
η = 500 ist es mögich, eine Bahnbreite b - η . χ « 500 · 0,08 mn 40
mm abzutasten. Mit der Schrittvorwahl η kann also bei vorgegebener Abtastgeschwindigkeit V und Taktzeit T2 der Abtastbereich
des zu prüfenden Materialbandes festgelegt werden. Da die Verschiebung der Zeitmarke um den Betrag χ von Zeile zu Zeile, d.h.
also jeweils nach der Scanzeit T = 1,25 ms erfolgt, ergibt sich
die Zeit für das Durchschieben der Zeitmarke (« Abtastmarke) über
den Abtastbereich aus der Beziehung η · T - 500 · 1,25 » 625 ms «
0,625 s. Dieses Zahlenbeispiel ist willkürlich gewählt. Durch Wahl
A-G 1384 - 9 -
709839/0216
und Kombination der einzelnen Parameter läßt sich leicht erreichen,
daß z.B. durch Vergrößerung der Schrittzahl η bei vorgegebener
Abtastbreite der Einzelschritt χ verkleinert und damit die Auflösung bei der Signalerkennung vergrößert wird. Wie aus dem Zahlenbeispiel
zu ersehen ist, ist die Schrittgröße χ der Zeitmarke von Abtastzeile zu Abtastzeile abhängig von der Abtastgeschwindigkeit
V des Scanners, d.h. also von der Drehzahl des Antriebsmotors des Scanners,und der Taktfrequenz 3 2 = 1/T2.
Eine Synchronisierung des Motors mit der Taktfrequenz ist bei der Verwendung von Synchronmotoren zwar nicht erforderlich, erhöht
jedoch die Funktionssicherheit des Verfahrens. Diese Synchronisierung kann z.B. in folgender Weise geschehen (Fig. 3a): Die
Frequenz der vom Taktgeber 31 erzeugten Rechteckimpulse wird
mittels des Frequenzteilers 38 auf 50 Hz Rechteckimpulse heruntergeteilt.
Der an dem Frequenzteiler anschließende Tiefpaß 39 erzeugt durch Ausfilterung der Oberwellen eine sinusförmige Spannung,
mit der der Synchronmotor des Scanners über den Leistungsverstärker 4o angetrieben wird. Die Synchronisierung ist in bekannter
Weise auch mit jedem anderen Motortyp möglich, sie kann auch in umgekehrter Weise erfolgen, indem der Taktgeber von einem am
Motor angebrachten Signalgeber synchronisiert wird.
Die Erkennung eines Fehlers als Längsfehler ist auch mit nur
einer Abtastmarke möglich, wenn der· beim Verschieben der Abtast
marke über den Meßbereich gefundene Fehler bahnbreitenbezogen
eingespeichert wird und anschließend geprüft wird, ob beim folgenden Durchfahren der Abtastmarke an der gleichen Stelle innerhalb
der vorgegebenen Toleranz wieder auftritt. Dies sei in Figur 4 veranschaulicht. 41 sei ein Längsfehler auf der Materialbahn 8,
die sich in angegebener Pfeilrichtung bewegt. Die z.B. von links nach rechts sieh über die Bahnbreite verschiebende Zeitmarke 34
(Fig. 3b) beschreibt relativ zur bewegten Bahn den Weg 42 für den ersten und 43 für den folgenden Durchgang. Es muß nun geprüft
werden, ob der an der Stelle 44 beim ersten Durchgang erkannte Fehler an der gleichen Bahnbreitenstelle 45 beim zweiten Durchgang
innerhalb einer bahnbreitenbezogenen Toleranz Λ, gekennzeichnet
durch die beiden Linien 46 und 47, wieder gefunden wird.
A-G 1384 - 10 -
709839/0216
Figur 5a zeigt ein Ausführungsbeispiel einer Schaltung zur Durchführung
dieser Prüfung. Figur 5b das dazugehörige Impuls-Zeitdiagramm
für zwei aufeinanderfolgende Durchgänge der Abtastmarke. Zum besseren Verständnis werden beide Abbildungen parallel betrachtet.
Entsprechend der Fig. 4 habe die Zeitmarke im ersten Durchgang 42 den Fehler 41 an der Stelle 44 passiert und erkannt. Dieser Zeitpunkt
48 ist in Fig. 5b-a und das zugehörige Fehlersignal 49 in
Fig. 5b-b dargestellt. Beim folgenden Durchgang 43 werde der
Fehler 41 an der Stelle 45 erkannt. Dies entspricht dem Zeitpunkt
48' in Fig. 5b-a. Das zugehörige Fehlersignal 49' ist in Fig. 5b-b
dargestellt. Das Fehlersignal 49 setzt (Fig. 5a) über den Eingang
50 den Ausgang 51 des Flip-Flop 52 auf L-Potential (Fig. 5b-c). Dadurch werden sowohl der Vorwahlzähler 53* mit dem die Toleranz Δ
durch entsprechende Vorwahl vorgegeben wird, über den Eingang 54
als auch das Schieberegister (SR) 55 über den Eingang 59 geöffnet. Das SR hat die Aufgabe, die bahnbreitenbezogene Lage der durch den
Zähler 53 bestimmten ToleranzbreiteA so festzulegen, daß beim folgenden
Durchlauf 43 eine symmetrische Lage des Toleranzbereichs A
um den Fehler 41, also zwischen den Markierungen 46 und 47 gewährleistet
ist. Nachdem der Zähler 53 und das SR 55 geöffnet sind, werden über die Eingänge 56 und 57 vom Schmitt-Trigger 21 (Fig.3a
bzw. Fig. 3b-c) die Zeilenstartimpulse eingezählt. Erreicht der Zähler 53 seine Vorwahl a, so wird ein Ausgangsimpuls am Zähler erzeugt
(Fig. 5b-d), der das Flip-Flop 52 über den Eingang 58 zurücksetzt (Fig. 5b-c).Dadurch wird auch das SR 55 über den nun auf Null
liegenden Eingang 59 in der Weise gesperrt, so daß nichts mehr eingegeben wird, aber der bis dahin eingelesene Inhalt Δ über den
Eingang 57 taktweisa (n - |) Schritte weitergeschoben wird. Da das
SR selbst nur eine Länge von (n - *) bit hat und der InhaltASchrite
beträgt, beginnt das Herausschieben nach (n - -2Δ) Schritten und
ist nach (n - -) Schritten beendet. Während des Herausschiebens des Toleranzbereiches δ liegt der Eingang 60 des Und-Gatters 61
auf L-Potential (Fig. 5b-e), so daß nur die von der Abtastmarke erfaßten Fehler, die bahnbreitenbezogen innerhalb der Toleranz δ
liegen (Fig. 5b-a, Fig. 5b-b) über den Eingang 62 des Und-Gatters 6l am Ausgang des Gatters ein Signal erzeugen (Fig. 5b-f), also
detektiert werden können. Dies ist bei Längsfehlern der Fall, A-G 1384 - 11 -
709839/0216
Da das beschriebene Verfahren der Bahnbreitenzuordnung immer wieder vom detektierten Fehler neu beginnt, also immer nur ein
Durchgang der Meßmarke mit dem folgenden verglichen wird, ist eine genaue Bahnbreitenzuordnung möglich. Dies bedeutet gegenüber
den bisher üblichen Methoden der Zuordnung von längsorientierten Fehlern in bezug auf die Bahnbreite mittels einer festen
Kanäleintellung einen wesentlichen Vorteil, da hierbei immer die
beidseitig angrenzenden Nachbarkanäle mit in Betracht gezogen werden müssen.
Figur 6 zeigt das Blockschaltbild der Auswerteelektronik zur Längsfehlererkennung. Zur besseren Erklärung der Wirkungsweise
der elektronischen Schaltung werden Fig. 6 und Fig. 3b nebeneinander
betrachtet. Das vom Photoempfänger 13 (s.auch Fig. 1) erzeugte
Signal der durch die Eigenschaften der Bahnoberfläche modulierten reflektierten Strahlung wird im Verstärker 63 breitbandig
verstärkt und gelangt auf den Eingang eines sowohl für positive als auch für negative Eingangsamplituden geeigneten
Sample and Hold-Gliedes 64 (z.B. Typ SHA IA der Firma Analog
Devices, USA). Das am Ausgang des Verstärkers 63 erhaltene Signal ist in Fig. 3b - a für zwei aufeinanderfolgende Zeilenabtastungen
des Scanners dargestellt. Der Ausgang 25 des Flip-Flops 23 (Fig.3a)
ist mit dem Steuereingang des Sample and Hold-Gliedes 64 verbunden.
Liegt der Steuereingang des Sample and Hold-Gliedes 64 auf L-Potential,
das ist also während der Zeit t (Fig. 3b-e), so ist die Funktion "Sample" eingeschaltet, liegt er auf O-Potential,
so ist die Funktion "Hold" eingeschaltet. An der, Zeitmarke 34 bzw.
34' (Fig. 3b) wird also jedesmal von "Sample" auf "Hold" umgeschaltet, während an den O-L-Übergängen auf "Sample" geschaltet
wird. Die Funktion "Sample" bedeutet, daß am Ausgang des Sample and Hold-Gliedes stets das Eingangssignal vorhanden ist, während
nach dem Umschalten auf "Hold" der zu diesem Zeitpunkt am Eingang anstehende Signalwert am Ausgang für die Hold-Zeit als fester
Spannungswert erhalten bleibt. Der Ausgang des Sample and Hold-Gliedes 64 ist mit zwei Spannungs-Frequenzwandlern 65 und 66
verbunden, wobei der eine 65 für positive Eingangssignale, der andere 66 für negative Eingangssignale geeignet ist. Sie haben die
A-G 1384 - 12 -
709839/0216
Aufgabe, während einer genau definierten Wandelzeit T, innerhalb der Hold-Zeit (des Sample and Hold-Gliedes 64) den gerade am
Ausgang des Sample and Hold-Gliedes 64 anstehenden positiven oder negativen Wert in eine Impulsfolge definierter Rechteckimpulse
mit einer dem Wert proportionalen Frequenz umzuwandeln. Das Wandelverhältnis beträgt 10 kHz/V. (z.B. Typ W 10-lOP bzw.
WlO-ION, BPS-Electronic GmbH, Hannover).
Die Wandelzeit T, wird, wie weiter unten näher erläutert wird, für den an der Abtastmarke 34 bzw. 34' festgehaltenen und im
Sample and Hold-Glied 64 gespeicherten Momentanwert für das Ausführungsbeispiel
gleich Td gewählt (Fig. j5b - a und 3b - g).
Der Ausgang des vom Flip-Flop 23 mit der L-0-Flanke (Fig. Jb - e)
getriggerten monostabilen Multivibrators 67 zur Erzeugung der
Wandelzeit T-, ist mit den Triggereingängen der Spannungs-Frequenz-Wandler
65 und 66 verbunden, so daß die Wandlung des anstehenden
Signals nur während der Wandelzeit T, erfolgt (Fig. 3b - g).
Die Wandelzeit T-, wird im Ausführungsbeispiel zweckmäßigerweise
gleich T, gewählt, wdl beim Eintreffen der Zeitmarke (Abtastmarke)
34 bzw. 34' am rechten Rand des Abtastbereichs mindestens die
Wandelzeit T, = Td zur Verfügung steht, bevor die Zeitmarke den
nächsten Durchgang am linken Rand des Abtastbereichs wieder beginnt. Bei kleiner gewählten Abtastbereichen kann die Wandelzeit
entsprechend verlängert werden. Die Wandelzeit kann selbstverständlich auch auf andere Weise erzeugt werden, z.B., ausgehend
vom Taktgeber 3I, durch Festlegung einer Anzahl vom Impulsen. Die Ausgänge der Spannungs-Frequenzwandler 65 und 66 sind mit den
Eingängen des Vor-Rückwärts-Zählers 68 derart verbunden, daß der Ausgang des Spannungs-Frequenzwandlers 65 an den Vorwärtseingang
69 und der Ausgang des Spannungs-Frequenzwandlers 66 an den Rückwärtseingang
70 des Zählers 68 angeschlossen ist. Der Vor-Rückwärts-Zähler 68 hat eine wählbare Voreinstellung, z.B. die Zahl
32. Des weiteren sind zwei Ausgänge des Zählers angewählt, der Ausgang 7I z.B. mit der Zahl 64, der Ausgang 72 mit der Zahl 0.
Das bedeutet, gelangen Impulse auf den Eingang 69, so werden sie ab der Zahl 32 "vorwärts" gezählt. Ist die Vorwahl 64 erreicht,
A-G 1384 - 13 -
709839/0216
so erscheint am Ausgang 71 ein Impuls. Dies ist dann nach genau
32 Eingangsimpulsen der Fall. Gelangen andererseits Impulse auf
den Rückwärtseingang 70, so werden sie von der Voreinstellung beginnend "rückwärts" gezählt, bis nach ebenfalls 32 Impulsen die
Zahl 0 erreicht wird und am Ausgang 72 ein Impuls entsteht. Die
Ausgänge 71 und 72 des Zählers 68 sind über das Oder-Gatter 73
zusammengefaßt.
Der Ausgang des Schmitt-Triggers 21 (s.auch Fig. 3a), der den genormten
Zeilenstartimpuls erzeugt (s. Fig. 3b - c), ist mit einem
Impulsuntersetzer 74 verbunden, der die Zeilenstartimpulse z.B.
8:1 untersetzt. Nach jeder achten Abtastung erscheint am Ausgang des Untersetzers 74 ein Signal, aus dem durch den monostabilen
Multivibrator 75 ein kurzer Rechteckimpuls erzeugt wird, der auf den Voreinstellungseingang 76 des Zählers 68 weitergeleitet wird.
Durch diese Anordnung wird erreicht, daß jeweils nach acht Zeilenabtastungen (Abtastzyklus) der Zähler 68 erneut auf die Zahl 32
voreingestellt wird. Anhand eines Beispiels wird zur besseren Verdeutlichung die Wirkungsweise der bisherigen Anordnung näher
erläutert. Nachdem der Zähler 68 durch die vorher beschriebene Anordnung auf die Voreinstellung 32 gebracht worden ist, beginnt
wieder die erste der acht Zeilenabtastungen des Abtastzyklus.
Während der ersten Zeilenabtastung sei der Signal-Momentanwert des
Bahnrauschens an der Zeitmarke (Abtastmarke) 34, z.B. +0,4 Volt.
Dieser Wert steht während der Hold-Zeit am Ausgang des Sample and Hold-Gliedes 64 an, wird im Spannungs-Frequenzwandler 65 in eine
Impulsfolge gewandelt und während der Wandelzeit T-* von z.B.
500 /us in den Vorwärtseingang 69 des Zählers 68 eingezählt. Das
entspricht bei dem angegebenen Wandelverhältnis von 10 kHz/Volt
4 -4
einer Anzahl von 10 . 0,4 · 5 · 10 »2 Impulsen. Der Zähler hat damit den neuen Wert 32+2-34. Bei der folgenden, zweiten Zeilenabtastung sei der Signal-Momentanwert an der Zeitmarke 34*
z.B. -1,2 Volt. Dieser Wert wird entsprechend vom Spannungs-Fre quenzwandler 66 in eine Impulsfolge umgesetzt und ebenfalls während der Wandelzeit T, - 500 /ue auf den RUckwärtseingang 70 des
L -4
Wert 34 nunmehr 10 ·1,2·5#10 ■ 6 Impulse subtrahiert (rückwärts-
A-G
1384
- 14 -
709839/0216
gezählt) werden und der neue Zählerwert nunmehr 34-6=28 lautet. In den folgenden sechs Abtastungen (drei bis acht) wird dieser
Vorgang fortgesetzt. Danach erfolgt die beschriebene Voreinstellung des Zählers auf die Zahl 32 und ein neuer Abtastzyklus beginnt.
Da sowohl durch die Bahnbewegung wie auch zusätzlich durch die Bewegung der Zeitmarke über den Abtastbereich die Abfrage an der
Zeitmarke sich auf immer andere Bereiche der Bahn erstreckt, erscheint das in Fig. 3b - a dargestellte Oberflächen-Bahnrauschen
statistisch verteilt, so daß sich durch den oben beschriebenen Vorgang der digitalen Mittelwertbildung für z.B. Je acht Abtastungen
(Abtastzyklus) das Oberflächenrauschen der Bahn herausmittelt,
da weder am Ausgang Jl des Zählers 68 die Vorwahl 64 noch am Ausgang 72 die Vorwahl 0 erreicht wird, also am Ausgang des Oder-Gatters
73 kein Impuls erscheint.
Liegt dagegen ein Längsfehler vor, so erscheint innerhalb des statistisch verteilten Bahnrauschens während der Abtastungen ein
stets gleichförmiger positiver oder negativer Impuls, der während des Durchgangs der Zeitmarke dann von dieser schrittweise (Schrittlänge
x) überfahren und dabei laufend an einer anderen Stelle abgetastet wird. Die dazu benötigte Zeit beträgt bei acht Abtastungen
8·Τ » 8·1,25 ms β 10 ms. So lange muß also, bezogen auf dieses
Ausführungsbeispiel, der Pehlerimpuls beim Durchlaufen der Zeitmarke an dieser (bei Ausnutzung aller acht Abtastungen) anstehen.
Dies ist selbst bei schmalen Impulsen der Fall, da die Durchgangsgeschwindigkeit
der Zeitmarke mit V1= χ/Γ »0,08/1,25 mm/ms «
0,64 mm/10 ms sehr langsam dazu ist. Da es sich bei Längsfehlerimpulsen um gleichförmige Impulse handelt, beispielsweise um einen
(immer) positiven Fehlerimpuls, erfolgt hier bei jeder Abtastung die Spannungs-Frequenz-Wandlung im Spannungs-Frequenz-Wandler 65
(Fig* 6), so daß nur Impulse über den Vorwärtseingang 69 des
Zählers 68 eingezählt werden. Der Fehlerimpuls wird als Fehler erkannt, wenn nach acht Abtastungen ausgehend von dem voreingestellten
Zählerinhalt 32 weitere 32 Impulse eingezählt worden
sind und damit die Vorwahl 64 erreicht ist, so daß am Ausgang 71 des Zählers und somit am Ausgang des Oder-Gatters 73 ein Impuls
A-G 1384 - 15 -
709839/0216
erscheint. Dies ist der Fall, wenn der mittlere abgetastete Impulswert während der acht Abtastungen des Fehlerimpulses gerade
+0,8 Volt beträgt. Denn es ergibt sich bei dem Wandelverhältnis
des Spannungs-Frequenz-Wandlers 65 von 10 kHz/Volt, der Wandelzeit
T, = 500 με und acht Abtastungen für die Anzahl der in den Zähler
68 eingezählten Impulse: 1Ο4·Ο,8·5ΟΟ·1Ο~6·8 = 32. Die Amplitude
des Fehlerimpulses kann durchaus auch gleich oder kleiner als die Amplitudenwerte des Bahnrauschens sein, da das Rauschen wegen der
Herausmittlung keinen Einfluß auf die Fehlererkennung hat.
Die Erkennung negativer Längsfehler-Impulse geschieht in analoger
Weise. Hier wird gegenüber der oben beschriebenen Erkennung positiver Fehler dann der Spannungs-Frequenz-Wandler 66 wirksam, der
auf den Rückwärtseingang 70 des Zählers 68 geht, indem dann von der voreingestellten Zahl 32 subtrahierend gezählt wird. Wird die
Vorwahl 0 erreicht, erscheint am Ausgang 72 und damit am Ausgang des Oder-Gatters 73 ein Impuls.
Damit nur Längsfehler und keine punktförmigen Fehler erkannt werden,
muß geprüft werden, ob der bei einem Durchgang der Zeitmarke gefundene Fehler im jeweils darauffolgenden Durchgang der Zeitmarke
bahnbreitenbezogen innerhalb einer vorgegebenen Toleranz Aerneut
detektiert wird. Zu diesem Zweck ist der Ausgang des Oder-Gatters 73 mit dem Eingang 50 des Flip-Flops 52 der bereits anhand der
Fig. 5a und 5b beschriebenen Schaltung zur Prüfung der Zuordnung
eines Längsfehlers in bezug auf die Bahnbreite verbunden. Die in dem Ausführungsbeispiel zur besseren Verdeutlichung angegebenen
Zahlen sind willkürlich. Sie können durch beliebige, dem Problem angepaßte Werte ersetzt werden.
Das oben beschriebene Verfahren zum Verschieben der Zeitmarke über
den Abtastbereich kann natürlich leicht auf mehrere Marken erweitert werden, die nacheinander in einem definierten konstanten Abstand
über den Abtastbereich gefahren werden und an denen getrenntnach dem beschriebenen Verfahren der Mittelwert gebildet wird. Wird
an einer Zeitmarke ein Fehler detektiert, so muß zur Prüfung, ob ein Längsfehler vorliegt, an der jeweils im konstanten Abstand
folgenden Zeitmarke der Fehler bahnbreitenbezogen an der gleichen
A-G 1384 - 16 -
709839/0216
Stelle innerhalb einer vorgegebenen Toleranz wieder gefunden werden.
Die Benutzung mehrerer Zeitmarken bringt zusätzlich den Vorteil, vor allem bei großen Bahnbreiten (Abtastbreiten) und hohen
Bahngeschwindigkeiten, die Durchgangsgeschwindigkeit der Zeitmarken
klein zu halte- um somit auch die sichere Erkennung auch schmaler und kürzerer Längsfehler zu gewährleisten.
A-G 1384 - 17 -
709839/0216
Claims (6)
- Patentansprüche;/ί Λ Verfahren zur Fehlersuche und zum Erkennen und Orten von v— längsorientierten Fehlern auf laufenden Papier- oder Folienbahnen, insbesondere auf photographischen Materialien, bei dem die Bahn quer zu ihrer Bewegungsrichtung von einem feststehenden Abtastgerät zellenförmig optisch gescannt und in Reflexion abgetastet wird, dessen Abtastzeilenlänge größer oder gleich der zu untersuchenden Materialbahnbreite ist, bei dem von den vom Abtastgerät ausgehenden Momentanwerten, des reflektierten Abtastsignales ein Mittelwert gebildet wird und eine Fehleranzeige nur bei einer Abweichung vom Mittelwert gegeben wird, dadurch gekennzeichnet, daß innerhalb der Abtastzeile elektronisch mindestens eine Zeitmarke gebildet wir#d, die ausgehend von dem einen Ende des Abtastbereiches bei jeder Abtastung um einen konstanten Schritt Tp weitefgeschoben wird, bis das andere Ende des Abtastbereiches (Abtastbereich nTp) erreicht ist und der jeweils an der Zeitmarke erscheinende Momentanwert des reflektierten Abtastsignales über einen aus mehreren Abtastungen bestehenden Abtastzyklus gemittelt wird.
- 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Schrittweite und damit die Gesamtzahl der Schritte innerhalb des Abtastbereiches einstellbar ist.
- 3. Verfahren nach Anspruch 1 bis 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Zeitmarke durch die L-O-Flanke eines Impulses erzeugt wird, der ausgehend von einem Zeilenstartimpuls über ein Zeitglied getriggert wird und die Impulslänge von Abtastzeile zu Abtastzeile um Tp vergrößert wird.
- 4. Verfahren nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein von einem Taktgeber gespeister erster Zähler mit einem zweiten Zähler verglichen wird, dessen Zählerinhalt von Abtastzeile zu Abtastzeile um ein bit erhöht wird und daß bei übereinstimmenden Zählerinhalten ein Flip-Flop gesetzt wird, das die L-O-Flanke des Impulses variabler Längeerzeugt und gleichzeitig der erste Zähler wieder gelöscht wird.
A-G 1384 ' - 18 -709839/0216 - 5. Verfahren nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Scan-Frequenz mit der Frequenz des Taktgebers synchronisiert wird.
- 6. Verfahren, insbesondere nach Anspruch 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß das beim Verschieben der Zeitmarke gefundene Fehlersignal bahnbreitenbezogen (als Funktion der Bahnbreite) gespeichert wird und elektronisch geprüft wird, ob beim nächstfolgenden Durchgang der Zeitmarke innerhalb einer vorgegebenen Toleranz der Fehler an der gleichen Stelle der Bahnbreite wieder auftritt.7· Verfahren nach Anspruch 1 bis 2, dadurch gekennzeichnet, daß innerhalb der Abtastzeile mehrere in konstantem Abstand aufeinanderfolgende Zeitmarken erzeugt werden und für diese Zeitmarken getrennt der Mittelwert gebildet wird und nur dann eine Fehleranzeige erfolgt, wenn der Mittelwert von einem vorgegebenen, dem Untergrundrauschen entsprechenden Wert nacheinander an zwei aufeinanderfolgenden Zeitmarken abweicht.A-G 1584 - 19 -709839/0216
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2611539A DE2611539C3 (de) | 1976-03-18 | 1976-03-18 | Verfahren zum Erkennen und Orten von sich in Längsrichtung einer laufenden Materialbahn erstreckenden Fehlern |
BE1007994A BE852084A (nl) | 1976-03-18 | 1977-03-04 | Werkwijze voor het opsporen van fouten bij voortbewegende materiaalbanen |
US05/777,334 US4118127A (en) | 1976-03-18 | 1977-03-14 | Method of detecting faults in moving webs of materials |
JP2940577A JPS52113792A (en) | 1976-03-18 | 1977-03-18 | Method of detecting defects of moving belt |
GB11556/77A GB1575093A (en) | 1976-03-18 | 1977-03-18 | Method of detecting faults in moving webs of material |
FR7708271A FR2344830A1 (fr) | 1976-03-18 | 1977-03-18 | Procede et appareil de detection des defauts longitudinaux d'une feuille en mouvement |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2611539A DE2611539C3 (de) | 1976-03-18 | 1976-03-18 | Verfahren zum Erkennen und Orten von sich in Längsrichtung einer laufenden Materialbahn erstreckenden Fehlern |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2611539A1 true DE2611539A1 (de) | 1977-09-29 |
DE2611539B2 DE2611539B2 (de) | 1979-06-13 |
DE2611539C3 DE2611539C3 (de) | 1982-09-09 |
Family
ID=5972835
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2611539A Expired DE2611539C3 (de) | 1976-03-18 | 1976-03-18 | Verfahren zum Erkennen und Orten von sich in Längsrichtung einer laufenden Materialbahn erstreckenden Fehlern |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4118127A (de) |
JP (1) | JPS52113792A (de) |
BE (1) | BE852084A (de) |
DE (1) | DE2611539C3 (de) |
FR (1) | FR2344830A1 (de) |
GB (1) | GB1575093A (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2934226A1 (de) * | 1978-08-31 | 1980-03-13 | Tdk Electronics Co Ltd | Vorrichtung zum feststellen eines ausfalls auf einem magnetband fuer ein schraegspur-videobandgeraet |
DE3409557A1 (de) * | 1983-03-15 | 1984-09-20 | Pioneer Electronic Corp., Tokio/Tokyo | System zur feststellung und anzeige von verunreinigungen fuer ein system zum auslesen von informationen |
DE3408106A1 (de) * | 1984-03-05 | 1985-09-12 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch | Optischer rauheits-scanner |
DE3701267A1 (de) * | 1987-01-17 | 1988-07-28 | Achenbach Buschhuetten Gmbh | Planheitsmesseinrichtung fuer bandfoermiges walzgut |
DE3819183A1 (de) * | 1988-06-06 | 1989-12-07 | Sick Optik Elektronik Erwin | Verfahren zur fehlererkennung bei laufenden materialbahnen |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4323311A (en) * | 1979-05-11 | 1982-04-06 | Sira Institute Limited | Apparatus and method for detecting holes in sheet material |
US4286880A (en) * | 1979-07-30 | 1981-09-01 | The Bendix Corporation | Scanning light beam lumber defect position system and method of using same |
US4348114A (en) * | 1979-12-07 | 1982-09-07 | Ciba-Geigy Ag | Method of inspecting coated web material to detect the presence of downlines thereon |
WO1982000357A1 (en) * | 1980-07-24 | 1982-02-04 | Oy Labsystems | Method and apparatus for the measurement of the properties of an agglutination |
DE3212438C2 (de) * | 1982-04-02 | 1984-10-25 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch | Verfahren zur Auswertung der analogen elektrischen Ausgangssignale einer photoelektrischen Lichtempfangsvorrichtung in optischen Bahnabtastvorrichtungen |
GB2125538A (en) * | 1982-08-10 | 1984-03-07 | Glaverbel | Detecting sheet markings |
DE3472300D1 (en) * | 1983-04-22 | 1988-07-28 | Sick Optik Elektronik Erwin | Device for the detection of faults |
US5068799A (en) * | 1985-04-24 | 1991-11-26 | Jarrett Jr Harold M | System and method for detecting flaws in continuous web materials |
DE3534018A1 (de) * | 1985-09-24 | 1987-04-02 | Sick Optik Elektronik Erwin | Optische bahnueberwachungsvorrichtung |
SE456532B (sv) * | 1985-10-18 | 1988-10-10 | Asea Ab | Arrangemang for ytavsokning av ett provobjekt |
JPH01143945A (ja) * | 1987-11-30 | 1989-06-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | テープ欠陥検出方法 |
DE3816392A1 (de) * | 1988-05-13 | 1989-11-23 | Ver Glaswerke Gmbh | Verfahren zur bestimmung der optischen qualitaet von flachglas oder flachglasprodukten |
US5589940A (en) * | 1994-12-21 | 1996-12-31 | Hughes Electronics | Apparatus for measuring the curvature of a surface using moveable reflecting and focusing elements |
EP0816825A3 (de) * | 1996-06-26 | 1998-08-12 | Toshiba Engineering Corporation | Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion von Streifen |
JP3373367B2 (ja) * | 1996-08-09 | 2003-02-04 | 松下電器産業株式会社 | 3次元計測装置及び3次元計測方法 |
DE10019274C1 (de) * | 2000-04-19 | 2001-08-09 | Agfa Gevaert Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Visualisierung von Oberflächenfehlern einer Filmbahn |
CN105606622B (zh) * | 2016-03-21 | 2019-09-03 | 广州视源电子科技股份有限公司 | 一种aoi图像采集方法和装置 |
CN113752090B (zh) * | 2021-07-15 | 2023-04-07 | 德铧恩特工业自动化技术(上海)有限公司 | 切断机中缺陷工件移出切断位置的判断方法及*** |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3061731A (en) * | 1959-12-22 | 1962-10-30 | Feldmuhle Papier Und Zellsloff | Apparatus for detecting optically ascertainable imperfections on sheet material |
DE1154656B (de) * | 1961-05-31 | 1963-09-19 | Licentia Gmbh | Photoelektrische Oberflaechenabtastvorrichtung laufender Bahnen |
DE2446114A1 (de) * | 1973-09-28 | 1975-04-10 | Kawasaki Steel Co | System zur bestimmung der querlage von schadstellen an ablaufenden baendern |
DE2363422A1 (de) * | 1973-12-20 | 1975-06-26 | Agfa Gevaert Ag | Verfahren und vorrichtung zur ermittlung von laengsfehlern auf bewegten materialbahnen |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3510664A (en) * | 1968-01-08 | 1970-05-05 | Gaf Corp | Automatic laser beam scanning film flaw detector |
JPS5213952B2 (de) * | 1972-07-31 | 1977-04-18 | ||
US4011457A (en) * | 1975-08-06 | 1977-03-08 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Web defect monitor for abrupt changes in web density |
-
1976
- 1976-03-18 DE DE2611539A patent/DE2611539C3/de not_active Expired
-
1977
- 1977-03-04 BE BE1007994A patent/BE852084A/xx unknown
- 1977-03-14 US US05/777,334 patent/US4118127A/en not_active Expired - Lifetime
- 1977-03-18 JP JP2940577A patent/JPS52113792A/ja active Pending
- 1977-03-18 FR FR7708271A patent/FR2344830A1/fr active Granted
- 1977-03-18 GB GB11556/77A patent/GB1575093A/en not_active Expired
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3061731A (en) * | 1959-12-22 | 1962-10-30 | Feldmuhle Papier Und Zellsloff | Apparatus for detecting optically ascertainable imperfections on sheet material |
DE1154656B (de) * | 1961-05-31 | 1963-09-19 | Licentia Gmbh | Photoelektrische Oberflaechenabtastvorrichtung laufender Bahnen |
DE2446114A1 (de) * | 1973-09-28 | 1975-04-10 | Kawasaki Steel Co | System zur bestimmung der querlage von schadstellen an ablaufenden baendern |
DE2363422A1 (de) * | 1973-12-20 | 1975-06-26 | Agfa Gevaert Ag | Verfahren und vorrichtung zur ermittlung von laengsfehlern auf bewegten materialbahnen |
DE2363422B2 (de) * | 1973-12-20 | 1976-04-15 | Agfa-Gevaert Ag, 5090 Leverkusen | Verfahren und vorrichtung zur ermittlung von laengsfehlern auf bewegten materialbahnen |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2934226A1 (de) * | 1978-08-31 | 1980-03-13 | Tdk Electronics Co Ltd | Vorrichtung zum feststellen eines ausfalls auf einem magnetband fuer ein schraegspur-videobandgeraet |
DE3409557A1 (de) * | 1983-03-15 | 1984-09-20 | Pioneer Electronic Corp., Tokio/Tokyo | System zur feststellung und anzeige von verunreinigungen fuer ein system zum auslesen von informationen |
DE3408106A1 (de) * | 1984-03-05 | 1985-09-12 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch | Optischer rauheits-scanner |
DE3701267A1 (de) * | 1987-01-17 | 1988-07-28 | Achenbach Buschhuetten Gmbh | Planheitsmesseinrichtung fuer bandfoermiges walzgut |
DE3819183A1 (de) * | 1988-06-06 | 1989-12-07 | Sick Optik Elektronik Erwin | Verfahren zur fehlererkennung bei laufenden materialbahnen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2611539B2 (de) | 1979-06-13 |
GB1575093A (en) | 1980-09-17 |
DE2611539C3 (de) | 1982-09-09 |
FR2344830A1 (fr) | 1977-10-14 |
FR2344830B1 (de) | 1982-07-02 |
BE852084A (nl) | 1977-09-05 |
JPS52113792A (en) | 1977-09-24 |
US4118127A (en) | 1978-10-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2611539A1 (de) | Verfahren zur fehlersuche bei bewegten materialbahnen | |
DE2428123C2 (de) | Anordnung zum Nachweisen von Fehlstellen eines mittels eines Laserstrahls abgetasteten Materials | |
DE2436110C3 (de) | Vorrichtung zur Feststellung von Herstellungsfehlern in einer bewegten Materialbahn | |
DE19960653B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung für die Detektion oder Lagebestimmung von Kanten | |
DE3446355C2 (de) | Optisches Fehlersuchgerät | |
DE2244340C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Vorprüfung von Kopiervorlagen | |
DE1523231B2 (de) | Meßvorrichtung für die Drehzahl und die Winkelstellung einer Welle | |
DE2847610C2 (de) | ||
DE2847619C2 (de) | ||
DE1909294A1 (de) | Verfahren zum Messen der Laenge eines Gegenstandes bzw.der Dicke eines Drahtes,Anordnung und Schaltungsanordnung zur Durchfuehrung des Verfahrens | |
DE2258158C3 (de) | Schaltungsanordnung für einen Detektor zum Feststellen von Fehlern in einer bewegten Materialbahn | |
DE2436510C3 (de) | Vorrichtung zur Bestimmung der Lage eines gegenüber einer Skala beweglichen Bauteils | |
DE2241263A1 (de) | Ueberwachungseinrichtung fuer die oberflaeche sich bewegender gegenstaende | |
DE2904435C3 (de) | Lochsuchgerät für Materialbahnen | |
DE2363422C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung von Längsfehlern auf bewegten Materialbahnen | |
DE2718086A1 (de) | Vorrichtung zur feststellung von oberflaechenfehlern von stahlstuecken | |
DE2363422A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur ermittlung von laengsfehlern auf bewegten materialbahnen | |
DE1297005B (de) | Lichtvorhang aus einer Mehrzahl von aneinander angrenzend angeordneten Lichtvorhangeinheiten | |
DE1296822B (de) | Vorrichtung zur laufenden UEberwachung von Papier, Pappe, Folien oder sonstigen bahn- oder blattfoermigen Erzeugnissen auf optisch erkennbare Abweichungen (Fehlerstellen) | |
DE3325126C1 (de) | Oberflächenabtastvorrichtung | |
DE2064959C3 (de) | Elektronische Auswerteeinrichtung, welche von einer fotoelektrischen Abtastvorrichtung, die zur Fehlerabtastung von Materialoberflächen verwendet wird, ein Ausgangssignal erhält | |
DE2522988A1 (de) | Schaltungsanordnung zur feststellung von fehlern | |
DE1524627C (de) | Vorrichtung zur automatischen Prüfung und Zählung von Banknoten | |
DE1797327B1 (de) | Geraet zur messung des optischen reflexionsvermoegens bzw der durchlaessigkeit | |
DE1251981B (de) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OD | Request for examination | ||
BF | Willingness to grant licences | ||
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |