DE2540765A1 - Testing device for printed circuit boards - has plug board for tested circuit, test signal generators, and display units connections - Google Patents
Testing device for printed circuit boards - has plug board for tested circuit, test signal generators, and display units connectionsInfo
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- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
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Abstract
Description
Anordnung zum Prüfen von Schaltungsanordnungen, insbesondere von mit einer Steckkontaktleiste versehenen Leiterplatten Die Erfindung betrifft eine Anordnung zum Prüfen von elektrischen Baugruppen, insbesondere von mit einer Steckerleiste versehenen Leiterplatten, mit Steckkontakten zum Anschluß der zu prüfenden Schaltungsanordnung und mit Prüfsignalgebern und Anzeigeeinheiten, die mit den Steckkontakten für den Prüfling verbindbar sind.Arrangement for testing circuit arrangements, in particular with printed circuit boards provided with a plug contact strip The invention relates to an arrangement for testing electrical assemblies, in particular with a connector strip provided circuit boards, with plug contacts for connecting the circuit arrangement to be tested and with test signal generators and display units that are connected to the plug-in contacts for the DUT are connectable.
Schaltungsanordnungen werden im allgemeinen in der Weise geprüft, daß ihre Eingänge einzeln mit Prüfsignalgebern und ihre Ausgänge mit Anzeigeeinheiten verbunden werden. Die Prüfsignalgeber können Tasten, Schalter, Impulsgeber usf. sein. Die Anzeigeeinheiten sind im allgemeinen Glühlampen, Zeiger- oder Digitalinstrumente und dergleichen. Zur Funktionsprüfung werden die Prüfsignalgeber wahlweise auf die zu prüfende Anordnung geschaltet und die Verarbeitung der eingegebenen Prüfsignale mit Hilfe der Anzeigeeinheiten festgestellt. Die bekannten Anordnungen haben den Nachteil, daß die zur Funktionsprüfung notwendige Zuordnung zwischen den Kontakten des Prüflings und den Prüfsignalgebern sowie den Anzeigeeinheiten über beidseitig mit Bananensteckern versehene flexible Leitungen hergestellt werden muß. Mit jedem Wechsel des Typs der zu prüfenden Schaltung müssen auch die Leitungen neu gesteckt werden. Dieser Nachteil wirkt sich vor allem während der Inbetriebnahme einer Anlage störend aus.Circuit arrangements are generally tested in such a way that that their inputs individually with test signal generators and their outputs with display units get connected. The test signal generators can use buttons, switches, pulse generators, etc. be. The display units are generally incandescent, pointer or digital instruments and the same. For a functional test, the test signal generators are optionally set to the The arrangement to be tested is switched and the processing of the input test signals determined with the aid of the display units. The known arrangements have the Disadvantage that the function test necessary assignment between the contacts of the test item and the test signal generators as well as the display units on both sides flexible lines provided with banana plugs must be produced. With everybody Changing the type of circuit to be tested also means plugging the lines again will. This disadvantage affects especially during the commissioning of a system disturbing.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Schaltungsanordnung zum Prüfen von elektrischen Baugruppen zu schaffen, mit der die Zuordnung der Kontakte des Prüflings zu den Prüfsignalgebern und den Anzeigeeinrichtungen vereinfacht ist.The present invention is based on the object of a circuit arrangement To create the testing of electrical assemblies, with which the assignment of the contacts of the test object to the test signal generators and the display devices is simplified.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß Steckkontakte vorgesehen sind, die teils mit den Steckkontakten für den Prüfling, teils mit den Ausgängen der Prüfsignalgeber und teils mit den Anzeige einheiten verbunden sind und in die eine Verknüpfungsschaltung steckbar ist, in der sie derart miteinander verbunden sind, daß bei eingesteckter Verknüpfungsschaltung die Prüflings-Steckkontakte an Prüfsignalgeber und an Anzeigeeinheiten sowie gegebenenfalls Anzeigeeinheiten an Prüfsignalgeber angeschlossen sind. Die erfindungsgemäße Anordnung besteht demnach im wesentlichen aus einer Baueinheit, die Steckkontakte aufweist, in die der Prüfling gesteckt werden kann. Die Einheit enthält ferner Prüfsignalgeber, wie Tasten, Schalter, Impulsgeber und dergleichen, sowie Anzeigeeinheiten, z. B. über Verstärker gesteuerte Glühlampen. Verknüpfungssteckkontakte sind mit den Kontakten für den Prüfling, den Prüfsignalgebern und den Anzeigeeinheiten verbunden. In diese Kontakte, die zweckmäßig von einer Buchsenleiste gebildet werden, können Verknüpfungsschaltungen gesteckt werden, die im wesentlichen Kurzschlußstecker darstellen, indem sie Verknüpfungskontakte miteinander verbinden. Jedem zu prüfenden Baugruppentyp kann eine Verknüpfungsschaltung zugeordnet sein. Bei einem Wechsel des zu prüfenden Baugruppentyps brauchen nur die entsprechenden Verknüpfungsschaltungen ausgewechselt werden.According to the invention this object is achieved in that plug contacts are provided, some with the plug contacts for the Test item, partly with the outputs of the test signal generator and partly with the display units are connected and into which a logic circuit can be plugged, in which they are so are interconnected that when the logic circuit is plugged in, the DUT plug-in contacts on test signal transducers and on display units and, if applicable, display units are connected to test signal transducers. The arrangement according to the invention therefore exists essentially from a structural unit which has plug contacts into which the test object can be plugged. The unit also contains test signal transmitters, such as buttons, switches, Pulse generator and the like, as well as display units, e.g. B. controlled via amplifier Lightbulbs. Linking plug contacts are with the contacts for the device under test, the Test signal generators and the display units connected. In these contacts that expedient are formed by a socket strip, logic circuits can be plugged that are essentially short-circuiting plugs by making linking contacts connect with each other. A logic circuit can be assigned to each module type to be tested be assigned. When changing the module type to be tested, only the corresponding logic circuits are exchanged.
Die Verknüpfungsschaltungen können in der Weise aufgebaut sein, daß die Kontaktstifte von Steckern unmittelbar über Drähte miteinander verbunden sind. Die Steckerstifte können auch über die Leiterbahnen von Leiterplatten miteinander verbunden sein. Eine besonders vielseitig einsetzbare Verknüpfungsanordnung erhält man, wenn diese nach Art eines Kreuzschienenverteilers aufgebaut ist.The logic circuits can be constructed in such a way that the contact pins of plugs are directly connected to one another by wires. The connector pins can also be connected to one another via the conductor tracks of printed circuit boards be connected. A particularly versatile link arrangement is given one, if this is constructed in the manner of a crossbar distributor.
Dessen Zeilenleitungen können z. B. an die Kontakte für den Prüfling und die Spaltenleitungen an die Prüfsignalgeber und die Anzeigeeinrichtungen angeschlossen sein.Whose row lines can, for. B. to the contacts for the test item and the column lines are connected to the test signal generators and the display devices be.
Die Verknüpfungsschaltung braucht nicht aus einem einzigen Bauteil bestehen, sie kann sich aus zwei oder mehr Bauteilen zusammensetzen, die jeweils in eine Steckverbindung gesteckt werden.The logic circuit does not need to consist of a single component consist, it can be composed of two or more components, each be plugged into a connector.
Bei einer Zweiteilung können die Steckkontakte für den Prüfling in der einen Baugruppe mit den Prüfsignalgebern und in der anderen Baugruppe mit den Anzeigeeinheiten verbunden werden.In the case of a division into two, the plug-in contacts for the test item can be divided into one module with the test signal transducers and the other module with the Display units are connected.
Anhand der Zeichnung, in der Ausführungsbeispiele gezeigt sind, werden im folgenden die Erfindung sowie weitere Vorteile und Ergänzungen näher beschrieben und erläutert.Based on the drawing, in which exemplary embodiments are shown, are in the following the invention and further advantages and additions are described in more detail and explained.
Es zeigen Figur 1 das Prinzipschaltbild eines Ausführungsbeispiels und Figur 2 eine Abwandlung der Anordnung nach Figur 1.FIG. 1 shows the basic circuit diagram of an exemplary embodiment and FIG. 2 shows a modification of the arrangement according to FIG. 1.
In Figur 1 ist mit 1 eine mit einer Leiterplatte hergestellte elektronische Baugruppe bezeichnet, die bestimmte Funktionen erfüllen soll. Ihre Ein- und Ausgangsleitungen sind über eine Stekkerlelste 2 geführt, mit der sie in einen Rahmen gesteckt werden kann, über diesen mit anderen Baugruppen verbunden ist und so Teil eines Gerätes oder einer Anlage bilden kann. Vor der Betriebnahme eines solchen Gerätes oder einer Anlage oder im Störungsfalle müssen die Baugruppen unter Umständen einzeln geprüft werden. Figur 1 zeigt die Schaltung eines hierzu geeigneten Prüfgerätes. Es besteht im wesentlichen aus zwei Teilen, dem gestrichelt gezeichneten Hauptteil 3, in das eine Verknüpfungsschaltung 4 gesteckt werden kann. Das Teil 3 enthält Buchsenleisten 5a, 5b und 5c, in welche zu prüfende Baugruppen gesteckt werden können. Die Buchsenleisten sind entsprechend den verschiedenen gebräuchlichen Steckverbindungen unterschiedlich. Im Beispiel nach Figur 1 paßt zur Stekkerleiste 2 die Buchsenleiste 5b. Sämtliche Kontakte der Buchsenleiste 5a, 5b und 5c sind auf Kontakte einer Buchsenleiste 6 geführt. Dabei können Kontakte der Leiste 5a mit denen der Leiste 5b sowie denen der Leiste 5c verbunden sein. Weitere Kontakte der Buchsenleiste 6 sind an die Ausgänge von Prüfsignalgebern 11 angeschlossen. Diese Prüfsignalgeber sind z. B. Tasten, Schalter, Impulsgeber. Ferner liegen an Kontakten der Buchsenleiste 6 über Verstärker 8 angesteuerte Anzeigeeinheiten 9. In die Buchsenleiste 6 ist mittels einer Steckerleiste 7 die Verknüpfungsschaltung 4 gesteckt. Im Ausführungsbeispiel ist die Verknüpfungsschaltung nach Art eines Kreuzschienenverteilers ausgebildet. In zwei elektrisch voneinander getrennten Ebenen kreuzen sich zeilen- und spaltenweise verlaufende Leitungen. Die stärker gezeichneten Teilen leitungen sollen in einer oberen Ebene, die schwächer gezeichneten Spaltenleitungen in einer tiefer gelegenen Ebene verlaufen.In Figure 1, 1 is an electronic manufactured with a printed circuit board Designates assembly that is supposed to fulfill certain functions. Your input and output lines are guided over a plug-in element 2 with which they are inserted into a frame connected to other assemblies and thus part of a device or a plant. Before operating such a device or a System or in the event of a malfunction, the assemblies may have to be checked individually will. FIG. 1 shows the circuit of a test device suitable for this purpose. It exists essentially of two parts, the main part 3 shown in dashed lines, into the a logic circuit 4 can be plugged. Part 3 contains female headers 5a, 5b and 5c, into which assemblies to be tested can be plugged. The female headers are different according to the various plug connections in use. In the example according to FIG. 1, the socket strip 5b fits the plug strip 2. All Contacts of the socket strip 5a, 5b and 5c are on contacts of a socket strip 6 guided. Contacts of the bar 5a with those of the bar 5b as well as those be connected to the bar 5c. Further contacts of the socket strip 6 are connected to the outputs of test signal generators 11 connected. These test signal generators are z. B. buttons, Switch, pulse generator. Furthermore, there are contacts on the socket strip 6 via amplifiers 8 controlled display units 9. In the socket strip 6 is by means of a plug strip 7 the logic circuit 4 inserted. In the exemplary embodiment is the logic circuit designed in the manner of a crossbar distributor. In two electrically from each other Lines running in rows and columns cross each other on separate levels. the More heavily drawn parts lines should be in an upper level, which is weaker drawn Column lines run in a lower level.
An den Kreuzungspunkten können die sich kreuzenden Leitungen mittels Stöpsel verbunden werden. Die Kontaktstifte, die mit den Steckverbindungen 5a, 5b und 5c für die zu prüfenden Schaltungen verbunden sind, sind an die Zeilenleitungen geführt. An den Spaltenleitungen liegen die Prüfsignalgeber und die Anzeigeeinrichtungen.At the crossing points, the crossing lines can be reached by means of Plug to be connected. The contact pins with the plug connections 5a, 5b and 5c for the circuits under test are connected to the row lines guided. The test signal generators and the display devices are located on the column lines.
Auf diese Weise kann jeder Impulsgeber mit jedem Kontaktstift der Buchsenreihen 5a, 5b und 5c sowie mit jeder Anzeigeeinheit verbunden werden. Für jeden Typ der zu prüfenden Baugruppen ist eine Verknüpfungsschaltung 4 herzustellen. Zur Prüfung eines neuen Typs werden die Verknüpfungsschaltungen ausgewechselt.In this way, each pulse generator can work with each contact pin of the Socket rows 5a, 5b and 5c and connected to each display unit. For A logic circuit 4 must be established for each type of assembly to be tested. The logic circuits are exchanged to test a new type.
Sämtliche Kontakte der Buchsenleiste 6 sind mit einzeln steckbaren Buchsen 10 verbunden, so daß in Sonderfällen die zu prüfende Baugruppe 1 auch über an beiden Enden mit Bananensteckern versehene flexible Leitungen an die Prüfsignalgeber und die Anzeigeeinrichtungen angeschlossen werden kann. Die Prüfanordnung ist zum Prüfen mit digitalen und analogen Signalen geeignet.All contacts of the socket strip 6 can be plugged in individually Sockets 10 connected so that in special cases the assembly to be tested 1 also has Flexible cables with banana plugs at both ends to the test signal transmitter and the display devices can be connected. The test arrangement is for Suitable for testing with digital and analog signals.
In Figur 2 ist mit 5 wieder die Buchsenleiste zum Anschluß eines Prüflings bezeichnet. Die Kontakte dieser Buchsenleiste sind mit Kontakten einer Buchsenleiste 6a und einer weiteren Leiste 6b verbunden. An der Buchsenleiste 6a liegen ferner die Prüfsignalgeber 11. Die von der Leiste 5 kommenden Leitungen sind über eine Stekkerleiste 7a als Zeilenleitungen in eine Verknilpfungsschaltung 4a geführt, während die Ausgangssignale der Prüfsignalgeber 11 Spaltenleitungen zugeführt sind. In die Buchsenleiste 6b ist eine Verknüpfungsschaltung 4b mit einem Stecker 7b gesteckt. Diese enthält einen Kreuzschienenverteiler, dessen Zeilenleitungen wieder mit den Kontakten der Buchsenleiste 5 verbunden sind und an dessen Spaltenleitungen über die Steckverbindung 6b, 7b die Verstärker 8 für die Anzeigeeinheiten angeschlossen sind. Die Verknüpfungsschaltung 4 der Anordnung nach Figur 1 ist somit in der Anordnung nach Figur 2 in zwei Verknüpfungsschaltungen 4a und 4b aufgeteilt, die entsprechend kleiner sind.In Figure 2, 5 is again the socket strip for connecting a test object designated. The contacts of this socket strip are with contacts of a socket strip 6a and another bar 6b connected. On the socket strip 6a are also located the test signal generator 11. The lines coming from the bar 5 are via a Connector strip 7a led as row lines into a link circuit 4a, while the output signals of the test signal generator 11 are supplied to column lines. A logic circuit 4b with a plug 7b is plugged into the socket strip 6b. This contains a crossbar distributor, the row lines of which are again connected to the Contacts of the female connector 5 are connected and on its column lines via the plug connection 6b, 7b connected the amplifier 8 for the display units are. The logic circuit 4 of the arrangement according to FIG. 1 is thus in the arrangement after Figure 2 divided into two logic circuits 4a and 4b, which are correspondingly smaller are.
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DE19752540765 DE2540765A1 (en) | 1975-09-12 | 1975-09-12 | Testing device for printed circuit boards - has plug board for tested circuit, test signal generators, and display units connections |
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DE19752540765 DE2540765A1 (en) | 1975-09-12 | 1975-09-12 | Testing device for printed circuit boards - has plug board for tested circuit, test signal generators, and display units connections |
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DE2540765A1 true DE2540765A1 (en) | 1977-03-17 |
Family
ID=5956340
Family Applications (1)
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DE19752540765 Withdrawn DE2540765A1 (en) | 1975-09-12 | 1975-09-12 | Testing device for printed circuit boards - has plug board for tested circuit, test signal generators, and display units connections |
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DE (1) | DE2540765A1 (en) |
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1975
- 1975-09-12 DE DE19752540765 patent/DE2540765A1/en not_active Withdrawn
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