DE2512661C3 - Circuit arrangement for telecommunications switching systems, in particular telephone switching systems, with test and occupancy circuits - Google Patents
Circuit arrangement for telecommunications switching systems, in particular telephone switching systems, with test and occupancy circuitsInfo
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Description
schalten« mindestens 40 Millisekunden nach erfolgter Belegung bzw. »Sperren« gegen Neubelegung, sofern die betreffende Schalteinrichtung U sich im Ruhezu stand befindet und vorlaufig nicht belegbar sein soll.switch « at least 40 milliseconds after occupancy or» lock «against new occupancy, provided that the relevant switching device U is in the idle state and should not be able to be assigned for the time being.
Im Ruhezustand der Schalteinrichtung üliegt von der gemeinsamen Steuerung G her über nicht gezeigte Vorwiderstände und über den Stromkreis ζ 2 Minuspotential an der Basis des Transistors 73, sofern die Schalteinrichtung U belegbar sein soll. Das Pluspotontial von 5 Volt am Widerstand R 1 wird durch das von der gemeinsamen Steuerung G zugeführte Minuspotential unwirksam gemacht. Wenn die Schalteinrichtung U im Ruhezustand belegbar ist, ist der Transistor 73 stromdurchlässig. Über die Widerstände /?2 und R 3 liegt Erdpotential an der Basis des Transistors 71 und der Basis des Transistors 72. Über die Emitter-Bas,is-Strecke jedes dieser beiden Transistoren fließt ein relativ geringer Ruhestrom. Diese beiden Transistoren sind dadurch für eine Durchschaltung eines Prüf- und Belegungsstromkreises vorbereitet. When the switching device is in the idle state, there is a negative potential at the base of the transistor 73 from the common control G via series resistors (not shown) and via the circuit ζ 2, provided that the switching device U is to be assignable. The plus potential of 5 volts at the resistor R 1 is rendered ineffective by the minus potential supplied by the common controller G. If the switching device U can be assigned in the idle state, the transistor 73 is current-permeable. Ground potential is applied to the base of transistor 71 and the base of transistor 72 via resistors /? 2 and R 3. A relatively low quiescent current flows through the emitter-base, is path of each of these two transistors. These two transistors are prepared for a through-connection of a test and occupancy circuit.
Der Transistor 74 ist im Ruhezustand der Schalteinrichtung Udurch das von der gemeinsamen Steuerung G zugeführte Minuspotential gesperrt, sofern die Schalteinrichtung L/belegbarist. When the switching device U is in the idle state, the transistor 74 is blocked by the negative potential supplied by the common controller G , provided that the switching device L / can be assigned.
Ebenfalls ist in diesem Schaltzustand der Transisnor 75 gesperrt, und zwar durch das an seiner Basis über die Widerstände R 4 und R 5 anliegende Pluspotential von 5 Volt. Da an Basis und Emitter des Transistors 76 im Ruhezustand gleiches Potential (Minuspotential von 60 Volt) anliegt, ist auch dieser Transistor im Ruhezustand stromundurchlässig.In this switching state, the transistor 75 is also blocked, namely by the positive potential of 5 volts applied to its base via the resistors R 4 and R 5. Since the same potential (negative potential of 60 volts) is applied to the base and emitter of the transistor 76 in the idle state, this transistor is also impermeable to current in the idle state.
Wird im Zuge eines Freiwahlvorganges des Wählers W sein Prüfrelais P über den Prüfschaltarm c mit dem Prüfpunkt PP der Schalteinrichtung U verbunden, so kommt ein Prüf- und Belegungsstromkreis zustande, der über die Wicklungen I und II des Prüf relais P, die Widerstände R6,R7 und R 9 und über die Parallelschaltung der beiden Transistoren 71 und 72 verläuft, wobei in Reihe mit dem Transistor 72 noch der weitere Widerstand /?8 geschaltet ist. Der am Widerstand R 7 auftretende Spannungsabfall wird von einem Vergleicher Verkannt, der ein bis dahin über seinen Ausgang ν iibgegebenes Ausgangssignal in Form von plus 1 Volt gegen ein Ausgangssignal von minus 11 Volt vertauscht. Dadurch wird über den Stromkreis ζ 1 die erfolgte Belegung zur gemeinsamen Steuerung G hin signalisiert. Der Vergleicher Vreagiert auf den am Widerstand Rl auftretenden Spannungsabfall mit einer Verzögerung, die groß genug ist. um kurzzeitige Störimpulse zu ignorieren.If, in the course of a free selection process of the selector W, his test relay P is connected via the test switch arm c to the test point PP of the switching device U , a test and occupancy circuit is established, which via the windings I and II of the test relay P, the resistors R6, R7 and R 9 and runs via the parallel connection of the two transistors 71 and 72, the further resistor / 8 being connected in series with transistor 72. The voltage drop occurring at the resistor R 7 is misunderstood by a comparator, which exchanges an output signal in the form of plus 1 volt that had been given up to that point via its output ν for an output signal of minus 11 volts. As a result, the completed assignment to the common control G is signaled via the circuit ζ 1. The comparator V reacts to the voltage drop occurring across the resistor Rl with a delay that is long enough. to ignore brief glitches.
Durch das vom Vergleicher Vüber seiner. Ausgang ν abgegebene Ausgangssignal von minus 11 Volt wird außerdem ein Stromkreis über die Widerstände R 10, /?5 und R4 eingeschaltet. Hierin liegt eine Vorbereitung dafür, den Transistor 75 stromdurchlässig zu schalten, was weiter unten beschrieben wird.By that of the comparator V about his. Output ν emitted output signal of minus 11 volts, a circuit is also switched on via the resistors R 10, /? 5 and R 4. This is a preparation for switching transistor 75 through, which is described further below.
In dem über den Prüfpunkt PP verlaufenden Prüf- und Belegungsstromkreis spricht das Prüfrelais P des Wählers W an. Es schließt seinen Kontakt Ip und schließt dadurch seine höherohmige Wicklung Il kurz. Es bleibt über seine Wicklung I weiterhin erregt. Über seinen Kontakt Ip und seine Wicklung I liegt nunmehr Erdpotential relativ niederohmig am Prüfpunkt PP der Schalteinrichtung U. Dadurch werden weitere Wähler gehindert, in Freiwahl auf die belegte und durch das Ansprechen des Prüfrelais P bereits gesperrte Schalteinrichtung U aufzuprüfen. Die durch das Ansprechen des Prüf relais P ferner bewirkte Stromerhöhung u. a. im Widerstand R7 hat an diesem eine Erhöhung des Spannungsabfalles zur Folge, die auf den Vergleicher V jedoch keinen Einfluß haben. Etwa 40 Millisekunden nachdem der Vergleicher V In the test and occupancy circuit running through test point PP , test relay P of selector W responds. It closes its contact Ip and thereby short-circuits its higher-resistance winding II. It remains excited through its winding I. Via its contact Ip and its winding I, ground potential is now relatively low at the test point PP of the switching device U. This prevents further voters from freely checking the occupied switching device U, which has already been blocked by the response of the test relay P. The increase in current caused by the response of the test relay P , among other things, in the resistor R7 results in an increase in the voltage drop at the latter, which has no influence on the comparator V, however. About 40 milliseconds after the comparator V
s über seinen Ausgang ν und über den Stromkreis ζ 1 die eingangsseitige Belegung der Schalteinrichtung U an die gemeinsame Steuerung G signalisiert hat, schaltet diese das über den Stromkreis ζ 2 bib dahin angeschaltete Minuspotential ab. Nunmehr vermag sich dass has signaled the input-side occupancy of the switching device U to the common controller G via its output ν and via the circuit ζ 1 , this switches off the negative potential connected to it via the circuit ζ 2 bib. Now that can be done
ίο Pluspotential von 5 Volt über den Widerstand R1 durchzusetzen, Dadurch wird der Transistor 73 stromundurchlässig. Infolgedessen werden auch die Transistoren 71 und 72 stromundurchlässig. Durch das Pluspotential von 5 Volt über den Widerstand R 1 wird jedoch der Transistor 74 stromdurchlässig. Er schaltet Erdpotential an den Verbindungspunkt zwischen den beiden Widerständen A4 und R5. Infolgedessen stellt sich am Verbindungspunkt der beiden Widerstände R 5 und R 10 negatives Teilpotentia! ein, durch welches der Transistor 75 stromdurchlässig geschaltet wird. Dadurch wird der aus den Widerständen RW und R 12 gebildete Spannungsteiler eingeschaltet, an dessen Spannungsteilermittelpunkt ein negatives Teilpotential entsteht, durch welches der Transistor 76 stromdurchlässig geschaltet wird. Der zunächst über die Transistoren 71 und 72 verlaufende Belegungsstromkreis verläuft nunmehr nicht mehr über diese, sondern über die Widerstände R 13 und R 14. Durch die Kondensatoren CX und C2 ist dafür gesorgt, daß bei den zuletzt beschriebenen Vorgängen die Transistoren 71 und 72 mit einer gewissen Verzögerung nach dem Transistor 73 stromundurchlässig werden, so daß der über den Widerstand R 9 verlaufende beschriebene Belegungsstromkreis erst unterbrochen wird, wenn der BeIe- gungs-Haltestromkreis über die Widerstände R 13 und R 14 mittels des Transistors 76 durchgeschaltet worden ist. Dadurch wird sichergestellt, daß in dem über den Prüfpunkt P verlaufenden Prüf- und Belegungsstromkreis keine Unterbrechung eintritt.ίο enforce positive potential of 5 volts via resistor R 1, as a result of which transistor 73 becomes current-impermeable. As a result, the transistors 71 and 72 also become current-impermeable. However, due to the positive potential of 5 volts across the resistor R 1, the transistor 74 becomes current-permeable. It switches earth potential to the connection point between the two resistors A4 and R5. As a result, there is a negative partial potential at the connection point of the two resistors R 5 and R 10! a, through which the transistor 75 is switched to be conductive. As a result, the voltage divider formed from the resistors RW and R 12 is switched on, at the voltage divider center point of which a negative partial potential arises, through which the transistor 76 is switched to be conductive. The occupancy circuit initially running through the transistors 71 and 72 no longer runs through them, but through the resistors R 13 and R 14. The capacitors CX and C2 ensure that the transistors 71 and 72 with a certain delay after the transistor 73 become current-impermeable, so that the described occupancy circuit running via the resistor R 9 is only interrupted when the supply holding circuit has been switched through the resistors R 13 and R 14 by means of the transistor 76. This ensures that there is no interruption in the test and occupancy circuit running via test point P.
Durch diese Umschaltung des über den Prüfpunkt PP verlaufenden Prüf- und Belegungsstromkreises von seinem über die Transistoren 71 und 72 verlaufenden Abschnitt auf den über den Transistor 76 verlaufenden Abschnitt wird der Gesamtwiderstand zwischen dem Prüfpunkt PP und der Minusspannung erhöht. Durch diesen auch als »Hochohmigsehalten« des Belegungsstromkreises bezeichneten Schaltvorgang wird die Sperrsicherheit der Schalteinrichtung L/erhöht, d. h. die Sicherheit dafür, daß kein anderer Wähler mehr auf den belegten und gesperrten Belegungsstromkreis der Schalteinrichtung iiaufprüfen kann.This switchover of the test and occupancy circuit running via the test point PP from its section running via the transistors 71 and 72 to the section running via the transistor 76 increases the total resistance between the test point PP and the negative voltage. This switching process, also known as "high resistance" of the occupancy circuit, increases the locking security of the switching device L /, ie the security that no other voter can check the occupied and blocked occupancy circuit of the switching device.
Durch die beschriebene Umschaltung des Belegungsstromkreises von seinem Verlauf über den Widerstand R 9 auf den Verlauf über die Widerstände R 13 und R 14 wird ferner der dem Vergleicher V zugeführte Spannungsabfall noch erhöht. Dadurch wird der Prüf- und Belegungsstromkreis während der Dauer der ihm entsprechenden durchgeschalteten Verbindung gegenüber Störungen durch induzierte oder kapazitiv übertragene Fremdspannungen gesichert. Ferner wird die Sperrsicherheit gegen Doppelprüfen erhöht und der Stromverbrauch vermindert.As a result of the described switching of the occupancy circuit from its course via the resistor R 9 to the course via the resistors R 13 and R 14, the voltage drop supplied to the comparator V is further increased. As a result, the test and occupancy circuit is protected against interference from induced or capacitively transmitted external voltages for the duration of the connected connection that corresponds to it. Furthermore, the blocking security against double checking is increased and the power consumption is reduced.
Wird der Prüf- und Belegungsstromkreis vom vorgeordneten Wähler her aufgetrennt, also die ihm entsprechende Verbindung ausgelöst, so werden u. a. die Widerstände R 7 und R 13 stromlos. Der an ihnen bis dahin vorhandene Spannungsabfall entfällt. Der Vergleicher V schaltet das bis dahin über seinen Ausgang ν If the test and occupancy circuit is disconnected from the upstream selector, ie if the connection corresponding to it is triggered, the resistors R 7 and R 13, among other things, are de-energized. The voltage drop present on them up to that point does not apply. Until then, the comparator V switches this via its output ν
abgegebene Signal von minus 11 Volt wieder ab und legt statt dessen das breite erwähnte Potential von plus 1 Volt an. Dadurch wird über den Stromkreis ζ 1 zur gemeinsamen Steuerung G signalisiert, daß die Schalteinrichtung Uvom vorgeordneten Wähler her ausgelöst worden ist. Die gemeinsame Steuerung G veranlaßt nun auf im einzelnen nicht beschriebene Weise die Auslösung aller übrigen Teile der Schalteinrichtung U. Die gemeinsame Steuerung schaltet vorläufig nicht das Minuspotential über dem Stromkreis 7.2 ein.emitted signal of minus 11 volts again and instead applies the broad potential of plus 1 volt mentioned. This signals via the circuit ζ 1 to the common control G that the switching device U has been triggered by the upstream selector. The common control G now causes all other parts of the switching device U to be triggered in a manner not described in detail. The common control does not temporarily switch on the negative potential across the circuit 7.2 .
Durch den Wechsel des Ausgangssignales seitens des Vergleichers V von minus 11 Volt auf plus 1 Volt wird der Transistor T5 wieder gesperrt und demzufolge auch der Transistor T6. Versucht nun ein Wähler, auf die noch im Schaltzustand der nicht vollständig abgewickelten Auslösung befindliche Schalteinrichtung U auf zuprüfen, so findet er das den Freizustand kennzeichnende Potential von minus 60 Volt weder über die Transistoren Tl und T2 noch über den Transistor T6 vor. Die Schalteinrichtung U ist also vorläufig gegen Neubelcgung gesperrt.As a result of the change in the output signal on the part of the comparator V from minus 11 volts to plus 1 volt, the transistor T5 is blocked again and, consequently, the transistor T6 as well. If a voter tries to check the switching device U , which is still in the switching state of the incomplete triggering, he finds the potential of minus 60 volts characterizing the free state, neither through the transistors T1 and T2, nor through the transistor T6. The switching device U is temporarily blocked against reloading.
Wie beschrieben, schaltet der Vergleiche!· V bei der Auslösung, also bei Auftrcnnung des Prüf- und Belegungsstromkrcises an seinen Ausgang ν wieder Pluspotential von etwa I Volt anstelle des Minuspotentials von 11 Volt an. Der Vergleicher V reagiert jedoch auf das Verschwinden des Spannungsabfalls an den Widerständen R 7 und R13 mit einer gewissen Verzögerung. Dadurch wird sichergestellt, daß eine fälschliche Auslösung nicht etwa durch Störimpulse herbeigeführt werden kann, die auf induktivem oder kapazitivem Wege auf den im Sperrzustand befindlichen Prüf- und Belcgungsstromkrcis einer durc'igeschaltetcn Verbindung übertragen werden können.As described, the comparison! · V switches on positive potential of about I volts instead of the negative potential of 11 volts at its output ν when it is triggered, i.e. when the test and occupancy current circuit is separated. However, the comparator V reacts to the disappearance of the voltage drop across the resistors R 7 and R 13 with a certain delay. This ensures that false triggering cannot be caused by interference pulses which can be transmitted inductively or capacitively to the test and occupancy current circuit of a connected connection which is in the blocked state.
Im Hinblick auf das Problem des Aufprüfens auf auslösende Verbindungen kann der Fall eintreten, daß ein prüfender Wähler sein Prüfrelais über seinen Prüfschallarm mit dem Prüfpunkt einer seitens eines anderen Wählers belegten und gesperrten Schalteinrichtung verbindet, und daß unmittelbar anschließend der bis dahin mit dieser Schalteinrichtung verbundene und diese sperrende Wähler ausgelöst wird und den bis dahin bestehenden und im Spurr/usiand befindlichen Prüf· und Bclcgungsstroinkrcis auftrennt. In einem solchen Fülle besteht in herkömmlichen Vermittlungsanlagen die Möglichkeit, daß das Prüfrekiis des genannten prüfenden Wählers anspricht und daß dadurch eine !^!seilverbindung zustatulekommi. Um diese Möglichkeit zu unterbinden, ist der Vergleiche!· V cingiingsseitig mit Schaltmiltcln ausgerüstet, die ein Absinken des Spiinnungsabfiilles itn den Widerstunden Rl und R 13 zu erkennen vermögen, Dies können Spannung nach der Zeit differenzierende Schaltmittel sein. — Beachtlich ist in diesem Zusammenhang, daß der zunächst bestehende und im SpcrraiMand befindliche Prüf- und Bclcgungsstromkreis lediglich die Wicklung I des Prüfrelois des betreffenden sperrenden Wählers W enthalt, daß jedoch dieser bei Auftrcnnung des im Sperrzustand befindlichen Prüf· und Belegung»· Stromkreises weiter bestehende Prüf- und Bclcgungsstromkreis des prüfenden Wühlers außer der niederen migcn Wicklung I nuch die höherohmige Wicklung Il des Prüfrcluis /' enthalt. In diesem besonderen Iktriebsfull ist also die Auslösung der ersten Verbindung nicht un einer Auftrcnnung des Prüf- und Bclcgunpsstromkreiscs. ulsn nicht an einem völligen Fortftill lies Spiinnungsubfullos an den Widerstünden W 7 und WH zu erkennen, sondern an einer Stromabsenkung, also an einer Absenkung des Spannungsabfalles an den genannten beiden Widerständen. Der in diesem besonderen Betriebsfall nach der Stromabsenkung am Vergleicher eingangsseitig wirksame Spannungsabfall tritt an den Widerständen R 7 und R 13 auf, ist also sogar größer als der beim normalen Prüf- und Belegungsvorgang vor Ansprechen des betreffenden Prüfrelais am Vergleicher wirksame Spannungsabfall, weil dieser nur am Widerstand R 7 With regard to the problem of checking for triggering connections, the case may arise that a testing voter connects his test relay via his test sound alarm to the test point of a switching device that is occupied and blocked by another voter, and that immediately afterwards the one connected to this switching device and this blocking voter is triggered and separates the test and compliance circuit that has existed up to that point and is in the track. In such abundance, there is the possibility in conventional switching systems that the test record of the named testing voter responds and that as a result a cable connection is added. To explore this possibility to prohibit, the comparisons! * V is equipped with cingiingsseitig Schaltmiltcln that itn a drop in Spiinnungsabfiilles able 13 to recognize the cons hour R and R, this may be the voltage after time differentiating switching means. - It is noteworthy in this context that the test and discharge circuit initially existing in the SpcrraiMand only contains the winding I of the test relay of the relevant blocking selector W, but that this continues to exist when the test and occupancy circuit is opened Test and Bclcgungsstromkreis the testing probe contains not only the lower migcn winding I nuch the higher resistance winding II of the Prüfrcluis / '. In this particular full of drive action, the release of the first connection is not in a disconnection of the test and firing circuit. ulsn could not be recognized by a complete continuation of the spinning subfulness in the resistances W 7 and WH, but in a decrease in current, i.e. in a decrease in the voltage drop across the two resistors mentioned. The voltage drop that is effective on the input side after the current reduction at the comparator occurs in this particular operating case at the resistors R 7 and R 13 and is therefore even greater than the voltage drop that is effective at the comparator during the normal test and assignment process before the relevant test relay responds, because this only occurs at the Resistance R 7
ίο entsteht. Um nun diesen besonderen Betricbsfall (Aufprüfen auf auslösende Verbindung) von einem normalen Prüf- und Belegungsvorgang mit einer im Freizustand befindlichen Schalteinrichtung U unterscheiden zu können, genügt es für den Vergleicher V nicht, eingangsseitig lediglich den Spannungsabfall zu messen; um diese beiden Betriebsfälle eindeutig voneinander unterscheiden zu können, ist der Vcrgleichcr Vcingangsscitig mit Schaltmitteln ausgestattet, mit deren Hilfe der zeitliche Verlauf der cingangsseitigen Spannung, also die Absenkung des Spannungsabfalles an den Widerständen /?7 und R 13 erkannt weiden kann. Dadurch läßt sich mit Sicherheit ein Aufpriifcn auf auslösende Verbindungen auch für solche Wähler verhindern, in denen keine eigenen Vorkehrungen für die Vermeidung des Aufprüfens auf auslösende Verbindungen getroffen sind.ίο arises. In order to be able to differentiate this special operating case (checking for a triggering connection) from a normal test and assignment process with a switching device U in the free state, it is not sufficient for the comparator V to merely measure the voltage drop on the input side; In order to be able to clearly distinguish these two operating cases from each other, the comparator Vcingangsscitig is equipped with switching means, with the help of which the temporal course of the input-side voltage, i.e. the lowering of the voltage drop at the resistors /? 7 and R 13, can be recognized. In this way, a check for triggering connections can be prevented with certainty even for those voters who have not taken their own precautions to avoid checking for triggering connections.
Wie beschrieben, verläuft der Bclcgungsstromkreis der Schalteinrichtung U vom Prüfpunkt PP über die Widerslände W 6. R7, /?8 und /?9 und über die Transistoren Tl und T2. Beim Hochohmigschaltcn wird derjenige Teil des Belegungsstromkreises, der die Widerstände /?8 und /?9 und die Transistoren TI und T2 umfaßt, ausgeschaltet und statt dessen ein über die Widerstände R 13 und R 14 und über den Transistor Tfi verlaufende Haltestromkreis eingeschaltet. — Besondere Beachtung kommt dem die Widerstände R 8 und RI und die Transistoren Tl und T2 enthaltenden Teil des Bcleguiigsstromkreiscs zu. Dieser Teil des ΒυΙι,-μιιιιμν Stromkreises wirkt in Verbindung mit dem Anschluß an die SiianiHingsciiielle von minus bO Volt als Konstantsiromc|uelle. Der Transistor Tl hat hier/u eine. stromrcgclndc Wirkung. Das dein über den Widerstand W 9 angeschalteten Batteriepotenlial von minus W) Voll gegenüber posilive Potential, das der Basis des Transistors TI über den Transistor /'} und den Widerstand R 2 zugeführt wird, ist durch die Zcncrdinde /) 1 so begrenzt, daß der Absolutwert des ilasispoien tiiils des Transistors TI nicht über einen durch die /cnerdiode D I vorgegebenen Wert hinaus ansteigen ktinn. Der im Belcgungsstromkreis fließende Strom mit um Widerstand /?9 einen Spannungsabfall hervor, Die Zcncrspannung der Diode DI ub/Uglich dieses Spannungsabfalls wirkt steuernd um Transistor TI und bestimmt seinen Basisstrom. Da also das ßasispotciuialAs described, the protective circuit of the switching device U runs from the test point PP via the contradictions W 6. R7, /? 8 and /? 9 and via the transistors T1 and T2. When Hochohmigschaltcn that part of the occupancy circuit which includes the resistors /? 8 and /? 9 and the transistors TI and T2 is switched off and instead a holding circuit running through the resistors R 13 and R 14 and the transistor Tfi is switched on. - Particular attention must be paid to the part of the Bcleguiigsstromkreiscs containing the resistors R 8 and RI and the transistors T1 and T2. This part of the ΒυΙι, -μιιιιμν circuit acts in connection with the connection to the SiianiHingsciiielle of minus bO volts as a constant source. The transistor Tl has here / u one. stromrcgclndc effect. The battery potential of minus W) full opposite positive potential, which is connected to the base of the transistor TI via the transistor / '} and the resistor R 2 , is limited by the Zcncrdinde /) 1 so that the The absolute value of the ilasispoien tiiils of the transistor TI cannot rise beyond a value predetermined by the generator diode D I. The current flowing in the circuit with a voltage drop around resistor /? 9, the Zcncrspannung the diode DI over / Uglich this voltage drop has a controlling effect on transistor TI and determines its base current. So there is the basic potential
SS um voriuissct/ungsgcmüß stromdurchlllssigcn Transistor Tl positiv gegenüber seinem Emitterpotential sein und bleiben muß, kann der durch den Strom im Bclcgungssiromkrcis erzeugte Spannungsabfall im Widerstand ft 9 nur so groß werden, dal) dieserSS to preclude current-permeable transistor Tl must be and remain positive with respect to its emitter potential, the current im Bclcgungssiromkrcis generated voltage drop in the Resistance ft 9 will only be so great that this
Spannungsabfall höchstens einen der um die für den Transistor Tl notwendige Steuerspannung verminderten Zcnerspannung entsprechenden Spannungsgrenzwert erreichen kunn. Da also der Spannungsabfuli um Widerstand R 9 begrenzt ist, Ist folglich auch dem StromThe voltage drop can reach at most a voltage limit value corresponding to the voltage limit value reduced by the control voltage required for the transistor T1. Since the voltage output is limited by the resistance R 9, the current is consequently also present
im Bclcgungsstromkreis selbst eine nicht zu überschreitende Orenzc gesetzt. Folglieh wirkt der Transistor Tl stromrcgelnd. Kr bildet praktisch einen zwischen Null Ohm und unendlich großem Widerstund regelbarenin the supply circuit itself one that must not be exceeded Orenzc set. As a result, the transistor T1 acts to regulate the current. Kr is practically one between zero Ohm and infinitely large resistance adjustable
Widerstand nach.Resistance after.
Dem Transistor Tl parallel liegt der Widerstand R 8 über den in diesem Betriebszustand niederohmig stromdurchlässigen Transistor T2. Der Regelbereich der durch die Transistoren Tl und T2 und die Widerstände RS und /?9 sowie die Diode Di gebildeten Konstantstromquclle ist durch den Widerstandswert des Widerstandes RS bestimmt. Diese Konstantstromquelle vermag also mittels des durch den Transistor Tl jeweils nachgebildeten Widerstandes den Strom im Prüf- und Belcgungsstromkrcis in den Grenzen zu regeln, die durch Kurzschließung des Widerstandes R 8 einerseits und durch seine volle Wirksamkeit andererseits bestimmt sind. Der Widersland RS dient im wesentlichen dazu, die durch die Stromregelung bedingte Vernichtung der zwischen den Widerständen R 7 und R 9 umzusetzenden Verlustleistung vom Transistor Tl so weit wie möglich abzuziehen, also teilweise außerhalb dieses Transistors umzusetzen und abzuführen. Dadurch kann die im Transistor Tl maximal auftretende Verlustleistung in einem praktischen Anwendungsfall im Verhältnis von ungefähr 2 zu I herabgesetzt werden (also im Vergleich da/u, daß der Widersland RS und der Transistor T2 nicht vorgesehen wären). *5 The resistor R 8 is parallel to the transistor Tl via the transistor T2, which in this operating state is low-resistance, current-permeable. The control range of the constant current source formed by the transistors T1 and T2 and the resistors RS and /? 9 as well as the diode Di is determined by the resistance value of the resistor RS . This constant current source is able to regulate the current in the test and belcgungsstromkrcis by means of the resistor simulated by the transistor T1 within the limits that are determined by short-circuiting the resistor R 8 on the one hand and by its full effectiveness on the other. The contradiction RS essentially serves to subtract the destruction of the power loss to be converted between the resistors R 7 and R 9 from the transistor Tl as much as possible, i.e. partly to convert and dissipate it outside of this transistor. As a result, the maximum power loss occurring in the transistor T1 can be reduced in a practical application in the ratio of approximately 2 to I (that is, in comparison to the fact that the contradiction RS and the transistor T2 would not be provided). * 5
lis ist jedoch auch möglich, den Transistor T2 und den Widersland RS wegzulassen. Dadurch vergrößert sich der Regeibereiclulcs Transistors Tl. jedoch erhöht sich dadurch zugleich auch die im Transistor Tl umzusetzende Verlustleistung.However, it is also possible to omit the transistor T2 and the contradiction RS. As a result, the Regeibereiclulcs transistor Tl increases. At the same time, however, the power loss to be converted in the transistor Tl also increases.
Anschließend sei die stroniregelnde Wirkung der beschriebenen KonMantsiromquelle erläutert. Hierbei sind der Kin/elprül'fall und der Parallelprüffall miteinander /ti vergleichen. Unter der Voraussetzung, daß es sich bei zwei parallel prüfenden Wählern um Wähler mit gleichen Prüfstromkreisen handelt, weist die Parallelschaltung der beiden Prüfstromkreis im Parallelprüffall bekanntlich den halben Innenwiderstandwert auf gegenüber dem Innenwiderstand nur eines ein/igen dieser beiden Prüfstromkreise. Die KonstantsliOmquel-Ie findet also jenseits des Prüfpunktes /'/' der Schalteinrichtung ('im Parallelprüffall nur einen halb so großen Widersland vor, wie im l\in/elprüffall. Sie sorgt aber dafür. daß in beiden !'allen nur der gleiche Snom im Belegungssiromkreis der Schalteinrichtung ('fließt. Dadurch wird erreicht, daß in einem Prüfrelais eines Wählers im Parallelprüffall nur halb so viel Strom fließt, wie im l'.in/elpiüffall. Dadurch wird der Parallelprüffall gegenüber dem Uin/.ulpruffull besser unierscheidbar für clic Prufreluis der betreffenden Wühler. Dudureh ItIUt sich ulso clic Sicherheit gegen Doppelprufen im PurnllelprUffull erhöhen. The current-regulating effect of the KonMantsirom source described will then be explained. Here, the Kin / elprül'fall and the parallel test case are compared with each other. Assuming that two selectors testing in parallel are selectors with the same test circuits, the parallel connection of the two test circuits in the parallel test case has half the internal resistance value compared to the internal resistance of only one of these two test circuits. The KonstantsliOmquel-Ie thus finds beyond the test point / '/' of the switching device ('in the parallel test case only half as large a contradiction as in the 1 \ in / el test case. But it ensures that in both!' All only the same snom flows in the occupancy circuit of the switching device ('. This ensures that in a test relay of a selector in the parallel test case only half as much current flows as in the l'.in / elpiüffall. This makes the parallel test case easier to distinguish from the Uin / .ulpruffull for clic Prufreluis of the concerned burglars. Dudureh ItIUt ulso clic security against double examinations in the PurnllelprUffull increase.
In diesem Zusammenhang ist ferner zu beuchten, daß Prüf- und Bclegungsstromkreise jeweils über eine der Adern einer Vcrbindungsleilung verlaufen, die verschie· S5 den lung sein kann und demgemäß unterschiedlich großen zusätzlichen Leitungswiderstand in den jeweiligen Belegungsstromkreis einer Scholleinrichtung D einbringen kitnn. Der Leitungswidcrstund einer Vorbindungsleltung ist /.wischen dem Widerstund /?6 der Schalteinrichtung (/und Ihrem l'rüfpunkt /»/»eingefügt zu denken. Die Konstantstromquelle wirkt nun außerdem dahingehend, den von Vcrblndungslcitung /u Verbindungsleitung variierenden Leitungswidcrstand der betreffenden Belcgungsstromkrelsc auszugleichen. fiS - Darüber hinaus bietet die Konstuntstromqucllc eine gute Sicherhell gegen Erdschluß um Prüfpunkt PP der Schalteinrichtung (/. In einem derartigen KurzschlulJfall verhindert die Konstantstromquelle also eine Überlastung der den Kurzschlußstrom führenden Widerstände R 6 und R 7.In this context , it should also be noted that test and connection circuits each run over one of the cores of a connecting line, which can be of different sizes and accordingly introduce differently large additional line resistance into the respective occupancy circuit of a block device D. The line resistance and a pre-connection line should be thought of as inserted between the resistance /? 6 of the switching device (/ and your test point / "/". The constant current source now also acts to compensate for the line resistance of the relevant connection line that varies from connection line / connection line. fi S - In addition, the Konstuntstromqucllc provides a good secure Light against earth fault to the switching device checkpoint PP (/ In such KurzschlulJfall the constant current source so prevents overloading of the short-circuit current-carrying resistors R 6 and R 7..
Die Kondensatoren Ci und C2 haben außer der beschriebenen Aufgabe, beim Hochohmigschalten die Abschaltung des über den Widerstand R 9 verlaufenden 21weig des Belcgungsstromkreises zu verzögern, die weitere Aufgabe, beim Beginn eines Prüf- und ßclegungsvorgangcs für einen verzögerten Stromanüticg im Prüf- und Bclcgungsstromkreis zu sorgen. Denn bekanntlich setzen Prüfrelais in von ihnen erreichbaren Bclegungsstromkrciscn Belegungsrelais voraus, deren Wicklungen einen komplexen Widerstand aufweisen, der beim Beginn eines jeden Prüf- und Belegungsvorganges einen verzögerten Stromanstieg verursacht. Um eine möglichst kurze Ansprechzeit des jeweiligen Prüfrclais zu erreichen, tragen die Belcgungsrclais in der Regel eine im Ruhezustand kurzgeschlossene Zweitwicklung, wodurch in einem geschlossenen Prüf- und Bclcgungsstromkreis der Stromanstieg sich steiler gestaltet, als wenn die kurzgeschlossene Zweitwicklung nicht vorgesehen wäre. Dadurch wird für die Prüfrelais eine relativ kurze Ansprechzeit erzielt. In Motorwählerschaltungen werden bekanntlich Prüfrelais verwendet, die im Vergleich zu anderen bekannten elektromechanischen Relais überaus schnell ansprechen. Diese l'rüfrelais besitzen also eine besonders hohe Kmpfindlichkeil. Sie sind so aufgebaut, daß sie die Motorstillselziing /u bewerkstelligen vermögen, obwohl ihr Ansprechstromkreis über eine Wicklung eines elektromagnetischen Belegungsrclais im Bclcgungsstromkreis einer nachfolgenden belegbaren Schalteinrichtung verläuft, und obwohl dieses Belegungsrclais trol/, seiner kurzgeschlossenen Zweitwicklung aufgrund der verbleibenden Induktivität einen in gewissem Maße verzögerten Stromanstieg im Prüf- und Belegungsstromkreis zur l'olge hat. Winden nun solche hochempfindlichen und schnell ansprechenden Prüfrelais von Motorwähler!! auf llelcgungsst romkreise aulprüfen, die lediglich rein ohm'sche Widerslände enthalten, so würde dadurch die Ansprechgeschwiiidigkeil noch weiter gesteigert werden, l'.ine l'olge davon wären Konluktprcllungcn und eine erhöhte Abnutzung der betreffenden Koniakte, insbesondere derjenigen Koniakte, die unmittelbar /ur Molorstillsei/iinj: dienen und deshalb einer besonders hohen Sirombelasiung unterworfen sind. Dieser unerwünschte r.lfeki wird durch die vorliegende Schallungsanordnung dudurch beseitigt, daß beim Beginn jedes Prüf· und Dclegungsvorgangcs der Siromansiieg im Transistor 7 1 mittels des Kondensators Cl vorzogen ist. Im Ruhezustand fließt über den Transistor T3, den Widerstand R 2, die Busis-Emittcr-Strcckc des Transistors ΓΙ und den Widerstand R9 ein Ruhestrom,sofern die .Schalteinrichtung U von der gemeinsamen Steuerung (t her als belcgbar gekennzeichnet ist. Der Widerstand R 2 ist relativ hochohmig gegenüber dem Widerstand ft 9. Deshalb tritt on diesem Widerstand ein relativ geringer Spannungsabfall auf. ebenfalls ist der an der Basis-timittor-Strocke des Transistors Tl auftretende Spannungsabfall sehr klein. Der Kondensator C t ist deshalb im Ruhezustand auf nur etwa I V aufgeladen. Wird nun ein Prüf- und Belcgungsstromkrcis geschlossen, so kommt durch die beschriebene slromrcgclndc Wirkung des Transistors TI im Prüf- und Belegung»· Stromkreis zunllchsi nur ein relativ geringer Strom zustünde. Da nltmlich - wie beschrieben - der Im Bclcgungsstromkreis fließende Strom am Widerstand R 9 einen dcmentsprcchcndcn Spannungsabfall hervor-The capacitors Ci and C2 have, in addition to the task described, to delay the disconnection of the branch of the charging circuit running through the resistor R 9 when switching to high resistance, the additional task of providing a delayed current in the testing and charging circuit at the start of a test and exposure process . Because, as is well known, test relays require occupancy relays in the occupancy current circuits that can be reached by them, the windings of which have a complex resistance that causes a delayed increase in current at the beginning of each test and occupancy process. In order to achieve the shortest possible response time for the respective test circuit, the cover circuit usually has a secondary winding which is short-circuited when idle, which means that the current rise in a closed test and discharge circuit is steeper than if the short-circuited secondary winding were not provided. This results in a relatively short response time for the test relays. It is known that test relays are used in motor selector circuits which respond extremely quickly in comparison to other known electromechanical relays. These reverse relays therefore have a particularly high sensitivity wedge. They are constructed in such a way that they are able to bring the motor to a standstill, although their response circuit runs through a winding of an electromagnetic occupancy circuit in the circuit of a subsequent assignable switching device, and although this occupancy circuit trol /, its short-circuited secondary winding delayed a certain amount of time due to the remaining inductance Leads to an increase in current in the test and occupancy circuit. Now such highly sensitive and quickly responding test relays from motor selector winch !! If you check for discharge circuits that contain purely ohmic contradictions, this would increase the response speed even further. One consequence of this would be conlusions and increased wear and tear of the conects concerned, in particular those coniases that are directly related Molorstillsei / iinj: serve and are therefore subject to a particularly high sirombic coating. This undesirable backlash is eliminated by the present sound arrangement in that at the beginning of each test and verification process, the sirom increase in the transistor 7 1 by means of the capacitor C1 is preferred. In the quiescent state, a quiescent current flows through the transistor T3, the resistor R 2, the busis-emitter-Strcckc of the transistor ΓΙ and the resistor R 9, provided that the .Switching device U is identified as assignable by the common control (t) . The resistor R 2 has a relatively high resistance compared to the resistor ft 9. Therefore, a relatively small voltage drop occurs on this resistor. The voltage drop occurring at the base-timer stroke of the transistor Tl is also very small. The capacitor C t is therefore only approximately in the idle state IV charged. If a test and occupancy current circuit is now closed, the described effect of the transistor TI in the test and occupancy circuit would initially result in only a relatively low current Resistance R 9 produces a corresponding voltage drop.
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ruft, und da dieser höchstens einen gegenüber der Kondensatorspannung um die für den Transistor 71 notwendige Steuerspannung geringeren Wert erreichen kann, bestimmt die Spannung am Kondensator Cl den Höchststrom im Belegungsstromkreis. — Der Kondensator C1 wird nun über den Widerstand R 2 aufgeladen. Entsprechend diesem Aufladungsvorgang steigt das Steuerpotential am Transistor 71. Demgemäß steigt auch der Strom im Prüf- und Belegungsstromkreis mit an. Der Aufladungsvorgang des Kondensators Cl wird bei Erreichen der Zenerspannung der Diode D1 beendet. Der Kondensator behält danach diese Spannung bei.calls, and since this can at most achieve a value lower than the control voltage required for the transistor 71 compared to the capacitor voltage, the voltage across the capacitor C1 determines the maximum current in the occupancy circuit. - The capacitor C1 is now charged via the resistor R 2. The control potential at transistor 71 rises in accordance with this charging process. Accordingly, the current in the test and occupancy circuit also rises. The charging process of the capacitor C1 is ended when the Zener voltage of the diode D 1 is reached. The capacitor then maintains this voltage.
Der Strom im Belcgungss.tromkreis steigt von diesem Zeitpunkt an nicht mehr weiter an. Beim Hochohmigschallen, wenn also der Transistor 73 und der Widerstand R 2 stromlos werden, wird der Kondensator C1 über den Widerstand R 15 entladen.From this point on, the current in the occupancy circuit no longer increases. In the case of high-resistance noise, that is to say when the transistor 73 and the resistor R 2 are de-energized, the capacitor C1 is discharged through the resistor R 15.
Ebenso wie dem Transistor Π ein aus dem Widerstand R 2 und dem Kondensator Cl bestehender /?-C-Kreis zum verzögerten Stromanstieg in der Emitter-Kollektor-Streckc zugeordnet ist, ist auch dem Transistor Tl ein aus dem Widerstand /?3 und dem Kondensator C2 bestehender /?-C-Kreis zugeordnet. Beide /?-C-Kreise sind ungefähr gleich dimensioniert. Da mit der Emitter-Kollektor-Strecke des Transistors 72 der Widerstand RS in Reihe geschaltet ist, bestimmt den verzögerten Stromanslicg im Prüf- und Belegungsstromkreis im wesentlichen der Transistor Tl.Just as the transistor Π a /? - C circuit consisting of the resistor R 2 and the capacitor Cl is assigned to the delayed current rise in the emitter-collector path, the transistor Tl is also a made up of the resistor /? 3 and the capacitor C2 existing /? - assigned to C-circle. Both /? - C circles are roughly the same size. Since the resistor RS is connected in series with the emitter-collector path of the transistor 72, the delayed Stromanslicg in the test and occupancy circuit essentially determines the transistor T1.
Soll die Schalteinrichtung LJ im Ruhezustand gegen Neubelegung seitens eines vorgeordneten Wählers gesperrt werden, so entzieht die gemeinsame Steuerung G das bis dahin im Ruhezustand über den Stromkreis / 2 angelegte Minuspotentini. Dadurch wird der Transistor 73 stromundurchlässig. Ebenfalls werden die Bnsis-If the switching device LJ is to be blocked in the idle state against being reassigned by an upstream selector, the common controller G withdraws the negative potential that was applied via the circuit / 2 in the idle state up to that point. This makes the transistor 73 current-impermeable. The Bnsis-
S Emitter-Strecken der Transistoren 71 und 72 stromlos. Infolgedessen kann auch kein vorgeordneter Wähler auf die im Ruhezustand gesperrte Schalteinrichtung Ll aufprüfen. — Die Schalteinrichtung U empfängt also von der gemeinsamen Steuerung C über ein undS emitter paths of transistors 71 and 72 de-energized. As a result, no upstream voter can check the switching device Ll, which is blocked in the idle state. - The switching device U thus receives from the common controller C via a and
ίο denselben Stromkreis /. 2 sowohl das Schaltkennzeichen »Hochohmigschaltcn« als auch das Schaltkennzeichen »Sperrung im Ruhezustand«. Diese beiden Schaltkennzeichcn, die die gemeinsame Steuerung G in der gleichen Form an die Schalteinrichtung LJ abgibt, sind in dieser dadurch voneinander unterscheidbur, daß die gemeinsame Steuerung die über den Stromkreis /2 angelegte Minusspannung zum Hochohmigschaltcn nach erfolgter Belegung, dagegen /um Sperren des Belegungsstromkreises im Ruhezustand anlegt. Beide Schaltkennzcichcn werden aber über ein und denselben Stromkreis ζ 2 an die Schalteinrichtung £./übertragen.ίο same circuit /. 2 both the switching indicator “high-resistance switching” and the switching indicator “blocking in idle state”. These two Schaltkennzeichencn, which the common control G sends to the switching device LJ in the same form, are different in this from each other in that the common control uses the negative voltage applied to the circuit / 2 for high-resistance switching after occupancy, on the other hand / to block the occupancy circuit creates in the idle state. Both Schaltkennzcichcn are, however, transmitted via one and the same circuit ζ 2 to the switching device £. /.
Abschließend sei noch bezüglich der Spannung nach der Zeit differenzierenden cingangsscitigen Schaltmittel des Vergleichers V auf die DT-PS 11 65 677 hingewiesen, in der Spannung nach der Zeit differenzierende Schaltmittcl verwendet sind. Diese bekannte Schaltungsanordnung betrifft zwar eine Prüfschaltung jedoch lassen sich die hierin dargestellten und beschriebenen Schaltmittel zur Differenzierung derFinally, reference should also be made to DT-PS 11 65 677 with regard to the input-side switching means of the comparator V that differentiate voltage according to time, in which switching means that differentiate voltage according to time are used. Although this known circuit arrangement relates to a test circuit, the switching means shown and described herein can be used to differentiate the
v> Spannung nach der Zeit auch in der vorliegender Schaltungsanordnung verwenden. Use v> voltage according to time also in the present circuit arrangement.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings
Claims (2)
kreis von der Zentralsteuerung zu der jeweiligen Die Erfindung ermöglicht in vorteilhafter Weise eine directions with occupancy circuits, through which they. B. voters, on the one hand i the Emscjhleifung their occupancy status (free or blocked) checked an additional resistance and on the other hand the and in the free state of those occupied and blocked io blocking in the idle state in a cost-saving manner, and in which after their occupancy to be processed and to take the necessary circuit support for the blocking effect retrospectively for any technical precautions. This object because an additional resistor is looped in is achieved according to the invention in that for the ("high-resistance switching") and with auxiliary switching means, cooperation with a control common to the switching devices, the switching indicators and the circuit of the respective switching device in which enable the subsequent looping in of the additional rest state against an occupancy on the part of one of the resistors in an occupancy circuit as well as for the upstream switching elements, d a - blocking of the same in rest state, i.e. without one characterized by that for the joint occupancy, generated and to the respective switchgear work with one of the switchgear devices, a common circuit from the common control, the sound characteristics so central control to the respective switchgear can be switched through for the subsequent looping in of the additional Both types of characteristics of a resistor are transferred to an occupancy circuit as being in the same form, which can be distinguished in that they are also used to block the same in the idle state, i.e. switching device, in that they are either generated without an occupancy and are sent to the respective 25 in the presence or in the absence of an occupancy outputs in the switching device, a common current-relevant switching device can be received,
circle from the central control to the respective The invention advantageously enables a
schaltet ist, der bei Erhalt des Schaltkennzeichens Von einem Wähler Wist der Prüfstromkreis mit den35 In the drawing, an exemplary embodiment is shown separable occupancy circuit only in the case of the invention, only in essential for understanding the absence of the switching identifier during the components contributing to which it is in no way limited to the use of dual-switchable holding circuit .
is switched, which upon receipt of the switching indicator from a selector Wist the test circuit with the
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19752512661 DE2512661C3 (en) | 1975-03-21 | Circuit arrangement for telecommunications switching systems, in particular telephone switching systems, with test and occupancy circuits |
Applications Claiming Priority (1)
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DE2512661A1 DE2512661A1 (en) | 1976-09-23 |
DE2512661B2 DE2512661B2 (en) | 1976-12-30 |
DE2512661C3 true DE2512661C3 (en) | 1977-08-25 |
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