DE2511923A1 - Fault diagnosis and locating device for printed circuits - uses logic gates and comparator on interface test board - Google Patents

Fault diagnosis and locating device for printed circuits - uses logic gates and comparator on interface test board

Info

Publication number
DE2511923A1
DE2511923A1 DE19752511923 DE2511923A DE2511923A1 DE 2511923 A1 DE2511923 A1 DE 2511923A1 DE 19752511923 DE19752511923 DE 19752511923 DE 2511923 A DE2511923 A DE 2511923A DE 2511923 A1 DE2511923 A1 DE 2511923A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
zpf
flat
contacts
strip
flat module
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19752511923
Other languages
German (de)
Other versions
DE2511923B2 (en
DE2511923C3 (en
Inventor
Helmut Neumann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tenovis GmbH and Co KG
Original Assignee
Telefonbau und Normalzeit GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Telefonbau und Normalzeit GmbH filed Critical Telefonbau und Normalzeit GmbH
Priority to DE19752511923 priority Critical patent/DE2511923C3/en
Publication of DE2511923A1 publication Critical patent/DE2511923A1/en
Publication of DE2511923B2 publication Critical patent/DE2511923B2/en
Application granted granted Critical
Publication of DE2511923C3 publication Critical patent/DE2511923C3/en
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

The testing device consists of a series of interconnected circuit boards fed from a common supply via a plug board. This carries the required number of ways for the various voltages supplied by the master supply circuit. It is connected to an interface board via a printed-circuit edge connector. A standardisation circuit is connected in parallel with the input of the interface circuit via a similar edge connector. The interface has buffer amplifiers on each bus-bar. The amplifier outputs are connected to a patch-panel with adjustable links. The patch-panel output is connected via an edge-connector to the printed circuit card under test.

Description

Verfahren zur Funktionsprüfung und Fehlerlokalisierung von Flachbaugruppen Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Funktions-;prüfung und Fehlerlokalisierung auf fehlerhaften Flachbaugruppen in vorwiegend binärer Logik, in einer Anlage sowie eine zur Durchführung dieses Verfahrens geeignete Schaltungsanordnung. Procedure for functional testing and fault localization of printed circuit boards The invention relates to a method for functional testing and fault localization on faulty flat modules in predominantly binary logic, in a system as well a circuit arrangement suitable for carrying out this method.

In der Vermittlungstechnik geht man immer stärker dazu über, dezentral gesteuerte Vermittlungsanlagen durch zentral gesteuerte, elektronisch arbeitende Anlagen zu ersetzen. Während bei älteren Vermittlungsanlagen die Steuerung im wesentlichen durch eine Vielzahl von Relais übernommen wurde, wird dies nun durch eine zentrale Steuerung bewirkt.In switching technology, people are increasingly moving towards decentralized controlled switching systems by centrally controlled, electronically working Replace attachments. While in older switching systems the control is essentially was taken over by a large number of relays, this is now done by a central one Control causes.

Bei allen Vorteilen, die eine derartige zentrale elektronisch arbeitende Steuerung bringt, ist sie doch in ihrer Arbeitsweise recht komplex und die Funktion einzelner Schaltelemente ist für einen Revisor oft nicht mehr ohne weiteres zu erkennen. Hinzu kommt, daß zum einen die Schaltung elektronisch arbeitender Vermittlungsanlagen recht umfangreich ist, während zum anderen eine derartige Schaltung während eines Arbeitsablaufs unzählige Zustände einnehmaikann, die sich grafisch auf Schaltplänen nicht mehr sinnvoll aufzeichnen lassen. Es besteht daher das grundlegende Problem, einem Revisor für Vermittlungsanlagen ein Mittel an die Hand zu geben, mit welchem er auch bei den oben geschilderten neuartigen Vermittlungsanlagen in die Lage versetzt wird, in relativ einfacher Weise direkt an einer zu prüfenden Anlage eine Funktionsprüfung vornehmen zu können oder bestimmte Fehler zu lokalisieren.With all the advantages that such a central electronically working Control brings, it is quite complex in its way of working and the function Individual switching elements can often no longer be easily recognized by an auditor. In addition, on the one hand, the switching of electronically operating switching systems is quite extensive, while on the other hand such a circuit during a The workflow can assume innumerable states, which are graphically displayed on circuit diagrams can no longer be sensibly recorded. There is therefore the fundamental problem to give an auditor for switching systems a means with which he is also able to use the new types of switching systems described above is, in a relatively simple manner, directly on a system to be tested Functional test to be able to make or to localize certain errors.

Die Vermittlungs anlagen sind regelmäßig aus einzelnen steckbaren Flachbaugruppen aufgebaut, die durch mit elektronischen Bauelementen bestückte Leiterplatten gebildet sind. Aus der DU-AS 1 537 848 ist es bekannt, zur Uberwachung der ordnungsgemäßen Arbeitsweise und Ansteuerung einer Einrichtung zu dieser eine gleiche Einrichtung zusätzlich parallel zu betreiben und die Ausgangssignale der beiden parallel-arbeit enden Einrichtungen miteinander zu vergleichen. Weichen die beiden Ausgangssignale voneinander ab, so muß entweder das Eingangssignal einer der beiden Einrichtungen oder deren Funktionsweise gestört sein. Eine derartige Verdopplung der einzelnen Einrichtungen ist aber in der Regel in großen Schaltungsanordnungen aus Eosten- und Platzgründen nicht möglich. Außerdem läßt wegen der möglicherweise verschiedenen Eingangssignale der beiden Einrichtungen die Abweichung ihrer Ausgangssignale nur einen bedingten Rückschluß auf ihre Funktionstüchtigkeit zu. Ganz abgesehen davon, läßt sich in diesem Falle auch nicht sagen, welche der beiden Einrichtungen fehlerhaft arbeitet.The switching systems are regularly made up of individual pluggable Flat modules built up by printed circuit boards equipped with electronic components are formed. From DU-AS 1 537 848 it is known to monitor the proper Operation and control of a device for this same device in addition to operate in parallel and the output signals of the two work in parallel end facilities to compare with each other. The two output signals give way from each other, either the input signal from one of the two devices or their functionality may be disrupted. Such a doubling of each Facilities is usually in large circuit arrangements made of Eosten- and lack of space not possible. Also leaves because of the possibly different Input signals of the two devices the deviation of their output signals only a conditional conclusion about their functionality. Not to mention in this case it cannot be said either which of the two devices is faulty is working.

Aus der DU-AS 1 191 437 ist es bekannt, elektronische Bauelemente auf ihre Funktionstüchtigkeit dadurch zu überprüfen, daß dem zu überprüfenden Bauelement ein als Normal dienendes Bauelement parallel geschaltet wird und beide an einen Sender angeschlossen sind. Die Ausgangssignale der beiden Bauelemente werden dann zueinander ins Verhältnis gesetzt, wobei aus dem sich ergebenden Verhältnis ein Rückschluß auf die Qualität des zu prüfenden Bauelementes möglich ist.From DU-AS 1 191 437 it is known electronic components to check their functionality by the fact that the component to be checked a component serving as a normal is connected in parallel and both to one Transmitters are connected. The output signals of the two components are then set in relation to each other, whereby from the resulting relation a It is possible to draw conclusions about the quality of the component to be tested.

Nachteilig bei dieser bekannten Schaltungsanordnung ist es, daß mittels dieser Schaltungsanordnung immer nur ein einziges Bauelement geprüft werden kann, welches zudem nicht rückwirkungsfrei mit dem als Normal dienenden Bauelement gekoppelt ist. Dieses Prüfungsverfahren ist somit im wesentlichen nur für passive Bauelemente geeignet. Auch werden in diesem Falle an den verwendeten Sender erhebliche Anforderungen gestellt, damit nicht durch einen Eurzschluß am Eingang des Prüflings der Sender zerstört wird oder trotz dieses offensichtlichen Fehlers am Prüfling an beiden Bauelementen das gleiche (vernachlässigbar kleine) Ansgangssignal erscheint.The disadvantage of this known circuit arrangement is that by means of this circuit arrangement can only ever be tested a single component, which, moreover, is not coupled in a non-reactive manner with the component serving as a standard is. This testing method is therefore essentially only for passive components suitable. In this case, too, there are considerable demands on the transmitter used provided, so not by a Eurzschluss at the entrance of the test item of the transmitter is destroyed or despite this obvious defect on the test item on both components the same (negligibly small) start signal appears.

Das in der DT-AS 1 191 437 beschriebene Verfahren ist insbesondere dann nicht geeignet, wenn statt eines Bauelements eine aktiv wirkende Flachbaugruppe verwendet wird und wenn zusätzlich noch verlangt wird, daß während des Prüfvorganges die Anlage ordnungsgemäß weiterarbeiten soll, zu der die fehlerhafte Flachbaugruppe gehört.The method described in DT-AS 1 191 437 is in particular then not suitable if instead of a component an actively acting flat module is used and if it is additionally required that during the test process the system to which the faulty flat module is to continue to work properly heard.

Aus der DT-AS 1 162 427 ist es bekannt, mehrere Bslaelemente nacheinander mit einem geeigneten Signal zu beaufschlagen und das sich ergebende Ausgangssignal mit einem Sollwert zu vergleichen. Dieses bekannte Verfahren arbeitet selbsttätig und ist damit relativ schnell, bedingt aber einen recht hohen Aufwand, da sämtliche Meßwerte in gespeicherter Form vorliegen müssen. Das gleiche gilt für die Toleranzwerte.From DT-AS 1 162 427 it is known to have several Bsla elements one after the other to apply a suitable signal and the resulting output signal to compare with a target value. This known method works automatically and is therefore relatively fast, but requires a lot of effort because all of them Measured values must be available in saved form. The same applies to the tolerance values.

Soweit mit dem bekannten Verfahren ständig immer wieder eine relativ kleine Anzahl von Meßwerten gemessen wird, bringt dieses Verfahren sicherlich erhebliche Vorteile.So far with the known method always again and again a relative If a small number of measured values is measured, this method certainly brings significant results Advantages.

Sollen aber eine oder mehrere fehlerhafte Flachbaugruppen einer großen elektronisch arbeitenden Anlage überprüft werden, so bringt dieses bekannte Verfahren eine Reihe von Nachteilen.But if one or more faulty printed circuit boards of a large electronically operating system are checked, this brings this known method a number of disadvantages.

Zum einen sind die Sollwerte schwer festzulegen, da die Anlagen vielfach unter unterschiedlichen Bedingungen betrieben werden. Zum anderen variieren die Werte an den einzelnen Meßpunkten während des Betriebes der Anlage ständig, so daß deren Vergleich mit einem statischen Sollwert keine sinnvollen Rückschlüsse mehr zuläßt.On the one hand, the setpoints are difficult to set because the systems are multiple operated under different conditions. On the other hand, they vary Values at the individual measuring points continuously during operation of the system, so that comparing them with a static setpoint no longer makes any meaningful conclusions allows.

Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren der eingangs geschilderDen Art sowie eine Schaltungsanordnung zur Du uhführung dieses Verfahrens anzugeben, welches insbesondere für große, elektronisch arbeitende Anlagen geeignet ist, relativ wenig schaltungstechnischen Aufwand erfordert, von dem Bedienungspersonal einfach gehandhabt werden kann und sich zudem durchführen läßt, ohne die Anlage oder Teile hiervon für die Dauer der Fehlereingrenzung stillsetzen zu müssenAy=Die Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren der eingangs genannten Art gelöst, welches sich durch die in dem Hauptanspruch angegebenen einzelnen Schritte auszeichnet. Dieses Verfahren besteht also im Prinzip darin, während der Prüfung die Anlage mit einer ordfllagsgemäß arbeitenden Flachbaugruppe zu betreiben. Dabei wird die zu prüfende Flachbaugruppe weiterhin von d.et nunmehr störungsfrei arbeitenden Anlage gngesteuert wobei Rückwirkungen der gestörten Flachbaugruppe auf die Anlage durch geeignete Entkopplungsmittel verhindert; werden.The object of the invention is to provide a method of the type described at the outset Specify the type and a circuit arrangement for carrying out this procedure, which is particularly suitable for large, electronically operating systems, relatively Requires little circuit complexity and is easy for the operating personnel can be handled and can also be carried out without the system or parts to have to stop therefrom for the duration of the fault isolationAy = The task is achieved according to the invention by a method of the type mentioned, which is characterized by the individual steps specified in the main claim. This procedure basically consists in using the system during the test to operate a printed circuit board that works in accordance with the relevant regulations. This becomes the Testing flat module continues from d.et now fault-free system gn-controlled with repercussions of the faulty flat module on the system prevents suitable decoupling agents; will.

Hinsichtlich der gestörten Leiterplatte wirkt die Anlage somit wie ein Prüfsender. Dies ist insofern zulässig, als die Anlage wegen des Einsatzes der ordnungsgemäß arbeitenden Flachbaugruppe wieder in der vorgeschriebenen Weise arbeitet. Die beiden parallel betriebenen und in ihrem Aufbau Überseinstimmenden Flachbaugruppen werden nun miteinander verglichen.With regard to the faulty circuit board, the system thus acts like a test transmitter. This is permissible insofar as the system because of the use of the properly working printed circuit board again works in the prescribed manner. The two flat modules that are operated in parallel and have the same structure are now compared with each other.

Dabei werden jeweils zwei einander entsprechende Meßstellen auf den Flachbaugruppen abgetastet und die anliegenden Signale auf eine Vergleichseinrichtung gegeben. Soweit diese Signale, die sich durchaus zeitabhängig ändern können, miteinander zumindest in bestimmten Grenzen übereinstimmen, läßt sich sagen, daß wenigstens an dieser Meßstelle die gestörte Blachbaugruppe ordnungsgemäß arbeitet. Durch eine sinnvolle Auswahl der Meßstellen kann somit der Revisor relativ ;hnell das zestcrte Bauelement auf der Flachbaugruppe a1lsfindig machen.Two measuring points corresponding to one another are placed on the Flat modules are scanned and the signals present on a Given comparison facility. So much for these signals, which are quite time-dependent can change, agree with each other at least within certain limits say that at least at this measuring point the faulty flat module is working properly is working. With a sensible selection of the measuring points, the auditor can relatively ; Quickly locate the destroyed component on the printed circuit board.

Dieses Verfahren ist auch dann noch sinnvoll, wenn super der gerade geprüften Flachbaugruppe noch weitere Flachbaugruppen in der Anlage gestört sind. In diesem Falle muß damit gerechnet werden, daß von der Anlage zu den beiden miteinander zu vergleichenden Flachbaugruppen abgegebene Ausgangssignale nicht vorschriftsmäßig sind.This procedure is also useful when the super is right now tested flat module and other flat modules in the system are disturbed. In this case it must be expected that from the plant to the two with each other Output signals issued to be compared with printed circuit boards not complying with regulations are.

Da -aber diese möglicherweise unvorschriftsmäßigen Signale auf beide Flachbaugruppen gleichzeitig einwirken, sollten sie auch auf beiden Baugruppen - soweit sie störungsfrei sind - die gleichen Meßwerte bedingen.Because -but these signals may be improper on both of them Flat modules act at the same time, they should also act on both modules - as far as they are free of interference - require the same measured values.

Das erfindungsgemäße Verfahren läßt sich aber in diesem Falle auch gleichzeitig hinsichtlich mehrerer gestörter Leiterplatten anwenden, wobei der Vergleich bei einem Flachbaugruppenpaar nach dem anderen stattfinden kann.However, the process according to the invention can also be used in this case apply simultaneously with regard to several faulty circuit boards, with the comparison can take place in a pair of flat modules after the other.

In vorteilhafter Weiterbildung des Verfahrens empfiehlt es sich, daß die miteinander zu vergleichenden Meßstellen durch manuelle Abtastungen nacheinander paarweise mit der Vergleichseinrichtung verbunden werden. Dieses Verfahren ist insbesondere dann zweckmäßig, wenn ein Revisor eine bei einem Kunden installierte Anlage zu überprüfen hat. In diesem Falle benötigt er außer den ordnungsgemäß arbeitenden Flachbaugruppen und einer relativ einfach aufgebauten Vergleichs einrichtung kaum andere Hilfsmittel.In an advantageous development of the method, it is recommended that the measuring points to be compared with one another by manual scanning one after the other be connected in pairs to the comparison device. This procedure is particular useful when an auditor inspects a system installed at a customer Has. In this case, he also needs the properly functioning printed circuit boards and a comparatively simple comparison facility, hardly any other aids.

Demgegenüber kann es bei einer zentralen Uberpriifung von fehlerhaften Flachbaugruppen unter Umständen zweckmäßiger sein, das Abtasten der miteinander zu vergleichenden Meßstellen automatisch vorzunehmen, indem etwa nach einer geeigneten und vorprogrammierten Strategie einzelne Meßstellen miteinander verglichen werden.On the other hand, a central review of faulty PCBs may be more useful, the scanning of each other to be carried out automatically to be compared measuring points, for example after a suitable and pre-programmed strategy, individual measuring points can be compared with one another.

Dieses erfahren wird aber nur dann sinnvoll sein, wenn eine entsprechende Menge gleichartiger fehlerhafter Baugruppen anfällt; und zentral überprüft wird.However, this experience will only make sense if a corresponding Quantity of similar defective assemblies occurs; and is checked centrally.

Soweit die einzelnen Meßstellen manuell abgetastet werden, besteht eine vorteilhafte Strategie zur Fehlereinkreisung darin, daß man zuerst auf der gestörten Flachbaugruppe einen fehlerhaft arbeitenden Ausgang feststellt. Ausgehend von diesem Ausgang werden dann die Meßstellen zum entsprechenden Eingang hin abgetastet, also entgegen der Richtung, in der ein Prozess auf der Flachbaugruppe abläuft. Auf diese Weise wird man schließlich zu einem oder mehreren Bauelemente kommen, bei dem zwar ein gestörtes Ausgangssignal, aber ungestörte Eingangssignale vorliegen. Dieses Bauelement wird in der Regel nicht mehr ordnungsgemäß arbeiten, was durch interne Fehler, aber auch durch fehlerhafte Beschaltung einer seiner Anschlüsse gegeben sein kann wie weiter unten noch erläutert wird. Soweit bei einem Bauelement sowohl das Eingangssignal als auch das Aus gangssignal anders als die entsprechenden Signale auf der als Norm dienenden Flachbaugruppe verlaufen, läßt sich hierdurch noch nicht auf eine Störung schließen, da ja ein fehlerhaftes Eingangssignal nicht zu einem richtigen Ausgangssignal führen kann.As far as the individual measuring points are scanned manually, there is An advantageous strategy for isolating errors is to first look at the faulty printed circuit board detects a faulty output. Outgoing The measuring points are then scanned from this output to the corresponding input, in other words, in the opposite direction in which a process takes place on the printed circuit board. on in this way one will eventually arrive at one or more components which has a disturbed output signal, but undisturbed input signals. This component will usually no longer work properly, which is caused by internal errors, but also due to incorrect wiring of one of its connections can be given, as will be explained further below. So much for one component both the input signal and the output signal different from the corresponding This allows signals to run on the flat module serving as a standard do not yet conclude that there is a malfunction, as a faulty input signal does not can lead to a correct output signal.

Soweit nicht nur der statische Zustand einer gestörten Flachbaugrgge überprüft werden soll, wird man vorteilhafter Weise die Meßstellen solange abtasten, wie der gesamte Arbeitsablauf der Anlage andauert, der gestört war, bevor die ordnungsgemäß arbeitende Norm-Flachbaugruppe eingesetzt wurde. Damit nach dem Einsetzen dieser Flachbaugruppen die Anlage wieder störungsfrei arbeitet, werden der zu prüfenden Flachbaugruppe über entsprechende Entkopplungsmittel die richtigen Eingangssignale übermittelt und es können dementsprechend die einzelnen Meßstellen wie weiter oben schon beschrieben vorzugsweise paarweise miteinander verglichen werden.So far not just the static condition of a faulty flat module is to be checked, it is advantageous to scan the measuring points as long as how the entire work process of the plant lasts, which was disrupted before the properly working standard flat module was used. So after the insertion this Flat assemblies, the system is working properly again, are the ones to be tested The correct input signals are supplied to the printed circuit board using the appropriate decoupling means and the individual measuring points can accordingly be as described above already described are preferably compared in pairs.

Zur Durchführung der oben beschriebenen Verfahren eignet sich besonders eine Schaltungsanordnung, die sich dadurch auszeichnet, daß sie mit einem Zwischenglied versehen ist, welches einen den Stecker der zu prüfenden Flachbaugruppe entsprechenden Stecker aufweist sowie mit zwei zu diesem Stecker passenden Kontaktleisten versehen ist, daß die einzelnen Steckerkontakte des Zwischengliedes nur mit den entsprechenden beiden Kontakten der zwei Leisten auf dem Zwischenglied verbunden sind, daß die Leistenkontakte der der zu prüfenden Flachbaugruppe zugeordneten Leiste in Richtung zu den Steckerkontakten durch Entkoppler entkoppelt sind, während die Leistenkontakte der der ordnungsgemäß arbeitenden Flachbaugruppe zugeordneten Leiste durchgehend mit den Steckerkontakten verbunden sind, daß die Schaltungs anordnung mit einer Vergleichseinrichtung versehen ist, welche die an dem jeweiligen Meßstellenpaar gemessenen Werte miteinander vergleicht und daß die Vergleichseinrichtung ein Alarmgerät besitzt, welches mit einem in seinem Größenwert der Abweichung der verglichenen Meßwerte entsprechendem Steuersignal angesteuert wird, wobei dieses Steuersignal das Ausgangssignal eiaes Vergleichers in der Vergleichseinrichtung bildet.The method described above is particularly suitable for performing the above a circuit arrangement which is characterized in that it has an intermediate member is provided, which corresponds to the connector of the PCB to be tested Has connector and provided with two matching contact strips for this connector is that the individual plug contacts of the intermediate link only with the corresponding both contacts of the two strips on the intermediate link are connected that the Strip contacts of the strip assigned to the printed circuit board to be tested in the direction to the plug contacts are decoupled by decouplers, while the strip contacts the strip assigned to the properly functioning printed circuit board are connected to the plug contacts that the circuit arrangement with a Comparison device is provided, which the at the respective measuring point pair compares measured values with one another and that the comparison device is an alarm device possesses, which with one in its magnitude value of the deviation of the compared Measured values corresponding control signal is controlled, this control signal forms the output signal of a comparator in the comparison device.

Das Zwischenglied läßt sich somit als Prüfadapter auffassen, der anstelle der gestörten Flachbaugruppe in die Anlage eingesteckt wird. Das Zwischenglied besitzt weiterhin zwei Steckerleisten, in die sowohl die Norm-Flachbaugruppe als auch die gestörte Flachbaugruppe eingesteckt werden können.The intermediate link can thus be understood as a test adapter that instead of the faulty flat module is plugged into the system. The pontic possesses furthermore two connector strips, in which both the standard flat module and the faulty flat module can be plugged in.

Auf dem Zwischenglied sind die Kontakte des Zwischengliedsteckers mit entsprechenden Kontakten der Steckerleisten zueinander parallel verbunden, wobei die Verbindung zu der Norm-Flachbaugruppe durchgehend parallel ist, während diese Verbindung zu der gestörten Flachbaugruppe hin mittels geeigneter Entkoppler geschieht.The contacts of the connecting link plug are on the connecting link connected in parallel to each other with corresponding contacts of the connector strips, wherein the connection to the standard printed circuit board is continuously parallel, while this Connection to the faulty flat module is done by means of a suitable decoupler.

Während die durchgehenden parallelen Verbindungen zur Norm-Flachbaugruppe dafür sorgt, daß diese funktions-!n-;.rJig an die Stelle der gestörten Flachbaugruppe tritt, hoben die Entkoppler die Aufgabe, zwar die gestörte achbaugruppe mit nunmehr störungsfreien Ausgangssignalen der Anlage zu versorgen, gleichzeitig aber zu verhindern, daß die gestörte Flachbaugrnppe mit nunmehr störungsfreien Ausgangssignalen der Anlage zu versorgen, gleichzeitig aber zu verhindern, daß die gestörte Flachbaugruppe in fehlerhafter Weise auf die Anlage zurückwirkt. Die Störung in der Anlage ist, wie weiter oben schon erläutert, deshalb beseitigt, weil die voraussetzungsgemäß störungsfrei arbeitende N9rm-Flachbaugruppe statt der gestörten Flachbaugruppe über den Zwischenstecker zur Anlage durchgeschaltet ist und mit dieser ordnungsgemäß zusammenwirkt. Die Schaltungsanordnung ist weiterhin zweckmäßigerweise mit einer Vergleichs einrichtung versehen, die sie von den Meßstellen abgegriffenen Signale aufnimmt und miteinander vergleicht. Die Anlage wirkt dabei ähnlich wie ein Meßsender, der beide Flachbaugruppen mit Signalen versorgt, wobei allerdings gegenüber den bekannten Prüfsendern der Vorteil besteht, daß die Flachbaugruppen zum einen mit Signalen beaufschlagt werden, wie sie unter den Betriebsbedingungen der Anlage tatsächlich auftreten und zum anderen die Anlage trotz des Prüfvorgangs störungsfrei weiterarbeitet. Während also bei den bekannten Prüfsendern die in der Praxis auftretenden vielfältigen Signale nur bedingt und bei sehr großen Anlagen wohl überhaupt nicht nachgebildet werden können, besteht mit der erfindungsgemässen Schaltungsanordnung eine Möglichkeit, derartige Signale zur Verfügung zu stellen.While the continuous parallel connections to the standard printed circuit board ensures that this functional! n - ;. rJig takes the place of the faulty flat module occurs, the decoupler lifted the task, although the faulty axle assembly with now to supply interference-free output signals of the system, but at the same time to prevent that the faulty flat module with now fault-free output signals of the To supply the system, but at the same time to prevent the faulty flat module has an erroneous effect on the system. The fault in the system is as already explained above, eliminated because the prerequisites fault-free N9rm flat module instead of the faulty flat module the adapter plug is switched through to the system and properly with it cooperates. The circuit arrangement is also expediently with a Comparison device provided, which they tapped signals from the measuring points records and compares them with each other. The system acts like a measuring transmitter, which supplies both printed circuit boards with signals, although compared to the known test transmitters has the advantage that the flat modules on the one hand Signals are applied as they actually are under the operating conditions of the system and, on the other hand, the system continues to work without any problems despite the test process. While the known test transmitters are varied in practice Signals only to a limited extent and probably with very large systems at all cannot be simulated, exists with the circuit arrangement according to the invention a way to provide such signals.

Die Vergleichs einrichtung ist mit einem Alarmgerät versehen, welches dann eingeschaltet wird, wenn die beiden Signale an den gerade abgetasteten Meßstellen sich voneinander unterscheiden. Die Vergleichseinrichtung besitzt hierz1l einen Vergleicher, dem die vorzugsweise über Prspitzen abgetasteten Signale zugeführt werden.The comparison device is provided with an alarm device, which is switched on when the two signals at the measuring points just scanned differ from each other. The comparison device has one herez1l Comparator to which the signals, preferably sampled via probe tips, are fed will.

Soweit weit sicfl 4e Signale voneinander unterscheiden, gibt der Vergleicher ein Steuersignal an das Alarmgerät in der Vergleichslrzichtung ab, welches dann betätigt wird.As far as they differ widely from each other, the comparator gives a control signal to the alarm device in the comparative direction, which then is operated.

D die über das Zwischenglied übermittelten Signale zeitliche Verzögerungen unterschiedlicher Art erleiden können und da eine Fiachbaugruppe auch dann noch ordnungsgemäß arbeitet, wenn die auf ihr auftretenden Signale nur geringfügig von der Norm abweichen, empfiehlt es sich in Weiterbildung der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung, daß das Alarmgerät mit einem Toleranzprüf er versehen ist, der die Aussendung eines durch das Steuersignal bedingten Alarms solange verhindert, wie die Abweichung der beiden an den Meßstellen gemessenen Signale nicht einen bestimmten Größenwert überschreitet. Auf diese Weise kann verhindert werden, daß durch das Alarmgerät Meßstellen als fehlerhaft gekennzeichnet werden, obwohl diese für die Funktionstüchtigkeit der Leiterplatte genügende Signale abgeben.D the signals transmitted via the intermediate element, time delays of different types and even then a flat assembly works properly when the signals appearing on it are only slightly different from deviate from the standard, it is recommended in a further development of the circuit arrangement according to the invention, that the alarm device is provided with a tolerance tester that sends out a prevents the alarm caused by the control signal as long as the deviation of the the two signals measured at the measuring points does not exceed a certain value. In this way it can be prevented that by the alarm device measuring points as incorrectly marked, although this is necessary for the functionality of the Send sufficient signals to the printed circuit board.

Der Toleranzprüfer kann dabei in vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung derart ausgestattet sein, daß der Vergleicher bei Ungleichheit der verglichenen Signale ein Steuersignal abgibt, dessen Dauer der Größe der Ungleichheit entspricht. Die Dauer des Signals wird über ein UND-Glied mit der einstellbaren Verzögerungszeit einer monostabilen Kippstufe verglichen. Die Verzögerungszeit entspricht also der vorgebbaren Toleranz.The tolerance tester can in an advantageous development of the invention be equipped in such a way that the comparator in the event of inequality of the compared Signals emits a control signal whose duration corresponds to the size of the inequality. The duration of the signal is determined by an AND element with the adjustable delay time compared to a monostable multivibrator. The delay time therefore corresponds to specifiable tolerance.

ttberschreitet die Dauer des Steuersignales die Verzögerungszeit so wird Alarm ausgelöst ç ie weiter unten noch erläutert wird, kann das Zwischenglied derart ausgestaltet sein, daß es in seinem mit den beiden Flachbaugruppen versehenen Zustand so breit ist, daß es sich nicht mehr in die Anlage einstecken läßt, da der vorgesehene Raum nur für eine einzige Flachbaugruppe bemessen ist. Hier kann in vorteilhafter Ausgestaltung der Erfindung Abhilfe det'urch geschaffen werden, daß zwischen die Anlage und das Zwischenglied ein im wesentlichen die Abmessungen einor Flachbaugruppe aufweisendes Verlängerungsglied geschaltet ist.ttIf the duration of the control signal exceeds the delay time so if an alarm is triggered ç as will be explained below, the pontic be designed so that it is provided in its with the two printed circuit boards State is so wide that it can no longer be plugged into the system because the The space provided is only dimensioned for a single printed circuit board. Here in Advantageous embodiment of the invention remedy can be created by that between the system and the intermediate member a substantially the dimensions einor Flat module having extension member is connected.

Hinsichtlich der Entkoppler ist es besonders vorteilhaft, wenn sowohl erste als auch zweite Entkopplungsmittel vorgesehen werden. Wie weiter oben schon erläutert, werden diese Entkoppler nur in die Verbindungen zwischen den S-teckerkontakten des Zwischengliedes und die Leistenkontakte geschaltet, die der gestörten Flachbaugruppe zugeordnet sind. Dabei wird vorzugsweise in jeder der zueinander parallel verlaufenden Verbindungen ein Verstärker geschaltet, dessen Eingang zu dem zugehörigen Steckkontakt und dessen Ausgang zu dem zugehörigen Leistenkontakt gerichtet ist Auf diese Weise wird verhindert, daß die Eingänge der gestörten Flachbaugruppe auf die Anlage und die Eingänge der Norm-Flachbaugruppe zurückwirken können. Diese Entkopplung reicht aber fiir die Ausgänge der gestörten Flachbaugruppe noch nicht aus. Bei zu den Ausgängen dieser Baugruppen führenden Verbindungen ist zusätzlich Jeweils ein zweites Entkopplungsmittel vorgesehen, das in einfacher Weise in einer Unterbrechung der Verbindung besteht. Die ersten und gegebenenfalls zweiten Entkopplungsmittel liegen in Jeder Verbindung in Reihe, wobei vorzugsweise die Unterbrechung zwischen dem Verstärker und dem Leistenkontakt angeordnet ist. Es sind somit die Ausgänge der fehlerhaft arbeitenden Baugruppe durch die zweiten Entkopplungsmittel vollkommen von der Anlage abgetrennt. Die zweiten Entkopplungsmittel lassen sich gunstig durch ein Rangierfeld darstellen, welches beispielsweise mit abziehbaren Eurzschlußsteckern oder mit einsteckbaren Schnüren gebildet sein kann.With regard to the decoupler, it is particularly advantageous if both first and second decoupling means are provided. As above explained, these decouplers are only used in the connections between the plug contacts of the intermediate link and the strip contacts switched, those of the faulty printed circuit board assigned. It is preferred in each of the mutually parallel Connections an amplifier switched, its input to the associated plug contact and whose output is directed to the associated strip contact In this way prevents the inputs of the faulty printed circuit board from being transmitted to the system and the inputs of the standard printed circuit board can have a retroactive effect. This decoupling is sufficient but not yet sufficient for the outputs of the faulty printed circuit board. At the exits A second decoupling means is also used in each of these connections leading to the assemblies provided, which consists in a simple manner in an interruption of the connection. The first and optionally second decoupling means are in each connection in series, preferably the break between the amplifier and to the Strip contact is arranged. They are therefore the outputs of the faulty ones The assembly is completely separated from the system by the second decoupling means. The second decoupling means can be conveniently represented by a patch panel, which, for example, with removable European connectors or with plug-in Cords can be formed.

Verteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen. Ein Ausführungsbeispie der Erfindung wird nachfolgended anhand der Zeichnung erläutert. Darin zeigt: Fig. 1 1 in stark vereinfachter Darstellung ein Zwischenglied, ein Verlängerungsglied sowie zwei miteinander zu vergleichende Flachbaugruppen, Fig. 2 in vereinfachter räumlicher Darstellung ein Zwischenglied mit Flachbaugruppen, Entkopplungsmitteln, Vergleichseinrichtung und Verlängerungsglied, Fig.3 in vereinfachter symbolischer Darstellung die Vergleichs einrichtung, Fig.4 ein Beispiel für eine Fehlersuchstrategie und Fig.5 ein Schema für die Festlegung der Toleranzen.Distributable developments of the invention emerge from the subclaims. An exemplary embodiment of the invention is explained below with reference to the drawing. Therein shows: FIG. 1 1 in a greatly simplified representation an intermediate member Extension link and two flat modules to be compared with one another, Fig. 2 in a simplified spatial representation an intermediate link with flat modules, Decoupling means, comparison device and extension member, Figure 3 in a simplified symbolic representation of the comparison device, Figure 4 is an example of a Troubleshooting strategy and Fig. 5 a scheme for defining the tolerances.

In Fig.1 ist ganz links ein Teil der Anlage A dargestellt, von der im wesentlichen nur die Steckerleiste L3 mit den Leistenkontakten L3K1, B3K2, L3K3 usw. bis L3Kn zu sehen ist. Diese Leistenkontakte der Ste'kerleiste L3 sind über ein Verbindungsglied VG mit den Steckkontakten 53K1, S3K2, 53K3 des Steckers S3 von einem Zwischenglied ZG durchverbunden. Die Verbindung erfolgt über Verbindungsleitungen VL1, VL2, VL3 usw.In Figure 1, a part of the system A is shown on the far left, of which essentially only the connector strip L3 with the strip contacts L3K1, B3K2, L3K3 etc. until L3Kn can be seen. These strip contacts of the connector strip L3 are over a connecting member VG with the plug contacts 53K1, S3K2, 53K3 of the plug S3 through-connected by an intermediate link ZG. The connection he follows via connecting lines VL1, VL2, VL3 etc.

bis VI,n in dem Verlängerungsglied VG, wobei die Verbindungsleitungen von den Steckkontakten des Steckers S4 zueinander parallel zu den entsprechenden Leistenkontakten der Kontaktleiste L4 verlaufen. Jede der einzelnen Steckkontakte S3K1, 83K2, S3K3 usw. bis S3Kn ist einmal mit einem entsprechenden Leistenkontakt L2K1, L2K2, L2K3 usw. bis L2Kn der Leiste L2 und zum anderen jeweils mit einem Leistenkontakt L1K1, L1K2, L1K3 usw. bis L1Kn der Leiste L1 auf dem zwischenglied 7L verbunden. Die Verbindung zu den Kontakten der meiste L1 erfolgt iiber Entkoppler VS'1, VS2, VS3 usw.to VI, n in the extension link VG, the connecting lines of the plug contacts of the plug S4 parallel to each other to the corresponding Strip contacts of the contact strip L4 run. Each of the individual plug contacts S3K1, 83K2, S3K3 etc. up to S3Kn is once with a corresponding strip contact L2K1, L2K2, L2K3 etc. to L2Kn of the strip L2 and on the other hand each with a strip contact L1K1, L1K2, L1K3 etc. to L1Kn of the bar L1 are connected to the link 7L. The connection to the contacts of most of the L1s is made via decouplers VS'1, VS2, VS3 etc.

@s VSn sowie weitere Entkoppler U1, U2, U3 usw. bis Un, so das diese Verbindungen VI, V2, V3 bis Vn zur Leiste L1 stark entkoppelt sind. Aus Gründen der besseren Ubersichtlichkeit sind die einzelnen Stecker 81 bis S4 nicht in die gemäß der Fig.1 zugehörigen Steckerleisten LI bis L4 eingesteckt. Alle Stecker 51 bis S4 sind gleichartig ausgestaltet; das gleiche gilt auch für die Kontaktleisten L1 bis L4, so daß jeder Stecker zu jeder Kontaktleiste paßt.@s VSn and other decouplers U1, U2, U3, etc. to Un, so this one Connections VI, V2, V3 to Vn to the bar L1 are strongly decoupled. For reasons For the sake of clarity, the individual plugs 81 to S4 are not in the plugged in according to the Fig. 1 associated connector strips LI to L4. All connectors 51 to S4 are designed in the same way; the same applies to the contact strips L1 to L4 so that each connector fits each contact strip.

In der Steckerleiste L2 steckt ein entsprechender Stecker 52 mit den Steckerkontakten S2K1, S2K2, S2K3 usw. bis S2Kn. Dieser Stecker ist mit einer ordnungsgemäß arbeitenden Flachbaugruppe OAF verbunden, die als Norm Flachbaugruppe dient und voraussetzungsgemäf3 über-das Zwischenglied ZG und das Verlängerungsglied VG ordnungsgemäß mit der Anlage A zusammenarbeitet Mit der Steckerleiste L1 ist ein Stecker S1 mit seinen Steckkontakten 51K1, 81K2, S1K3 usw. bis S1Kn befestigt, der die zu prüfende Flachbaugruppe ZPF trägt, welche ursprünglich mittels ihres Steckers S1 und der Kontaktleiste L3 direkt mit der Anlage verbunden war, wobei allerdings die Anlage A einen gestörten Betrieb aufwies. Dieser gestörte Betrieb ist nun, nachdem die Norm-Flachbaugruppe OAF direkt mit der Anlage, die zu ildiende Fiachbaugruppe ZPF aber nur über die Entkoppler mit der Anlage A zusammenarbeitet, nicht mehr gegeben, da wegen der Entkoppler die Störungen zur er F1 Flachbaugruppe 7i nicht mehr auf die Anlage einwirken können. Die Entkoppler bestehen zum einen aus ersten Entkopplungsmitteln VS1, VS2, VS3 usw.In the connector strip L2 is a corresponding connector 52 with the Connector contacts S2K1, S2K2, S2K3 etc. to S2Kn. This plug is with a properly working flat module OAF, which serves as a standard flat module and Prerequisites according to the intermediate link ZG and the extension link VG properly cooperates with the system A. With the connector strip L1 is a connector S1 with its plug contacts 51K1, 81K2, S1K3 etc. attached to S1Kn, which is the one to be tested Flat module ZPF, which originally by means of its connector S1 and the Contact strip L3 was directly connected to the system, although the system A exhibited abnormal operation. This disturbed operation is now after the Standard flat module OAF directly with the system, the flat module ZPF to be formed but only works with system A via the decoupler, no longer given, because because of the decoupler, the interference to the F1 flat module 7i no longer occurs the system can act. The decouplers consist on the one hand of first decoupling means VS1, VS2, VS3 etc.

dies VSn, die durch Verstärker gebildet sind und zum anderen aus zweiten Entkopplungsmitteln U1, U2 usw.this VSn, which are formed by amplifiers and on the other from second Decoupling means U1, U2 etc.

Das Un. die durch Unterbrechungen der Verbindungen V1, V2, V3 usw. bis Vn dargestellt sind. Soweit die Kontakte S1K1, S1K2, S1K3 usw. bis S1Kn Eingänge der zu prüfenden Flachbaubruppe bilden, sind diese nur der @@ die Verstärker VS1, VS2, VS3 usw. bis VSn entkoppelt. Die entsprechenden Ausgänge an der Kontaktleiste L3 der Anlage A können also über die Verstärker VS auf die eingänge der zu prüfenden Flachbaugruppe einwirken, da bei den zu diesen Eingangen gehörenden Verbindungen V die zweiten Entkopplungsmittel U nicht eingeschaltet sind.The Un. caused by interruptions in connections V1, V2, V3 etc. to Vn are shown. As far as the contacts S1K1, S1K2, S1K3 etc. to S1Kn inputs of the flat assembly to be tested, these are only the @@ amplifiers VS1, VS2, VS3 etc. to VSn decoupled. The corresponding outputs on the contact strip L3 of the system A can therefore be connected to the inputs of the to be tested via the amplifier VS. Take effect on the flat module, because the connections belonging to these inputs V the second decoupling means U are not switched on.

Dies gild aber nicht für die Ausgänge der zu prüfenden Flachbaugruppe ZPF, die von den entspredchenden Eingängen an der Kontaktleiste L3 der Anlage A durch zweite Entkopplungsmittel U abgetrennt sind, welche aus Unterbrechungen bestehen.However, this does not apply to the outputs of the printed circuit board to be tested ZPF, which from the corresponding inputs on the contact strip L3 of the system A are separated by second decoupling means U, which consist of interruptions.

In Wig. 1 ist angenommen, daß an den Steckerkontakten S1K-1 und S1Kn sich Eingänge und an den Steckerkontakten S1K2, S1X3 Ausgänge der zu prüfenden Flachbaugruppe ZPF befinden. Dementsprechend sind auf den Verbindungen V1 und Vn die Unterbrechungen U1 und Un durch Überbrückung ausgeschaltet, während sie in den Verbindungen V2 und V3 beispielsweise durch Ziehen eines Kurzechlu3steckems eingeschaltet sind. Wegen der Unterbrechunh U2 und U3 können also die gennanten Ausgänge der zu prüfenden Flachbaugruppe nicht auf die Eingänge L3K2 und L3K3 einwirken, während dies nicht für die Ausgänge S2K2, S2K3 der ordnungsgemäß arbeitenden Flachbaugruppe gilt, die direkt laiL diesen eingangen verbunden sind.In wig. 1 it is assumed that the plug contacts S1K-1 and S1Kn there are inputs and, at the plug contacts S1K2, S1X3, outputs of the printed circuit board to be tested ZPF are located. The interruptions are accordingly on connections V1 and Vn U1 and Un switched off by bridging, while they are in the connections V2 and V3 are switched on, for example, by pulling a short connector. Because the interruption U2 and U3 can so the named outputs of the printed circuit board to be tested do not affect inputs L3K2 and L3K3, while this is not the case for the outputs S2K2, S2K3 of the properly working flat module applies that are directly linked to these inputs.

Auf diese Weise läuft die zu prüfende Flachbaugruppe mit der ordnungsgemäßen Flachbaugruppe mit, ohne durch Fehler den Arbeitsablauf der Anlage zu stören.In this way, the PCB under test runs with the correct one Flat module with, without disturbing the work flow of the system through errors.

In Fig. 2 sind noch wesentliche Teile der Fig. 1 perspektivisch dargestellt. Stecker und Kontakte leisten sind in verbundenem Zustand gezeigt, wobei allerdings der Stecker S4 des Verbindungsgliedes VG ohne die zugehörige Leiste L3 der Anlage gezeigt ist.In Fig. 2, essential parts of Fig. 1 are also shown in perspective. Plugs and contacts are shown in the connected state, although the connector S4 of the connecting link VG without the associated bar L3 of the system is shown.

Die weiter oben bschriebenen entkoppelnden Verstärker VS'I bis VSn sind mittels Kerten ebenfalls auf das Zwischenglied aufgesteckt. Weiterhin ist ein Rangierfeld gezeigt, welches es ermöglicht, die Anschaitung der zweiten Entkopplungsmittel an die jeweilige Ausgestaltung der gerade z1l prüfenden Flachbaugruppen anzupassen, indem auf dem Rangierfeld RF entsprechend der Lage der Ausgänge auf der zu prüfenden Flachbaugruppe Kurzachlußstecker gezogen oder gesteckt werden.The decoupling amplifiers VS'I to VSn described above are also attached to the pontic by means of cores. Furthermore is a Patch panel shown, which makes it possible to connect the second decoupling means to adapt to the respective design of the flat modules currently being tested, by placing on the patch panel RF according to the location of the outputs on the to be tested PCB short-circuit plug can be pulled or plugged in.

Weiter oben wurde schon erläutert, daß währeiid des Prüfvorgangs die beiden Flachbaugruppen OAF und ZPF miteinander parallel arbeiten, so daß es möglich ist1 durch Vergleich der Signaiverläufe an einander eritsprechenden Meßstellen MS auf den beiden Flachbaugruppen Fehl erstellen auf der Flachbaugruppe ZPF zu finden. Hierzu werden vorzugsweise durch Anklemmen zweier Prüfspitzen an miteinander vergleichbare Meßstellen die zu vergleichenden Signale auf eine Vergleichseinrichtung VE gegeben, die in Fig. 2 ebenfalls in Form einer auf das Zwischenglied ZG aufgesteckten Karte dargestellt ist. Die Vergleichseinrichtung VE selbst ist mit einem Vergleicher V sowie einem Alarmgerät AG versehen, welches wiederum einen Toleranzprüfer TP enthalt. Einzelheit er der Vergleichseinrichtung VF werden weiter unten beschrieben Bei der miteinander z;L vergleichenden Signalen, die ber die Meßleitungen ML zu der Vergleichseinrichtung VE gelengen, handelt es sich nicht um statische sondern im wesentlichen' um dynamische Signales die durch den Arbeitsablauf der störungsfrei arbeitenden Anlage bedingt sind.It has already been explained above that during the test process the both flat modules OAF and ZPF work in parallel with each other so that it is possible ist1 by comparing the signal curves at mutually corresponding measuring points MS Create error on the two flat modules to be found on the ZPF flat module. For this purpose, two test probes are preferably connected to comparable test probes Measuring points the signals to be compared are given to a comparison device VE, those in Fig. 2 as well in the form of an on the intermediate link ZG attached card is shown. The comparison device VE itself is with a comparator V and an alarm device AG, which in turn is a tolerance tester TP contains. Details of the comparison device VF are described below In the case of the signals which are compared with one another and which are transmitted via the measuring lines ML to the comparison device VE succeed, it is not static but essentially 'about dynamic signals that run smoothly through the workflow working system.

Die beiden beispielsweise durch eine Kette von Impu]sn gebildeten Signale kommen (siehe Fig. 3) r die Meßleitungen zu den beiden getrennten eingängen des Vergleichers V. Dieser Vergleicher ist nicht Gegenstand der Erfindung und soll hier nicht näher erläutert werden.The two, for example, are formed by a chain of impulses Signals come (see Fig. 3) r the measuring lines to the two separate inputs of the comparator V. This comparator is not the subject of the invention and is intended not be explained in detail here.

Er kann beispielsweise aus einem TTL-Baustein bestehen, wie er unter der Nummer SN 74 8S im Handel erhältlich ist. Der Vergleicher V gibt an seinem Ausgang ein Steuersignal SS ab, dessen Dauer im wesentlichen proportional dem zeitlichen Abstand zweier vergleichbarer Impulsflanken der beiden miteinander zu vergleichenden Signale ist. Dabei wird ein Steuersignal SS eusgesendet, unabhängig davon, ob die Impuls flanke des Signals der OhF der entsprechenden Impulsflanke der ZPF folgt oder dieser~vorangeht. In dem vorgiegenden Ausführungsbeispiel ist somit die Dauer des Steuersignals ein Maß für der Abstand zweier miteinander vergleichbarer Impulsflanken der beiden Signale. Wie aus Fig. 3 ersichtlich, schaltet das Steuersignal SS eine monostabile Kippstufe NK, deren invertierter Ausgang mit einem UND-Glied TIG verbunden ist, während der zweite Eingang dieses Gliedes ebenfalls von dem Steuersignal beaufschlagt wird. An dem Ausgang dieses UND-Gliedes UG erscheint nur dann ein Signal, wenn das Steuersignal SS noch wirksam ist, die Verzögerungszeit der monostabilen Kippstufe MK aber bereits abgelaufen ist. Dabei muß dafür gesorgt werden, daß die monostabile Kippstufe nur durch die AnstiegsflKnke des Steuersignals SS eingeschaltet werden kann. Das Ausgangssignal UG gelangt auf einen Eingang einer bistabilen Kippstufe BK, welche eine mit einer Spannungsquelle le SQ verbundenen Lampe L e-inschaitet. Die Einschaltung der Lampe zeigt also an, daß die Dauer des Steuersignals SS einen die Verzögerungszeit MK überschreit;endn Wert aufweist. Durch diese Verzög;erungszeit ist also ein Toleranzwert festgelegt, bei dessen Unterschreitung kein Alarm erfolgt. Die Uberprüfung auf Toleranzwerte erfolgt unabhängig von der Form und der Periodizität der vorzugsweise impulsförmigen, miteinander zu vergleichenden Signale.For example, it can consist of a TTL block, as described under the number SN 74 8S is commercially available. The comparator V is at its output a control signal SS, the duration of which is essentially proportional to the time Distance between two comparable pulse edges of the two to be compared with one another Signals is. A control signal SS is sent out, regardless of whether the Pulse edge of the signal of the OhF follows the corresponding pulse edge of the ZPF or this ~ precedes. In the present exemplary embodiment, this is the duration of the control signal is a measure of the distance between two comparable pulse edges of the two signals. As can be seen from FIG. 3, the control signal SS switches on monostable multivibrator NK, the inverted output of which is connected to an AND gate TIG is, while the second input of this element is also of the Control signal is applied. At the output of this AND element UG only appears then a signal when the control signal SS is still effective, the delay time of the monostable multivibrator MK has already expired. It must be ensured that the monostable multivibrator can only be controlled by the rising edges of the control signal SS can be switched on. The output signal UG arrives at an input of a bistable multivibrator BK, which is connected to a voltage source le SQ Lamp switched on. Switching on the lamp indicates that the duration of the Control signal SS one exceeds the delay time MK; endn has a value. By this delay time is therefore a tolerance value, which is undershot there is no alarm. The check for tolerance values takes place independently of the Shape and periodicity of the preferably pulse-shaped, to be compared with one another Signals.

Ist durch Aufleuchten der Lampe L oder irgendeine anderen Anzeigers eine Abweichung der beiden Signale festgesteilt worden, so kann der Fehler durch eine geeignete Strategie eingekreist wellen, wie weiter unten noch beschrieben wird. Nach Registrierung der Störungsanzeige durch die Lampe L kann diese mittels eines Rückstellkontaktes R über die bistabile Kippstufe BK wieder gelöscht werden, woraufhin ein weiterer Vergleich gegebenenfalls zwischen anderen Meßstellen erfolgen kann.Is by lighting up the lamp L or some other indicator If a discrepancy between the two signals has been determined, the error may result a suitable strategy circled, as described below. After registration of the fault indication by the lamp L this can be done by means of a Reset contact R can be deleted again via the bistable flip-flop BK, whereupon a further comparison can optionally be made between other measuring points.

In Fig.4 ist eine günstige Strategie zur Lokalisierung von Fehlern unter Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens dargestellt. Fig.4 zeigt einen Auszug aus einem Schaltplan, in dem die Gatter G1 bis G14 mit ihrer. Verbindungsleitungen dargestellt sind. Bei der Uberpr;iCung der Flachbaugruppe muß nun der Revisor bestrebt sein, als erstes einen gestörten Ausgang Ag zu finden und dann von diesem aus die Meßstellen M5 allmählich zu den zugeordneten E1?:gängen E hin zu verlegen. In Fig.4 sind einzelne Meßpunkte (MS1 bis MS13) dargestellt, wie die bei dem angenommenen Fehler von dem Revisor is vorteilhafter Reihenfolge abgetastet werden würden.In Fig.4 is a favorable strategy for locating errors shown using the method according to the invention. Fig.4 shows a Extract from a circuit diagram in which the gates G1 to G14 with their. Connecting lines are shown. The auditor must now endeavor to check the printed circuit board be first to find a disturbed exit Ag and then from from this the measuring points M5 gradually to the assigned E1? embarrassed. In Figure 4, individual measuring points (MS1 to MS13) are shown, as in the assumed fault by the auditor is scanned in an advantageous order would be.

Es versteht sich von selbst, daß die Abtastung der einzelnen Meßpunkte MS1 bis MS13 auf den beiden miteinander zu vergleichenden Flachbaugruppen gleichzeitig @@@@schient, wobei ein Meßstellenpaar nach dem anderen @@@@ets@tet wird. Ausgehend von dem gestörten Ausgang Ag, @@ beipielesweise durch den Steckkontkakt S1K2 des Steckers S1 gebildet sein kann, wird erst die Meßstelle @@@@ überprüft, die wie durch eine dick herausgezeichnete Leitangslinie angedeutet ist, als fehlersheft befunden wird wanrend engenommen werden soll, daß bei den dünn nerausgezeichneten Leitungen der Revisor mittels der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung keinen Fehler findet. Nacii der Meßstelle MS1 tastet der Revisor nach einander die Eingänge der vorangegaugenen Bauelemente (hier der Gatter G1, 2, G3) ab bis er schließlich zu dem Meßpunkt MS12 (Eingang des Gatters G11) kommt. Da beide Eingangssignale des Gatters G11 keine Fehler aufweisen, des Ausgangsignal von G11 aber falsch ist, muß entweder das Gatter G11 selbst oder dessen Ausgangsleitung fehlerhaft geschaltet sein, wobei - wie hier angenommen werden soll - der Fehler in einem Kurzschluß der Ausgangsleitung liegt.It goes without saying that the sampling of the individual measuring points MS1 to MS13 on the two flat modules to be compared at the same time @@@@ schient, whereby one measuring point pair after the other is @@@@ ets @ tet. Outgoing from the disturbed output Ag, @@ for example through the plug contact S1K2 of the Plug S1 can be formed, the measuring point @@@@ is checked first, which like is indicated by a thick guideline line, as an error booklet It is found that it should be assumed that the thin ner excellent Lines of the auditor by means of the circuit arrangement according to the invention no fault finds. After the measuring point MS1, the auditor scans the inputs of the one after the other previous components (here the gates G1, 2, G3) until it finally closes the measuring point MS12 (input of the gate G11) comes. Since both input signals of the Gate G11 must have no errors, but the output signal from G11 is wrong either the gate G11 itself or its output line switched incorrectly be, whereby - as should be assumed here - the error in a short circuit of the Output line lies.

In Fig.5 ist noch schematisch die Wirkung des Tolerauspröfers anhand eines SOLL-Signals dargestellt, das mit unterschiedlichen IST-Signalen IST1 bis IST4 verglichen wird. Die in ihrer Länge ständig gleichbleibende Verzögerungszeit der monostabilen Kippstufe nach Fig. 3 ist jeweile durch einen Pfeil gleichbleibender Länge angedeutet, wobei dieser Pfeil jeweils mit der zueist ansteigenden oder zuerst abfallenden Flanke beginnt.In Figure 5, the effect of the tolerance tester is still schematically based a TARGET signal shown with different ACTUAL signals IST1 to IST4 is compared. The delay time, which is constant in length the monostable multivibrator according to FIG. 3 is more constant in each case by an arrow Length indicated, with this arrow in each case with the mostly ascending or first falling edge begins.

Hinsichtlich des Signals IST, beginnt die Verzöge--ufgszeit mit der Anstiegsflanke dieses Signals, (da die Flanke des Signals SOLL erst später kommt) und mit der Abs tiegsflanke des Signals SOLL. Umgekehrtes gilt fr das Signal IST2. Da der Abstand der Anstiegsflaken bzw. Absteigsflanken voneinander kleine als die Länge dies Pfeils VZ ist, wird bei diesen beiden esten IST-Signalen kein Alarm ausgelöst.With regard to the IST signal, the delay time begins with Rising edge of this signal (since the edge of the SOLL signal comes later) and with the falling edge of the signal SOLL. The opposite applies to the signal IST2. Since the distance between the rising or falling edges is smaller than the If the length of this arrow is VZ, no alarm is triggered for these two first IST signals.

':Jas anderes gilt allerdings für die beiden Signale IST3, IST4, bei de.-en der Abstand ihrer Anstiegs- bzw. Abstiegsflanken gegenüber den entsprecnenden Flanken des Signales SOLL größer als die Dauer der Verzögerungszeit ist:. Bei diesen beiden Signalen wird also Alarm ausgelöst Dabei ist es nicht nötig, daß sowohl die Anstiegsals auch die Abstiegs flanke einen zu großen Abstand von der entsprechenden Flanke des SOLL-Signals hat. Es genügt allein ein zu großer Abstand auf der Anstiegs-.': Yes, something else applies to the two signals IST3, IST4, at de.-en the distance between their rising or falling edges compared to the corresponding The edges of the SOLL signal is greater than the duration of the delay time :. With these Both signals will trigger an alarm. It is not necessary that both the Both the rising and the falling flank are too far apart from the corresponding one Has the edge of the NOMINAL signal. It is sufficient to have too great a distance on the ascent.

oder Abstiegsseite, um schon Alarm auszulösen. Wie weiter oben schon erläutert, werden die Eingangssignale ES von der Anlage abgegeben.or descent side to trigger the alarm. As above explained, the input signals ES are emitted by the system.

Es ist nicht unbedingt notwendig, daß immer nur einzelne Meßpunkte manuell abgegriffen werden Im Rahmen der Erfindung können auch gleichzeitig mehrere Meßpunkte, gegebenenfalls auch automatisch miteinander verglichen werden. Die Toleranz sollte bei elektronisch geste1lerten Vermittlungsanlagen nicht kleiner als 100 ns (Nanosekunden) gewählt werden, so daß in Systemen mit Grundtaktfrequenzen bis 10 hEz eine optimale Fehler eingrenzung durchgeführt werden kann Auch Amplitudenunterschiede können bei den beiden miteinander zu vergleichenden Signalen ausgewertet werden, etwa Indem die Amplitude des Steuersignals proportional der Spannungsdifferenz der beiden miteinander zu vergleichenden Signale gewählt wird. In diesem Fall kann beispielsweise die Ansprechschwelle eines TTL-Brusteins zur Auswertung dieses Amplitudenunterschiedes und zur entsprechenden Alarmgebung eingesetzt werden.It is not absolutely necessary that only individual measuring points are used be tapped manually Within the scope of the invention, several Measuring points, if necessary also automatically compared with one another. The tolerance In the case of electronically controlled switching systems, it should not be less than 100 ns (Nanoseconds) can be selected so that in systems with basic clock frequencies up to 10 hEz an optimal fault isolation can be carried out also amplitude differences can be evaluated for the two signals to be compared, roughly by making the amplitude of the control signal proportional to the voltage difference of the two signals to be compared with one another is selected. In this case it can for example the response threshold of a TTL breast to evaluate this difference in amplitude and used to generate the appropriate alarm.

Die Signalverfolgelg erfolgt zweckmäßigerweise riickwärts, also entgegen der Signalrichtung des <u prüfenden signals in der Schaltung. Dabei werden vorteilhafterweise zunächst die Ausgänge nacheinander getestet, bis mindestens ein Ausgang einen Fehler anzeigt. Als nächstes -sind, ausgehend von diesem Ausgang die Eingänge des Bauelementes zu testen, an dem der Fehler erstmals gemessen wurde.The signal tracking is expediently carried out backwards, i.e. in the opposite direction the signal direction of the <u test signal in the circuit. This will be advantageous First the outputs are tested one after the other until at least one output has an error indicates. Next, starting from this output, are the inputs of the component test on which the error was first measured.

blind die Eingänge fehlerfrei, so kann nur das Bauelement; selbst bzw. die am gestörten Ausgang liegende Leitung der Fehlerart sein. Zeigt mindestens ein Eingang einen Fehler, so ist dieser "Zweig" weiter zu verfolgen und in gleicher Weise wie oben zu verfahren, bis der Fehlerort ermittelt ist.blindly the inputs are error-free, only the component; self or the line of the fault type at the disturbed output. Shows at least an input an error, this "branch" is to be followed up and in the same way Proceed as above until the location of the fault has been determined.

Sind mehrere Ausgänge fehlerhaft, so ist noch nicht bewiesen, daß auch mehrere Fehlerorte auf der zu prüfenden Flachbaugruppe existieren, denn es kann ein einziger Fehler auf dieser Baugruppe auf mehrere Ausgänge ausstrahlen.If several outcomes are faulty, it has not yet been proven that there are also several fault locations on the printed circuit board to be tested, because it a single error on this module can radiate to several outputs.

Es sind daher nach Beseitigung des Fehlers alle Ausgänge zu überprüfen, da hierdurch mehrere anfangs gestörte Ausgänge fehlerfrei geworden sein können.Therefore, after eliminating the error, all outputs must be checked, as this could mean that several outputs that were initially disturbed could have become error-free.

Es ist auch darauf zu achten, daß beidynamischen Messungen nach jeder Vergleichsmessung mindestens die vorher gestörte Funktion erneut vollkommen abläuft.It is also important to ensure that dynamic measurements are taken after each Comparison measurement at least the previously disturbed function runs completely again.

Anstatt durch manuelle Riickstellung mittels aner Rückstelltaste kann das Alarmgerät auch gegebenentalls automatisch zurückgestellt werden.Instead of manual reset using another reset button the alarm device can also be reset automatically if necessary.

Claims (11)

P a t e n t a n s p r ü c h eP a t e n t a n s p r ü c h e Verfahren zur Funktionsprüfung und Fehlerlokalisierung auf fehlerbaften Flachbaugruppen in einer Anlage, gekennzeichnet durch die Schritte, daß eine als Normal dienende ordnungsgemäß arbeitEjile Flachbaugruppe (OAF) anstelle der zu prüfenden Flachbaugruppe (ZPF) in die Anlage eingeschaltet wird, daß die zu prüfende Flachbaugruppe (ZPF), deren anschlußpunkte (S1) über Entkoppler (V1 - Vn U1 - Un) von der Anlage (A) entkoppelt sind, der ordnungsgemäß arbeitenden Flachbaugruppe (OAF) parallel geschattet wird so dt sie parallel zur ordnungsgemäßen Flachbaugruppe (OAF) arbeitet ohne den nunmehr störungsfreien Arbeitsablauf der Anlage (A) zu beeinflussen, daß die elektrischen Werte einander entsprechender Meßstellen (MS) auf den beiden Fla-chbaugruppen (OAF, ZPF) in einer Vergleichs einrichtung (VE) auf Übereinstimmung verglichen werden und daß bei voneinander abweichenden elektrischen Werten In der Vergleichs einrichtung (VE) ein Alarmsignal ausgelöst wird.Procedure for functional testing and fault localization for faulty Flat modules in a plant, characterized by the steps that one as Normally serving properly working Ejile printed circuit board (OAF) instead of the one under test Flat module (ZPF) is switched on in the system that the flat module to be tested (ZPF), their connection points (S1) via decouplers (V1 - Vn U1 - Un) from the system (A) are decoupled, the properly working flat module (OAF) in parallel It is shaded so that it works in parallel with the proper flat module (OAF) without affecting the now trouble-free workflow of the system (A) that the electrical values of corresponding measuring points (MS) on the two flat modules (OAF, ZPF) are compared in a comparison device (VE) for agreement and that in the case of differing electrical values in the comparison device (VE) an alarm signal is triggered. 2) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die miteinander zu vergleichenden Meßstellen (tE) durch manuelle Abtastungen nacheinander paarweise mit der Vergleichseinrichtung (VE) verbunden werden.2) Method according to claim 1, characterized in that the together measuring points to be compared (tE) by manual scanning one after the other in pairs be connected to the comparison device (VE). 3) Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßstellen (MS) necheinander von einem bzw. dem Ausgang vorzugsweise dem gestörten Ausgang (Ag) in Richtung zu den zugehörigen Eingängen (E) der Flachbaugruppen (OAF, ZPF) hin zur Überprüfung abgetastet werden.3) Method according to claim 1 or 2, characterized in that the Measuring points (MS) one after the other from one or the output, preferably the disturbed one Output (Ag) in the direction of the associated inputs (E) of the flat modules (OAF, ZPF) can be scanned for verification. 4) Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3 dadurch gekennzeichnet, daß zur dynamischen Uberwachung die Meßstellen (MS) jeweils während eines gesamten von der vorangegangenen Störung betroffenen Arbeitsablaufs der Anlage (A) an die Vergleichseinrichtung (VE) angeschaltet bleiben.4) Method according to one of claims 1 to 3, characterized in that that for dynamic monitoring the measuring points (MS) each during a whole by the previous malfunction of the system (A) to the Comparison device (VE) remain switched on. Ä) 5 -haltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens t:-n einem - £r Ansprüche 1 bis ib, dadurch gekeanzeichnet, daß sie mit einen Zwischenglied (ZG) versehen ist, welches einen den Stecker (S1) der z;l prüfenden Flachbaugruppe (ZPF) entsprechenden Stecker (S3) aufweist sowie mit zwei zu diesem Stecker Passenden Kontaktleisten (L1, L2) versehen ist, daß die einzelnen Steckerkontakte (S3K1 bis S3Kn) des Zwischengliedes nur mit den entsprechenden beiden Kontakten (L1E1 - L1Kn, L2K1 - L2En) der zwei Leisten ( L2) auf dem Zwischenglied verbunden sind, daß die Leistenkontakte (L1E1 - L1K,n) der der zu prufenden Flachbaugruppe (ZPF) zugeordneten Leiste (L1) in Richtung zu den Steckerkontakten(53K1 - S3Kn), durch Entkoppler (VS1 - VSn, U1 - Un) entkoppelt sind, während die Leistenkontakte L2,Kl - L2Kn) der der ordnungsgemäß arbeitenden Flechbaugruppe (off) zugeordneten Leiste (L2) durchgehend mit den Stecker kontakten (S3K1 - S3Kn) verbunden sind, daß die Schaltungsanordnung mit einer Vergleichseinrichtung (VE) versehen ist, welche die an dem jeweiligen Neßstellenpaar (MS) gemessenen Werte miteinander vergleicht und daß die Vergleichs einrichtung ein Alarmgerät (AG) besitzt, welches mit einem in seinem Größenwert der Abweichung der verglichenen Meßwerte entsprechendem Steuersignal (SS) angesteuert wird, wobei dieses Steuersignal das Ausgangssignal eines Vergleichers (V) in der Vergleichs einrichtung (VE) bildet.Ä) 5-posture arrangement for carrying out the method t: -n one - £ r claims 1 to ib, characterized in that they have an intermediate link (ZG) is provided, which is a connector (S1) of the z; l testing flat module (ZPF) has the corresponding connector (S3) and two matching connectors Contact strips (L1, L2) are provided so that the individual plug contacts (S3K1 to S3Kn) of the link only with the corresponding two contacts (L1E1 - L1Kn, L2K1 - L2En) the two strips (L2) are connected on the intermediate link that the Strip contacts (L1E1 - L1K, n) assigned to the printed circuit board (ZPF) to be tested Strip (L1) in the direction of the plug contacts (53K1 - S3Kn), through decoupler (VS1 - VSn, U1 - Un) are decoupled, while the strip contacts L2, Kl - L2Kn) of the properly working Flechbaugruppe (off) associated strip (L2) continuously with the plug contacts (S3K1 - S3Kn) are connected that the circuit arrangement is provided with a comparison device (VE), which the on the respective Neßstellepaar (MS) compares measured values with one another and that the comparison device has an alarm device (AG), which with one in its size value the control signal (SS) corresponding to the deviation of the compared measured values is, this control signal being the output signal of a comparator (V) in the Comparison facility (VE) forms. 6) Schaltungsanordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Alarmgerät (AG) mit einem Toleranzprüfer (TP) versehen ist, der die Aussendung eines durch das Steuersignal der Vergleichseinrichtung (VE) bedingten Alarms solange verhindert, wie dieses Steuersignal nicht einen einer vorgegebenen Abweichung der Meßwerte entsprewenden bestimmten Größenwert überschreitet.6) Circuit arrangement according to claim 5, characterized in that the alarm device (AG) is provided with a tolerance tester (TP) that controls the transmission an alarm caused by the control signal of the comparison device (VE) for as long how this control signal does not prevent a predetermined deviation of the Measured values corresponding to a certain size value exceeds. 7) Schaltungsanordnung nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Toleranzprüfer (TP) mit einer monostabilen Kippstufe (MK)-versehen ist, deren Verzögerungszeit mittels eines UND-Gliedes (G)mit der den Größenwert bildenden Dauer des Steuersignals (SS) verglichen wird, wobei das UND-Glied (UG) ein Alarmsignal (AS) in dem Alarmgerät abgibt, wenn die Dauer des Steuersignals (SS) die Verzögerungszeit überschreitet.7) circuit arrangement according to claim 5 or 6, characterized in that that the tolerance tester (TP) is provided with a monostable multivibrator (MK), their delay time by means of an AND element (G) with the value forming the quantity Duration of the control signal (SS) is compared, the AND element (UG) generating an alarm signal (AS) outputs in the alarm device when the duration of the control signal (SS) exceeds the delay time exceeds. 8) Schaltungsanordnung nach einem der der'Ansprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen'die Anlage (A) und das Zwischenglied (ZG) ein im wesentlichen die Abmessungen einer Flachbaugruppe aufweisendes Verlängerungsglied (VG) geschaltet ist.8) Circuit arrangement according to one of der'Ansprüche 5 to 7, thereby characterized in that between'die plant (A) and the intermediate member (ZG) a substantially the dimensions of a flat module having extension link (VG) switched is. 9) Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 5 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Entkoppler (VS1 -VSn, Ul - Un) durch erste und zweite Entkopplungsmittel (VS1 - VSn, U1 - Un) gebildet sind, daß die ersten Entkopplungsmittel Verstärker (VS1 -VSn) sind, welche in die einzelnen Verbindungen (V1 - Vn) zwischen den Steckkontakten (S3K1 - S3Kn) und die der zu prüfenden Flachbaugruppe (ZPF) zugeordneten Leistenkontakte (L1K1 - L1Kn) geschaltet sind, wobei die Verstärkereingänge an die Steckkontakte (8je1 - Ofen) angeschlossen sind, daß die zweiten Entkopplungsmittel Unterbrechungen (U1 - Un) der Verbindungen (V1 - Vn) sind und daß jedem der zu prüfenden Flachbaugruppe (ZPF) zugeordneten Leistenkontakt (L1K1 - L1Kn) ein erstes Entkopplungsmittel (VS1 - VSn) zugeordnet ist und den zu Ausgängen der zu prüfenden Flachbaugruppe gehörenden Leistenkontakten (L1E1 - L1Kn) ein zweites Entkopplungsmittel ,(U1 - Un) zugeordnet ist, welches jeweils einem ersten Entkopplungsmittel (VS1 und VSn) in Reihe geschaltet ist.9) Circuit arrangement according to one of claims 5 to 8, characterized in that that the decoupler (VS1 -VSn, Ul - Un) through first and second decoupling means (VS1 - VSn, U1 - Un) are formed that the first decoupling means amplifiers (VS1 -VSn), which are in the individual connections (V1 - Vn) between the plug contacts (S3K1 - S3Kn) and the strip contacts assigned to the flat module to be tested (ZPF) (L1K1 - L1Kn) are connected, the amplifier inputs to the plug contacts (8je1 - oven) are connected, that the second decoupling means Interrupts (U1 - Un) of the connections (V1 - Vn) are and that each of the to be tested Flat module (ZPF) assigned strip contact (L1K1 - L1Kn) a first decoupling means (VS1 - VSn) and the outputs of the printed circuit board to be tested associated strip contacts (L1E1 - L1Kn) a second decoupling means, (U1 - Un) is assigned, which in each case a first decoupling means (VS1 and VSn) is connected in series. 10) Schaltungsanordnung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß zur Schaffung der Unterbrechungen (U1 - Un) das Zwischenglied (ZG) mit einem Rangierfeld (RF) versehen ist.10) Circuit arrangement according to claim 9, characterized in that to create the interruptions (U1 - Un) the intermediate link (ZG) with a patch panel (RF) is provided. 11) Schaltungsanordnung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß das Rangierfeld (RF) durch abziehbare Kurzschlußstecker oder durch Schnüre gebildet ist.11) circuit arrangement according to claim 10, characterized in that that the patch panel (RF) is formed by removable short-circuit plugs or by cords is.
DE19752511923 1975-03-19 1975-03-19 Circuit arrangement for functional testing and fault localization of flat groups Expired DE2511923C3 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19752511923 DE2511923C3 (en) 1975-03-19 1975-03-19 Circuit arrangement for functional testing and fault localization of flat groups

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19752511923 DE2511923C3 (en) 1975-03-19 1975-03-19 Circuit arrangement for functional testing and fault localization of flat groups

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2511923A1 true DE2511923A1 (en) 1976-09-30
DE2511923B2 DE2511923B2 (en) 1981-02-26
DE2511923C3 DE2511923C3 (en) 1981-11-12

Family

ID=5941744

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19752511923 Expired DE2511923C3 (en) 1975-03-19 1975-03-19 Circuit arrangement for functional testing and fault localization of flat groups

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE2511923C3 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2738833A1 (en) * 1977-08-29 1979-03-15 Siemens Ag Testing device for assemblies in digital electric circuit - with assembly put on adaptor circuit connected to digital and analogue testing devices
DE3313449A1 (en) * 1983-04-13 1984-10-25 Computer Gesellschaft Konstanz Mbh, 7750 Konstanz Device for testing flat modules

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1162427B (en) * 1961-07-26 1964-02-06 Dr Oskar Vierling Automatic testing device for telecommunication lines, especially in telephone exchanges, for the detection of the same electrical quantities occurring on a large number of lines
DE1191437B (en) * 1963-05-09 1965-04-22 Siemens Ag Circuit arrangement for attenuation measurement for telecommunication, especially telephone switching systems
DE2043139A1 (en) * 1970-08-31 1972-03-23 Siemens Ag Test adapter with individually separable and measurable connection lines
DE2262504A1 (en) * 1971-12-28 1973-07-12 Itt Ind Gmbh Deutsche TEST ARRANGEMENT FOR TESTING OPERATING LOGICAL CIRCUITS

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1162427B (en) * 1961-07-26 1964-02-06 Dr Oskar Vierling Automatic testing device for telecommunication lines, especially in telephone exchanges, for the detection of the same electrical quantities occurring on a large number of lines
DE1191437B (en) * 1963-05-09 1965-04-22 Siemens Ag Circuit arrangement for attenuation measurement for telecommunication, especially telephone switching systems
DE2043139A1 (en) * 1970-08-31 1972-03-23 Siemens Ag Test adapter with individually separable and measurable connection lines
DE2262504A1 (en) * 1971-12-28 1973-07-12 Itt Ind Gmbh Deutsche TEST ARRANGEMENT FOR TESTING OPERATING LOGICAL CIRCUITS

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
hp Meßtechnik News, H. Mai, Juni 1972, S. 7 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2738833A1 (en) * 1977-08-29 1979-03-15 Siemens Ag Testing device for assemblies in digital electric circuit - with assembly put on adaptor circuit connected to digital and analogue testing devices
DE3313449A1 (en) * 1983-04-13 1984-10-25 Computer Gesellschaft Konstanz Mbh, 7750 Konstanz Device for testing flat modules

Also Published As

Publication number Publication date
DE2511923B2 (en) 1981-02-26
DE2511923C3 (en) 1981-11-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3111852C2 (en)
EP0009572A2 (en) Method and device for testing sequential circuits realized by monolithic integrated semiconductor circuits
DE10258946A1 (en) Programmable logic controller for security systems with reduced cross-wiring
DE3702408C2 (en)
EP0250620B1 (en) Method and device for electrically testing printed circuits
WO1993007501A1 (en) Process and device for checking the wiring between an electrical cubicle and field devices connected thereto
DE2723536C3 (en) Device for testing various types of cable sets
DE10131712B4 (en) Electronic component, tester and method for calibrating a tester device
EP0354214B1 (en) Process for determining the electrical duration of signal paths
DE2511923A1 (en) Fault diagnosis and locating device for printed circuits - uses logic gates and comparator on interface test board
DE3335373A1 (en) BURNING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR COMPONENTS
DE102009050692B4 (en) Security communication system for signaling system states
DE2749668A1 (en) TEST DEVICE
DE69430001T2 (en) ELECTRONIC SWITCH ARRANGEMENT
DE2125940C3 (en) Circuit arrangement for the reliable amplification of a regular pulse train
DE4024499C1 (en)
DE3724402C2 (en) Procedure for testing the immunity of electronic equipment equipped with filters at the entrance
AT391952B (en) CIRCUIT ARRANGEMENT FOR EVALUATING ONE FROM A TEST, e.g. A FLAT ASSEMBLY, TEST SIGNALS SUBMITTED
DE2753572A1 (en) Insulation resistance monitor checking device - with monitor bridge amplifier input switching between insulation and test resistances
DE2811154C2 (en) Device for the manual production and electrical testing of circuit connections
DE2365092C3 (en) Electronic circuit for frequency and phase monitoring of clock pulses
DE69119140T2 (en) Integrated circuit test device for a printed circuit and application of this device for testing such a printed circuit
WO1988009510A1 (en) Process for determining the electrical duration of signal sections
DE2348921C3 (en) Monitored control matrix for unipolar controlled receiving switching means, in particular storage elements and methods for operating the same
DE1287131B (en) Electronic pulse counter arrangement for displaying the displacement of a movable part with respect to a predetermined position

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
8339 Ceased/non-payment of the annual fee