WO1988009510A1 - Process for determining the electrical duration of signal sections - Google Patents

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WO1988009510A1
WO1988009510A1 PCT/DE1988/000271 DE8800271W WO8809510A1 WO 1988009510 A1 WO1988009510 A1 WO 1988009510A1 DE 8800271 W DE8800271 W DE 8800271W WO 8809510 A1 WO8809510 A1 WO 8809510A1
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receiver
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PCT/DE1988/000271
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Klaus Welzhofer
Antun Vuksic
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Siemens Aktiengesellschaft
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    • G—PHYSICS
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    • G01R31/3193—Tester hardware, i.e. output processing circuits with comparison between actual response and known fault free response
    • G01R31/31937—Timing aspects, e.g. measuring propagation delay

Definitions

  • the invention relates to a method for determining the electrical propagation time of signal paths, which in each case at one end at a connection point, e.g. for an integrated module, are connected and each have a transmitter and a receiver at the other end.
  • Automatic test machines are used, e.g. Check integrated circuits for correctness.
  • the automatic tester has connection points, e.g. Contact elements, into which the circuit to be tested, called the device under test, is inserted.
  • the test object is then fed test signals from the automatic test machine, and the response signals which are then emitted by the test object are taken and compared with target signals.
  • the test signals and the response signals are transmitted via signal paths, one signal path being assigned to a connection point of the test object.
  • Each signal path has a transmitter for generating test signals and a receiver for evaluating the response signals.
  • each signal path is operated in one direction or the other.
  • all signal paths at the connection point for the test object also called the test object seam, must have the same electrical length, i.e. the signal paths involved in the test for actuation or transmission (the connections of the test object are inputs) with formatting logic, Driver etc. or reception case (the connections of the test object are outputs) with cable, comparator, error logic etc. should II 1
  • the - 14.5.87 each have the same electrical transit time, or take into account the falsification of the driver pulse edges and their passage through the circuit switching threshold of the device under test under different load conditions. However, since the individual signal paths have different transit times, the signals transmitted via the signal paths must be corrected. This process is called "deskewing".
  • the correction can be carried out using complex external measurement methods. For example, pulses can be fed into or taken from the device under test via an integrated relay switching matrix in conjunction with special drivers and comparator circuits and the runtime of the individual signal path can be determined.
  • this method is complex and does not take into account the fact that the additionally inserted circuits also have a running time.
  • the object on which the invention is based is to specify a method in which a correction value for correcting the different transit times of signal paths can be obtained in the case of transmission without great additional outlay. This object is achieved in a method according to the preamble of patent claim 1 by the features of the characterizing part of patent claim 1.
  • the advantage of the method according to the invention lies in the fact that a short-circuit bridge is at most required as an additional element, with the aid of which the transit time of the signal path can be determined in the case of reception. If the runtime is known in the case of receipt, then no additional elements are required; those in the test car are sufficient mat already existing units. Another advantage is that it is automatically taken into account if there is a greater capacitive load at the test object input, since the reflected pulse represents the pulse quality (edge shape) actually present at the test object input. With the help of the method, the transit time of the electrical signal path is thus detected as it actually exists under load.
  • FIG. 1 shows a model in which a test specimen is arranged between two signal paths
  • FIG. 2 shows a pulse diagram in which voltages are plotted over time t and which shows the pulse ratios on the signal paths
  • FIG. 3 shows a plurality of signal paths used to determine the
  • FIG. 4 are a pulse diagram in which voltages are plotted against time t and which shows the pulse ratios on the signal paths in FIG. 3.
  • a signal path SS consists of a transmitter S, a receiver E and a line L. At one end, the line L, the transmitter S and the receiver E are connected. At the other end of line L, a connection point AS is provided for a DUT. In the case of transmission, the transmitter S is switched on and the receiver is blocked; in the case of reception, the situation is reversed.
  • the running times of the individual components are also shown in FIG. 1.
  • the transit time of the transmitter for example transmitter S1
  • TS1 the transit time of line L1 TL1 and the transit time of receiver E1 TE1.
  • a signal e.g. a test signal, must be sent via the transmitter S1 in the runtime TS1, the line L1 with the runtime TL1 to the connection point AS1, and from there via the device under test DUT the transit time TX to the connection point AS2 and from there via line L2 with the transit time TL2 and the receiver E2 with the transit time TE2.
  • the transit times TS1 and TL1 must be known or ascertainable. If the transit times TL2 and TE2 or TS2 can still be determined, then the transit time TX of the device under test DUT can also be determined.
  • Transit time in the case of transmission can be determined via the signal path SS1.
  • a transmission pulse is generated by the transmitter S1, which has the form at line A1 according to line 1 of FIG. 2.
  • This pulse arrives at point B1 of the signal path via a resistor R. Since a voltage division is carried out at this point, the pulse then has the form shown in line 2 of FIG. 2.
  • the amplitude of the pulse has been halved.
  • the pulse now runs from point B1 via line L1 to point C1 of the signal path. It arrives delayed by the term TL1.
  • the pulse train at point C1 of the signal path is shown in line 3 of FIG. 2.
  • the pulse is reflected and runs back via line L1 to point B1 of the signal path SS1. Accordingly, a reflected pulse from C1 and the pulse already present at B1 overlap to form a pulse as shown in the second line of FIG. 2.
  • the reflected pulse arrives at point B1 delayed by the transit time TL1 of line L1.
  • the runtime TL1 can now be there by determining that it is determined via the receiver E1 when the transmit pulse at point B1 exceeds, for example, 50% of its amplitude and then when the reflected pulse at point B1 exceeds 50% of its amplitude. This measurement gives a pulse of the form shown in line 7 of FIG. 2 at the output K1 of the receiver E1.
  • the two measured values 3 and 7 result, which are subtracted from one another.
  • the value for TL results from halving the difference.
  • the first measured value is designated in FIG. 2 with K1 (25%), the second measured value with K1 (75%). This is because the first measured value is generated when the pulse at point B1 exceeds 25% of the total amplitude, the second measured value when the pulse exceeds 75% of its total amplitude.
  • the point in time of the arrival of a signal at point C1 can be determined by determining the second measured value Kl (75%) and the sum TL1 + TE1 thereof is subtracted. This is indicated in line 7 of FIG. 2.
  • the transmission pulse which has been fed to the DUT, passes through the DUT and reaches the output C2 of the DUT. From there it is transmitted via line L2 with the runtime TL2 to the receiver E2 and appears at the output of the receiver E2 after the runtime TE2.
  • the signal that occurs at the output of the receiver E2 is designated K2 and is shown in line 8 of FIG. 2.
  • the signals at point C2 (line 4) and at point B2 (line 5) are also shown.
  • the pulse occurs delayed by the transit time TX at point C2 at the output of the DUT to reduce the run Time TL2 continues to be delayed at point B2 and the delay TE2 is delayed at the output of receiver E at point K2.
  • the transit time TX can be calculated by the DUT without difficulty.
  • the time of the occurrence of the pulse at K2 is again determined with the aid of a sampling clock CL, the transit time TL2 + TE2 is known and thus the time of the occurrence of the pulse at point C2 results from the difference of the third measured value (occurrence of the pulse at K2 ) minus the sum of the term TL2 + TE2.
  • the transit times of the signal paths SS in the case of reception can also be determined with the help of the signal paths themselves. This will be explained with reference to FIGS. 3 and 4.
  • FIG. 3 there are, for example, eight signal paths SS, which are each constructed in accordance with FIG. 1. In reality, there are many more signal paths in a test machine, eg 1024 signal paths.
  • the connection points AS are now short-circuited with the aid of a short-circuit bridge KB. Then all channels S except for the. Transmitter of the signal path to be measured switched on, all receivers E except the receiver of the signal path to be measured switched off.
  • the transmitter S1 of this signal path is switched off and the receiver E1 of this signal path is switched on tet.
  • the switched-on transmitters S of the signal paths not to be measured are activated at the same time and emit a signal at output A. Since the individual transmitters S can already have different running times, the pulses appear at the output of the active transmitters S at different times. This is indicated in line Z1 of FIG. 4, for example the first pulse edge is the pulse edge that appears at the output A2 of the signal path SS2.
  • the last pulse edge of line Z1 is the pulse edge that appears at output A8 of signal path SS8.
  • the pulse diagram of the first line is a superposition of the pulses occurring at points A of the signal paths in their temporal relationship to one another.
  • the pulse edges shown in the second line of Z2 Fig. 4 then occur at point B of the signal paths SS.
  • there is a voltage divider at point B which halves the amplitude of the pulse at point A.
  • the first pulse is the pulse at point B2 of the signal path SS2
  • the last pulse is the pulse at point B8 of the eighth signal path SS8.
  • the individual pulses of the different signal paths are again shown superimposed in the second line Z2 FIG. 4.
  • the pulse edge at point B is now transmitted via lines L to point D of connection point AS. After a running time determined by line L, the pulse edge appears at point D, as shown in FIG. 4, line Z3. Since the connection points AS are short-circuited with the short-circuit bridge KB, the pulses transmitted via the lines L overlap to form a central pulse Z1, which is built up from the pulse edges transmitted via the signal path SS and pulse edges reflected at point D. The shape of this central pulse Z1 hardly changes when other signal paths are measured, because of the large number of signal paths the pulses are sent, differences in the running time of the individual signal stretches are compensated.
  • the central pulse Z1 at point D runs over the.
  • Line L1 of the signal path SS1 continues and arrives at point B1 of the signal path SS1 after the running time TL1 of line L1.
  • the pulse edge of the central pulse thus also reaches the receiver E1.
  • the receiver E1 can emit a signal.
  • the time of occurrence of this signal is determined using the sampling clock CL. That is, a signal corresponding to the sixth line Z6 of FIG. 4 appears at the output of the receiver E1 when the central pulse exceeds the reference voltage UR and a sampling clock CL is present at the same time. In the exemplary embodiment in FIG. 4, this is the sampling clock 4.
  • This value is stored in a table and is a measure of the transit time of a pulse from point D to the output of the receiver E1, and thus corresponds to the transit time in the case of reception.
  • the method just described is repeated for all signal paths SS, the transmitters of the signal paths not to be measured always being activated simultaneously and only the receiver of the signal path to be measured being switched on. If the sampling clock CL is always started at the same time as when the transmitter S was activated, then the number of sampling clocks can be determined for each signal path when the pulse edge of the central pulse occurs at the receiver of the signal path to be measured. In this way, one obtains relative values for the different transit times of the signal routes, which are indicative of the different transit times of the signal routes. If these measured values are still standardized, e.g. to the smallest measured value, then the signals transmitted via the signal paths in the case of reception can be corrected with the aid of this normalized value of each signal path.
  • circuit arrangements used in the process e.g. to generate sampling clocks are usually available in test machines and are therefore not explained.
  • the procedure for determining the transit time in the transmission case using the transit time values that apply to the reception case is very precise.
  • This method also takes into account the flanking of the pulse edges, which is caused at the test specimen input with a corresponding capacitive load.
  • This capacitive load has an effect on a pulse flattening, which is transmitted back to the receiver as a reflected pulse flank and correspondingly later leads to the signal K1 (75%). Since all measured values relate to a sampling clock CL and its delay resolution, the calibration becomes more precise the more linear the sampling clock and the finer its delay resolution.

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Abstract

In particular in automatic testing equipment for integrated circuits, all signal sections at the test piece joint should ideally be of the same electrical length. The signal sections used in the test consist, in the case of triggering or transmission, of formatting logic, driver and cable, and in the case of reception of cable, comparator, error logic etc. If the signal sections are of different electrical durations, then in the case of transmission, the signal to be transmitted must be corrected. In a process for determining the electrical duration of signal sections, each of which has a transmitter and a receiver and at the other end correcting points for example for an integrated circuit, the transmitter (S1) of the signal section (SS1) produces a transmission pulse which is transmitted over the signal section to the connecting point (AS1) for the test piece (DUT). The first measurement, obtained using the receiver (E1), is the time at which the transmission pulse exceeds 50 % of the transmission pulse amplitude. The second measurement, obtained using the receiver (E1), is the time at which a pulse from the test piece input, which is reflected due to the transmission pulse, exceeds 50 % of the reflected pulse. The time at which the transmitted pulse enters the test piece and hence the electrical duration in the case of transmission is determined by subtraction of the first measurement from the second.

Description

Verfahren zur Feststellung der elektrischen Laufzelt von Signalstrecken Procedure for determining the electrical marquee of signal routes
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Feststellung der elektrischen Laufzeit von Signalstrecken, die j eweils am einen Ende an einer Anschlußstelle, z.B. für einen integrierten Baustein, angeschlossen sind und die am anderen Ende jeweils einen Sender und einen Empfänger aufweisen.The invention relates to a method for determining the electrical propagation time of signal paths, which in each case at one end at a connection point, e.g. for an integrated module, are connected and each have a transmitter and a receiver at the other end.
Prüfautomaten dienen dazu, z.B. integrierte Schaltungen auf ihre Fehlerfreiheit zu überprüfen. Dazu weist der Prüfautomat Anschlußstellen, z.B. Kontaktelemente, auf, in die der zu prüfende Schaltkreis, Prüfling genannt, hingesteckt wird. Anschließend werden dem Prüfling Prüfsignale vom Prüfautomaten zugeführt und die daraufhin vom Prüfling abgegebenen Antwortsignale abgenommen und mit Sollsignalen verglichen. Die Übertragung der Prüfsignale und der Antwortsignale erfolgt über Signalstrecken, wobei jeweils eine Signalstrecke einer Anschlußstelle des Prüflings zugeordnet ist. Jede Signalstrecke weist einen Sender zur Erzeugung von Prüfsignalen bzw. einen Empfänger zur Auswertung der Antwortsignale auf. Je nachdem, ob der Anschluß des Prüflings an einer Signalstrecke ein Ausgang oder ein Eingang ist, wird jede Signalstrecke in der einen oder anderen Richtung betrieben.Automatic test machines are used, e.g. Check integrated circuits for correctness. For this purpose, the automatic tester has connection points, e.g. Contact elements, into which the circuit to be tested, called the device under test, is inserted. The test object is then fed test signals from the automatic test machine, and the response signals which are then emitted by the test object are taken and compared with target signals. The test signals and the response signals are transmitted via signal paths, one signal path being assigned to a connection point of the test object. Each signal path has a transmitter for generating test signals and a receiver for evaluating the response signals. Depending on whether the connection of the device under test to a signal path is an output or an input, each signal path is operated in one direction or the other.
Bei Prüfautomaten für integrierte Schaltungen müssen an der Anschlußstelle für den Prüfling, auch Prüflingsnahtstelle genannt, im Idealfall sämtliche Signalwege die gleiche elektrische Länge aufweisen, d.h. die bei der Prüfung beteiligten Signalstrecken für den Ansteuerfall oder Sendefall (die Anschlüsse des Prüflings sind Eingänge) mit Formatierlogik, Treiber usw. oder Empfangsfall (die Anschlüsse des Prüflings sind Ausgänge) mit Kabel, Komparator, Fehlerlogik usw. sollten II 1 The - 14.5.87 jeweils dieselbe elektrische Laufzeit aufweisen, bzw. unter differenten Lastbedingungen die hierbei auftretende Verfälschung der Treiberimpulsflanken und deren Durchgang durch die Schaltkreisschaltschwelle des Prüflings berücksichtigen. Da die einzelnen Signalstrecken jedoch unterschiedliche Laufzeit haben, müssen die über die Signalstrecken übertragenen Signale korrigiert werden. Diesen Vorgang nennt man "Deskewing". Die Korrektur kann über aufwendige externe Meßmethoden durchgeführt werden. Zum Beispiel kann man der Prüflingsnahtstelle Impulse über eine integrierte Relaisschaltmatrix in Verbindung mit Spezialtreibern und Komparatorschaltungen einspeisen oder abnehmen und darüber die Laufzeit der einzelnen Signalstrecke feststellen. Dieses Verfahren ist jedoch aufwendig und berücksichtigt nicht, daß auch die zusätzlich eingefügten Schaltkreise eine Laufzeit haben.In the case of automatic test machines for integrated circuits, ideally, all signal paths at the connection point for the test object, also called the test object seam, must have the same electrical length, i.e. the signal paths involved in the test for actuation or transmission (the connections of the test object are inputs) with formatting logic, Driver etc. or reception case (the connections of the test object are outputs) with cable, comparator, error logic etc. should II 1 The - 14.5.87 each have the same electrical transit time, or take into account the falsification of the driver pulse edges and their passage through the circuit switching threshold of the device under test under different load conditions. However, since the individual signal paths have different transit times, the signals transmitted via the signal paths must be corrected. This process is called "deskewing". The correction can be carried out using complex external measurement methods. For example, pulses can be fed into or taken from the device under test via an integrated relay switching matrix in conjunction with special drivers and comparator circuits and the runtime of the individual signal path can be determined. However, this method is complex and does not take into account the fact that the additionally inserted circuits also have a running time.
Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe besteht darin, ein Verfahren anzugeben, bei der ohne große zusätzlichen Aufwand im Sendefall ein Korrekturwert zur Korrektur der unterschiedlichen Laufzeiten von Signalstrecken gewonnen werden kann. Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 durch die Merkmale des Kennzeichens des Patentanspruchs 1 gelost.The object on which the invention is based is to specify a method in which a correction value for correcting the different transit times of signal paths can be obtained in the case of transmission without great additional outlay. This object is achieved in a method according to the preamble of patent claim 1 by the features of the characterizing part of patent claim 1.
Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.Further developments of the invention result from the subclaims.
Der Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens liegt darin, daß allerhöchstens als zusätzliches Element eine Kurzschlußbrücke erforderlich ist, mit deren Hilfe die Laufzeit der Signalstrecke im Empfangsfall festgestellt werden kann. Ist die Laufzeit im Empfangsfall bekannt, dann sind keine zusätzlichen Elemente erforderlich, es genügen die im Prüfauto mat bereits vorhandenen Einheiten. Ein weiterer Vorteil liegt darin, daß automatisch berücksichtigt wird, wenn am Prüflingseingang eine größere kapazitive Last vorliegt, da der reflektierte Impuls die am Prüflingseingang tatsächlich vorhandene Impulsqualität (Flankenform) darstellt. Mit Hilfe des Verfahrens wird somit die Laufzeit der elektrischen Signalstrecke so erfaßt, wie sie tatsächlich unter Last besteht.The advantage of the method according to the invention lies in the fact that a short-circuit bridge is at most required as an additional element, with the aid of which the transit time of the signal path can be determined in the case of reception. If the runtime is known in the case of receipt, then no additional elements are required; those in the test car are sufficient mat already existing units. Another advantage is that it is automatically taken into account if there is a greater capacitive load at the test object input, since the reflected pulse represents the pulse quality (edge shape) actually present at the test object input. With the help of the method, the transit time of the electrical signal path is thus detected as it actually exists under load.
Anhand eines Ausführungsbeispiels, das in den Figuren dargestellt ist, wird die Erfindung weiter erläutert. Es zeigen Fig. 1 ein Modell, bei dem ein Prüfling zwischen zwei Signalstrecken angeordnet ist, Fig. 2 ein Impulsdiagramm, bei dem Spannungen über der Zeit t aufgetragen sind, und das die Impulsverhältnisse auf den Signalstrecken zeigt, Fig. 3 eine Mehrzahl von Signalstrecken, die zur Bestimmung derThe invention is further explained on the basis of an exemplary embodiment which is illustrated in the figures. 1 shows a model in which a test specimen is arranged between two signal paths, FIG. 2 shows a pulse diagram in which voltages are plotted over time t and which shows the pulse ratios on the signal paths, FIG. 3 shows a plurality of signal paths used to determine the
Laufzeiten im Empfangsfall kurz geschlossen sind, Fig. 4 ein Impulsdiagramm, bei dem Spannungen über der Zeit t aufgetragen sind, und das die Impulsverhältnisse auf den Signalstrecken der Fig. 3 zeigt.4 are a pulse diagram in which voltages are plotted against time t and which shows the pulse ratios on the signal paths in FIG. 3.
Nach dem Modell der Fig. 1 besteht eine Signalstrecke SS aus einem Sender S, einem Empfänger E und einer Leitung L. Am einen Ende, der Leitung L ist der Sender S und der Empfänger E angeschlossen. Am anderen Ende der Leitung L ist eine Anschlußstelle AS für einen Prüfling DUT vorgesehen. Im Sendefall ist der Sender S eingeschaltet und der Empfänger gesperrt, im Empfangsfall sind die Verhältnisse gerade umgekehrt.According to the model of FIG. 1, a signal path SS consists of a transmitter S, a receiver E and a line L. At one end, the line L, the transmitter S and the receiver E are connected. At the other end of line L, a connection point AS is provided for a DUT. In the case of transmission, the transmitter S is switched on and the receiver is blocked; in the case of reception, the situation is reversed.
In Fig. 1 sind auch die Laufzeiten der einzelnen Bauelemente eingezeichnet. Die Laufzeit des Senders, z.B. des Senders S1 ist TS1, die Laufzeit der Leitung L1 TL1 und die Laufzeit des Empfängers E1 TE1. Entsprechendes gilt für die Signalstrecke SS2. Wenn die Signalstrecke SS1 im Sendefall arbeitet und die Signalstrecke SS2 im Empfangsfall, dann muß ein Signal, z.B. ein Prüfsignal, über den Sender S1 in der Laufzeit TS1, die Leitung L1 mit der Laufzeit TL1 zur Anschlußstelle AS1, von dort über den Prüfling DUT mit der Laufzeit TX zur Anschlußstelle AS2 und von dort über die Leitung L2 mit der Laufzeit TL2 und den Empfänger E2 mit der Laufzeit TE2 übertragen werden. Um nun den genauen Zeitpunkt des Eintreffens eines Prüfsignals an der Anschlußstelle AS1 am Prüflingseingang feststellen zu können, müssen die Laufzeiten TS1 und TL1 bekannt sein oder feststellbar sein. Sind weiterhin die Laufzeiten TL2 und TE2 bzw. TS2 feststellbar, dann kann auch die Laufzeit TX des Prüflings DUT bestimmt werden.The running times of the individual components are also shown in FIG. 1. The transit time of the transmitter, for example transmitter S1, is TS1, the transit time of line L1 TL1 and the transit time of receiver E1 TE1. The same applies to the signal path SS2. If the signal path SS1 works in the case of transmission and the signal path SS2 in the case of reception, then a signal, e.g. a test signal, must be sent via the transmitter S1 in the runtime TS1, the line L1 with the runtime TL1 to the connection point AS1, and from there via the device under test DUT the transit time TX to the connection point AS2 and from there via line L2 with the transit time TL2 and the receiver E2 with the transit time TE2. In order to be able to determine the exact point in time of the arrival of a test signal at the connection point AS1 at the test object input, the transit times TS1 and TL1 must be known or ascertainable. If the transit times TL2 and TE2 or TS2 can still be determined, then the transit time TX of the device under test DUT can also be determined.
Aus Fig. 2 kann entnommen werden, wie die. Laufzeit im Sendefall, z.B. über die Signalstrecke SS1 festgestellt werden kann. Es wird ein Sendeimpuls vom Sender S1 erzeugt, der an der Stelle A1 die Form gemäß der Zeile 1 der Fig. 2 hat. Dieser Impuls gelangt über einen Widerstand R zur Stelle B1 der Signalstrecke. Da an dieser Stelle eine Spannungsteilung durchgeführt wird, hat dann der Impuls die Form, die in der Zeile 2 der Fig. 2 dargestellt ist. Im Ausführungsbeispiel ist dabei die Amplitude des Impulses halbiert worden. Der Impuls läuft nun von dem Punkt B1 über die Leitung L1 zum Punkt C1 der Signalstrecke. Er trifft um die Laufzeit TL1 verzögert ein. Der Impulszug an der Stelle C1 der Signalstrecke ist in der Zeile 3 der Fig. 2 dargestellt. An diese Stelle, nämlich am Prüflingseingang, wird der Impuls reflektiert und läuft über die Leitung L1 zurück zur Stelle B1 der Signalstrecke SS1. Dementsprechend überlagert sich ein reflektierter Impuls von C1 und der an B1 bereits anliegende Impuls zu einem Impuls, wie er in der zweiten Zeile der Fig. 2 gezeigt ist. Dabei trifft der reflektierte Impuls an der Stelle Bl um die Laufzeit TL1 der Leitung L1 verzögert ein. Die Laufzeit TL1 kann nun da durch bestimmt werden, daß über den Empfänger E1 festgestellt wird, wann der Sendeimpuls an der Stelle B1 z.B. 50% seiner Amplitude überschreitet und anschließend, wann der reflektierte Impuls an der Stelle Bl 50% seiner Amplitude, überschreitet. Diese Messung ergibt am Ausgang K1 des Emfpängers E1 einen Impuls der Form, wie er in Zeile 7 der Fig. 2 dargestellt ist. Mit Hilfe eines Abtasttaktes TL (Zeile 6 der Fig. 2) können diese beiden Zeitpunkte genau festgestellt werden. Es ergeben sich in der Fig. 2 die zwei Meßwerte 3 und 7, die voneinander subtrahiert werden. Der Wert für TL ergibt sich durch Halbierung der Differenz. Der erste Meßwert ist in der Fig. 2 mit K1 (25%), zweite Meßwert mit K1 (75%) bezeichnet. Dies deswegen, da der erste Meßwert erzeugt wird, wenn der Impuls am Punkt B1 25% der Gesamtamplitude überschreitet, der zweite Meßwert, wenn der Impuls 75% seiner Gesamtamplitude überschreitet.From Fig. 2 it can be seen how the. Transit time in the case of transmission, for example, can be determined via the signal path SS1. A transmission pulse is generated by the transmitter S1, which has the form at line A1 according to line 1 of FIG. 2. This pulse arrives at point B1 of the signal path via a resistor R. Since a voltage division is carried out at this point, the pulse then has the form shown in line 2 of FIG. 2. In the exemplary embodiment, the amplitude of the pulse has been halved. The pulse now runs from point B1 via line L1 to point C1 of the signal path. It arrives delayed by the term TL1. The pulse train at point C1 of the signal path is shown in line 3 of FIG. 2. At this point, namely at the test specimen input, the pulse is reflected and runs back via line L1 to point B1 of the signal path SS1. Accordingly, a reflected pulse from C1 and the pulse already present at B1 overlap to form a pulse as shown in the second line of FIG. 2. The reflected pulse arrives at point B1 delayed by the transit time TL1 of line L1. The runtime TL1 can now be there by determining that it is determined via the receiver E1 when the transmit pulse at point B1 exceeds, for example, 50% of its amplitude and then when the reflected pulse at point B1 exceeds 50% of its amplitude. This measurement gives a pulse of the form shown in line 7 of FIG. 2 at the output K1 of the receiver E1. With the aid of a sampling clock TL (line 6 of FIG. 2), these two points in time can be determined exactly. 2, the two measured values 3 and 7 result, which are subtracted from one another. The value for TL results from halving the difference. The first measured value is designated in FIG. 2 with K1 (25%), the second measured value with K1 (75%). This is because the first measured value is generated when the pulse at point B1 exceeds 25% of the total amplitude, the second measured value when the pulse exceeds 75% of its total amplitude.
Wenn die Laufzeit im Empfangsfall der Signalstrecke SS1 bekannt ist, bestehend aus TL1 und TE1, dann kann der Zeitpunkt des Eintreffens eines Signals am Punkt Cl dadurch festgestellt werden, daß der zweite Meßwert Kl (75%) festgestellt wird und davon die Summe TL1 + TE1 abgezogen wird. Dies ist in Zeile 7 der Fig. 2 angedeutet.If the transit time when the signal path SS1 is received, consisting of TL1 and TE1, is known, then the point in time of the arrival of a signal at point C1 can be determined by determining the second measured value Kl (75%) and the sum TL1 + TE1 thereof is subtracted. This is indicated in line 7 of FIG. 2.
Der Sendeimpuls, der den Prüfling DUT zugeführt worden ist, läuft durch den Prüfling hindurch und gelangt zum Ausgang C2 des Prüflings DUT. Von dort wird er über die Leitung L2 mit der Laufzeit TL2 zum Empfänger E2 übertragen und erscheint am Ausgang des Empfängers E2 nach der Laufzeit TE2. Das Signal, das am Ausgang des Empfängers E2 auftritt, ist mit K2 bezeichnet und in Zeile 8 der Fig. 2 dargestellt. Ebenso sind die Signale am Punkt C2 (Zeile 4) und am Punkt B2 (Zeile 5) gezeigt. Der Impuls tritt dabei um die Laufzeit TX verzögert an der Stelle C2 am Ausgang des Prüflings DUT auf, um die Lauf zeit TL2 weiterhin verzögert am Punkt B2 und die Laufzeit TE2 verzögert am Ausgang des Empfängers E an der Stelle K2 auf. Wenn nun die Laufzeit der Signalstrecke SS2 im Empfangsfall bestehend aus TL2 + TE2 bekannt ist, kann ohne Schwierigkeit die Laufzeit TX durch den Prüfling DUT berechnet werden. Der Zeitpunkt des Auftretens des Impulses an K2 wird wiederum mit Hilfe eines Abtasttaktes CL festgestellt, die Laufzeit TL2 + TE2 ist bekannt und somit ergibt sich der Zeitpunkt des Auftretens des. Impulses am Punkt C2 aus der Differenz des dritten Meßwertes (Auftreten des Impulses an K2) minus der Summe aus der Laufzeit TL2 + TE2. Die Laufzeit TX ist dann die Differenz der Werte an C2 und C1, also wird bestimmt durch die Formel: TX = K1 (75%) - (TL1 + TE1) - K2 - (TL2 + TE2). Diese Werte können alle mit Hilfe des Abtasttaktes CL bestimmt werden und haben dann einen ganz bestimmten Wert an Abtasttakten, Die wirkliche Laufzeit kann dann durch Mulitplikation der Abtasttakte und der Zeit At (z.B. Ins), die zwischen zwei Abtasttakten verstreicht, berechnet werden.The transmission pulse, which has been fed to the DUT, passes through the DUT and reaches the output C2 of the DUT. From there it is transmitted via line L2 with the runtime TL2 to the receiver E2 and appears at the output of the receiver E2 after the runtime TE2. The signal that occurs at the output of the receiver E2 is designated K2 and is shown in line 8 of FIG. 2. The signals at point C2 (line 4) and at point B2 (line 5) are also shown. The pulse occurs delayed by the transit time TX at point C2 at the output of the DUT to reduce the run Time TL2 continues to be delayed at point B2 and the delay TE2 is delayed at the output of receiver E at point K2. If the transit time of the signal path SS2 in the case of reception consisting of TL2 + TE2 is now known, the transit time TX can be calculated by the DUT without difficulty. The time of the occurrence of the pulse at K2 is again determined with the aid of a sampling clock CL, the transit time TL2 + TE2 is known and thus the time of the occurrence of the pulse at point C2 results from the difference of the third measured value (occurrence of the pulse at K2 ) minus the sum of the term TL2 + TE2. The running time TX is then the difference between the values at C2 and C1, so it is determined by the formula: TX = K1 (75%) - (TL1 + TE1) - K2 - (TL2 + TE2). These values can all be determined with the aid of the sampling clock CL and then have a very specific value on sampling clocks. The actual transit time can then be calculated by multiplying the sampling clocks and the time At (eg Ins) that elapses between two sampling clocks.
Die Laufzeiten der Signalstrecken SS im Empfangsfall kann ebenfalls mit Hilfe der Signalstrecken selbst festgestellt werden. Dies soll anhand der Fig. 3 und 4 erläutert werden. In Fig. 3 ergeben sich z.B. acht Signalstrecken SS, die jeweils entsprechend der Fig. 1 aufgebaut sind. In Wirklichkeit sind es bei einem Prüfautomaten sehr viel mehr Signalstrecken, z.B. 1024 Signalstrecken. Zur Feststellung der Laufzeiten im Empfangsfall werden nun die Anschlußstellen AS mit Hilfe einer Kurzschlußbrücke KB kurzgeschlossen. Dann werden alle Sender S bis auf den. Sender der zu messenden Signalstrecke eingeschaltet, alle Empfänger E bis auf den Empfänger der zu messenden Signalstrecke ausgeschaltet. Soll z.B. die Signalstrecke SS1 überprüft werden, dann wird der Sender S1 dieser Signalstrecke abgeschaltet, der Empfänger E1 dieser Signalstrecke eingeschal tet. Die eingeschalteten Sender S der nicht zu messenden Signalstrecken werden gleichzeitig aktiviert und geben am Ausgang A ein Signal ab. Da die einzelnen Sender S bereits unterschiedliche Laufzeit haben können, erscheinen die Impulse am Ausgang der aktiven Sender S zu verschiedenen Zeitpunkten. Dies ist in der Zeile Z1 der Fig. 4 angedeutet, z.B. sei die erste Impulsflanke die Impulsflanke, die am Ausgang A2 der Signalstrecke SS2 erscheint. Die letzte Impulsflanke der Zeile Z1 sei die Impulsflanke, die am Ausgang A8 der Signalstrecke SS8 erscheint. Das Impulsdiagramm der ersten Zeile ist eine Überlagerung der an den Stellen A der Signalstrecken auftretenden Impulse in ihrer zeitlichen Beziehung zueinander.The transit times of the signal paths SS in the case of reception can also be determined with the help of the signal paths themselves. This will be explained with reference to FIGS. 3 and 4. In FIG. 3 there are, for example, eight signal paths SS, which are each constructed in accordance with FIG. 1. In reality, there are many more signal paths in a test machine, eg 1024 signal paths. To determine the transit times in the case of reception, the connection points AS are now short-circuited with the aid of a short-circuit bridge KB. Then all channels S except for the. Transmitter of the signal path to be measured switched on, all receivers E except the receiver of the signal path to be measured switched off. If, for example, the signal path SS1 is to be checked, the transmitter S1 of this signal path is switched off and the receiver E1 of this signal path is switched on tet. The switched-on transmitters S of the signal paths not to be measured are activated at the same time and emit a signal at output A. Since the individual transmitters S can already have different running times, the pulses appear at the output of the active transmitters S at different times. This is indicated in line Z1 of FIG. 4, for example the first pulse edge is the pulse edge that appears at the output A2 of the signal path SS2. The last pulse edge of line Z1 is the pulse edge that appears at output A8 of signal path SS8. The pulse diagram of the first line is a superposition of the pulses occurring at points A of the signal paths in their temporal relationship to one another.
An der Stelle B der Signalstrecken SS treten dann die in der zweiten Zeile der Z2 Fig. 4 gezeigten Impulsflanken auf. Im Ausführungsbeispiel besteht an der Stelle B ein Spannungsteiler, der die Amplitude des Impulses an der Stelle A halbiert. Wiederum ist der erste Impuls der Impuls an der Stelle B2 der Signalstrecke SS2, der letzte Impuls der Impuls an der Stelle B8 der achten Signalstrecke SS8. Die einzelnen Impulse der verschiedenen Signalstrecken sind wiederum in der zweiten Zeile Z2 Fig. 4 überlagert dargestellt.The pulse edges shown in the second line of Z2 Fig. 4 then occur at point B of the signal paths SS. In the exemplary embodiment, there is a voltage divider at point B, which halves the amplitude of the pulse at point A. Again, the first pulse is the pulse at point B2 of the signal path SS2, the last pulse is the pulse at point B8 of the eighth signal path SS8. The individual pulses of the different signal paths are again shown superimposed in the second line Z2 FIG. 4.
Die Impulsflanke an der Stelle B wird nun über die Leitungen L zum Punkt D der Anschlußstelle AS übertragen. Nach einer durch die Leitung L festgelegten Laufzeit erscheint die Impulsflanke am Punkt D, wie es in der Fig. 4, Zeile Z3 gezeigt ist. Da die Anschlußstellen AS mit der Kurzschlußbrücke KB kurzgeschlossen sind, überlagern sich die über die Leitungen L übertragenen Impulse zu einem Zentralimpuls Z1, der aus den über die Signalstrecke SS übertragenen Impulsflanken und an der Stelle D reflektierten Impulsflanken aufgebaut ist. Die Form dieses Zentralsimpulses Z1 ändert sich kaum, wenn andere Signalstrecken gemessen werden, da durch die Vielzahl von Signalstrecken, über die Impulse gesendet werden, Unterschiede in der Laufzeit der einzelnen Signalstrecksn ausgeglichen werden.The pulse edge at point B is now transmitted via lines L to point D of connection point AS. After a running time determined by line L, the pulse edge appears at point D, as shown in FIG. 4, line Z3. Since the connection points AS are short-circuited with the short-circuit bridge KB, the pulses transmitted via the lines L overlap to form a central pulse Z1, which is built up from the pulse edges transmitted via the signal path SS and pulse edges reflected at point D. The shape of this central pulse Z1 hardly changes when other signal paths are measured, because of the large number of signal paths the pulses are sent, differences in the running time of the individual signal stretches are compensated.
Der Zentralimuls Z1 an der Stelle D läuft über die. Leitung L1 der Signalstrecke SS1 weiter und gelangt zum Punkt B1 der Signalstrecke SS1 nach Verstreichen der Laufzeit TL1 der Leitung L1. Dies ergibt sich aus Zeile Z4 der Fig. 4. Damit gelangt die Impulsflanke des Zentralimpulses auch zum Empfänger E1. Wenn die Amplitude des Zentralimpulses an dieser Stelle die Referenzspannung UR überschreitet, dann kann der Empfänger E1 ein Signal abgeben. Der Zeitpunkt des Auftretens dieses Signals wird mit Hilfe des Abtasttaktes CL festgestellt. Das heißt am Ausgang des Empfängers E1 erscheint dann ein Signal entsprechend der sechsten Zeile Z6 der Fig. 4, wenn der Zentralimpuls die Referenzspannung UR überschreitet und gleichzeitig ein Abtasttakt CL anliegt. Dies ist im Ausführungsbeispiel der Fig. 4 der Abtasttakt 4. Dieser Wert wird in einer Tabelle gespeichert und ist ein Maß für die Laufzeit eines Impulses von der Stelle D zum Ausgang des Empfängers E1, also entspricht der Laufzeit im Empfangsfall.The central pulse Z1 at point D runs over the. Line L1 of the signal path SS1 continues and arrives at point B1 of the signal path SS1 after the running time TL1 of line L1. This results from line Z4 of FIG. 4. The pulse edge of the central pulse thus also reaches the receiver E1. If the amplitude of the central pulse exceeds the reference voltage UR at this point, the receiver E1 can emit a signal. The time of occurrence of this signal is determined using the sampling clock CL. That is, a signal corresponding to the sixth line Z6 of FIG. 4 appears at the output of the receiver E1 when the central pulse exceeds the reference voltage UR and a sampling clock CL is present at the same time. In the exemplary embodiment in FIG. 4, this is the sampling clock 4. This value is stored in a table and is a measure of the transit time of a pulse from point D to the output of the receiver E1, and thus corresponds to the transit time in the case of reception.
Das eben beschriebene Verfahren wird für alle Signalstrecken SS wiederholt, wobei immer die Sender der nicht zu messenden Signalstrecken gleichzeitig aktiv geschaltet werden und nur der Empfänger der zu messenden Signalstrecke eingeschaltet ist. Wenn der Abtasttakt CL im Vergleich zum Zeitpunkt des Aktivschaltens der Sender S immer zum gleichen Zeitpunkt gestartet wird, dann kann für jede Signalstrecke die Anzahl der Abtasttakte bei Auftreten der Impulsflanke des Zentralimpulses am Empfänger der zu messenden Signalstrecke festgestellt werden. Auf diese Weise gewinnt man Relativwerte für die verschiedenen Laufzeiten der Signalstrecken, die ein Kennzeichen für die unterschiedlichen Laufzeiten der Signalstrecken sind. Werden diese Meßwerte noch normiert, z.B. auf den kleinsten Meßwert, dann können die über die Signalstrecken im Empfangsfall übertragenen Signale mit Hilfe dieses normierten Wertes jeder Signalstrecke korrigiert werden.The method just described is repeated for all signal paths SS, the transmitters of the signal paths not to be measured always being activated simultaneously and only the receiver of the signal path to be measured being switched on. If the sampling clock CL is always started at the same time as when the transmitter S was activated, then the number of sampling clocks can be determined for each signal path when the pulse edge of the central pulse occurs at the receiver of the signal path to be measured. In this way, one obtains relative values for the different transit times of the signal routes, which are indicative of the different transit times of the signal routes. If these measured values are still standardized, e.g. to the smallest measured value, then the signals transmitted via the signal paths in the case of reception can be corrected with the aid of this normalized value of each signal path.
Wesentlich für das Verfahren ist, daß die Sender gleichzeitig aktiviert werden und daß die Abtasttakte für alle Signalstrecken gleichzeitig eingeschaltet werden. Auf diese Weise erhält man für jede Signalstrecke relativ zur Zentralimpulsflanke einen individuellen Meßw.ert, der in der Tabelle hinterlegt ist.It is essential for the method that the transmitters are activated simultaneously and that the sampling clocks are switched on simultaneously for all signal paths. In this way, an individual measured value is obtained for each signal path relative to the central pulse edge, which is stored in the table.
Die beim Verfahren mitverwendeten Schaltungsanordnungen, z.B. zur Erzeugung von Abtasttakten sind in Prüfautomaten in der Regel vorhanden und werden darum nicht erläutert.The circuit arrangements used in the process, e.g. to generate sampling clocks are usually available in test machines and are therefore not explained.
Das Verfahren zur Feststellung der Laufzeit im Sendefall unter Verwendung der Laufzeitwerte, die für den Empfangsfall gelten, ist sehr genau. Bei diesem Verfahren wird auch die Impulsflankenverflachung berücksichtigt, die bei entsprechender kapazitiver Last am Prüflingseingang bewirkt wird. Diese kapazitive Last wirkt sich in einer Impulsflankenverflachung aus, die als reflektierte Impulsflanke wieder zum Empfänger übertragen wird und entsprechend später zu dem Signal K1 (75%) führt. Da sämtliche Meßwerte auf einen Abtasttakt CL und auf dessen DelayAuflösung bezogen sind, wird die Kalibrierung um so genauer, je linearer der Abtasttakt und je feinstufiger seine Delayauflösung ist. The procedure for determining the transit time in the transmission case using the transit time values that apply to the reception case is very precise. This method also takes into account the flanking of the pulse edges, which is caused at the test specimen input with a corresponding capacitive load. This capacitive load has an effect on a pulse flattening, which is transmitted back to the receiver as a reflected pulse flank and correspondingly later leads to the signal K1 (75%). Since all measured values relate to a sampling clock CL and its delay resolution, the calibration becomes more precise the more linear the sampling clock and the finer its delay resolution.

Claims

Patentansprüche Claims
1. Verfahren zur Feststellung der elektrischen Laufzeit von Signalstrecken, die jeweils am einen Ende einen Sender und einen Empfänger. aufweisen und am anderen Ende an einer Anschußstelle angeschlossen sind, an die ein Eingang z.B. eines zu prüfenden Schaltkreises angeschlossen ist, g e k e n n z e i c h n e t durch folgende Schritte: a) der Sender (S1) der Signalstrecke (SS1) erzeugt einen Sendeimpuls, der über die Signalstrecke zur Anschlußstelle (AS) übertragen wird, b) als ersten Meßwert wird unter Verwendung des Empfängers (El) der Zeitpunkt festgestellt, an dem der Sendeimpuls 50% seiner Sendeimpulsamplitude überschreitet, c) als zweiter Meßwert wird unter Verwendung des Empfängers (El) der Zeitpunkt festgestellt, an dem ein an der Anschlußstelle (AS) aufgrund des Sendeimpulses reflektierter Impuls 50% seiner Amplitude überschreitet, d) der Zeitpunkt des Eintreffens des Sendeimpulses an der Anschlußstelle (AS) und damit die Laufzeit im Sendefall wird bestimmt durch die Subtraktion des ersten vom zweiten Meßwert.1. Method for determining the electrical transit time of signal paths, each having a transmitter and a receiver at one end. and are connected at the other end to a connection point to which an input e.g. a circuit to be tested is connected, characterized by the following steps: a) the transmitter (S1) of the signal path (SS1) generates a transmission pulse which is transmitted via the signal path to the connection point (AS), b) the first measured value is obtained using the receiver (El) the point in time is determined at which the transmission pulse exceeds 50% of its transmission pulse amplitude, c) the second measured value is determined using the receiver (El) the point in time at which a pulse reflected at the connection point (AS) due to the transmission pulse is 50% its amplitude exceeds d) the time of arrival of the transmission pulse at the connection point (AS) and thus the transit time in the case of transmission is determined by subtracting the first from the second measured value.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch g e k e n n z e i c h n e t , daß der Zeitpunkt des Eintreffens des Signals an der Anschlußstelle (AS) durch die Differenz des zweiten Meßwertes (K1 75%) und der Laufzeit zwischen Anschlußstelle (AS) und Ausgang des Empfängers (E1) festgestellt wird.2. The method according to claim 1, characterized in that the time of arrival of the signal at the connection point (AS) by the difference of the second measured value (K1 75%) and the transit time between the connection point (AS) and the output of the receiver (E1) determined becomes.
3. Verfahren zur Bestimmung der elektrischen Laufzeit eines Signals durch einen an der Anschlußstelle angeschlossenen Prüfling, der an eine zweite Signalstrecke angeschlossen ist, unter Verwendung des Verfahrens nach Anspruch 2, g e k e n n z e i c h n e t durch folgende Schritte: e) der aufgrund des Sendeimpulses am Ausgang des Prüflings ausgeloste Ausgangsimpuls wird über die zweite Signalstrecke (SS2) zum Empfänger (E2) übertragen und veranlaßt den Empfänger zur Abgabe eines Signals (K2), f) der Zeitpunkt des Auftretens dieses Signals wird zur Festlegung eines dritten Meßwertes bestimmt, g) die elektrische Laufzeit des Prüflings ergibt sich aus der Differenz des dritten Meßwertes unter Berücksichtigung der Laufzeit der zweiten Signalstrecke (SS2) zwischen Anschlußstelle (AS2) und Ausgang des Empfängers (E2) und des zweiten Meßwertes unter .Berücksichtigung der Laufzeit der ersten Signalstrecke (SS1) zwischen Anschlußstelle (AS1) und Ausgang des Empfängers (E1).3. A method for determining the electrical transit time of a signal by a device under test connected to the connection point and connected to a second signal path using the method according to claim 2, characterized by the following steps: e) the output pulse triggered due to the transmission pulse at the output of the test object is transmitted via the second signal path (SS2) to the receiver (E2) and causes the receiver to emit a signal (K2), f) the time of the occurrence of this signal is used to determine a determines the third measured value, g) the electrical transit time of the test object results from the difference of the third measured value, taking into account the transit time of the second signal path (SS2) between the connection point (AS2) and the output of the receiver (E2) and the second measured value, taking into account the transit time the first signal path (SS1) between the connection point (AS1) and the output of the receiver (E1).
4. Verfahren nach Anspruch 3, bei dem eine Mehrzahl von Signalstrecken (SS) verwendet werden, g e k e n n z e i c h n e t durch folgende Schritte:4. The method according to claim 3, in which a plurality of signal paths (SS) are used, g e k e n n e e i c h n e t by the following steps:
- die Anschlußstellen (AS) aller Signalstrecken (SS) werden kurzgeschlossen,- the connection points (AS) of all signal paths (SS) are short-circuited,
- alle Empfänger (E) bis auf den Empfänger der zu messenden Signalstrecke werden abgeschaltet,- all receivers (E) except the receiver of the signal path to be measured are switched off,
- alle Sender (S) bis auf den Sender der zu messenden Signalstrecke werden eingeschaltet und geben gleichzeitig jeweils einen Sendeimpuls ab, der zur zugehδrigen Anschlußstelle übertragen wird,all transmitters (S) except for the transmitter of the signal path to be measured are switched on and at the same time each emit a transmission pulse which is transmitted to the associated connection point,
-an den kurzgeschlossenen Anschlußstellen (AS) überlagern sich die Sendeimpulse zu einem Zentralimpuls (Z1), der über die zu messende Signalstrecke zu dem zugehörigen Empfänger übertragen wird,at the short-circuited connection points (AS), the transmission pulses overlap to form a central pulse (Z1) which is transmitted to the associated receiver via the signal path to be measured,
- der Zeitpunkt des Auftretens eines vom Zentralimpuls ausgelösten Impulses am Ausgang des Empfängers der zu messenden Sighalstrecke wird festgestellt und als die Laufzeit kennzeichnender Wert in einer Tabelle eingetragen,the point in time of the occurrence of a pulse triggered by the central pulse at the output of the receiver of the signal path to be measured is determined and entered as a value characterizing the transit time in a table,
- die obigen Schritte werden für alle Signalstrecken durchgeführtt - The above steps are carried out for all signal paths
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch g e k e n n z e i c h n e t , daß die in der Tabelle gespeicherten Meßwerte normiert werden, wobei die Werte auf den kleinsten Wert bezogen werden.5. The method according to claim 4, characterized in that the measured values stored in the table are normalized, the values being related to the smallest value.
6. Verfahren nach Anspruch 4 oder 5, dadurch g ek en n z e i c h n e t , daß der Zeitpunkt des Auftretens von Impulses am Empfänger mit Hilfe von Abtasttakten (CL) festgestellt wird, die zu einem festgelegten Zeitpunkt im Vergleich zum Auslösen der Sendeimpulse gestartet werden und deren Anzahl bis zur Beeinflussung des Empfängers durch den Impuls gezählt werden.6. The method according to claim 4 or 5, characterized in that the time of occurrence of the pulse at the receiver is determined with the aid of sampling clocks (CL) which are started at a fixed time in comparison to triggering the transmission pulses and their number be counted until the receiver is influenced by the pulse.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch g ek e n n z e i c h n e t , daß der Empfänger (E) ein Komparator ist, der den Ausgangsimpuls dann abgibt, wenn der durch den Zentralimpuls ausgelδste Impuls einen Referenzwert (UR) überschreitet und ein Abtasttakt (CL) anliegt.7. The method according to any one of claims 4 to 6, characterized in that the receiver (E) is a comparator which emits the output pulse when the pulse triggered by the central pulse exceeds a reference value (UR) and a sampling clock (CL ) is present.
8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch g e k e n n z e i c h n et , daß die Signalstrecken (SS) den Empfangssignalweg oder Sendesignalweg von/ zum Prüfstift eines Prüfautomaten bilden. 8. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that the signal paths (SS) form the received signal path or transmit signal path from / to the test pin of an automatic test machine.
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