DE2460245C2 - Anordnung zur Funktionsüberwachung eines aus mehreren Halbleiter-Bauelementen aufgebauten digitalen Schaltkreises - Google Patents
Anordnung zur Funktionsüberwachung eines aus mehreren Halbleiter-Bauelementen aufgebauten digitalen SchaltkreisesInfo
- Publication number
- DE2460245C2 DE2460245C2 DE19742460245 DE2460245A DE2460245C2 DE 2460245 C2 DE2460245 C2 DE 2460245C2 DE 19742460245 DE19742460245 DE 19742460245 DE 2460245 A DE2460245 A DE 2460245A DE 2460245 C2 DE2460245 C2 DE 2460245C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- circuit
- arrangement according
- monitored
- function
- current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0751—Error or fault detection not based on redundancy
- G06F11/0754—Error or fault detection not based on redundancy by exceeding limits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/145—Indicating the presence of current or voltage
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Funktionpüberwachung
eines aus mehreren Halbleiter-Bauelementen aufgebauten digitalen Schaltkreises.
Das richtige Funktionieren von digitalen Schaltkreisen wird bisher meist durch Überwachung der
eigentlichen Übertragungsfunktion geprüft, beispielsweise durch Überwachung der Übertragung besonders
charakteristischer Signale oder speziell eingespeister Prüfsignale. Auch eine Überwachung durch Funktionsvergleich von doppelt oder mehrfach vorhandenen
gleichartigen digitalen Schaltungen ist bekannt Diese bekannten Funktionsüberwachungsanordnungen sind
relativ aufwendig und ihre Anwendung ist daher bis jetzt auf solche Schaltkreise beschränkt, die eine extrem
hohe Funktionssicherheit verlangen und bei denen damit ein solcher Aufwand gerechtfertigt ist. Für
einfachere digitale Schaltkreise sind diese schaltungstechnisch aufwendigen Funktionsüberwachungsanordnungen
im allgemeinen nicht gerechtfertigt
Es ist bekannt, daß sogenannte komplementäre MOS Bauelemente im Normalbetrieb nur wenig Betriebsstrom verbrauchen, bei Fehlern an diesen CMOS-Bauelementen
diese jedoch einen relativ großen Strom verbrauchen.
Es ist ferner bekannt, in die Speiseleitung von mit Halbleiter-Bauelementen bestückten Schaltkreisen
Stromindikatoren beispielsweise in Form eines Widerstandes anzuordnen und damit diesen Schaltkreis auf
eventuelle Überlastungen zu üb:rwachen (Schaltungen mit Halbleiter-Bauelementen, ßand 3, Siemens AG,
1967, Seiten 241-244 und Hilfsbuch für Kathodenstrahl-Oszillographie,
5. Aufl., 1965, S 100). Solche elektronischen Überlastsicherungen wären für die
Funktionsüberwachung von digitalen Schaltkreisen nicht geeignet, sie wären in ihrer Ansprechempfindlichkeit
zu ungenau.
Es ist Aufgabe der Erfindung, eine einfache und billige Anordnung zur Funktionsüberwachung eines aus
mehreren Halbleiter-Bauelementen aufgebauten digitalen Schaltkreises zu schaffen.
Diese Aufgabe wird ausgehend von einer Anordnung laut Oberbegriff des Hauptanspruches durch dessen
kennzeichnende Merkmale gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Die Erfindung macht sich die Erkenntnis zunutze, daß komplementäre MOS-Bauelemente nicht nur bei Bauelementenfehlern einen gegenüber dem fehlerfreien Betrieb relativ großen Strom verbrauchen sondern daß dieser erhöhte Stromverbrauch auch auftritt, wenn ein solches Bauelement in einer digitalen Schaltung nicht richtig funktioniert, also beispielsweise der Eingangsanschluß eines solchen Bauelementes unterbrochen ist. Wird daher im Sinne der Erfindung ein in der Funktion zu überwachender digitaler Schaltkreis ausschließlich aus solchen komplementären MOS-Bauelementen aufgebaut, so wird es möglich, die Funktionstüchtigkeit eines solches digitalen Schaltkreises mit einem an sich bekannten einfachen Stromindikator zu überwachen. Mit der erfindungsgemäßen Anordnung ist es daher bei einfachstem und billigstem Aufbau möglich, nahezu alle Funktionsfehler eines digitalen Schaltkreises durch die damit bedingte merkliche Erhöhung des Speisestroms festzustellen und anzuzeigen. Eine erfindungsgemäße Funktionsüberwachungsanordnung ist sowohl schaltungstechnisch als auch betriebstechnisch wesentlich einfacher und billiger aufzubauen als dies mit den bekannten eingangs erwähnten Überwachungsmaßnahmen möglich ist. Der Stromindikator ist im einfachsten Fall nur ein in die Speiseleitung de« zu überwachenden digitalen Schaltkreises eingeschalteter Widerstand, an dem in bekannter Weise der erhöhte Betriebsstroni durch Spannungsabfall angezeigt und ausgewertet wird. Der Stromindikator ist beispielsweise über einen Verstärker mit einer entsprechenden Anzeigelampe
Die Erfindung macht sich die Erkenntnis zunutze, daß komplementäre MOS-Bauelemente nicht nur bei Bauelementenfehlern einen gegenüber dem fehlerfreien Betrieb relativ großen Strom verbrauchen sondern daß dieser erhöhte Stromverbrauch auch auftritt, wenn ein solches Bauelement in einer digitalen Schaltung nicht richtig funktioniert, also beispielsweise der Eingangsanschluß eines solchen Bauelementes unterbrochen ist. Wird daher im Sinne der Erfindung ein in der Funktion zu überwachender digitaler Schaltkreis ausschließlich aus solchen komplementären MOS-Bauelementen aufgebaut, so wird es möglich, die Funktionstüchtigkeit eines solches digitalen Schaltkreises mit einem an sich bekannten einfachen Stromindikator zu überwachen. Mit der erfindungsgemäßen Anordnung ist es daher bei einfachstem und billigstem Aufbau möglich, nahezu alle Funktionsfehler eines digitalen Schaltkreises durch die damit bedingte merkliche Erhöhung des Speisestroms festzustellen und anzuzeigen. Eine erfindungsgemäße Funktionsüberwachungsanordnung ist sowohl schaltungstechnisch als auch betriebstechnisch wesentlich einfacher und billiger aufzubauen als dies mit den bekannten eingangs erwähnten Überwachungsmaßnahmen möglich ist. Der Stromindikator ist im einfachsten Fall nur ein in die Speiseleitung de« zu überwachenden digitalen Schaltkreises eingeschalteter Widerstand, an dem in bekannter Weise der erhöhte Betriebsstroni durch Spannungsabfall angezeigt und ausgewertet wird. Der Stromindikator ist beispielsweise über einen Verstärker mit einer entsprechenden Anzeigelampe
oder einem Registriergerät verbunden, er kann aber auch mit einer automatischen Umschalteinrichtung
gekoppelt sein, die bei Auftreten eines Funktionsfehlers den fehlerhaften Schaltkreis abschaltet rnd dafür einen
gleichartigen fehlerfreien Schaltkreis zuschaltet Gemäß der Erfindung ist es dadurch möglich, redundante
Systeme mit nur zwei Zweigen aufzubauen, wozu bisher bei gleicher Zuverlässigkeit mindestens drei oder mehr
Zweige nötig waren. Wegen des sehr einfachen Aufbaues der FunktionsOberwachungsanordnung wird ι ο
durch sie ein größeres Anwendungsgebiet erschlossen, d. h. es können auch solche Schaltkreise überwacht
werden, bei denen bisher aus Kostengründen solche Überwachungen nicht sinnvoll waren. Die erfindungsgemäße
Funktionsüberwachungsanordnung eignet sich zur Überwachung all solcher Schaltkreise, die gegenüber
dem Stromverbrauch bei Normalbetrieb bei Fehlern eine merkliche Erhöhung des Betriebsstromes
zeigen, also eine durch den Stromindikator auswertbare Siromänderung. Unter Schaltkreis werden dabei alle 2»
Schaltungen verstanden, die aus einem oder mehreren Bauelementen bestehen und die z. B. Teil eines Gerätes
oder einer größeren Gesamtschaltung sind.
Die Erfindung wird im folgenden an Hand schematischer Zeichnungen an Ausführungsbeispielen näher
erläutert.
F i g. 1 zeigt die Realisierung einer erfindungsgemäßen Funktionsüberwachungsanordnung bei einem
CMOS-Schaltkreis einfachster Bauart,
F i g. 2 zeigt den Aufbau eines redundanten Systems jo
unter Verwendung erfindungsgemäßer Funktionsüberwachungsanordnungen.
F i g. 1 zeigt einen zu überwachenden Schaltkreis B, der aus mehreren Bauelementen G besteht, die in einer
nicht näher dargestellten Weise funktionsmäßig niiteinander verknüpft sind. Wie an Hand des einen
Bauelements GI näher dargestellt ist, sind diese
Bauelemente in der sogen, komplementären MOS-Technik realisiert. In dem gezeigten Ausführungsbeispiel
besteht das Bauelement G 1 beispielsweise aus den 4» beiden Halbleiterelementen P und N komplementären
Leitfähigkeitstyps. Gespeist werden diese einzelnen Bauelemente G des Schaltkreises B über die Speiseleitungen
H und L (diese Speisung ist der Einfachheit halber nur für das Element G 1 dargestellt, bei den
anderen Elementen jedoch weggelassen).
In die Speiseleitung H ist bei dem dargestellten Ausführungsbeispiel ein Stromindikator J pingeschaltet,
im einfachsten Fall ein Widerstand R. Der Schaltkreis B besitzt bei dem dargestellten Aufbau in CMOS-Technik
die Eigenschaft, daß im Normalbetrieb praktisch kein Betriebsstrom fließt. Die verwendeten CMOS-Bauelemente
G besitzen nämlich die an sich bekannte vorteilhafte Eigenschaft, daß sie in den einzelnen
Schaltzuständen praktisch keinen Strom verbrauchen, solange sie fehlerfrei arbeiten. Tritt nämlich beispielsweise
am Funktionseingang £1 des CMOS-Bauelements G 1 Η-Potential auf, so wird das Halbleiterelement
N leitend und das Halbleiterelement P gesperrt und am Funktionsausgang A 1 tritt L-Potential auf, ohne fao
daß hierdurch ein merklicher Stromfluß zwischen Hund L auftritt. Nur wenn ein Fehler im Bauelement auftritt,
wird von diesem Strom verbraucht was über den dem zu überwachenden Schaltkreis zugeordneten Stromindikator
/ festgestellt werden kann. In dem gezeigten 6>
Ausführungsbeispiel tritt beispielsweise bei einem fehlerhaften Bauelement G durch den dann fließenden
erhöhten Betriebsstrom in der Leitung H ein Spannungsabfall am Widerstand R auf, der über den
Anschluß X als Fehlersignal festgestellt und weiterverarbeitet
werden kann. Selbstverständlich kann dieser Stromindikator / auch in der unteren Speiseleitung L
angeordnet werden oder bei Bedarf können sogar in beiden Leitungen H und L entsprechende Stromindikatoren
vorgesehen werden. Zur Unterdrückung von Stromspitzen während des Schaltvorganges im Schaltkreis
S kann noch der Kondensator C vorgesehen sein. An Stelle des dargestellten Widerstandes R kann
beispielsweise auch ein Hallgenerator oder ein anderes entsprechendes bekanntes Bauelement verwendet werden,
so daß das Fehlersignal am Ausgang λ'gegebenenfalls auch galvanisch getrennt von der übrigen
Schaltung abgegriffen werden kann.
Wenn mehrere aus einer gemeinsamen Speisespannungsquelle über die Speiseleitungen Wund /.gespeiste
Schaltungskreise B parallel geschaltet sind, kann es je nach Aufbau dieser Schaltkreise möglich sein, daß über
den bei Auftreten eines Fehlers in einem der Schaltkreise entstehenden Spannungsabfall am Siromindikator
der eine oder andere der parallelliegenden anderen Schaltkreise so beeinflußt wird, daß auch an
diesem ein Fehier durch entsprechenden Stromverbrauch simuliert wird. Um dies zu vermeiden, besitzt der
Stromindikator / vorzugsweise eine derartig nichtlineare Kennlinie, daß der Spannungsabfall am Indikator
begrenzt wird. In dem gezeigten Ausführungsbeispiel ist z. B. einfach parallel zum Widerstand R eine Diode D
geschaltet, so daß der Spannungsabfall am Widerstand auf den Wert der Diodenrestspannung begrenzt wird.
Mit der Schaltung nach F i g. 1 können die wichtigsten Funktionen des Schaltkreises B überwacht werden. Es
sind jedoch auch Fehler denkbar, die keine entsprechende Stromerhöhung zur Folge haben. Wenn beispielsweise
die Ausgangsleitung A 2 des Elements G 2 an der Stelle Y unterbrochen wird, kann dies nicht durch eine
Stromerhöhung in der Speiseleitung H—L festgestellt werden.
Dieses Problem kann dadurch gelöst werden, daß diesem Ausgang A 2 des Bauelements G 2 der Eingang
£3 eines zusätzlichen Bauelements G 3 zugeordnet wird, das seinerseits natürlich wieder aus den Speiseleitungen
H-L gespeist und somit auch über den Stromindikator / überwacht wird. Wenn nunmehr bei
dem so ergänzten Schaltkreis B wieder eine Unterbrechung an der Stelle Y auftritt, ist der Eingang £3 des
Elements G 3 unbeschaltet und die beiden Halbleiterelemente N und Pdieses zusätzlichen CMOS-Bauelements
G 3 werden leitend. Der erhöhte Stromverbrauch wird wieder als Fehler am Ausgang X angezeigt. Der
Ausgang A 3 dieses zusätzlichen Überwachungs-Bauelements G3 kann unbeschaltet d.h. funktionslos
bleiben, im allgemeinen wird bei solchen Schaltkreisen B jedoch sich immer irgendeine Verbindung eines
Funktionsausganges eines Bauelementes mit dem Funktionseingang eines anderen entsprechenden Bauelementes
anbieten, so daß diese optimale Überwachung für alle denkbaren Fehlermöglichkeiten eines
Schaltkreises meist sehr einfach realisiert werden kann.
Die Auswertung des am Ausgang X auftretenden Fehlersignals kann auf die verschiedenartigste Weise
erfolgen. Im einfachsten Fall ist jedem Ausgang X jedes einzelnen Schaltkreises ein entsprechender Anzeigeverstärker
mit Anzeigerichtung zugeordnet. Damit können auch kurzzeitige Fehlerzustände von Schaltkreisen
ständig überwacht werden. Der Schaltungsaufwand für die Überwachung kann jedoch auch dadurch weiter
herabgesetzt werden, daß eine Art Zeitmultiplex-Überwachung
vorgenommen wird, bei der nacheinander die verschiedenen Ausgänge X verschiedener Schaltkreise
B abgefragt und über einen gemeinsamen Anzeigenverstärker mit Anzeigevorrichtung ausgewertet werden.
Durch geeignete Wahl der Abfragefrequenz ist dabei sicherzustellen, daß auch kurzzeitige Fehlerzustände
der einzelnen Schaltkreise sicher erfaßt werden.
Eine erfindungsgemäße Funktiunsüberwachiingsanordnung
ermöglicht auch den Aufbau einfacher redundanter Schaltungssysteme mit nur zwei Systemzweigen,
wie dies schematisch in F i g. 2 dargestellt ist. Fig. 2 zeigt zwei gleichartige mit komplementären
MOS-Bauelementen aufgebaute und gemäß der Erfindung
funklionsüberwachte Schaltkreise Fund F', die in dem gezeigten Ausführungsbeispicl insgesamt drei
verschiedene Funktionsausgänge AX, A 2 und /4 3 besitzen. Um sicherzustellen, daß immer nur ein
fehlerfreier Schaltkreis Fbzw. F'mit seinen Ausgängen A 1, A 2 und A 3 mit einem weiteren Schaltkreis
verbunden ist, ist die zusätzliche Umschalteinrichtung 5 vorgesehen, die ihrerseits im Sinne des Ausführungsbeispiels
doppelt vorhanden ist. Die verstärkten Fehlerausgangssignale an den Ausgängen X und X' steuern eine
Flip-Flop-Schaltung 7, 8 in der Umschalten.richtung 5 bzw. S' durch die entsprechende Gatter 1, 2, 3 in den
Übertragungsleitungen der Ausgänge AX, A 2 und A 3
des ersten Schaltkreises F bzw. Gatter 4, 5, 6 in den entsprechenden Ausgangsleitungen AX', A 2' und A 3'
des zweiten Schaltkreises F'gesteuert werden. Arbeiten die beiden Schaltkreise Fund F'einwandfrei, so liegen
beide Ausgänge X und X' auf hohem Potential und die beiden Flip-Flops 7, 8 bzw. 7', 8' schalten willkürlich die
r) drei Ausgänge A 1, A 2 und A 3 bzw. A Γ, A 2' und A 3'
über die zugeordneten Gatter 1 bis 6 an die entsprechenden Ausgänge 9 bis 11 der Umschalteinrichtung
S bzw. über 1' bis 6' an 12 bis 14 der Umschalteinrichtung 5'. Ist jedoch einer, beispielsweise
ι« der Schaltkreis F defekt, werden die Flip-Flops 7, 8 und
T, 8' so gesetzt, daß nur die Ausgänge A Γ bis A 3' des
einwandfrei arbeitenden Schaltkreises F'durchgeschaltet werden.
Im einfachsten Fall genügt selbstverständlich auch nur eine einzige Umschalteinrichtung 5. Nur wenn auch eine entsprechende Sicherheit für ein einwandfreies Durchschalten gefordert wird, ist die doppelte Ausführung dieser Umschalteinrichtung erforderlich. Die Umschalteinrichtungen S und S' werden ihrerseits vorzugsweise aus CMOS-Bauelementen aufgebaut, so daß mittels diesen Umschalteinrichtungen S bzw. 5' zugeordneten erfindungsgemäßen Funktionsüberwachungsanordnungen über entsprechende Ausgänge X" und X'" deren richtiges Funktionieren überwacht
Im einfachsten Fall genügt selbstverständlich auch nur eine einzige Umschalteinrichtung 5. Nur wenn auch eine entsprechende Sicherheit für ein einwandfreies Durchschalten gefordert wird, ist die doppelte Ausführung dieser Umschalteinrichtung erforderlich. Die Umschalteinrichtungen S und S' werden ihrerseits vorzugsweise aus CMOS-Bauelementen aufgebaut, so daß mittels diesen Umschalteinrichtungen S bzw. 5' zugeordneten erfindungsgemäßen Funktionsüberwachungsanordnungen über entsprechende Ausgänge X" und X'" deren richtiges Funktionieren überwacht
:■> werden kann. Die Umschalteinrichtung Sund S'können
auch jeweils Bestandteil eines nachfolgenden überwachten Schaltkreises sein. An Stelle der Flip-Flops können
auch entsprechende Differenzverstärker oder andere Umschaltelemente verwendet werden.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (11)
1. Anordnung zur Funktionsüberwachung eines aus mehreren Halbleiter-Bauelementen aufgebauten
digitalen Schaltkreises, dadurch gekennzeichnet,
daß in der Speiseleitung (H, L) eines ausschließlich komplementäre MOS-Bauelemente
enthaltenden Schaltkreises (B, F, F') ein Stromindikator f/) angeordnet ist
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß jeder Funktionsausgang (ζ. B. A 2) jedes Bauelementes (G) des zu überwachenden
Schaltkreises (B, F, F') mit dem Funktionseingang (z. B. £ 3) eines anderen Bauelementes (G 3) des
Schaltkreises verbunden ist
3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet daß als Stromindikator (J) ein in die
Speiseleitung (H, L) geschalteter Widerstand (R) dient
4. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein Stromindikator (J)
mit nichtlinearer Kennlinie verwendet wird.
5. Anordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß als Stromindikator (J) ein in die
Speiseleitung (H, Zugeschalteter Widerstand (R)mit
parallelgeschalteter Diode (D)dienl.
6. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Stromindikator
(J) mit einem eigenen Überwachungsverstärker verbunden ist.
7. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die einzelnen Stromindikatoren
(J) mehrerer überwachter Schaltkreise über eine Umschalteinrichtung mit einem gemeinsamen
Überwachungsverstärker verbindbar sind.
8. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, gekennzeichnet durch die Zusammenschaltung von
mindestens zwei gleichartige«! überwachten Schaltkreisen (F, F') über eine Umschalteinrichtung (S, S'),
deren Stromindikatoren (J; Ausgänge X, X') derart mit dieser Umschalteinrichtung ('S, S'^ verbunden
sind, daß bei Feststellung eines fehlerhaften Schaltkreises (z. B. F) an dessen Stelle selbsttätig ein
anderer gleichartiger fehlerfreier Schaltkreis (z. B. F',)zugeschaltet wird.
9. Anordnung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Umschalteinrichtung (S, S')
ihrerseits als funktionsüberwachter Schaltkreis aufgebaut ist.
10. Anordnung nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens zwei parallelgeschaltete
Umschalteinrichtungen (S, S') vorgesehen
sind.
11. Anordnung nach einem der Ansprüche 8 bis 10,
dadurch gekennzeichnet, daß die Umschalteinrichtungen (S, S') jeweils Bestandteil eines darauffolgenden
anzusteuernden und seinerseits überwachten Schaltkreises sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19742460245 DE2460245C2 (de) | 1974-12-19 | 1974-12-19 | Anordnung zur Funktionsüberwachung eines aus mehreren Halbleiter-Bauelementen aufgebauten digitalen Schaltkreises |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19742460245 DE2460245C2 (de) | 1974-12-19 | 1974-12-19 | Anordnung zur Funktionsüberwachung eines aus mehreren Halbleiter-Bauelementen aufgebauten digitalen Schaltkreises |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2460245A1 DE2460245A1 (de) | 1976-06-24 |
DE2460245C2 true DE2460245C2 (de) | 1982-04-01 |
Family
ID=5933908
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19742460245 Expired DE2460245C2 (de) | 1974-12-19 | 1974-12-19 | Anordnung zur Funktionsüberwachung eines aus mehreren Halbleiter-Bauelementen aufgebauten digitalen Schaltkreises |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2460245C2 (de) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH619300A5 (en) * | 1977-10-25 | 1980-09-15 | Buechi Lab Tech | Circuit arrangement for monitoring the current of a load. |
US4686462A (en) * | 1985-09-26 | 1987-08-11 | International Business Machines Corporation | Fast recovery power supply |
DE4041492A1 (de) * | 1990-12-22 | 1992-07-02 | Vdo Schindling | Verfahren zur messung des stoerpotentials eines ic |
JP2001516117A (ja) | 1997-08-20 | 2001-09-25 | インフィネオン テクノロジース アクチエンゲゼルシャフト | 集積回路の正常な機能を監視するための方法 |
-
1974
- 1974-12-19 DE DE19742460245 patent/DE2460245C2/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2460245A1 (de) | 1976-06-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3724926A1 (de) | Schaltungsanordnung zur ueberpruefung der zuleitungen eines schalters oder sensors | |
DE102005016127B4 (de) | Sensorsystem | |
CH618801A5 (de) | ||
DE4325663A1 (de) | Stromversorgungsschalter-Relaisschaltung | |
DE102013219950A1 (de) | Elektronische Schaltungsanordnung | |
DE2451907C2 (de) | Schaltungsanordnung zur Überwachung von zwei Ruhestromschleifen auf Unterbrechung und Kurzschluß | |
DE2938344A1 (de) | Sicherheitsschaltung zur uebewachung von magnetventilen von fahrzeugen | |
DE2460245C2 (de) | Anordnung zur Funktionsüberwachung eines aus mehreren Halbleiter-Bauelementen aufgebauten digitalen Schaltkreises | |
DE2607893B2 (de) | Zählschaltung | |
DE2160396B2 (de) | Überwachungsschaltung für einen Verstärker | |
EP0417392B1 (de) | Ausgangsschaltung für ein Potentiometer | |
DE10258780B4 (de) | Anti-Fuse-Schaltung und Anti-Fuse-System | |
DE2711519B2 (de) | Datenübertragungs-Anlage | |
DE4331184C2 (de) | Auswerteschaltung | |
DE19534825A1 (de) | Schaltungsanordnung zum Auswerten eines binären, durch Stromschwellenwerte definierten Signals | |
DE1271778B (de) | Elektronische Schaltungsanordnung zum Nachweis von Stoerungen von Verstaerkern und Umschaltanordnung auf gleichartige Ersatzgeraete | |
DE1524001B2 (de) | Prüfschaltung für eine Auswahlschaltung | |
DE1513297B2 (de) | Schaltungsanordnung zur erkennung von l bzw o signal fehlern fuer mindestens einen zweikanaligen steuerkreis | |
DE2151162C2 (de) | Einrichtung zur Funktionsüberwachung der Regelstränge eines analogen dreikanaligen Regelsystems | |
DE3446628A1 (de) | Signalisierungsschaltung | |
DE4303048A1 (en) | Alarm recognition apparatus for redundant layout circuit in radio equipment - has input circuits delaying alarm recognition signals when circuits are switched to be operational systems | |
DE19959730A1 (de) | Bussystem | |
DE2824414C3 (de) | Prüfschaltung | |
DE2542435C2 (de) | Schaltung tut Funktionsprüfung einer elektronisch phasengesteuerten Antennenanordnung | |
DE2731848A1 (de) | Schutzschaltung fuer batteriegespeiste messgeraete |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OGA | New person/name/address of the applicant | ||
D2 | Grant after examination | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |