DE2430011B2

DE2430011B2 - Zweistrahl-photometer mit interferenzfilter

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Publication number: DE2430011B2
Application number: DE19742430011
Authority: DE
Priority date: 1974-06-22
Filing date: 1974-06-22
Publication date: 1977-08-25
Also published as: NL7507457A; FR2275760B1; GB1508068A; BE830463A; DK280875A; DE2430011C3; DE2430011A1; US4017191A; FR2275760A1

Description

Die Erfindung betrifft ein Zweistrahl-Photometer gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruches. Bei Photometern dieser Bauart stimmen der Meß- und der Vergleichsstrahlengang zwar räumlich überein, folgen jedoch zeitlich periodisch aufeinander. Solche Photometer sind insbesondere zur Extinktionsmessung von schwach absorbierenden Proben geeignet, die bei einer Wellenlänge selektiv absorbieren.

Die Konzentrationsbestimmung einer Substanz mit Hilfe der Bestimmung der optischen Absorption bzw. der Transparenz ist in der Meßtechnik bekannt. Der einfachste Fall einer Konzentrationsbestimmung ist in A b b. 1 gekennzeichnet. Es ist die Transmission der Probe über der Wellenlänge dargestellt. Die Einbeulung der Kurve bei λ 0 kennzeichnet eine Absorptionsstelle der gesuchten Substanz. Die in solchen Fällen zur Bestimmung benutzten Anordnungen arbeiten gewöhnlich mit zwei Filtern, die wechselweise in einen Strahlengang gebracht werden. Das eine Filter erzeugt die Meßwellenlänge λ 0, das andere eine Vergleichswellenlänge, die der Meßwellenlänge benachbart ist. Bei der Auswertung wird die Lichtleistung im Meßstrahlengang hinter der Probe mit der entsprechenden Leistung im Vergleichsstrahlengang in Beziehung gesetzt. Dabei wird in der Regel entweder das Verhältnis beider Leistungen gebildet oder ihre Differenz. Eine Anordnung der erwähnten Art ist in der DT-OS 23 51 291 beschrieben.

Wesentlich schwieriger ist die Konzentrationsbestimmung, wenn die Transmissionskurve des Meßgutes der Darstellung in A b b. 2 entspricht. Hier zeigt bereits die Matrix, die die zu bestimmende Substanz enthält, eine Absorption, die nicht vernachlässigt werden kann. Die zu bestimmende Substanz liefert eine zusätzliche Absorption zwischen den Wellenlängen P1, PO₁P2, die in der Transmissionskurve durch die Einbeulung Ql, ζ) 12, Q2 angedeutet ist. In diesem Falle ist es meist nicht mehr ausreichend mit einer Vergleichswellenlänge, etwa der Wellenlänge bei Pl zu arbeiten. Hier kann man den Mittelwert der Transmissionen bei Pl und P2 zum Vergleich heranziehen. Er beträgt im vorliegenden Beispiel

(Q 1 + <?2): 2= QO.

Anordnungen, die nach diesem Verfahren arbeiten, sind beispielsweise in der DT-OS 21 32 458 beschrieben. Der Nachteil der hier beschriebenen Anordnung besteht darin, daß sie mehrere räumlich getrennte Strahlengänge aufweist und damit erheblich komplizierter ist.

Eine andere Lösung der Meßaufgabe besteht darin, daß der Wellenlängenbereich, in dem die Absorption der zu bestimmenden Substanz liegt, kontinuierlich abgetastet wird. Eine Anordnung dieser Art ist in »Applied Optics«, Februar 1969, Vol. 8, Nr. 2, S. 227 und 228, beschrieben. Hier wird ein Interferenzfilter, das in oszillierende Bewegung versetzt wird, zur Abtastung des betreffenden Wellenlängenbereiches verwendet. Die Anordnung hat den Nachteil, daß an den Umkehrpunkten der Bewegung starke Beschleunigungen auftreten, die zu erhöhter Störanfälligkeit führen. Eine andere Lösung wird ermöglicht, durch die Anwendung eines zirkulär variablen Interferenzfilters, wie es beispielsweise in »Optical Spectra«, Mai/Juni 1968, S. 78-83, beschrieben ist. Ein solches Filter ist eine mit Interferenzschichten bedampfte Kreisscheibe, bei der die durchgelassenen Wellenlängen nur von dem Zentriwinkel zwischen der betrachteten Stelle des Filters und einer Nullrichtung abhängt. Eine Anordnung, die mit einem solchen Filter arbeitet, ist in der DT-AS 21 21 202 beschrieben. Ihr Nachteil besteht darin, daß Filter dieser Art schwierig herzustellen und daher kostspielig sind. Überdies ist die Meßwellenlänge und der Abtastbereich bei der in der DT-AS 21 21 202 beschriebenen Anordnung durch das einmal hergestellte Filter endgültig festgelegt. Fällt das Filter beispielsweise wegen Nichteinhaltung der engen Fertigungstoleranzen nicht wie gewünscht aus, so ist es für die Meßaufgabe nicht mehr optimal.

In der DT-AS 21 21 202 wird auch eine Variante beschrieben, bei der ein lineares Interferenzverlauffilter benutzt wird. Hierunter versteht man ein Filter, bei dem die durchgelassene Wellenlänge nur von einer Linearkoordinate abhängt. In der beschriebenen Variante wird jedoch eine oszillierende Bewegung ausgeführt, was die bereits oben beschriebenen Nachteile hat.

Die Aufgabe der Erfindung besteht nun darin, ein einfach aufgebautes und robustes Zweistrahl-Photometer zu entwickeln, das in chemischen Betrieben zui Überwachung von Prozeßströmen eingesetzt werden kann. Dabei soll die Empfindlichkeit so hoch sein, daß auch eine Konzentrationsbestimmung bei sehr schwach absorbierenden Substanzen möglich ist. Die Konzentrationsbestimmung soll auch dann noch möglich sein wenn störende Fremdsubstanzen vorhanden sind, die irr Absorptionsgebiet der gesuchten Substanz ebenfall¹ stark absorbieren.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit einerr Zweistrahl-Photometer gelöst, bei dem die Einrichtung zur Erzeugung des Meß- und des Referenzstrahles aui einem senkrecht von der optischen Achse durchsetzter und um diese Achse drehbar angeordneten Interferenz

verlauffilter besteht und die Strahlungsquellenanordnung Einrichtungen zur Beleuchtung des Interferenzverlauffilters mit zwei Teilstrahlenbündeln eng begrenzten Querschnittes an zwei bezüglich der optischen Achse symmetrisch liegenden Stellen aufweist. »Eng begrenzt« bedeutet dabei, daß der Durchmesser der Teilstrahlenbündel so klein gewählt werden muß, daß die Wellenlängenauflösung des Interferenzverlauffilters nicht durch den Bündeldurchmesser begrenzt wird. Die maximal zulässigen Bündeldurchmesser Sassen r.ich sehr _!0 leicht experimentell ermitteln. In der Praxis wurde mit Bündeldurchmessern von 2 t>is 3 mm gearbeitet.

Vorteilhaft weist die Strahlungsquellenanordnung zwei Lichtquellen auf, die symmetrisch zur optischen Achse in eins-ellbarem Abstand von dieser Achse ._s angeordnet sind. Entsprechend ändert sich dann der Abstand der Teilstrahlenbündel am Ort des Interferenzverlauffilters. Dadurch kann der gesamte, vom Interferenzverlauffilter überstrichene Wellenlängenbereich verkleinert oder vergrößert werden.

Gemäß einer bevorzugten Ausführung ist das Interferenzfilter senkrecht zur optischen Achse in Richtung seiner Welleniängenänderung verschiebbar. Auf diese Weise kann das Zentrum des überstrichenen Wellenlängenbereiches den geforderten Analysenbe- j₅ dingungen angepaßt werden.

Das Meßprinzip des rotierenden Interferenzverlauffilters gestattet einen sehr einfachen und kompakten Aufbau des Photometers. Ein besonderer Vorteil ist dabei die leichte Anpassung des Wellenlängenbereiches an die jeweiligen Analysenbedingungen. Das Gerät läßt sich also leicht von Fall zu Fall optimieren. Die Absorption von Fremdsubstanzen in der Nähe der Absorptionsstelle der gesuchten Substanz wirkt sich nicht störend aus, wenn als Meßgröße das Verhältnis von Amplitude DS zum Mittelwert S des vom photoelektrischen Empfänger erfaßten Signals benutzt wird (siehe F i g. 6).

Es läßt sich zeigen, daß diese Auswertung näherungsweise der graphischen Auswertung gemäß F i g. 2 (siehe S. 1) entspricht. Voraussetzung ist dabei allerdings, daß die Absorption der Störsubstanzen im Absorptionsgebiet λ 0 der gesuchten Substanz nicht selektiv ist, d. h„ die Störsubstanzen dürfen in diesem Gebiet keine ausgesprochene Absorptionsbande haben.

Im folgenden soll die Erfindung anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert werden. Es zeigt

F i g. 1 die Transmissionskurve eines absorbierenden Stoffes ohne Störsubstanzen,

Fig.2 die Transmissionskurve einer Substanz in Anwesenheit einer im gleichen Gebiet absorbierenden Störsubstanz,

F i g. 3 den optischen Strahlengang des Photometers,

Fig.4 die Wirkungsweise des Interferenzverlauffilters,

Fig.5a-c den von dem Interferenzverlauffilter in verschiedenen Zeitpunkten einer Meßperiode durchgelassenen Spektralbereich,

F i g. 6 das am Ausgang des Photometers registrierte Signal als Funktion der Zeit bzw. des Drehwinkels α des Interferenzverlauffüters.

Die F i g. 1 und 2 wurden bereits in der Beschreibungseinleitung bei der Erläuterung des Meßprinzips abgehandelt. <>5

Die Fig.3 zeigt den Strahlengang und dh wesentlichen Bauelemente des Zweistrahl-Photometers. Die beiden Lichtquellen 1 und 2, z. B. Glühlampen, werden mit Hilfe der Linse 3 auf das Interferenzverlauffilter 4 abgebildet und erzeugen dort die Bilder Γ bzw. 2'. Dies läßt sich auch so ausdrücken, daß die Linse 3 zwei den Lichtquellen 1 und 2 entsprechende Teilstrahlenbündel erzeugt, deren Durchmesser am Ort des Interferenzvcrlauffilters 4 dem Durchmesser der Bilder 1' und 2' entspricht. Die aus dem Interferenzfilter austretenden Lichtstrahlen werden dann mit Hilfe der Linse 5 auf den photoelektrischen Empfänger 6 fokussiert. Zwischen dem photoelektrischen Empfänger oder Wandler 6 und der Linse 5 befindet sich die mit der zu untersuchenden Probe gefüllte Küvette 7. Eine Absorption in der Küvette 7 macht sich dann durch eine Schwächung des vom photoelektrischen Wandler 6 abgegebenen elektrischen Signals bemerkbar. Dieses Signal wird verstärkt (Verstärker 7, 8) und anschließend zeitlich registriert (Registriergerät 9). Das Kernstück der gesamten Anordnung ist das Intcrferenzverlauffilter 4. Es ist drehbar um die optische Achse angeordnet und rotiert bei Betrieb des Photometers mit einer Frequenz von ca. 50 Hz. Der Antrieb erfolgt zum Beispiel mit einem Synchronmotor (nicht gezeichnet). Zusätzlich kann das Interferenzverlauffilter 4 senkrecht zur optischen Achse in Richtung seiner Wellenlängenänderung verschoben werden. Zu diesem Zweck ist das Interferenzverlauffilter 4 auf einem Schlitten montiert, der mit einem Feintrieb verbunden ist.

Im folgenden wird die Wirkungsweise des lnterfcrenzverlauffilters 4 anhand der Fig.4 und 5 erläutert. Fig.4 entspricht einem Schnitt durch die optische Anordnung gemäß Fig. 3 in Höhe des Interferenzverlauffilters 4. Die optische Achse durchstößt das Filter 4 im Punkt 10, der als Ursprung des Koordinatensystems mit den Achsen X, Y gewählt wird. Das Filter bildet ein Rechteck mit den Kanten 2 Xo · 2 V₀. Die Lage des Filters gemäß F i g. 4 ist so gewählt, daß der Wellenlängenbereich der maximalen Durchlässigkeit von links nach rechts monoton ansteigt bzw. abfällt. Jede Gerade X= const, parallel zur Y-Achse entspricht einer bestimmten Durchlaßwellenlänge des Filters. Die kleinste Durchlaßwellenlänge liegt z.B. bei X- -Xo und die größte bei X= +Xq. Beleuchtet man also das Filter spaltförmig mit weißem Licht parallel zur Y-Achse und schiebt das Filter von links nach rechts durch den Lichtstrahl, so ändert sich die Farbe des Lichtes hinter dem Interferenzverlauffilter kontinuierlich von λ( - X₀) zu λ( + X₀).

Interferenzverlauffilter dieser Art sind in neuerer Zeit handelsübliche Bauelemente. Ein solches Filter hat z. B. in Richtung der veränderlichen Wellenlänge fX-Richtung in Fig.4) eine Ausdehnung von etwa 15cm, senkrecht dazu (Y-Richtung in F i g. 4) eine Ausdehnung von etwa 2,5 cm. Aus diesem Filter wird nun ein Bereich abgetrennt, der in Richtung der veränderlichen Wellenlänge 3 cm lang ist. Es entsteht somit ein rechteckiges Filter der Abmessungen 3 cm χ 2,5 cm. Der darin enthaltene Wellenlängenbereich umfaßt beispielsweise Wellenlängen von 1800 bis 2000 nm, die •Halbwertsbreite der Durchlässigkeit ist etwa 100 nm. Die Drehachse liege im Schnittpunkt der Diagonalen des Rechtecks.

In Fig.4 sind auch die mittels der Optik 3 von den Glühwendeln 1 und 2 entworfenen Bilder Γ, 2' angedeutet.

Die Größe der Bilder und damit auch der Durchmesser der Teilstrahlenbündel am Ort des Interfercnzverlauffilters 4 entspricht z. B. einem Lichtfleck von ί mm x 2 mm. Die Zentren der Bilder 1' und 2' liegen z. B. jeweils 10 mm von der Achse entfernt. Dreht

man dieses Filter kontinuierlich um die optische Achse (senkrecht zur Papierebene in Fig.4), so ergibt sich in wechselnder Folge ein durchgelassener Wellenlängenbereich von 1900 nm und eine Kombination der Wellenlängenbereiche von etwa 1966 und 1834 nm. Die Bandbreite der durchgelassenen Strahlung ist im wesentlichen gleich der für das Filter angegebenen Halbwertsbreite von 100 nm. Sie wird also in diesem Fall durch die Ausdehnung der Bilder Γ und 2' praktisch nicht beeinflußt. Erst bei wesentlich größeren Abmessungen der Lichtflecke, entsprechend einem größeren Durchmesser der Teilstrahlenbündel, würde auch die Halbwertsbreite zunehmen.

Wollte man bei Beibehaltung der mittleren Wellenlänge des Durchlaßbereiches (1900 nm) die Seitenbänder etwa auf 1850 nm und 1950 nm legen, so müßte man die Zentren der Bilder t', 2' auf dem Interferenzverlauffilter im Abstand von 7,5 mm vom Drehzentrum anordnen. Soll die mittlere Wellenlänge geändert werden, so wird das Interferenzverlauffilter in X-Richtung zu kleineren oder größeren Durchlaßwellenlängen hin verschoben.

Gemäß Fig.3 werden die Bilder Γ und 2' bzw. die ihnen entsprechenden Teilstrahlenbündel mit Hilfe von zwei unabhängigen Lichtquellen 1 und 2 erzeugt. Die Lichtströme der Teilstrahlenbündel werden in der Regel einander angeglichen. Dies kann man z. B. durch geeignete Veränderung der Spannungsversorgung von mindestens einer der unabhängigen Glühlampen 1 und 2 oder auch durch optische Schwächung von mindestens einem der beiden Teilstrahlenbündel bewirken. Die Glühlampen 1 und 2 sind so auf einer optischen Bank montiert, daß ihr Abstand von der optischen Achse unter Einhaltung der Symmetrie einstellbar ist. Entsprechend ändert sich dann die Lage der Bilder Γ und 2' auf dem Interferenzverlauffilter 4 und damit die Lage der Seitenbänder. Anstelle von zwei unabhängigen Lichtquellen kann man natürlich auch von einer einzigen Lichtquelle ausgehen und eine Doppellochblende verwenden. In diesem Fall muß der Abstand der beiden Lochblenden von der optischen Achse symmetrisch verstellbar sein.

Im folgenden wird die hinter dem Interferenzverlauffilter 4 auftretende spektrale Lichlleistung P bei einer Beleuchtung mit weißem Licht gemäß A b b. 3 näher untersucht. In den A bb. 5a-5c ist die Durchlässigkeit des Interferenzverlauffilters 4 für 3 verschiedene Winkelstellungen (« = 0, « = 30°, α-90°) als Funktion der Wellenlänge aufgetragen. Bei der Stellung « = 0 liegen die Bilder 1' und 2', wie in Fig.4 gezeichnet, übereinander. Es wird nur eine Wellenlange AO (genauer ein Wellenlängenbereich um A 0) durchgelassen, da das Interferenzverlauffilter 4 nur längs der Geraden X-O beleuchtet wird (siehe Pig.4). Dagegen liegen bei der Stellung <x-90° die Bilder 1' und 2' bei X- +do und X--do. Das Filter läßt nun zwei Wellenlängen A 1 und A 2 durch, entsprechend den beiden Feldern X- + c/o und X- - do auf dem Interferenzverlauffilter. Bei der Drehung des Filters von «»0 bis «- 90° ändert sich der Verlauf der spektralen Verteilung kontinuierlich von annähernd monochromatischem Licht (A b b. 5a) zu annähernd bichromatischem Licht (A b b. 5c). Dazwischen liegen Übergangsbereiche, wie sie z. B. mit λ-30" in A b b. 5b dargestellt sind. Bei der kontinuierlichen Drehung wird in jede Umdrehungsperiode zweimal der Wellenlängenbereich gemäß Abb.5a und zweimal der Bereich gemäß A b b. 5c durchlaufen. Diese Wellenlängenmodulation bildet die Grundlage für das hier beschriebene Zweistrahl-Photometer mit zeitlich aufeinanderfolgendem Meßstrahl und Vergleichsstrahl. Die Wellenlänge des Meßstrahles liegt im Absorptionsgebiet A 0 der zu untersuchenden Substanz. Der Vergleichsstrahl enthält die beiden Wellenlängen A 1 und A 2, die außerhalb des Absorptionsgebietes A 0 liegen.

Das durch das Interferenzverlauf filter 4 wellenlängenmodulierte Licht durchsetzt die mit der gasförmigen

ίο bzw. flüssigen Probe gefüllte Küvette 7 und erzeugt im photoelektrischen Wandler 6 ein elektrisches Signal, das mit einem breitbandigen Gleichspannungsverstärker 8 verstärkt und mittels des Sphreibers 9 zeitlich registriert wird. Die Fig.6 zeigt eine solche Registrierung. Die zeitliche Registrierung ist äquivalent mit der Darstellung als Funktion des Drehwinkels α. Das gemessene elektrische Signal setzt sich zusammen aus einer

Wechselspannung mit der Amplitude ,- und einem

Gleichstromanteil 5. Das Verhältnis der Amplitude DS des Signals zu seinem Mittelwert 5 ist nun ein Maß für die Konzentration der gesuchten Substanz. Dies läßt sich anhand von F i g. 2 verstehen. Der Wellenlängenbereich des Interferenzverlauffilters sei bezüglich A 1 und A 2 so an die Absorption der zu untersuchenden Probe angepaßt, daß Al₁AO und A 2 mit den Punkten P1, PO und P2 übereinstimmen. Licht mit den Wellenlängen A 1 und A2 (Drehwinkel α = 90°, siehe Abb.5c) erzeug! dann im Empfänger ein Signal, das proportional ist zum

.ίο Mittelwert der beiden Transparenzen

Ql. Pl + Q2~P2

= ρ 12, PO .

An den Stellen A 1 und A 2 hat die mit der Störsubstam vermischte Probe die höchste Transparenz; da; erzeugte elektrische Signal durchläuft die Maximalwcr te in F i g. 6.

Die Minimalwcrtc in Fig.6 gehören jeweils zu der

Wellenlängen AO, an denen die Transparenz vor Probe + Störsubstanz am niedrigsten ist (siehe Figjy Die Transparenz hat in diesem Fall den Wert PO, Q0 Bei der Erläuterung von F i g. 2 auf S. 1 wurde bereit! darauf hingewiesen, daß das Verhältnis von PO. <?0 zi

PO, Q12 näherungsweise proportional zur gesuchter Konzentration ist. Das Meßprinzip des neuen Zwei strahl-Phoiometcrs erlaubt demnach eine direkt« Konzentrationsbestimmung aus dem registrierten Si gnal. Die Verhältnisbildung wird z. B. elektronisch mi

Hilfe einer Dividierschaltung vorgenommen. Fernei kann anstelle eines Linear-Verstärkers 8 ein Regelver stärker verwendet werden, dessen Verstärkung sich se einregelt, daß der Mittelwert S stets konstant bleibt Dann kann die Amplitude DS direkt als Meßgröß«

verwendet werden. Die Auswertung ist in diesem FaI besonders einfach. Der geschilderte Zusammenhanj zwischen Konzentration der Meßprobe und Ausgangs signal am Photometer gilt nur näherungsweise. Übe einen größeren Konzentrationsbereich muß das Photo

meter in Jedem Fall empirisch eingeeicht werden.

Bei der Beschreibung von F i g. 3 wurde erwähnt, dal die Leistung der den Bildern 1', 2' entsprechendei Teilstrahlenbündel in der Regel gleich groß gewähl wird In manchen Fällen kann es aber zweckmäßig sein

fts mit unterschiedlichen Leistungen zu arbeiten, insbeson dere die eine Leistung zu 0 zu machen. Dieser Fall kam beispielsweise eintreten, wenn nur die auf einer Sein der Meßwellenlänge liegenden Wellenltt igenberelchi

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nutzt werden sollen oder können. Bei dieser Variante ird das Meßprinzip des Photometers nicht verlassen, an muß nur das anhand der F i g. 1 und 2 beschriebene jswerteverfahren etwas modifizieren.
Die nachfolgende Zusammenstellung zeigt die zahlichen Vorteile des neuen Zweistrahl-Photometers:

1. Das neue Meßprinzip erlaubt einen einfachen und kompakten Aufbau des Gerätes, so daß das Photometer zur kontinuierlichen automatischen Analyse von gasförmigen oder flüssigen Prozeßströmen benutzt werden kann.

2. Die Wellenlänge λ 0, bei der gearbeitet werden soll, kann leicht innerhalb gewisser Grenzen variiert werden. Dazu ist es nur erforderlich, das Interferenzverlauffilter 4 in Richtung der X-Achse (siehe F i g. 4) geringfügig zu verschieben. Diese Veränderung der Meßwellenlänge ist besonders wichtig, weil sich oft erst im Laufe des Betriebes herausstellt, bei welchen Wellenlängen optimal gemessen werden kann.

3. Die Differenz der beiden Vergleichswellenlängen λ 1 und λ 2 kann ebenfalls innerhalb eines gewissen Bereiches frei gewählt werden. Dazu ist nur

erforderlich, die Bilder Γ und 2' in Richtung der V-Achse entsprechend zu justieren, bzw. den Abstand der Lichtquellen 1 und 2 voneinander entsprechend einzustellen.

4. Es ist bei diesen Photometern leicht möglich, verschiedene Exemplare eines Gerätetyps so einzujustieren, daß an dem gleichen Meßgut gleiche Meßwerte erhalten werden. Dies ist selbst dann noch möglich, wenn die in den verschiedenen Exemplaren verwendeten Interferenzverlauffilter rechtmerklich in ihrem spektralen Verhalten voneinander abweichen.

5. Ein Temperaturgang wirkt sich auf Meßwellenlänge und Vergleichswellenlängen nahezu gleich aus. Temperatureffekte haben daher in erster Näherung keinen Einfluß auf den Meßwert.

6. Beim Übergang von der Meßwellenlänge zu den Vergleichswellenlängen tritt keine plötzliche Veränderung des Signals auf. Bei den bisher verwendeten Zweistrahl-Photometern mit Filtern ergeber sich beim Wechsel von Meß- zum Vergleichsstrahlengang Stoßstellen, die zu Störungen Anlaß geber können.

Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims

Patentansprüche:

1. Photometer mit einer Strahlungsquellenanordnung, einer Einrichtung zur periodisch wechselweisen Erzeugung eines Meßstrahls einer probenspezifischen Wellenlänge und eines Referenzstrahls einer unspezifischen Wellenlänge, einem von Meß- und Referenzstrahl beaufschlagten Strahlungsdetektor und einer an diesen angeschlossenen Auswerteschaltung, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur Erzeugung des MeO- und des Referenzstrahls aus einem senkrecht von der optischen Achse (10) durchsetzten und um diese Achse drehbar angeordneten Interferenzverlauffilter (4) besteht und daß die Strahlungsquellenanordnung Einrichtungen (1, 2, 3) zur Beleuchtung des Interferenzverlauffilters (4) mit zwei Teilstrahlenbündeln (Γ, 2') eng begrenzten Querschnitts an zwei bezüglich der optischen Achse (10) symmetrisch liegenden Stellen aufweist.

2. Photometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlungsquellenanordnung zwei Lichtquellen (1, 2) aufweist, die symmetrisch zur optischen Achse (10) in einstellbarem Abstand von dieser Achse angeordnet sind.

3. Photometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Interferenzverlauffilter (4) senkrecht zur optischen Achse (10) in Richtung seiner Wellenlängenachse verschiebbar ist.