DE2334678A1 - Verfahren zur herstellung von ferromagnetischen chromdioxid-schichten fuer speichersysteme - Google Patents

Verfahren zur herstellung von ferromagnetischen chromdioxid-schichten fuer speichersysteme

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DE2334678A1
DE2334678A1 DE19732334678 DE2334678A DE2334678A1 DE 2334678 A1 DE2334678 A1 DE 2334678A1 DE 19732334678 DE19732334678 DE 19732334678 DE 2334678 A DE2334678 A DE 2334678A DE 2334678 A1 DE2334678 A1 DE 2334678A1
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    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
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Description

  • Verfahren zur Herstellung von ferromagnetischen Chromdioxidschichten für Speichersysteme Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von epitaktisch auf geeigneten Substraten aufgewa@hsenen Chromdioxid-Schichten. Die nach diesem Verfahren hergestellten Chromdioxid-Schichten können als ferromagnstische Speicherschichten bei Datenspeichern eingesetzt werden.
  • Ein bisher bekanntes Verfahren sur Chromdioxid-Schichtherstellung benntzt den Schmelspunkt von Chromtrioxid (CrO3) #####. In CrO3 als Ausgangssubstans werden Substrate eingebracht, die sich beim Schmelzen des CrO3 (bei 196°C) mit einer Schicht aus CrO3 überziehen. Dises Schicht wird durch anschließende Drucktemperung bei ca. 400°C in eine Chromdioxid (CrO2)-Schicht umgewandelt. Die so erhaltenen Schichten sind bis zu 5 µm diok. Dickere Schichten sind durch Wiederholung des Vorganges herstellb@r. Es gelingt jedoch nicht, die Schiohtdicke zu steuern und Dicken unter 1 µm berzustellen. Eine Verringerung der Schichtdicke durch Abpolieren bis unter 1 µm ist weien Rißbildung und Ablösens der Schicht vom Substrat nicht möglich. Die Schichtoberflächen nach diesem Verfahren weisen optisch starke Rauhigkeiten auf und ihre Oberflächenstruktur ist abhängig von der kristallografischen @bene der eingesetsten Substrate.
  • Nachträgliches Polieren dieser Schichten ist sehr zeitaufwendig und verbessert die optische Qualität nur geringfügig.
  • Weiter wurde vorgeschlagen, die hohe Verdampfungsrate von Chromylohlorid (CrO2Cl2) ### aussunutzen, um zu epitaktisch aufgewachsenen einkristallinen CrO2-Schichten zu gelangen. Hierbei wird das Chromylchlorid bei hohem Sauerstoffdruck verdampft, und der Dampf über ein auf oa.300°C erhitztes Substrat geleitet. Auf dem Substrat entst@ht durch die Chromylchloridpyrolyse eine Chromoxidschicht der Zusmmensetzung Cr3O8 bis Cr2O5. Bei weiterer Temperatursteigerung erfolgt zwischen 380 und 400°C die @ildung der CrO2-Schicht. Dieses Verfahren ermöglicht zwar durch Varistion der Chromylchloridmenge und -verdampfungsgeschwindigkeit eine reprodusierbare Herstellung sehr dünner Schichten, es entst@hen jedoch deine störungsfreien Schichtoberflächen.
  • Die beiden Verfahren arbeiten mit erhöhtem Sauerstoffdruck zur CrO2-Schichtentst@hung. Als geeignete Substrate sind TiO2, @nO2, Pt, Al2O3, Fe2O3 und Ti2O3 bekannt geworden.
  • Die verliegende Erfindung dient dem Zweck, die optische Qualität der CrO2-Schicht@berflächen zu verbessern, @hn@ dabei das Verfahren aufwandiger und kostspieliger zu gestaltem.
  • Der @rfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zu entwiek@ln, bei dem CrO2-@pitaxieschichten mit optisch guter Oberfläche hergestellt werden können. Es sollen weiterhin repredusierbar Schichtdi@k@n unterschiedlicher Cröße insbesender@ auch kleiner als 1µm,mit geringen magnetischen Ausscheidungen herstellbar sein.
  • @rfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß bei Normaldruck ein kontinuierlicher Gasstrom, beispielsweise O2, über eine CrO3-Schmelse geleitet wird, wodurch sich ein Gas-CrO3-Dämpfgemisch bildet. Die CrO3-Verda@pfungsrate bleibt konstant, weil es durch den Abtransport des D@mpfes im Gasstrom nicht zu einer CrO3-Sättigung des Dampfraumes über der CrO3-Schmelse kommen kann. Das Gasdampfgemisch wird über gesignete Substrate geleitet, die vor Beginn der Bedampfung bevorzugt auf Temperaturen von 360...400°C erhitst werden. Auf diese Weise wird der CrO3-Dampf bersits bei Wormaldruck während der Kondensation auf dem Einkristallsubstrat zu CrO2 redusiert. Eine anschließende Drucktemperung zur Formierung der CrO@-Schicht bei etwa 400°C ist bei diesem Verfahren nicht notwendig.
  • Die Aufgabe wird auch dadurch gelöst, daß das CrO3-Dampfgemisch bei 300°C und Normaldruck auf den Substraten abgeschieden wird und die CrO3-Schicht anschließend durch Temperung unter Druck zu einer CrO2-Schicht umgewandelt wird.
  • Als Substrate dienen röntgenografisch orientierte TiO2-, MnO2-, und Al2O3-Einkristallscheib@n, die zunächst m@@hanisch und anschließend chemisch poliert werden. Die Dicke der ntst@henden CrO2-Schichten kann sowchl durch die Aufwachzzeit, durch die Strömungsge@chwindigkeit des Transportgases zowie durch die Größe der Oberfläßche der zu verdampfanden Substans gesteuert werden und beträgt bei 5...20 Stunden Beschichtungsdauer zwischen 0,1...5 µm.
  • Die Auswirkung der Erfindung best@ht darin, daß qualitativ hochwertige CrO2-Schichten beispielseeise für magnetooptis@he Speicherung, mit reprodusierbar einzustellenden Schichtdicken und geringen unmagnetischen Ausscheidungen herstellbar sind. Die Koerzitivkräfte lassen sich je mach dem Anwendungsfall im Bereich zwischen 8 und 100 0e einstellen, indem die Schichtdicke entsprechend gewählt wird.
  • Die Erfindung soll nachstshend an einem Ausführungsbeispiel erläutert werden: In einem horizontal gehaltertem Quarzrchr von 500 mm Länge und 15 mm Innendurchmesser befindet sich an einer Seite ein mit CrO3 gefülltes Schiffchen. Dieses wird von außen mittels eines Rohrofens von 100 mm Länge auf 196°C aufgeheizt, wodurch das CrO3 schmilzt. Uber diese Sohmelze strömt Sauerstoff mit einer Menge von 10 l/h. Durch den Sauerstoff wird der CrO3-Dampf in dem Quarzrohr in einen zweiten Oien mit einer Länge von 300 mm transportiert. In der Mitte dieses Ofens lagern bei 3700C die zu besohiohtenden Substrate. Die Beschichtungszeit beträgt zur Herstellung von 2 /um dioken Schichten 6 Stunden. Die spezifische Magnetisierung dieser Schichten beträgt bei Raumtemperatur 100 + emE/g, die Koerfitiskraft 9 Oe.

Claims (4)

Patentansprüche:
1. Verfahren zur Herstellung von epitaktisoh aufgewachsenen ferromagnetischen Chromdioxid-Schichten für Speicher-Systeme, dadurch gekennzeichnet, daß OrO3-Dsmpi im Gasstrom zu geeigneten Stibstraten, die eine Temperatur von 360...400°C haben, geführt wird und dort bei Normaldruck zu CrO2 zersetzt wird.
2. Verfahren zur Herstellung von epitaktisch aufgewachsenen ferromagnetischen Chromdioxid-Schichten für Speichersysteme, daduroh gekennzeichnet, daß CrO3-Dampf im Gasstrom zu geeigneten Substraten geführt und dort bei 280...320°C und Normaldruck abgeschieden und durch Temperung unter Druck zu CrO2 zersetzt wird.
3. Verfahren naoh Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß der CrO3-Dampf durch einen O2-Gasstrom zum Substrat geleitet wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1 bis 3 zur Herstellung von Sohiohtdicken bis 5 /Um , dadurch gekennzeichnet, daß die Schiehtdioke mittels der Strömungsg@schwindigkeit des Transportgases, der Beschichtungszeit und der Oberfläche der zu verdampfenden Substanz gesteuert werden kann.
DE19732334678 1972-12-04 1973-07-07 Verfahren zum Herstellen von epitaktisch aufgewachsenen ferromagnetischen Chromdioxidschichten für Datenspeicher Expired DE2334678C3 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD16734172 1972-12-04
DD167341A DD100638A1 (de) 1972-12-04 1972-12-04

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2334678A1 true DE2334678A1 (de) 1974-06-20
DE2334678B2 DE2334678B2 (de) 1976-07-01
DE2334678C3 DE2334678C3 (de) 1977-02-17

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Also Published As

Publication number Publication date
CS169096B1 (de) 1976-06-29
DE2334678B2 (de) 1976-07-01
DD100638A1 (de) 1973-10-05

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