DE2059630A1 - Circuit arrangement for measuring the quality of coils - Google Patents

Circuit arrangement for measuring the quality of coils

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DE2059630A1
DE2059630A1 DE19702059630 DE2059630A DE2059630A1 DE 2059630 A1 DE2059630 A1 DE 2059630A1 DE 19702059630 DE19702059630 DE 19702059630 DE 2059630 A DE2059630 A DE 2059630A DE 2059630 A1 DE2059630 A1 DE 2059630A1
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Rolf Bondiek
Gerhard Mueller
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    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
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Description

Licentia Patent-Verwaltungs-GmbH ΡΤ-ΒΚ/Τηη/joLicentia Patent-Verwaltungs-GmbH ΡΤ-ΒΚ / Τηη / jo

BK 70/107BK 70/107

Schaltungsanordnung zur Messung der Güte von" SpulenCircuit arrangement for measuring the quality of "coils

Die vorliegende Erfindung befasst sich mit einer Schaltungsanordnung zur Messung der Güte von Spulen der Nachrichtentechnik, die eine ßezugsspannung mit einer aus einem Measzweig, der den Prüfling enthält, abgcleiteten Maxima!spannung ver-"gleicht. The present invention is concerned with a circuit arrangement for measuring the quality of coils in communications engineering, which have a tensile voltage with one from a meas branch, which contains the test object, compares derived maximum voltage.

Gü teuiessungen von Spulen werden überwiegend nach dem Quotienteuverfnhren gemessen. Hierbei koppelt man über einen niederohmigen Quel!widerstand eine Spannung in eine Reihenschaltung von Priifspule und einer verlustarnien Kapazität ein, die mit Hilfe eines opannungsinessers auf Maximum abgestimmt wird. DnS Verhältnis aus Maximal spannung und Qut-llepannuny ist dann die Güte der Spule.Coils are mainly delivered according to the quotient process measured. Here, a voltage is coupled into a series circuit via a low-ohmic source resistor of test coil and a loss of capacity which is tuned to the maximum with the help of an opannungsinesser. DnS ratio of maximum voltage and Qut-llepannuny is then the quality of the coil.

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Zu diesem Mesaverfnhreu 1st t-in nbgestiuimter Generator erforderlich. Dieser wird auf die gewünschte Frequenz eingestellt und die Messanordnung aus Prüfling und verlustarmer Kapazität in Resonanz gebracht. Ein Anzeigeverfahren wird auf die Quellspannung geschaltet und geeicht. Darnach ist der Anzeigeverstärker auf den Messpunkt umzuschalten und das GüteverhKltnis ablesbar.A specially designed generator is required for this mesa process. This is set to the desired frequency and the measurement arrangement consisting of the test object and the low-loss capacitance brought into resonance. A display method is based on the source voltage switched and calibrated. After that is the display amplifier to switch to the measuring point and read off the quality ratio.

Dieses Messverfahren erfordert sehr genaues Abstimmen und Einstellen der Parameter und ist besonders bei sehr grossen Spulengüten zeitraubend und neigt zu Messfehlern. Ausserdem ist dieses Messverfahren nur von geschultem Personal durchzuführen.This measuring method requires very precise tuning and setting the parameter and is time-consuming, especially with very large coil qualities, and is prone to measurement errors. Also is this measuring procedure can only be carried out by trained personnel.

Daraus ergibt sich die Aufgabe, eine Schal tungsanordntmg zti finden, die geeignet ist, dieses Messverfahren so zu präzisieren und zu vereinfachen, dass Messfehler vermieden werden und Gütemessungen von Spulen aucli von ungelerntem Personal durchführbar ist. Erfindungsgemäss wird die Aufgabe dadurch gelöst, dass der Messzweig, bestellend aus zu prüfender Spule und verlustfreiem Kondensator, über eine Rückkopplungsschleifβ zum Schwingen angeregt ist und die angeregte Schwingspannung mit der Bezugsspannung verglichen wird.This results in the task of providing a circuit arrangement zti find that is suitable to specify this measurement method more precisely and to simplify that measurement errors are avoided and Quality measurements of coils can also be carried out by unskilled personnel is. According to the invention, the object is achieved by that the measuring branch, ordered from the coil to be tested and the lossless capacitor, has a feedback loop to the Oscillation is excited and the excited oscillation voltage is compared with the reference voltage.

Uin eine Selbsterregung zu erzielen, besteht die Rückkopplungs-• chleife aus einem Regel verstärker, einem Ilauptverstä'rker, einem Phasendrehglied und einem Endverstärker. Die Schwingspannung wird"zweckmässigerweise zwischen einem hochohmig «n den Messzweig angeschlossenen TrennverstSrker und dem Regelverstär-In order to achieve self-excitation, there is the feedback • loop from a rule amplifier, a main amplifier, a Phase shifter and a power amplifier. The oscillation voltage is expediently between a high resistance The isolating amplifier connected to the measuring branch and the

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ker abgenommen. Der Vergleich zwischen Bezugsspannung und Schwing· spannung erfolgt in einem digitalen Voltmeter, wobei dieses über • inen elektronischen Umschalter und jeweils ein·»-Speicher alternierend an die Bezugsspannung und die Schwingspannung geschaltet wird. Die Bezugsspannung wird über einen Verstärker, einen Gleichrichter in einem Differenzverstärker mit einer Referenzspannung verglichen tind das in dem Differenzverstärker gebildete Kriterium dem Regelverstärker zugeführt.ker removed. The comparison between reference voltage and oscillation voltage takes place in a digital voltmeter, this over • An electronic changeover switch and a · »memory are switched alternately to the reference voltage and the oscillating voltage. The reference voltage is supplied via an amplifier, a The rectifier in a differential amplifier is compared with a reference voltage and the criterion formed in the differential amplifier is supplied to the control amplifier.

Anhand der Zeichnung wird die Erfindung an einem Aueführungsbeispiel näher beschrieben. In der Zeichnung ist ein Blockschaltbild wiedergegeben, das die wesentlichen Punktionen offenbart. Bei der Schaltungsanordnung nach der Erfindung handelt es sich um ein aelbstschwingendes System, das im wesentlichen aus einer Rückkopplungsschleife besteht, die aus dem Prüfling PR - der Spule - und einem Kondensator C, den freqtienzbest inunend en Gliedern, einem Trennverstärker TV, einem Regelverstärker RV, ei« nem Hauptverstärker HV, einem Phasendrehglied Ph und einem Endverstärker EV gebildet wird.The invention is described in more detail using an exemplary embodiment with the aid of the drawing. The drawing shows a block diagram which reveals the essential punctures. The circuit arrangement according to the invention is a self-oscillating system, which essentially consists of a Feedback loop consists of the device under test PR - the Coil - and a capacitor C, the freqtienzbest inunend en links, an isolating amplifier TV, a control amplifier RV, a « nem main amplifier HV, a phase shifter Ph and a power amplifier EV is formed.

An dem Quellwiderstand RQ stehe eine Spannung Uo, deren Frequenz durch die Induktivität des Prüflings Pr und der Kapazität C bestimmt wird. Der Trennverstärker TV, der einen sehr hohen Eingangewiderstand hat, um den Schwingungskreis nicht zu bedampfen, gibt das Signal über den RegelverstHrker RV, den Hauptversth'rker HV an den Phasenschieber Ph weiter. Der Phasenschieber Ph dreht die Phase des Signale« um °0°, um die Selbst"A voltage Uo is present at the source resistance RQ, the frequency of which is determined by the inductance of the test object Pr and the capacitance C. The isolation amplifier TV, which has a very high input resistance, so as not to block the oscillating circuit steam, gives the signal via the control amplifier RV, the Main amplifier HV to the phase shifter Ph. The phase shifter Ph rotates the phase of the signal "by ° 0 ° to the self"

B1 70/107 209 82 4/0 45 2.B 1 70/107 209 82 4/0 45 2.

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erregungsbedingung einzuhalten . Der Endverstärker echliesat die Rückkopplungsschleife, indem er dns Signal an den Quellwiderstand RQ, der sehr niedprohmig geholten ist, abgibt.the excitation condition must be observed. The output amplifier echlesat the feedback loop by sending the signal to the source resistor RQ, which is fetched very low.

Eine weitere Schleife Im t die Aufgabe, die Spannung an dem Quellwiderstand konstant zu halten. Hierzu wird das an dem Quellwideratand stehende Signal über einen Verstärker Vl, einen Gleichrichter GIl (Uv) nn den einen Eingang eines Di fferenzveretnrkers DV abgegeben. Der zweite Eingang des Differenzverstärkers DV ist mit einem Baustein UR verbunden, der eine Referenzspannung Uref erzeugt. Aus den beiden Spannungen TIv und Uref wird in dem Differenzverstärker DV eine Steuerspannung gebildet, die zur Steuerung des RegelVerstärkers und damit ?ur Konstanthaltung der Quellspannung Vo an den Quellwiderstand RQ dient.Another loop Im t has the task of keeping the voltage across the source resistor constant. For this purpose, the signal at the source resistor is output via an amplifier V1, a rectifier GIl (Uv) nn to one input of a differential amplifier DV. The second input of the differential amplifier DV is connected to a module UR which generates a reference voltage Uref. From the two voltages TIv and Uref, a control voltage is formed in the differential amplifier DV, which is used to control the regulating amplifier and thus to keep the source voltage Vo at the source resistor RQ constant.

Die Frequenz des selbstschwingenden Systeme ist an einem Frequenzmesser, der beispielsweise zwischen Phasendrehglied Ph und Endverstärker EV angeschlossen ist, ablesbar. Dies hat den Vorteil, dass man zusätzlich den Gütovcrliuf in Abhängigkeit von der Fxequenz messen kann, indem man die Kapazität C veränderlich ausführt. Bei diesem Prüfverfahren wird die Kapazität der jeweils zu prüfenden Spul«* zugeordnet, um auch hier ein günstiges L-C-VerhHltnis zu haben.The frequency of the self-oscillating system is on a frequency meter, for example between the phase shift element Ph and the power amplifier EV is connected, readable. This has the advantage that the quality assurance depending on the sequence can measure by making the capacitance C variable. In this test procedure, the capacity is assigned to the reel to be tested in order to achieve a favorable L-C ratio here as well to have.

Zur eigentlichen Messung der Güte %vird die konstant gehaltene Quell spannung Uo mit der von der Güte abhängigen Meßspaimuiig UM, die zwischen Trennverslärker TV und Regelverstärker RV ab-The% v is kept constant for the actual measurement of the quality Source voltage Uo with the measurement voltage dependent on the quality UM, which between the isolating amplifier TV and control amplifier RV

BK 70/1O7 209824/0452BK 70 / 1O 7 209824/0452

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geleitet wird, verglichen. Über finen ersten elektronischen Umschalter EUl werden die beiden Spannungen Uo und UM in einem vorgegebenen Rhythmus umgeschaltet und einem weiteren Verstär ker V2 zugeführt, dessen Ausgang wieder mit einem weiteren elek tronischen Umschalter EU2 verbunden ist. Beide elektronische Umschalter BUl und EU2 laufen synchron. Der zweite Umschalter -schal' tet die beiden zu vergleichenden Spannungen jeweils über einen Gleichrichter GL2 bzw. GL3 und einen Speicher SPl bzw. SP2 an ein Digital-Voltmetor DVM, nxi dem die Güte der gemessenen Spule unmittelbar ablesbar erscheint. is headed , compared. The two voltages Uo and UM are switched over in a predetermined rhythm via the first electronic switch EUl and fed to a further amplifier V2 , the output of which is again connected to a further electronic switch EU2 . Both electronic changeover switches BU1 and EU2 run synchronously. The second changeover switch switches the two voltages to be compared via a rectifier GL2 or GL3 and a memory SP1 or SP2 to a digital voltmeter DVM, from which the quality of the measured coil appears to be directly readable.

BK 70/107 . - 6 -BK 70/107. - 6 -

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Claims (6)

PatentansprücheClaims Schaltungsanordnung zur Messung der Güte von Spulen der Nachrichtentechnik, die eine Bezugsspannung mit einer aus einem Messzweig, der den Prüfling enthält, abgeleiteten Maximalspannung vergleicht, dadurch gekennzeichnet, dass der Messzweig, bestehend aus zu prüfender Spule (Pr) und verlustfreiem Kondensator (C), über eine Rückkopplungsschleife zum Schwingen angeregt ist und die angeregte, von der Güte der Spule abhängige Schwingspannung (ITM) mit der -Bezugsspannung (Uo) verglichen wird .Circuit arrangement for measuring the quality of coils in communications engineering, the one reference voltage with a maximum voltage derived from a measuring branch that contains the test object compares, characterized in that the measuring branch, consisting of the coil to be tested (Pr) and a lossless capacitor (C), is excited to oscillate via a feedback loop, and the excited one depends on the quality of the coil Oscillation voltage (ITM) compared with the reference voltage (Uo) will . 2) Schaltungsanordnung zur Messung der Güte von Spulen nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Rückkopplungsschleife aus einem Regelverstärker (RV), einem Hauptveratä'rker (IIV) , einem Phnsendrehgl ied (Ph) und einem Endverstärker (EV) besteht.2) circuit arrangement for measuring the quality of coils according to claim 3, characterized in that the feedback loop consists of a control amplifier (RV), a Hauptveratä'rker (IIV), a Phnsendrehgl ied (Ph) and a power amplifier (EV) exists. 3) Schaltungsanordnung zur Messung der Güte νΌη Spulen nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Schwingspannung (UM) zwischen einem hochohmig an den Messzweig angeschlossenen Trennverstärker (TV) tmd dem Regel vorstärker (RV) abgenommen wird .3) circuit arrangement for measuring the quality νΌη coils according to claim 1, characterized in that the oscillation voltage (UM) is picked up between an isolating amplifier (TV) connected to the measuring branch with high resistance and the rule preamplifier (RV). 4) Schaltungsanordnung zur Messung der Güte von Spulen nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Vergleich zwischen Bezugsspannung (Uo) und Sc hv:i ng spannung (UM) in einem digitn-4) circuit arrangement for measuring the quality of coils according to claim 1, characterized in that the comparison between reference voltage (Uo) and Sc hv: i ng voltage (UM) in a digital BK 70/107 209824/0452 .7-BK 70/107 209824/0452 .7- BADBATH len Voltmeter (DVM) erfolgt.len voltmeter (DVM). 5) Schaltungsanordnung zur Messung der Güte von Spulen nach Anspruch k, dadurch gekennzeichnet, dass das digital« Voltmeter (DVM) über einen elektronischen Umschalter (EVl) und jeweils einen Speicher (SPl, SP2) alternierend an die Bezugsspannung (Uo) und die Schwingspannung (UN) geschaltet wird.5) circuit arrangement for measuring the quality of coils according to claim k, characterized in that the digital «voltmeter (DVM) via an electronic switch (EVl) and a memory (SPl, SP2) alternately to the reference voltage (Uo) and the oscillation voltage (UN) is switched. 6) Schaltungsanordnung zur Messung der Güte von Spulen nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Bezugsspannung (Uo) über einen Verstärker (Vl), einen Gleichrichter (GLl) in einem Differenzverstärker (DV) mit einer Referenzspannung (Uref) verglichen wird und dass das in dem Differenzverstärker (DV) gebildete Kriterium dem Regelverstärker (RV) zugeführt wird.6) Circuit arrangement for measuring the quality of coils according to Claim 1, characterized in that the reference voltage (Uo) via an amplifier (Vl), a rectifier (GLl) is compared in a differential amplifier (DV) with a reference voltage (Uref) and that in the differential amplifier (DV) formed criterion is fed to the control amplifier (RV). BK 70/107BK 70/107 209824/0452209824/0452 BAD ORIGINALBATH ORIGINAL LeerseiteBlank page
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US3855554A (en) * 1972-10-31 1974-12-17 Licentia Gmbh Oscillator circuit for testing inductors

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