DE19926494C2 - Verfahren und Vorrichtung zur Abbildung von mikroskopisch kleinen Teilchen - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Abbildung von mikroskopisch kleinen TeilchenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Teilchenabbildung,
insbesondere ein Verfahren zur Erfassung dreidimensionaler
Teilchenanordnungen oder -bewegungen, wie z. B. ein Verfahren
zur Messung der Positionen und Geschwindigkeiten von mikros
kopisch kleinen Teilchen in einem Plasma. Die Erfindung be
trifft auch eine Vorrichtung zur Implementierung des Verfah
rens und Anwendungen der dreidimensionalen Teilchenerfassung.
Es ist bekannt, daß sich in einem Hochfrequenzplasma, wie es
z. B. bei der CVD-Technik eingesetzt wird, kleine Teilchen im
Träger- oder Reaktionsgas bilden können, die sich fallabhängig
störend oder fördernd auf die jeweilige Plasmaanwendung aus
wirken. Die Teilchenentstehung in einem Plasma im Reaktionsgas
Silan bei der aSi:H-Abscheidung wird beispielsweise von D. M.
Tanenbaum et al. in "Appl. Phys. Lett.", Band 68, 1996, S.
1705 ff., beschrieben. Es ist auch bekannt, daß sich Teilchen
in einem Plasma unter bestimmten Bedingungen regelmäßig in ei
nem sogenannten plasmakristallinen Zustand anordnen (s. z. B.
DE-OS 197 13 637). Ein weiteres bekanntes Beispiel für Stau
bentstehtung sind Fusionsexperimente, bei denen im Plasma
Staubteilchen gebildet werden.
Es besteht ein Interesse an der Beobachtung der Teilchenent
stehung und an der Verfolgung der Teilchenpositionen im Plas
ma. Falls die Teilchen, z. B. bei einem Schichtabscheidungspro
zeß, störend wirken, könnten damit die Bedingungen der Teil
chenentstehung überwacht und Zustände ermittelt werden, in de
nen die Teilchen aus dem Reaktionsgas entfernt werden müssen.
Besteht hingegen bei anderen Anwendungen gerade das Ziel
einer Teilchendeposition im Rahmen der Schichtabscheidung, so
sollen die Bewegungseigenschaften der zu deponierenden Teil
chen erfaßt werden. Die Teilchenbeobachtung ist jedoch proble
matisch, da die zu beobachtenden Teilchen allgemein in einem
dreidimensionalen Probenraum verteilt sind und sich aufgrund
ihrer geringen Größe (charakteristische Dimensionen im µm-
Bereich oder kleiner) nicht ohne weiteres direkt abbilden
lassen.
Bei einem bekannten Verfahren zur Teilchenbeobachtung
(s. DE-OS 197 13 637 oder J. B. Pieper et al. in "Phys. Rev.
E", 1996, Bd. 54, S. 5636 ff.) wird eine Teilchenwolke mit ei
nem strichförmig aufgefächerten Laserstrahl beleuchtet und das
dabei entstehende Streulichtbild mit einer Kamera aufgenommen.
Dieses Verfahren ist wegen seiner Beschränkung auf zweidimen
sionale Abbildungen der Teilchenwolke bzw. von Ausschnitten
aus der Teilchenwolke nachteilig. Um eine Teilchenwolke voll
ständig zu erfassen, muß entsprechend der Publikation von J.
B. Pieper et al. das strichförmige Beleuchtungsfeld schritt
weise durch den gesamten Raumbereich, in dem sich die zu beob
achtenden Teilchen bewegen, gefahren werden (Abscannen). Diese
Scan-Bildaufnahme ist jedoch zeitaufwendig und auf stationäre
Proben, wie z. B. Teilchen im plasmakristallinen Zustand, be
schränkt. Dynamische Vorgänge bei der Ausbildung oder Verände
rung der Teilchenanordnung im Plasma lassen sich nicht erfas
sen.
Es ist ferner allgemein bekannt, zur Erfassung von Teilchen
wolken diese vollständig räumlich homogen zu beleuchten und
und von einer Richtung aus zweidimensional abzubilden. Diese
zweidimensionale Projektion wird dann unter bestimmten Annah
men über das System zur Ermittlung der dreidimensionalen Teil
chenpositionen ausgewertet. Dieses Verfahren ist auf spezielle
Aufgaben beschränkt, bei denen die Systemannahmen genügend si
cher getroffen werden können, und nicht allgemein anwendbar.
Die Beschränkungen bei der Teilchenbeobachtung in Hochfre
quenzplasmen sind analog auch bei anderen technischen Frage
stellungen gegeben. So treten beispielsweise bei Sprüh- oder
Spritztechniken Aerosolwolken auf, deren dynamische Entwick
lung verfolgt werden soll. Wiederum liefern die herkömmlichen
zweidimensionalen Abbildungsverfahren nur ausschnittsweise
Teilinformationen über die Gesamtanordnung der Teilchen.
Aus EP 549 905 ist ein Verfahren zur automatischen Überwachung
von Objekten in einer Messzelle bekannt. Von den Objekten wer
den eine Vielzahl von Abbildungen erzeugt, die jeweils be
stimmten physikalischen Attributen der Objekte entsprechen und
einem Bediener angezeigt werden. DE-OS 42 00 309 betrifft eine
Messtechnik zur Ermittlung der Strömung eines Strömungsmediums
in einem bestimmten Messraum, bei dem zwei aus verschiedenen
Richtungen aus den Messraum weisenden Sektoren verwendet wer
den, deren Messkegel sich im Messraum überschneiden. Aus den
Bildsignalen der Detektoren werden Lageänderungen von Objekten
und damit deren Strömungsgeschwindigkeit im Messraum ermit
telt.
Die Aufgabe der Erfindung ist es, ein verbessertes Verfahren
zur Teilchenabbildung anzugeben, mit dem die Beschränkungen
der herkömmlichen Verfahren überwunden werden und das insbe
sondere die simultane Aufnahme aller drei Raumkoordinaten für
beliebige statische oder dynamische Teilchenanordnungen ermög
licht. Die Aufgabe der Erfindung ist es auch, eine Vorrichtung
zur Durchführung eines derart verbesserten Verfahrens und neue
Verwendungsmöglichkeiten des Verfahrens anzugeben.
Diese Aufgaben werden durch ein Verfahren bzw. eine Vorrich
tung mit den Merkmalen gemäß den Patentansprüchen 1 bzw. 11
gelöst. Vorteilhafte Ausführungsformen und Anwendungen der
Erfindung ergeben sich aus den abhängigen Ansprüchen.
Erfindungsgemäß wird abweichend von der herkömmlichen strich
förmigen Teilchenbeleuchtung zu einer Beleuchtung mit einem
senkrecht zu seiner Ausbreitungsrichtung zweidimensional aus
gedehnten Strahlungsfeld übergegangen, das sich aus Strah
lungsanteilen mit verschiedenen Wellenlängen zusammensetzt. Im
Strahlungsfeld aus mindestens zwei spektral verschiedenen
Teilstrahlen ist entsprechend der zweidimensionalen Ausdehnung
eine vorbestimmte räumliche Wellenlängen- und/oder Intensi
tätsverteilung gegeben, so daß ein Teilchen in Abhängigkeit
von seiner Position im Strahlungsfeld mit zwei oder mehr Wel
lenlängen bestrahlt wird, deren zugehörigen Strahlungsanteile
ein positionsabhängiges
Intensitätsverhältnis besitzen. Diese simulta
ne Bestrahlung aller zu beobachtenden Teilchen mit einer räum
lichen Wellenlängen- bzw. Intensitätsverteilung liefert eine
Wellenlängen- bzw. Intensitätscodierung in einem Streulicht
bild, das von der Teilchenanordnung unter einer Richtung auf
genommen wird, die von der Ausbreitungsrichtung des Strah
lungsfeldes zur Teilchenbeleuchtung abweicht. Die wellenlän
genselektive Aufnahme von Streulichtbildern der Teilchenanord
nung liefert für jedes Teilchen zwei Positionskoordinaten aus
dem zweidimensionalen Streulichtbild und eine dritte Posi
tionskoordinate aus der Wellenlängen- bzw. Intensitätscodie
rung, so daß mit einer einzelnen Bildaufnahme zeitgleich die
gesamte Raumkoordinateninformation sämtlicher zur Teilchenan
ordnung gehörenden Teilchen ermittelt werden kann.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung umfaßt
das Strahlungsfeld zwei aufgefächerte Teilstrahlen verschiede
ner Wellenlängen, wobei sich in einer senkrecht zur Ausbrei
tungsrichtung des Strahlungsfelds orientierten Bezugsfläche
die Intensität des ersten Teilstrahls von einer zur anderen
Seite der Bezugsfläche homogen vergrößert, während sich die
Intensität des zweiten Teilstrahls homogen verringert. Es wer
den zwei Streulichtbilder entsprechend den beiden Wellenlängen
der Teilstrahlen aufgenommen und für jedes Teilchen aus den
Verhältnissen der beiden zugehörigen Streulichtintensitäten
und den Intensitätsverläufen der Teilstrahlen im Strahlungs
feld die Raumkoordinaten des Teilchens ermittelt. Es können
entsprechend auch sich überlappende Intensitätsverläufe mit
drei oder mehr Wellenlängen vorgesehen sein.
Die Erfindung ist zur Beobachtung beliebiger Teilchenanordnun
gen geeignet. Es kann sich bei der Teilchenanordnung um ein
einzelnes Teilchen, das sich im beobachteten Raumbereich be
findet, oder um eine Vielzahl von Teilchen handeln. Die Teil
chen sind z. B. in einem Trägermedium, das gasförmig oder
flüssig sein kann, frei beweglich. Es können beispielsweise
Teilchen in einem Hochfrequenzplasma, Aerosole oder auch kol
loidale Teilchen in einer Flüssigkeit mit dem erfindungsgemä
ßen Verfahren abgebildet werden. Die Teilchengröße kann anwen
dungsabhängig variieren, wobei die Wellenlängen des Strah
lungsfeldes zur Bereitstellung auswertbarer Streulichtbilder
vorzugsweise auf der Basis der Mie-Streuung ausgewählt werden.
Die Erfindung ist jedoch auch mit Streulichtbildern auf der
Basis der Rayleigh-Streuung anwendbar. Die Erfindung wird zum
Beispiel bei Teilchen mit charakteristischen Größen im Bereich
von 1 µm bis 15 µm unter Verwendung von sichtbarem Licht für
das Beleuchtungsstrahlungsfeld realisiert. Es sind aber auch
kleinere Teilchen, zum Beispiel mit charakteristischen Größen
im nm-Bereich, erfaßbar, wobei gegebenenfalls Strahlung kürze
rer Wellenlängen, z. B. Röntgenstrahlung, zur Teilchenbeleuch
tung eingesetzt wird.
Die Erfindung besitzt die folgenden Vorteile. Erstmalig wird
eine Echtzeitbeobachtung der räumlichen Anordnung und Bewegung
von Teilchenanordnungen mit einer einzigen Beobachtungsrich
tung ermöglicht, wobei alle 3 Raumkoordinaten aller Teilchen
zeitgleich aufgenommen werden. Das Abbildungssystem ist ein
fach aus kommerziell verfügbaren Komponenten aufgebaut und oh
ne weiteres an verschiedene Meß- oder Abbildungsaufgaben an
paßbar. Die Bildaufnahme und -auswertung erfolgt mit hoher Ge
schwindigkeit und Reproduzierbarkeit.
Weitere Vorteile und Einzelheiten der Erfindung werden im fol
genden unter Bezug auf die beigefügten Zeichnungen beschrie
ben. Es zeigen:
Fig. 1 eine Übersichtsdarstellung zur Illustration
des erfindungsgemäßen Meßprinzips,
Fig. 2 eine schematische Darstellung einer erfindungsgemäßen
Vorrichtung zur Erfassung von Teilchen
anordnungen,
Fig. 3 eine Draufsicht auf den Aufbau einer Vorrichtung
gemäß Fig. 2,
Fig. 4 eine Seitenansicht des Aufbaus gemäß Fig. 3,
Fig. 5 eine Illustration von zwei Streulichtbildern,
die verschiedenen Wellenlängenanteilen des
Beleuchtungsstrahlungsfeldes entsprechen,
Fig. 6 eine Kurvendarstellung zur Illustration der
Auswertung von Streulichtbildern, und
Fig. 7 Kurvendarstellungen der Streueigenschaften von
Teilchen unter verschiedenen experimentellen
Bedingungen.
Unter Bezug auf Fig. 1 werden zuerst die Grundprinzipien der
Erfindung am Beispiel der Streulichtbeobachtung an zwei Teil
chen (Teilchen 1, Teilchen 2) beschrieben. Die Teilchen 1 und
2 befinden sich in einem dreidimensionalen Probenraum mit den
Raumkoordinaten (x0, y1, z1) bzw. (x0, y2, z2). Im Teilbild
rechts oben von Fig. 1 ist die Teilchenanordnung illustriert.
Die y- und z-Richtungen liegen in der Zeichenebene. Die x-
Richtung erstreckt sich senkrecht nach oben aus der Zeichen
ebene. Es wird zur Vereinfachung angenommen, daß die x-
Koordinaten der Teilchen 1 und 2 identisch sind (x0). Die Teil
chenanordnung wird mit einer Beleuchtungsrichtung angestrahlt
und mit einer Beobachtungsrichtung abgebildet. Allgemein ver
laufen die Beleuchtungs- und Beobachtungsrichtungen nicht
parallel zueinander. Der Beobachtungswinkel zwischen beiden
Bezugsrichtungen wird anwendungsabhängig zur Erzielung optima
ler Streulichtbilder (s. unten) gewählt. Bei der schematischen
Illustration gemäß Fig. 1 stehen die Beleuchtungsrichtung und
die Beobachtungsrichtung senkrecht auf den x-z- bzw. x-y-
Ebenen, so daß der Beobachtungswinkel 90° beträgt.
Würden nun die Teilchen 1 und 2 entsprechend der herkömmlichen
Technik gleichförmig (gleichfarbig) beleuchtet und ein Bild
von der Teilchenanordnung entsprechend der Beobachtungsrich
tung aufgenommen werden, so würde dieses Bild keine Infor
mationen über die z-Positionen der Teilchen liefern, sondern
lediglich eine Projektion der Teilchenanordnung auf die x-y-
Ebene darstellen.
Erfindungsgemäß ist nun vorgesehen, daß mit der Beleuchtung
der Teilchen eine Wellenlängen- oder Farbcodierung erfolgt.
Hierzu erfolgt die Teilchenbeleuchtung mit einem sich quer zur
Beleuchtungsrichtung flächig erstreckenden Strahlungsfeld mit
einer vorbestimmten räumlich inhomogenen Wellenlängen-
und/oder Intensitätsverteilung. Das zweidimensionale Strah
lungsfeld erstreckt sich somit in einer Bezugsfläche oder -
ebene, die senkrecht zur Zeichenebene bzw. parallel zur x-z-
Ebene verläuft und im linken Teilbild von Fig. 1 aus
Übersichtlichkeitsgründen in die Zeichenebene verschwenkt
dargestellt ist. Erfindungsgemäß besitzt das
Beleuchtungsstrahlungsfeld eine räumlich inhomogene
Wellenlängen- und/oder Intensitätsverteilung. Dies bedeutet,
daß das Strahlungsfeld aus Teilstrahlen verschiedener
Wellenlängen derart besteht, daß jeder Punkt in der
Bezugsfläche des Strahlungsfelds von mehreren Teilstrahlen
verschiedener Wellenlängen mit ortsspezifischen Intensitäts
verhältnissen (oder alternativ von einem Teilstrahl mit einer
ortsspezifischen Wellenlänge) durchsetzt wird. Da zur raumauf
gelösten Teilchenabbildung lediglich eine Codierung in z-
Richtung (oder allgemein: in Beobachtungsrichtung) erfolgen
muß, setzt sich das Strahlungsfeld vorzugsweise lediglich aus
zwei Teilstrahlungen verschiedener Wellenlängen zusammen, die
in z-Richtung einen vorbestimmten Intensitätsverlauf I(z), in
x-Richtung jedoch eine (jeweils z-abhängige) konstante Inten
sität oder einen vorbestimmten, z. B. durch Vermessung be
kannten Intensitätsverlauf besitzen. Die Intensitätsverläufe
der Teilstrahlen in z-Richtung (bzw. allgemein: in Beobach
tungsrichtung) werden derart gewählt, daß der erste Teilstrahl
(A) mit zunehmenden z-Werten eine abnehmende Intensität und
gegenläufig der zweite Teilstrahl (B) eine zunehmende Intensi
tät besitzt. Diese Situation ist in Fig. 1 (links oben) darge
stellt.
Wird nun die Teilchenanordnung mit einem derart zusammenge
setzten Strahlungsfeld bestrahlt, so geht vom ersten Teilchen
1 Streulicht mit einem hohen Anteil der ersten Wellenlänge λA
und einem kleinen Anteil der zweiten Wellenlänge λB bzw. vom
zweiten Teilchen 2 Streulicht mit einem großen Anteil der
zweiten Wellenlänge λB und einem kleinen Anteil der ersten Wel
lenlänge λA aus.
Zur Trennung der verschiedenen Streulichteigenschaften der
Teilchen ist nun erfindungsgemäß vorgesehen, in Beobachtungs
richtung zwei Streulichtbilder aufzunehmen, die jeweils dem
Streulicht mit einer der beiden Wellenlängen entsprechen.
Hierzu wird eine Filter-Kamera-Kombination verwendet, die im
einzelnen unten erläutert wird. Das Ergebnis der Bildaufnahme
ist in Fig. 1 im Teilbild rechts unten illustriert. Das Streu
lichtbild entsprechend der ersten Wellenlänge λA ergibt eine
hohe Intensität I1 (λA) für das erste Teilchen 1 und eine
geringe Intensität I2 (λA) für das zweite Teilchen 2. Für das
der zweiten Wellenlänge λB entsprechende Streulichtbild ergeben
sich die umgekehrten Verhältnisse.
Aus den Intensitätsverhältnissen der Streulichtbilder, die je
weils einem Teilchen entsprechen und dem in bestimmter Weise
eingestellten Intensitätsverlauf I(z) des Strahlungsfeldes
können unmittelbar, gegebenenfalls unter Berücksichtigung
einer Kalibrierung, die z-Koordinaten der Teilchen berechnet
werden. Zusammen mit den x- und y-Koordinaten aus der Bildauf
nahme ergeben sich somit für jedes Teilchen durch die simulta
ne Aufnahme und Auswertung der Streulichtbilder alle drei
Raumkoordinaten.
Die Kalibrierung oder Korrektur dieser z-Koordinatenermittlung
ist insbesondere dann erforderlich, wenn die Teilchenanordnung
Teilchen mit einer Größenverteilung umfaßt. Da verschieden
große Teilchen verschiedene Streulicht-Abstrahlcharakte
ristiken besitzen, muß zur Auswertung der Intensitätsverhält
nisse der Streulichtbilder eine Größenkorrektur erfolgen, die
auch aus den Streulichtbildern abgeleitet wird. Dies erfolgt
durch Ermittlung der Summe der Streulichtintensitäten eines
Teilchens in den wellenlängenspezifischen Streulichtbildern
(z. B. I1(λA) + I1(λB)). Diese Summe ist ein Maß für die Teil
chengröße, das als Normierungsgröße zur Intensitätskorrektur
bei der z-Koordinatenermittlung gemäß I1 (λA)/[I1(λA) + I1
(λB)] bzw. I1(λB)/[I1(λA) + I1(λB)] berücksichtigt werden
kann. Die Kalibrierung der z-Koordinatenermittlung ist aber
auch dann in entsprechender Weise erforderlich, wenn die Teil
chenanordnung Teilchen mit verschiedenen Materialien umfaßt
oder Abschattungseffekte (beleuchtete Teilchen werden durch
andere beleuchtete oder unbeleuchtete Teilchen abgedeckt) auf
treten.
Das unter Bezug auf Fig. 1 erläuterte Meßprinzip kann im Rah
men der Erfindung modifiziert werden. Statt des dargestellten,
Intensitätsprofils I(z) des Strahlungsfeldes in Form einer
Gauß-Funktion können auch andere Intensitätsverläufe gewählt
werden(z. B. gerade Rampenprofile oder beliebige monotone In
tensitätsverläufe, s. u.). Des weiteren können mehr als zwei
Teilstrahlen zum Beleuchtungsstrahlungsfeld überlagert werden,
die jeweils verschiedene Wellenlängen besitzen, wobei dann ei
ne entsprechend größere Zahl von Streulichtbildern aufgenommen
werden muß. Schließlich ist es auch möglich, als Beleuchtungs
strahlungsfeld lediglich einen flächig aufgeweiteten Teil
strahl mit einem spektralen Verlauf in z-Richtung vorzusehen.
Das in Fig. 1 am Beispiel von zwei Teilchen illustrierte Prin
zip läßt sich ohne weiteres auf beliebige Teilchenzahlen er
weitern, soweit sich die Teilchen nicht gegenseitig verdecken.
Eine bevorzugte Anwendung der Erfindung bei der Erfassung von
Teilchen in der Probenkammer einer Plasma-Abscheidungs- oder
Bearbeitungsvorrichtung wird im folgenden unter Bezug auf die
Fig. 2 bis 7 erläutert.
Die schematische Übersichtsdarstellung gemäß Fig. 2 zeigt eine
Draufsicht auf ein optisches System zur Beobachtung der Teil
chenanordnung 100 in einem (nicht dargestellten) Plasmareak
tor. Das eine erste Ausführungsform der Erfindung darstellende
optische System umfaßt eine Beleuchtungseinrichtung 200 und
eine Abbildungseinrichtung 300. Die Beleuchtungseinrichtung
200 ist zur Erzeugung des flächigen, wellenlängencodierten
Strahlungsfeldes zur Partikelbeleuchtung ausgebildet. Die Ab
bildungseinrichtung 300 ist dazu vorgesehen, Streulichtbilder
der Teilchenanordnung entsprechend den im Strahlungsfeld ent
haltenen Wellenlängenanteilen aufzunehmen. Die Beleuchtungs
einrichtung 200 umfaßt zwei Strahlungsquellen 210, 220 zur Er
zeugung von Teilstrahlen, die mit einer Überlagerungsoptik 230
überlagert und einer Blende 240 zum gewünschten Strahlungsfeld
geformt werden. Die Abbildungseinrichtung 300 umfaßt eine
Strahlteileroptik 310 zur Verteilung des von der Teilchenan
ordnung 100 ausgehenden Streulichts auf zwei Filter-Kamera-
Kombinationen 320, 330.
Die Strahlungsquellen 210, 220 sind im wesentlichen identisch
aufgebaut und umfassen jeweils eine Lichtquelle 211, 221, eine
Aufweitungsoptik 212, 222, einen optischen Ortsfilter 213, 223
zur Bildung des gewünschten Intensitätsverlaufs des jeweiligen
Teilstrahls und eine Kollimatoroptik 214, 224. Die Lichtquel
len 211, 221 sind Dauerstrichlaser, z. B. Gaslaser oder Dioden
laser. Die Lichtquellen 211, 221 emittieren bei verschiedenen
Wellenlängen, so daß sich z. B. eine grüne und eine blaue
Emission ergeben. Die Wellenlängendifferenz liegt in der
Größenordnung von rd. 100 nm oder auch darunter bis hin zu rd.
10 nm. Die Wellenlängendifferenz wird in Abhängigkeit von der
Streucharakteristik der zu beobachtenden Teilchen gewählt und
vorzugsweise möglichst klein eingestellt, um die wellenlängen
bestimmten Unterschiede in der Abhängigkeit der Streulichtmes
sung vom Beobachtungswinkel klein zu halten. Die Ausgangslei
stung der Lichtquellen 211, 221 wird ebenfalls anwendungsab
hängig gewählt. Zur Abbildung von Partikeln in einem Hochfre
quenzplasma werden beispielsweise Diodenlaser mit einer Aus
gangsleistung von rd. 20 bis 30 mW mit einer Wellenlängendif
ferenz von rd. 30 nm betrieben. Mit den optischen Ortsfiltern
213, 214 wird der Intensitätsverlauf des jeweiligen Teil
strahls eingestellt. Die Bezugszeichen 215, 225 weisen auf die
entsprechenden Teilstrahl-Intensitätsprofile, die hier gauß
förmig eingestellt sind.
Anstelle der optischen Ortsfilter können auch Einmoden-
Glasfasern oder strahlformende Elemente, wie sie von F. M.
Dickey et al. in "Opt. Eng.", Bd. 35, 1996, S. 3285 ff., be
schrieben werden, zur Einstellung des Intensitätsprofils vor
gesehen sein. Mit den strahlformenden Elementen können bei
spielweise rampenförmige Intensitätsprofile mit vorbestimmter
Flankensteilheit eingestellt werden. Schließlich können die
Intensitätsprofile alternativ auch durch Grau-Filterelemente
mit keilförmigen Transmissionsverläufen erzeugt werden.
Die Teilstrahlen von den Strahlungsquellen 210, 220 werden an
der Überlagerungsoptik 230 zur Erzeugung des gewünschten
Strahlungsfeldes überlagert. Die Überlagerungsoptik 230 ist
beispielsweise wie dargestellt ein Strahlteilerwürfel oder,
insbesondere zur Minimierung der Intensitätsverluste im opti
schen System, ein dichroitischer Spiegel, der zum Durchtritt
des Teilstrahls von der Strahlungsquelle 210 bzw. zur Refle
xion des Teilstrahls von der Strahlungsquelle 220 eingerichtet
ist. Die Überlagerung der Teilstrahlen erfolgt derart, daß die
Maxima der Intensitätsprofile um einen vorbestimmten Abstand
in z-Richtung voneinander versetzt sind. Damit werden eine ab
fallende und eine ansteigende Flanke der Intensitätsprofile
215, 225 zur Bildung des gewünschten Beleuchtungsstrahlungs
feldes überlagert. Mit der Blende 240 werden die nicht an der
gewünschten Überlagerung teilnehmenden Flanken der Teilstrah
len ausgeblendet, so daß sich das mit dem Bezugszeichen 241
bezeichnete Intensitätsprofil entsprechend der Darstellung in
Fig. 1 (links oben) ergibt. Mit diesem Strahlungsfeld, das ei
ne in z-Richtung räumlich inhomogene Wellenlängenzusammenset
zung und in x-Richtung eine homogene oder vorbestimmte bekann
te Wellenlängenzusammensetzung besitzt, wird die Teilchenan
ordnung 100 bestrahlt. Hierzu ist eine Abbildungseinrichtung
(z. B. optische Linse) zwischen der Blende 240 und der Teil
chenanordnung 100 vorgesehen. Charakteristische Querschnitts
dimensionen der Blende 240 bzw. des Beleuchtungsstrahlungsfel
des liegen bei der dargestellten Anwendung im mm- bis cm-
Bereich.
Die Teilchenanordnung 100 wird unter einem bestimmten Beobach
tungswinkel mit der Abbildungseinrichtung 300 abgebildet. Die
Strahlteileroptik 310 ist ein Strahlteilerwürfel oder, wieder
um insbesondere zur optimalen Ausnutzung der Streulichtinten
sität, ein dichroitischer Spiegel. Jede Filter-Kamera-
Kombination 320, 330 umfaßt jeweils einen Streulichtfilter
321, 331 und eine Kamera 322, 332 zur Bildaufnahme. Die Streulichtfilter
321, 331 sind vorzugsweise Interferenzfilter mit
Durchlässigkeitsmaxima bei den Emissionswellenlängen der
Lichtquellen 211 bzw. 221. Es können alternativ jedoch als
Streulichtfilter auch andere wellenlängenselektive Elemente
verwendet werden. Die Kameras 322, 332 sind vorzugsweise CCD-
Kameras und werden derart justiert, daß beide Kameras densel
ben Ausschnitt der Teilchenanordnung 100 aufnehmen. In
speziellen Anwendungsfällen kann es ausreichend sein, statt
der Filter-Kamera-Kombinationen 320, 330 jeweils farbempfind
liche CCD-Kameras einzusetzen, die zur Aufnahme getrennter
Farbauszüge des Streulichtbildes der Teilchenanordnung 100
eingerichtet sind.
Die Abbildungseinrichtung ist mit einem (nicht dargestellten)
Abbildungsobjektiv ausgestattet, mit dem das von der Teilchen
anordnung 100 ausgehende Streulicht auf die Strahlteileroptik
310 gerichtet wird. Dieses Objektiv ist vorzugsweise ein tele
zentrisches Objektiv mit einem möglichst kleinen Öffnungswin
kel (vorzugsweise unterhalb +/-0.05°).
Eine weitere Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrich
tung zur Erfassung dreidimensionaler Teilchenanordnungen in
Plasmareaktoren ist in den Fig. 3 und 4 in Draufsicht bzw.
Seitenansicht dargestellt. Die Beleuchtungseinrichtung 200 und
die Abbildungseinrichtung 300, vorzugsweise mit einer Gestal
tung gemäß den oben erläuterten Prinzipien, sind über Ausleger
250, 350 an einem Doppeldrehlager 510 eines Trägersystems 500
befestigt. Das Doppeldrehlager 510 ist an einem Stativ 520
oder einer Haltebrücke über der Plasmakammer 400 angeordnet
und erlaubt ein horizontales Verschwenken der Beleuchtungs-
und Abbildungseinrichtungen 200, 300 in Bezug auf die Proben
kammer 400. Damit können beliebige Beobachtungswinkel zur
Abbildung der Teilchenanordnung 100 in der Probenkammer 400
eingestellt werden.
Die Probenkammer 400 ist ein an sich bekannter Plasmareaktor,
der transparente Seitenwände zur Bildaufnahme aufweist. Ein
zelheiten, die den Betrieb und die Ansteuerung des Plasma
reaktors und der Beleuchtungs- und Abbildungseinrichtungen
200, 300 betreffen, sind in den Fig. 3 und 4 nicht darge
stellt.
Im folgenden wird unter Bezug auf die in den Fig. 5 und 6
schematisch gezeigten experimentellen Ergebnisse die Auswer
tung der Streulichtbilder zur Ermittlung der Teilchen-
Raumkoordinaten erläutert. Zur Demonstration der Funktionsfä
higkeit der Streulichtaufnahme an mit einer räumlich inhomoge
nen Wellenlängen- bzw. Intensitätsverteilung bestrahlten Teil
chen erfolgt hier abweichend vom Schema gemäß Fig. 1 die Be
obachtung entlang der x-Achse auf die z-y-Ebene. Für große z-
Werte besitzt das Beleuchtungs-Strahlungsfeld einen starken
Grün- und einen geringen Blau-Anteil. Für geringe z-Werte sind
die Verhältnisse umgekehrt.
Fig. 5 zeigt zwei Streulichtbilder einer gleichmäßigen Teil
chenanordnung, die den grünen (oben) bzw. blauen (unten)
Streulichtanteilen entspricht. Als Maß für die Streulichtin
tensität sind die Teilchenbilder jeweils als schwarze Punkte
mit einem größeren Durchmesser für höhere Intensitäten und ei
nem geringeren Durchmesser für kleine Intensitäten darge
stellt. Bei der abgebildeten Teilchenanordnung handelt es sich
um eine Gruppe von Teilchen identischer Größe. Die Bilder zei
gen, daß die Streuintensität im grünen Spektralbereich für die
Teilchen bei größeren z-Werten größer als für die Teilchen bei
kleineren z-Werten ist. Für die Streuintensität im blauen
Spektralbereich ergeben sich die umgekehrten Verhältnisse.
Dies zeigt bereits qualitativ die vorteilhafte Funktion der
erfindungsgemäßen Wellenlängencodierung bei der Teilchenbe
leuchtung.
In Fig. 6 ist die Abhängigkeit der in Bezug auf die Ge
samtstreulichtintensität Iges (= Igrün + Iblau) normierten Inten
sitäten des blauen Streulichtbildes von der z-Position der
Teilchen dargestellt. Es ist die quantitative Bestätigung der
Zunahme der Lichtstreuung an den in Fig. 5 bei kleineren z-
Werten positionierten Teilchen erkennbar.
Die Kurvendarstellungen in Fig. 7 illustrieren die Abhängig
keit der Streuintensität vom Beobachtungswinkel (Winkel
zwischen Beleuchtungs- und Beobachtungsrichtung) an absorbie
renden Teilchen für verschiedene Wellenlängen (oberes Teil
bild: λ = 442 nm, blau, unteres Teilbild: λ = 543 nm, grün).
Für die verschiedenen Beobachtungswinkel ist jeweils in log
arithmischer Skala das Verhältnis der Streuintensität IS zur
Beleuchtungsintensität I0 dargestellt. Die bestrahlten Teilchen
besitzen einen Radius von 1.69 µm. Der Absorptionskoeffizient
der Teilchen beträgt m = 1.68. Die durchgezogenen bzw. gestri
chelten Linien beziehen sich auf die Beleuchtung und Messung
des Streulichts mit senkrechter bzw. paralleler Polarisation
in Bezug auf die von den Beleuchtungs- und Beobachtungsrich
tungen aufgespannten Ebene.
Die Kurvendarstellungen zeigen eine starke Abhängigkeit der
Streulichtintensität vom Beobachtungswinkel. Das dargestellte
Intensitätsverhältnis besitzt ein Minimum insbesondere etwa
bei einem Beobachtungswinkel von 90°. Der Vorteil der in den
Fig. 3 und 4 dargestellten Anordnung besteht in der Bereit
stellung des Drehlagers 510. Mit diesem können für einen kon
kreten Anwendungsfall die optimalen Streulichtverhältnisse er
mittelt werden.
Die Erfindung wird mit Vorteil bei allen technischen Vorgängen
angewendet, bei denen Teilchen in dreidimensionalen Räumen be
weglich sind und beobachtet werden sollen. Beispielsweise kön
nen Sprüh- oder Zerstäubungsvorgänge an Düsen beobachtet und
analysiert werden. Es können ferner beim Ätzen oder Sputtern
in der Chip-Herstellung die Reaktionsräume beobachtet und in
Bezug auf die Staubentstehung ausgewertet bzw. angesteuert
werden. Eine weitere Anwendung betrifft die Kernfusions-
Technik. In einer Fusions-Plasmakammer treten Staubentste
hungsvorgänge auf, die ebenfalls störend wirken. Eine Anwen
dung der Erfindung besteht hierbei in der Beobachtung der Orte
und/oder Ablagerung der Staubwolken. Desweiteren ist auch ein
konstruktiver Einsatz der Erfindung insbesondere in Zusammen
hang mit der Manipulation von ungeordneten oder geordneten
Teilchenwolken möglich. Schließlich liegen weitere Anwendungen
der Erfindung bei der Beobachtung der Manipulierung (z. B. ge
zielten Deposition) von Teilchen in der Nanotechnologie, wobei
hier die Beobachtung der Rayleigh-Streuung bevorzugt impleme
tiert wird.
Claims (16)
1. Verfahren zur Abbildung einer Teilchenanordnung (100), mit
den Schritten:
- - Beleuchtung eines dreidimensionalen Raumbereiches, in dem sich mindestens ein mikroskopisch kleines Teilchen der Teil chenanordnung (100) befindet, mit einem Beleuchtungs- Strahlungsfeld, das mindestens zwei spektral verschiedene Teilstrahlen umfasst, die in einer Bezugsfläche senkrecht zu ihrer Ausbreitungsrichtung vorbestimmte Intensitätsverläufe aufweisen, wobei das mindestens eine Teilchen mit mindestens zwei verschiedenen Wellenlängen bestrahlt wird,
- - gleichzeitige Erfassung von Streulichtbildern des Raumberei ches, die verschiedenen Wellenlängen des Beleuchtungs- Strahlungsfeldes entsprechen, und
- - Ermittlung einer Raumkoordinate des Teilchens aus den spekt ralen Intensitätsverläufen des Beleuchtungs-Strahlungsfeldes und den Streulichtintensitäten des jeweiligen Teilchens in den Streulichtbildern.
2. Verfahren gemäß Anspruch 1, bei dem weitere Raumkoordinaten
des Teilchens aus dessen jeweiliger Position in den Streu
lichtbildern erfaßt werden.
3. Verfahren gemäß Anspruch 1, bei dem die mindestens zwei
Teilstrahlen eine erste bzw. zweite Bezugswellenlänge (λA, λB)
besitzen, wobei von einer zur gegenüberliegenden Seite der Be
zugsfläche des Beleuchtungs-Strahlungsfeldes der Anteil des
ersten Teilstrahls mit einem vorbestimmten Intensitätsverlauf
abnimmt und der Anteil des zweiten Teilstrahls mit einem vor
bestimmten Intensitätsverlauf zunimmt und die Raumkoordinate
jeweils eines Teilchens aus dem Verhältnis der Streulichtin
tensität des Teilchens bei einer der Bezugswellenlängen zur
Summe der Streulichtintensitäten des Teilchens entsprechend
beiden Bezugswellenlängen in den Streulichtbilder ermittelt
wird.
4. Verfahren gemäß Anspruch 3, bei dem die Intensitätsverläufe
die Gestalt von Seitenflanken einer Gauß-Funktion, geraden
Rampenintensitätsverläufen oder monotonen Intensitätsverläufen
besitzen.
5. Verfahren gemäß Anspruch 1, bei dem Teilstrahlen mit zwei
Lichtquellen (211, 221) einer Beleuchtungseinrichtung (200)
erzeugt werden, deren Emissionen einer Ortsfilterung zur Er
zielung der Intensitätsverläufe unterzogen und mit einer Über
lagerungsoptik (230) zur Bildung des Beleuchtungs-Strahlungs
feldes überlagert werden.
6. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem
die Streulichtbilder mit Filter-Kamera-Kombinationen (320,
330) aufgenommen werden, die jeweils zur Bildaufnahme bei ei
ner der im Streulicht der Teilchenanordnung auftretenden Wel
lenlängen ausgelegt sind.
7. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem
sich die Teilchen im Reaktionsraum einer Hochfrequenz-Plasma
anordnung befinden.
8. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem
die Wellenlängen des Beleuchtungs-Strahlungsfeldes einen Wel
lenlängenabstand im Bereich von 100 nm bis 10 nm besitzen.
9. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem
für jedes Teilchen eine Teilchengrößen-, Material- und/oder
Abschattungskorrektur auf der Basis von aufsummierten Gesamt-
Streulichtintensitäten des Teilchens erfolgt.
10. Verfahren gemäß Anspruch 1, bei dem das Beleuchtungs-
Strahlungsfeld eine spektrale Wellenlängenverteilung umfaßt.
11. Vorrichtung zur Abbildung von Teilchenanordnungen (100)
mit mindestens einem Teilchen in einem dreidimensionalen Raum
bereich, die umfaßt:
- - eine Beleuchtungseinrichtung (200) zur Erzeugung eines Be leuchtungs-Strahlungsfeldes, das mindestens zwei spektral ver schiedene Teilstrahlen umfaßt, die in einer Bezugsfläche senk recht zu ihrer Ausbreitungsrichtung vorbestimmte Intensitäts verläufen aufweisen,
- - eine Abbildungseinrichtung (300) zur Erfassung von minde stens zwei Streulichtbildern des Raumbereiches bei jeweils verschiedenen Wellenlängen des Beleuchtungs-Strahlungsfeldes, und
- - eine Auswertungseinrichtung zur Ermittlung von Teilchen raumkoordinaten aus der Wellenlängenverteilung und den Streu lichtintensitäten jedes Teilchen in den Streulichtbildern.
12. Vorrichtung gemäß Anspruch 11, bei der die Beleuchtungs
einrichtung (200) zwei monochromatische Strahlungsquellen
(210, 220) zur Erzeugung von Teilstrahlen mit vorbestimmten
Strahlverteilungen, eine Überlagerungsoptik (230) zur Bildung
des Beleuchtungs-Strahlungsfeldes, in dem die Strahlverteilun
gen voneinander versetzt angeordnet sind, und eine Blende
(240) zur Formung des Beleuchtungs-Strahlungsfeldes umfaßt.
13. Vorrichtung gemäß Anspruch 12, bei der die Überlagerungs
optik (230) einen Strahlteiler oder einen dichroitischen Spie
gel umfasst.
14. Vorrichtung gemäß Anspruch 12 oder 13, bei der jede Strah
lungsquelle (210, 220) einen durchstimmbaren Dauerstrich-Laser
aufweist.
15. Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 11 bis 14, bei der
die Abbildungseinrichtung (300) ein Abbildungsobjektiv, einen
Strahlteiler (310) und mindestens zwei Filter-Kamera-
Kombinationen (320, 330) umfaßt, die zur Aufnahme von Streu
lichtbildern der Teilchenanordnung (100) bei den Wellenlängen
des Beleuchtungs-Strahlungsfeldes ausgelegt sind.
16. Verwendung eines Verfahrens gemäß einem der Ansprüche 1
bis 10 oder einer Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 11 bis
15 zur Überwachung der Teilchenbildung in Hochfrequenz-
Plasmareaktoren, Untersuchung von Staubentstehungsvorgängen in
Fusionsreaktoren, Vermessung der Charakteristik von Aerosol-
Erzeugern, Beobachtung von Aerosolen in der Atmosphäre oder
von kolloidalen Teilchen in Flüssigkeiten, oder zur Beobach
tung von Teilchenmanipulierungen in der Nanotechnologie.
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