DE19924244B4 - Integrierter Speicher mit redundanten Einheiten von Speicherzellen und Testverfahren für seine redundanten Einheiten - Google Patents

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Abstract

Integrierter Speicher
– mit normalen Einheiten (BL) von Speicherzellen (MC), die über Adressen (CADR) der Breite m Bit adressierbar sind,
– mit redundanten Einheiten (RBL) von Speicherzellen, die einem adressenmäßigen Ersetzen jeweils einer der normalen Einheiten (BL) dienen,
– dessen redundanten Einheiten (RBL) jeweils folgende Elemente zugeordnet sind:
– m programmierbare Elemente (F) zum Speichern der Adresse einer zu ersetzenden der normalen Einheiten (BL),
– n<m erste Vergleichseinheiten (CMP1) und m-n zweite Vergleichseinheiten (CMP2) zum Vergleichen der von den programmierbaren Elementen (F) gespeicherten Adresse mit einer dem Speicher zugeführten Adresse (CADR),
– eine Umcodiereinheit (Ci) mit n Eingängen und n Ausgängen, der n Bits der dem Speicher zugeführten Adresse (CADR) zugeführt werden und die diese zu n Ausgangsbits umcodiert, wobei die Art der Umcodierung für jede redundante Einheit (RBL) unterschiedlich ist,
– eine Logikeinheit (AND) zur Durchführung einer UND-Verknüpfung mit n ersten...

Description

  • Die Erfindung betrifft einen integrierten Speicher mit redundanten Einheiten von Speicherzellen und ein Testverfahren für seine redundanten Einheiten.
  • Ein Speicher mit redundanten Spalten ist beispielsweise in der US 4,485,459 A beschrieben. Dabei dienen die redundanten Spalten einem adressenmäßigen Ersetzen einer regulären Spalte des Speichers. Die Adresse der jeweils zu ersetzenden normalen Spalte wird dabei mittels programmierbarer Elemente in Form von auftrennbaren elektrischen Verbindungen (Fusible Links beziehungsweise Fuses) gespeichert. Wird die zu ersetzende reguläre Spalte anschließend adressiert, wird eine der redundanten Spalten anstelle der zu ersetzenden regulären Spalte ausgewählt. Auf diese Weise lassen sich Defekte in den regulären Spalten reparieren.
  • Es ist sinnvoll, bei einem Speicher auch die Speicherzellen der redundanten Einheiten (Spalten beziehungsweise Zeilen des Speichers) zu prüfen, bevor ein Ersetzen regulärer Einheiten durch die redundanten Einheiten durchgeführt wird. Andernfalls kann es passieren, daß bei Durchführung der Reparatur eine defekte redundante Einheit eingesetzt wird. Allerdings ist ein Testen der redundanten Einheiten dadurch erschwert, daß die programmierbaren Elemente, die meist als Fuses ausgeführt werden, nur einmal programmierbar sind. Sie können also nicht bereits vor dem Durchführen einer Redundanzreparatur programmiert werden, um die zugehörigen redundanten Einheiten zu testen. Andererseits sind in der Regel allen redundanten Einheiten programmierbare Elemente zugeordnet, die sich im selben Programmierzustand befinden. Das bedeutet, daß die verwendeten Fuses alle intakt und nicht aufgetrennt sind.
  • Dies führt bei manchen Realisierungen dazu, dass bei Anlegen einer bestimmten Adresse (z. B. die Adresse 0) alle redundanten Einheiten auf einmal angesprochen werden. Dies bedeutet, dass diesen redundanten Einheiten im nicht programmierten Zustand ihrer programmierbaren Elemente jeweils dieselbe Adresse zugeordnet ist. Zum Testen jeder einzelnen redundanten Einheit ist es jedoch erforderlich, jede redundante Einheit einzeln adressieren zu können. Ansonsten kann nicht festgestellt werden, welche der getesteten redundanten Einheiten defekt ist und welche nicht.
  • Aus der US 5,732,029 ist ein integrierter Speicher bekannt, bei dem normale Speicherzellen über Adressen einer Breite von m Bit adressierbar sind. Redundante Speicherzellen dienen einem adressenmäßigen Ersetzen jeweils einer der normalen Speicherzellen. Einer redundanten Speicherzelle sind dabei jeweils folgende Elemente zugeordnet: m programmierbare Elemente zum Speichern der Adresse einer zu ersetzenden normalen Speicherzelle, m Vergleichseinheiten zum Vergleichen der von den programmierbaren Elementen gespeicherten Adresse mit einer dem Speicher zugeführten Adresse, eine Logikeinheit zur Durchführung einer UND-Verknüpfung mit m Eingängen, die ein Aktivierungssignal für die jeweilige redundante Speicherzelle erzeugt, und eine Test-Aktivierungseinheit. Damit sind bei diesem integrierten Speicher redundante Speicherzellen auch im nicht programmierten Zustand seiner den redundanten Speicherzellen zugeordneten programmierbaren Elemente einzeln adressierbar. Der bekannte Speicher weist auch den redundanten Speicherzellen individuelle Adressen zu, indem eine zusätzliche Adressleitung mit einer weiteren Adressleitung zu einem Aktivierungssignal für eine der redundanten Speicherzellen verknüpft wird.
  • Ein sehr ähnlicher Speicher wie in der US 5,732,029 ist auch der US 5,113,371 entnehmbar.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen integrierten Speicher mit redundanten Einheiten von Speicherzellen anzugeben, die auch im nicht programmierten Zustand seiner den redundanten Einheiten zugeordneten programmierbaren Elemente einzeln adressierbar sind. Außerdem soll ein Testverfahren für seine redundanten Einheiten angegeben werden.
  • Diese Aufgabe wird mit einem integrierten Speicher gemäß Anspruch 1, 2 oder 3 bzw. mit dem Testverfahren gemäß Anspruch 4 bzw. 5 gelöst.
  • Beim erfindungsgemäßen integrierten Speicher sind den redundanten Einheiten von Speicherzellen jeweils programmierbare Elemente zum Speichern einer Adresse, Vergleichseinheiten zum Vergleichen der gespeicherten Adresse mit einer dem Speicher zugeführten Adresse, eine Umcodiereinheit, eine Logikeinheit zur Durchführung einer UND-Verknüpfung und ein Multiplexer zugeordnet. Die Umcodiereinheit codiert n<m der m Bits der dem Speicher zugeführten Adresse um, wobei die Art der Umcodierung für jede redundante Einheit unterschiedlich ist. Die Logikeinheit erzeugt an ihrem Ausgang ein Aktivierungssignal für die jeweilige redundante Einheit. Der Multiplexer hat zwei Schaltzustände. Im ersten Schaltzustand sind alle Vergleichseinheiten ausgangsseitig mit entsprechenden Eingängen der Logikeinheit verbunden. Im zweiten Schaltzustand sind nur n-m der Vergleichseinheiten mit der Logikeinheit verbunden, während der Multiplexer die Ausgänge der Umcodiereinheit mit den restlichen n Eingängen der Logikeinheit verbindet.
  • Der erste Schaltzustand der Multiplexer eignet sich für einen Normalbetrieb des Speichers, bei dem die programmierbaren Elemente bereits programmiert sind, so daß die redundanten Einheiten adressenmäßig bestimmten normalen Einheiten von Speicherzellen zugeordnet sind. In diesem Fall ist jeder redundanten Einheit eine andere Adresse zugeordnet, die mittels ihrer programmierbaren Elemente gespeichert wurde. Daraus folgt, daß bei Zuführung einer bestimmten Adresse höchstens eine der redundanten Einheiten ausgewählt wird. Der zweite Schaltzustand der Multiplexer kann vorteilhafterweise dazu dienen, im nicht programmierten Zustand der programmierbaren Elemente, in dem diese den zugehörigen redundanten Einheiten jeweils dieselbe Adresse zuweisen, trotzdem eine individuelle Adressierung der redundanten Einheiten durchzuführen. Dies ist insbesondere für ein Testen der redundanten Einheiten, das vor einer Programmierung der programmierbaren Elemente durchzuführen ist, notwendig. Die den redundanten Einheiten zugeordneten Umcodiereinheiten sorgen dafür, daß den zugehörigen Logikeinheiten beim zweiten Schaltzustand der Multiplexer gleichzeitig jeweils unterschiedliche n Bits zugeführt werden. Da jede Umcodiereinheit eine unterschiedliche Umcodierung durchführt, sind für jede dem Speicher zugeführte Adresse höchstens bei einer der Umcodiereinheiten die von ihr an ihrem Ausgang erzeugten n Bits alle logische Einsen. Da diese anschließend der UND-Verknüpfung zugeführt werden, kann im zweiten Schaltzustand der Multiplexer höchstens eine der redundanten Einheiten gleichzeitig angesprochen werden.
  • Die Erfindung wird im folgenden anhand der Figuren näher erläutert. Es zeigen:
  • 1 ein Ausführungsbeispiel der einer redundanten Einheit des erfindungsgemäßen Speichers zugeordneten Komponenten,
  • 2 und 3 Ausführungsbeispiele einer in 1 dargestellten Umcodiereinheit,
  • 4 das Speicherzellenfeld eines Ausführungsbeispiels des erfindungsgemäßen Speichers, und
  • 5 und 6 alternative Ausführungen der einer redundanten Einheit des Speichers zugeordneten Komponenten.
  • 4 zeigt ein Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen integrierten Speichers, dessen Speicherzellen MC in Kreuzungspunkten von normalen Bitleitungen BL beziehungsweise redundanten Bitleitungen RBL mit Wortleitungen WL in einem Speicherzellenfeld B angeordnet sind. Der integrierte Speicher kann beispielsweise ein DRAM (Dynamic Random Access Memory) sein. Obwohl die redundanten Einheiten dieses Ausführungsbeispiels redundante Bitleitungen sind, ist die Erfindung ebensogut auf redundante Wortleitungen anwendbar.
  • Die normalen Bitleitungen BL in 4 sind über einen Spaltendecoder CDEC auswählbar. Die redundanten Bitleitungen RBL sind über einen Redundanzdecoder RDEC auswählbar. Dem Spaltendecoder CDEC und dem Redundanzdecoder RDEC werden eine Spaltenadresse CADR der Breite m Bit zugeführt. Im Redundanzfall wird der Redundanzdecoder RDEC so programmiert, daß bei einer bestimmten Spaltenadresse CADR eine der redundanten Bitleitungen RBL anstatt einer der normalen Bitleitungen BL ausgewählt wird. Zu diesem Zweck wird die entsprechende Adresse im Redundanzdecoder RDEC gespeichert. Wird diese Adresse dem Speicher anschließend zugeführt, erkennt dies der Redundanzdecoder RDEC und deaktiviert den Spaltendecoder CDEC, so daß eine Auswahl der entsprechenden normalen Bitleitung BL unterbleibt.
  • 1 zeigt einen Ausschnitt des Redundanzdecoders RDEC aus 4. Jeder redundanten Bitleitung RBL sind jeweils die in 1 gezeigten Komponenten zugeordnet. Dabei handelt es sich um programmierbare Elemente F in Form von auftrennbaren elektrischen Verbindungen (Fusible Links beziehungsweise Fuses), erste Vergleichseinheiten CMP1, zweite Vergleichseinheiten CMP2, ein Multiplexer MUX, eine Umcodiereinheit Ci und eine Logikeinheit AND zur Durchführung einer UND-Verknüpfung.
  • Jeder redundanten Bitleitung RBL sind m der Fuses F zugeordnet. Diese dienen zum Speichern derjenigen Adresse, die der jeweils zu ersetzenden normalen Bitleitung BL zugeordnet ist. Der Programmierzustand jeder Fuse bestimmt, ob eine logische Null oder eine logische Eins durch die Fuse gespeichert ist. Im nicht programmierten Zustand sind alle Fuses intakt, was bei diesem Ausführungsbeispiel dem Speichern einer logischen Null entspricht. Da dies für alle redundanten Bitleitungen RBL gilt, speichern die Fuses F aller redundanten Bitleitungen im nicht programmierten Zustand jeweils dieselbe Adresse, nämlich die Adresse Null.
  • Jeder Fuse F ist eine der Vergleichseinheiten CMP1, CMP2 zugeordnet. Jede Vergleichseinheit vergleicht den von der zugeordneten Fuse F gespeicherten logischen Zustand mit einem der m Bits der dem Speicher zugeführten Spaltenadresse CADR. Es sind n<m erste Vergleichseinheit CMP1 und m-n zweite Vergleichseinheiten CMP2 vorhanden. Die Ausgänge der zweiten Vergleichseinheiten CMP2 sind mit entsprechenden Eingängen der Logikeinheit AND verbunden.
  • Die Ausgänge der ersten Vergleichseinheiten CMP1 sind über den Multiplexer MUX mit entsprechenden Eingängen der Logikeinheit AND verbunden. Am Ausgang der Logikeinheit AND erzeugt diese ein Aktivierungssignal REN, das bei Übereinstimmung der von den Fuses F gespeicherten Adresse mit der jeweils anliegenden Spaltenadresse CADR einen hohen Pegel aufweist. Hierdurch wird der Spaltendecoder CDEC deaktiviert und die der jeweiligen Logikeinheit AND zugehörige redundante Bitleitung RBL ausgewählt.
  • Der Umcodiereinheit Ci werden n der m Bits der Spaltenadresse CADR als eine Teiladresse zugeführt. Sie führt eine Umcodierung dieser n Bits durch. Die Umcodiereinheiten Ci sind für jede redundante Bitleitung RBL jeweils unterschiedlich aufgebaut, so daß sie die n Bits der Spaltenadresse CADR in jeweils unterschiedlicher Weise umcodieren.
  • 2 zeigt die Umcodiereinheit C1 einer der redundanten Bitleitungen RBL. Diese weist zwischen ihren Eingängen und ihren Ausgängen jeweils einen Inverter I auf, der das entsprechende Adreßbit A0 bis A2 der n Bit breiten Teiladresse der Spaltenadresse CADR invertiert.
  • 3 zeigt die Umcodiereinheit C2 einer anderen der redundanten Bitleitungen RBL aus 4. Diese unterscheidet sich von der Umcodiereinheit C1 aus 2 darin, daß das erste Adreßbit A0 über zwei in Reihe geschaltete Inverter I geführt wird, so daß es am entsprechenden Ausgang der Umcodiereinheit C2 wieder nicht invertiert vorliegt.
  • Die Ausgänge der Umcodiereinheit Ci in 1 sind mit dem Multiplexer MUX verbunden. Der Multiplexer MUX hat zwei Schaltzustände. Diese werden durch ein ihm zugeführtes Betriebsartsignal MODE ausgewählt. Im ersten Schaltzustand des Multiplexers MUX verbindet dieser die Ausgänge der n ersten Vergleichseinheiten CMP1 mit den entsprechenden Eingängen der Logikeinheit AND. Im zweiten Schaltzustand verbindet er die Ausgänge der Umcodiereinheit Ci mit diesen Eingängen der Logikeinheit AND. Der Multiplexer MUX nimmt den ersten Schaltzustand während einer Normalbetriebsart des Speichers ein. Dies ist insbesondere der Fall, während die Fuses F bereits programmiert sind. Der Multiplexer MUX nimmt seinen zweiten Schaltzustand ein, wenn sich der Speicher in einer Testbetriebsart befindet, in der die redundanten Bitleitungen RBL zu Testzwecken einzeln angesprochen werden sollen, während die Fuses F noch nicht programmiert sind.
  • Solange die Fuses F noch nicht programmiert (also nicht zerstört) sind, speichern sie, wie bereits erwähnt, alle eine logische Null. Werden den zweiten Vergleichseinheiten CMP2 dann entsprechende Nullen der Spaltenadresse CADR zugeführt, ergeben sich an den Ausgängen aller Vergleichseinheiten CMP1, CMP2 logische Einsen. Befindet sich dann der Multiplexer MUX im ersten Schaltzustand, werden allen Logikeinheiten AND ausschließlich logische Einsen zugeführt, so daß die Aktivierungssignale REN aller redundanten Bitleitungen RBL einen hohen Pegel annehmen. Wird dem Speicher dagegen eine andere Adresse als die Adresse Null zugeführt, ergibt der Vergleich durch die Vergleichseinheiten CMP1, CMP2 für alle redundanten Bitleitungen RBL für mindestens ein Bit eine Abweichung, so daß die entsprechende Vergleichseinheit eine logische Null erzeugt. Folglich weist dann keines der Aktivierungssignale REN einen hohen Pegel auf, so daß keine der redundanten Bitleitungen RBL selektiert wird.
  • Wird dagegen der Multiplexer MUX im nicht programmierten Zustand der Fuses F über das Betriebsartsignal MODE in seinen zweiten Schaltzustand versetzt, werden den Logikeinheiten AND aller redundanten Bitleitungen RBL für jede dem Speicher zugeführte Spaltenadresse CADR jeweils unterschiedliche Eingangssignale zugeführt. Dies liegt daran, daß jede Umcodiereinheit Ci unterschiedlich aufgebaut ist und eine unterschiedliche Umcodierung der ihr zugeführten n Bits der Spaltenadresse CADR durchführt.
  • Beispielhaft soll angenommen werden, daß die Spaltenadresse CADR eine Breite von m=8 Bit aufweist und daß acht redundante Bitleitungen RBL vorhanden sind. Es wird n=3 gewählt, da mit diesen drei Bit die acht redundanten Bitleitungen RBL individuell angesprochen werden können. Im zweiten Schaltzustand des Multiplexers MUX wird die redundante Bitleitung, der die in 2 gezeigte Umcodiereinheit C1 zugeordnet ist, durch die Spaltenadresse 00000000 aktiviert. Die redundante Bitleitung RBL, der die in 3 dargestellte Umcodiereinheit C2 zugeordnet ist, wird im zweiten Schaltzustand ihres Multiplexers MUX durch die Spaltenadresse CADR 00000001 ausgewählt. Auf diese Weise ist es möglich, jeder redundanten Bitleitung RBL im nicht programmierten Zustand ihrer Fuses F jeweils eine unterschiedliche Adresse zuzuweisen.
  • Beim hier betrachteten Ausführungsbeispiel sind die n=3 Bits der Teiladresse der Spaltenadresse CADR, die den Umcodiereinheiten Ci zugeführt werden, die niedrigwertigsten Bits (Least Significant Bits) der Spaltenadresse CADR. Daher können die acht redundanten Bitleitungen RBL über die acht niedrigsten Adressen der Spaltenadresse CADR angesprochen werden. Bei anderen Ausführungsbeispielen der Erfindung kann die n-Bit-Teiladresse jedoch auch durch beliebige andere der m Bits der Spaltenadresse CADR gebildet sein.
  • 5 zeigt ein anderes Ausführungsbeispiel des der 1 entsprechenden Teils des Redundanzdecoders RDEC aus 4. Dieses unterscheidet sich von der 1 darin, daß die Umcodiereinheit Ci und der Multiplexer MUX zwischen n der Fuses F und den zugehörigen ersten Vergleichseinheiten CMP1 angeordnet sind. Im ersten Schaltzustand des Multiplexers MUX werden diese n Fuses direkt über den Multiplexer MUX mit den Eingängen der ersten Vergleichseinheiten CMP1 verbunden. Im zweiten Schaltzustand des Multiplexers MUX werden die n Ausgangssignale der Umcodiereinheit Ci über den Multiplexer MUX mit den Eingängen der n ersten Vergleichseinheiten CMP1 verbunden. Den n Eingängen der Umcodiereinheit Ci werden die Ausgangssignale der n Fuses zugeführt, die mit den ersten Vergleichseinheiten CMP1 verbunden sind.
  • Die Umcodiereinheiten Ci in 5 können ebenso aufgebaut sein wie die in 2 und 3 gezeigten. Auch hier gilt wieder, daß jeder redundanten Bitleitung RBL jeweils die in 5 gezeigten Komponenten zugeordnet sind, wobei sich lediglich der Aufbau der Umcodiereinheiten Ci von redundanter Bitleitung zu redundanter Bitleitung unterscheidet. Obwohl auch bei dem in 5 gezeigten Ausführungsbeispiel die Fuses F im nicht programmierten Zustand alle eine logische Null speichern, kann im zweiten Schaltzustand des Multiplexers MUX dank des unterschiedlichen Aufbaus der Umcodiereinheiten Ci jeder redundanten Bitleitung RBL eine unterschiedliche Spaltenadresse CADR zugewiesen werden.
  • 6 zeigt eine weitere alternative Form der Realisierung des Redundanzdecoders RDEC aus 4. Dargestellt sind wiederum die den 1 und 5 entsprechenden Komponenten, die jeweils einer der redundanten Bitleitungen RBL zugeordnet sind. Bei diesem Ausführungsbeispiel sind die Umcodiereinheiten Ci und die Multiplexer MUX zwischen n der m Bits der Spaltenadresse CADR und den n ersten Vergleichseinheiten CMP1 angeordnet. m-n der m Adreßbits sind direkt mit jeweils einer der zweiten Vergleichseinheiten CMP2 verbunden. Im ersten Schaltzustand des Multiplexers MUX werden die n Bits der aus der Spaltenadresse CADR gebildeten Teiladresse den ersten Vergleichseinheiten CMP1 direkt zugeführt. Im zweiten Schaltzustand des Multiplexers MUX führt dieser die n Ausgangssignale der Umcodiereinheit Ci den ersten Vergleichseinheiten CMP1 zu.
  • Auch beim Ausführungsbeispiel gemäß 6 erfolgt im nicht programmierten Zustand der Fuses F eine Auswahl der redundanten Bitleitungen RBL bei jeweils unterschiedlichen Spaltenadressen CADR. Dies liegt daran, daß durch den unterschiedlichen Aufbau der Umcodiereinheiten Ci an den Eingängen der ersten Vergleichseinheiten CMP1 für jeweils unterschiedliche n-Bit-Teiladressen der Spaltenadressen CADR ausschließlich logische Nullen anliegen.

Claims (5)

  1. Integrierter Speicher – mit normalen Einheiten (BL) von Speicherzellen (MC), die über Adressen (CADR) der Breite m Bit adressierbar sind, – mit redundanten Einheiten (RBL) von Speicherzellen, die einem adressenmäßigen Ersetzen jeweils einer der normalen Einheiten (BL) dienen, – dessen redundanten Einheiten (RBL) jeweils folgende Elemente zugeordnet sind: – m programmierbare Elemente (F) zum Speichern der Adresse einer zu ersetzenden der normalen Einheiten (BL), – n<m erste Vergleichseinheiten (CMP1) und m-n zweite Vergleichseinheiten (CMP2) zum Vergleichen der von den programmierbaren Elementen (F) gespeicherten Adresse mit einer dem Speicher zugeführten Adresse (CADR), – eine Umcodiereinheit (Ci) mit n Eingängen und n Ausgängen, der n Bits der dem Speicher zugeführten Adresse (CADR) zugeführt werden und die diese zu n Ausgangsbits umcodiert, wobei die Art der Umcodierung für jede redundante Einheit (RBL) unterschiedlich ist, – eine Logikeinheit (AND) zur Durchführung einer UND-Verknüpfung mit n ersten Eingängen und m-n zweiten Eingängen, die ein Aktivierungssignal (REN) für die jeweilige redundante Einheit (RBL) erzeugt und deren zweite Eingänge mit Ausgängen der zweiten Vergleichseinheiten (CMP2) verbunden sind, – und einen Multiplexer (MUX) mit n ersten Eingängen, n zweiten Eingängen und n Ausgängen, dessen Ausgänge mit den ersten Eingängen der Logikeinheit (AND) verbunden sind, der einen ersten Schaltzustand hat, in dem er Ausgänge der ersten Vergleichseinheiten (CMP1) mit den ersten Eingängen der Logikeinheit (AND) verbindet, und einen zweiten Schaltzustand, in dem er die Ausgänge der Umcodiereinheit (Ci) mit den ersten Eingängen der Logikeinheit (AND) verbindet.
  2. Integrierter Speicher – mit normalen Einheiten (BL) von Speicherzellen (MC), die über Adressen (CADR) der Breite m Bit adressierbar sind, – mit redundanten Einheiten (RBL) von Speicherzellen, die einem adressenmäßigen Ersetzen jeweils einer der normalen Einheiten (BL) dienen, – dessen redundanten Einheiten (RBL) jeweils folgende Elemente zugeordnet sind: – m programmierbare Elemente (F) zum Speichern der Adresse einer zu ersetzenden der normalen Einheiten (BL), – eine Umcodiereinheit (Ci) mit n Eingängen und n Ausgängen, der n Bits der dem Speicher zugeführten Adresse (CADR) zugeführt werden und die diese zu n Ausgangsbits umcodiert, wobei die Art der Umcodierung für jede redundante Einheit (RBL) unterschiedlich ist, – einen Multiplexer (MUX) mit n ersten Eingängen, n zweiten Eingängen und n Ausgängen, dessen ersten n Eingängen die n Bits der dem Speicher zugeführten Adresse zugeführt werden und dessen zweiten n Eingängen die n Ausgangsbits der Umcodiereinheit (Ci) zugeführt werden und der einen ersten Schaltzustand hat, in dem die ersten n Eingänge mit den n Ausgängen verbunden sind, und der einen zweiten Schaltzustand hat, in dem die zweiten n Eingänge mit den n Ausgängen verbunden sind, – n<m erste Vergleichseinheiten (CMP1) zum Vergleichen einer von den n Ausgängen des Multiplexers (MUX) zugeführten Adresse mit einer von n der programmierbaren Elemente (F) gespeicherten Adresse und m-n zweite Vergleichseinheiten (CMP2) zum Vergleichen von m-n weiteren Bits der dem Speicher zugeführten Adresse mit einer in den übrigen m-n programmierbaren Elementen (F) gespeicherten Adresse und – eine Logikeinheit (AND) zur Durchführung einer UND-Verknüpfung, die m Eingänge aufweist, die mit Ausgängen der Vergleichseinheiten verbunden sind, und die ein Ak tivierungssignal (REN) für die jeweilige redundante Einheit erzeugt.
  3. Integrierter Speicher – mit normalen Einheiten (BL) von Speicherzellen (MC), die über Adressen (CADR) der Breite m Bit adressierbar sind, – mit redundanten Einheiten (RBL) von Speicherzellen, die einem adressenmäßigen Ersetzen jeweils einer der normalen Einheiten (BL) dienen, – dessen redundanten Einheiten (RBL) jeweils folgende Elemente zugeordnet sind: – m programmierbare Elemente (F) zum Speichern der Adresse einer zu ersetzenden der normalen Einheiten (BL), – eine Umcodiereinheit (Ci) mit n Eingängen und n Ausgängen, der n Bits von n der programmierbaren Elemente (F) zugeführt werden und die diese zu n Ausgangsbits umcodiert, wobei die Art der Umcodierung für jede redundante Einheit (RBL) unterschiedlich ist, – einen Multiplexer (MUX) mit n ersten Eingängen, n zweiten Eingängen und n Ausgängen, dessen ersten n Eingängen die n Bits der n programmierbaren Elemente (F) zugeführt werden und dessen zweiten n Eingängen die n Ausgangsbits der Umcodiereinheit (Ci) zugeführt werden und der einen ersten Schaltzustand hat, in dem die ersten n Eingänge mit den n Ausgängen verbunden sind, und der einen zweiten Schaltzustand hat, in dem die zweiten n Eingänge mit den n Ausgängen verbunden sind, – n<m erste Vergleichseinheiten (CMP1) zum Vergleichen einer von den n Ausgängen des Multiplexers (MUX) zugeführten Adresse mit n Bits einer dem Speicher zugeführten Adresse (CADR) und m-n zweite Vergleichseinheiten (CMP2) zum Vergleichen einer in den übrigen m-n programmierbaren Elementen (F) gespeicherten Adresse mit m-n übrigen Bits der dem Speicher zugeführten Adresse (CADR) und – eine Logikeinheit (AND) zur Durchführung einer UND-Verknüpfung, die m Eingänge aufweist, die mit Ausgängen der Vergleichseinheiten verbunden sind, und die ein Ak tivierungssignal (REN) für die jeweilige redundante Einheit erzeugt.
  4. Testverfahren für die redundanten Einheiten eines integrierten Speichers nach Anspruch 1 oder 2, bei dem – die den redundanten Einheiten (RBL) zugeordneten Multiplexer (MUX) in den zweiten Schaltzustand versetzt werden, während sich die programmierbaren Elemente (F) im nicht programmierten Zustand befinden, – dem Speicher Adressen (CADR) zugeführt werden, die sich in den den Umcodiereinheiten (Ci) zugeführten n Bits unterscheiden und deren übrige m-n Bits übereinstimmen mit den m-n Bits der programmierbaren Elemente, die mittels der zweiten Vergleichseinheiten (CMP2) damit verglichen werden, und – zu jeder dieser Adressen ein Test der adressierten redundaten Einheiten durchgeführt wird.
  5. Testverfahren für die redundanten Einheiten eines integrierten Speichers nach Anspruch 3, bei dem – die den redundanten Einheiten (RBL) zugeordneten Multiplexer (MUX) in den zweiten Schaltzustand versetzt werden, während sich die programmierbaren Elemente (F) im nicht programmierten Zustand befinden, – dem Speicher Adressen (CADR) zugeführt werden, die sich in den n Bits unterscheiden, die mittels der ersten Vergleichseinheiten (CMP1) mit den von den Ausgängen des Multiplexers den ersten Vergleichseinheiten (CMP1) zugeführten n Bits verglichen werden, und deren übrige m-n Bits übereinstimmen mit den m-n Bits der programmierbaren Elemente, die mittels der zweiten Vergleichseinheiten (CMP2) damit verglichen werden, und – zu jeder dieser Adressen ein Test der adressierten redundanten Einheiten durchgeführt wird.
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