DE19847841A1 - Vorrichtung zur Identifizierung und Funktionsüberprüfung von Sensoren - Google Patents
Vorrichtung zur Identifizierung und Funktionsüberprüfung von SensorenInfo
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Abstract
Die Vorrichtung zur Identifizierung optoelektronischer Sensoren enthält ein Testüberwachungsgerät (6) mit mindestens zwei Testausgängen (T1, T2) und einer gleichen Anzahl von Testeingängen. Die verschiedenen Sensortypen (2, 10) sind in unterschiedlicher Anschlußkombination angeschlossen und können durch Testsignale und deren unterschiedliche Weiterleitung von den Testausgängen zu den Testeingängen eindeutig identifiziert werden. Zusätzlich sind Plausibilitätsüberprüfungen und Fehlerüberprüfungen auf Leitungsbruch, Kurzschluß oder Querschluß möglich (Fig. 1a).
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Identifizierung
und Funktionsüberwachung von Sensoren, insbesondere von
optoelektronischen Sensoren.
In nahezu allen Gebieten der Technik werden Sensoren
eingesetzt, beispielsweise als optoelektronische Sensoren
zur Überwachung von Gefahrenbereichen, als Lichtschranken,
Lichtgitter, Lichtvorhänge etc. Solche Sensoren müssen
sehr hohe Sicherheitsstandards erfüllen, die in nationalen
und/oder internationalen Normen festgelegt sind. In der
europäischen Norm EN6149E-1 sind für solche Sensoren
Sicherheitsstandards definiert, wobei in dieser Norm sog.
"Typ 2-Sensoren" und "Typ 4-Sensoren" unterschieden werden.
Typ 2-Sensoren müssen nach dieser Norm Einrichtungen für
einen periodischen Test besitzen, um einen gefahrbringenden
Ausfall abzudecken (z. B. Verlust des Sensordetektionsver
mögens, Überschreitung der festgelegten Reaktionszeit etc.).
Das Testsignal muß das Ansprechen des Sensorteiles
nachbilden. Typ 2-Sensoren haben einen "elektronischen"
Ausgang, d. h. sie schalten beim Ansprechen einen
Schaltransistor durch.
Typ 4-Sensoren haben Einrichtungen zum Eigentest des Sensors
und können zumindest einige mögliche Fehler durch diesen
Eigentest aufdecken. Typ 4-Sensoren gibt es mit elektroni
schem Ausgang und mit Relaisausgang. Sie werden im folgenden
als Typ E bzw. Typ R bezeichnet.
Überwachungseinrichtungen für Sensoren müssen "wissen",
welcher Typ von Sensor angeschlossen ist, da die auf den
Sensorsignalen basierenden Auswertungen je nach Sensortyp
unterschiedlich ausgestaltet sind. Eine Möglichkeit zur
Erkennung des Sensortyps bestünde darin, in der Aus
werteschaltung sog. Dip-Schalter oder "Juniper" (Steckver
binder) zu verwenden, deren Stellung dem jeweiligen Sensortyp
entspricht. Diese Schalter müßten jedoch beim Austausch
der Sensoren manuell eingestellt werden, was eine
Fehlerquelle darstellen kann. Außerdem sind hierdurch die
Herstellkosten erhöht.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine Vorrichtung zu
schaffen, die automatisch verschiedene Sensortypen eindeutig
identifiziert.
Diese Aufgabe wird durch die im Patentanspruch 1 angegebenen
Merkmale gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbil
dungen der Erfindung sind den Unteransprüchen zu entnehmen.
Die Erfindung baut auf der Grundidee auf, die Typenidentifizierung
dadurch vorzunehmen, daß die verschiedenen Typen
in unterschiedlicher Anschlußkombination an eine Testüber
wachungseinrichtung angeschlossen werden und die Testüber
wachungseinrichtung automatisch die jeweilige Anschlußkom
bination erkennt.
Dabei wird davon ausgegangen, daß das Testgerät mindestens
Anschlüsse für zwei Sensoren hat und dementsprechend zwei
Testausgänge, an denen periodische Testsignale ausgegeben
werden sowie zwei Testeingänge für diese Testsignale. Die
Sensoren liegen zwischen diesen Eingängen und Ausgängen.
Bei einem Sensortyp werden die Sensoren "über Kreuz" ange
schlossen, d. h. ein erster Sensor liegt zwischen dem ersten
Testausgang und dem zweiten Testeingang, während der andere
Sensor zwischen dem zweiten Testausgang und dem ersten
Testeingang liegt.
Der andere Sensortyp wird dann unverkreuzt angeschlossen.
Ein dritter Sensortyp, vorzugsweise der Sensortyp 4E erzeugt
intern ein Testmuster, das nur den Testeingängen- des Test
überwachungsgerätes zugeführt wird und das sich von den
Testsignalen des Testüberwachungsgerätes an den Testausgängen
unterscheidet, so daß auch dieser Sensortyp einwandfrei
identifizierbar ist.
Während des Betriebes erzeugt das Testüberwachungsgerät
periodische Testsignale, die an den beiden Kanälen zeitlich
versetzt sind und zwar so, daß sie überlappungsfrei sind.
Vorzugsweise haben die Testsignale einen Aktivpegel "low"
und einen Inaktivpegel "high", wobei der Signalpegel "high"
dominant ist, falls "high"- und "low"-Pegel zusammentreffen.
Im störungsfreien Betrieb sind die in den Sensoren enthal
tenen elektronischen Schalter oder Relaisschalter durchver
bunden, so daß das Testsignal durch den Schalter hindurch
vom jeweiligen Testausgang zum zugeordneten Testeingang
gelangt. Elektronische Schalter verzögern das Testsignal
um eine vorbestimmte Zeitperiode von ca. 1 ms, was als
weiteres Unterscheidungskriterium dient. Bei Relaisschaltern
wird dagegen das Testsignal unverzögert weitergeleitet.
Bei Lichtschranken, Lichtgittern oder ähnlichem sind die
Sensoren so eingesetzt, daß sie bei störungsfreiem Betrieb
(Lichtempfang) ihren Schalter durchschalten.
Da zur Unterscheidung der Sensortypen 2E und 4R bereits
das Kriterium der Anschlußkombination ausreicht, kann das
weitere Kriterium der Zeitverzögerung als redundantes
Kriterium angesehen werden. Mit dieser Redundanz lassen
sich zusätzliche Fehlerprüfungen durchführen, insbesondere
Plausibilitätskontrollen sowie Anschlußfehler, wie Leitungsbruch,
Kurzschluß oder Querschluß erkennen.
Um bei einzelnen Störimpulsen und damit fehlerhafter Iden
tifizierung nicht sofort ein Abschalten der überwachten
Maschine zu verursachen, ist zur Verbesserung der Verfüg
barkeit vorgesehen, daß die Testüberwachungseinrichtung
einen Zähler aufweist, der pro Testzyklus inkrementiert
bzw. dekrementiert wird. Wird bei einem Testzyklus derselbe.
Sensortyp wie im vorhergehenden Zyklus identifiziert, so
wird der Zählerstand um eine 1 inkrementiert, im anderen
Fall um eine 1 dekrementiert. Wird ein "neuer" Sensortyp
identifiziert, so wird dieser erst dann als gültig angesehen,
wenn der Zählerstand einen vorbestimmten Wert (z. B. 20)
erreicht hat.
In ähnlicher Weise wird ein Fehler oder ein Sensorwechsel
erst dann als gültig angesehen, wenn der Zählerstand einen
vorgegebenen Minimalwert erreicht hat.
Im folgenden wird die Erfindung im Zusammenhang mit der
Zeichnung näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1a ein Ausführungsbeispiel einer Schaltungsanordnung
nach der Erfindung mit einem ersten Sensortyp
(z. B. 2E);
Fig. 1b ein Ausführungsbeispiel einer Schaltungsanordnung
nach der Erfindung mit einem zweiten Sensortyp
(z. B. Typ 4R);
Fig. 2a ein Zeitdiagramm von Testsignalen der Fig. 1a;
Fig. 2b ein Zeitdiagramm von Testsignalen der Fig. 1b;
Fig. 3 ein Ausführungsbeispiel einer Schaltungsanordnung
mit einem dritten Sensortyp (z. B. 4E);
Fig. 4 ein Prinzipschaltbild der Schaltungsanordnung
nach der Erfindung; und
Fig. 5 ein Zeitdiagramm einer Zählvariablen.
Die Fig. 1a zeigt eine Schaltungsanordnung 1 zur Identi
fizierung und Funktionsüberwachung optoelektronischer
Sensoren, die z. B. in einer Lichtschranke, einem Lichtgitter,
einem Lichtvorhang oder ähnlichem, einsetzbar sind. Es
sind zwei Sensoren 2 bzw. 2' vom Typ 2 dargestellt, die
je einen Transistorschalter 3 bzw. 3' aufweisen. Ein
Steuereingang 4 bzw. 4' des Transistorschalters 3 bzw.
3' ist mit einem lichtempfangenen Element 5 bzw. 5', wie
z. B. einer Photodiode einer Lichtschranke, verbunden.
Empfängt die Photodiode Licht, was im Normalbetrieb bei
geschlossener Lichtschranke der Fall ist, so sind die
zugeordneten Transistorschalter 3 bzw. 3' durchgeschaltet,
d. h. geschlossen und bei unterbrochener Lichtschranke
geöffnet.
Die Kollektor-Emitter-Strecke der Transistorschalter 3
bzw. 3' ist jeweils mit Testausgängen T1 bzw. T2 und
Sensoreingängen S1 bzw. S2 eines Testüberwachungsgerätes
6 verbunden.
Im konkreten Fall von Sensoren des Typs 2 sind die Transis
torschalter 3 und 3' "über Kreuz" mit den Testausgängen
und den Sensoreingängen verbunden, d. h. der Transistor
schalter 3 ist mit seiner Eingangsleitung 7 an den Testaus
gang T1 und mit seiner Ausgangsleitung 8 an den Sensoreingang
S2 angeschlossen. In entsprechender Weise ist der Transistor
schalter 3' mit seiner Eingangsleitung 7' an den Testausgang
T2 und mit seiner Ausgangsleitung 8' an den Sensoreingang
S1 angeschlossen. Die Verbindung der Leitungen 7, 7', 8
und 8' mit den Anschlüssen T1, T2, S1 und S2 kann beispiels
weise mittels Schraubklemmen erfolgen.
Die Verbindung "über Kreuz" in Fig. 1a hat zur Folge, daß
ein am Testausgang T1 anstehendes Testsignal über den
geschlossenen Transistorschalter 3 zum Sensoreingang S2
gelangt und umgekehrt, daß ein am Testausgang T2 anliegendes
Testsignal über den geschlossenen Transistorschalter 3'
an den Sensoreingang S1 gelangt, was zur Identifizierung
des Sensortyps verwendet werden kann, wie noch näher im
Zusammenhang mit Fig. 2a erläutert wird.
In Fig. 1b sind zwei Sensoren 10 und 10' eines anderen
Typs an das Testüberwachungsgerät 6 angeschlossen. Beispiels
weise handelt es sich um Typ 4-Sensoren mit Relaisschaltern
11 bzw. 11'. Diese Sensoren sind an die Testausgänge T1
und T2 und die Sensoreingänge S1 und S2 "unverkreuzt" ange
schlossen, d. h. die Eingangsleitung 7 des Schalters 11
ist an den Testausgang T1, und die Ausgangsleitung 8 des
selben Schalters 11 ist an den Sensoreingang S1 angeschlos
sen. In entsprechender Weise ist die Leitung 7' des Schalters
11' an den Testausgang T2 und die Ausgangsleitung 8' des
Schalters 11' an den Sensoreingang S2 angeschlossen. Ein
Testsignal an dem Testausgang T1 wird also bei geschlossenem
Schalter 11 am Sensoreingang S1 erscheinen und in entspre
chender Weise wird ein Testsignal am Testausgang T2 über
den geschlossenen Schalter 11' am Sensoreingang S2 erschei
nen.
Im übrigen sind die Typ 4-Sensoren üblicherweise zweikanalig
ausgelegt, d. h. ein "Sensor" enthält immer die beiden
Schalter 11 und 11', jeweils mit zugehörigen lichtempfan
genden Elementen 5 und 5'. Ein weiterer Unterschied zwischen
den Typ 4- und den Typ 2-Sensoren besteht darin, daß die
Typ 4-Sensoren bestimmte Eigentests durchführen können,
was durch Selbsttesteinrichtungen 12 bzw. 12' angedeutet
ist.
Bei den Typ 4-Sensoren unterscheidet man noch solche mit
Relaisausgang, wie in Fig. 1b dargestellt und solche mit
elektronischem Ausgang, also mit Transistorschalter ähnlich
den Typ 2-Sensoren der Fig. 1a, was näher im Zusammenhang
mit Fig. 3 erläutert wird. Die Sensoren des Typs 2 haben
dagegen stets einen elektronischen Ausgang.
Sensoren mit Relaisausgang arbeiten verzögerungsfrei, d. h.
wirken wie eine durchgeschleifte Leitung, sofern der
Relaisschalter geschlossen ist. Das Testsignal wird also
unverzögert durchgeleitet. Sensoren mit elektronischem
Ausgang haben dagegen eine gewisse Verzögerung, die in
der Größenordnung von 1 ms liegt, d. h. ein Testsignal am
Eingang 7 bzw. 7' des Schalters wird um die genannte Zeit
dauer verzögert am Ausgang erscheinen. Auch dies wird als
Kriterium zur Unterscheidung der Sensortypen verwendet.
Die Fig. 2a und 2b zeigen Signalverläufe an den Testausgängen
T1 und T2 und den Sensoreingängen S1 und S2 der Schaltungen
der Fig. 1a und 1b. Zunächst wird auf Fig. 2a Bezug genommen.
Am Testausgang T1 der Fig. 1a liegt das Testsignal ST1,
das einen Ruhepegel "high" und einen Aktivpegel "low" mit
der Zeitdauer t1 hat. Dieses aktive Signal wird periodisch
mit einer-Periode tp am Testausgang T1 abgegeben. In ähn
licher Weise wird auch am Testausgang T2 ein Signal ST2
abgegeben, das gegenüber dem Signal ST1 um eine Zeitdauer
t3 versetzt ist, wobei die Zeitdauer T3 größer ist als
die Summe der Zeitdauer t1 plus der Verzögerungszeit t2,
damit sich die aktiven Signale zeitlich nicht überlappen.
Die Zeitdauer t1 liegt bei einem praktischen Ausführungsbei
spiel in der Größenordnung zwischen 24 ms und 150 ms. Im
Falle der Schaltung der Fig. 1a mit "über Kreuz" angeschlos
senen Sensoren wird das Testsignal ST1 um die Verzögerungs
zeit t2 des Transistorschalters am Sensoreingang S2 erschei
nen. Das demgegenüber um t3 zeitlich versetzte Testsignal
ST2 wird bei geschlossenem Transistorschalter 3' - wiederum
um t2 verzögert - am Signaleingang S1 als Signal SS1 erschei
nen. In einer im Zusammenhang mit Fig. 4 noch näher zu
erläuternden Auswerteschaltung wird überprüft, ob das Signal
ST1 zeitlich verzögert oder unverzögert am Signaleingang
S1 oder S2 erscheint. Anhand dieser Überprüfung kann dann
der Sensortyp identifiziert werden.
Fig. 2b zeigt die entsprechenden Signale für die Schaltung
der Fig. 1b. Es ist zu erkennen, daß das Signal ST1 als
Signal SS1 am Sensoreingang S1 erscheint und zwar unver
zögert. Entsprechendes gilt für das Signal ST2 am Testausgang
T2 und das Signal SS2 am Sensoreingang S2.
Es sei noch darauf hingewiesen, daß die Fig. 2a und 2b
nicht maßstäblich sind, insbesondere daß die Verzögerungszeit
t2 in Relation zur Impulszeit t1 kleiner ist. Weiter ist
noch hervorzuheben, daß die Zeitdauer t3 größer ist als
die Summe aus t1 + t2, damit sich die aktiven Impulse nicht
überlappen.
Aus obigem ist erkennbar, daß zur Unterscheidung von zwei
Sensortypen nur ein Kriterium ausreicht, beispielsweise
das "über Kreuz" anschließen der verschiedenen Sensortypen
oder die Auswertung der Zeitverzögerung t2 zwischen Test
signal und Sensoreingangssignal. Aufgrund der hier möglichen
Auswertung von zwei Kriterien, nämlich der "verkreuzten"
oder "unverkreuzten" Verschaltung sowie der unverzögerten
oder verzögerten Signalübertragung, ergibt sich eine
Redundanz, die für weitere Prüfungen ausgenutzt werden
kann.
Dadurch lassen sich verschiedene Sensorfehler feststellen.
Beispielsweise wird eine Leitungsunterbrechung dadurch
erkannt, daß das Testsignal an keinem der Sensoreingänge
ankommt. Ein Kurzschluß zwischen den Leitungen 7 und 7'
und/oder 8 und 8' wird dadurch erkannt, daß an den Sensor
eingängen S1 und S2 permanent ein hoher Pegel ansteht,
da die Schaltung so ausgelegt ist, daß bei gleichzeitigem
Zusammentreffen von hohem und niedrigem Pegel an einem
Anschluß der hohe Pegel dominant ist. Das Testsignal mit
aktivem niedrigem Pegel würde dann an keinem der Sensor
eingänge erscheinen. Ein kurzgeschlossener Transistorschalter
3 oder 3' wird dadurch erkannt, daß das Testsignal zwar
am "richtigen" Sensoreingang erscheint aber unverzögert.
Alternativ zu den Ausführungsbeispielen der Fig. 1a und
1b können die beiden Sensortypen auch anders verschaltet
sein, also beispielsweise die Typ 2-Sensoren unverkreuzt
und die Typ 4-Sensoren verkreuzt an das Testüberwachungsgerät
6 angeschlossen werden. Die Auswertekriterien ändern sich
dann entsprechend.
Fig. 3 zeigt ein Ausführungsbeispiel mit Typ 4-Sensoren,
die abweichend von Fig. 1b elektronische Ausgänge, also
Transistorschalter 3 und 3' haben. Diese Sensoren werden
als Typ 4E-Sensoren bezeichnet. Im Unterschied zu den Typ
4-Sensoren mit Relaisausgang benötigen die Typ 4E-Sensoren
keine externen Testsignale. Vielmehr erzeugen sie in perio
dischen Abständen selbsttätig interne Testsignale, die
ein anderes Muster haben als die externen Testsignale,
worüber sich auch diese Sensoren eindeutig identifizieren
lassen.
Fig. 4 zeigt ein Prinzipschaltbild des Testüberwachungs
gerätes 6 mit den Testausgängen T1 und T2 und den Eingängen
S1 und S2. Über Schraubklemmen 13 oder sonstige Verbindungs
mittel, wie z. B. Steckverbinder, sind die Leitungen 7,
7', 8 und 8' entsprechend den Fig. 1a, 1b oder 3 ange
schlossen. Ein Impulsgeber 14 erzeugt die Impulse ST1 und
ST2 entsprechend den Fig. 2a und 2b und gibt diese an die
Testausgänge T1 und T2 periodisch ab. Gleichzeitig werden
diese Signale einer Prüfeinheit 15 zugeführt, der auch
die Signale SS1 und SS2 von den Anschlüssen S1 und S2
zugeführt werden. In dieser Prüfeinheit 15 werden die Signale
ST1 und ST2 von dem Signalgenerator 14 mit den an den
Anschlüssen S1 und S2 ankommenden Signalen verglichen.
Dabei wird überprüft, ob
S1 = T1
S1 = T2
S1 = T1 + t
S1 = T2 + t
S2 = T2
S2 = T1
S2 = T2 + t
S2 = T1 + t.
S1 = T2
S1 = T1 + t
S1 = T2 + t
S2 = T2
S2 = T1
S2 = T2 + t
S2 = T1 + t.
Zusätzlich wird dort auch überprüft, ob das von dem Sensortyp
4E (Fig. 3) erzeugte Muster an den Eingängen S1 und S2
anliegt. An den Ausgängen der Prüfeinheit 15 für die beiden
Kanäle S1 und S2 liegt damit ein Signal, beispielsweise
als numerischer Wert an, der die einzelnen Sensortypen
identifiziert. Diese Werte werden einem Speicher 16 zugeführt
sowie einer Baueinheit 17 für Plausibilitäts- und Fehler
prüfung.
Aufgrund von Störimpulsen ist es denkbar, daß innerhalb
einer Testperiode tp ein falscher Sensortyp identifiziert
wird. Um solche Fehlidentifizierungen zu vermeiden, hat
das Testüberwachungsgerät ein integrierendes Verhalten,
dergestalt, daß ein anderer als bisher identifizierter
Sensortyp erst dann einwandfrei identifiziert wird, wenn
dies mehrfach erfolgt, beispielsweise zwanzigmal. Zu diesem
Zweck ist ein Zähler 18 vorgesehen, der je nachdem, ob
der bisher identifizierte Sensortyp wieder identifiziert
wurde, aufwärts oder bei Identifizierung eines bisher nicht
angeschlossenen Sensortyps abwärts zählt. Im stationären
Fall, bei dem ständig derselbe Sensortyp identifiziert
wird, ist der Zähler auf seinem vorgegebenen oberen Grenzwert
von z. B. 20. Wird zum erstenmal ein "neuer" Sensortyp identi
fiziert, so zählt der Zähler lediglich um eine 1 herunter,
also auf den Wert 19, was ansonsten noch keine Auswirkungen
hat. Erst wenn der Zähler auf einen vorgegebenen unteren
Grenzwert herabgezählt hat, wird ein Signal an den Speicher
16 gegeben, der dann die neuen Sensortypen übernimmt. Der
Speicher 16 enthält daher auch einen Vergleicher, der die
Werte der gespeicherten Sensortypen und der neu ermittelten
Sensortypen vergleicht und in Abhängigkeit von diesem Ver
gleich an den Zähler 18 einen Zählimpuls zum Aufwärts-
oder Abwärtszählen gibt. In ähnlicher Weise sendet auch
die Baueinheit 17 für die Plausibilitäts- und Fehlerprüfung
Aufwärts- oder Abwärts-Zählimpulse an den Zähler, der an
eine Auswerte- und Überwachungseinheit 19 erst dann ein
Fehlersignal liefert, wenn der entsprechende Fehler mehrfach
aufgetreten ist. Die Baueinheit 17 meldet dann gegebenenfalls
die Art des ermittelten Fehlers an die Auswerteeinheit
19.
Fig. 5 zeigt einen möglichen zeitlichen Verlauf des Zähl
inhaltes des Zählers 18. In der Initialisierungsphase des
Testüberwachungsgerätes kann vorgesehen sein, daß der Zähler
von einem Startwert Z8, der zwischen dem maximalen und dem
minimalen Zählinhalt liegt, anfängt und daß im Speicher
16 die Werte der beim letzten Betrieb ermittelten Sensortypen
gespeichert sind.
Es ist aber auch möglich, den Zähler in der Initialisierungs
phase beim unteren Grenzwert, z. B. bei 0, beginnen zu lassen
und die Werte in der ersten Testperiode in den Speicher
16 einzuschreiben, die entsprechenden Werte aber erst dann
an die Auswerteeinheit 19 weiterzugeben, wenn der Zähler
auf dem Wert Zmax (z. B. 20) angelangt ist. Dabei kann auch
vorgesehen sein, daß ein Freigabesignal für eine zu über
wachende Maschine erst dann erzeugt wird, wenn nach der
Initialisierungsphase eine vorgegebene Anzahl von Identifi
zierungsperioden durchlaufen ist und der Zählinhalt des
Zählers 18 einen vorgegebenen Wert überschritten hat.
Treten dagegen Fehler auf, so wird der Zählinhalt nach
jeder Periode dekrementiert, wobei Fehler solange toleriert
bzw. als "Störeinflüsse" angesehen werden, solange der
Zählinhalt zwischen dem Minimal- und dem Maximalwert liegt.
Hat der Zählinhalt beispielsweise einen Wert 10 und treten
in zehn aufeinanderfolgenden Identifizierungsperioden,
die jeweils z. B. 200 ms dauern, Fehler auf, so ist Z nach
2 s auf 0 "abintegriert", was als Kriterium zum Abschalten
der zu überwachenden Maschine angesehen wird.
Claims (10)
1. Vorrichtung zur Identifizierung und Funktionsüber
prüfung verschiedener Sensortypen, insbesondere von
in einer optoelektronischen Einrichtung verwendbaren
Sensoren mit einer Testüberwachungseinrichtung (6),
die mindestens zwei Testausgänge (T1, T2) aufweist,
an denen periodisch Testsignale (ST1, ST2) ausgegeben
werden und die eine gleiche Anzahl von Testeingängen
(S1, S2) zum Empfang von Sensorausgangssignalen (SS1,
SS2) aufweist sowie eine Prüfeinheit (15), die die
Testsignale (ST1, ST2) und die Sensorausgangssignale
(SS1, SS2) vergleicht, wobei unterschiedliche Sensor
typen in unterschiedlichen Anschlußkombinationen an
die Testausgänge (T1, T2) und/oder Testeingänge (S1,
S2) angeschlossen sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß bei einem ersten Sensortyp ein Sensor (11) zwischen
dem ersten Testausgang (T1) und dem ersten Testeingang
(S1) und der zweite Sensor (11') zwischen dem zweiten
Testausgang (T2) und dem zweiten Testeingang (S2)
angeschlossen ist, während
bei einem zweiten Sensortyp ein erster Sensor (3)
zwischen dem ersten Testausgang (T1) und dem zweiten
Testeingang (S2) und der zweite Sensor zwischen dem
zweiten Testausgang (T2) und dem ersten Testeingang
(S1) angeschlossen ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß bei einem dritten Sensortyp, der eine Selbst
testeinrichtung (12, 12') enthält, nur die Ausgänge
(8, 8') der Sensoren (3, 3') an die Testeingänge (S1,
S2) angeschlossen sind.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet,
daß die Testsignale (ST1, ST2) überlappungsfrei
gegeneinander zeitlich versetzt sind.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1, 2 oder 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Testsignale im aktiven Zustand einen niedrigen
Pegel und im inaktiven Zustand einen hohen Pegel haben.
6. Vorrichtung nach Anspruch 2, 4 oder 5, dadurch gekenn
zeichnet,
daß der eine Sensortyp die Testsignale unverzögert
und der andere Sensortyp die Testsignale zeitlich
verzögert (t3) durchschaltet.
7. Vorrichtung nach Anspruch 4 und 6, dadurch gekenn
zeichnet,
daß die Periode (tp) der Testsignale größer ist als
die Summe aus dem zeitlichen Versatz der Testsignale
und der Verzögerungszeit (t3) des einen Sensortyps.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch
gekennzeichnet,
daß die Testüberwachungseinrichtung (6) einen Zähler
(18) aufweist, der nach jeder Testperiode auf- oder
abinkrementiert wird in Abhängigkeit davon, ob während
dieser Testperiode der vorherige oder ein anderer
Sensortyp identifiziert wurde.
9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch
gekennzeichnet,
daß in Abhängigkeit von einem Vergleich der ausge
sandten Testsignale (ST1, ST2) und der empfangenen
Sensorsignale (SS1, SS2) eine Plausibilitäts- und
Fehlerprüfungseinheit (17) ein Fehlersignal erzeugt.
10. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch
gekennzeichnet,
daß zugeordnete Testausgänge (T1, T2) und Testeingänge
(S1, S2), zwischen denen kein Sensor liegt, mit einer
Drahtbrücke verbunden sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998147841 DE19847841C2 (de) | 1998-10-16 | 1998-10-16 | Vorrichtung zur Identifizierung und Funktionsüberprüfung von Sensoren |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998147841 DE19847841C2 (de) | 1998-10-16 | 1998-10-16 | Vorrichtung zur Identifizierung und Funktionsüberprüfung von Sensoren |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19847841A1 true DE19847841A1 (de) | 2000-05-04 |
DE19847841C2 DE19847841C2 (de) | 2002-08-01 |
Family
ID=7884750
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1998147841 Expired - Lifetime DE19847841C2 (de) | 1998-10-16 | 1998-10-16 | Vorrichtung zur Identifizierung und Funktionsüberprüfung von Sensoren |
Country Status (1)
Country | Link |
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