DE19835070B4 - Anordnung zur einstellbaren wellenlängenabhängigen Detektion in einem Fluoreszenzmikroskop - Google Patents
Anordnung zur einstellbaren wellenlängenabhängigen Detektion in einem Fluoreszenzmikroskop Download PDFInfo
- Publication number
- DE19835070B4 DE19835070B4 DE1998135070 DE19835070A DE19835070B4 DE 19835070 B4 DE19835070 B4 DE 19835070B4 DE 1998135070 DE1998135070 DE 1998135070 DE 19835070 A DE19835070 A DE 19835070A DE 19835070 B4 DE19835070 B4 DE 19835070B4
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- filter
- arrangement according
- wavelength
- arrangement
- adjustable
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Revoked
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
Anordnung
zur einstellbaren wellenlängenabhängigen Detektion
in einem Fluoreszenzmikroskop, vorzugsweise in einem Laser- Scanning-
Mikroskop, bestehend aus mindestens einer im Detektionsstrahlengang
angeordneten Kombination aus mindestens einem Kurzpaß – und mindestens
einem Langpaßfilter
zur Erzeugung eines einstellbaren Bandpasses.
Description
- In DE GM1827609 werden mehrere Kurzpassfilter im Beleuchtungsstrahlengang mit mehreren Langpassfiltern im Detektionsstrahlengang einstellbar kombiniert.
- In
DE 19702753 A1 erfolgt eine Aufteilung von Detektionskanälen mittels dichroitischer Strahlteiler, auch auswechselbar auf einem Teilerrevolver. - Die Erfindung betrifft die Hintereinanderschaltung von variablen oder diskreten Kurzpaß- und Langpaßfiltern zur Realisierung eines frei programmierbaren Bandpaßfilters für den Einsatz in der Fluoreszenzmikroskopie, insbesondere in einem Laser-Scanning-Mikroskop. Diese Filter können vorteilhaft auch an neu auf den Markt kommende Farbstoffe in der Fluoreszenzfärbung angepaßt werden.
- In
1 ist schematisch eine Mikroskopeinheit M und ein angekoppelter Scankopf S dargestellt. Im Mikroskop ist eine Lichtquelle LQ1 mit einer Beleuchtungsoptik vorgesehen, die über einen Strahlteiler ST1 das Objekt auf dem Mikroskoptisch T konventionell beleuchtet. Ein schwenkbarer Spiegel S3 dient zur Umschaltung auf Durchlichtbeleuchtung mittels einer Lichtquelle LQ2 über den Kondensor KO. - Über eine Tubuslinse TL und einen Spiegel S1 erfolgt die Beobachtung über ein Okular OK.
- Über diesen Spiegel oder Strahlteiler S1 wird weiterhin der Scanstrahlengang eingekoppelt, über die Scanlinse SL und den Scanner SC.
- Das Licht eines Lasers L wird über Verschluß V, Einkoppeloptik EO, Spiegel S2 und Strahlteiler ST2 in Richtung des Scanners SC eingekoppelt.
- Über den dichroitische Strahlteiler ST2 gelangt das vom Objekt kommende Reflexions- und/oder Fluoreszenzlicht über eine Kollimationsoptik KO und ein Pinhole PH auf einen Detektor, dem eine erfindungsgemäße Filtereinheit FE vorgeordnet ist, die in
1a schematisch vergrößert dargestellt ist. - Die Filtereinheit besteht vorteilhaft aus auswechselbaren Kurzpaß- und Langpaßfiltern, wodurch sich die Breite und der Schwerpunkt eines gewünschten Bandpasses einstellen lassen.
- Zusätzlich kann noch ein sogenannter „Notch"-Filter vorgesehen sein, der nur die Anregungswellenlänge mit hoher optischer Dichte unterdrückt, was die Nachweisempfindlichkeit für das Fluoreszenzlicht noch erhöht.
- Es können natürlich auch in mehreren Detektionskanälen die beschriebenen Filtereinheiten verwendet werden, wobei die Aufteilung der Detektionskanäle in bekannter Weise, beispielsweise gemäß
DE 19702753 A1 , mittels dichroitischer Strahlteiler, auch auswechselbar auf einem Teilerrevolver, zur groben Vorselektion des Spektralbereiches erfolgen kann und die Feineinstellung über die erfindungsgemäßen Filtereinheiten erfolgt. -
2a –d zeigen Beispiele von erfindungsgemäßen Filteranordnungen,2a hintereinandergeschaltete Filterschieber FS1, FS2 mit kreisförmigen Filtern F1 bzw. F2, wobei in optischen Achse A jeweils zwei unterschiedliche Filter miteinander kombiniert sind. - In
2b sind die Filter F1, F2 auf drehbaren Filterrädern FR1, FR2 angeordnet und miteinander in der optischen Achse A kombinierbar. - Besonders vorteilhaft ist die Kombination mindestens zweier kontinuierlicher Verlaufs-Kantenfilter VF1, VF2, in
2c kreisförmig und jeweils verdrehbar, in2d verschiebbar dargestellt. - Derartige Kantenfilter sind beispielsweise von COHERENT( Variable Edge- pass-Filters) erhältlich.
- In
2d sind die Verlaufskurven einzelner Filterabschnitte dargestellt, in VF 2 als Kurzpassfilter SP, in VF1 als Langpaßfilter LP. - In
3 ist anhand von zwei unterschiedlichen Einstellungen dargestellt, wie durch Kombination der Kurz- und Langpaßfilter und gegenseitige Verdrehung beliebig breite Bandpaßfilter für die zu detektierende Wellenlänge erzeugt werden kann. - Besonders vorteilhaft besteht hierdurch die Möglichkeit, komplette Fluoreszenzspektren von untersuchten exogenen oder endogenen Fluophoren in der Probe durch kontinuierliches schmalbandiges Durchscannen der Wellenlänge, im Sinne eines in der Wellenlänge variablen Monochromators, aufzunehmen. Dadurch kann durch Ansteuerung des Scanners, des Probentisches und der Detektion eine wellenlängenabhängige und zeitabhängige Detektion in x, y und z-Richtung erfolgen, wodurch die fünfdimensionale Generierung (x, y, z, t, λ) eines Probenbildes erfolgt, d.h. die Aufnahme eines Spektrums zu jedem Pixel und jeder zeit im Takt der jeweiligen Abtastung.
- Die erfindungsgemäßen Filtereinheiten können weiterhin vorteilhaft zur spektralen Selektion auf der Beleuchtungsseite eingesetzt werden, beispielsweise an der Stelle des Verschlusses V, beispielsweise zur spektralen Einengung einer breitbandigen Laserlichtquelle oder zur Wellenlängenselektion bei einer HBO oder HAL – Lampe.
Claims (8)
- Anordnung zur einstellbaren wellenlängenabhängigen Detektion in einem Fluoreszenzmikroskop, vorzugsweise in einem Laser- Scanning- Mikroskop, bestehend aus mindestens einer im Detektionsstrahlengang angeordneten Kombination aus mindestens einem Kurzpaß – und mindestens einem Langpaßfilter zur Erzeugung eines einstellbaren Bandpasses.
- Anordnung nach Anspruch 1, wobei mindestens ein Filter gegen einen anderen Filter anderer Wellenlängencharakteristik auswechselbar und/oder bezüglich seiner Wellenlängencharakteristik einstellbar ist.
- Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, wobei für Kurzpaß und/oder Langpaßfilter Filterwechsler vorgesehen sind.
- Anordnung nach Anspruch 3, wobei die Filterwechsler Filterschieber oder Filterräder sind.
- Anordnung nach einem der Ansprüche 1–4, mit mindestens einem dreh- und/oder verschiebbare kontinuierlich variierende Kurz und/oder Langgpaßfilter.
- Anordnung nach einem der Ansprüche 1–5, wobei die Filter und/oder Filterwechsler austauschbar sind.
- Anordnung nach einem der Ansprüche 1–6, wobei Filter und/oder Filterwechsler motorisch angetrieben werden.
- Verfahren zur Bildaufnahme unter Verwendung einer Anordnung nach einem derAnsprüche 1–7, vorzugsweise in einem Laser- Scanning- Mikroskop, mit einer Zeit- und wellenlängenabhängigen Aufnahme durch eine Detektionseinheit und Abspeicherung in einer Speichereinheit.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998135070 DE19835070B4 (de) | 1998-08-04 | 1998-08-04 | Anordnung zur einstellbaren wellenlängenabhängigen Detektion in einem Fluoreszenzmikroskop |
JP21781199A JP4608688B2 (ja) | 1998-08-04 | 1999-07-30 | レーザ走査蛍光顕微鏡および画像記録方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998135070 DE19835070B4 (de) | 1998-08-04 | 1998-08-04 | Anordnung zur einstellbaren wellenlängenabhängigen Detektion in einem Fluoreszenzmikroskop |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19835070A1 DE19835070A1 (de) | 2000-02-10 |
DE19835070B4 true DE19835070B4 (de) | 2006-03-16 |
Family
ID=7876336
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1998135070 Revoked DE19835070B4 (de) | 1998-08-04 | 1998-08-04 | Anordnung zur einstellbaren wellenlängenabhängigen Detektion in einem Fluoreszenzmikroskop |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4608688B2 (de) |
DE (1) | DE19835070B4 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2175301B2 (de) † | 2008-10-10 | 2015-04-15 | Carl Zeiss Microscopy GmbH | Verfahren zur Abbildung einer Probe mit einem Mikroskop, Mikroskop und Datenspeicher |
DE102020120114A1 (de) | 2020-07-30 | 2022-02-03 | Abberior Instruments Gmbh | Detektionseinrichtung für ein Laserscanning-Mikroskop |
Families Citing this family (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8071051B2 (en) | 2004-05-14 | 2011-12-06 | Honeywell International Inc. | Portable sample analyzer cartridge |
US8329118B2 (en) | 2004-09-02 | 2012-12-11 | Honeywell International Inc. | Method and apparatus for determining one or more operating parameters for a microfluidic circuit |
US7630063B2 (en) | 2000-08-02 | 2009-12-08 | Honeywell International Inc. | Miniaturized cytometer for detecting multiple species in a sample |
US7978329B2 (en) * | 2000-08-02 | 2011-07-12 | Honeywell International Inc. | Portable scattering and fluorescence cytometer |
US7471394B2 (en) | 2000-08-02 | 2008-12-30 | Honeywell International Inc. | Optical detection system with polarizing beamsplitter |
US7242474B2 (en) | 2004-07-27 | 2007-07-10 | Cox James A | Cytometer having fluid core stream position control |
DE20012378U1 (de) | 2000-07-17 | 2000-10-19 | Leica Microsystems | Anordnung zur spektral empfindlichen Auf- und Durchlichtbeleuchtung |
DE10148782A1 (de) * | 2001-09-28 | 2003-04-24 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Optisches Modulationselement |
DE10156695B4 (de) * | 2001-11-17 | 2004-07-15 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Scanmikroskop, Verfahren zur Scanmikroskopie und Bandpassfilter |
DE10309138A1 (de) * | 2003-02-28 | 2004-09-16 | Till I.D. Gmbh | Mikroskopvorrichtung |
DE102004029733B4 (de) | 2003-07-26 | 2022-03-31 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Rastermikroskop und Verfahren zur Rastermikroskopie |
JP2006189616A (ja) * | 2005-01-06 | 2006-07-20 | Nikon Corp | 光路切換装置及びこれを備える倒立顕微鏡 |
JP4987233B2 (ja) | 2005-01-06 | 2012-07-25 | オリンパス株式会社 | レーザ走査型顕微鏡 |
EP1875200A1 (de) | 2005-04-29 | 2008-01-09 | Honeywell International Inc. | Zytometerbasiertes verfahren zur zellzählung und grössenmessung |
US8273294B2 (en) | 2005-07-01 | 2012-09-25 | Honeywell International Inc. | Molded cartridge with 3-D hydrodynamic focusing |
CN101252994B (zh) | 2005-07-01 | 2011-04-13 | 霍尼韦尔国际公司 | 用于红血细胞分析的微流体卡 |
US8361410B2 (en) | 2005-07-01 | 2013-01-29 | Honeywell International Inc. | Flow metered analyzer |
US7843563B2 (en) | 2005-08-16 | 2010-11-30 | Honeywell International Inc. | Light scattering and imaging optical system |
DE102005059338A1 (de) | 2005-12-08 | 2007-06-14 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Untersuchung von Proben |
EP1963819A2 (de) | 2005-12-22 | 2008-09-03 | Honeywell International, Inc. | Tragbares probenanalysesystem |
EP1963817A2 (de) | 2005-12-22 | 2008-09-03 | Honeywell International Inc. | Kartusche für ein tragbares probenanalysegerät |
JP2009521683A (ja) | 2005-12-22 | 2009-06-04 | ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド | アナライザーシステム |
DE102006034908B4 (de) * | 2006-07-28 | 2023-01-26 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Laser-Scanning-Mikroskop |
US8037354B2 (en) | 2008-09-18 | 2011-10-11 | Honeywell International Inc. | Apparatus and method for operating a computing platform without a battery pack |
DE102009011681A1 (de) | 2009-02-23 | 2010-08-26 | Obrebski, Andreas, Dr. | Wechsler für optische Elemente |
DE102009012874B4 (de) | 2009-03-12 | 2017-08-17 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop, insbesondere Laser Scanning Mikroskop |
JP5271364B2 (ja) * | 2011-01-07 | 2013-08-21 | 富士フイルム株式会社 | 内視鏡システム |
US8741235B2 (en) | 2011-12-27 | 2014-06-03 | Honeywell International Inc. | Two step sample loading of a fluid analysis cartridge |
US8741234B2 (en) | 2011-12-27 | 2014-06-03 | Honeywell International Inc. | Disposable cartridge for fluid analysis |
US8663583B2 (en) | 2011-12-27 | 2014-03-04 | Honeywell International Inc. | Disposable cartridge for fluid analysis |
US8741233B2 (en) | 2011-12-27 | 2014-06-03 | Honeywell International Inc. | Disposable cartridge for fluid analysis |
JP6482486B2 (ja) | 2016-02-26 | 2019-03-13 | 富士フイルム株式会社 | 光検出装置 |
US9645291B1 (en) * | 2016-04-18 | 2017-05-09 | Ii-Vi Incorporated | Voltage-tunable optical filters for instrumentation applications |
CN109313326B (zh) * | 2016-05-19 | 2021-09-17 | 株式会社尼康 | 显微镜 |
WO2018089864A1 (en) * | 2016-11-12 | 2018-05-17 | Caliber Imaging & Diagnostics, Inc. | Confocal microscope with positionable imaging head |
JP7221617B2 (ja) * | 2018-08-29 | 2023-02-14 | キヤノン電子株式会社 | 光学フィルタモジュール及び光学装置 |
DE102018218046A1 (de) | 2018-10-22 | 2020-04-23 | Robert Bosch Gmbh | Filtervorrichtung für ein Optikmodul für ein Chiplabor-Analysegerät, Optikmodul für ein Chiplabor-Analysegerät und Verfahren zum Betreiben eines Optikmoduls für ein Chiplabor-Analysegerät |
JPWO2022210133A1 (de) | 2021-03-30 | 2022-10-06 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1827609U (de) * | 1960-01-14 | 1961-03-02 | Reichert Optische Werke Ag | Fluoreszenzeinrichtung fuer mikroskope. |
DE19702753A1 (de) * | 1997-01-27 | 1998-07-30 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Laser-Scanning-Mikroskop |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4800474A (en) * | 1986-05-15 | 1989-01-24 | Vari-Lite, Inc. | Color wheel assembly for lighting equipment |
JPH046502A (ja) * | 1990-04-24 | 1992-01-10 | Matsushita Electric Works Ltd | 可変色フィルタ装置 |
US5127730A (en) * | 1990-08-10 | 1992-07-07 | Regents Of The University Of Minnesota | Multi-color laser scanning confocal imaging system |
US5535052A (en) * | 1992-07-24 | 1996-07-09 | Carl-Zeiss-Stiftung | Laser microscope |
JPH06265791A (ja) * | 1993-03-11 | 1994-09-22 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | レーザ顕微鏡 |
JP3076715B2 (ja) * | 1994-03-03 | 2000-08-14 | 浜松ホトニクス株式会社 | 共焦点走査型顕微鏡 |
JP3400534B2 (ja) * | 1994-05-24 | 2003-04-28 | オリンパス光学工業株式会社 | 走査型光学顕微鏡 |
JP3425810B2 (ja) * | 1994-07-27 | 2003-07-14 | オリンパス光学工業株式会社 | 光学系切換装置 |
JPH08178849A (ja) * | 1994-12-21 | 1996-07-12 | Olympus Optical Co Ltd | 蛍光測光装置および蛍光測光方法 |
JPH1096697A (ja) * | 1997-10-20 | 1998-04-14 | Olympus Optical Co Ltd | 蛍光顕微鏡装置 |
-
1998
- 1998-08-04 DE DE1998135070 patent/DE19835070B4/de not_active Revoked
-
1999
- 1999-07-30 JP JP21781199A patent/JP4608688B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1827609U (de) * | 1960-01-14 | 1961-03-02 | Reichert Optische Werke Ag | Fluoreszenzeinrichtung fuer mikroskope. |
DE19702753A1 (de) * | 1997-01-27 | 1998-07-30 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Laser-Scanning-Mikroskop |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2175301B2 (de) † | 2008-10-10 | 2015-04-15 | Carl Zeiss Microscopy GmbH | Verfahren zur Abbildung einer Probe mit einem Mikroskop, Mikroskop und Datenspeicher |
DE102020120114A1 (de) | 2020-07-30 | 2022-02-03 | Abberior Instruments Gmbh | Detektionseinrichtung für ein Laserscanning-Mikroskop |
WO2022023501A1 (de) | 2020-07-30 | 2022-02-03 | Abberior Instruments Gmbh | Detektionseinrichtung für ein laserscanning-mikroskop |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4608688B2 (ja) | 2011-01-12 |
JP2000056228A (ja) | 2000-02-25 |
DE19835070A1 (de) | 2000-02-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19835070B4 (de) | Anordnung zur einstellbaren wellenlängenabhängigen Detektion in einem Fluoreszenzmikroskop | |
DE19702753C2 (de) | Laser-Scanning-Mikroskop | |
EP3173838B1 (de) | Mikroskop mit einem lichtblatt | |
EP2480923B1 (de) | Mikroskop | |
DE19861383B4 (de) | Laserscanmikroskop | |
DE102009044986A1 (de) | Mikroskop | |
DE102009044987A1 (de) | Mikroskop | |
EP0977069A2 (de) | Verfahren und Anordnung zur konfokalen Mikroskopie | |
DE19835072A1 (de) | Anordnung zur Beleuchtung und/oder Detektion in einem Mikroskop | |
EP2516993A1 (de) | Hochauflösendes mikroskop und verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen positionsbestimmung von objekten | |
DE102004034962A1 (de) | Mikroskop mit erhöhter Auflösung | |
WO1998003892A1 (de) | Konfokales mikroskop mit einem doppelobjektiv-system | |
DE10243449A1 (de) | Cars-Mikroskop und Verfahren zur Cars-Mikroskopie | |
EP1255105A1 (de) | Verfahren zur Untersuchung einer Probe und Scanmikroskop | |
DE102004016253B4 (de) | Rastermikroskop und Verfahren zur rastermikroskopischen Untersuchung einer Probe | |
DE10120424B4 (de) | Scanmikroskop und Auskoppelelement | |
EP1281997B1 (de) | Scanmikroskop | |
DE102004034996A1 (de) | Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung | |
DE2407270C2 (de) | Vergleichsmikroskop | |
DE102004029733B4 (de) | Rastermikroskop und Verfahren zur Rastermikroskopie | |
DE10132638A1 (de) | Scanmikroskop und Verfahren zur wellenlängenabhängigen Detektion | |
EP3834701A1 (de) | Medizinische bildgebungsvorrichtung | |
DE102020123365A1 (de) | Operationsmikroskop mit mindestens zwei Kameraeinrichtungen | |
AT402862B (de) | Mikroskop zur untersuchung, messung und/oder abbildung von objekten geringer dimension mit erhöhter tiefenschärfe | |
DE102022129909A1 (de) | Beleuchtungsvorrichtung und Bildgebungsvorrichtung mit einer Beleuchtungsvorrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8363 | Opposition against the patent | ||
8331 | Complete revocation |