DE19835070B4 - Anordnung zur einstellbaren wellenlängenabhängigen Detektion in einem Fluoreszenzmikroskop - Google Patents

Anordnung zur einstellbaren wellenlängenabhängigen Detektion in einem Fluoreszenzmikroskop Download PDF

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Abstract

Anordnung zur einstellbaren wellenlängenabhängigen Detektion in einem Fluoreszenzmikroskop, vorzugsweise in einem Laser- Scanning- Mikroskop, bestehend aus mindestens einer im Detektionsstrahlengang angeordneten Kombination aus mindestens einem Kurzpaß – und mindestens einem Langpaßfilter zur Erzeugung eines einstellbaren Bandpasses.

Description

  • In DE GM1827609 werden mehrere Kurzpassfilter im Beleuchtungsstrahlengang mit mehreren Langpassfiltern im Detektionsstrahlengang einstellbar kombiniert.
  • In DE 19702753 A1 erfolgt eine Aufteilung von Detektionskanälen mittels dichroitischer Strahlteiler, auch auswechselbar auf einem Teilerrevolver.
  • Die Erfindung betrifft die Hintereinanderschaltung von variablen oder diskreten Kurzpaß- und Langpaßfiltern zur Realisierung eines frei programmierbaren Bandpaßfilters für den Einsatz in der Fluoreszenzmikroskopie, insbesondere in einem Laser-Scanning-Mikroskop. Diese Filter können vorteilhaft auch an neu auf den Markt kommende Farbstoffe in der Fluoreszenzfärbung angepaßt werden.
  • In 1 ist schematisch eine Mikroskopeinheit M und ein angekoppelter Scankopf S dargestellt. Im Mikroskop ist eine Lichtquelle LQ1 mit einer Beleuchtungsoptik vorgesehen, die über einen Strahlteiler ST1 das Objekt auf dem Mikroskoptisch T konventionell beleuchtet. Ein schwenkbarer Spiegel S3 dient zur Umschaltung auf Durchlichtbeleuchtung mittels einer Lichtquelle LQ2 über den Kondensor KO.
  • Über eine Tubuslinse TL und einen Spiegel S1 erfolgt die Beobachtung über ein Okular OK.
  • Über diesen Spiegel oder Strahlteiler S1 wird weiterhin der Scanstrahlengang eingekoppelt, über die Scanlinse SL und den Scanner SC.
  • Das Licht eines Lasers L wird über Verschluß V, Einkoppeloptik EO, Spiegel S2 und Strahlteiler ST2 in Richtung des Scanners SC eingekoppelt.
  • Über den dichroitische Strahlteiler ST2 gelangt das vom Objekt kommende Reflexions- und/oder Fluoreszenzlicht über eine Kollimationsoptik KO und ein Pinhole PH auf einen Detektor, dem eine erfindungsgemäße Filtereinheit FE vorgeordnet ist, die in 1a schematisch vergrößert dargestellt ist.
  • Die Filtereinheit besteht vorteilhaft aus auswechselbaren Kurzpaß- und Langpaßfiltern, wodurch sich die Breite und der Schwerpunkt eines gewünschten Bandpasses einstellen lassen.
  • Zusätzlich kann noch ein sogenannter „Notch"-Filter vorgesehen sein, der nur die Anregungswellenlänge mit hoher optischer Dichte unterdrückt, was die Nachweisempfindlichkeit für das Fluoreszenzlicht noch erhöht.
  • Es können natürlich auch in mehreren Detektionskanälen die beschriebenen Filtereinheiten verwendet werden, wobei die Aufteilung der Detektionskanäle in bekannter Weise, beispielsweise gemäß DE 19702753 A1 , mittels dichroitischer Strahlteiler, auch auswechselbar auf einem Teilerrevolver, zur groben Vorselektion des Spektralbereiches erfolgen kann und die Feineinstellung über die erfindungsgemäßen Filtereinheiten erfolgt.
  • 2a–d zeigen Beispiele von erfindungsgemäßen Filteranordnungen, 2a hintereinandergeschaltete Filterschieber FS1, FS2 mit kreisförmigen Filtern F1 bzw. F2, wobei in optischen Achse A jeweils zwei unterschiedliche Filter miteinander kombiniert sind.
  • In 2b sind die Filter F1, F2 auf drehbaren Filterrädern FR1, FR2 angeordnet und miteinander in der optischen Achse A kombinierbar.
  • Besonders vorteilhaft ist die Kombination mindestens zweier kontinuierlicher Verlaufs-Kantenfilter VF1, VF2, in 2c kreisförmig und jeweils verdrehbar, in 2d verschiebbar dargestellt.
  • Derartige Kantenfilter sind beispielsweise von COHERENT( Variable Edge- pass-Filters) erhältlich.
  • In 2d sind die Verlaufskurven einzelner Filterabschnitte dargestellt, in VF 2 als Kurzpassfilter SP, in VF1 als Langpaßfilter LP.
  • In 3 ist anhand von zwei unterschiedlichen Einstellungen dargestellt, wie durch Kombination der Kurz- und Langpaßfilter und gegenseitige Verdrehung beliebig breite Bandpaßfilter für die zu detektierende Wellenlänge erzeugt werden kann.
  • Besonders vorteilhaft besteht hierdurch die Möglichkeit, komplette Fluoreszenzspektren von untersuchten exogenen oder endogenen Fluophoren in der Probe durch kontinuierliches schmalbandiges Durchscannen der Wellenlänge, im Sinne eines in der Wellenlänge variablen Monochromators, aufzunehmen. Dadurch kann durch Ansteuerung des Scanners, des Probentisches und der Detektion eine wellenlängenabhängige und zeitabhängige Detektion in x, y und z-Richtung erfolgen, wodurch die fünfdimensionale Generierung (x, y, z, t, λ) eines Probenbildes erfolgt, d.h. die Aufnahme eines Spektrums zu jedem Pixel und jeder zeit im Takt der jeweiligen Abtastung.
  • Die erfindungsgemäßen Filtereinheiten können weiterhin vorteilhaft zur spektralen Selektion auf der Beleuchtungsseite eingesetzt werden, beispielsweise an der Stelle des Verschlusses V, beispielsweise zur spektralen Einengung einer breitbandigen Laserlichtquelle oder zur Wellenlängenselektion bei einer HBO oder HAL – Lampe.

Claims (8)

  1. Anordnung zur einstellbaren wellenlängenabhängigen Detektion in einem Fluoreszenzmikroskop, vorzugsweise in einem Laser- Scanning- Mikroskop, bestehend aus mindestens einer im Detektionsstrahlengang angeordneten Kombination aus mindestens einem Kurzpaß – und mindestens einem Langpaßfilter zur Erzeugung eines einstellbaren Bandpasses.
  2. Anordnung nach Anspruch 1, wobei mindestens ein Filter gegen einen anderen Filter anderer Wellenlängencharakteristik auswechselbar und/oder bezüglich seiner Wellenlängencharakteristik einstellbar ist.
  3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, wobei für Kurzpaß und/oder Langpaßfilter Filterwechsler vorgesehen sind.
  4. Anordnung nach Anspruch 3, wobei die Filterwechsler Filterschieber oder Filterräder sind.
  5. Anordnung nach einem der Ansprüche 1–4, mit mindestens einem dreh- und/oder verschiebbare kontinuierlich variierende Kurz und/oder Langgpaßfilter.
  6. Anordnung nach einem der Ansprüche 1–5, wobei die Filter und/oder Filterwechsler austauschbar sind.
  7. Anordnung nach einem der Ansprüche 1–6, wobei Filter und/oder Filterwechsler motorisch angetrieben werden.
  8. Verfahren zur Bildaufnahme unter Verwendung einer Anordnung nach einem derAnsprüche 1–7, vorzugsweise in einem Laser- Scanning- Mikroskop, mit einer Zeit- und wellenlängenabhängigen Aufnahme durch eine Detektionseinheit und Abspeicherung in einer Speichereinheit.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2175301B2 (de) 2008-10-10 2015-04-15 Carl Zeiss Microscopy GmbH Verfahren zur Abbildung einer Probe mit einem Mikroskop, Mikroskop und Datenspeicher
DE102020120114A1 (de) 2020-07-30 2022-02-03 Abberior Instruments Gmbh Detektionseinrichtung für ein Laserscanning-Mikroskop

Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8071051B2 (en) 2004-05-14 2011-12-06 Honeywell International Inc. Portable sample analyzer cartridge
US8329118B2 (en) 2004-09-02 2012-12-11 Honeywell International Inc. Method and apparatus for determining one or more operating parameters for a microfluidic circuit
US7630063B2 (en) 2000-08-02 2009-12-08 Honeywell International Inc. Miniaturized cytometer for detecting multiple species in a sample
US7978329B2 (en) * 2000-08-02 2011-07-12 Honeywell International Inc. Portable scattering and fluorescence cytometer
US7471394B2 (en) 2000-08-02 2008-12-30 Honeywell International Inc. Optical detection system with polarizing beamsplitter
US7242474B2 (en) 2004-07-27 2007-07-10 Cox James A Cytometer having fluid core stream position control
DE20012378U1 (de) 2000-07-17 2000-10-19 Leica Microsystems Anordnung zur spektral empfindlichen Auf- und Durchlichtbeleuchtung
DE10148782A1 (de) * 2001-09-28 2003-04-24 Zeiss Carl Jena Gmbh Optisches Modulationselement
DE10156695B4 (de) * 2001-11-17 2004-07-15 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanmikroskop, Verfahren zur Scanmikroskopie und Bandpassfilter
DE10309138A1 (de) * 2003-02-28 2004-09-16 Till I.D. Gmbh Mikroskopvorrichtung
DE102004029733B4 (de) 2003-07-26 2022-03-31 Leica Microsystems Cms Gmbh Rastermikroskop und Verfahren zur Rastermikroskopie
JP2006189616A (ja) * 2005-01-06 2006-07-20 Nikon Corp 光路切換装置及びこれを備える倒立顕微鏡
JP4987233B2 (ja) 2005-01-06 2012-07-25 オリンパス株式会社 レーザ走査型顕微鏡
EP1875200A1 (de) 2005-04-29 2008-01-09 Honeywell International Inc. Zytometerbasiertes verfahren zur zellzählung und grössenmessung
US8273294B2 (en) 2005-07-01 2012-09-25 Honeywell International Inc. Molded cartridge with 3-D hydrodynamic focusing
CN101252994B (zh) 2005-07-01 2011-04-13 霍尼韦尔国际公司 用于红血细胞分析的微流体卡
US8361410B2 (en) 2005-07-01 2013-01-29 Honeywell International Inc. Flow metered analyzer
US7843563B2 (en) 2005-08-16 2010-11-30 Honeywell International Inc. Light scattering and imaging optical system
DE102005059338A1 (de) 2005-12-08 2007-06-14 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur Untersuchung von Proben
EP1963819A2 (de) 2005-12-22 2008-09-03 Honeywell International, Inc. Tragbares probenanalysesystem
EP1963817A2 (de) 2005-12-22 2008-09-03 Honeywell International Inc. Kartusche für ein tragbares probenanalysegerät
JP2009521683A (ja) 2005-12-22 2009-06-04 ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド アナライザーシステム
DE102006034908B4 (de) * 2006-07-28 2023-01-26 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop
US8037354B2 (en) 2008-09-18 2011-10-11 Honeywell International Inc. Apparatus and method for operating a computing platform without a battery pack
DE102009011681A1 (de) 2009-02-23 2010-08-26 Obrebski, Andreas, Dr. Wechsler für optische Elemente
DE102009012874B4 (de) 2009-03-12 2017-08-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop, insbesondere Laser Scanning Mikroskop
JP5271364B2 (ja) * 2011-01-07 2013-08-21 富士フイルム株式会社 内視鏡システム
US8741235B2 (en) 2011-12-27 2014-06-03 Honeywell International Inc. Two step sample loading of a fluid analysis cartridge
US8741234B2 (en) 2011-12-27 2014-06-03 Honeywell International Inc. Disposable cartridge for fluid analysis
US8663583B2 (en) 2011-12-27 2014-03-04 Honeywell International Inc. Disposable cartridge for fluid analysis
US8741233B2 (en) 2011-12-27 2014-06-03 Honeywell International Inc. Disposable cartridge for fluid analysis
JP6482486B2 (ja) 2016-02-26 2019-03-13 富士フイルム株式会社 光検出装置
US9645291B1 (en) * 2016-04-18 2017-05-09 Ii-Vi Incorporated Voltage-tunable optical filters for instrumentation applications
CN109313326B (zh) * 2016-05-19 2021-09-17 株式会社尼康 显微镜
WO2018089864A1 (en) * 2016-11-12 2018-05-17 Caliber Imaging & Diagnostics, Inc. Confocal microscope with positionable imaging head
JP7221617B2 (ja) * 2018-08-29 2023-02-14 キヤノン電子株式会社 光学フィルタモジュール及び光学装置
DE102018218046A1 (de) 2018-10-22 2020-04-23 Robert Bosch Gmbh Filtervorrichtung für ein Optikmodul für ein Chiplabor-Analysegerät, Optikmodul für ein Chiplabor-Analysegerät und Verfahren zum Betreiben eines Optikmoduls für ein Chiplabor-Analysegerät
JPWO2022210133A1 (de) 2021-03-30 2022-10-06

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1827609U (de) * 1960-01-14 1961-03-02 Reichert Optische Werke Ag Fluoreszenzeinrichtung fuer mikroskope.
DE19702753A1 (de) * 1997-01-27 1998-07-30 Zeiss Carl Jena Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4800474A (en) * 1986-05-15 1989-01-24 Vari-Lite, Inc. Color wheel assembly for lighting equipment
JPH046502A (ja) * 1990-04-24 1992-01-10 Matsushita Electric Works Ltd 可変色フィルタ装置
US5127730A (en) * 1990-08-10 1992-07-07 Regents Of The University Of Minnesota Multi-color laser scanning confocal imaging system
US5535052A (en) * 1992-07-24 1996-07-09 Carl-Zeiss-Stiftung Laser microscope
JPH06265791A (ja) * 1993-03-11 1994-09-22 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd レーザ顕微鏡
JP3076715B2 (ja) * 1994-03-03 2000-08-14 浜松ホトニクス株式会社 共焦点走査型顕微鏡
JP3400534B2 (ja) * 1994-05-24 2003-04-28 オリンパス光学工業株式会社 走査型光学顕微鏡
JP3425810B2 (ja) * 1994-07-27 2003-07-14 オリンパス光学工業株式会社 光学系切換装置
JPH08178849A (ja) * 1994-12-21 1996-07-12 Olympus Optical Co Ltd 蛍光測光装置および蛍光測光方法
JPH1096697A (ja) * 1997-10-20 1998-04-14 Olympus Optical Co Ltd 蛍光顕微鏡装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1827609U (de) * 1960-01-14 1961-03-02 Reichert Optische Werke Ag Fluoreszenzeinrichtung fuer mikroskope.
DE19702753A1 (de) * 1997-01-27 1998-07-30 Zeiss Carl Jena Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2175301B2 (de) 2008-10-10 2015-04-15 Carl Zeiss Microscopy GmbH Verfahren zur Abbildung einer Probe mit einem Mikroskop, Mikroskop und Datenspeicher
DE102020120114A1 (de) 2020-07-30 2022-02-03 Abberior Instruments Gmbh Detektionseinrichtung für ein Laserscanning-Mikroskop
WO2022023501A1 (de) 2020-07-30 2022-02-03 Abberior Instruments Gmbh Detektionseinrichtung für ein laserscanning-mikroskop

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JP2000056228A (ja) 2000-02-25
DE19835070A1 (de) 2000-02-10

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