DE19815957A1 - Verfahren und Schaltungsanordnung zur gleichmäßigen Aufteilung der Sperrspannung in einer Reihenschaltung gategesteuerter Halbleiter - Google Patents
Verfahren und Schaltungsanordnung zur gleichmäßigen Aufteilung der Sperrspannung in einer Reihenschaltung gategesteuerter HalbleiterInfo
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Abstract
Da die Abschaltverzugszeit gategesteuerter Halbleiter, beispielsweise GTO-Thyristoren, exemplarabhängig ist, tritt bei einer Reihenschaltung eine ungleichmäßige Spannungsverteilung an den GTO-Thyristoren auf, die zu deren Zerstörung führen kann. Durch exemplarabhängige Bestimmung der zeitlichen Lage der Ausschaltsignale für die GTO-Thyristoren kann eine gleichmäßige Spannungsaufteilung erreicht werden. Bekannte Lösungen haben aber den Nachteil, daß Fehlfunktionen auftreten, wenn ein oder mehrere GTO-Thyristoren durchlegieren und funktionsunfähig werden. Mit der erfindungsgemäßen Lösung wird erreicht, daß das Verfahren auch zuverlässig arbeitet, wenn GTO-Thyristoren ausfallen. Dazu wird durch Überlagerung einer rampenförmigen Spannung mit der aktuellen Sperrspannung eines GTO-Thyristors ein Rückmeldeimpuls erzeugt, dessen zeitliche Lage ein Maß für den Wert der Sperrspannung ist und der zur Steuerung von Zählern verwendet wird. Aus dem Zählerstand läßt sich der Zeitpunkt für den Löschimpuls ermitteln. Die Lösung ist universell in Zweigen beliebiger Stromrichterschaltung einsetzbar.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Schaltungsanordnung zur
gleichmäßigen Aufteilung der Sperrspannung für den Fall, daß mindestens
zwei gategesteuerte Halbleiter, insbesondere GTO-Thyristoren, in Reihe
geschaltet sind. Eine solche Reihenschaltung von gategesteuerten
Halbleitern ist immer dann erforderlich, wenn beispielsweise die Spannung
in einem Stromrichterzweig die Sperrspannung eines einzelnen
gategesteuerten Halbleiters überschreitet. Es ist allgemein bekannt, daß die
Abschaltverzugszeit gategesteuerter Halbleiter exemplarabhängig ist und
bei einer Reihenschaltung zu einer ungleichmäßigen Spannungsverteilung
an den einzelnen gategesteuerten Halbleitern führt. Falls beispielsweise der
Anstieg der Sperrspannung 1 kV/µs beträgt und der Unterschied in der
Abschaltverzugszeit bei zwei gategesteuerten Halbleitern 1 µs ist, so würde
der eine gategesteuerte Halbleiter gegenüber dem anderen um 1 kV mehr
beansprucht werden. In ungünstigen Fällen kann das zu einer Zerstörung
eines gategesteuerten Halbleiters führen.
Zur Vergleichmäßigung der Spannungsaufteilung an einer Reihenschaltung
unterschiedlich lange Abschaltzeiten aufweisender, gategesteuerter
Halbleiter ist bereits ein Verfahren angegeben worden, mit dem die
tatsächliche Spannung an jedem Halbleiter mit dem auf ihn entfallenen Teil
der Gesamtspannung an der Reihenschaltung verglichen wird,
vgl. EP-B1-0 288 422. Das Verfahren ist für einen Umrichter mit
Spannungszwischenkreis vorgesehen. Bei diesem Verfahren werden die
Sperrspannungen der Halbleiter zu unterschiedlichen Zeitpunkten
abgetastet. Das würde bei Stromzwischenkreisumrichtern, bei denen sich
die Sperrspannung während der Sperrphase ändert, zu falschen
Ergebnissen führen.
Weiterhin ist eine Schaltungsanordnung zur Symmetrierung der
Spannungsaufteilung beim Abschalten einer Reihenschaltung
gategesteuerter Leistungshalbleiterschalter im Spannungszwischenkreis-
Stromrichter bekannt, bei der in Abhängigkeit von der mit einer
Meßeinrichtung gemessenen Sperrspannung einer Freilaufdiode, die jedem
gategesteuerten Leistungshalbleiterschalter zugeordnet ist, das Schaltsignal
für den gategesteuerten Leistungshalbleiterschalter im Sinne einer
Symmetrierung der Spannung an den Leistungshalbleiterschaltern
verschoben wird, vgl. DE-C1-195 39 554. Diese Schaltungsanordnung ist
speziell für einen Spannungszwischenkreis-Stromrichter konzipiert. Bei
einem Stromrichter mit Stromzwischenkreis sind die genannten
Freilaufdioden nicht vorhanden, so daß die Anwendung der beschriebenen
Schaltungsanordnung auf ein bestimmtes Einsatzgebiet beschränkt ist.
In einer weiteren Anmeldung ist ein Verfahren und eine Vorrichtung zur
Vergleichmäßigung der Spannungsaufteilung seriengeschalteter,
gategesteuerter Halbleiter beschrieben worden, vgl. WO 95/25 383. Es
wird ein sogenanntes lernfähiges Verfahren angegeben, bei dem der
Laststrom der gategesteuerten Halbleiter stufenweise erhöht wird und bei
einem Lernvorgang eine diesen Lastströmen zugeordnete Tabelle der
Ausschaltverzögerungen interaktiv ermittelt und abgespeichert wird. Eine
Erfassung der statischen Sperrspannungen erfolgt durch ein parallel zu der
Serienschaltung der gategesteuerten Halbleiter angeordnetes
Spannungsteilernetzwerk. Die Spannungsdifferenz zwischen den jeweils
zugeordneten Verbindungspunkten der Serienschaltungen aus
gategesteuerten Halbleitern und Spannungsteilernetzwerk wird mit dem
Verfahren zu Null geregelt. Diese Verfahrensweise hat jedoch den Nachteil,
daß eine Fehlmessung der Spannungsdifferenzen erfolgt, sobald ein
gategesteuerter Halbleiter in der Serienschaltung durchlegiert und somit
unerwünscht leitend wird.
Mit der Erfindung soll nun die Aufgabe gelöst werden, ein Verfahren und
eine Schaltungsanordnung anzugeben, die universell bei
Reihenschaltungen von gategesteuerten Halbleitern in Zweigen beliebiger
Stromrichterschaltungen einsetzbar sind und die insbesondere den Einsatz
redundanter gategesteuerter Halbleiter ermöglichen, so daß eine sichere
Funktion des Verfahrens auch bei der Zerstörung einzelner gategesteuerter
Halbleiter gewährleistet ist.
Diese Aufgabe wird mit dem im ersten Anspruch beschriebenen Verfahren
und der im vierten Anspruch beschriebenen Schaltungsanordnung gelöst.
Das Wesen der Erfindung besteht darin, daß aus der Überlagerung einer
Spannungsmeßrampe mit den aktuellen Sperrspannungen der
gategesteuerten Halbleiter Rückmeldeimpulse abgeleitet werden, mit denen
Zähler so angesteuert werden, daß durch einen Regelvorgang die
Rückmeldeimpulse zum gleichen Zeitpunkt erscheinen und somit
signalisieren, daß die Aufteilung der Sperrspannungen der gategesteuerten
Halbleiter gleichmäßig ist.
Die Erfindung wird nunmehr an einem Ausführungsbeispiel erläutert. Da
das Problem der unterschiedlichen Abschaltverzugszeit bei gleichzeitigem
Löschbeginn in praktischen Fällen insbesondere bei der Reihenschaltung
von GTO-Thyristoren von Bedeutung ist, wird das Ausführungsbeispiel bei
Verwendung von GTO-Thyristoren beschrieben.
In der zugehörigen Zeichnung zeigen
Fig. 1 ein Schaltbild einer Reihenschaltung von GTO-Thyristoren mit
zugehörigen Ansteuerschaltungen,
Fig. 2 ein detailliertes Schaltbild einer Ansteuerschaltung,
Fig. 3a, 3b, 3c, 3d und 3e eine Darstellung der wichtigsten
Zeitfunktionen der Signale der Ansteuerschaltung.
Gemäß Fig. 1 besteht die Schaltungsanordnung aus einer Reihenschaltung
von GTO-Thyristoren Gto 1, Gto 2, Gto 3 . . . Gto N, die an einer
Gesamtspannung U liegen.
Jedem GTO-Thyristor Gto 1, Gto 2, Gto 3 . . . Gto N ist eine
Ansteuerschaltung 1, 2, 3 . . . N und eine Schnittstellenschaltung 11, 22,
33 . . . NN zugeordnet. Für alle Ansteuerschaltungen 1, 2, 3 . . . N ist zentral
ein Quarzgenerator Q vorgesehen. Jede Ansteuerschaltung 1, 2, 3 . . . N
besteht aus einem Reglerzähler Z 11, Z 12, Z 13 . . . . . Z 1N, einem
Verzögerungszähler Z 21, Z 22, Z 23 . . . . . Z 2N sowie aus einer logischen
Schaltung LC 1, LC 2, LC 3 . . . LC N. Jeder Ansteuerschaltung 1, 2, 3 . . . N
ist ein Speicherbereich S 1, S 2, S 3 . . . S N eines zentralen Speichers S
zugeordnet.
In Fig. 2 sind die Verknüpfungen der einzelnen Baugruppen einer
Ansteuerschaltung mit folgenden allgemein zutreffenden Bezeichnungen
dargestellt: Quarzgenerator Q, Reglerzähler Z 1, Verzögerungszähler Z 2,
logische Schaltung LC und Speicher S.
Da die Schaltungsanordnung wie ein geschlossener Regelkreis arbeitet, wird
die Beschreibung der Wirkungsweise an einem Punkt des Regelkreises
begonnen, und zwar bei dem Beginn des zentralen Einschaltsignales für
alle GTO-Thyristoren Gto 1, Gto 2, Gto 3 . . . Gto N. Zur Erläuterung des
zeitlichen Ablaufs sind in Fig. 3a, 3b, 3c, 3d und 3e die wesentlichen
Zeitdiagramme dargestellt.
Mit der ansteigenden Flanke des zentralen Einschaltsignals zur Zeit
t 1, siehe Fig. 3a, wird die Durchschaltphase mit einem Doppelimpuls, der
von den Schnittstellenschaltungen 11, 22, 33 . . . NN erzeugt wird, siehe
Fig. 3b, bei allen GTO-Thyristoren Gto 1, Gto 2, Gto 3 . . . Gto N
gleichzeitig eingeleitet. Da die Abschaltzeit der GTO-Thyristoren Gto 1,
Gto 2, Gto 3 . . . Gto N stromabhängig ist, wird in Abhängigkeit von dem
während der vorherigen Durchschaltphase gemessenen Strom I ein diesem
Strom entsprechender digitaler Wert D1 vom Reglerzähler Z1 in den
Speicher S abgelegt. Mit der Rückflanke des zentralen Einschaltsignals zur
Zeit t 2, siehe Fig. 3a, wird das zu dem aktuell gemessenen Strom I
zugeordnete Datenwort D 1 in den Reglerzähler Z 1 sowie ein für die
Verzögerung des Ausschaltsignals maßgebendes Datenwort D 2 in den
Verzögerungszähler Z 2 geladen.
Das Datenwort D 2 entspricht dem Datenwort D 1, hat haber im
allgemeinen weniger niedrigwertige Binärstellen. Unverzüglich nach dem
Laden des Datenwortes D 1 in den Reglerzähler Z 1 und des Datenwortes
D 2 in den Verzögerungszähler Z 2 wird der Verzögerungszähler Z 2, ein
Abwärtszähler, gestartet, der bei dem Zählerstand Null ein Ausschaltsignal
zur Zeit t 3, siehe Fig. 3c, über die zugeordnete Schnittstellenschaltung an
den GTO-Thyristor abgibt. Die Zeitdifferenz t 3-t 2 gibt die
Verzögerungszeit zwischen Rückflanke des zentralen Einschaltsignals und
tatsächlichem Ausschaltsignal für den GTO-Thyristor wieder und ist eine
exemplarabhängige Größe. Der GTO-Thyristor mit der größten
Freiwerdezeit erhält das Ausschaltsignal zuerst, der GTO-Thyristor mit der
kleinsten Freiwerdezeit erhält das Ausschaltsignal zuletzt. Mit dem
erfindungsgemäßen Verfahren wird erreicht, daß das Sperren der GTO-
Thyristoren durch entsprechende zeitliche Zuordnung der Ausschaltsignale
zum gleichen Zeitpunkt erfolgt und somit die Sperrspannung an der
Reihenschaltung der GTO-Thyristoren gleichmäßig aufgeteilt wird.
Von dem Verzögerungszähler Z 21, Z 22, Z 23 . . . Z 2N, der als erster den
Zählerstand Null erreicht hat, wird eine monostabile Kippstufe getriggert,
die nach beispielsweise 10 µs bis 20 µs zum Zeitpunkt t 4, siehe Fig. 3c,
einen Rampe-Start-Impuls abgibt, der bei allen Schnittstellenschaltungen
11, 22, 33 . . . NN eine Spannungsmeßrampe MR, siehe Fig. 3d, startet. Die
Spannungsmeßrampe kann beispielsweise von einem D/A-Wandler
abgenommen werden, der an einem quarzgetriggerten Zähler
angeschlossen ist.
Die Triggerimpulse für den quarzgetriggerten Zähler können entweder von
einem Quarzgenerator in der jeweiligen Schnittstellenschaltung 11, 12, 13
oder von dem zentralen Quarzgenerator Q abgeleitet werden.
Sobald der Wert der Spannung der Spannungsmeßrampe die Spannung
U 1, U 2, U 3 am GTO-Thyristor Gto 1, Gto 2, Gto 3 erreicht, wird von der
Schnittstellenschaltung 11, 12, 13 zur Zeit t 7, t 6, t 5 ein Rückmeldeimpuls
RI 3, RI 2, RI 1 erzeugt, siehe Fig. 3d, 3e.
Für die Erzeugung der Rückmeldeimpulse RI 3, RI 2, RI 1 kann die aktuelle
Sperrspannung oder die Spitzensperrspannung des jeweiligen GTO-
Thyristors Gto 1, Gto 2, Gto 3 verwendet werden.
Der zeitlich erste Rückmeldeimpuls RI 1 zur Zeit t 5 wird als Bezugsimpuls
bezeichnet und startet über die logischen Schaltungen LC 1, LC 2,
LC 3 . . . LC N alle Reglerzähler Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N in
Aufwärtszählrichtung UP.
Wenn die logische Schaltung LC von ihrem ihr zugeordneten GTO-Thyristor
den Rückmeldeimpuls erhält, also beispielsweise die logische Schaltung
LC 2 den Rückmeldeimpuls RI 2, so wird der zugeordnete Reglerzähler
gestoppt, also beispielsweise der Reglerzähler Z 12. Das bedeutet aber
auch, daß der Zustand des Reglerzählers Z 11 unverändert bleibt, da die
diesem zugeordnete logische Schaltung LC 1 mit dem ersten
Rückmeldeimpuls RI 1, also dem Bezugsimpuls, den Reglerzähler Z 11
zugleich gestartet und gestoppt hat.
Nachdem die Spannungsmeßrampe ihr Maximum MR, beispielsweise zur
Zeit t 8, siehe Fig. 3d, erreicht hat, werden zugleich über die logischen
Schaltungen LC 1, LC 2, LC 3 . . . LC N alle Reglerzähler Z 11, Z 12,
Z 13 . . . Z 1N in die Abwärtsrichtung DOWN geschaltet. Der Zählvorgang
aller Reglerzähler Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N wird beendet, wenn einer der
Reglerzähler Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N den Zählerstand Null erreicht hat.
Der Zählvorgang wird somit nicht gestartet, wenn bereits einer der
Reglerzähler Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N den Zählerstand Null aufweist.
Die so ermittelten Zählerstände der Reglerzähler Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N
werden mit der ansteigenden Flanke des nächstfolgenden zentralen
Einschaltsignals, spätestens aber mit seiner Rückflanke auf die Adresse des
entsprechenden Stromwertes des GTO-Thyristors in dem Speicher S
abgespeichert. Mit der Rückflanke des zentralen Einschaltsignals werden
nunmehr neue Datenworte in die Verzögerungszähler Z 21, Z 22, Z 23 . . . Z
2N geladen und der Vorgang läuft wie anfangs beschrieben weiter.
Die Schnittstellenschaltung, die als erste den Rückmeldeimpuls RI 1 abgibt,
hat aktuell die längste gesamte Ausschaltzeit, siehe Fig. 3d, 3e. Mit dem
ersten Rückmeldeimpuls RI 1, dem Bezugsimpuls, werden die bis dahin
gesperrten Reglerzähler Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N in die
Aufwärtszählrichtung UP geschaltet. Die Reglerzähler Z 11, Z 12,
Z 13 . . . Z 1N werden jeweils so lange vom Quarzgenerator 1Q getaktet, bis
die zugehörige Schnittstellenschaltung 11, 22, 33 . . . NN einen
Rückmeldeimpuls RI abgibt, das bedeutet, zu den aus dem Speicher S
ausgelesenen Verzögerungsdatenworten werden die zeitlichen Abstände der
Rückmeldeimpulse vom Bezugsimpuls addiert. Nachdem alle
Rückmeldeimpulse RI abgegeben worden sind, werden die Reglerzähler
Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N in die Abwärtsrichtung DOWN geschaltet. Sie
werden alle angehalten, wenn ein Reglerzähler Z 1N seinen Zählerstand
Null erreicht hat. Dann werden die Inhalte der Reglerzähler Z 11, Z 12,
Z 13 . . . Z 1N in den Speicher S abgespeichert.
Die zeitliche Lage der Rückmeldeimpulse RI 1, RI 2, RI 3 ist ein Maß für die
Verteilung der Gesamtspannung U auf die GTO-Thyristor-Teilspannungen
U 1, U 2, U 3. Durch das Regelverfahren wird erreicht, daß durch
exemplarabhängige Ermittlung des Ausschaltzeitpunktes über die
Verzögerungszähler Z 21, Z 22, . . . Z 2N, die Gesamtspannung U
gleichmäßig auf die in Reihe geschalteten GTO-Thyristoren Gto 1, Gto 2,
Gto 3 . . . Gto N aufgeteilt wird. Bei gleichmäßiger Spannungsverteilung
treten die Rückmeldeimpulse RI 1, RI 2, RI 3 zum gleichen Zeitpunkt auf, der
gewünschte Zustand ist dann erreicht. Dadurch, daß bei dem
Abwärtszählvorgang mindestens ein Reglerzähler Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N
den Zählerstand Null aufweist, bleibt die Gesamtausschaltzeit minimal.
Für die technische Ausführung ist es zweckmäßig, den Datenaustausch
zwischen Ansteuerschaltungen 1, 2, 3 . . . N, den Schnittstellenschaltungen
11, 22, 33 . . . NN und den zugehörigen GTO-Thyristoren Gto 1, Gto 2,
Gto 3 . . . Gto N über Lichtwellenleiter vorzunehmen.
Die gesamte Schaltungsanordnung kann auch in Mikroprozessortechnik
ausgeführt werden, wobei als Schnittstellenschaltungen A/D-Wandler
eingesetzt werden können.
Das erfindungsgemäße Verfahren unterscheidet sich von den bekannten
Verfahren dadurch, daß der Betrieb einer GTO-Thyristor-Reihenschaltung
auch dann aufrechterhalten werden kann, wenn eine bestimmte Anzahl von
GTO-Thyristoren ausfällt, das heißt nicht mehr gesperrt werden kann. Diese
Anzahl ist davon abhängig, wieviel redundante GTO-Thyristoren
vorgesehen sind, um den Betrieb beispielsweise eines GTO-Umrichters bis
zu einer vorgesehenen Wartungspause aufrechtzuerhalten, um dann in der
Wartungspause die defekten GTO-Thyristoren gegen funktionstüchtige
auszutauschen.
Bei den bisher bekannten Lösungen ist mit dem Ausfall eines GTO-
Thyristors auch die Funktionsweise der Anordnungen für die gleichmäßige
Aufteilung der Sperrspannungen zumindest gestört.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren können defekte GTO-Thyristoren
leicht ermittelt werden. Um Fehlmessungen möglichst auszuschließen, wird
die Diagnose in drei Schritten durchgeführt.
- 1. Schritt: Tritt bei einem GTO-Thyristor kurz nach dem Start der Spannungsmeßrampe zur Zeit t 4 ein Rückmeldeimpuls RI auf, so bedeutet das, daß die Spannung am GTO-Thyristor sehr klein ist und der Verdacht, daß der GTO-Thyristor defekt ist, besteht. Da die Möglichkeit nicht auszuschließen ist, daß der identifizierte Rückmeldeimpuls RI ein Störimpuls sein kann, werden die Zustände aller Reglerzähler Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N nicht verändert, der Reglerschritt wird blockiert.
- 2. Schritt: Erscheint bei der nächsten Schaltperiode wieder ein Rückmeldeimpuls RI kurz nach dem Start der Spannungsmeßrampe werden die Zustände der Reglerzähler Z 1N wiederum nicht verändert bis auf den Zustand des Reglerzählers, der dem ausfallverdächtigen GTO-Thyristor zugeordnet ist. Dieser Reglerzähler wird auf Null gesetzt, damit wird einer eventuellen Störung des Reglerzählers entgegengewirkt. Der Reglerschritt wird blockiert.
- 3. Schritt: Erscheint bei der dritten Schaltperiode nochmals ein Rückmeldeimpuls RI kurz nach dem Start der Spannungsmeßrampe, so wird der dem Rückmeldeimpuls RI zugeordnete GTO-Thyristor als ausgefallen diagnostiziert und die zugeordnete logische Schaltung LC in Verbindung mit Reglerzähler und Verzögerungszähler werden in dem Regelkreis wirkungslos geschaltet.
Claims (4)
1. Verfahren zur gleichmäßigen Aufteilung der Sperrspannung in einer
Reihenschaltung gategesteuerter Halbleiter (Gto 1, Gto 2, Gto 3 . . . Gto N),
bei denen durch Verschiebung der Löschzeitpunkte ein
Sperrspannungsausgleich erreicht wird,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine rampenförmige Spannung mit der Sperrspannung eines jeweiligen gategesteuerten Halbleiters (Gto 1, Gto 2, Gto 3 . . . Gto N) verglichen wird und daß bei Übereinstimmung beider Spannungen ein Rückmeldeimpuls (RI 1, RI 2, RI 3) erzeugt wird,
daß mit dem zeitlich ersten Rückmeldeimpuls (RI 1) alle Reglerzähler (Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N), von denen jeweils einer einem gategesteuerten Halbleiter zugeordnet ist, in die Aufwärtszählrichtung gestartet werden und ein Reglerzähler (Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N) solange aufwärts zählt, bis der Zählvorgang von dem dem jeweiligen Reglerzähler (Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N) zugeordneten Rückmeldeimpuls (RI 1, RI 2, RI 3 . . . RI N) angehalten wird,
daß mit einem zentralen Einschaltesignal der gategesteuerten Halbleiter (Gto 1, Gto 2, Gto 3 . . . Gto N) sowohl der Zählerstand der Reglerzähler (Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N) jeweils in einen Verzögerungszähler (Z 21, Z 22, Z 23 . . . Z 2N) geladen wird als auch die Verzögerungszähler (Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N) als Abwärtszähler gestartet werden, die beim Zählerstand Null ein Ausschaltsignal an den jeweiligen gategesteuerten Halbleiter (Gto 1, Gto 2, Gto 3 . . . Gto N) abgeben.
daß eine rampenförmige Spannung mit der Sperrspannung eines jeweiligen gategesteuerten Halbleiters (Gto 1, Gto 2, Gto 3 . . . Gto N) verglichen wird und daß bei Übereinstimmung beider Spannungen ein Rückmeldeimpuls (RI 1, RI 2, RI 3) erzeugt wird,
daß mit dem zeitlich ersten Rückmeldeimpuls (RI 1) alle Reglerzähler (Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N), von denen jeweils einer einem gategesteuerten Halbleiter zugeordnet ist, in die Aufwärtszählrichtung gestartet werden und ein Reglerzähler (Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N) solange aufwärts zählt, bis der Zählvorgang von dem dem jeweiligen Reglerzähler (Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N) zugeordneten Rückmeldeimpuls (RI 1, RI 2, RI 3 . . . RI N) angehalten wird,
daß mit einem zentralen Einschaltesignal der gategesteuerten Halbleiter (Gto 1, Gto 2, Gto 3 . . . Gto N) sowohl der Zählerstand der Reglerzähler (Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N) jeweils in einen Verzögerungszähler (Z 21, Z 22, Z 23 . . . Z 2N) geladen wird als auch die Verzögerungszähler (Z 11, Z 12, Z 13 . . . Z 1N) als Abwärtszähler gestartet werden, die beim Zählerstand Null ein Ausschaltsignal an den jeweiligen gategesteuerten Halbleiter (Gto 1, Gto 2, Gto 3 . . . Gto N) abgeben.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mit dem
zentralen Einschaltsignal der gategesteuerten Halbleiter (Gto 1, Gto 2,
Gto 3 . . . Gto N) ein dem jeweiligen Strom der gategesteuerten Halbleiter
zugeordneter Datenwert (D1) in den Reglerzähler (Z 11, Z 12,
Z 13 . . . Z 1N) geladen wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
Rückmeldeimpulse (RI 1, RI 2, RI 3), die zeitlich unmittelbar nach dem Start
der rampenförmigen Spannung erzeugt werden, als Kriterium für defekte
gategesteuerte Halbleiter (Gto 1, Gto 2, Gto 3 . . . Gto N) dienen.
4. Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens, dadurch
gekennzeichnet, daß jedem gategesteuerten Halbleiter (Gto 1, Gto 2,
Gto 3 . . . Gto N) eine Ansteuerschaltung (1, 2, 3 . . . N) mit nachgeschalteter
Schnittstellenschaltung (11, 22, 33 . . . NN) derart zugeordnet ist, daß die
Ansteuerschaltungen (1, 2, 3 . . . N) zentral an einen Quarzgenerator (Q)
angeschlossen sind und eingangsseitig an einer Einschaltsignalleitung
liegen und daß die Schnittstellenschaltungen (11, 22, 33 . . . NN) zum
Signalaustausch und zur Pegelanpassung zwischen Ansteuerschaltung
(1, 2, 3, . . . N) und gategesteuerten Halbleiter (Gto 1, Gto 2,
Gto 3 . . . Gto N) geschaltet sind,
daß jede Ansteuerschaltung (1, 2, 3 . . . N) eine logische Schaltung (LC) enthält, die eingangsseitig mit der ihr zugeordneten Schnittstellenschaltung verbunden ist und die ausgangsseitig mit einem Reglerzähler (Z 1) verbunden ist, der über einen Datenbus sowohl an einen Speicher (S) als auch an einen Verzögerungszähler (Z 2) geschaltet ist, der von dem zentralen Einschaltsignal gesteuert wird und an seinem Ausgang ein Ausschaltsignal für einen gategesteuerten Halbleiter (Gto N) bereitstellt.
daß jede Ansteuerschaltung (1, 2, 3 . . . N) eine logische Schaltung (LC) enthält, die eingangsseitig mit der ihr zugeordneten Schnittstellenschaltung verbunden ist und die ausgangsseitig mit einem Reglerzähler (Z 1) verbunden ist, der über einen Datenbus sowohl an einen Speicher (S) als auch an einen Verzögerungszähler (Z 2) geschaltet ist, der von dem zentralen Einschaltsignal gesteuert wird und an seinem Ausgang ein Ausschaltsignal für einen gategesteuerten Halbleiter (Gto N) bereitstellt.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998115957 DE19815957A1 (de) | 1998-04-09 | 1998-04-09 | Verfahren und Schaltungsanordnung zur gleichmäßigen Aufteilung der Sperrspannung in einer Reihenschaltung gategesteuerter Halbleiter |
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DE1998115957 DE19815957A1 (de) | 1998-04-09 | 1998-04-09 | Verfahren und Schaltungsanordnung zur gleichmäßigen Aufteilung der Sperrspannung in einer Reihenschaltung gategesteuerter Halbleiter |
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DE1998115957 Ceased DE19815957A1 (de) | 1998-04-09 | 1998-04-09 | Verfahren und Schaltungsanordnung zur gleichmäßigen Aufteilung der Sperrspannung in einer Reihenschaltung gategesteuerter Halbleiter |
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