DE19757198B4 - Method for the functional test of a digital switching network module - Google Patents
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Abstract
Verfahren zum Funktionstest einer digitalen Koppelfeldbaugruppe (2) zur Vermittlung von digitalen Nutzdaten zwischen einer Teilnehmerseite (3) und einer Netzseite (4) mit einer Verbindungstabelle (5), in der eingetragen wird, welche eingangsseitige auf welche ausgangsseitige Zeitlage umgesetzt werden soll, die mit Hilfe des Eintrags einen Datenzwischenspeicher (6) derart ansteuert, dass ein zu vermittelndes Nutzdatum zunächst in dem Datenzwischenspeicher (6) zwischengespeichert wird und erst beim Auftreten der gewünschten Ausgangszeitlage ausgegeben wird,
gekennzeichnet durch
* einen Initialisierungsschritt, in dem
– ein Mikroprozessor (14) ein Testdatum in ein Testdaten-Ausgangsregister (15) schreibt,
– der Mikroprozessor (14) in die Verbindungstabelle (5) schreibt, zu welcher Eingangszeitlage das Testdatum aus dem Testdaten-Ausgangsregister (15) in den Datenzwischenspeicher (6) übernommen werden soll und
– der Mikroprozessor (14) in die Verbindungstabelle (5) schreibt, zu welcher Ausgangszeitlage das Testdatum aus dem Datenzwischenspeicher (6) ausgegeben werden soll,
* einen Simulationsschritt, in dem
– beim Auftreten der...Method for a functional test of a digital switching network module (2) for switching digital user data between a subscriber page (3) and a network page (4) with a connection table (5) in which is entered, which input side is to be implemented on which output side timing, with Help of the entry a data buffer (6) controls such that a useful date to be switched first in the data buffer (6) is cached and is issued only when the desired output timing,
marked by
* an initialization step in which
A microprocessor (14) writes a test date in a test data output register (15),
- The microprocessor (14) in the connection table (5) writes to which input time the test date from the test data output register (15) in the data buffer (6) is to be adopted and
The microprocessor (14) writes in the connection table (5) to which output time position the test data is to be output from the data buffer (6),
* a simulation step in which
- when the ...
Description
Stand der TechnikState of the art
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Funktionstest einer digitalen Koppelfeldbaugruppe zur Vermittlung von digitalen Nutzdaten zwischen einer Teilnehmerseite und einer Netzseite mit einer Verbindungstabelle, in der eingetragen wird, welche eingangsseitige auf welche ausgangsseitige Zeitlage umgesetzt werden soll, die mit Hilfe des Eintrags einen Datenzwischenspeicher derart ansteuert, daß ein zu vermittelndes Nutzdatum zunächst in dem Datenzwischenspeicher zwischengespeichert wird und erst beim Auftreten der gewünschten Ausgangszeitlage ausgegeben wird und eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens zum Funktionstest einer digitalen Koppelfeldbaugruppe.The The present invention relates to a method for functional testing of a digital switching network module for switching digital user data between a subscriber page and a network page with a connection table, in which is entered, which input side on which output side timing to be implemented, which uses the entry a data buffer such that a first to be transmitted in the data cache is cached and only at Occurrence of the desired Output timing is output and a device for carrying out the Method for the functional test of a digital switching network module.
Solche Koppelfeldbaugruppen werden seit einiger Zeit in der digitalen Telefonie zur Vermittlung von digitalen Nutzdaten (Sprachkanälen) eingesetzt. Nach der Herstellung der Koppelfeldbaugruppen sollte deren Funktion getestet werden. Darüber hinaus empfiehlt es sich, die Funktion der Koppelfeldbaugruppen während des Betriebs derselben zu testen. Beim Funktionstest der Koppelfeldbaugruppen kommt es insbesondere darauf an, ob die Nutzdaten richtig zwischen der Teilnehmerseite und der Netzseite und umgekehrt vermittelt, d. h. ob die Nutzdaten von einer bestimmten eingangsseitigen Zeitlage auf die richtige ausgangsseitige Zeitlage umge setzt werden.Such Switching matrix modules have been used in digital telephony for some time used to convey digital user data (voice channels). To The function of the coupling network modules was to be tested become. About that In addition, it is recommended that the function of the switching network modules while to test the operation of the same. During the functional test of the switching network modules comes It depends in particular on whether the user data is correctly between the Participant side and the network side and vice versa, d. H. whether the user data from a certain input-side timing be converted to the correct output timing.
Verfahren
zur Überwachung
und Prüfung von
Koppelfeldern sind aus den Druckschriften
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein Verfahren der eingangs genannten Art zu schaffen, welches es erlaubt, die Funktion von Koppelfeldbaugruppen in beliebigen Zeitlagen-Kombinationen mit möglichst geringem Aufwand zu testen.The The object of the present invention is a method of the type mentioned above, which allows the Function of switching matrix modules in arbitrary timing combinations with as possible little effort to test.
Zur Lösung dieser Aufgabe schlägt die Erfindung ein Verfahren vor, das gekennzeichnet ist durch* einen Initialisierungsschritt, in dem
- – ein Mikroprozessor ein Testdatum in ein Testdaten-Ausgangsregister schreibt,
- – der Mikroprozessor in die Verbindungstabelle schreibt, zu welcher Eingangszeitlage das Testdatum aus dem Testdaten-Ausgangsregister in den Datenzwischenspeicher übernommen werden soll und
- – der Mikroprozessor in die Verbindungstabelle schreibt, zu welcher Ausgangszeitlage das Testdatum aus dem Datenzwischenspeicher ausgegeben werden soll,
- – einen Simulationsschritt, in dem
- – beim Auftreten der gewünschten Eingangszeitlage das Testdatum in den Datenzwischenspeicher übernommen wird,
- – beim Auftreten der gewünschten Ausgangszeitlage das Testdatum aus dem Datenzwischenspeicher ausgegeben wird,
- – das Testdatum einen bestimmten Testdatenpfad durchläuft,
- – das Testdatum in ein Testdaten-Eingangsregister übernommen wird und
- – das Testdatum von dem Mikroprozessor aus dem Testdaten-Eingangsregister übernommen wird und
- – einen Auswerteschritt, in dem
- – das Testdatum von dem Mikroprozessor ausgewertet und die Funktion der Koppelfeldbaugruppe beurteilt wird.
- A microprocessor writes a test data in a test data output register,
- - The microprocessor writes in the connection table, to which input time position the test date from the test data output register is to be transferred to the data buffer and
- The microprocessor writes in the connection table to which output time position the test data is to be output from the data buffer,
- A simulation step in which
- - When the desired arrival time position occurs, the test date is taken over into the data buffer,
- When the desired output timing occurs, the test data is output from the data buffer,
- The test date goes through a specific test data path,
- - the test date is taken into a test data input register and
- - The test date is taken from the microprocessor from the test data input register and
- An evaluation step in which
- - The test date is evaluated by the microprocessor and the function of the switching matrix is judged.
Ein derartiges Verfahren ermöglicht in vorteilhafter Weise einen Funktionstest von Koppelfeldbaugruppen in beliebigen Zeitlagen-Kombinationen mit einem geringem Aufwand. Dazu wird die Vermittlung von Nutzdaten einfach mit Hilfe von Testdaten, die nach einem vorgegebenen Testmuster durch die Koppelfeldbaugruppe vermittelt werden, simuliert. Die Testdaten können wie normale Nutzdaten geschaltet werden. Das erfindungsgemäße Funktionstest-Verfahren besteht aus einem Initialisierungsschritt, einem Simulationsschritt und einem abschließenden Auswerteschritt.One this method allows advantageously a functional test of switching network modules in any timing combinations with a low effort. For this purpose, the transmission of user data is easy with the help of test data, the according to a predetermined test pattern through the switching matrix be taught, simulated. The test data can be like normal user data be switched. The functional test method according to the invention consists of an initialization step, a simulation step and a final one Evaluation step.
In dem Initialisierungsschritt wird die Koppelfeldbaugruppe auf die Simulation vorbereitet. Dazu wird zunächst ein Testdatum in das Testdaten-Ausgangsregister geschrieben. Außerdem wird in die Verbindungstabelle geschrieben, von welcher eingangsseitigen Zeitlage auf welche ausgangsseitige Zeitlage das Testdatum umgesetzt werden soll, d. h. zu welcher Eingangszeitlage das Testdatum aus dem Testdaten-Ausgangsregister in den Datenzwischenspeicher übernommen und zu welcher Ausgangszeitlage das Testdatum aus dem Datenzwischenspeicher ausgegeben werden soll. Die einzelnen Schritte des Initialisierungsschritts können in beliebiger Reihenfolge ablaufen.In the initialization step, the switching matrix is on the Simulation prepared. For this purpose, first a test date in the test data output register written. Furthermore is written in the connection table, from which input side Timing on which output-side timing the test date implemented should be, d. H. at which time of receipt the test date taken over the test data output register in the data buffer and at which output timing the test data from the data buffer should be issued. The individual steps of the initialization step can expire in any order.
In dem anschließenden Simulationsschritt verarbeitet die Koppelfeldbaugruppe das Testdatum als wäre es ein normales Nutzdatum. Beim Auftreten der gewünschten Eingangszeitlage wird das Testdatum in den Datenzwischenspeicher übernommen. Beim Auftreten der gewünschten Ausgangszeitlage wird das Testdatum dann aus dem Datenzwischenspeicher ausgegeben und durchläuft einen bestimmten Testdatenpfad. Schließlich wird das Testdatum zunächst in das Testdaten-Eingangsregister und dann von dem Mikroprozessor übernommen.In the subsequent Simulation step, the switch fabric module processes the test date as would it be a normal date of use. When the desired time of arrival occurs transferred the test date to the data cache. When the occurrence of desired Output timing then the test date from the data buffer issued and goes through a specific test data path. Finally, the test date is first in the test data input register and then taken over by the microprocessor.
In einem abschließenden Auswerteschritt wertet der Mikroprozessor das Testdatum aus und beurteilt die Funktion der Koppelfeldbaugruppe. Wird das Testdatum von der gewünschten eingangsseitigen Zeitlage auf die gewünschte ausgangsseitige Zeitlage umgesetzt, funktioniert die Koppelfeldbaugruppe ordnungsgemäss.In a final one Evaluation step, the microprocessor evaluates the test date and judges the function of the switching network module. If the test date is from the desired input side Timing to the desired implemented on the output side timing, the switching network module works properly.
Dabei läuft das Funktionstest-Verfahren programmgesteuert ab. Dadurch können umfangreiche Funktionstestläufe automatisch nacheinander durchgeführt werden. In jedem Funktionstestlauf wird der Initialisierungsschritt, und der Simulationsschritt durchlaufen. Die Funktionstestergebnisse können entweder am Ende eines jeden Funktionstestlaufs im Rahmen des Auswerteschritts ausgewertet werden oder aber nach jedem Funktionstestlauf zunächst abgespeichert werden und erst nach Abschluss aller Funktionstestläufe ausgewertet werden. Eine Programmsteuerung der Funktionstestläufe ermöglicht in kürzester Zeit einen vollständigen Funktionstest (d. h. alle eingangsseitigen Zeitlagen können auf alle ausgangsseitigen Zeitlagen umgesetzt werden).there is that going? Function test procedure programmatically. This allows extensive bugs to run automatically performed in succession become. In each functional test run, the initialization step, and go through the simulation step. The functional test results can either at the end of each functional test run as part of the evaluation step be evaluated or stored after each functional test run first and evaluated only after completion of all function test runs become. Program control of the functional test runs is possible in short Time a complete Function test (ie all input-side time slots can be set to all output time slots are implemented).
Manche Koppelfeldbaugruppe weisen auf der Teilnehmerseite und auf der Netzseite jeweils mindestens einen Nutzdaten-Eingang und mindestens einen Nutzdaten-Ausgang auf, und zwischen dem Datenzwischenspeicher und dem teilnehmerseitigen Nutzdaten-Eingang ist ein Multiplexer und zwischen dem Datenzwischenspeicher und dem teilnehmerseitigen Nutzdaten-Ausgang ist ein Demultiplexer angeordnet, wobei der Multiplexer bzw. der Demultiplexer über Steuerinformationen aus einem Statusregister angesteuert wird. Gemäss einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung wird vorgeschlagen, dass bei einem Funktionstest-Verfahren für derartige Koppelfeldbaugruppen der Mikroprozessor im Rahmen des Initialisierungsschritts eine Steuerinformation für den Multiplexer bzw. den Demultiplexer in die Verbindungstabelle schreibt, und die Steuerinformation im Rahmen des Simulationsschritts aus der Verbindungstabelle in das Statusregister übernommen wird.Some Switching module have on the subscriber side and on the network side in each case at least one user data input and at least one Payload output on, and between the data buffer and the subscriber-side user data input is a multiplexer and between the data buffer and the subscriber-side user data output is arranged a demultiplexer, wherein the multiplexer or the demultiplexer via control information a status register is controlled. According to an advantageous development The invention proposes that in a functional test method for such Switching matrix modules of the microprocessor during the initialization step a control information for the multiplexer or the demultiplexer in the connection table writes, and the control information in the simulation step taken from the connection table in the status register becomes.
Um die Funktionstestläufe genau koordinieren zu können und zur Erleichterung der Programmierung wird gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung vorgeschlagen, daß der Simulationsschritt durch entsprechende Steuerinformationen des Statusregisters eingeleitet wird. Ebenso kann das Ende des Simulationsschritts vorteilhafterweise in dem Statusregister angezeigt werden.Around the functional test runs to coordinate exactly and to facilitate programming, according to a advantageous development of the invention proposed that the simulation step initiated by appropriate control information of the status register becomes. Likewise, the end of the simulation step may advantageously be in the status register.
Der Testdatenpfad verläuft innerhalb der Koppelfeldbaugruppe von dem netzseitigen Nutzdaten-Ausgang unmittelbar zu dem netzseitigen Nutzdaten-Eingang. So kann die Funktion der Koppelfeldbaugruppe optimal getestet werden.Of the Test data path runs within the switching network module from the network-side user data output directly to the network-side user data input. So can the function the coupling field module are optimally tested.
Alternativ wird gemäß einer anderen vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung vorgeschlagen, daß der Testdatenpfad von dem netzseitigen Nutzdaten-Ausgang der Koppelfeldbaugruppe über einen teilnehmerseitigen Nutzdaten-Eingang einer zweiten Koppelfeldbaugruppe, einen Datenzwischenspeicher der zweiten Koppelfeldbaugruppe, einen teilnehmerseitigen Nutzdaten-Ausgang der zweiten Koppelfeldbaugruppe bis zu dem netzseitigen Nutzdaten-Eingang der ersten Koppelfeldbaugruppe verläuft. Über einen solchen Testdatenpfad lassen sich auch zwei räumlich voneinander entfernte, netzseitig miteinander verbundene Koppelfeldbaugruppen testen.alternative is according to a Another advantageous development of the invention proposed that the test data path from the network-side user data output of the switching network module via a subscriber-side User data input of a second switching matrix, a data buffer of the second switching network module, a subscriber-side user data output the second switching network module up to the network-side user data input the first switching network module runs. About such a test data path two can be spatially mutually remote, network-side interconnected switching network modules testing.
Vorteilhafterweise wird das Funktionstest-Verfahren vor der Inbetriebnahme der Koppelfeldbaugruppe durchgeführt. Dies kann nach jeder Inbetriebnahme geschehen oder nur zu ausgewählten Inbetriebnahmezeitpunkten.advantageously, is the function test procedure before commissioning the switching matrix carried out. This can be done after each startup or only at selected startup times.
Alternativ kann das Funktionstest-Verfahren gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung aber auch während des Betriebs der Koppelfeldbaugruppe durchgeführt werden.alternative can the function test method according to an advantageous development but also during the invention the operation of the switching matrix.
Dadurch kann die Funktion der Koppelfeldbaugruppe stets sichergestellt werden. In diesem Zusammenhang hat es sich in der Praxis als besonders vorteilhaft erwiesen, wenn das Verfahren unter Ausnutzung nicht belegter Zeitlagen durchgeführt wird. Auf diese Weise unterbricht das Funktionstest-Verfahren die Vermittlung von Nutzdaten nicht und die Koppelfeldbaugruppe kann auch während des Funktionstest bestimmungsgemäß betrieben werden.Thereby the function of the switching network module can always be ensured. In this context, it has proven to be particularly advantageous in practice proved when the process taking advantage of unused time slots carried out becomes. In this way, the bump test interrupts the Mediation of user data not and the switching matrix can even while operated the functional test as intended become.
Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine Vorrichtung der eingangs genannten Art zu schaffen, durch welche die Funktion von Koppelfeldbaugruppen in beliebigen Zeitlagen-Kombinationen mit möglichst geringem Aufwand getestet werden kann.A Another object of the present invention is to provide a device of the type mentioned above, by which the function of switching matrix modules in arbitrary timing combinations with preferably little effort can be tested.
Zur Lösung dieser Aufgabe schlägt die Erfindung eine Vorrichtung vor, die gekennzeichnet ist durch mindestens einen Mikroprozessor, mindestens ein Testdaten-Ausgangsregister mit jeweils mindestens einer Testdaten-Ausgangsleitung und mindestens ein Testdaten-Eingangsregister mit jeweils mindestens einer Testdaten-Eingangsleitung, wobei die Mikroprozessoren jeweils über mindestens eine Steuerleitung mit der Verbindungstabelle und über jeweils mindestens eine Datenleitung mit den Testdaten-Ausgangsregistern und den Testdaten-Eingangsregistern verbunden sind. In der Praxis hat sich in vorteilhafter Weise insbesondere eine Funktionstest-Vorrichtung bewährt, die einen Mikroprozessor, ein Testdaten-Ausgangsregister mit einer Testdaten-Ausgangsleitung und ein Testdaten-Eingangsregister mit einer Testdaten-Eingangsleitung aufweist, wobei der Mikroprozessor über eine Steuerleitung mit der Verbindungstabelle und über jeweils eine Datenleitung mit einem Testdaten-Ausgangsregister und einem Testdaten-Eingangsregister verbunden ist.To achieve this object, the invention proposes a device which is characterized by at least one microprocessor, at least one test data output register each having at least one test data output line and at least one test data input register each having at least one test data input line, wherein the microprocessors respectively at least one control line to the connection table and via at least one data line to the test data output registers and the test data input registers are connected. In practice, in particular, a functional test apparatus has been found to be advantageous, which has a microprocessor, a test data output register with a test data output line and a test data input register with a test data input line, the microprocessor via a control line is connected to the connection table and via a respective data line with a test data output register and a test data input register.
Gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung ist der Mikroprozessor darüber hinaus über eine Steuerleitung mit dem Statusregister verbunden.According to one advantageous development of the invention is the microprocessor about that beyond one Control line connected to the status register.
In besonders vorteilhafter Weise ist die Testdaten-Ausgangsleitung mit der teilnehmerseitigen Nutzdaten-Eingangsleitung und die Testdaten-Eingangsleitung mit der teilnehmerseitigen Nutzdaten-Ausgangsleitung verbunden.In particularly advantageous is the test data output line with the subscriber-side user data input line and the test data input line connected to the subscriber-side payload data output line.
Gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung sind der Mikroprozessor, das Testdaten-Ausgangsregister und das Testdaten-Eingangsregister in einer Funktionstestbaugruppe zusammengefaßt, die über die Testdaten-Ausgangsleitung, die Testdaten-Eingangsleitung und die Steuerleitungen mit der Koppelfeldbaugruppe verbunden ist. Eine derartige Funktionstestbaugruppe kann beispielsweise als eine mobile Funktionstest-Vorrichtung ausgebildet sein, die an beliebige Koppelfeldbaugruppen angeschlossen werden kann. Eine derart ausgebildete Funktionstestbaugruppe eignet sich insbesondere zum einmaligen Funktionstest von Koppelfeldbaugruppen nach deren Herstellung. Alternativ kann eine Funktionstestbaugruppe aber auch in herkömmlichen Koppelfeldbaugruppen integriert und an diese fest angeschlossen sein. Eine derart ausgebildete Funktionstestbaugruppe eignet sich insbesondere zum kontinuierlichen Funktionstest von Koppelfeldbaugruppen während deren bestimmungsgemäßen Betrieb, sozusagen zum Online-Funktionstest.According to one advantageous development of the invention are the microprocessor, the test data output register and the test data input register summarized in a function test module, which via the test data output line, the test data input line and the control lines with the switching matrix connected is. Such a function test module can, for example be designed as a mobile functional test device, the can be connected to any switching network modules. A such trained functional test module is particularly suitable for One-time functional test of coupling field assemblies after their production. Alternatively, a function test module but also in conventional Integrated switching network modules and permanently connected to them be. Such a trained function test module is suitable in particular for the continuous functional test of switching network modules while their intended use, so to speak to the online function test.
Im folgenden wird anhand der Zeichnung eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung näher erläutert. Es zeigt:in the The following will become a preferred embodiment with reference to the drawing closer to the invention explained. It shows:
In
In
Die
Funktionstest-Vorrichtung
Im
Rahmen des erfindungsgemäßen Funktionstest-Verfahrens
wird zunächst
ein Initialisierungsschritt, dann ein Simulationsschritt und schließlich ein
Auswerteschritt ausgeführt.
Im Rahmen des Initialisierungsschritts schreibt der Mikroprozessor
Zur
Einleitung des Simulationsschritts schreibt der Mikroprozessor
Der
Testdatenpfad kann von dem netzseitigen Nutzdaten-Ausgang
Nach
dem Durchlaufen eines beliebigen Testdatenpfades wird das Testdatum
in das Testdaten-Eingangsregister
Schließlich wird
das Testdatum im Rahmen eines Auswerteschritts von dem Mikroprozessor
Das Einlesen in bzw. das Auslesen von Testdaten aus dem Datenzwischenspeicher erfolgt insbesondere nur einmal. Zur Ermittlung von Verfälschungen des Testdatums ist es möglich, eine Testreihe über einen längeren Zeitraum anzulegen.The Reading in or reading test data from the data buffer in particular, only once. To detect adulteration of the test date it is possible a test series about a longer one Create period.
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE1997157198 DE19757198B4 (en) | 1997-12-22 | 1997-12-22 | Method for the functional test of a digital switching network module |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| DE1997157198 DE19757198B4 (en) | 1997-12-22 | 1997-12-22 | Method for the functional test of a digital switching network module |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19757198A1 DE19757198A1 (en) | 1999-06-24 |
| DE19757198B4 true DE19757198B4 (en) | 2010-09-09 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE1997157198 Expired - Fee Related DE19757198B4 (en) | 1997-12-22 | 1997-12-22 | Method for the functional test of a digital switching network module |
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|---|---|
| DE (1) | DE19757198B4 (en) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2819646C2 (en) * | 1978-05-05 | 1982-04-01 | Telefonbau Und Normalzeit Gmbh, 6000 Frankfurt | Circuit arrangement for testing switching network paths in time-division multiplex telecommunications, in particular telephone switching systems |
| US4402074A (en) * | 1979-10-12 | 1983-08-30 | Compagnie Industrielle Des Telcommunications Cit-Alcatel | Switching network test system |
| DE3806262C1 (en) * | 1988-02-27 | 1989-07-20 | Telenorma Telefonbau Und Normalzeit Gmbh, 6000 Frankfurt, De | Circuit arrangement for monitoring the state of switching points in a digital space-division switching network |
-
1997
- 1997-12-22 DE DE1997157198 patent/DE19757198B4/en not_active Expired - Fee Related
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Legal Events
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Owner name: TENOVIS GMBH & CO. KG, 60326 FRANKFURT, DE |
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| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
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