DE19752085A1 - Probenträger für insbesondere mikroskopische Untersuchungen einer Vielzahl von Proben - Google Patents
Probenträger für insbesondere mikroskopische Untersuchungen einer Vielzahl von ProbenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen Probenträger für insbeson
dere mikroskopische Untersuchungen einer Vielzahl von
Proben, vorzugsweise für die Fluoreszenz-Spektroskopie.
Probenträger für quasi-parallele Analysen kleinster
Probenmengen sind im Stand der Technik grundsätzlich
bekannt. Solche Probenträger sind beispielsweise in
WO 95/01 559 A2 und DE 39 15 920 A1 beschrieben. Diese
bekannten Probenträger weisen ein Substrat auf, in das
auf nicht spanende Weise, insbesondere durch Ätzen,
eine Vielzahl von zu einer der Seitenflächen des Sub
strats hin offene Vertiefungen eingebracht sind. Die
Bodenwände der Vertiefungen können gelocht sein oder,
allgemeiner ausgedrückt, teilweise porös sein.
Ein weiterer Probenträger mit einer Vielzahl von sepa
rate Probenaufnahmeräume bildende Vertiefungen ist aus
DE 41 32 397 A1 bekannt. Dieser Probenträger weist ein
plattenförmiges Substrat auf, das eine Vielzahl von
durch Stege voneinander getrennte Vertiefungen enthält.
Dieses Substrat ist auf eine Bodenplatte aufgesetzt,
die lösbar mit der Steg- bzw. Gitterstruktur des Sub
strats verbunden ist. Die Bodenplatte ist porös, so daß
die durch die Bodenplatte und das Substrat gebildeten
Vertiefungen durchlässige Bodenwände aufweisen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Proben
träger für insbesondere mikroskopische Untersuchungen
einer Vielzahl von Proben (quasi-parallele Analyse
kleinster Probenmengen) zu schaffen, der einfach her
stellbar ist und mit dem sich die Vielzahl von Proben
mengen auf einfache Weise analysieren lassen.
Zur Lösung dieser Aufgabe wird mit der Erfindung ein
Probenträger für insbesondere mikroskopische Unter
suchungen einer Vielzahl von Proben vorgeschlagen, der
vorzugsweise für die Fluoreszenz-Spektroskopie einsetz
bar ist und versehen ist mit
- - einem scheibenförmigen Substrat mit zwei Seiten flächen und
- - einer Vielzahl von separate Probeaufnahmeräume bildenden Vertiefungen, die in eine der Seiten flächen des Substrats eingebracht sind und die jeweils eine Bodenwand sowie Seitenwände aufweisen und zu der betreffenden Seitenfläche des Substrats hin offen sind,
- - wobei die Anordnung der Vertiefungen gleichmäßig ist und
- - wobei das Substrat ein Polymer-Material aufweist.
Der erfindungsgemäße Probenträger weist ein scheiben
förmiges Substrat aus einem Polymer-Material auf. Das
scheibenförmige Substrat ist mit zwei (Haupt-)Seiten
flächen versehen, bei denen es sich um Kreisflächen
handelt. In eine dieser Seitenflächen sind eine Viel
zahl von Vertiefungen angeordnet, wobei jede Vertiefung
eine Bodenwand sowie Seitenwände aufweist und zur be
treffenden Seitenfläche des Substrats hin offen ist.
Die Anordnung der Vertiefungen ist gleichmäßig, wobei
insbesondere vorgesehen ist, daß die Vertiefungen zu
einzelnen Gruppen zusammengefaßt sind und die Vertie
fungen jeder Gruppe gleichmäßig in insbesondere zu ein
ander orthogonalen Spalten und Reihen angeordnet sind.
Der erfindungsgemäße Probenträger weist insbesondere
ein Substrat aus Polycarbonat auf, das durch Spritzguß
technik oder durch Heißprägen oder einer Kombination
von beidem hergestellt ist.
In vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung ist vorge
sehen, daß sämtliche Vertiefungen (punkt-)symmetrisch
zum Mittelpunkt oder einer Durchmesserlinie der betref
fenden Seitenfläche des Substrats angeordnet sind.
Durch diese punktsymmetrische Anordnung der Vertiefun
gen bleibt die relative Lage der Vertiefungen unterein
ander gleich, wenn das aus Polymer-Material gefertigte
Substrat abkühlt. Der mit der Abkühlung üblicherweise
einhergehende Schrumpfvorgang des Kunststoff-Substrats
wirkt sich also auf die relative Lage der Vertiefungen
nicht nachteilig aus.
Vorzugsweise sind die Vertiefungen in Gruppen zusammen
gefaßt angeordnet, wobei die Anordnung der Vertiefungen
innerhalb jeder Gruppe und die Anordnung sämtlicher
Gruppen untereinander jeweils gleichmäßig ist. Insbe
sondere sind die Vertiefungen jeder Gruppe in zueinan
der orthogonalen Reihen und Spalten angeordnet. Hier
bieten sich die von Mikrotitrationsplatten her bekann
ten Anzahlen von Vertiefungen pro Gruppe an. So können
beispielsweise pro Gruppe sechsundneunzig bzw. einhun
dert Vertiefungen vorgesehen sein, die in acht Reihen
und zwölf Spalten bzw. zehn Reihen und zehn Spalten
regelmäßig angeordnet sind. Derartige eine rechteck
förmige Außenkontur aufweisende Gruppen von Vertiefun
gen lassen sich insbesondere derart auf dem scheiben
förmigen Substrat anordnen, daß sie symmetrisch zur
Radialerstreckung angeordnet sind, d. h. daß ihre Reihen
(oder, alternativ, ihre Spalten) parallel zu einer
Radiallinie verlaufen, während ihre Spalten (oder,
alternativ, ihre Reihen) quer dazu verlaufen.
Alternativ zur obigen Ausgestaltung und Form der Grup
pen von Vertiefungen lassen sich diese auch nebeneinan
derliegend entlang einzelner sich radial erstreckender
Reihen anordnen.
Eine weitere Alternative der Anordnung der Vertiefungen
pro Gruppe besteht darin, daß jede Gruppe einen sektor
förmigen Abschnitt des scheibenförmigen Substrats über
deckt, wobei die Vertiefungen jeder Gruppe entlang sich
radial erstreckender Radiallinien und entlang sich in
Umfangsrichtung erstreckender Umfangslinien angeordnet
sind.
Die Anordnung der einzelnen Gruppen von Vertiefungen
erfolgt vorzugsweise innerhalb mehrerer zueinander kon
zentrischer Ringbereiche der Seitenfläche des Sub
strats, wobei die Ringbereiche unterschiedlich große
Durchmesser aufweisen. Hierbei ist ferner mit Vorteil
vorgesehen, daß die Anzahl der Gruppen von Vertiefungen
pro Ringbereich ein konstantes Vielfaches der Anzahl
der Gruppen von Vertiefungen des jeweils benachbarten
im Durchmesser kleineren Ringbereichs ist. Eine der
artige Ausgestaltung des Substrats macht es möglich,
daß Gruppen von Vertiefungen eines Ringbereichs "auf
Lücke" zu den Gruppen von Vertiefungen des nächstklei
neren Ringbereichs angeordnet sind. Hierbei können dann
über sämtliche Ringbereiche betrachtet Gruppen von Ver
tiefungen in radialer Erstreckung betrachtet miteinan
der fluchtend angeordnet sein.
Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der
Erfindung sind die Bodenwände der Vertiefungen gelocht,
d. h. porös. Vorzugsweise befinden sich in den Vertie
fungen (zusätzlich) poröse Zwischenböden. Eine derarti
ge Konstruktion ist insbesondere für einen Medienaus
tausch (Testsubstanzen können durch die porösen Böden
diffundieren) und bei Untersuchungen an biologischen
Material (z. B. Zellen) von Vorteil.
Die regelmäßige Anordnung der Vertiefungen innerhalb
jeder Gruppe von Vertiefungen hat den Vorteil, daß zum
Anfahren der einzelnen Vertiefungen stets die gleiche
Steuerung eingesetzt werden kann. Das Analysengerät,
das Mikroskop, Dispensier- und/oder Pipettiervorrich
tungen können also zum Anfahren der in den einzelnen
Vertiefungen befindlichen Probenmengen von Gruppe zu
Gruppe stets gleich angesteuert werden. Dies verein
facht die automatische Steuerung dieser Geräte und Vor
richtungen ganz erheblich.
Die Verdampfung von Lösungsmitteln kleinster Probenmen
gen ist für analytische Verfahren mitunter problema
tisch und kann zu fehlerhaften Konzentrationsbestim
mungen führen. Die gefüllten Vertiefungen des erfin
dungsgemäßen Probenträgers lassen sich jedoch mecha
nisch nicht verschließen, ohne daß die Gefahr besteht,
daß das Verschlußorgan (Deckel oder Verschlußfolie) mit
den Probenmengen der einzelnen Vertiefungen in Kontakt
gelangt. Die Folge ist eine Verschleppung von Inhalten
einzelner Probenmengen in benachbarte Vertiefungen in
folge der Oberflächenspannungen vornehmlich wäßriger
Proben. Gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung der
Erfindung wird die Problematik der Unterbindung der
Verdampfung von Lösungsmitteln der Probenmengen in den
Vertiefungen dadurch gelöst, daß ein scheibenförmiges
Deckelteil mit abstehendem umlaufenden Außenrand am
Umfang zum Überdecken der zu einer Seitenfläche des
Substrats hin offenen Vertiefungen und zum Umgreifen
des Substrats vorgesehen ist. Der abstehende umlaufende
Außenrand des Deckelteils stützt sich am Substrat ab,
wodurch der Deckelteil von der Seitenfläche des Sub
strats beabstandet ist. Im verschlossenen Zustand hat
der Deckelteil also keinen physikalischen Kontakt zu
den einzelnen Vertiefungen, wobei der Abstand zwischen
Substrat und Deckelteil vorzugsweise nicht größer als
zwei Millimeter ist. Durch den Abstand zwischen Sub
strat und Deckelteil bildet sich ein Gasraum mit einem
maximalen Volumen im µl-Bereich. Das verdampfte Flüs
sigkeitsvolumen zur Sättigung dieses Gasraums ist ver
schwindend gering, so daß die hierdurch erzeugten Unge
nauigkeiten, beispielsweise bei der Konzentrationsbe
stimmung der in den Vertiefungen befindlichen Proben
mengen, minimal und für eine Vielzahl von analytischen
Fragestellungen noch akzeptabel sind.
Vorzugsweise ist der umlaufende Außenrand des Deckels
mit einer Innenschulterfläche versehen, über die das
Deckelteil auf dem Umfangsrand des Substrats aufliegt.
Aus Stabilitätsgründen ist es zweckmäßig, wenn das
Deckelteil auch einen Innenumfangsrand aufweist, der
insbesondere konzentrisch zum Außenumfangsrand verläuft
und ebenfalls auf dem Substrat aufliegt. Hierdurch ist
das Deckelteil innen und außen auf dem Substrat abge
stützt.
Um das Deckelteil zur Befüllung der Vertiefungen nicht
vom Substrat abnehmen zu müssen, ist gemäß einer vor
teilhaften Weiterbildung der Erfindung vorgesehen, daß
das Deckelteil mindestens eine sich in radialer Rich
tung erstreckende Aussparung aufweist, deren Form
gleich der Außenkontur einer Gruppe oder eines Teils
einer Gruppe von Vertiefungen des Substrats ist. Insbe
sondere ist es möglich, daß die Form der Aussparung des
Deckelteils derart gewählt ist, daß über die Aussparung
auf die Vertiefungen mehrerer Gruppen zugegriffen wer
den kann. Durch Drehen des Deckelteils relativ zum Sub
strat kann auf sämtliche Vertiefungen des Substrats
zugegriffen werden, wobei gewährleistet ist, daß stets
nur eine verhältnismäßig kleine Anzahl von Vertiefungen
über die Aussparung nach oben hin offen, d. h. durch das
Deckelteil nicht überdeckt, sind. Insbesondere ist es
möglich, daß sich die Aussparung über mehrere konzen
trische Ringbereiche des Substrats, in denen die ein
zelnen Gruppen von Vertiefungen angeordnet sind, er
streckt.
Nachfolgend werden anhand der Figuren Ausführungsbei
spiele der Erfindung näher erläutert. Im einzelnen zei
gen:
Fig. 1 eine Draufsicht auf einen Polycarbonat-Pro
benträger mit mehreren über zwei konzentri
sche Ringbereiche gleichmäßig verteilten
Gruppen von Vertiefungen,
Fig. 2 eine Draufsicht auf einen Polycarbonat-Pro
benträger mit einer gegenüber dem Ausfüh
rungsbeispiel gemäß Fig. 1 unterschiedlichen
Anordnung der Vertiefungen pro Gruppe,
Fig. 3 eine Unteransicht auf ein Deckelteil zur Auf
lage auf das Substrat gemäß Fig. 2,
Fig. 4 einen Vertikalschnitt durch das Deckelteil
gemäß Fig. 3 und das Substrat gemäß Fig. 4,
Fig. 5 eine Draufsicht auf ein weiteres Ausführungs
beispiel eines Polycarbonat-Probenträgers mit
in radial sich erstreckenden Reihen ange
ordneten Vertiefungen und
Fig. 6 eine Unteransicht eines Deckelteils zur Auf
lage auf dem Probenträger gemäß Fig. 5.
In Fig. 1 ist in Draufsicht ein Probenträger 10 gemäß
einem ersten Ausführungsbeispiel dargestellt. Der Pro
benträger 10 weist ein scheibenförmiges Polycarbonat-
Substrat 12 mit zwei kreisflächenförmigen Seiten 14
auf, von denen in Fig. 1 die Oberseite gezeigt ist. In
der Mitte des Probenträgers 10 befindet sich im Sub
strat 12 eine Durchgangsbohrung 16.
In die Oberseite 14 des Substrats 12 sind eine Vielzahl
von Vertiefungen 18 eingebracht, die Bodenwände und
Seitenwände aufweisen und die in der Darstellung gemäß
Fig. 1 nach oben hin offen sind. Die Vertiefungen 18
sind zu einzelnen Gruppen 20 zusammengefaßt, innerhalb
derer sie in zueinander orthogonalen Reihen 22 und
Spalten 24 regelmäßig auf einer quadratischen Fläche 26
angeordnet sind. Im Beispiel gemäß Fig. 1 sind pro
Reihe 22 und pro Spalte 24 zehn Vertiefungen 18 vorge
sehen. Die einzelnen Gruppen 20 von Vertiefungen 18
sind in Umfangsrichtung gleichmäßig verteilt innerhalb
zweier konzentrischer Ringbereiche 28, 30 angeordnet.
Dabei weist der innere Ringbereich 28 halb so viele
Gruppen 20 von Vertiefungen 18 auf wie der Außenringbe
reich 30. Im Außenringbereich 30 sind die Gruppen 20
von Vertiefungen 18 teils in radial fluchtender Aus
richtung mit den Gruppen 20 von Vertiefungen 18 des
Innenringbereichs 28 angeordnet; die übrigen Gruppen 20
von Vertiefungen 18 des Außenringbereichs 30 sind zu
den Vertiefungsgruppen 20 des Innenringbereichs 28 auf
Lücke angeordnet. Sämtliche Vertiefungsgruppen 20 sind
symmetrisch zu einer zu den Reihen 22 parallel verlau
fenden Mittellinie 32 angeordnet, wobei die Mittel
linien 32 jeweils in radialer Richtung verlaufen.
Ein Probenträger 10' gemäß einem anderen Ausführungs
beispiel der Erfindung ist in Draufsicht in Fig. 2 ge
zeigt. Soweit die einzelnen Teile des Probenträgers 10'
denjenigen des Gruppenträgers 10 der Fig. 1 ent
sprechen, sind sie mit den gleichen Bezugszeichen ver
sehen.
Wie man anhand eines Vergleichs der Fig. 1 und 2 er
kennen kann, besteht der Unterschied zwischen den bei
den Probenträgern 10 und 10' darin, daß die Anzahl und
Anordnung der Vertiefungen 18 pro Vertiefungsgruppe 20
unterschiedlich ist. Die Flächen 26, innerhalb derer
die Vertiefungen 18 einer Gruppe 20 des Probenträgers
10 untergebracht sind, sind rechteckig, d. h. nicht qua
dratisch, wobei die Vertiefungen 18 auf acht Reihen 22
und zwölf Spalten 24 gleichmäßig verteilt angeordnet
sind. Im übrigen ist die Aufteilung des Substrats 12 in
zwei konzentrische Ringbereiche 28, 30 und die Anzahl
von Vertiefungsgruppen 20 pro Ringbereich 28, 30 bei
beiden Probenträgern gleich.
Fig. 3 zeigt eine Unteransicht auf ein Deckelteil 34,
das einen Scheibenkörper 36 mit einem aufragenden ab
stehenden Außenrand 38 und einen konzentrisch zum
Außenrand 38 angeordneten ebenfalls aufragenden Innen
rand 40 aufweist. Konzentrisch zum Innenrand 40 ist ein
Durchgangsloch 42 vorgesehen, das bei auf dem Substrat
12 des Probenträgers 10' aufliegenden Deckelteil 34 mit
dem Mittelloch 16 des Probenträgers 10 fluchtet (siehe
Fig. 4). Der Außenrand 38 umfaßt das Substrat 12 des
Probenträgers 10' und weist auf seiner Innenseite 44
eine Stufe 46 auf, deren Abstand zum Scheibenkörper 36
gleich der Höhe des Innenrandes 40 ist. Über den Innen
rand 40 und die Stufe 46 des Außenrandes 38 liegt das
Deckelteil 34 auf den Probenträger 10' auf.
Das Deckelteil 34 dient zur Überdeckung der in die
Oberseite 14 des Substrats 12 eingebrachten Vertiefun
gen 18, so daß der Verdunstung von den in den Vertie
fungen 18 eingebrachten Probenmengen Einhalt geboten
ist. Um bei auf dem Probenträger 10' aufliegenden
Deckelteil 34 Zugang zu den Vertiefungen 18 des Proben
trägers 10' zu erhalten, sind im Scheibenkörper 36 des
Deckelteils 34 zwei Aussparungen 48 ausgebildet, deren
Form gleich der Fläche 26 einer Gruppe 20 von Vertie
fungen 18 des Probenträgers 10' ist. Durch Verdrehen
von Deckelteil 34 und Probenträger 10' relativ zueinan
der kann somit auf die Vertiefungen 18 jeder Gruppe 20
zugegriffen bzw. diese Vertiefungen 18 freigelegt wer
den, um beispielsweise Probenmengen und/oder Analysen
flüssigkeiten und/oder dergleichen in die Vertiefungen
18 einzubringen bzw. aus diesen zu entnehmen.
Fig. 5 und 6 zeigen ein weiteres Ausführungsbeispiel
eines Probenträgers 10'' bzw. eines Deckelteils 34''.
Soweit die Teile des Probenträgers 10'' und des Deckel
teils 34'' denjenigen der Probenträger 10, 10' und des
Deckelteils 34 der Fig. 1 bis 4 entsprechen, sind sie
mit den gleichen Bezugszeichen versehen.
Der Unterschied des Probenträgers 10'' gegenüber den
Probenträgern 10 und 10' besteht in der Anordnung der
Vertiefungen 18 entlang der radial verlaufenden Linien
32, wobei auch für den Probenträger 10'' gilt, daß die
Anzahl von Vertiefungen 18 im Außenringbereich 30 des
Substrats 12 doppelt so groß ist wie die Anzahl der
Vertiefungen 18 im Innenringbereich 28. Auf jeder zwei
ten radial verlaufenden Linie 32 sind also lediglich im
Außenringbereich 30 Vertiefungen 18 angeordnet, während
entlang dieser Linien 32 innerhalb des Innenringbe
reichs 28 keinerlei Vertiefungen angeordnet sind. Das
Deckelteil 34'' zum Abdecken des Probenträgers 10'' weist
eine in Radialrichtung verlaufende langgestreckte Aus
sparung 48 auf, deren Erstreckung in radialer Richtung
gleich der Länge der längeren Reihen 22 von Vertiefun
gen 18 des Probenträgers 10'' ist. Der Zugriff auf die
Vertiefungen 18 des Probenträgers 10'' erfolgt also bei
Verwendung des Deckelteils 34'' reihenweise, indem Pro
benträger 10'' und Deckelteil 34'' relativ zueinander
verdreht werden.
Auf den hier beschriebenen und in den Figuren gezeigten
Probenträgern 10, 10' und 10'' lassen sich eine Vielzahl
von Vertiefungen 18 auf dem Substrat 12 unterbringen.
Unter der Annahme, daß das Substrat 12 einen Außen
durchmesser von ca. 12 cm aufweist, lassen sich mit der
Anordnung gemäß den Fig. 1 und 2 auf den Probenträgern
10' und 10'' jeweils 2304 Vertiefungen 18 unterbringen,
während der Probenträger 10 2400 Vertiefungen 18 auf
weist. Jede Vertiefung 18 weist dabei eine Kantenlänge
bzw. einen Durchmesser von etwa 1,3 mm auf.
Vorzugsweise ist die Dicke des Substrats zwischen 0,6
und 1,2 mm zu wählen. Es ist bevorzugt, den Abstand
zwischen den Innenseiten der Bodenwände der Vertiefung
und der Unterseite des Substrats (Bodenwandstärke) je
nach Brechungsindex n des verwendeten Substratmaterials
auszuwählen. Dieser Abstand beträgt in bevorzugter
Weise bei Verwendung von Polycarbonat (n = 1,6) zwi
schen 120 und 130 µm, bei Verwendung von Polyolefinen
oder Glas (n = 1,52) ca. 170 µm und bei Verwendung von
Polymethylmethacrylat PMMA (n = 1,49) ca. 200 µm. Die
Bodenwandstärke kann auch unabhängig vom verwendeten
Substratmaterial kleiner als 10 µm sein. Dies ist ins
besondere beim Einsatz von Standard-Mikroskopobjektiven
von Vorteil.
Insbesondere kann der Probenträger die bekannten Dimen
sionen herkömmlicher Compact Discs, Mini CDs o. ä. auf
weisen. So kann das Durchgangsloch 16 insbesondere
einen Durchmesser von 1,5 cm aufweisen. Der zwischen
dem Durchgangsloch 16 und dem Innenringbereich 28 lie
gende innerste Ringbereich, welcher in geeigneter Weise
zur Speicherung von Probendaten ausgestaltet sein kann,
weist insbesondere einen Außendurchmesser von 4,5 cm
auf. Der Außendurchmesser des Substrats kann insbeson
dere 12 cm betragen.
Claims (18)
1. Probenträger für insbesondere mikroskopische
Untersuchungen einer Vielzahl von Proben, vorzugs
weise für die Fluoreszenz-Spektroskopie, mit
- - einem scheibenförmigen Substrat (12) mit zwei Seitenflächen (14) und
- - einer Vielzahl von separate Probeaufnahme räume bildenden Vertiefungen (18), die in eine der Seitenflächen (14) des Substrats (12) eingebracht sind und die jeweils eine Bodenwand sowie Seitenwände aufweisen und zu der betreffenden Seitenfläche (14) des Sub strats (12) hin offen sind,
- - wobei die Anordnung der Vertiefungen (18) gleichmäßig ist und
- - wobei das Substrat (12) ein Polymer-Material aufweist.
2. Probenträger nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die Vertiefungen (18) symmetrisch zum
Mittelpunkt (16) oder einer Durchmesserlinie der
Seitenfläche (14) des Substrats (12) angeordnet
sind.
3. Probenträger nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich
net, daß die Vertiefungen (18) in Gruppen (20)
zusammengefaßt angeordnet sind, wobei die Anord
nung der Vertiefungen (18) innerhalb jeder Gruppe
(20) und die Anordnung sämtlicher Gruppen (20)
untereinander jeweils regelmäßig ist.
4. Probenträger nach Anspruch 3, dadurch gekennzeich
net, daß die Vertiefungen (18) jeder Gruppe (20)
in zueinander orthogonalen Reihen (22) und Spalten
(24) angeordnet sind.
5. Probenträger nach Anspruch 3, dadurch gekennzeich
net, daß die Vertiefungen (18) jeder Gruppe (20)
nebeneinanderliegend entlang jeweils einer sich
radial erstreckenden Reihe (Mittellinien 32) ange
ordnet sind.
6. Probenträger nach Anspruch 3, dadurch gekennzeich
net, daß jede Gruppe sektorförmig ist, wobei ihre
Vertiefungen entlang sich radial erstreckender
Radiallinien und entlang sich in Umfangsrichtung
erstreckender Umfangslinien angeordnet sind.
7. Probenträger nach einem der Ansprüche 3 bis 6, da
durch gekennzeichnet, daß die Gruppen (20) von
Vertiefungen (18) in mehreren zueinander konzen
trischen Ringbereichen (28, 30) der Seitenfläche
(14) des Substrats (12) angeordnet sind, wobei die
Ringbereiche (28, 30) unterschiedlich große Durch
messer aufweisen.
8. Probenträger nach Anspruch 7, dadurch gekennzeich
net, daß die Anzahl der Gruppen (20) von Vertie
fungen (18) pro Ringbereich (28, 30) ein konstantes
Vielfaches der Anzahl der Gruppen (20) von Vertie
fungen (18) des jeweils benachbarten und im Durch
messer kleineren Ringbereichs (28, 30) ist.
9. Probenträger nach Anspruch 7 oder 8, sofern auf
Anspruch 3 oder 4 rückbezogen, dadurch gekenn
zeichnet, daß sämtliche Ringbereiche (28, 30) Grup
pen (20) von Vertiefungen (18) aufweisen, die in
radialer Erstreckung betrachtet miteinander fluch
ten.
10. Probenträger nach einem der Ansprüche 1 bis 9, da
durch gekennzeichnet, daß die Bodenwände der Ver
tiefungen (18) porös sind.
11. Probenträger nach einem der Ansprüche 1 bis 10,
dadurch gekennzeichnet, daß ein scheibenförmiges
Deckelteil (34; 34'') mit einem abstehenden umlau
fenden Außenrand (38) am Umfang zum Überdecken der
zu einer Seitenfläche (14) des Substrats (12)
offenen Vertiefungen (18) und zum Umgreifen des
Substrats (12) vorgesehen ist.
12. Probenträger nach Anspruch 11, dadurch gekenn
zeichnet, daß der umlaufende Rand (38) des Deckel
teils (34; 34'') eine Innenschulterfläche (46) zur
Auflage auf dem Substrat (12) aufweist.
13. Probenträger nach Anspruch 12, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Deckelteil (34; 34'') einen ab
stehenden umlaufenden Innenrand (40) zur Auflage
auf dem Substrat (12) aufweist.
14. Probenträger nach einem der Ansprüche 11 bis 13,
dadurch gekennzeichnet, daß das Deckelteil (34;
34'') mindestens eine sich in radialer Richtung er
streckende Aussparung (48) aufweist, deren Form
gleich der Außenkontur (26) einer Gruppe (20) von
Vertiefungen (18) oder eines Teils einer Gruppe
(20) von Vertiefungen (18) des Substrats (12) ist
oder diese bzw. diesen umfaßt.
15. Probenträger nach Anspruch 14, soweit auf einen
der Ansprüche 7 bis 9 rückbezogen, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Deckelteil (34; 34'') mindestens
eine Aussparung (48) aufweist, die sich in radi
aler Richtung über die konzentrischen Ringbe
reiche (28, 30) hinweg erstreckt.
16. Probenträger nach Anspruch 15, 14 und 9, dadurch
gekennzeichnet, daß die Form der mindestens einen
Aussparung (48) des Deckelteils (34; 34'') gleich
der Gesamtaußenkontur der jeweils miteinander
radial fluchtenden Gruppen (20) von Vertiefungen
(18) der Ringbereiche (28, 30) des Substrats (12)
ist.
17. Probenträger nach einem der Ansprüche 1 bis 16,
dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat (12)
Polycarbonat aufweist.
18. Probenträger nach einem der Ansprüche 1 bis 17,
dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat (12)
durch Spritzgußtechnik und/oder Heißprägen herge
stellt ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752085A DE19752085A1 (de) | 1996-12-21 | 1997-11-25 | Probenträger für insbesondere mikroskopische Untersuchungen einer Vielzahl von Proben |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19653766 | 1996-12-21 | ||
DE19752085A DE19752085A1 (de) | 1996-12-21 | 1997-11-25 | Probenträger für insbesondere mikroskopische Untersuchungen einer Vielzahl von Proben |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19752085A1 true DE19752085A1 (de) | 1998-06-25 |
Family
ID=7815844
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19752085A Withdrawn DE19752085A1 (de) | 1996-12-21 | 1997-11-25 | Probenträger für insbesondere mikroskopische Untersuchungen einer Vielzahl von Proben |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19752085A1 (de) |
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- 1997-11-25 DE DE19752085A patent/DE19752085A1/de not_active Withdrawn
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