DE19744445A1 - Verfahren zum Bestimmen des dispersiven Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung - Google Patents
Verfahren zum Bestimmen des dispersiven Wellenwiderstandes einer MikrostreifenleitungInfo
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/04—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen des dispersiven Wellenwiderstandes
einer Mikrostreifenleitung bei Frequenzen im GHz-Bereich.
Unter den verschiedenen Bauformen von Streifenleitungen hat die Mikrostreifenleitung
(Mikrostrip) die größte praktische Bedeutung, da sie für integrierte
Mikrowellenschaltungen besonders geeignet ist. Sie besitzt jedoch den Nachteil, daß ihr
Wellenwiderstand stark frequenzabhängig (dispersiv) ist. Dies ist darauf zurückzuführen,
daß sich auf einer Mikrostreifenleitung das elektromagnetische Feld teilweise in Luft und
teilweise im Dielektrikum ausbreitet und daher nicht nur Querkomponenten, sondern auch
Längskomponenten aufweist (Quasi-TEM-Welle).
Für die Berechnung und Darstellung der Dispersion des Wellenwiderstandes einer
Mikrostreifenleitung sind schon eine Vielzahl von Theorien und Modelle entwickelt
worden, die am häufigsten diskutieren vier Modelle sind als Kurven a, b, c und d in der
Figur gegenübergestellt. Sie kommen für hohe Frequenzen zu deutlich unterschiedlichen
Ergebnissen. Die am häufigsten zitierte und empfohlene Berechnungsvorschrift ist die von
Jansen/Kirschning (Kurve a).
Einzelheiten dieser bekannten Modelle und Berechnungsvorschriften auch für den
statischen Wellenwiderstand Zo bei der Frequenz 0 nach Wheeler sind im Artikel
"Vergleich mehrere Näherungsmethoden zur Berechnung des Wellenwiderstandes von
Mikrostreifenleitungen mit experimentellen Meßergebnissen" Kleinheubacher Berichte,
1996, Band 40, Seiten 512 bis 521 mit entsprechenden Literaturangaben zusammenfassend
beschrieben. .
Neueste Messungen haben ergeben, daß selbst die Berechnungsvorschrift nach
Jansen/Kirschning fehlerhaft ist und nicht den tatsächlichen Verhältnissen nicht gerecht
wird.
Es ist daher Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren aufzuzeigen, mit welchem der
dispersive Wellenwiderstand einer Mikrostreifenleitung für beliebig hohe Frequenzen exakt
bestimmbar ist.
Diese Aufgabe wird ausgehend von einem Verfahren laut Oberbegriff des
Patentanspruches durch dessen kennzeichnende Merkmale gelöst.
Der gemäß der Erfindung verwendete und durch exakte Messungen gewonnene
Dispersionsverlauf nach Kurve Z ermöglicht eine exakte Korrektur des in bekannter Weise
beispielsweise nach Wheeler berechneten statischen Wellenwiderstandes Zo. Eine
Mikrostreifenleitung, deren statischer Wellenwiderstand unter Berücksichtigung der Dicke
h und der effektiven Permittivität des Dielektrikums des Substrats sowie der Breite w und
der Dicke t des Streifenleiters nach dieser bekannten Berechnungsvorschrift dimensioniert
ist und beispielsweise bei der Frequenz 0 einen Wellenwiderstand von 50 Ω aufweist kann
damit gemäß dem Dispersionsverlauf Z für jede Frequenz bzw. für jedes Frequenzband im
GHz-Bereich zwischen 0 und etwa 30 GHz entsprechend korrigiert werden. Diese
Korrekturwerte können dann beispielsweise beim Kalibrieren eines vektoriellen
Netzwerkanalystors, der mit einem in Mikrostreifenleitungstechnik ausgebildeten
Kalibrierstandard von 50 Ω bei niederen Frequenzen kalibriert wurde und dessen
Meßparameter damit auf diesen Wellenwiderstand der Mikrostreifenleitung normiert sind,
auf den für höhere Frequenzen geltenden Wellenwiderstand renormalisiert werden.
Der dargestellte Dispersionsverlauf Z resultiert aus einer direkten Messung einer
Mikrostreifenleitung auf einem Substrat aus Aluminiumoxyd einer Dicke von 25 mil
(0,635 mm) und einer relativen Permittivität εr = 9,9. Für andere Substratdicken bzw.
andere Substratmaterialien können entsprechende Dispersionsverläufe für eine Korrektur
gemessen werden. Darauf aufbauend kann dann ähnlich wie bei Jansen/Kirschning eine
Formel für die Berechnung des dispersiven Wellenwiderstandes aus entsprechenden
Stützwerten der gemessenen Dispersionsverläufe aufgestellt werden, mit der unter
Berücksichtigung der relativen Permittivität des Dielektrikums, der daraus ermittelten
effektiven Permittivität und der daraus beispielsweise nach dem Modell von Getsinger
berechneten Dispersion der effektiven Permittivität sowie dem Produkt aus Dicke h des
Substrats mal Frequenz f sowie der normierten Leiterbreite w/h auf einem Rechner der
dispersive Wellenwiderstand exakt berechnet werden kann. Der statische Wellenwiderstand
und die statische effektive Permittivität können wieder nach den bekannten
Berechnungsvorschriften berechnet werden, wie sie in der eingangs erwähnten Zusam
menfassung in "Kleinheubacher Berichte", Band 40 beschrieben sind.
Claims (1)
- Verfahren zum Bestimmen des dispersiven Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung bei Frequenzen im GHz-Bereich, dadurch gekennzeichnet, daß der statische Wellenwiderstand gemäß der in der dargestellten Abhängigkeit Z des Wellenwiderstandes von der Frequenz korrigiert wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1997144445 DE19744445A1 (de) | 1997-10-08 | 1997-10-08 | Verfahren zum Bestimmen des dispersiven Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1997144445 DE19744445A1 (de) | 1997-10-08 | 1997-10-08 | Verfahren zum Bestimmen des dispersiven Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19744445A1 true DE19744445A1 (de) | 1999-04-15 |
Family
ID=7844942
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1997144445 Withdrawn DE19744445A1 (de) | 1997-10-08 | 1997-10-08 | Verfahren zum Bestimmen des dispersiven Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19744445A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111256574A (zh) * | 2020-03-25 | 2020-06-09 | 北京理工大学 | 一种金属管道厚度测量方法及*** |
-
1997
- 1997-10-08 DE DE1997144445 patent/DE19744445A1/de not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111256574A (zh) * | 2020-03-25 | 2020-06-09 | 北京理工大学 | 一种金属管道厚度测量方法及*** |
CN111256574B (zh) * | 2020-03-25 | 2021-01-01 | 北京理工大学 | 一种金属管道厚度测量方法及*** |
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