DE19730914A1 - Mikroelektronik-Baugruppe - Google Patents
Mikroelektronik-BaugruppeInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Mikroelektronik-Baugruppe nach dem
Oberbegriff des Anspruchs 1.
Zur weiteren Miniaturisierung integrierter Schaltungen werden
in neuerer Zeit vermehrt oberflächenmontierte Bauelemente eingesetzt, da
diese in einer elektrischen Baugruppe relativ wenig Grundfläche bean
spruchen.
Eine besonders vorteilhafte Oberflächen-Montagetechnik bildet
die Flip-Chip-Anordnung, bei der ein Chip oder Baustein auf einer Seite
eine Reihe von Bondfeldern aufweist. Auf den Bondfeldern werden leitende
Bondhöcker ausgebildet, um den Baustein elektrisch mit einem separaten
Tragelement zu verbinden. Als Tragelement wird z. B. ein Substrat mit ei
nem Muster elektrischer Anschlüsse zur Kontaktierung der jeweiligen
Bondhöcker verwendet. Bei der Kontaktierung der elektrischen Anschlüsse
durch die Bondhöcker wird ein Zerfließen der Bondhöcker bewirkt, so daß
eine permanente Verbindung zu dem Substrat entsteht. Auf diese Weise
wird der Baustein von dem Substrat getragen, ohne dieses zu kontaktie
ren, denn die Oberfläche des Bausteins, welche die Bondhöcker aufnimmt,
ist im allgemeinen flach ausgebildet und bleibt von dem gegenüberliegen
den Tragelement beabstandet.
In neuerer Zeit wurden Bauelemente in Form von Mikrovorrich
tungen - z. B. mikrobearbeitete Halbleitermikrophone - entwickelt, welche
nicht die übliche flache Bauform von Halbleiterbausteinen aufweisen. Das
mikrobearbeitete Halbleitermikrophon hat vielmehr eine Brückenstruktur,
welche die unbewegliche Platte des Kondensators bildet, während ein dün
nes Siliciumdiaphragma als bewegliche Platte vorgesehen ist. Die
Brückenstruktur ist auf derselben Oberfläche bzw. Außenseite angeordnet wie
die Bondfelder des Mikrophones und steht von dieser deutlich nach außen
vor, wodurch sich das Mikrophon und ähnlich aufgebaute Mikrovorrichtun
gen nur schwer in Flip-Chip-Anordnungen integrieren lassen.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Mikroelektronik-Baugruppe
nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 zu schaffen, in die auf einfache
Weise Mikrovorrichtungen mit einer Brückenstruktur integrierbar sind.
Diese Aufgabe wird entsprechend dem kennzeichnenden Teil des
Anspruchs 1 gelöst.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung sind den Unteransprüchen
und der nachfolgenden Beschreibung zu entnehmen.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von in den beigefügten
Abbildungen dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert.
Fig. 1 zeigt schematisch im Schnitt eine Mikroelektronik-Bau
gruppe.
Fig. 2 zeigt schematisch in Draufsicht einen Teil der Mikro
elektronik-Baugruppe aus Fig. 1.
Fig. 3 zeigt schematisch in Draufsicht einen Teil eines Sub
strats der Mikroelektronik-Baugruppe aus Fig. 1.
Fig. 4 zeigt schematisch im Schnitt ein zweites Ausführungs
beispiel.
Fig. 5 zeigt schematisch im Schnitt ein drittes Ausführungs
beispiel.
Die in Fig. 1 dargestellte Mikroelektronik-Baugruppe 10 umfaßt
ein Substrat 12, das ein mikrobearbeitetes Kondensatormikrophon 14
trägt. Anstelle des oder in Ergänzung zu dem Kondensatormikrophon 14
können auch andere (Mikro-)Einrichtungen oder Unterbaugruppen, wie z. B.
Drucksensoren oder Beschleunigungsmesser, vorgesehen sein.
Das Mikrophon 14 umfaßt nach Fig. 1 und 2 einen Chip 16 mit ei
ner aktiven Fläche 18. Der Chip 16 besteht typischerweise aus Halblei
termaterial, z. B. aus kristallinem Silicium. Im Chip 16 kann - angren
zend an die aktive Fläche 18 - eine integrierte Schaltungsanordnung 20
ausgebildet sein, die aktive und/oder passive Komponenten umfassen kann.
Alternativ kann die integrierte Schaltungsanordnung 20 in einem separa
ten, aktiven Chip (nicht dargestellt) ausgebildet sein, der von dem Sub
strat 12 getragen wird, welches an das Mikrophon 14 angrenzt. Falls ak
tive Komponenten vorgesehen sind, kann ein von dem Diaphragma abgeleite
tes Audiosignal in vorgegebener Weise von der integrierten Schaltungsan
ordnung 20 verstärkt und/oder verarbeitet werden. Die aktive Fläche 18
weist eine Anordnung elektrischer Leiterbahnen 22 auf, die in einer An
zahl von Bondinseln 24 enden. Auf den Bondinseln 24 ist eine Anzahl
elektrisch leitender Bondhöcker 26 ausgebildet. Die Bondhöcker 26 weisen
eine vorgegebene Höhe d1 auf und bestehen z. B. aus Gold oder anderen Ma
terialien, die fließfähig und zur Ausbildung einer Bondverbindung mit
den Bondinseln 24 und mit geeigneten Komponenten des Substrats 12 geeig
net sind.
Der Chip 16 begrenzt ein dünnes und flexibles Siliciumdi
aphragma (Membran) 28, das aufgrund einer geeigneten Dotierung, bei
spielsweise mit Bor 29, leitend ist. Eine Außenseite 30 des Diaphragmas
28 bildet den Grund einer Ausnehmung 32, die beispielsweise durch chemi
sche Bearbeitung von einer Außenseite 34 des Chips 16, welche der akti
ven Fläche 18 gegenüberliegt, nach unten hin ausgebildet wird. Die wei
tere Außenseite 36 des Diaphragmas 28 bildet einen Teil der aktiven Flä
che 18 und ist zu dieser koplanar. Auf der aktiven Fläche 18 ist eine
Brückenstruktur 40 angeordnet, welche von der aktiven Fläche 18 um eine
Distanz d2 nach außen hin vorsteht und mit dem Diaphragma 28 einen Kon
densator bildet. Dabei bildet das Diaphragma 28 die bewegliche Platte
des Kondensatormikrophons 14. Die Brückenstruktur 40 wird typischerweise
durch Elektroplattierung unter Verwendung eines elektrisch leitenden Ma
terials, wie Gold, ausgebildet. Gegenüber dem Diaphragma 28 ist in der
Brückenstruktur 40 eine Anzahl von Perforationen 42 ausgebildet, so daß
akustische Energie durch die Perforationen 42 hindurchtreten und dadurch
auf das Diaphragma 28 auftreffen kann, so daß akustische Energie freige
geben werden kann, die von der gegenüberliegenden Seite des Diaphragmas
28 übertragen wird.
Die Brückenstruktur 40 ist elektrisch mit einem Ende einer
Leiterbahn 22a und das elektrisch leitende Diaphragma 28 mit einem Ende
einer Leiterbahn 22b verbunden. Das andere Ende der Leiterbahn 22a ist
mit einem Bondhöcker 22a verbunden, und das andere Ende der Leiterbahn
22b kann mit der integrierten Schaltungsanordnung 20 verbunden sein. Die
Leiterbahn 22a kann über einen Bondhöcker 26a geerdet sein, um einer
seits die Brückenstruktur 40 zu erden und um andererseits ein Erdpoten
tial für die Schaltungsanordnung 20 zu schaffen. Ein Bondhöcker 26b kann
mit der Schaltungsanordnung 20 über eine Bondinsel 24b elektrisch ver
bunden sein. Die Leiterbahn 22b wird gegen die Brückenstruktur 40 durch
eine Isolierschicht 43 isoliert. Damit ist der Ausgang des Mikrophons 14
durch elektrische Verbindung zwischen den Bondhöckern 26a und 26b ab
greifbar. Die Leiterbahnen 22c und 22d können dazu verwendet werden, um
den aktiven Komponenten der Schaltungsanordnung 20 Versorgungsspannungen
zuzuführen.
Eine Außenseite 44 des Substrats 12 trägt eine Anzahl elektri
scher Anschlüsse 48a-f, die derart ausgebildet sind, daß ein Ende jedes
Anschlusses 48a-f an eine Öffnung 50 angrenzt, welche sich als Durch
gangsloch von der Außenseite 44 zur anderen Außenseite 46 erstreckt. Die
anderen (nicht dargestellten) Enden der Anschlüsse 48 sind elektrisch
entweder an andere (nicht dargestellte) Komponenten angeschlossen, die
ebenfalls von dem Substrat 12 getragen werden, oder sie dienen zum ex
ternen elektrischen Anschluß der gesamten Mikroelektronik-Baugruppe 10.
Im vorliegenden Fall ist der Anschluß 48a geerdet, während über den lei
tenden Bondhöcker 26b und die zugehörige Leiterbahn 22b am Anschluß 48b
das Ausgangssignal des Mikrophons 14 anliegt. Die Anschlüsse 48c und 48d
stehen mit den leitenden Bondhöckern 26c bzw. 26d in Verbindung, um einer
gegebenenfalls vorgesehenen integrierten Schaltungsanordnung 20 geeigne
te Versorgungsspannungen zuzuführen. Fig. 3 zeigt ferner, daß sich die
Anschlüsse 48e und 48f von der Öffnung 50 aus nur über eine kurze Di
stanz erstrecken. Sie dienen lediglich dazu, mit den leitenden Bond
höckern 26e bzw. 26f eine Bondverbindung einzugehen, um so dem Mikrophon 14
ergänzenden Halt zu geben. Durch optionale weitere Anschlüsse und Bond
höcker kann der Halt des Mikrophons 14 für spezielle Anwendungen weiter
erhöht werden. Das Substrat 12 kann aus verschiedensten Materialien be
stehen, beispielsweise aus Aluminiumoxid oder einer anderen geeigneten
Keramik. Die Anschlüsse 48 können gedruckt oder als Bondinseln ausgebil
det sein.
Das in Fig. 1 gezeigte Mikrophon 14 wird mit seiner Brücken
struktur 40 oberflächenmontiert Flip-Chip-artig getragen, wobei die ak
tive Fläche 18 des Mikrophons 14 dem Substrat 12 gegenüberliegt. Der
Halt des Mikrophons 14 wird durch die leitenden Bondhöcker 26 sicherge
stellt, welche sowohl in direktem physikalischen als auch in direktem
elektrischen Kontakt mit den Anschlüssen 48 (elektrischen Leiterbahnen)
auf dem Substrat 12 stehen. Zwischen zusammengehörigen Bondhöckern 26
und Anschlüssen 48 werden elektrische Verbindungen gebildet, da das Ma
terial, aus welchem die Bondhöcker bestehen, bei der Herstellung teil
weise zerfließt. In der dargestellten Ausrichtung und Orientierung er
streckt sich die Brückenstruktur 40 von der aktiven Fläche 18 des Chips
16 ungefähr um die Distanz d2 nach unten. Da die Bondhöcker 26 von der
aktiven Fläche 18 ungefähr um die Distanz d1 vorstehen, erstreckt sich
die Brückenstruktur 40 um etwa die Distanz
d3 = d2 - d1
in einer Weise in die Öffnung 46, die bisher bei Flip-Chip-Anordnungen
nicht realisiert wurde. Bei dem Ausführungsbeispiel der Fig. 1 kann die
Brückenstruktur 40 vollständig durch die Öffnung 46 des Substrats 12
vorstehen (nicht dargestellt), ohne daß zwischen dem Substrat 12 und der
Brückenstruktur 40 eine Verbindung entsteht. Alternativ können die Bond
höcker 26 durch andere elektrische Verbindungen ersetzt werden, bei
spielsweise durch Leitersäulen oder andere längliche Leiterelemente.
Hier ist die Höhe der Bondhöcker 26 oder entsprechender anderer Verbin
dungsmittel im Hinblick auf einen zu verhindernden Kontakt zwischen vor
stehenden Teilen des Mikrophons 14 und dem Substrat 12 im Vergleich zur
herkömmlichen Flip-Chip-Anordnung weniger kritisch, da die Öffnung 50
entsprechend zur Höhe der Bondhöcker 26 ausbildbar ist. Die optimale Hö
he der Bondhöcker 26 kann dabei auch durch weitere Auslegungsanforderun
gen bestimmt sein.
Fig. 4 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel einer Mikroelek
tronik-Baugruppe 60, die ein mikrobearbeitetes Kondensatormikrophon 14
entsprechend Fig. 1 bis 3 mit einem Substrat 62 umfaßt, welches auf ei
ner Außenseite 64 die elektrischen Anschlüsse 48 trägt. Hierbei ist je
doch in dem Substrat 62 eine Öffnung 66 mit einem Boden 68 vorgesehen,
der um eine Distanz d4 zur Außenseite 64 beabstandet ist und eine Sei
tenwand 69 umfaßt. Vom Boden 68 erstreckt sich eine Reihe von Durch
trittslöchern 70 zur gegenüberliegenden Seite 72 des Substrats 62 der
art, daß durch die Durchtrittslöcher 70 Schallenergie auf das Diaphragma
28 auftreffen kann. Diese Ausbildung des Substrats 62 bietet im Ver
gleich zum Ausführungsbeispiel der Fig. 1 einen deutlich erhöhten Schutz
der Brückenstruktur 40 z. B. für Anwendungen, in welchen die Brücken
struktur 40 Stößen ausgesetzt sein kann. Die Brückenstruktur 40 er
streckt sich wiederum um eine Distanz d3 in die Öffnung 66, so daß die
Tiefe d4 der Öffnung 66 um einen Betrag
d5 = d4 - d3
größer sein muß als d3, damit die Brückenstruktur 40 um den Betrag d5
oberhalb des Bodens 68 liegt. Die Brückenstruktur 40 berührt auf diese
Weise weder den Boden 68 noch die Seitenwand 69 des Substrats 62. Alter
nativ kann die Seitenwand 69 auch geneigt verlaufen, und der Boden 68
kann uneben ausgebildet sein und/oder irgendein geeignetes Profil (nicht
dargestellt) haben, das durch die Geometrie der zu tragenden Mikroelek
tronik-Baugruppe 60 bestimmt wird.
Fig. 5 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel einer Mikroelek
tronik-Baugruppe 80 mit einem Druckwandler 82, der von einem Substrat 84
getragen wird. Der Aufbau des Druckwandlers 82 ist im wesentlichen mit
dem vorstehend beschriebenen Kondensatormikrophonaufbau identisch, und
das Substrat 84 entspricht im wesentlichen dem Substrat 62 der Fig. 4,
wobei aber in der an das Substrat 84 angrenzenden Brückenstruktur 40
keine Durchgangslöcher 70 ausgebildet sein müssen. Um den Druckwandler
82 herum ist ein Dichtring 86 derart angeordnet, daß ein abgedichteter
Raum 88 entsteht, um die Außenseite 36 des Diaphragmas 28 vom Umgebungs
druck zu trennen. Der Raum 88 kann entsprechend dem jeweiligen Anwen
dungszweck geformt sowie evakuiert oder mit Druck beaufschlagt sein. Im
Betrieb bewirken Druckänderungen in der Umgebung der Anordnung 80 Aus
lenkungen des Diaphragmas 28, wodurch sich die Kapazität zwischen dem
Diaphragma 28 und der Brückenstruktur 40 ändert, was als Indikator für
Druckänderungen nutzbar ist. Die Mikroelektronik-Baugruppe 80 mißt eine
absolute Druckdifferenz zwischen der umgebenden Umwelt und dem abgedich
teten Raum 88. Für Eich- oder Durchflußmessungen kann der Dichtring 86
auch weggelassen werden. Die Brückenstruktur 40 ragt um eine Distanz d3
in die Öffnung 66, so daß sie das Substrat 84 weder am Öffnungsboden 68,
der Seitenwand 69 noch an einer anderen Stelle kontaktiert.
Claims (12)
1. Mikroelektronik-Baugruppe mit einem Substrat (12, 62, 84),
auf welchem eine Mikrovorrichtung (14, 82) angeordnet ist, dadurch ge
kennzeichnet, daß das Substrat (12, 62, 84) an einer Außenseite (44, 64)
eine Öffnung (50, 66) und wenigstens einen elektrischen Leiter (48) auf
weist sowie die Mikrovorrichtung (14, 82) trägt, wobei sich wenigstens
eine von einer aktiven Fläche (18) der Mikrovorrichtung (14, 82) nach
außen vorstehende und von dieser getragene Komponente (40) wenigstens
teilweise in die Öffnung (50, 66) erstreckt und der wenigstens eine
elektrische Leiter (48) wenigstens ein elektrisches Verbindungsmittel
(24, 26) kontaktiert, welches auf der aktiven Fläche (18) der Mikrovor
richtung (14, 82) angeordnet ist.
2. Mikroelektronik-Baugruppe nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Öffnung (50) des Substrats (12) durchgehend ausgebil
det ist.
3. Mikroelektronik-Baugruppe nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Öffnung (66) des Substrats (62, 84) einen Boden (68)
aufweist, der eine vorgegebene Distanz zur Außenseite (64) hat.
4. Mikroelektronik-Baugruppe nach Anspruch 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Boden (68) mit wenigstens einer, insbesondere einer
Vielzahl von Durchtrittsöffnungen (70) versehen ist.
5. Mikroelektronik-Baugruppe nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die elektrischen Verbindungsmittel eine Rei
he von Bondinseln (24) umfassen, die auf der aktiven Fläche (18) ange
ordnet sind, wobei auf jede Bondinsel (24) ein Bondhöcker (26) angeord
net ist, der die zugehörige Bondinsel (24) elektrisch kontaktiert.
6. Mikroelektronik-Baugruppe nach Anspruch 5, dadurch gekenn
zeichnet, daß als elektrische Leiter des Substrats (12, 62, 84) eine
Mehrzahl von Anschlüssen (48) auf der Außenseite (44, 64) des Substrats
(12, 62, 84) die Bondhöcker (26) leitend kontaktieren.
7. Mikroelektronik-Baugruppe nach Anspruch 5 oder 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die Mikrovorrichtung (14, 82) auf dem Substrat (12,
62, 84) allein durch die Bondhöcker (26) gehalten wird.
8. Mikroelektronik-Baugruppe nach einem der Ansprüche 5 bis 7,
dadurch gekennzeichnet, daß die Bondhöcker (26) wenigstens teilweise aus
Gold bestehen.
9. Mikroelektronik-Baugruppe nach einem der Ansprüche 5 bis 8,
dadurch gekennzeichnet, daß die Bondhöcker (26) so hoch sind, daß nach
dem Anbringen der Mikrovorrichtung (14, 82) auf dem Substrat (12, 62,
84) die in die Öffnung (50, 66) ragende Komponente (40) das Substrat
(12, 62, 84) nicht kontaktiert.
10. Mikroelektronik-Baugruppe nach einem der Ansprüche 1 bis
9, dadurch gekennzeichnet, daß die Mikrovorrichtung (14, 82) ein Wandler
und die Komponente (40) eine Brücke für den Wandler ist.
11. Mikroelektronik-Baugruppe nach einem der Ansprüche 1 bis
10, dadurch gekennzeichnet, daß die Mikrovorrichtung (14) ein Mikrophon
ist.
12. Mikroelektronik-Baugruppe nach einem der Ansprüche 1 bis
11, dadurch gekennzeichnet, daß die Mikrovorrichtung (82) ein Drucksen
sor ist.
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---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R082 | Change of representative | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee | ||
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|
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