DE19718971A1 - Electroless, selective metallization of structured metal surfaces - Google Patents

Electroless, selective metallization of structured metal surfaces

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Abstract

The invention relates to a method for selective metallization, or selective activation of metal substrates structured with plastic or oxide ceramic compounds. Only the metal surface is metallized, i.e. electro-conductively, without coating the structuring materials. The metal surface is metallized and activated in a single step.

Description

Die Erfindung betrifft die stromlose selektive Metallisie­ rung von mit Kunststoffen oder keramischen Verbindungen strukturierten Metalloberflächen. Dabei wird ausschließlich die Metalloberfläche metallisiert, ohne daß die Strukturie­ rungsmaterialien beschichtet werden.The invention relates to electroless selective metallization tion with plastics or ceramic compounds textured metal surfaces. This is exclusively metallized the metal surface without the structure materials are coated.

Stand der TechnikState of the art

Stromloses Metallisieren von Metalloberflächen ist insbeson­ dere in der Halbleitertechnologie eine häufige und weit ver­ breitete Verfahrensweise, um galvanische bzw. elektrochemi­ sche Prozesse zu umgehen. Naßchemische Prozesse besitzen ei­ ne wichtige Rolle bei der Herstellung von elektronischen Bauteilen zum Entfernen und bei der Ablagerung von zumeist metallischen Materialien auf diesen. Problematisch erwies sich als bislang, daß mit nichtleitenden Materialien struk­ turierte Metalloberflächen nur ganz oder gar nicht stromlos metallisiert werden konnten. In vielen Fällen (EP 0 479 373 B1) ist es zudem nötig, vor dem eigentlichen Metallisierungsschritt eine sogenannte Aktivierungslösung, beispielsweise aus organometallischen Verbindungen, aufzu­ tragen bzw. das zu beschichtende Substrat in eine derartige Lösung einzutauchen. Weiterhin ist es aus der Glasfaseroptik bekannt, optische Glasfasern zu metallisieren, indem die nackte Oberfläche eines Abschnittes einer optischen Glasfa­ ser in Abwesenheit von Sauerstoff mit einer verdünnten wäß­ rigen Sensibilisierungslösung behandelt wird, die Zinn-(II)-fluorid und ein Edelmetallhalogenid enthält (EP 0 623 565 B1).Electroless metallization of metal surfaces is particularly important a common and widespread use in semiconductor technology widespread procedure to galvanic or electrochemical bypassing processes. Wet chemical processes have ei ne important role in the production of electronic Components for removing and depositing mostly metallic materials on these. Proved problematic itself as so far that with non-conductive materials tured metal surfaces only completely or not at all without current could be metallized. In many cases  (EP 0 479 373 B1) it is also necessary before the actual Metallization step a so-called activation solution, for example from organometallic compounds wear or the substrate to be coated in such Immersion solution. Furthermore, it is made of fiber optics known to metallize optical glass fibers by the bare surface of a section of an optical glass fa water in the absence of oxygen with a dilute aq The other sensitizing solution is treated, the tin (II) fluoride and contains a noble metal halide (EP 0 623 565 B1).

Da bei elektronischen Bauteilen oftmals Siliciumsubstrate verwendet werden, ist auch auf diesem Gebiete eine Vielzahl von Lösungsmöglichkeiten zu deren stromlosen Metallisierung vorgeschlagen worden. Beispielsweise ist in dem Artikel von J. Rappich, V. Yu Timoshenko und Th. Dittrich in: Ber. Bunsenges. Phys. Chem. 1997, 101, 139-142 beschrieben, Si­ liciumoberflächen, d. h., die p-Si(100) Oberfläche, mit wäs­ serigen NH4F Lösungen elektrochemisch vorzubehandeln, um die Oxidschicht zu entfernen, so daß anschließend metallische schichten darauf abgeschieden werden können. Alle diese bis­ lang beschriebenen Verfahren weisen Nachteile auf, wie bei­ spielsweise vorherige Aktivierung mittels einer Lösung einer teuren Edelmetallverbindung, d. h. aufwendige zusätzliche Verfahrensschritte, verfahrenstechnisch aufwendige elektro­ chemische Reinigung ("electropolishing") der Substratober­ flächen oder die Verwendung spezieller, nicht allgemein ver­ wendbarer Substrate wie Glas.Since silicon substrates are often used in electronic components, a large number of possible solutions for their currentless metallization have also been proposed in this field. For example, in the article by J. Rappich, V. Yu Timoshenko and Th. Dittrich in: Ber. Bunsenges. Phys. Chem. 1997, 101, 139-142 described, silicon surfaces, ie, the p-Si (100) surface, to be electrochemically pretreated with aqueous NH 4 F solutions in order to remove the oxide layer, so that metallic layers can subsequently be deposited thereon . All of these long-described methods have disadvantages, such as, for example, prior activation by means of a solution of an expensive noble metal compound, ie complex additional process steps, process-technically complex electro-chemical cleaning ("electropolishing") of the substrate surfaces or the use of special, not generally usable substrates like glass.

Vorteile der ErfindungAdvantages of the invention

Durch die Hinzufügung einer die Metalloberflächen aktivie­ renden Verbindung zu dem Metallisierungsbad wird vorteilhaf­ terweise erreicht, daß keine teuren organometallischen Akti­ vator-Edelmetallverbindungen benötigt werden. Die struktu­ rierte Metalloberfläche wird in das Metallisierungsbad ein­ getaucht und stromlos sofort in einem Schritt metallisiert. Hierbei kann besonders vorteilhaft eine Vielzahl von Struk­ turierungsmaterialien, beispielsweise Kunststoffe oder kera­ mische Verbindungen verwendet werden, und es werden jeweils nur die freiliegenden Metalloberflächen metallisiert.By adding one to the metal surfaces The connection to the metallization bath is advantageous achieved that no expensive organometallic stocks vator precious metal compounds are required. The struktu The metal surface is immersed in the plating bath immersed and metallized instantly in one step. A large number of structures can be particularly advantageous here turation materials, such as plastics or kera Mix compounds are used, and each will only the exposed metal surfaces are metallized.

Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen des erfindungsgemäßen Verfahrens sind in den Unteransprüchen ausgeführt.Further advantageous refinements and developments of the The inventive method are in the subclaims executed.

In besonders bevorzugter Weise wird als die Metalloberfläche aktivierende Verbindung eine ionische Verbindung verwendet. Diese ionische Verbindung ist wasserlöslich, da Metallisie­ rungsbäder im allgemeinen aus wäßrigen Lösungen von Metall­ salzen bestehen. Die Verwendung einer ionischen Verbindung, insbesondere einer ionischen Fluoridverbindung ermöglicht die schnelle Verfügbarkeit von freien Fluoridionen, die die Oberflächenoxidschicht des Metallsubstrates abtragen können. Durch eine Verwendung von Fluoridionen wird das elektroche­ mische Potential des Metalles derart herabgesetzt, daß das im allgemeinen unedlere Metall des Substrates die Metallka­ tionen im Metallisierungsbad reduziert und dabei als Fluorid in Lösung geht. Auf diese derart abgeschiedenen "Start­ schichten" aus Metall werden dann weitere Metallschichten abgeschieden. It is particularly preferred as the metal surface activating compound uses an ionic compound. This ionic compound is water soluble because it is metallic tion baths generally from aqueous solutions of metal salt exist. The use of an ionic compound, in particular an ionic fluoride compound the rapid availability of free fluoride ions that the Can remove surface oxide layer of the metal substrate. By using fluoride ions the electroche Mixing potential of the metal reduced so that the generally less noble metal of the substrate metal ka ions in the metallization bath and reduced as fluoride goes into solution. On this so isolated "start layers "of metal then become further metal layers deposited.  

In besonders vorteilhafter Ausgestaltung erfolgt das Verfah­ ren, d. h. die Aktivierung und nachfolgende Metallisierung der Metalloberfläche in einem Schritt. Dadurch wird vermie­ den, daß zwei verschiedene Bäder, d. h. ein Aktivierungsbad und ein Metallisierungsbad verwendet werden müssen, was den Prozeß wesentlich beschleunigt, vereinfacht und somit die Effizienz entscheidend erhöht.The procedure is carried out in a particularly advantageous embodiment ren, d. H. activation and subsequent metallization the metal surface in one step. This is missing that two different baths, d. H. an activation bath and a metallization bath must be used, which is the Process significantly accelerated, simplified and thus the Efficiency increased significantly.

In einer besonders bevorzugten Ausführung enthält das Metal­ lisierungsbad 5 bis 25 Mol% an aktivierender Verbindung be­ zogen auf das Metallsalz. Durch diesen Gehalt wird vorteil­ hafterweise erreicht, daß die Metallisierung in einer rela­ tiv kurzen Zeitspanne erfolgt, und stets eine genügend große Fluoridkonzentration in der Lösung vorhanden ist, um die Oxidschicht auf den freien Metalloberflächen am Beginn des Prozesses kontinuierlich und schnell zu entfernen.In a particularly preferred embodiment, the metal contains 5 to 25 mol% of activating compound pulled on the metal salt. This content is advantageous fortunately achieved that the metallization in a rela tiv short period of time, and always a sufficiently large Fluoride concentration in the solution is around the Oxide layer on the free metal surfaces at the beginning of the Remove processes continuously and quickly.

Beschreibung eines AusführungsbeispielsDescription of an embodiment

In einem Ausführungsbeispiel wird als Metalloberfläche ein Siliciumsubstrat verwendet. Es kann jedoch ebenso ein Substrat verwendet werden, welches eine Oberflächenoxid­ schicht aufweist, die mittels Fluoridionen abgetragen werden kann, beispielsweise Cu, Cr usw. Selbstverständlich ist auch der Einsatz von Edelmetallen wie Au, Ag, Pt usw. möglich. Als Strukturierungsmaterial für das Siliciumsubstrat wird Polyimid eingesetzt. Selbstverständlich können auch andere bei diesem Verfahren im wesentlichen chemisch resistente Kunststoffe oder oxidische keramische Materialien verwendet werden. In einer speziellen Ausführungsform wird ein 6'-Polyimid-strukturierter Siliciumwafer, bzw. ein Stapel bestehend aus mehreren dieser Wafer verwendet. Diese Wafer werden nach einer evtl. Vorreinigung, beispielsweise Entfet­ ten, in eine Lösung aus Fluoridionen, Nickelsalzen und einem Reduktionsmittel gebracht. Eine bevorzugte Zusammensetzung des Metallisierungsbades ist nachfolgend angegeben:In one embodiment, a is used as the metal surface Silicon substrate used. However, it can also be a Substrate can be used, which is a surface oxide Has layer that are removed by means of fluoride ions can, for example Cu, Cr etc. It goes without saying the use of precious metals such as Au, Ag, Pt etc. is possible. As a structuring material for the silicon substrate Polyimide used. Of course, others can too essentially chemically resistant in this process Plastics or oxidic ceramic materials are used will. In a special embodiment, a  6'-polyimide structured silicon wafer, or a stack consisting of several of these wafers used. These wafers after possible pre-cleaning, e.g. degreasing in a solution of fluoride ions, nickel salts and one Brought reducing agent. A preferred composition of the metallization bath is given below:

In einem Liter wäßrigem Metallisierungsbad befinden sich 26 g NiSO4, 24 g Ni(CH3COO)2, 11,8 g Bernsteinsäure, 12 g Natriumhypophosphit und 5 g konzentrierte H2SO4. Dieser Lö­ sung wird in einen Anteil von 2:1 bis 4:1 eine 40%ige NH4F- oder eine 20%ige HF-Lösung zugesetzt. Der Chipstapel wird mittels einer chemisch resistenten Halterung in das Metalli­ sierungsbad eingebracht und nach einer Verweilzeit von meh­ reren Minuten, vorzugsweise zwei bis drei Minuten, bei Raum­ temperatur oder erhöhter Temperatur, beispielsweise bei 40-50°C aus dem Metallisierungsbad entfernt, gespült und ge­ trocknet. Nur die freien Siliciumoberflächen sind mit einer Nickelschicht belegt. Die Dicke der abgeschiedenen Nickel­ schicht ist der Verweildauer im Metallisierungsbade propor­ tional und beträgt bis zu 2000 nm.One liter of aqueous metallization bath contains 26 g of NiSO 4 , 24 g of Ni (CH 3 COO) 2 , 11.8 g of succinic acid, 12 g of sodium hypophosphite and 5 g of concentrated H 2 SO 4 . A 40% NH 4 F or a 20% HF solution is added to this solution in a proportion of 2: 1 to 4: 1. The chip stack is introduced into the metallization bath by means of a chemically resistant holder and, after a residence time of several minutes, preferably two to three minutes, is removed from the metallization bath at room temperature or elevated temperature, for example at 40-50 ° C., rinsed and washed dries. Only the free silicon surfaces are covered with a nickel layer. The thickness of the deposited nickel layer is proportional to the residence time in the metallization bath and is up to 2000 nm.

Es ist selbstverständlich möglich, andere Metalle als Nickel, beispielsweise Kupfer, Silber, Gold, Platin usw. zu verwenden, deren Redoxpotential größer ist als das entsprechende Redoxpotential von ERedox (Si°/Si4⁺) = -0,857 eV.It is of course possible to use metals other than nickel, for example copper, silver, gold, platinum, etc., whose redox potential is greater than the corresponding redox potential of E redox (Si ° / Si 4 ⁺) = -0.857 eV.

Durch die Fluoridionen wird das elektrochemische Potential von Silicium derart herabgesetzt, daß das unedlere Silicium das Nickel reduziert. Silicium geht dabei als vierwertiges Silicium in Lösung. Auf die so abgeschiedenen Nickelstart­ schichten wird dann weiter Nickel abgelagert. Die von oxidi­ schen und hydroxidischen Verunreinigungen befreite Siliciu­ moberfläche weist eine katalytische Aktivität auf, so daß das Reduktionsmittel, in diesem Falle Natriumhypophosphit zusätzlich aktiviert bzw. zersetzt wird, und daraufhin die Abscheidung der Startschicht erfolgt.The electrochemical potential is due to the fluoride ions of silicon so reduced that the less noble silicon the nickel reduced. Silicon works as tetravalent Silicon in solution. On the nickel start so deposited then nickel is deposited. The oxidi  silicon and hydroxide contaminants surface has a catalytic activity, so that the reducing agent, in this case sodium hypophosphite is additionally activated or decomposed, and then the The starting layer is deposited.

Claims (8)

1. Verfahren zum stromlosen Metallisieren von mit Kunststof­ fen oder keramischen Verbindungen strukturierten Metallober­ flächen, dadurch gekennzeichnet, daß nur die freie Metall­ oberfläche metallisiert wird, indem dem Metallisierungsbad eine die Metalloberfläche aktivierende Verbindung zugegeben wird.1. A method for electroless metallization of surfaces structured with plastics or ceramic compounds, characterized in that only the free metal surface is metallized by adding a compound activating the metal surface to the metallization bath. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als aktivierende Verbindung eine ionische Verbindung verwen­ det wird.2. The method according to claim 1, characterized in that use an ionic compound as the activating compound det. 3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die ionische Verbindung wasserlöslich ist.3. The method according to claim 2, characterized in that the ionic compound is water soluble. 4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die ionische Verbindung Fluorid Anionen enthält.4. The method according to claim 3, characterized in that the ionic compound contains fluoride anions. 5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Aktivierung und Metallisierung der Metalloberfläche in einem Schritt erfolgt. 5. The method according to claim 1, characterized in that the activation and metallization of the metal surface in one step.   6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnete daß als Metallisierungsbad eine im wesentlichen wässerige Me­ tallsalzlösung mit einem pH ≦ 6 verwendet wird.6. The method according to claim 1, characterized in that as a metallization bath an essentially aqueous Me tall salt solution with a pH ≦ 6 is used. 7. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnete daß im Metallisierungsbad der Gehalt an aktivierender Verbindung, bezogen auf das Metallsalz, 5 bis 25 Mol% beträgt.7. The method according to claim 1, characterized in that in Metallizing bath the content of activating compound, based on the metal salt, is 5 to 25 mol%. 8. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnete daß das Metallisierungsbad eine Carbonsäure und/oder ein Carbon­ säureanhydrid enthält.8. The method according to claim 1, characterized in that the metallization bath is a carboxylic acid and / or a carbon contains acid anhydride.
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