DE19716945C2 - Prüfadapter für elektrische Flachbaugruppen - Google Patents
Prüfadapter für elektrische FlachbaugruppenInfo
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- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
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- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Prüfadapter für elektri
sche Flachbaugruppen
nach dem Oberbegriff des An
spruchs 1.
Ein derartiger Prüfadapter ist z. B. durch die DE 88 09 592 U1
bekannt geworden. Danach sind die Tastnadeln auf ihrer der
Leiterplatte zugewandten Seite mit federnden Spitzen verse
hen, die auf Kontaktflecken der Leiterplatte aufgesetzt sind.
Auf der gegenüberliegenden Seite der Leiterplatte sind Kon
taktstifte angeordnet, die zur Leiterplatte hin ebenfalls ge
federte Spitzen aufweisen. Diese sind auf entsprechende Ge
genkontaktstellen der Leiterplatte aufgesetzt. Die Kontakt
stellen und die Gegenkontaktstellen sind über Leiterbahnen
der Leiterplatte miteinander verbunden. Dabei wird die Ver
bindung zwischen den beiden Leiterplattenseiten über durch
kontaktierte Bohrungen hergestellt. Die stiftartigen Kontakte
lemente sind über entsprechende Prüfleitungen mit einer elek
trischen Prüfeinrichtung verbindbar.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, bei einem Prüfadapter für elektrische Flachbaugruppen den konstruktiven
Aufwand zu verringern und die Kontaktsicherheit zu erhöhen.
Diese Aufgabe wird den Prüfadapter gemäß Anspruch 1 ge
löst. Die Einpreßverbindung stellt eine sehr sichere gas
dichte Kontaktierung dar, die keine axialen Federelemente be
nötigt. Derartige Federelemente erhöhen den konstruktiven
Aufwand bei den Tastnadeln und bedingen zusätzliche Kon
taktübergänge im Inneren der Tastnadeln, wobei die entspre
chenden Gleitkontakte kontakttechnisch von geringer Güte als
die Einpreßkontakte sind.
Durch die Einpreßverbindung wird außerdem eine sichere mecha
nische Verbindung hergestellt, die den Aufbau des Prüfadap
ters stabilisiert. Durch die Einpreßzonen werden auf die Lei
terplatte keine Drücke ausgeübt, die zu einer Verformung der
Leiterplatte führen könnten.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Un
teransprüchen gekennzeichnet:
Durch die Weiterbildung nach Anspruch 2 kommt es zu einer un
mittelbaren Kontaktierung der Tastnadel bzw. Kontaktelemente
mit der Leiterplatte.
Durch die Weiterbildung nach Anspruch 3 ist es möglich, stan
dardmäßige Tastnadeln zu verwenden und mittels des Kontakt
stückes an die metallisierten Bohrungen anzupassen.
Die Weiterbildung nach Anspruch 4 ermöglicht es, die Kontakt
stücke unabhängig von den Tastnadeln unter unmittelbarer
Sichtkontrolle in die Leiterplatte einzusetzen. Die Tastna
deln können in einem späteren Stadium des Zusammenbaus auf
die Kontaktstücke aufgeschoben werden.
Durch die sichere Verankerung der abgehenden Kontaktelemente
in der Leiterplatte, ist es möglich, diese nach Anspruch 5
unmittelbar als Steckerstifte auszubilden, auf die z. B. ein
Kabelstecker aufgesteckt werden kann, der mit der elektri
schen Prüfeinrichtung verbunden ist. Damit verringert sich
die Anzahl der Kontaktübergänge auch auf der Steckerseite der
Leiterplatte.
Durch die Sacklöcher nach Anspruch 6 können die Bohrungen
auf beiden Seiten der Leiterplatte unabhängig voneinander an
geordnet werden, was eine hohe Dichte der Tastnadeln und Kon
taktelemente ermöglicht.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines in der Zeichnung
dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert.
Die dargestellte Figur zeigt schematisiert einen Querschnitt
durch einen Prüfadapter 1 mit einer Halteplatte 2 für zu die
ser senkrecht stehenden Tastnadeln 3, 4. Diese sind an einem
Ende mit Tastspitzen 5 versehen, die auf Prüfpunkte 6 einer
zu prüfenden elektrischen Flachbaugruppe 7 federnd aufgesetzt
sind. An ihrem gegenüberliegenden Ende weisen die Tastnadeln
3 Einpreßkontakte 8 auf, die in der angegebenen Pfeilrichtung
in metallisierte Bohrungen einer Leiterplatte 10 eingepreßt
und darin verankert werden, wobei die Teile aus Gründen der
besseren Darstellung unmittelbar vor dem Zusammensetzen in
ihre Endstellung gezeigt sind.
Bei der Tastnadel 4 ist der Einpreßkontakt 8 als separates
Kontaktstück 11 ausgebildet, das bereits in die Leiterplatte
10 eingesetzt ist. Die Tastnadel 4 ist an diesem Ende hül
senartig ausgebildet. Das Kontaktstück 11 weist einen zur
Tastnadel 4 hin ragenden Zapfen 12 auf, der nach dem Absenken
der Halteplatte 2 in der Pfeilrichtung in die Tastnadel 4
kontaktgebend hineinragt.
Auf der den Tastnadeln 3, 4 gegenüberliegenden Seite der Lei
terplatte 10 sind senkrecht abstehende stiftartige Kontakte
lemente 13 angeordnet, auf die, z. B. ein Kabelstecker einer
elektrischen Prüfeinrichtung aufsteckbar ist. Die Kontaktele
mente sind ebenfalls in metallisierte Bohrungen 9 der Leiter
platte 10 kontaktgebend eingesetzt und über Leiterbahnen 14
mit den Tastnadeln 3, 4 verbunden, wobei die Verbindung zwi
schen den beiden Seiten der Leiterplatte über durch Kontak
tierungen 15 erfolgt.
Die Bohrungen 9 sind als Sacklöcher ausgebildet, deren Tiefe
geringer ist als die halbe Dicke der Leiterplatte 10. Dadurch
ist es möglich, die Kontaktelemente 13 unabhängig von der
Lage der Testnadeln 3, 4 auf der Leiterplatte 10 anzuordnen.
Dies ist insbesondere bei Adaptern mit meiner hohen Dichte
der Tastnadeln 3, 4 von Vorteil. In Leiterplattenbereichen
mit einer geringen Nadeldichte können die Bohrungen als
Durchgangsbohrungen so gesetzt werden, daß sie sich gegensei
tig nicht stören.
Claims (6)
1. Prüfadapter (1) für elektrische Flachbaugruppen (7) mit
Tastnadeln (3, 4) zum Aufsetzen auf Prüfpunkte (6) der Flach
baugruppe (7),
wobei die Tastnadeln (3, 4) an ihrem, der Flachbaugruppe (7) abgewandten Ende mit einer internen Leiterplatte (10) kontak tiert sind,
wobei an die Leiterplatte (10) auf der den Tastnadeln (3, 4) gegenüberliegenden Seite stiftartige Kontaktelemente (13) zum Anschluß an eine elektrische Prüfeinrichtung angesetzt sind, wobei die Tastnadeln (3, 4) und die Kontaktelemente (13) über Leiterbahnen (14) der Leiterplatte (10) miteinander verbunden sind und
wobei die Leiterplatte (10) mit metallisierten Bohrungen (9) versehen ist,
dadurch gekennzeichnet, daß die Tastnadeln (3, 4) und/oder die Kontaktelemente (13) an ihrem der Leiterplatte (10) zugewandten Ende Einpreß kontakte (8) aufweisen, die in die metallisierten Bohrungen (9) eingepreßt sind.
wobei die Tastnadeln (3, 4) an ihrem, der Flachbaugruppe (7) abgewandten Ende mit einer internen Leiterplatte (10) kontak tiert sind,
wobei an die Leiterplatte (10) auf der den Tastnadeln (3, 4) gegenüberliegenden Seite stiftartige Kontaktelemente (13) zum Anschluß an eine elektrische Prüfeinrichtung angesetzt sind, wobei die Tastnadeln (3, 4) und die Kontaktelemente (13) über Leiterbahnen (14) der Leiterplatte (10) miteinander verbunden sind und
wobei die Leiterplatte (10) mit metallisierten Bohrungen (9) versehen ist,
dadurch gekennzeichnet, daß die Tastnadeln (3, 4) und/oder die Kontaktelemente (13) an ihrem der Leiterplatte (10) zugewandten Ende Einpreß kontakte (8) aufweisen, die in die metallisierten Bohrungen (9) eingepreßt sind.
2. Prüfadapter nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Einpreßkontakte (8) einstückig mit den Tastnadeln (3)
bzw. den Kontaktelementen (13) verbunden sind.
3. Prüfadapter nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Einpreßkontakte (8) als separate Kontaktstücke (11)
ausgebildet sind, und mit den Tastnadeln (4) verbunden sind.
4. Prüfadapter nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Kontaktstück (11) an seinem der Tastnadel (4) zuge wandten Ende einen Zapfen (12) aufweist,
daß die Tastnadel (4) an ihren der Leiterplatte (10) zuge wandten Ende hülsenartig ausgebildet ist und
daß der Zapfen (12) in die Tastnadel (4) kontaktgebend hineinragt.
daß das Kontaktstück (11) an seinem der Tastnadel (4) zuge wandten Ende einen Zapfen (12) aufweist,
daß die Tastnadel (4) an ihren der Leiterplatte (10) zuge wandten Ende hülsenartig ausgebildet ist und
daß der Zapfen (12) in die Tastnadel (4) kontaktgebend hineinragt.
5. Prüfadapter nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Kontaktelemente (13) als Steckerelemente zum Auf
stecken eines mit der elektrischen Prüfeinrichtungen verbun
denen Gegensteckers ausgebildet sind.
6. Prüfadapter nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die metallisierten Bohrungen (9) als Sacklöcher ausgebil
det sind, deren Tiefe geringer ist als die halbe Dicke der
Leiterplatte (10).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1997116945 DE19716945C2 (de) | 1997-04-22 | 1997-04-22 | Prüfadapter für elektrische Flachbaugruppen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1997116945 DE19716945C2 (de) | 1997-04-22 | 1997-04-22 | Prüfadapter für elektrische Flachbaugruppen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19716945A1 DE19716945A1 (de) | 1998-11-05 |
DE19716945C2 true DE19716945C2 (de) | 1999-07-29 |
Family
ID=7827369
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1997116945 Expired - Fee Related DE19716945C2 (de) | 1997-04-22 | 1997-04-22 | Prüfadapter für elektrische Flachbaugruppen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19716945C2 (de) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AT412027B (de) * | 2001-02-12 | 2004-08-26 | Austria Tech & System Tech | Verfahren und vorrichtung zum lokalisieren von möglicherweise fehlerhaften stiften in einem prüfadapter sowie stiftziehwerkzeug |
DE10203638A1 (de) * | 2002-01-30 | 2003-07-31 | Test Plus Electronic Gmbh | Testadaptersystem zum Verbinden von Testnadeln eines Testadapteres mit einer Prüfeinrichtung |
DE102005030550B3 (de) * | 2005-06-22 | 2006-10-26 | JHS Technik Josef Schäfer | Vorrichtung zum Prüfen von bestückten oder unbestückten Leiterplatten |
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EP0184619A2 (de) * | 1984-11-14 | 1986-06-18 | RIBA Prüftechnik GmbH | Leiterplatten-Prüfeinrichtung |
DE8809592U1 (de) * | 1987-08-26 | 1988-09-22 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Rangierleiterplatte für einen Leiterplattenprüfautomat |
DE9013643U1 (de) * | 1990-09-28 | 1991-02-07 | Siemens AG, 8000 München | Adaptiereinrichtung zur elektrischen Prüfung von Leiterplatten |
-
1997
- 1997-04-22 DE DE1997116945 patent/DE19716945C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19716945A1 (de) | 1998-11-05 |
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