DE19716945C2

DE19716945C2 - Prüfadapter für elektrische Flachbaugruppen

Info

Publication number: DE19716945C2
Application number: DE1997116945
Authority: DE
Inventors: Mathias Dipl Ing Kaiser; Rolf Dipl Ing Eberbach; Herbert Dipl Ing Schoepfer
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1997-04-22
Filing date: 1997-04-22
Publication date: 1999-07-29
Anticipated expiration: 2017-04-23
Also published as: DE19716945A1

Description

Die Erfindung bezieht sich auf einen Prüfadapter für elektri sche Flachbaugruppen nach dem Oberbegriff des An spruchs 1.

Ein derartiger Prüfadapter ist z. B. durch die DE 88 09 592 U1 bekannt geworden. Danach sind die Tastnadeln auf ihrer der Leiterplatte zugewandten Seite mit federnden Spitzen verse hen, die auf Kontaktflecken der Leiterplatte aufgesetzt sind. Auf der gegenüberliegenden Seite der Leiterplatte sind Kon taktstifte angeordnet, die zur Leiterplatte hin ebenfalls ge federte Spitzen aufweisen. Diese sind auf entsprechende Ge genkontaktstellen der Leiterplatte aufgesetzt. Die Kontakt stellen und die Gegenkontaktstellen sind über Leiterbahnen der Leiterplatte miteinander verbunden. Dabei wird die Ver bindung zwischen den beiden Leiterplattenseiten über durch kontaktierte Bohrungen hergestellt. Die stiftartigen Kontakte lemente sind über entsprechende Prüfleitungen mit einer elek trischen Prüfeinrichtung verbindbar.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, bei einem Prüfadapter für elektrische Flachbaugruppen den konstruktiven Aufwand zu verringern und die Kontaktsicherheit zu erhöhen. Diese Aufgabe wird den Prüfadapter gemäß Anspruch 1 ge löst. Die Einpreßverbindung stellt eine sehr sichere gas dichte Kontaktierung dar, die keine axialen Federelemente be nötigt. Derartige Federelemente erhöhen den konstruktiven Aufwand bei den Tastnadeln und bedingen zusätzliche Kon taktübergänge im Inneren der Tastnadeln, wobei die entspre chenden Gleitkontakte kontakttechnisch von geringer Güte als die Einpreßkontakte sind.

Durch die Einpreßverbindung wird außerdem eine sichere mecha nische Verbindung hergestellt, die den Aufbau des Prüfadap ters stabilisiert. Durch die Einpreßzonen werden auf die Lei terplatte keine Drücke ausgeübt, die zu einer Verformung der Leiterplatte führen könnten.

Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Un teransprüchen gekennzeichnet:

Durch die Weiterbildung nach Anspruch 2 kommt es zu einer un mittelbaren Kontaktierung der Tastnadel bzw. Kontaktelemente mit der Leiterplatte.

Durch die Weiterbildung nach Anspruch 3 ist es möglich, stan dardmäßige Tastnadeln zu verwenden und mittels des Kontakt stückes an die metallisierten Bohrungen anzupassen.

Die Weiterbildung nach Anspruch 4 ermöglicht es, die Kontakt stücke unabhängig von den Tastnadeln unter unmittelbarer Sichtkontrolle in die Leiterplatte einzusetzen. Die Tastna deln können in einem späteren Stadium des Zusammenbaus auf die Kontaktstücke aufgeschoben werden.

Durch die sichere Verankerung der abgehenden Kontaktelemente in der Leiterplatte, ist es möglich, diese nach Anspruch 5 unmittelbar als Steckerstifte auszubilden, auf die z. B. ein Kabelstecker aufgesteckt werden kann, der mit der elektri schen Prüfeinrichtung verbunden ist. Damit verringert sich die Anzahl der Kontaktübergänge auch auf der Steckerseite der Leiterplatte.

Durch die Sacklöcher nach Anspruch 6 können die Bohrungen auf beiden Seiten der Leiterplatte unabhängig voneinander an geordnet werden, was eine hohe Dichte der Tastnadeln und Kon taktelemente ermöglicht.

Im folgenden wird die Erfindung anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert.

Die dargestellte Figur zeigt schematisiert einen Querschnitt durch einen Prüfadapter 1 mit einer Halteplatte 2 für zu die ser senkrecht stehenden Tastnadeln 3, 4. Diese sind an einem Ende mit Tastspitzen 5 versehen, die auf Prüfpunkte 6 einer zu prüfenden elektrischen Flachbaugruppe 7 federnd aufgesetzt sind. An ihrem gegenüberliegenden Ende weisen die Tastnadeln 3 Einpreßkontakte 8 auf, die in der angegebenen Pfeilrichtung in metallisierte Bohrungen einer Leiterplatte 10 eingepreßt und darin verankert werden, wobei die Teile aus Gründen der besseren Darstellung unmittelbar vor dem Zusammensetzen in ihre Endstellung gezeigt sind.

Bei der Tastnadel 4 ist der Einpreßkontakt 8 als separates Kontaktstück 11 ausgebildet, das bereits in die Leiterplatte 10 eingesetzt ist. Die Tastnadel 4 ist an diesem Ende hül senartig ausgebildet. Das Kontaktstück 11 weist einen zur Tastnadel 4 hin ragenden Zapfen 12 auf, der nach dem Absenken der Halteplatte 2 in der Pfeilrichtung in die Tastnadel 4 kontaktgebend hineinragt.

Auf der den Tastnadeln 3, 4 gegenüberliegenden Seite der Lei terplatte 10 sind senkrecht abstehende stiftartige Kontakte lemente 13 angeordnet, auf die, z. B. ein Kabelstecker einer elektrischen Prüfeinrichtung aufsteckbar ist. Die Kontaktele mente sind ebenfalls in metallisierte Bohrungen 9 der Leiter platte 10 kontaktgebend eingesetzt und über Leiterbahnen 14 mit den Tastnadeln 3, 4 verbunden, wobei die Verbindung zwi schen den beiden Seiten der Leiterplatte über durch Kontak tierungen 15 erfolgt.

Die Bohrungen 9 sind als Sacklöcher ausgebildet, deren Tiefe geringer ist als die halbe Dicke der Leiterplatte 10. Dadurch ist es möglich, die Kontaktelemente 13 unabhängig von der Lage der Testnadeln 3, 4 auf der Leiterplatte 10 anzuordnen.

Dies ist insbesondere bei Adaptern mit meiner hohen Dichte der Tastnadeln 3, 4 von Vorteil. In Leiterplattenbereichen mit einer geringen Nadeldichte können die Bohrungen als Durchgangsbohrungen so gesetzt werden, daß sie sich gegensei tig nicht stören.

Claims

1. Prüfadapter (1) für elektrische Flachbaugruppen (7) mit Tastnadeln (3, 4) zum Aufsetzen auf Prüfpunkte (6) der Flach baugruppe (7),
wobei die Tastnadeln (3, 4) an ihrem, der Flachbaugruppe (7) abgewandten Ende mit einer internen Leiterplatte (10) kontak tiert sind,
wobei an die Leiterplatte (10) auf der den Tastnadeln (3, 4) gegenüberliegenden Seite stiftartige Kontaktelemente (13) zum Anschluß an eine elektrische Prüfeinrichtung angesetzt sind, wobei die Tastnadeln (3, 4) und die Kontaktelemente (13) über Leiterbahnen (14) der Leiterplatte (10) miteinander verbunden sind und
wobei die Leiterplatte (10) mit metallisierten Bohrungen (9) versehen ist,
dadurch gekennzeichnet, daß die Tastnadeln (3, 4) und/oder die Kontaktelemente (13) an ihrem der Leiterplatte (10) zugewandten Ende Einpreß kontakte (8) aufweisen, die in die metallisierten Bohrungen (9) eingepreßt sind.

2. Prüfadapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Einpreßkontakte (8) einstückig mit den Tastnadeln (3) bzw. den Kontaktelementen (13) verbunden sind.

3. Prüfadapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Einpreßkontakte (8) als separate Kontaktstücke (11) ausgebildet sind, und mit den Tastnadeln (4) verbunden sind.

4. Prüfadapter nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß das Kontaktstück (11) an seinem der Tastnadel (4) zuge wandten Ende einen Zapfen (12) aufweist,
daß die Tastnadel (4) an ihren der Leiterplatte (10) zuge wandten Ende hülsenartig ausgebildet ist und
daß der Zapfen (12) in die Tastnadel (4) kontaktgebend hineinragt.

5. Prüfadapter nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktelemente (13) als Steckerelemente zum Auf stecken eines mit der elektrischen Prüfeinrichtungen verbun denen Gegensteckers ausgebildet sind.

6. Prüfadapter nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die metallisierten Bohrungen (9) als Sacklöcher ausgebil det sind, deren Tiefe geringer ist als die halbe Dicke der Leiterplatte (10).