DE19536295C2 - Räumlich gestaltete Signalmarke - Google Patents
Räumlich gestaltete SignalmarkeInfo
- Publication number
- DE19536295C2 DE19536295C2 DE19536295A DE19536295A DE19536295C2 DE 19536295 C2 DE19536295 C2 DE 19536295C2 DE 19536295 A DE19536295 A DE 19536295A DE 19536295 A DE19536295 A DE 19536295A DE 19536295 C2 DE19536295 C2 DE 19536295C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- signal marks
- signal
- arrangement according
- marks
- arrangement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/12—Reflex reflectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
- G01C15/02—Means for marking measuring points
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung von mehreren ebenen Signalmarken.
Bekannt sind dreidimensionale Reflektoren, beispielsweise aus der US 52 94 970, die zur
Abstandsbestimmung dienen. Derartige Reflektoren weisen im Gegensatz zu Signalmarken
keine Meßmerkmale definierter geometrischer Gestalt auf.
Signalmarken werden zur Kalibrierung und Orientierung optischer 3D-Sensoren verwendet, die
z. B. in der 3D-Koordinatenmeßtechnik und bei der Inspektion oder Positionskontrolle von Fahr
zeugen eingesetzt werden.
Bekannt sind passive, ebene Markierungen aus lichtstreuenden oder retroreflektierenden
Material oder passive, räumliche Markierungen wie Tripelprismen oder Kugeln mit diffus
streuender oder retroreflektierender Oberfläche. Außerdem werden aktive Markierungen wie
Lampen, Leuchtdioden, Laser oder innenbeleuchtete Kugeln
als Signalmarken verwendet.
Derartige Signalmarken sind lediglich aus einem begrenzten
Raumwinkel mit hoher Genauigkeit nutzbar. So weisen ebene
Markierungen bei senkrechter Beobachtung eine hohe Genau
igkeit bzgl. der Bestimmung ihrer Position auf, je schrä
ger der Beobachtungswinkel, desto ungenauer wird jedoch
die Positionsbestimmung. Bei isotroper Lichtabstrahlung
z. B. bei Kugeln, ist die Positionsbestimmung ebenfalls
sehr ungenau.
Aufgabe der Erfindung ist es deshalb, eine Anordnung von
Signalmarken anzugeben, deren Lichtabstrahlung in einem
großen Raumwinkel nutzbar ist und die Positionsbestimmung
mit einer derartigen Anordnung sehr genau ist.
Die Aufgabe wird gelöst durch die im kennzeichnenden Teil
des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmale. Vorteilhafte
Ausgestaltungen und/oder Weiterbildungen sind den Unteran
sprüchen zu entnehmen.
Die Erfindung hat den Vorteil, daß sich die durch einen
begrenzten Raumwinkel ausgezeichnete Lichtabstrahlung der
Signalmarken gegenseitig ergänzen und damit einen größeren
Gesamtwirkungsbereich ermöglichen. Um eine rotationssym
metrische Lichtabstrahlung der Signalmarken zu erzielen,
werden die Signalmarken vorzugsweise auf den Flächen eines
regulären Polyeders angeordnet. Die Winkel der benachbar
ten Flächen des Polyeders werden derart gewählt, daß sich
die Lichtabstrahlungsbereiche benachbarter Signalmarken
überlappen.
Bei der Montage der Signalmarkenanordnung an ebenen Flä
chen ist dann ein Raumwinkel von 2π und bei freistehender
Montage der Anordnung der Signalmarken ist ein Raumwinkel
von 4π nutzbar.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von Ausführungsbei
spielen beschrieben unter Bezugnahme auf schematische
Zeichnungen.
Fig. 1 zeigt eine Anordnung von Signalmarken zur Montage
auf ebenen Flächen
Fig. 2 zeigt eine Anordnung von Signalmarken zur freiste
henden Montage
In Fig. 1 ist eine Anordnung von beispielsweise 6 Signal
marken dargestellt. Die Signalmarken 1 sind auf z. B.
fünfeckigen Flächen 2 aufgebracht und bilden einen Pyrami
denstumpf 3, der eine fünfeckige Grundfläche besitzt. Der
Pyramidenstumpf ist z. B. aus Keramik hergestellt. Auf die
fünfeckigen Flächen 2 sind z. B. passive, kreisförmige Si
gnalmarken 1 aus lichtstreuendem oder retroreflektierendem
Material aufgebracht.
Die Flächen 2 des Pyramidenstumpfes können aber auch
kreisförmige Öffnungen enthalten, in die die Signalmarken
1 eingesetzt werden. Die Signalmarke besitzt beispiels
weise mindestens eine modulierbare elektrische oder
elektrooptische Lichtquelle, z. B. eine Leuchtdiode und
wird über eine Versorgungsleitung oder über einen autono
men Energiespeicher versorgt. Die Lichtquelle ist vor oder
auf einem Träger angeordnet, der eine verspiegelte Grund
fläche und Mantelfläche aufweist. Auf dem Träger befindet
sich ein Diffusor zur gleichmäßigen Verteilung des
Lichtes. Auf dem Diffusor ist ein Polarisationsfilter zur
Entspiegelung aufgebracht. Um eine definierte Lichtaus
trittsfläche zu erhalten, ist auf der Oberfläche der Si
gnalmarke eine schwarze Maske mit mindestens einer z. B.
kreisförmigen Öffnung aufgebracht. Die Materialien für die
Signalmarke werden vorteilhafterweise so gewählt, daß die
Lichtaustrittsfläche eine matte, dunkle Oberfläche auf
weist, so daß durch das Umgebungslicht nahezu keine Remis
sion hervorgerufen wird.
In Fig. 2 ist eine Anordnung von Signalmarken für eine
freistehende Montage dargestellt. Es sind z. B. 12 Signal
marken 1 auf einem aus 12 fünfeckigen Flächen 2 aufgebau
ten Polyeder aufgebracht. Die Signalmarken sind z. B. wie
im Ausführungsbeispiel 1 ausgestaltet.
Die Erfindung ist jedoch nicht auf die in den Ausführungs
beispielen angegebenen Polyederstrukturen beschränkt, son
dern jede Art von Raumanordnung von Signalmarken auf be
nachbarten geneigten Flächen, mit der zumindest eine Si
gnalmarke aus jeder Raumrichtung nahezu senkrecht beob
achtbar ist, ist verwendbar.
Auch die Ausgestaltung der Signalmarken ist nicht auf die
in den Ausführungsbeispielen angegebenen Strukturen be
schränkt, sondern es sind auch andere Formen und Arten von
Signalmarken verwendbar.
Claims (6)
1. Anordnung von mehreren ebenen Signalmarken,
jeweils aufweisend ein Meßmerkmal definierter geometrischer Gestalt,
wobei die ebenen Signalmarken auf mehreren benachbarten, zueinander geneigten
Flächen aufgebracht sind, derart, daß aus jeder Raumrichtung mindestens eine
Signalmarke nahezu senkrecht oder aus einem steilen Winkel beobachtbar ist.
2. Anordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Meßmerkmale definierter geometrischer Gestalt kreisförmig sind.
3. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Signalmarken auf den Flächen eines regulären Polyeders angeordnet sind.
4. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Winkel zwischen den benachbarten Flächen derart gewählt ist,
daß sich die Lichtabstrahlungsbereiche der jeweiligen Signalmarken überlappen.
5. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Signalmarken aus lichtstreuendem oder retroreflektierendem Material bestehen.
6. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß jede Signalmarke eine eigene Lichtquelle besitzt.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19536295A DE19536295C2 (de) | 1995-09-29 | 1995-09-29 | Räumlich gestaltete Signalmarke |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19536295A DE19536295C2 (de) | 1995-09-29 | 1995-09-29 | Räumlich gestaltete Signalmarke |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19536295A1 DE19536295A1 (de) | 1997-04-03 |
DE19536295C2 true DE19536295C2 (de) | 2000-12-14 |
Family
ID=7773559
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19536295A Expired - Fee Related DE19536295C2 (de) | 1995-09-29 | 1995-09-29 | Räumlich gestaltete Signalmarke |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19536295C2 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10050892A1 (de) * | 2000-10-13 | 2002-05-08 | Dieter Dirksen | Vorrichtung und Verfahren zur automatisierten Registrierung topometrischer Mehrfachaufnahmen |
DE10112732A1 (de) * | 2001-03-14 | 2002-10-02 | Boochs Frank | Verfahren zur Bestimmung der Lage von Meßbildern eines Objektes relativ zum Objekt |
WO2015173256A2 (de) | 2014-05-13 | 2015-11-19 | Immersight Gmbh | Verfahren und system zur bestimmung einer gegenständlichen lage |
DE102017109087A1 (de) | 2017-04-27 | 2018-10-31 | Gom Gmbh | Befestigungselement |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006021063B3 (de) * | 2006-05-03 | 2007-09-06 | Aicon 3D Systems Gmbh | Markierungskörper für eine dreidimensionale photogrammetrische Vermessung eines Objekts |
DE102007053008A1 (de) * | 2007-11-05 | 2009-05-14 | Repetzki, Sebastian, Dr.-Ing. | Zielkörper und Verfahren zur Bestimmung seiner räumlichen Lage |
DE102009059823A1 (de) * | 2009-12-21 | 2011-04-14 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Marker zur Bestimmung der Orientierung eines Objektes in einem Bild |
DE102015102940A1 (de) * | 2015-03-02 | 2016-09-22 | Martin Bünner | Bildverarbeitungssystem zum automatisierten Erkennen von Strukturen in einem dreidimensionalen Raum und Markierungselement zur Kennzeichnung von Strukturen in einem dreidimensionalen Raum |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3039093A (en) * | 1956-05-31 | 1962-06-12 | Cook Electric Co | Reflective radar target |
US3365790A (en) * | 1963-06-18 | 1968-01-30 | Joseph B. Brauer | Method of fabricating a radar reflector |
US4416509A (en) * | 1980-05-26 | 1983-11-22 | Drndarski Milan | Universal reflector of electromagnetic waves mounted on a float |
WO1989003049A1 (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-06 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho | Position meter using laser beam |
WO1991016598A1 (en) * | 1990-04-25 | 1991-10-31 | Metronor A/S | Device for determination of the topography of a surface |
EP0512356A2 (de) * | 1991-05-02 | 1992-11-11 | Mauser-Werke Oberndorf GmbH | Messeinrichtung |
US5294970A (en) * | 1990-12-31 | 1994-03-15 | Spatial Positioning Systems, Inc. | Spatial positioning system |
JPH06281462A (ja) * | 1993-03-29 | 1994-10-07 | Kopurosu:Kk | 計測用プリズム装置 |
WO1994028375A1 (en) * | 1993-05-24 | 1994-12-08 | Metronor As | Method and system for geometry measurement |
US5424930A (en) * | 1993-01-12 | 1995-06-13 | Sanyo Machine Works, Ltd. | Measuring-point member for optical measurement |
-
1995
- 1995-09-29 DE DE19536295A patent/DE19536295C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3039093A (en) * | 1956-05-31 | 1962-06-12 | Cook Electric Co | Reflective radar target |
US3365790A (en) * | 1963-06-18 | 1968-01-30 | Joseph B. Brauer | Method of fabricating a radar reflector |
US4416509A (en) * | 1980-05-26 | 1983-11-22 | Drndarski Milan | Universal reflector of electromagnetic waves mounted on a float |
WO1989003049A1 (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-06 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho | Position meter using laser beam |
WO1991016598A1 (en) * | 1990-04-25 | 1991-10-31 | Metronor A/S | Device for determination of the topography of a surface |
US5294970A (en) * | 1990-12-31 | 1994-03-15 | Spatial Positioning Systems, Inc. | Spatial positioning system |
EP0512356A2 (de) * | 1991-05-02 | 1992-11-11 | Mauser-Werke Oberndorf GmbH | Messeinrichtung |
US5424930A (en) * | 1993-01-12 | 1995-06-13 | Sanyo Machine Works, Ltd. | Measuring-point member for optical measurement |
JPH06281462A (ja) * | 1993-03-29 | 1994-10-07 | Kopurosu:Kk | 計測用プリズム装置 |
WO1994028375A1 (en) * | 1993-05-24 | 1994-12-08 | Metronor As | Method and system for geometry measurement |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
JP 5-141975 A., In: Patents Abstracts of Japan, P-1616,Sep. 20,1993,Vol.17, No.522 * |
SPLETTSTÖSSER,J.: Ergänzung der Gerätetechnik des VEB Carl Zeiss JENA durch Rationalisierungsmittel für die Ingenieurvermessung. In: Vermessungstechnik, 31.Jg.,1983,H.10,S.334-336 * |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10050892A1 (de) * | 2000-10-13 | 2002-05-08 | Dieter Dirksen | Vorrichtung und Verfahren zur automatisierten Registrierung topometrischer Mehrfachaufnahmen |
DE10112732A1 (de) * | 2001-03-14 | 2002-10-02 | Boochs Frank | Verfahren zur Bestimmung der Lage von Meßbildern eines Objektes relativ zum Objekt |
DE10112732C2 (de) * | 2001-03-14 | 2003-02-06 | Boochs Frank | Verfahren zur Bestimmung der Lage von Meßbildern eines Objektes relativ zum Objekt |
WO2015173256A2 (de) | 2014-05-13 | 2015-11-19 | Immersight Gmbh | Verfahren und system zur bestimmung einer gegenständlichen lage |
DE102017109087A1 (de) | 2017-04-27 | 2018-10-31 | Gom Gmbh | Befestigungselement |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19536295A1 (de) | 1997-04-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2018513B1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur beurteilung der relativen raumlage zweier gegenstände | |
DE19941638C1 (de) | Geodätisches Gerät mit Laseranordnung | |
DE19727527C5 (de) | Auf der Retroreflexion eines Laserstrahlers basierende Sensoreinrichtung | |
EP2056063A1 (de) | Messkopfsystem für eine Koordinatenmessmaschine und Verfahren zum optischen Messen von Verschiebungen eines Tastelements des Messkopfsystems | |
DE19536295C2 (de) | Räumlich gestaltete Signalmarke | |
DE102006023926A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur quantitativen Beurteilung der räumlichen Lage zweier Maschinenteile, Wellen, Spindeln, Werkstücke oder anderer Gegenstände relativ zueinander | |
WO1997038327A1 (de) | Anordnung zur vermessung der koordinaten eines oder mehrerer, an einem objekt angebrachten, retroreflektor(en) | |
DE69726487T3 (de) | Neigungssensor und diesen verwendendes Vermessungsinstrument | |
DE69621792T2 (de) | Optisches Nivellier- und Lotinstrument | |
DE102018133671A1 (de) | Normal zur Kalibrierung eines Koordinatenmessgeräts | |
EP0280110B1 (de) | Sensor mit integrierter Signalverarbeitung für ein- bis dreidimensionale Positionierung | |
DE4308456C2 (de) | Vorrichtung zur Lagebestimmung eines Positionierkörpers relativ zu einem Bezugskörper | |
DE19610941C2 (de) | Zweiachsiger Neigungsmesser und Verfahren zur Neigungsmessung | |
DE112015006912T5 (de) | Optisches Entfernungsmesssystem | |
CH694670A5 (de) | Mehrachsiger Neigungsmesser zur Messung von Neigungen und Neigungsänderungen. | |
EP1248071A2 (de) | Vorrichtung zur quantitativen Beurteilung der räumlichen Lage zweier Maschinenteile, Werkstücke oder anderer Gegenstände relativ zueinander | |
DE102005007243A1 (de) | Formerfassung von reflektierenden Oberflächen durch codierte Lichtmuster in Echtzeit | |
DE102016217573A1 (de) | Werkstückträgersystem | |
DE19621189C2 (de) | Optischer Sensor zur Neigungswinkelbestimmung | |
DE19914300A1 (de) | Fluchtungsmessanordnung für parallelachsig angeordnete Riemenscheiben o. dgl. | |
DE102018112045A1 (de) | Retroreflektorelement | |
EP2592392A1 (de) | Optoelektronische Lagemessvorrichtung | |
EP4067931B1 (de) | Optoelektronischer sensor und verfahren zur erfassung eines objekts | |
EP0940649B1 (de) | Messgerät mit optischem Skalenableseverfahren | |
DE2448611C3 (de) | Anordnung zum berührungslosen Messen der Abmessung eines Meßobjekts |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: DAIMLERCHRYSLER AG, 70567 STUTTGART, DE |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: 3D IMAGING TECHNOLOGIES GMBH, CREMINES, CH |
|
8328 | Change in the person/name/address of the agent |
Representative=s name: SEFFER, A., RECHTSANW., 60549 FRANKFURT |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |