DE1879241U

DE1879241U - OPTICAL MICROMETER FOR SCALES, ESPECIALLY FINE SCALES.

Info

Publication number: DE1879241U
Application number: DE1960V0012330
Authority: DE
Original assignee: OSCHATZER WAAGENFABRIK VEB
Current assignee: OSCHATZER WAAGENFABRIK VEB
Priority date: 1960-12-01
Filing date: 1960-12-01
Publication date: 1963-09-12

Description

Y 12 330/42d GmY 12 330 / 42d Gm

Optisches Mikrometer für Waagen, insbesondere FeinwaagenOptical micrometer for scales, especially precision scales

Die Erfindung "betrifft ein optisches Mikrometer für Waagen, insbesondere Feinwaagen, mit dessen Hilfe kleinste Balken— neigungswinkel in Massewerte lesbar gestaltet werden.The invention "relates to an optical micrometer for scales, In particular, precision scales, with the help of which the smallest angle of inclination of the bar can be made legible in mass values.

Bei bisher an Feinwaagen bekannten sogenannten optischen Mikrometern wird die kleinste Einheit einer Skalenprojektion mit Hilfe von Indexmarken, welche durch Spindeln um die Strecke der kleinsten Projektionseinheit bewegt werden können, in weitere Dezimalstellen, die durch bezifferte Drehknöpfe ablesbar sind, unterteilt.With so-called optical micrometers, which are known to date on precision balances, the smallest unit is a scale projection with the help of index marks, which are moved by spindles around the distance of the smallest projection unit can be divided into further decimal places, which can be read off using numbered rotary knobs.

Entsprechend der Größe der kleinsten Einheit ist jedoch der Unterteilung sehr bald eine Grenze gesetzt, da notwendige Feinheiten der Indexmarkeneinstellung mit dem Auge nicht zu erfassen sind, womit der eingestellte Wert geschätzten Charakter trägt und somit verfälscht ist.Depending on the size of the smallest unit, however, the division very soon has a limit because it is necessary The subtleties of the index mark setting cannot be seen with the eye, which means that the set value is estimated Bears character and is thus falsified.

Die Erfindung hat sich die Aufgabe gestellt, eine optische Mikrometerablesung für Waagen zu schaffen_s welche zur Einstellung für die Mikrometerablesung ein um ein vielfaches größeres Bereich verwendet als dieses von der Projektionsebene erreicht werden kann.The invention has the task of creating an optical micrometer reading scales for which _s for adjusting the micrometer reading a many times larger than this range is used can be achieved from the projection plane.

Erfindungsgemäß wird die Aufgabe durch optisch η-fache Vergrößerung der kleinsten Einheit einer Projektion undAccording to the invention, the object is achieved by optically η-fold magnification the smallest unit of a projection and

·» 2 —
Messung dieser vergrößerten Einheit gelöst.· »2 -
Measurement of this enlarged unit solved.

Die Erfindung wird an Hand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert: Es zeigenThe invention is explained in more detail using an exemplary embodiment shown in the drawing: Show it

Pig» 1 die Anordnung der zu projizierenden Strichplatte, Pig· 2 die Seitenansicht der Projektionseinrichtung in Nullstellung,Pig »1 the arrangement of the reticle to be projected, Pig · 2 the side view of the projection device in Zero position,

Pig. 3 die Aufsicht auf Bildebenen aus Pig. 2 in nullstellung der Projektion,
Pig. 4 die gleiche Seitenansicht aus Pig. 2 "bei Neigung eines Waagebalkens und die dazugehörigen optischen Bauelemente,Pig. 3 the top view of image planes from Pig. 2 in zero position of the projection,
Pig. 4 is the same side view from Pig. 2 "with inclination of a balance beam and the associated optical components,

Pig, 5 die Aufsicht auf Bildebenen aus Pig. 4 bei veränderter projizierter Hauptskala, Pig. 6 die gleiche Seitenansicht aus Pig. 2 und 4 bei gedrehter Meßtrommel und gehobener Mikrobildebene undPig, 5 the top view of image planes from Pig. 4 with changed projected main scale, Pig. 6 shows the same side view from Pig. 2 and 4 with the measuring drum rotated and the micro-image plane raised and

Pig, 7 die Ansicht auf Bildebenen aus Pig, 6 mit gehobener Mikrobildebene, gedrehter Meßtrommel und damit angepeilter Mikroprojektion durch Indexstriche.Pig, 7 the view on image planes from Pig, 6 with raised micro image plane, rotated measuring drum and thus Targeted micro-projection through index lines.

Zu der Projektionseinrichtung gehören die notwendigen Grundbauelemente, lichtquelle 1, Kondens_ator 2, Strichplatte 3 und Objektiv 4. Durch einen am Waagebalken 5 befestigten urd mit dem Balken im möglichen Drehmoment befindlichen Reflexionskörper 6 erfolgt in bekannter Weise die Ablenkung der zu projizierenden Strichplatte 3 auf eine Bildebene?. Auf der Strichplatte 3 sind, wie in Pig. 1To the projection means includes the necessary basic components, light source 1, condensation _a gate 2, the reticle 3 and the lens 4. By means of a fixed to the balance arm 5 Urd located with the beam in the possible torque reflection body 6, the deflection of the to be projected reticle 3 in a known manner an image plane ?. As in Pig. 1

dargestellt, zwei Skalen angeordnet, eine Skale 8 und eine Skale 9» Der ersteren von wählbarer Länge und HervorheTrang der Zehner- und Mnferstriche, ist die zweite in jeweilig gleicher Länge, jedoch vereinfachter Form neb enge ordnet *shown, two scales arranged, a scale 8 and a scale 9 »The former of selectable length and emphasis the ten and five dashes, is the second in each case the same length, but in a simplified form next to narrow ones *

Beide Skalen werden von der Projektionseinrichtung auf eine gemeinsame Bildebene 7 geworfen, so daß die Projektion der Skale 8 wie "bekannt auf der Seite 11 der Bildebene 7 erkennbar ist. Auf dieser Seite werden die Meßwerte der Skale 8 "bestimmt, mit Hilfe des Indexstriches 12, welcher auf der Bildebenenseite 11 angeordnet ist. Auf der Seite der gemeinsamen Bildebene 7 findet die Projektion 14 der Skale 9 statt.Both scales are projected onto a common image plane 7 by the projection device, so that the projection of scale 8 as "known on page 11 of image plane 7 is recognizable. On this page the measured values of the scale 8 "are determined with the help of the index line 12, which is arranged on the image plane side 11. On the side of the common image plane 7, the projection 14 takes place Scale 9 instead.

Die Projektion 14 der Skale 9 ist jedoch nicht in der Gesamtheit sichtbar, denn die Seite 13 der Bildebene 7 wird von einer Blende 15 verdeckt, welche gleichzeitig ein zweites Objektiv 16 trägt. Im Bereich des Objektives 16 befindet sich immer ein Teilstrich der Projektion 14 der . ' Skale 9, welcher jeweils vom Objektiv 16 auf eine zweite Bildebene 17, entsprechend der Stellung der Skalenprojektion 10 geworfen wird» ^: The projection 14 of the scale 9 is not visible in its entirety, however, because the side 13 of the image plane 7 is covered by a diaphragm 15 which at the same time carries a second objective 16. In the area of the objective 16 there is always a graduation of the projection 14 of the. 'Scale 9, which is thrown from the lens 16 onto a second image plane 17, corresponding to the position of the scale projection 10 » ^:

Im Gegensatz zu der fest angeordneten gemeinsamen Bildebene ist die Bildebene 17 in der Höhenrichtung verstellbar. Diese Höhenverstellung wird durch eine drehbare Meßtrommel 18 und durch die an diese eingearbeitete Kurve 19 mit Hilfe einesIn contrast to the fixedly arranged common image plane, the image plane 17 can be adjusted in the height direction. These Height adjustment is by a rotatable measuring drum 18 and by the cam 19 worked into this with the help of a

an der Bildebene 17 "befestigten Gleitstiftes 20 und der auf der Meßtrommel 18 befindlichen Skale 21, sowie mittels der der Bildebene 14 zugeordneten Indexstriohe 22 auf großem Raum gemessen*on the image plane 17 "attached slide pin 20 and on the measuring drum 18 located scale 21, as well as by means of the image plane 14 associated index trio 22 on a large scale Room measured *

Claims

V 12 330/42d GbmV 12 330 / 42d Gbm

SchutzanspruchClaim to protection

Optisches Mikrometer für Waagen, insbesondere Feinwaagen zur Ablesung kleinster in Massewerte gestalteter Neigungswinkel eines Waagebalkens, dadurch gekennzeichnet, daß hinter einem, am Waagebalken (5) befindlichen Reflexionskörper (6) zur Projizierung zweier gleichlanger Skalen (8) und (9)j wobei die Skale (8) zur Grobbestimmung der Massewerte unmittelbar sichtbar ist, eine gemeinsame Bildebene (7) angeordnet ist, während sich zur Peinstbestimmung eine zweite, mit einem Indexstrich, (22) versehene und mit einer Kurve bekannter Art in Höhenrichtung verstellbare Bildebene (17) hinter einer unmittelbar an die Bildebene (7) anschliessenden und mit einem Ausschnitt und einem Objektiv (16) versehenen Blende (15) befindet.Optical micrometer for scales, especially precision scales for reading the smallest angle of inclination of a balance beam in terms of mass values, characterized in that behind a reflection body (6) on the balance beam (5) for projecting two scales of equal length (8) and (9) j whereby the scale (8) for the rough determination of the mass values is directly visible, a common image plane (7) is arranged, while a second, with an index line, (22) and with a Curve of a known type in the vertical direction adjustable image plane (17) behind a directly adjoining the image plane (7) and a diaphragm (15) provided with a cutout and an objective (16).