DE1598569A1 - Doppelfokussierendes Massenspektrometer - Google Patents
Doppelfokussierendes MassenspektrometerInfo
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- H01J49/32—Static spectrometers using double focusing
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Description
Doppeltfokussierendes Massenspektrometer
Die Erfindung "bezieht sich auf ein doppeltfokussierendes
Massenspektrometer.
Es ist allgemein bekannt, daß Massenspektrometer mit
doppelter Fokussierung durch kombinierte Anwendung eines
elektrostatischen und eines magnetischen Feldes ein Massenspektrum
höherer Auflösung liefern, als einfachfokussieren.de
Massenspektrometer, bei denen nur eine Fokussierung in? Magnetfeld
vorgesehen ist.
Bei voller Würdigung der Überlegenheit der doppeltfokussierenaen
Massenspektrometer wäre es nun sehr vorteilhaft, wenn es möglich wäre, mit einem solchen tferät gleichzeitig
ein doppeltfokussiertes Massenspektrum (hoher Auflösung) und
ein einfachfokussiertes Masaenspektrum (geringer Auflösung}
allein durch Anwendung eines Magnetfeldes) zu erhalten,
wobei dann im einfachfokussirten Spektrum metastabile
Ionen in großer Menge in Erscheinung treten würden, die
eine niedrige und willkürliche (random) Energie haben*
81-(Pos. 9365)-KöWo (7) . BAD
00 9 882/1721
Die Anwendung eines solchen doppeltfokussierenden Massenspektrometer
wäre sehr vorteilhaft für eine einfache, genaue und alle Einzelheiten berücksichtigende Analyse der
Molekülstruktur·
Wesentliches Ziel der Erfindung ist demgemäß ein doppeltfokussierendes
Massenspektrometer, mit dem gleichzeitig ein doppeltfokussiertes und ein einfachfokussiertes Massenspektrum
erhalten werden kann, wobei letzteres metastabile Ionen in beachtlichen Anteilen wiedergibt.
Ein weiteres Ziel der Erfindung ist ein doppeltfokussierendes
Massenspektrometer mit verbesserter Empfindlichkeit und Auflösung ohne Verlängerung der Analysaxeit, verglichen mit
doppeltfokussierenden Massenspektrometer^ die für Analysen dieser Art allgemein angewandt werden.
Das erfindungsgemäße doppeltfokussierende Massenspektrometer
umfaßt nacheinander in der angegebenen Reihenfolge eine
Ionenquelle, Magnetpole zur Erzeugung eines Magnetfeldes sowie zugeordnete Mittel für einen kontinuierlichen Durchlauf
bzw. die stetige Abtastung bzw· Veränderung des Magnetfeldes
(making a sweep across the magnetiofield), einen Spalt der
ersten Stufe, einen lonenkollelctor bzw. -auffänger, der ersten
Stufe, Elektroden zur Erzeugung eines elektrischen Feldes,
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einen Spalt der letzten Stufe und einen Ionenkollektor derletzten
Stufe} und es ist weiter mit Mitteln ausgestattet, für die gleichzeitige Erzielung elektrischer Ausgänge von den
Ionenauffängern sowohl der ersten als auch der letzten Stufe und für die unabhängige Registrierung dieser beiden Ausgänge.
Mit dem erfindungsgemäßen doppeltfokussxerenden Massenspektrometer
der vorstehend gekennzeichneten Art wird also auf einem mit dem Ionenauffänger der letzten Stufe verbundenen
Schreiber ein doppeltfokussiertes Massenspektrum erhalten,, während von dem an den Ionenkollektor der ersten Stufe angeschlossenen
Schreiber ein Massenspektrum mit einfacher fokussierung aufgezeichnet wird, in dem metastabile Ionen in
Erscheinung treten.
Das erfindungsgemäße doppeltfokussierende Massenspektrometer ist weiter insbesondere mit Mitteln ausgestattet, die jeweils in
[Tätigkeit gesetzt werden, wenn vom Ionenkollektor der ersten Stufe ein elektrischer Ausgang erhalten wird, der dazu verwendet
wird, einen Durchlauf (bzw. eine kontinuierliche Veränderung) des elektrostatischen Feldes auszulösen, das durch
die Elektroden erzeugt wird, wobei die Durchlaufzeit der
Dauer entspricht, über die hinweg der elektrische Ausgang
auftritt bzw. "empfangen" wird.
BAD
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Der Durchlauf bzw. das "Überstreichen" des elektrostatischen
Feldes dient dazu/ dem das elektrostatische Feld
passierenden Ionenbündel eine Bremsung bzw. Ablenkung (brake action) zu erteilen, in einer der Ablenkung
(direction of sweep) durch das Magnetfeld entgegengesetzten Richtung. Das mit solchen Mitteln zum Überstreichen des
elektrostatischen Feldes ausgestattete erfindungsgemäße doppeltfokussierende Massenspektrometer kann mit verbesserter
Empfindlichkeit und Auflösung arbeiten, ohne jede Verlängerung der Analysenzeit verglichen mit bekannten
doppeltfokussierenden Massenspektrometer^ die nicht mit derartigen Mitteln für den Durchlauf des elektrostatischen
Feldes der vorstehend angegebenen Art ausgestattet sind.
Weitere Ziele, Besonderheiten und Merkmale der vorliegenden Erfindung werden aus der nachfolgenden Beschreibung hervorgehen,
die sich auf die angefügten Zeichnungen bezieht: es zeigen:
Fig. 1 ein Blockdiagramm für ein doppeltfokussierendes
Massenspektrometer gemäß der Erfindung;
Fig. 2 die Anordnung des Spaltes der ersten Stufe und des
lonenkollektors der ersten Stufe relativ zum Ionenstrahl, schematisch in der Perspektive;
Fig. 3a bis 3e die "Wellenform" des Ausganges der verschiedenen elektrischen Kreise bzw. Einheiten des
Massenspektrometer gemäß Fig. 1; und
BAD QFUGIN&L
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4a bis 4c aufgenommene Massenspektren zur
Erläuterung des erfindungsgemäß erzielbaren Effektes.
Gemäß ¥ig. 1 umfaßt ein erfindungsgemäßes doppeltfokussierendes
Massenspektrometer eine Ionenquelle 1 und einen Ionenkollektor 2 der letzten Stufe, zwischen denen Magnetpole 3,
ein Spalt 4 der ersten Stufe, ein Ionenkollektor 5 der ersten Stufe, Elektroden 6 und ein Spalt 7 der letzten Stufe
in der genannten Reihenfolge angeordnet sind. Die Ionenquelle
umfaßt eine Ionisierungskammer 10 mit einer Probeneinlaßöffnung 8 und einem Ionenaustrittsspalt 9, einem (Heiz)draht
zur Ionisierung der in die Ionisierungskammer 10 durch die Probeneinlaßöffnung 8 eintretenden Probenmoliküle durch Elektronenbeschuß,
eine Elektronenkollektorelektrode 12 und ein Elektrodensystem 13 zur Ionenbeschleunigung für die Beschleunigung
eines durch den Ionenaustrittsspalt 9 austretenden Ionenbündels.
Die Magnetpole 2 sind mit einer Energieversorgung 14
und einem Magnetfeld-Burchlaufkreis (sweep circuit) 15
verbunden, während die Elektroden 6 an eine Energieversorgung
26 und einfn Durchlaufkreis 17 für das elektrostatische i'eld
angeschlossen aind.
SAD ORiGiNAt
"009882/1721
Ein Verstärker 18 und ein Schreiber 19 sind mit dem Ionenauffänger
5 der ersten Stufe verbunden, während dem Ionenauffänger
2 der letzten Stufe ein Verstärker 20 und ein Schreiber 21 ebenso zugeordnet sind. Ein Spitzenwertabtaster (peak senser)
22 ist über einen Sehalter 27 mit dem Ausgang des Verstärkers
verbunden und ein Diskriminator 23 für einen oberen Grenzwert über die Energieversorgung 26 mit dem Ausgang des Durchlaufkreises
17 für das elektrostatische Feld. Die Ausgänge von Spitzenwertabtaster 22 und Diskriminator 23 für den oberen
Grenzwert sind mit einer Kippschaltung (flip-flop circuit)-24 verbunden, deren Ausgang wiederum mit dem Durchlaufkreis 17
für das elektrostatische Seid verbunden ist. 27 und 28 sind Schalter. '
fig. 2 zeigt die Beziehung zwischen dem Spalt 4 der ersten Stufe, dem Ionenkollektor 5 der ersten Stufe und einem ·
Ionenbündel 29· In der Mitte des Ionenkollektors 5 ist
ein Spalt 25 vorgesehen als Durchlaß für einen Anteil des Ionenbündels 29, das den Spalt 4 der ersten ^tufe passiert
hat. ' '
Bei einem Massenspektrometer mit vorstehend angegebenem
Ai&au wird eine in die Ionisierungskammer 10 eingegebene
Probe durch Beachuß mit den vom Heizdraht 11 emittierten
Elektronen ionisiert und die so erzeugten Ionen treten aus
D OHIGIiMAi,
009882/172 1 . ' ~
- τ-
der Ionisierungskammer durch den Ionenaustrittsspalt 9 aus und
werden durch das Beschleunigungselektrodensystem 13 beschleunigt unü zum Magnetfeld hin gelenkt.
Wenn üaher die Energieversorgung 14 für das Magnetfeld angeschlossen und der Magnetfeld-Durchlaufkreis 15 in
Betrieb ist und für einen kontinuierlichen Durchlauf des durch die Magnetpole 3 erzeugten Magnetfeldes sorgt, wird
das in das Magnetfeld eintretende Ionenbündel aufgespalten bzw', auseinander gezogen und im wesentlichen abhängig vom
Unterschied der lonenmassen abgelenkt und nacheinander
nach Durchtritt durch den Spalt 4 der ersten Stufe vom lonenkollektor 5 der ersten Stufe aufgefangen* Die vom Ionenkollektor
5 der ersten Stufe aufgefangenen Ionen werden in einen elektrischen Strom umgewandelt, der dann durch den
Verstärker 18 verstärkt und zum Schreiber 19 weitergeleitet wird. Der Schreiber 19 registriert also ein Massenspektrum.
; Andererseits wird ein Teil des Ionenbündels nach
Durchlaufen der Spalte 4 der ersten Stufe und Durchtritt
durch den Spalt 25 des Ionenkollektors 5 der ersten Stufe "zum elektrostatischen Feld gelenkt, das durch die Elektroden
erzeugt wird. Wenn daher die Energieversorgung 26 angeschaltet ist, wird das in das elektrostatisch Feld eintretende
Ionenbündel aufgespalten bzw. auseinander gezogen, und
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zwar im wesentlichen abhängig von der Differenz der Geschwindigkeit
der Ionen und das aufgespaltene lonenbündel wird schließlich nach Durchtritt durch den Spalt 7 der
letzten Stufe nacheinander von dem Ionenkollektor 2 der
letzten Stufe aufgefangen. Die vom Ionenkollektor 2 der letzten Stufe aufgefangenen Ionen werden in einen elektrischen
Strom umgewandelt, der dann durch den Verstärker 20 verstärkt und" zum Schreiber 21 geschickt wird. Der Schreiber 21
registriert somit ein Massenspektrum.
Gemäß der vorstehenden Betriebsweise übt das durch die Elektroden 6 erzeugte elektrostatische Feld auf das lonenbündel
eine von dem Unterschsd der Geschwindigkeit der Ionen abhängige
Dispersionswirkung aus, und irgendeine Abweichung bzw. Streuung der Ionenbahnen (infolge unterschiedlicher Ionengeschwindigkeiten
nach der Massendispersion durch das Magnetfeld wird zum Verschwinden gebracht. Das vom Schreiber 21
wiedergegebene Massenspektrum hat daher eine höhere Auflösung als das vom Schreiber 19.registrierte. Anders ausgedrückt
erscheint auf dem Schreiber 19 ein Massenspektrum geringer Auflösung (einfachfokussiertes Massenspektrum) und ein
Massenspektrum hoher Auflösung auf dem Schreiber 21 (doppeltfokussiertes Massenspektrum).
Es sei nun angenommen, daß ein Massenspektrum, wie es in U1Ig. 4a gezeigt wird, auf dem Schreiber 19 erscheint und daß
seine Peaks B, G und D beispielsweise "Multiplets" sind. Das
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vom Schreiber 21 registrierte Massenspektrum zeigt dann die in J]rig. 4b wiedergegebene fform, bei dem die Peaks B, G.und D '
deutlich in die Peakkomponenten B- und Bp, C1 und Gn sowie
D·. und Dp aufgespalten sind.
In einigen fällen können Ionen, die durch Ionisierung der
Probenmoleküle in der Ionenquelle 1 erzeugt werden, mit zusätzlicher Energie ausgestattet sein und während ihrer
v/anderung von der Ionenquelle 1 in Richtung des Ionenkollektors
5 der ersten Stufe in leichte Ionen zerfallen. Diese Ionen werden im allgemeinen metastabile Ionen genannt. Wenn metastabile
Ionen, die nach der Emission aus der Ionenquelle 1 vor dem
Eintritt in das Magnetfeld erzeugt werden, in das Magnetfeld eintreten, werden sie abhängig von der Stärke des Magnetfeldes
abgelenkt.
Ein Durchlauf des Magnetfeldes bewirkt, daß derartige metastabile Ionen, die einer gewissen Feldstärke entsprechen
"für sich allein" (solely) durch den lonenkollektor 5 der ersten Stufe nach Passieren des Spaltes 4 gesammelt werden«
Die Peaks M- und Mp in ffig· 4a entsprechen solchen metastabilen
Ionen. Da die metastabilen Ionen jedoch nicht nur willkürliche Energien haben, sondern ihre Engergieniveaus auch vergleichsweise
niedriger sind als diejenigen von üblichen Ionen werden sie während ihres Durchganges durch das elektrostatische .Feld
stark abgelenkt (deflected) und weichen von der erwarteten
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8AD
Ionenbahn ab, mit dem Ergebnis, daß sie den Ionenkollektor 2
der letzten Stufe nicht erreichen und ihnen zugeordnete Peaks erscheinen kaum auf dem Schreiber 21.
Nachfolgend wird die Arbeitsweise des Massenspektrometers
bei geschlossenen Schaltern 27 und 28 beschrieben. Es sei
angenommen, daß der Ausgang des Verstärkers 18 eine 'Wellenform"
(wavenform) hat, wie sie in Fig» 5a gezeigt wird. Bei Wahrnehmung
des Auftretens, eines solchen Ausganges tritt der Spitzenwertabtaster
22 in !Tätigkeit und liefert einen Ausgang der in Fig.3b gezeigten Form. Gleichzeitig mit dem Betrieb des Spitzenwertabtasters
22 wird die Kippschaltung 24 angeregt zur Erzeugung eines Ausganges der in Fig. 3c gezeigten Form und der Durchlaufkreis
17 für das elektrische Feld wird ausgelöst zur Lieferung eines Ausganges der in Fig. 3d gezeigten Form. Der Durchlaufkreis 17 für das elektrische Feld bewirkt einen Durchlauf der
Spannung von einer wählbaren Einsatζspannung bis zu einer
wählbaren oberen Grenaspannung und das durch die Elektrode 6 erzeugte elektrische Feld.wird dadurch in der Weise kontinuierlich verändert (swept), daß dem durchtretenden Ionenbündel
eine Brems- bzw. Ablenkwirkung in Richtung G (Fig. 1) erteilt wird, die der Ablenkung durch das Magnetfeld entgegengesetzt
ist. Wenn diese Ablenkspannung ihren oberen Grenzwert erreicht, tritt der Diskriminator 23 für den oberen Grenzwert
in Aktion und liefert einen Ausgang der in Fig. 3e gezeigten
009882/1721 bad oWGWAL
form,, durch den sowohl die Kippschaltung 24 als auch der Durchlaufkreis 17 für das elektrostatische Feld in Ausgangsposition
zurückgebracht werden.
Durch die kontinuierliche Änderung bzw. den Durchlauf
des elektrostatischen Feldes in der vorstehend beschriebenen Art und Weise' wird die Raumbewegungsgeschwindigkeit
(space moving velocity) des Ionenbündelsf das durch das
elektrostatische Feld hindurchtritt, klein gemacht. Es sei angenommen, daß das Mass ens pektruin der Fig·-4b jenseits der
Ansprechgrenze des "Verstärkers 20 registriert wurde; auf dem Schreiber 21 erscheint dann als Ergebnis der vorstehend angegebenen Art und weise der Durchlaufsteuerung des elektrostatischen
Feldes ein Massenspektrum, wie es in Fig. 4c gezeigt ist, dessen Peaks, wie man sieht, deutlicher voneinander getrennt
sind als bei Fig. 4b.
So,ist der Peak D bei dem in Fig. 4c gezeigten Spektrum
in drei Peakkomponenten D..', D1 M und Dp aufgespalten, was
beweist, daß der Peak D- der Fig. 4b durch die Durchlaufsteuerung des elektrostatischen Feldes in der vorstehend
beschriebenen Weise in zwei Peakkomponenten D1 f und D1"
aufgespalten wird.
Da die vorstehend beschriebene Art und Weise der Durch- ■ laufsteuerung des elektrostatischen Feldes in Richtung einer
BAD ORIGINAL
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.■ - 12 -
■Erhöhung der Zahl der am lonenkollektor 2 der letzten btufe
pro Zeiteinheit nachgewiesenen Ionen wirksam ist, ist das Massenspektrum der Fig. 4c mit höherer Empfindlichkeit aufge-
nommen als das Massenspektrum der Fig. 4b.
Es könnte als vorteilhaft betrachtet werden, einen langsamen Durchlauf des Magnetfeldes zu wählen, um eine verbesserte
Empfindlichkeit und Auflösung zu erzielen* aber eine solche Arbeitsweise ist in isrbetracht der dadurch verlängerten
Analysenzeit im allgemeinen unerwünscht. Gemäß der Erfindung wird jedoch der Durchlauf des elektrostatischen Feldes
innerhalb einer begrenzten Zeit ausgeführt, die vom ersten
Auftreten eines Ausgangssignals am lonenkollektor b der ersten S^ufe bis zum Ende eines solchen Ausgangssignals
reicht· Das doppeltfokussierende Massenspektrometer gemäß der Erfindung ist gegenüber den doppeltfokussierenden
Massenspektrometern bekannter Bauweise ohne die gemäß der Erfindung gesteuerten Mittel für den Durchlauf des
elektrostatischen Feldes außerordentlich vorteilhaft, in der Weise, daß es Massenspektren mit verbesserter Empfindlichkeit
und Auflösung ohne irgendeine Verlängerung der AnalyseEeit
liefert.
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Claims (2)
1. Doppeltfokussierendes Massenspektrometer, gekennzeichnet
durch die folgenden Elemente in der angegebenen Reihenfolge: eine Ionenquelle (1), Magnetpole (3) zur Erzeugung eines
Hagnetfeldes und zugeordnete Mittel (14,15) für den !Durchlauf
des Magnetfeldes, einen Spalt (4) der ersten Stufe, einen Ionenkollektor (5) der ersten Stufe, Elektroden (6) zur
Lrz^eugung eines elektrostatischen Feldes, einen Spalt (7) der
letzten Stufe und einen Ionenkollektor (2) der letzten Stufe sowie Mittel (18,19/20,21) zur gleichzeitigen Übertragung der
elektrischen Ausgänge von den Ionenkollektoren (5/2) sowohl der ersten als auch der letzten Stufe und Registrierung der
jeweiligen Ausgänge unabhängig voneinander.
2. Doppeltfokussierendes Massenspektrometer nach Anspruch 1,
gekennzeichnet durch Mittel (22-24), die jeweils in Aktion treten, wenn ein elektrischer Ausgang am Ionenkollektor (5)
der ersten Stufe auftritt, in der Weise, daß dieser elektrische
Ausgang für die Steuerung des Durchlaufs des elektrostatischen Feldes ausgenutzt wird, dessen Durchlaufzeit auf die Zeitdauer
dieses elektrischen Ausganges abgestimmt ist, wobei der Durchlauf des elektrischen Feldes, der auf diese Weise angeregt wird,
einem durch das elektrostatische Feld, hindurchtretenden
Ionenbündel eine Bremsimg bzw· Ablenkung erteilt in einer
BAD QRIGIf^AL
0098827172t
-H-
Eichtung G, die der Richtung· der Ablenkung durch das
Magnetfeld entgegengesetzt ist.
3« Doppeltfokussierendes Massenspektrometer nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch einen Spitzenwertabtaster (22) für den
Empfang bzw. die Wahrnehmung des lonenkollektorausganges
der ersten Stuf·, »ine Kippschaltung (24-), die durch den
Spitzenwertabtaster (22) in Einsatzposition gebracht wird; einen Kreis (17) für den Durchlauf des elektrischen Feldes,
der ansprechend auf das Einsetzen (setting) der Kippschaltung (24) in Einsatzposition gebracht wird; und einen Höchstwertdiskriminator
(23) mit der Funktion, den oberen Grenzwert des
durch den Durchlaufkreis (17) erzeugten Feldes festzustellen bzw. wahrzunehmen und daraufhin die Kippschaltung (24) und
den Durchlaufkreis (17) in ihre Ausgangs- bzw. Nullstellungen zu bringen.
bad
009882/1721
Leerseite
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
JP5940865 | 1965-09-30 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1598569A1 true DE1598569A1 (de) | 1971-01-07 |
DE1598569B2 DE1598569B2 (de) | 1974-08-15 |
DE1598569C3 DE1598569C3 (de) | 1975-05-22 |
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ID=13112409
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
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Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3475604A (de) |
DE (1) | DE1598569C3 (de) |
GB (1) | GB1134448A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0016561A1 (de) * | 1979-03-15 | 1980-10-01 | University Of Manchester Institute Of Science And Technology | Massenspektrometer |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1255962A (en) * | 1968-07-05 | 1971-12-08 | Atomic Energy Authority Uk | Improvements in or relating to gas chromatography-mass spectrometry |
US3769513A (en) * | 1972-12-14 | 1973-10-30 | Perkin Elmer Corp | Ion kinetic energy spectrometer |
JPS5222558B2 (de) * | 1972-12-18 | 1977-06-17 | ||
US4099052A (en) * | 1976-12-07 | 1978-07-04 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Mass spectrometer beam monitor |
USRE31043E (en) * | 1976-12-07 | 1982-09-28 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Mass spectrometer beam monitor |
FR2376511A1 (fr) * | 1976-12-31 | 1978-07-28 | Cameca | Spectrometre de masse a balayage ultra-rapide |
JPS5546420A (en) * | 1978-09-29 | 1980-04-01 | Hitachi Ltd | Mass spectroscope |
GB9510052D0 (en) * | 1995-05-18 | 1995-07-12 | Fisons Plc | Mass spectrometer |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2659821A (en) * | 1952-01-25 | 1953-11-17 | Jr John A Hipple | Spectrometric analysis of solids |
-
1966
- 1966-09-23 US US581502A patent/US3475604A/en not_active Expired - Lifetime
- 1966-09-23 GB GB42647/66A patent/GB1134448A/en not_active Expired
- 1966-09-29 DE DE1598569A patent/DE1598569C3/de not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0016561A1 (de) * | 1979-03-15 | 1980-10-01 | University Of Manchester Institute Of Science And Technology | Massenspektrometer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE1598569B2 (de) | 1974-08-15 |
US3475604A (en) | 1969-10-28 |
DE1598569C3 (de) | 1975-05-22 |
GB1134448A (en) | 1968-11-20 |
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Legal Events
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