DE1473681A1 - Verfahren zur optischen Fehlersuche,besonders an grossflaechigen Materialien - Google Patents

Verfahren zur optischen Fehlersuche,besonders an grossflaechigen Materialien

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DE1473681A1
DE1473681A1 DE19651473681 DE1473681A DE1473681A1 DE 1473681 A1 DE1473681 A1 DE 1473681A1 DE 19651473681 DE19651473681 DE 19651473681 DE 1473681 A DE1473681 A DE 1473681A DE 1473681 A1 DE1473681 A1 DE 1473681A1
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optical
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DE19651473681
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Vinzelberg Dr Bernhard
Schamphelaere Lucien De
Nassenstein Dr Heinrich
Sigwart Dr Dipl-Ing Karl
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Agfa Gevaert AG
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Agfa Gevaert AG
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
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Description

  • Verfahren zur optischen Fehlersuche, besonders an großflächigen Materialien Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur optischen Fehlersuche, inabesondere an blattförmigen Materialien, vorzugsweise photographischen Filmen unter Verwendung von Laserstrahlen.
  • Bei den bekannten Verfahren zur optischen Fehlerauche wird das zu prüfende Material mit Lichtstrahlen abgetastet und die an den Fehlstellen auftretende Streustrahlung registriert.
  • Trotz der prinzipiellen Eignung dieses Verfahrens ist die praktische Antendbarkeit begrenzt, da relativenergiereiche Lichtquellen erforderlich sind, um eine Streustrahlung adsreichender Intensität zu erhalten. Immerhin bleibt das Verfatxrin auf die Erkennbarkeit relativ großer Fehler beschränkt. Außerdem ist eine Fokussierung auf kleine Flächen nur mit relativ großer Apertur des Strahlenbündels möglich. Dadurch wird eine Abtastung großer Flächen mit einem fokussierten Lichtstrahl sehr schwierig, hohe Abtastgeschwindigkeiten sind nicht zu erreichen.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, Verfahren zur optischen Fehlersuche aufzufinden, die die oben genannten Bachteile der konventionellen Verfahren nicht besitzen.
  • Es wurde nun überraschender Weise gefunden, daß eine außerordentlich genaue und schnelle Prüfung blattförmiger Materialien auf oberflächliche Fehler nach dem bekannten Prinzip möglich ist, wenn als Lichtquelle bei der Abtastung Laser benutzt werden. Geeignet sind kontinuierlich arbeitende Laser, und zwar sowohl Gaslaser als auch Festkörperlaser z. B.
  • Helium-Neon-Laser oder Neodym-Laser.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren kann in der folgenden Weiße durchgeführt werden. Wie in Abbildung 1 dargestellt, wird das Laser-Lichtbündel, dessen Apertur sehr gering ist (Größenordnung 1 Bogenminute) mittels des Lasers (1) erzeugt und gegebenenfalls über eine langbrennweitige Linse (2) und einen rotierenden Spiegel oder ein rotierendes Prisma (3) auf die abzutastende Filmprobe (4) gerichtet. Selbst bei langen Lichtwegen, z.B. von einigen Metern, ist der Durchmesser des Licht fleckes auf der Probe sehr klein ( rJ mm2), dadurch wird die an Fehlern gestreute Lichtintensität groß. Es lassen sich Abtastgeschwindigkeiten des Lichtflecks auf dem Pilm von mehr als 100 m/sec erreichen, so daß z.B. bei einer Lichtfleckgröße von 1 mm2 und einer Breite der Filmbahn von 1 m in jeder Sekunde lo cm der gesamten Filmbahn lückenlos auf Fehler abgetastet werden können. Sie in Abbildung 2 dargestellt, kann das an der Fehlstelle (5) gestreute Licht durch eine geeignete Leitvorrichtung, wie einen totalreflektierenden Keil, z.B. aus Plexiglas oder Lichtleiter von dem zu untersuchenden Film zu dem Meßelement (7> geleitet werden.
  • Für diese Zwecke ist praktisch jede Photozelle geeigneter spektraler Empfindlichkeit geeignet. Auf Grund der hohen Meßgeschwindigkeiten wird bevorzugt ein Sekundärelektronenvervielfacher verwendet.
  • Mit der erfindungsgemäßen Methode können auch kleinste Fehler (Größenordnung o,i mm) über die ganze Filmbreite sicher ers kannt werden.
  • Das erfindungsgemäße- Verfahren ist geeignet zur laufenden Produktionskontrolle photographischer Materialien, und zwar sowohl Aufnahme-, als auch Kopiermaterialien. Selbstverständlich muß in diesen Falle das zu messende Licht eine solche Wellenlänge besitzen, fur die das photographischer Material nicht empfindlich ist. Im wesentlichen handelt es sich dabei um ultrarotes Licht ; bevorzugt wird Licht aus des Bereich @ > ot verwendet. Die Durchlässigkeit des Lichtleiters und die spektrale Empfindlichkeit der Photozelle müssen dann dieser Wellenlänge angepaßt werden.

Claims (2)

  1. PatentansprAches 0 Verfahren zur optischen Fehlersuche an blattförmigen Materialien durch Abtastung des zu messenden Materials mit Licht und Registrierung des an den Fehlstellen gestreuten Lichtes, dadurch gekennzeichnet, daß als Lichtquelle ein kontinuierlich arbeitender Laser benutzt wird.
  2. 2. Verfahren zur optischen Fehlersuche an photographischen lichtempfindlichen Materialien durch Abtastung des zu messenden Materials mit Licht und Registrierung des an den Fehlstellen gestreuten Lichtes, dadurch gekennzeichnet, daß das zu prüfende photographische Material durch Laser Strahlen aus dem ultraroten Spektralgebiet abgetastet wird, wobei die Meßstrahlen durch einen kontinuierlich arbeitenden Laser erzeugt und gegebenenfalls über eine langbrennweitige Linse und einen rotierenden Spiegel oder rotierendes Prisma auf das zu messende Material geleitet werden und die an den Fehlstellen entstehende Streustrahlung mittels eines lichtleitenden Elementes einer Photozelle zugeleitet und dort registriert wird.
DE19651473681 1965-11-17 1965-11-17 Verfahren zur optischen Fehlersuche,besonders an grossflaechigen Materialien Pending DE1473681A1 (de)

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NL (1) NL6616121A (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4768878A (en) * 1985-09-09 1988-09-06 Siemens Aktiengesellschaft Test arrangement for non-contacting identification of defects in non-structured surfaces

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US4768878A (en) * 1985-09-09 1988-09-06 Siemens Aktiengesellschaft Test arrangement for non-contacting identification of defects in non-structured surfaces

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BE689709A (de) 1967-05-16
NL6616121A (de) 1967-01-25

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