DE1298383B - Verfahren und Mittel zum chemischen Aufloesen von Kupfer - Google Patents
Verfahren und Mittel zum chemischen Aufloesen von KupferInfo
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- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 90
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 title claims description 90
- 239000010949 copper Substances 0.000 title claims description 90
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 34
- 230000008569 process Effects 0.000 title claims description 9
- 239000000126 substance Substances 0.000 title claims description 8
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 title claims description 6
- CPJSUEIXXCENMM-UHFFFAOYSA-N phenacetin Chemical compound CCOC1=CC=C(NC(C)=O)C=C1 CPJSUEIXXCENMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 116
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 77
- 229960003893 phenacetin Drugs 0.000 claims description 60
- JNMRHUJNCSQMMB-UHFFFAOYSA-N sulfathiazole Chemical compound C1=CC(N)=CC=C1S(=O)(=O)NC1=NC=CS1 JNMRHUJNCSQMMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 41
- 229960001544 sulfathiazole Drugs 0.000 claims description 41
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 40
- -1 silver ions Chemical class 0.000 claims description 27
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 229940009188 silver Drugs 0.000 claims description 24
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 24
- CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M Bromide Chemical compound [Br-] CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 18
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 17
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 17
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 claims description 7
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims description 7
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 5
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims 10
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims 2
- 239000003251 chemically resistant material Substances 0.000 claims 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 129
- 150000002978 peroxides Chemical group 0.000 description 64
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 44
- SQGYOTSLMSWVJD-UHFFFAOYSA-N silver(1+) nitrate Chemical compound [Ag+].[O-]N(=O)=O SQGYOTSLMSWVJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 30
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 18
- 239000003518 caustics Substances 0.000 description 18
- 229910001961 silver nitrate Inorganic materials 0.000 description 15
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 14
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 13
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 12
- 239000008399 tap water Substances 0.000 description 12
- 235000020679 tap water Nutrition 0.000 description 12
- ROOXNKNUYICQNP-UHFFFAOYSA-N ammonium persulfate Chemical compound [NH4+].[NH4+].[O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O ROOXNKNUYICQNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- GPRLSGONYQIRFK-UHFFFAOYSA-N hydron Chemical compound [H+] GPRLSGONYQIRFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 10
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 10
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 10
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 9
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 8
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 8
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 8
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 5
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 5
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 5
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910001870 ammonium persulfate Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 4
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 4
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 4
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 4
- GGCZERPQGJTIQP-UHFFFAOYSA-N sodium;9,10-dioxoanthracene-2-sulfonic acid Chemical compound [Na+].C1=CC=C2C(=O)C3=CC(S(=O)(=O)O)=CC=C3C(=O)C2=C1 GGCZERPQGJTIQP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 4
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004160 Ammonium persulphate Substances 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 3
- 235000019395 ammonium persulphate Nutrition 0.000 description 3
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 3
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 3
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O Ammonium Chemical compound [NH4+] QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021578 Iron(III) chloride Inorganic materials 0.000 description 2
- FZWLAAWBMGSTSO-UHFFFAOYSA-N Thiazole Chemical compound C1=CSC=N1 FZWLAAWBMGSTSO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 2
- RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K iron trichloride Chemical compound Cl[Fe](Cl)Cl RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 2
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 2
- 238000005502 peroxidation Methods 0.000 description 2
- JRKICGRDRMAZLK-UHFFFAOYSA-L peroxydisulfate Chemical compound [O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O JRKICGRDRMAZLK-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 2
- KMZHZAAOEWVPSE-UHFFFAOYSA-N 2,3-dihydroxypropyl acetate Chemical compound CC(=O)OCC(O)CO KMZHZAAOEWVPSE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BMYNFMYTOJXKLE-UHFFFAOYSA-N 3-azaniumyl-2-hydroxypropanoate Chemical compound NCC(O)C(O)=O BMYNFMYTOJXKLE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DOBIZWYVJFIYOV-UHFFFAOYSA-N 7-hydroxynaphthalene-1,3-disulfonic acid Chemical compound C1=C(S(O)(=O)=O)C=C(S(O)(=O)=O)C2=CC(O)=CC=C21 DOBIZWYVJFIYOV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005749 Copper compound Substances 0.000 description 1
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical compound [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005751 Copper oxide Substances 0.000 description 1
- JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N Cu2+ Chemical compound [Cu+2] JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical compound S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 229920000877 Melamine resin Polymers 0.000 description 1
- 229910002651 NO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N Nitrate Chemical compound [O-][N+]([O-])=O NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YNPNZTXNASCQKK-UHFFFAOYSA-N Phenanthrene Natural products C1=CC=C2C3=CC=CC=C3C=CC2=C1 YNPNZTXNASCQKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DGEZNRSVGBDHLK-UHFFFAOYSA-N [1,10]phenanthroline Chemical compound C1=CN=C2C3=NC=CC=C3C=CC2=C1 DGEZNRSVGBDHLK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 229940006460 bromide ion Drugs 0.000 description 1
- DKOQGJHPHLTOJR-WHRDSVKCSA-N cefpirome Chemical compound N([C@@H]1C(N2C(=C(C[N+]=3C=4CCCC=4C=CC=3)CS[C@@H]21)C([O-])=O)=O)C(=O)\C(=N/OC)C1=CSC(N)=N1 DKOQGJHPHLTOJR-WHRDSVKCSA-N 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- RCTYPNKXASFOBE-UHFFFAOYSA-M chloromercury Chemical compound [Hg]Cl RCTYPNKXASFOBE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 150000001880 copper compounds Chemical group 0.000 description 1
- 229910001431 copper ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000431 copper oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000002242 deionisation method Methods 0.000 description 1
- 230000002939 deleterious effect Effects 0.000 description 1
- 230000003292 diminished effect Effects 0.000 description 1
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 229920002313 fluoropolymer Polymers 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 229960002523 mercuric chloride Drugs 0.000 description 1
- LWJROJCJINYWOX-UHFFFAOYSA-L mercury dichloride Chemical compound Cl[Hg]Cl LWJROJCJINYWOX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 150000007522 mineralic acids Chemical class 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 description 1
- 235000005985 organic acids Nutrition 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N phenol group Chemical group C1(=CC=CC=C1)O ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 229960001516 silver nitrate Drugs 0.000 description 1
- YPNVIBVEFVRZPJ-UHFFFAOYSA-L silver sulfate Chemical compound [Ag+].[Ag+].[O-]S([O-])(=O)=O YPNVIBVEFVRZPJ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910000367 silver sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 159000000000 sodium salts Chemical class 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- 231100000331 toxic Toxicity 0.000 description 1
- 230000002588 toxic effect Effects 0.000 description 1
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
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Description
ι ■■■■■- ■ ■ %:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Auflösen daß wasserstof£p,erQxydhaltige Ätzlösungen rasch er-
von Kupfer mit sauren Wasserstoffperoxydlösungen, ' schöpft sind. Ein chemisches Ätzmittel muß aber in
insbesondere das Ätzen von Kupfer, beispielsweise der Lage sein, eine' verhältnismäßig große Menge an
für die Herstellung von-gedruckten Schaltungen. Metall zu lösen, bevor die Ätzgeschwindigkeit durch
Es ist bekannt, Metall auf chemischem Wege, bei- S Verarmung des Ätzmittels unwirtschaftlich langsam
spielsweise durch Ätzen, aufzulösen. Ein wichtiges wird. Jede Erhöhung der Menge an abgeätztem Metall
Anwendungsgebiet solcher Verfahren ist die Herstel- bedeutet eine Erhöhung der Wirtschaftlichkeit des
lung von gedruckten Schaltungen für elektronische Ätzmittels und eine Verminderung der Kosten je
Geräte. Für die Herstellung solcher Schaltungen wird Gewichtseinheit Metall. Es wurde nun der Zusatz
zunächst Kupfer auf eine Folie oder Platte aus einem io verschiedener Materialien zu Wasserstoffperoxydelektrisch
widerstandsfähigen oder isolierenden Ma- lösungen untersucht mit dem Ziel, ein Material zu
terial, gewöhnlich einem Kunststqff, aufgeschichtet. ■ finden, das entweder die Zersetzung des Peroxyds
Die frei liegende Kunststoffoberfläche wird dann durch die gelösten Metallionen hemmt oder eine
mit einem chemisch beständigen Schutzmaterial von katalytische oder beschleunigende Wirkung auf die
der Form der gewünschten gedruckten Schaltung 15 Ätzgeschwindigkeit in Gegenwart des abgeätzten
abgedeckt, und das nicht abgedeckte Kupfer wird Metalls hat, und es wurde ein verbessertes Verfahren
entfernt, indem man es mit einem Mittel, das. Kupfer zum Auflösen von Metallen mit wasserstoffperoxyd-
angreift, beispielsweise einem Ätzmittel, behandelt, haltigen Lösungen gefunden.
so daß die gewünschte gedruckte Schaltung gebildet Das Verfahren der Erfindung zum chemischen
wird. Durch die Entfernung des Kupfers durch das ao Auflösen von Kupfer besteht darin, daß man dieses
Ätzmittel wird die Kunststoffunterlage freigelegt und mit einer angesäuerten wäßrigen Wasserstoffperoxyd-
trennt dann die Elemente des Leitungssystems von- lösung, die eine katalytische Menge an Phenacetin,
einander. Sulfathiazol oder Silberionen oder mehrere dieser
Beim Ätzen für einen konstruktiven Zweck, wie die Materialien und, wenn Phenacetin allein verwendet
Herstellung von gedruckten Schaltungen, müssen eine 35 wird, weniger als 2 Teile je Million freie Chlorid-Anzahl
Faktoren berücksichtigt werden, von denen oder Bromidionen enthält, behandelt. Kupfer bildet
die wichtigsten die Geschwindigkeit des Angriffs des unter oxydierenden Bedingungen in verdünnter wäß-Ätzmittels,
die Kontrolle des Ätzmittels, Stabilität riger Säure ein lösliches Oxyd oder eine andere lös-
und Wirkung des Ätzmittels, Zeit- und Temperatur- liehe Verbindung.
bedingungen, Wirkung des Ätzmittels auf die die 30 Das Verfahren der Erfindung eignet sich außer-Grundlage
bildende Kunststoffplatte und Wirkung ordentlich gut zum Ätzen von Kupfer und vermindert
auf die zum Ätzen verwendete Anlage und das Ab- die Ätzkosten bei der Herstellung von gedruckten
deckmaterial sind. Die Herstellung von gedruckten Schaltungen im Vergleich zum Ätzen mit Ammonium-Schaltungen
durch Ätzen ist schon mit einer wäßrigen persulfat. Außer zum Abätzen kann das Verfahren
Ferrichloridlösung durchgeführt worden, und dieses 35 auch beispielsweise zum Aufrauhen oder Polieren von
Verfahren war zumindest hinsichtlich der Abätzung Kupferoberflächen angewandt werden. Bei solchen
von Kupfer ohne wesentlich nachteilige Nebenwirkun- Anwendungen kann die Temperatur der sauren
gen erfolgreich. Es ist jedoch schwierig, die verbrauchte Peroxydlösung gewünschtenfalls außerhalb des vor-Ferrichloridlösung,
die sowohl Eisen als auch Kupfer zugsweise beim Abätzen angewandten Bereichs liegen,
enthält, zu verwerfen oder Kupfer daraus zurück- 40 Beispielsweise kann das chemische Polieren mit gutem
zugewinnen, was natürlich äußerst erwünscht wäre. Erfolg bei Zimmertemperatur oder etwas darüber
Auch Ammoniumpersulfatlösungen werden gelegent- durchgeführt werden.
lieh zum Abätzen von Kupfer verwendet. Aus diesem Die sauren wäßrigen Wasserstoffperoxydlösungen
Ätzmittel kann das Kupfer auf elektrolytischem Wege der Erfindung, die noch Phenacetin, Sulfathiazol oder
zurückgewonnen werden. Ammoniumpersulfat hat 45 Silberionen enthalten, werden im folgenden als
jedoch eine geringe Ätzkapazität und besitzt andere »Ätzmittel« bezeichnet. In dem Verfahren der Erfin-Nachteile,
so daß die Auffindung eines neuen Ätz- dung wird das Kupfer vorzugsweise mit einem Ätzmittels
für Kupfer sehr erwünscht erscheint. mittel in Kontakt gebracht, das 2 bis 12 Gewichts-
Wäßriges Wasserstoffperoxyd kommt ebenfalls als prozent, vorzugsweise 2 bis 10 Gewichtsprozent
Ätzmittel in Frage, da es verhältnismäßig billig ist 50 Wasserstoffperoxyd, 0,45 bis 5,5 g/l, vorzugsweise
und aus den verbrauchten Ätzlösungen des Kupfer 0,65 bis 4,50 g/l Wasserstoffionen und Phenacetin,
elektrolytisch zurückgewonnen werden kann. Die Sulfathiazol oder Silberionen oder mehrere dieser
Verwendung von Wasserstoffperoxyd zum Abätzen Materialien enthält. Die Temperatur der Lösung wird
von Kupfer bietet jedoch manche Schwierigkeiten. während des Auflösens im allgemeinen in dem Bereich
Metalle, die von Wasserstoffperoxyd angegriffen wer- 55 von 40 bis 65° C, vorzugsweise 50 bis 6O0C gehalten,
den, werden mit nicht voraussehbarer Geschwindig- Das Verfahren der Erfindung hat eine Anzahl be-
keit angegriffen, und der Angriff.ist oft unvollständig. merkenswerter Vorteile:
Ein weiteres Problem ist die geringe Stabilität von
Ein weiteres Problem ist die geringe Stabilität von
Wasserstoffperoxyd, die zudem weitgehend von den 1. wird das Kupfer mit beträchtlich größerer GeBedingungen
der Umgebung abhängig ist. In Gegen- 60 schwindigkeit gelöst als mit Ammoniumpersulfat,
wart vieler Metalle ist Wasserstoffperoxyd bekanntlich 2. haben die Ätzmittel der Erfindung eine hohe
mehr oder weniger instabil, auch wenn Maßnahmen Ätzkapazität von im allgemeinen 60 bis 75 g
ergriffen werden, um die Zersetzung der Verbindung Kupfer je Liter Ätzmittel,
zu verhindern, und Kupfer ist in dieser Hinsicht be- 3. wird mit den Ätzmitteln der Erfindung eine rasche sonders gefährlich. Das wird beim Ätzen von Metallen 65 Auflösung des Kupfers auch bei höheren Konzen- und insbesondere von Kupfer zu einem besonderen trationen an gelöstem Kupfer erzielt,
Problem, weil sich beim Ätzen aktive Metallionen 4. kann das wasserstoffperoxydhaltige Ätzmittel der bilden, durch die Wasserstoffperoxyd zersetzt wird, so Erfindung sowohl durch Eintauchen des zu ätzen-
zu verhindern, und Kupfer ist in dieser Hinsicht be- 3. wird mit den Ätzmitteln der Erfindung eine rasche sonders gefährlich. Das wird beim Ätzen von Metallen 65 Auflösung des Kupfers auch bei höheren Konzen- und insbesondere von Kupfer zu einem besonderen trationen an gelöstem Kupfer erzielt,
Problem, weil sich beim Ätzen aktive Metallionen 4. kann das wasserstoffperoxydhaltige Ätzmittel der bilden, durch die Wasserstoffperoxyd zersetzt wird, so Erfindung sowohl durch Eintauchen des zu ätzen-
3 4
den Gegenstandes als auch durch Aufsprühen sind gewöhnlich 150 bis 250 Teile je Million erforderverwendet
werden, lieh, um dem nachteiligen Einfluß der freien Chlorid-
5. kann aus den nach der Auflösung von Kupfer und Bromidionen in dem Wasser entgegenzuwirken,
nach dem Verfahren der Erfindung zurückbleiben- Das Vermögen des Sulfathiazole, dem nachteiligen
den Lösungen das Kupfer leicht auf elektroly- 5 Einfluß der freien Chlorid-und Bromidionen entgegentischem
Wege zurückgewonnen werden, und zuwirken, ist jedoch offensichtlich nicht unbegrenzt.
6. ist nach dem Verfahren der Erfindung eine Lösungen mit höheren Konzentrationen an diesen
genaue, gesteuerte und sehr wirksame Abätzung Ionen von beispielsweise mehr als 30 Teilen je Million
von Kupfer möglich, so daß es sich außerordent- erfordern eine zusätzliche Behandlung, um dem
lieh gut für die Herstellung von gedruckten io nachteiligen Einfluß dieser Ionen entgegenzuwirken,
Schaltungen eignet. wie beispielsweise eine Entionisierung oder den Zusatz
Sowohl Phenacetin als auch Sulfathiazol und Silber- eines löslichen Silbersalzes. Durch den Zusatz von
ionen verbessern die Ätzgeschwindigkeit und Ätz- sowohl Phenacetin als auch Sulfathiazol zu den sauren
kapazität der sauren Wasserstoffperoxydlösungen sehr Peroxydlösungen wird nicht nur die Ätzgeschwindigwesentlich.
Auch Salze, die in den sauren Peroxyd- 15 keit und die Ätzkapazität der Lösungen verbessert,
lösungen diese Zusätze ergeben, können verwendet sondern diese Verbesserung ist wesentlich größer als
werden. So kann der Lösung beispielsweise das wenn nur einer dieser Zusätze allein verwendet wird.
Natriumsalz von Sulfathiazol oder Silbernitrat oder Besonders gute Ergebnisse werden auch erzielt, wenn
ein anderes lösliches Silbersalz, das Silberionen liefert, alle drei Zusätze in den angesäuerten Peroxydlösungen
wie Silbersulfat, zugesetzt werden. Die bevorzugten ao verwendet werden.
katalytischen Zusätze sind Phenacetin und Silber- Zur Erzielung der erwünschten katalytischen Wirionen,
und die besten Ergebnisse werden erzielt, wenn kung ist die Anwesenheit nur geringer Mengen an den
Phenacetin in Kombination oder im Gemisch mit Zusätzen der Erfindung in den angesäuerten Peroxyd-Sulfathiazol
oder Silberionen verwendet wird. Wenn lösungen erforderlich. Mit einer Menge von nur
Phenacetin allein verwendet wird, ist es wichtig, daß »5 50 Teilen je Million an Phenacetin oder Sulfathiazol
die wäßrige Wasserstoffperoxydlösung insgesamt weni- wird eine Verbesserung der Kapazität der Ätzmittel
ger als 2 Teile je Million freie Chlorid- und Bromid- erzielt. Freie Silberionen sind schon in etwas gerinionen,
vorzugsweise weniger als 1 Teil je Million, an gerer Menge wirksam, insbesondere wenn zum Atzen
solchen Ionen enthält. In diesem Fall muß die Her- eine Eintauchtechnik angewandt wird, wobei schon
stellung des Ätzmittels mit besonderer Sorgfalt er- 30 10 Teile je Million wirksam sind. Der Ausdruck
folgen. So kann beispielsweise entionisiertes Wasser »katalytisch^ Mengen« an Phenacetin, Sulfathiazol und
zur Herstellung eines Ätzmittels mit weniger als Silberionen ist entsprechend zu verstehen. Durch
2 Teilen je Million an Chlorid- und Bromidionen Erhöhen der Menge an Zusatz über diese katalytische
verwendet werden, oder es kann gewünschtenfalls Menge wird eine weitere Verbesserung der Ätzgeauch
gewöhnliches Leitungswasser verwendet werden, 35 schwindigkeit erzielt. Phenacetin oder Sulfathiazol
wenn gleichzeitig ein geeignetes Material, durch das werden vorzugsweise in Mengen von 200 bis 1000 Teidie
Konzentration an freien Chlorid- und Bromidionen len je Million und freie Silberionen in einer Menge von
auf unter 2 Teile je Million gesenkt wird, zugesetzt 50 bis 500 Teilen je Million verwendet. Die obere
wird. Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Grenze für die Menge an Zusatz ist nicht kritisch und
Erfindung wird eine geringe Menge an einem wasser- 40 hauptsächlich eine Frage der Wirtschaftlichkeit. Mit
löslichen Silbersalz, vorzugsweise Silbernitrat, züge- Mengen von mehr als 5000 Teilen je Million an Zusatz
setzt, um die freien Chlorid- und Bromidionen abzu- wird kein weiterer Vorteil erzielt, so daß derartige
trennen. Das ausgefällte Silberhalogenid kann in der Mengen lediglich kostspielig und unnötig sind. Wenn
sauren Peroxyd—Phenacetin-Ätzlösung bleiben und Gemische von Phenacetin, Sulfathiazol oder Silberstört
das Ätzverfahren nicht. Durch Zugabe einer 45 ionen verwendet werden, so werden wenigstens
größeren Menge an löslichem Silbersalz werden freie 25 Teile je Million an jedem Zusatz verwendet. Vor-Silberionen
für das Ätzmittel geliefert, die die Ätz- zugsweise werden solche Gemische in Mengen von
geschwindigkeit und die Ätzkapazität des Mittels sehr 200 bis 1500 Teilen je Million und jeder einzelne
günstig beeinflussen. Ätzmittel, die sowohl Phenacetin Zusatz in Mengen zwischen 100 und 1000 Teilen je
als auch freie Silberionen enthalten, sind bevorzugt 50 Million verwendet. Ein besonders bevorzugtes Ätz-
und besitzen außerordentlich gute Ätzgeschwindig- mittel enthält zwischen 300 und 500 Teile je Million
keiten und hohe Ätzkapazitäten, die beträchtlich über Phenacetin und 100 bis 300 Teile je Million an freien
denjenigen liegen, die mit einem dieser Zusätze allein Silberionen. Ein weiteres bevorzugtes Ätzmittel enterzielt
werden. Wenn das Ätzmittel Sulfathiazol ent- hält 300 bis 500 Teile je Million Phenacetin und
hielt, zeigte sich, daß die Anwesenheit freier Chlorid- 55 250 bis 450 Teile je Million Sulfathiazol.
und Bromidionen nicht schädlich ist. Das Sulfathiazol Die gemäß der Erfindung verwendeten Ätzmittel
und Bromidionen nicht schädlich ist. Das Sulfathiazol Die gemäß der Erfindung verwendeten Ätzmittel
erhöht also nicht nur die Ätzkapazität der Peroxyd- besitzen zweckmäßig eine Wasserstoffperoxydkonzenlösungen,
sondern beseitigt auch den nachteiligen tration von 2 bis 12 Gewichtsprozent. Bei Peroxyd-Einfluß
von Chlorid- und Bromidionen. In den meisten konzentrationen unter 2 Gewichtsprozent ist dieÄtz-Fällen
hat also die Anwesenheit von Sulfathiazol in 60 geschwindigkeit praktisch zu gering, und das Ätzen
den Ätzmitteln der Erfindung den Vorteil, daß die ist nicht zufriedenstellend. Bei Konzentrationen über
Verwendung von gewöhnlichem Leitungswasser für 12 Gewichtsprozent wird zwar Kupfer abgeätzt, die
die Herstellung des Ätzmittels möglich ist, ohne daß dabei in dem Ätzmittel gelösten Kupferionen zereine
besondere Behandlung erforderlich ist wie bei setzen aber das Peroxyd, so daß das Ätzen mit derart
Anwesenheit von Phenacetin allein. Wenn Sulfathiazol 65 hohen Peroxydkonzentrationen nicht mehr wirtschaftentweder
zusammen mit den anderen Katalysatoren lieh ist. Die besten Ergebnisse werden mit Peroxyd-
oder allein in Ätzmitteln, die mit gewöhnlichem konzentrationen von 2 bis 10 Gewichtsprozent erzielt.
Leitungswasser hergestellt sind, verwendet wird, so Während des Ätzens wird Wasser stoff per oxyd ver-
5 6
braucht, und es gehen immer größere Mengen Kupfer und zwar werden theoretisch je Mol Wasserstoffin
Lösung. In der Praxis muß eine Ätzlösung natürlich peroxyd 2 Äquivalente Säure verbraucht, und die
eine ausreichende Menge an Kupfer zu lösen vermögen, Säurekonzentration sinkt langsam in dem Maße, wie
bevor sie erschöpft ist, damit ein bestimmtes Werk- die Konzentration an gelöstem Kupfer zunimmt,
stück in angemessener Zeit von beispielsweise 1 bis 5 Da die Säurekonzentration bei niedrigen Konzen-2
Stunden abgeätzt werden kann. Dazu sind im allge- trationen an gelöstem Kupfer keinen wesentlichen
meinen Änfangskonzentrationen an Wasserstoffper- Einfluß auf die Ätzgeschwindigkeit hat, kann die
oxyd von wenigstens 4 Gewichtsprozent erforderlich, Wasserstoffperoxydlösung vorteilhaft eine hohe An-
und zweckmäßig hat die Wasserstoffperoxydlösung fangskonzentration an Wasserstoffionen haben, um
zu Beginn des Ätzens eine Konzentration von 5 bis io eine zufriedenstellende Ätzgeschwindigkeit noch nach
10 Gewichtsprozent, Wasserstoffperoxydlösungen mit teilweiser Erschöpfung des Ätzmittels und enteiner
solchen Peroxydkonzentration eignen sich gut sprechendem Anstieg der Konzentration an gelöstem
zum Ätzen entweder eines einzigen größeren Werk- Kupfer zu erzielen. Wenn es aber erwünscht ist, die
Stückes oder einer Anzahl von Werkstücken mit be- optimalen Ätzgeschwindigkeiten bei niedrigen Säuregrenzten
Kupfermengen. Das Ätzmittel arbeitet auch 15 konzentrationen zu erzielen, so kann die Ätzlösung
nach teilweiser Erschöpfung und bei hohen Konzen- vorteilhaft so hergestellt werden, daß sie anfangs eine
trationen an gelöstem Kupfer von bis zu 75 g Kupfer niedrige oder mittlere Wasserstoffionenkonzentration
je Liter Ätzmittel oder darüber noch mit guter Ge- in der Größenordnung von 0,45 bis 3,4 g/l (2 bis 15 Geschwindigkeit.
m wichtsprozent Schwefelsäure) und vorzugsweise 1,1 bis
Auch die Säurekonzentration in dem Ätzmittel kann 20 2,6 g/l (5 bis 12 Gewichtsprozent Schwefelsäure) bebeträchtlich
variieren. Sie entspricht zweckmäßig einer sitzt. .
Wasserstoffionenkonzentration von 0,45 bis 5,5 g/l Wenn dann Peroxyd und Säure verbraucht und
und vorzugsweise 0,65 bis 4,5 g/l. Bei einer Wasser- damit die Wasserstoffionenkonzentration abgesunken
Stoffionenkonzentration unter 0,45 g/l ist die Ätz- ist, wird weitere Säure zugesetzt, so daß die Wassergeschwindigkeit
gering und die Peroxydzersetzung 25 stoffionenkonzentration wieder in den optimalen
hoch, insbesondere wenn das Ätzmittel teilweise er- Bereich von 0,9 bis 1,4 g/l (4 bis 6 Gewichtsprozent
schöpft ist, Die obere Grenze für die Wasserstoff- Schwefelsäure) eingestellt wird. Die Zugabe von
ionenkonzentration kann von verschiedenen Faktoren, weiterer Säure kann entweder kontinuierlich oder
einschließlich der verwendeten Säure, abhängen. Eine intermittierend und entweder sofort nach Beginn des
Wasserstoffionenkonzentration über 5,5 g/l ist jedoch 30 Ätzens oder nachdem die Ätzlösung in beträchtlichem
im allgemeinen unwirtschaftlich und verringert die Ausmaß verbraucht ist erfolgen. Wenn die Anfangs-Ätzgeschwindigkeit,
statt sie zu verbessern. Zur Ein- wasserstoffionenkonzentration niedrig, beispielsweise
stellung der Wasserstoffionenkonzentration des Ätz- in der Größenordnung von 0,45 bis 1,1 g/l (2 bis 5 Gemitteis
können anorganische Säuren und auch die wichtsprozent Schwefelsäure) ist, so erfolgt die Zugabe
stärkeren organischen Säuren, wie Essigsäure, ver- 35 weiterer Säure vorzugsweise fast unmittelbar nach
wendet werden. Beispielsweise für besonders, gut ver- Beginn, des Ätzens und dann mehr oder weniger
wendbare Säuren sind Schwefelsäure, Salpetersäure kontinuierlich, bis die Wasserstoffionenkonzentration
und Fluoborsäure, Überraschenderweise wurde ge- bis gut in den Bereich von 0,9 bis 1,4 g/l erhöht ist.
funden, daß Salpetersäure sich gut zum Ätzen von Wenn die Anfangswasserstoffionenkonzentration je-Kupfer
eignet, ohne daß beträchtliche Mengen an 40 doch mehr als etwa 1,1 g/l beträgt, erfolgt die Zugabe
giftigen Stickoxyden entwickelt werden, wie bei einem von Säure zur Einstellung der optimalen Wasserstoffsolchen
Verfahren hätte erwartet werden müssen. Die ionenkonzentration vorzugsweise von Zeit zu Zeit,
Verwendung beträchtlicher Mengen an Salzsäure mit wenn die Ätzlösung in dem Maße verbraucht ist, daß
Bromwasserstoffsäure ist natürlich zu vermeiden, da die Wasserstoffionenkonzentration unter 1,1 g/l abgemit
diesen die unerwünschten Chlorid- .und Bromid- 4$ sunken ist und gewöhnlich unmittelbar nachdem sie
ionen in die Lösung gelangen würden. Vorzugsweise auf unter 0,9 g/l abgesunken ist. _,·-,..
wird Schwefelsäure verwendet. . Der Einfluß der Das Verhältnis von Wasserstoffperoxyd zu Säure in
Säurekonzentration auf die Geschwindigkeit des der Ätzlösung ist weniger wichtig als die Konzentra-Ätzens
von Kupfer ist von einigem Interesse. Wenn tion an Säure. Da bei der chemischen Umsetzung, bei
die saure Wasserstoffperoxydlösung nur geringe 50 der Kupfer in Lösung geht, 1 Mol Peroxyd und 2 Mol
Mengen an gelöstem Kupfer enthält, ist nämlich der Wasserstoff ionen verbraucht werden, scheint es an-Einfiuß
der Säurekonzentration auf die Ätzgeschwin- gezeigt, ein Molverhältnis Peroxyd zu Wasserstoffdigkeit
vernächlässigbar, und es kann jede Säure- ionen von 1:2, d. h« ein H2O2/H -Verhältnis von 1:2
konzentration zwischen 0,45 und 5,5 g/l angewandt anzuwenden. Verhältnisse Peroxyd zu Wasserstoffwerden,
ohne daß sich die Ätzgeschwindigkeit wesent- 55 ionen unter 1:2 sind im allgemeinen unnötig und
lieh ändert. Wenn aber die Peroxydlösung allmählich können sogar, insbesondere bei den höheren Konzenerschöpft
wird und die Konzentration an gelöstem trationen an den aktiven Bestandteilen, die Ätz-Kupfer
zunimmt, nimmt der Einfluß der Säurekonzen- geschwindigkeit verlangsamen. Praktisch beträgt die
tration beträchtlich zu. Bei den höheren Konzentra- tatsächlich verbrauchte Menge an Wasserstoffperoxyd
tionen an gelöstem Kupfer werden sowohl bei den 60 selten mehr als etwa 75 %>
so daß durch die Einbrinniedrigeren als auch bei den höheren Konzentrationen gung von nur wenig mehr als etwa 1,5 Mol Wasseran
Säure lange Ätzzeiten erforderlich, und die opti- stoffionen je Mol Peroxyd die richtige Menge an
male Ätzgeschwindigkeit wird bei einer mittleren Säure geliefert wird, um die Ätzlösung vollständig
Wasserstoffionenkonzentration von 0,9 bis 1,4 g/l auszunutzen. Ein Teil des Peroxyds kann außerdem
(etwa 4 bis 6 Gewichtsprozent Schwefelsäure) erreicht. 65 zufolge seiner Zersetzung nicht ausgenutzt werden.
Beim Ätzen von Kupfer mit sauren Wasserstoffper- Daher haben Ätzmittel, die so hergestellt werden, daß
oxydlösungen gemäß der Erfindung wird sowohl das sie von Anfang an eine ausreichende Menge an Säure
Wasserstoffperoxyd als auch die Säure verbraucht, zur vollständigen Ausnutzung des Peroxyds ohne;
7 8
weiteren Säurezusatz während des Ätzens enthalten, werden vorzugsweise durch Zugabe von Silbernitrat in
vorzugsweise ein Anfangsmolverhältnis von Wasser- einer Menge von 300 bis 7000 Teilen je Million, gestoffperoxyd
zu Wasserstoffionen von nicht unter wohnlich 750 bis 4500 Teilen je Million, eingebracht.
1,0:1,6 und zweckmäßig in dem Bereich von 1,0:1,6 Aus diesen Konzentraten können die Ätzlösungen
bis 1,0:1,0. Wenn im Verlauf des Ätzens weitere 5 durch Zugabe von Säure und Wasser und gewünschten-Säure
zugesetzt werden soll und die Ätzlösung anfangs falls anderen Zusätzen, wie Sulfathiazol, hergestellt
eine niedrige bis mittlere Säurekonzentration besitzt, werden. Solche Wasserstoffperoxydkonzentratekönnen
kann das Verhältnis von Wasserstoffperoxyd zu Säure leicht und sicher transportiert werden und haben den
natürlich anfangs etwas größer sein und liegt dann vor- weiteren Vorteil, daß sie längere Zeit bei Zimmerzugsweise
zwischen 1,0:0,2 und 1,0:1,0. Wenn dann io temperatur und darüber stabil sind.
Wasserstoffperoxyd verbraucht und weitere Säure Ein besonderer Vorteil des Verfahrens der Erfindung
zugesetzt wird, sinkt das Molverhältnis von Peroxyd besteht darin, daß es bei der Herstellung von gedruckzu
Säure und erreicht schließlich den Bereich, der ten Schaltungen zum Abätzen von Kupferschichten
vorzugsweise in denjenigen Lösungen, die gleich auf Kunststoffplatten oder -folien angewandt werden
anfangs die gesamte Säure enthalten, eingestellt wird. 15 kann. Solche Verfahren sind an sich bekannt und
Auch hier aber ist es aus praktischen Gründen, weil müssen daher hier nicht im einzelnen beschrieben
selten mehr als 75 °/o des Peroxyds ausgenutzt werden, werden. Die mit Kupfer beschichteten Platten, aus
erwünscht, während des Ätzens keine solche Menge an denen die gedruckten Schaltungen hergestellt werden,
Säure zuzusetzen, daß das Molverhältnis von Peroxyd weisen gewöhnlich eine Grundplatte oder -folie aus
zu Säure auf unter 1,0:1,6 sinkt. 20 einem elektrisch isolierenden Material, meist PoIy-
Die Temperatur der angesäuerten Wasserstoffper- vinylchlorid, auf. Es können aber auch andere elekoxydlösung
der Erfindung ist beim Ätzen von Kupfer trisch isolierende Materialien, auf die Kupfer aufgeein
wesentlicher Faktor. Bei Zimmertemperatur oder schichtet werden kann, wie Keramik, Glas und die
darunter wird Kupfer nicht angeätzt. Die Art des Phenol-, Epoxy-, Melaminharze und Silicon- und
Angriffs des Ätzmittels der Erfindung auf Kupfer bei 25 Fluorkohlenstoffpolymerisate, verwendet werden. Die
derartigen Temperaturen ist mehr als ein Polieren, Dicke der Kupferschicht auf solchen Schichtstoffen
Oxydieren oder Glänzendmachen zu bezeichnen. Um kann in einem beträchtlichen Bereich variieren und
Kupfer wirksam zu ätzen, muß das Ätzmittel eine beträgt beispielsweise 0,006 bis 0,25 mm und gewöhn-Temperatur
von wenigstens 400C haben, wenn es mit lieh 0,012 bis 0,13 mm. Dicke der Kupferschicht und
dem Metall in Kontakt steht. Die Temperatur des 30 Menge an Kupfer auf einem solchen Schichtstoff
Ätzmittels hat einen starken Einfluß auf die Ätz- werden in Unzen Kupfer je Quadratfuß angegeben,
geschwindigkeit, und durch Erhöhen der Temperatur Beispielsweise wird ein Schichtstoff mit einer Kupferauf
50 bis 62° C wird es möglich, die Geschwindigkeit schicht von 0,069 mm Dicke gewöhnlich als eine
des Ätzens auf einen wesentlich höheren Wert zu 2-Unzen-Kupferplatte bezeichnet. Das gewünschte
bringen, als es bei Verwendung von Ammoniumper- 35 Leitungssystem wird auf der Platte mittels eines Absulfat
enthaltenden Ätzmittel bei den dafür als optimal deckmaterials, das natürlich sehr beständig gegen den
empfohlenen Temperaturen möglich ist. Bei Tem- Angriff der Chemikalien, die zum Ätzen verwendet
peraturen über 650C wird nur eine geringe weitere werden, sein muß, vorgezeichnet. Eine Anzahl solcher
Erhöhung der Ätzgeschwindigkeit erzielt, und diese Materialien sind bekannt und im Handel erhältlich,
höheren Temperaturen haben sich als unzweckmäßig 40 Ein besonderer Vorteil der Erfindung ist auch, daß sie
erwiesen, weil die Peroxydzersetzung dabei schon zum Ätzen sowohl durch Eintauchen als auch durch
mit unerwünscht hoher Geschwindigkeit erfolgt. Wie Aufsprühen verwendet werden kann. Beim Ätzen
bei der Säurekonzentration hat sich gezeigt, daß der durch Eintauchen ist es erwünscht, das Werkstück
Einfluß der Temperatur auf die Ätzgeschwindigkeit oder die Lösung zu bewegen, und vorzugsweise wird
am größten ist, wenn die Ätzlösung teilweise ver- 45 dabei eine Lösung mit einer Anfangswasserstoffperbraucht
und die Konzentration an gelöstem Kupfer oxydkonzentration von 8 Gewichtsprozent verwendet,
schon wesentlich gestiegen ist. Die Erhöhung der um die Kosten je Gewichtseinheit abgeätztes Kupfer
Temperatur der Ätzlösung wird durch das Ätzen gering zu halten. Beim Ätzen durch Aufsprühen wird
selbst, das etwas exotherm ist, unterstützt. Eine vorzugsweise eine Anfangswasserstoffperoxydkonzen-Erhöhung
der Temperatur des Ätzmittels kann audh 50 tration von 6 Gewichtsprozent angewandt. Die mit
mit Vorteil angewandt werden, um die Ätzgeschwin- gewöhnlichem Leitungswasser hergestellten Peroxyddigkeit
auf einem mehr oder weniger konstanten Wert lösungen, denen ein lösliches Silbersalz zugesetzt
zu halten, wenn eine Anzahl von Werkstücken in der wurde, um die Chlorid- und Bromidionen zu entfernen,
gleichen Lösung geätzt werden soll, wie beispielsweise können zum Ätzen sowohl durch Eintauchen als auch
bei der automatischen Herstellung von gedruckten 55 durch Aufsprühen verwendet werden. Beim Ätzen
Schaltungen. durch Aufsprühen enthält das Ätzmittel vorzugsweise
Die Ätzlösungen der Erfindung können durch entweder Phenacetin oder Sulfathiazol, insbesondere
einfaches Vermischen der erforderlichen Komponen- Phenacetin, in Kombination mit einem Material, das
ten hergestellt werden. Die bevorzugten Ätzmittel, die weitere Silberionen liefert. Die zur Erzielung optimaler
Phenacetin enthalten, können leicht aus einem 60 Ergebnisse erforderliche Menge an Silber ist beim
wäßrigen Wasserstoffperoxydkonzentrat, das 20 bis Ätzen durch Aufsprühen etwas größer und wird
Gewichtsprozent, vorzugsweise 30 bis 60 Gewichts- vorzugsweise zwischen 75 und 500 Teilen je Million,
prozent, Wasserstoffperoxyd und 400 bis 15000, vor- insbesondere 100 bis 300 Teilen je Million, gehalten,
zugsweise 1000 bis 5000 Teile je Million Phenacetin Die Zeit des Kontakts des Werkstückes mit der Ätzenthält,
hergestellt werden. Die bevorzugt verwendeten 65 lösung hängt von verschiedenen Faktoren, einschließ-Wasserstoffperoxydkonzentrate
enthalten außerdem lieh insbesondere der Dicke oder Menge des abzu-Silberionen
in einer Menge von 200 bis 5000, Vorzugs- ätzenden Kupfers, der Konzentration oder dem Grad
weise 500 bis 2500 Teilen je Million. Die Silberionen der Erschöpfung des Peroxyds und der Säure in der
909526/350
15298^83
ν ίο
ν ίο
Lösung; der Temperatur' und dem Grad und der dife Ätzgeschwindigkeit. wurde berechnet, indem das
Methode der Bewegung, ab. Eine dünne' Kupfer- Stück vor Eintauchen· in die Lösung und nach Entschicht
kann bei höheren Temperaturen mit einer nähme aus der Lösung gewogen wurde. Jede Zeit
frisch hergestellten Ätzlösung in kurzer Zeit von · wird angegeben in Minuten, die zur Entfernung des
beispielsweise 1J4 Minute abgeätzt werden. Beim ·: 5 gesamten frei liegenden Kupfers auf dem Teststück
Abätzen mehrerer Platten nacheinander sind längere erforderlich-waren.
Kontaktzeiten erforderlich. Jedoch können .mehrere ■ . " . „ ■"■■■·
Kupferschichtplatten mit üblichen Kupfermengen in ^.... Beispiele i bis 8 ...
ziemlich konstanten Zeiten mit den Peroxydlösungen Die Ätzgeschwindigkeit wurde unter Anwendung
der Erfindung abgeätzt werden, was ein weiteres io der oben beschriebenen Eintauchmethode in acht
vorteilhaftes Merkmal der Erfindung ist. Kontakt- verschiedenen Ätzlösungen bestimmt. Die ersten
zeiten von etwa 60 Minuten stellen im allgemeinen vier Lösungen (Lösungen A bis D) enthielten jede
die obere Grenze dar, die jedoch hauptsächlich von 8 Gewichtsprozent Wasserstoffperoxyd und 23 Gewirtschaftlichen
Erwägungen vorgegeben wird. Vor- wichtsprozent Schwefelsäure, so daß das Molverhältnis
zugsweise werden Kontaktzeiten von 1Z2 Minute bis zu -15 Peroxyd zu Säure etwa 1:1 betrug. Die Lösungen E
50 Minuten angewandt, wenn eine Anzahl Kupfer- und P enthielten die gleiche Menge an Wasserstoffschichtplatten
mit Kupferschichten von 0,012 bis peroxyd, jedoch nur 17,3 % Schwefelsäure, so daß das
0,13 mm Dicke zur Herstellung von gedruckten MolverhältnisPeroxyd zu Schwefelsäure etwa 1:0,75
Schaltungen abgeätzt werden. Die Ätzgeschwindig- ^betrug. Die Ätzlösungen wurden mit entionisiertem
keiten können natürlich auch durch Steuern der Tem- ao Wasser hergestellt, und enthielten insgesamt nur
peratur der Lösung und der Säurekonzentration ge- 0,2 Teile je Million freie Chlorid- und Bromidionen.
steuert werden, wie oben beschrieben; d. h., die'Tem- Die Lösung A enthielt keinen Zusatz. Die Lösung B
peratur der Lösung kann langsam erhöht werden, um enthielt· 400 Teile je Million Phenacetin, und die Lödie
Ätzzeit bei der Behandlung einer Reihe von kupfer- - sung C enthielt 400 Teile je Million SuIfathiazol.
beschichteten Platten möglichst konstant zu halten. ,25 : Die Lösung D enthielt sowohl Phenacetin als auch
Die Säurekonzentration kann so gesteuert werden, SuIfathiazol, und zwar in einer Menge von je 200, Teidaß
möglichst hohe Ätzgeschwindigkeiten erzielt len je Million; Der Lösung E wurden etwa 267 Teile
werden, indem eine Lösung mit geringer' Anfangs- je Million Silbernitrat zugesetzt. Die Lösung P enthielt
säurekonzentration-verwendet und nach teilweisem 400 Teile je Million Phenacetin und 267 Teile je Million
Verbrauch des Ätzmittels weitere: Säure zugesetzt 3° Silbernitrat. Die Temperatur der Peroxydlösungen
wird, so daß die Wasserstoffionenkonzentration in wurde auf etwa 60° G eingestellt. Die Lösungen G
dem optimalen Bereich von 0,9 ;bis 1,4 g/l gehalten und H waren Ammoniumpersulfatlösungen. Die Lpwird.
Beider Herstellung von gedruckten Schaltungen sung H, eine 20%ige Ammoniumpersulfatlösung mit
durch Ätzen spielt das »Unterschneiden« oder der Mercurichlorid als Katalysator,-wurde bei einer Tem-Grad
in dem das Ätzmittel horizontal unter dem Ab-.35 peratur von 60°C gehalten. Die Lösung G wurde bei
deckmateriäl wirkt, verglichen mit seiner Wirkung 50° C gehalten. Die Ergebnisse des Ätzens mit diesen
vertikal in Richtung zu der elektrisch isolierenden Lösungen sind in Tabelle I zusammengestellt. ·
Unterlage, eine wichtige Rolle. Das Unterschneiden Tabelle I zeigt, daß die Ätzgeschwindigkeit, der
wird im allgemeinen definiert als das Verhältnis der sauren Wasserstoffperoxydlösungen allgemein sehr
Dicke der Kupferschicht zu dem Ausmaß des Angriffs 40 hoch und der in der Literatur für die im Handel erunter
dem Abdeckmaterial. Ein Verhältnis über 1:1 hältliche'AmmoniumpersulfatlösungG mit der empist
als zufriedenstellend anzusehen. Die Ätzmittel der fohlenen Konzentration · und bei der empfohlenen
Erfindung haben sich in dieser Hinsicht als sehr zu- Temperatur von. 50° C klar überlegen ist. Die Wasserfriedenstellend
erwiesen, d. h. das Unterschneidungs- stoffperoxydlösung A, die keinen Zusatz enthält, zeigt
verhältnis beträgt etwa 2. 45 bei den niedrigen Konzentrationen an . gelöstem
Die Erfindung wird durch die folgenden Beispiele Kupfer eine etwas höhere Ätzgeschwindigkeit als. die
■veranschaulicht. Teile und Prozentangaben beziehen Lösungen B, C und D, während die Peroxydlösungen
■sich auf das Gewicht. .-■.-. ; B, C und D mit den Zusätzen bei den höheren Kon-
Ιϊϊ den Beispielen 1 bis Yl wurden mit Kupfer be- zentrationen- an gelöstem Kupfer eine beträchtlich
■schichtete' Kunststoffplatten zu Stücken mit Ab- 50 höhere Ätzgeschwindigkeit aufweisen, wodurch die
messüngen von 5,7 χ 11,4 χ 0,16 cm zerschnitten. Wirkung der Zusätze hinsichtlich einer Erhöhung.der
Jedes Stück wies etwa 4 g Kupfer in einer Schicht von Wirkung des Peroxydätzmittels veranschaulicht wird.
0,069mm (0,061g/cm8) auf. Das Abätzen erfolgte 'Die PeroxydlösungenB und C, die Phenacetin bzw.
durch · Eintauchen' der Stücke in 500 g Ätzlösung in Sulfathrazol enthalten, -lösen 74,5 g Kupfer .je Liter
hohen •SOO-ml-Beehern, die zur Steuerung der'Tem--S5 Ätzmittel.fast zweimal so schnell wie die Lösung A.
perätür des Ätzmittels in einem Wasserbad gehalten Die Lösung D, die sowohl Phenacetin als auch Sulfawurden.
Das Ätzen dieser Stücke ist im folgenden thiazol enthält, zeigt eine weitere Verbesserung der
durch die Zeit, die zum Abätzen der Stücke in Ätz- Ätzgeschwindigkeit bei den höheren Konzentrationen
mitteln mit einer bekannten ■ Menge an gelöstem an gelöstem Kupfer gegenüber den Lösungen B und C,
Kupfer erforderlich ist, gekennzeichnet. Das zu So die nur einen dieser Zusätze enthalten. Die Ätzgeätzende
Stück wurde mit einem Ende an einem hin- schwindigkeil· ist bei Verwendung der Lösung D bei
und hergehenden Mechanismus befestigt, so daß es einer Konzentration von 74,5 g an gelöstem Kupfer je
über eine Strecke von etwa 1,3 cm mit einer Geschwin- Liter Ätzmittel fast 2V2mal so groß wie die Ätzgedigkeit
von 50 bis 60 Ausschlägen je Minute auf und schwindigkeit bei Verwendung der Lösung A. Die
nieder bewegt werden konnte. 500 g Ätzlösung wurden ,65 Ergebnisse, des Ätzens einer Anzahl Proben in der
in die 500 m I-Becher eingebracht, und das Stück Lösung E zeigen, daß der Zusatz von Silbernitrat zu
wurde in die Ätzlösung getaucht und darin bewegt. der Peroxydlösung die Ätzgeschwindigkeit beschleu-Die
Ätzzeit wurde mit einer Stoppuhr gemessen, und nigt, während die mit der Lösung F erzielten Ergeb-
nisse zeigen, daß durch Zugabe von sowohl Phenacetin als auch Silbernitrat insbesondere bei den höheren
Konzentrationen an gelöstem Kupfer eine noch höhere Ätzgeschwindigkeit erzielt wird. Eine Analyse der
Peroxydlösung A nach Abätzen von 76,5 g Kupfer je Liter Ätzlösung zeigte, daß das Peroxyd zu 42% ausgenutzt
war, während 32% des ursprünglichen Peroxyds noch in der Lösung anwesend und 26 % durch
Zersetzung verlorengegangen waren. Eine Analyse der Peroxydlösung B nach Abätzen von 84,5 g Kupfer je
Liter Ätzmittel zeigte eine Peroxydausnutzung von 46%, eme Restmenge des ursprünglichen Peroxyds
von 25% und einen Verlust durch Zersetzung von 29 0I0. Eine Analyse der Lösung C nach Abätzen von
86,8 g Kupfer je Liter Ätzmittel zeigte eine Peroxydausnutzung vdn 46 %, eine Restmenge an Peroxyd in
der Lösung von 32% und einen Verlust durch Zersetzung von 22 %· Die Analyse der Peroxydlösung D
nach Abätzen von 95,0 g Kupfer je Liter Ätzmittel zeigte eine Peroxydnutzung von 52 %, eine Restmenge
Peroxyd von 29% und einen Verlust durch Zersetzung von 19 0I0. Die Analyse der Lösung E nach Abätzen
von 91,2 g Kupfer je Liter Ätzmittel ergab eine Peroxydausnutzung von 51 °/0, eine Restmenge Peroxyd
von 9 % und einen Verlust durch Zersetzung von 40 %. Eine Analyse der Peroxydlösung F nach Abätzen
von 106 g Kupfer je Liter Ätzmittel zeigte eine Peroxydausnutzung von 60%, eine Restmenge Peroxyd
in der Lösung von 14 % und einen Verlust durch Zersetzung von 26 %·
Konzentration
Gelöstes Kupfer,
g/l
g/l
Ätzmittel
Lösung A Lösung B Lösung C
Säure,
Peroxyd,
kein
Zusatz
Säure,
Peroxyd,
400 Teile
je Million
Phenacetin
Säure,
Peroxyd,
400 Teile
je Million
Sulfa-
thiazol' Lösung D
Säure,
Peroxyd,
200 Teile
je Million
Phenacetin,
200 Teile
je Million
Sulfathiazol
Lösung E
Säure,
Peroxyd,
267 Teile
je Million
Silbernitrat
Peroxyd,
267 Teile
je Million
Silbernitrat
Lösung F | Lösung G |
Säure, | |
Peroxyd, | 20% |
' 267 Teile | Ammo |
je Million | nium |
Silber | persulfat |
nitrat | Mercuri- |
400 Teile | chlorid |
je Million | 500C |
Phenacetin |
Lösung H
20 7o Ammonium persulfat Mercurichlorid 6O0C
Ätzgeschwindigkeit der Lösung, Minuten
Anfangsgeschwindigkeit ..
14,9 g
29,8 g
44,7g
59,6 g
74,5 g
82,2 g
1,5
2,1
3,5
6,5
14,0
40,0
2,8
3,7
5,8
8,5
12,0
23,5
2,5
4,5
7,0
9,8
13,8
26,8.
37,5 2,0
3,0
3,8
6,5
10,0
16,9
23,0 1,0
1,0
1,0
1,7
■2,9
■2,9
5,5.
15,0
15,0
1,0
1,6
2,3
3,0
4,0
5,5
6,2
1,6
2,3
3,0
4,0
5,5
6,2
7,5 10,0 14,0 20,0 34,0
24 28 45
Beispiele9bisll säure. Die Lösung I enthielt keinen Zusatz und wenig-
Drei weitere Peroxydlösungen (Lösungen I bis K) stens 5 Teile je Million freie Chlorid- und Bromid-
wurden wie die der Beispiele 1 bis 8, jedoch unter Ver- ionen. Die Lösung J enthielt 400 Teile je Million Phen-
wendung von gewöhnlichem Leitungswasser an Stelle 40 acetin. Die Lösung K enthielt 400 Teile je Million
von entionisiertem Wasser hergestellt. Jedes Bad ent- Phenacetin in Kombination mit 250 Teilen je Million
hielt 8% Wasserstoffperoxyd und 17,3% Schwefel- Sulfathiazol.
Jede Lösung wurde während des Ätzens bei einer Temperatur von Tabelle II zusammengestellt.
6O0C gehalten. Die Ergebnisse sind in
Konzentration
Gelöstes Kupfer, gl
Ätzmittel
Anfangsgeschwindigkeit
14,9 g
29,8g
44,7 g
59,6 g
74,5 g
82,2g
Lösung I
Peroxyd,
kein Zusatz
Lösung J Peroxyd,
400 Teile
je Million
Phenacetin
400 Teile
je Million
Phenacetin
LösungK
Peroxyd,
400 Teile
je Million
Phenacetin
250 Teile
je Million
Sulfathiazol
400 Teile
je Million
Phenacetin
250 Teile
je Million
Sulfathiazol
Ätzgeschwindigkeit
der Lösung,
Minuten
7,0 | 6,5 |
7,1 | 6,1 |
7,5 | 5,8 |
9,4 | 6,2 |
15,0 | 7,5 |
— | 11,0 |
— | 18,0 |
1,5
1,8
2,2
3,1
5,0
8,5
10,5
1,8
2,2
3,1
5,0
8,5
10,5
Tabelle II zeigt, daß die Lösung I, die mit gewöhnlichem Leitungswasser hergestellt war und keinen Zusatz
enthielt, auch bei den niedrigeren Konzentrationen an gelöstem Kupfer mit geringer Geschwindigkeit
ätzte und die Peroxydzersetzung unerwünscht hoch war.
Die Lösung J zeigt eine beträchtliche Verbesserung gegenüber der Lösung I. Die Lösung K hat eine hohe
Kapazität und eine hohe Ätzgeschwindigkeit bei den höheren Konzentrationen an gelöstem Kupfer, obwohl
gewöhnliches Leitungswasser verwendet wurde, und veranschaulicht den Vorteil der Verwendung einer
"Kombination von Phenacetin und Sulfathiazol.
Beispiel 12 bis 14
Beispiele 15 bis 16
IO
Unter Anwendung des oben beschriebenen Ätzverfahrens wurden drei verschiedene Ätzlösungen geprüft,
indem in jeder Lösung eine Anzahl der Prüfstücke abgeätzt wurde. Jede der untersuchten Lösungen
(Lösungen M, N und O) enthielt 8 Gewichtsprozent Wasserstoffperoxyd. Lösung M enthielt außerdem
17,5 Gewichtsprozent Schwefelsäure, 400 Teile je Million Phenacetin, 250 Teile je Million Sulfathiazol
und 267 Teile je Million Silbernitrat. Lösung N enthieltnoch22,3 Gewichtsprozent Salpetersäure, 400 Teile so
je Million Phenacetin und 250 Teile je Million Sulfathiazol. Lösung O enthielt noch 31,3 Gewichtsprozent
Fluoborsäure, 400 Teile je Million Phenacetin und 267 Teile je Million Silbernitrat. Während des Ätzens
wurde jede der Lösungen bei einer Temperatur von 6O0C gehalten:
Zwei Peroxydlösungen wurden hergestellt und nach dem oben beschriebenen Sprühätzverfahren geprüft.
Jede der Lösungen enthielt 6% Wasserstoffperoxyd .und 13% Schwefelsäure, so daß das Molverhältnis.
Wasserstoffperoxyd zu Schwefelsäure 1:0,75 betrug. Die Lösung von Beispiel 15 war mit Leitungswasser
hergestellt und enthielt etwa 400 Teile je Million Phenacetin und 400 Teile je Million Sulfathiazol. Die Lösung
von Beispiel 16 wurde ebenso wie die von Beispiel 15 jedoch unter Verwendung von entionisiertem
Wasser hergestellt, so daß sie nur etwa 0,2 Teile je Million freie Chlorid-,und Bromidionen zusammen
enthielt. Alle Lösungen wurden während des Ätzens bei einer Temperatur von etwa 6O0C gehalten.
Konzentration
Gelöstes Kupfer,
g/l
g/l
Ätzmittel
Anfangsgeschwindigkeit
14,9g
29,8g
44,7g
59,6g
74,5g
82,2g
Lösung M Lösung N Lösung O
Peroxyd,
400 TeUe
je MUlion
Phenacetin
250 Teile
je Million Sulfathiazol
267 TeUe
je Million Silbernitrat
Peroxyd, 400 Teile je Million Phenacetin 250 Teile je Million Sulfathiazol
Konzentration
Gelöstes Kupfer,
g/l
g/l
Ätzmittel
Peroxyd, 40OTeUe je Million Phenacetin
267 Teile je Million Silbernitrat
35
40 Anfangsgeschwindigkeit
14,9 g
29,8g
44,7 g
59,6 g ;
74,5g
400 Teile je Million Phenacetin
400TeUe je Million Sulfathiazol
Leitungswasser
400 Teile
je Million
Phenacetin
400 Teile
je Million
Sulfathiazol
Entionisier-
tes Wasser
Ätzgeschwindigkeit
der Lösung,
Minuten
1,6 1,6 2,1 3,0 5,0 14,0
1,6 1,7 2,1 3,0 5,0 14,0
Ätzgeschwindigkeit
der Lösung,
Minuten
0,9
1,5
3,1
3,6
3,8
5,6
8,0
1,5
3,1
3,6
3,8
5,6
8,0
1,5 1,5 2,0 4,0 10,5
1,5
2,0
3,0
4,0
8,0
15,0
20,0
Tabelle III zeigt, daß die Lösung M, die Schwefelsäure,
Phenacetin, Sulfathiazol und Silbernitrat enthält, ein besonders gutes Ätzmittel von besonders
hoher Kapazität ist, so daß die Ätzzeit bei einer Konzentration von 82,2 g Kupfer in 1 Liter Ätzmittel nur
etwa 8 Minuten beträgt. Die Lösungen N und O zeigen, daß auch Salpetersäure und Fluoborsäure in
den Ätzmitteln der Erfindung verwendet werden können.
In den folgenden Beispielen wurden die kupferbeschichteten Platten in Stücke von 28,8 X 22,8 X
0,16 cm zerschnitten. Jedes Stück wurde mit etwa 191 Ätzlösung je Minute besprüht. Die Ätzzeit wurde mit
einer Stoppuhr gemessen, und die Ätzgeschwindigkeit wurde aus dem Gewicht jedes Stückes vor und nach
der Behandlung berechnet.
Die Lösung von Beispiel 13 zeigt, daß durch Zusatz von Phenacetin und Sulfathiazol ein Ätzrnittel mit
außerordentlich hoher Kapazität und hoher Ätzgeschwindigkeit erhalten wird, auch wenn Leitungswasser
für seine Herstellung verwendet wird. Die mit entionisiertem Wasser hergestellte Ätzlösung von Beispiel
16 hat etwa die gleiche hohe Kapazität wie^die von Beispiel 15, woraus hervorgeht, daß die Ätzlösungen,
die sowohl Phenacetin als auch Sulfathiazol enthalten, in An- und Abwesenheit von Chlorid- und
Bromidionen gleiche Wirkung haben.
55
Ein weiteres Sprühätzmittel wurde mit einem Gehalt von 6% Wasserstoffperoxyd und 13% Schwefelsäure
hergestellt. Das Ätzmittel von Beispiel 20 enthielt 300 Teile je Million Phenacetin und war unter Verwendung
von gewöhnlichem Leitungswasser hergestellt, so daß es mit insgesamt wenigstens 5 Teilen je
Million Chlorid- und Bromidionen verunreinigt war. Die Lösung von Beispiel 17 war mit gewöhnlichem
Leitungswasser hergestellt und enthielt 300 Teile je Million Phenacetin und 200 Teile je Million Silbernitrat.
Die Ätzlösung wurde während des Ätzens bei einer Temperatur von 6O0C gehalten:
Konzentration Gelöstes Kupfer, g/l Ätzmittel |
Beispiel 17 300 Teile je Million Phenacetin 200 Teile je Million Silbernitrat Ätzgeschwindigkeit der Lösung, Minuten |
Anfangsgeschwindigkeit .. 14,9 g 29,8 g 44,7 g 52,2 g 59,6 g 67,1 g |
1,8 2,0 2,5 3,5 4,4 6,3 20,0 |
10
Die Ergebnisse von Beispiel 17 zeigen, daß der Zu- so satz von Phenacetin allein ein gutes Sprühätzmittel
ergibt, wenn die Konzentration an Chlorid- und Bromidionen auf unter 2 Teile je Million gesenkt wird.
Claims (14)
1. Verfahren zum chemischen Auflösen von Kupfer, mit einer angesäuerten wäßrigen Wasserstoffperoxydlösung,
dadurch gekennzeichnet, daß eine angesäuerte Wasserstoffperoxydlösung,
die eine katalytische Menge an Phenacetin, Sulfathiazol oder Silberionen oder mehreren dieser Mittel und, wenn Phenacetin allein
verwendet wird, weniger als 0,0002 % freie Chlorid- und Bromidionen enthält, verwendet wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine wäßrige Lösung verwendet wird,
die Phenacetin oder Silberionen, ein Gemisch von Phenacetin mit entweder Sulfathiazol oder Silberionen
oder ein Gemisch von Phenacetin, Sulfathiazol und Silberionen enthält.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine wäßrige Lösung verwendet wird,
die 0,02 bis 0,1 % Phenacetin enthält und eine Gesamtkonzentration
an Chlorid- und Bromidionen von weniger als 0,0002 % besitzt.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine wäßrige Lösung verwendet wird,
die 0,02 bis 0,1 % Sulfathiazol enthält.
5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine wäßrige Lösung verwendet wird,
die 0,01 bis 0,1 % von sowohl Phenacetin als auch
Sulfathiazol enthält.
6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine wäßrige Lösung verwendet wird,
die 0,005 bis 0,05 % Silberionen und gegebenenfalls noch 0,01 bis 0,1 % Phenacetin enthält.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß eine wäßrige Lösung mit 2 bis 12 Gewichtsprozent,
insbesondere 2 bis 10 Gewichtsprozent Wasserstoffperoxyd verwendet wird.
8. Verfahren nach Anspruch 6 oder 7 , dadurch gekennzeichnet, daß eine wäßrige Lösung mit einem
Gehalt von 0,45 bis 5,5 g/l, insbesondere 0,65 bis 4,50 g/l Wasserstoffionen verwendet wird.
9. Verfahren nach Anspruch 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Lösung bei einer Temperatur
von 40 bis 650C, insbesondere 50 bis 620C,
angewendet wird.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß eine schwefelsäure
Lösung mit einer Schwefelsäurekonzentration von 2 bis 23 Gewichtsprozent, insbesondere 3 bis 20 Gewichtsprozent,
verwendet wird.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß eine wäßrige Lösung
verwendet wird, die Wasserstoffperoxid und Schwefelsäure im Molverhältnis 1,0 : 0,8 bis 1,0: 0,5 enthält.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß eine wäßrige Lösung
mit einer Anfangsschwefelsäurekonzentration von 2 bis 15 Gewichtsprozent verwendet wird und, nachdem
die Schwefelsäurekonzentration während der chemischen Auflösung des Kupfers abgesunken ist,
weitere Schwefelsäure zugesetzt wird, um die Konzentration bei 4 bis 6 Gewichtsprozent zu halten.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß es auf Platten aus
einem Isoliermaterial mit einem Kupferbelag von 0,0127 bis 0,25 mm Dicke, auf die mit einem chemisch
beständigen Material ein Muster aufgebracht ist, angewandt wird.
14. Mittel zum Auflösen von Kupfer, bestehend aus einer wäßrigen Lösung, die 4 bis 12 Gewichtsprozent
H2O2, etwa 0,45 bis 5,5 g/l Wasserstoffionen
sowie eine katalytische Menge an Phenacetin und bzw. oder Sulfathiazol und bzw. oder Silberionen
oder Gemische davon enthält.
909 526/350
Applications Claiming Priority (2)
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1298383B true DE1298383B (de) | 1969-06-26 |
Family
ID=26989261
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEA47891A Pending DE1287403B (de) | 1963-12-30 | 1964-12-15 | Mittel und Verfahren zum AEtzen von Kupfer |
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Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DEA47891A Pending DE1287403B (de) | 1963-12-30 | 1964-12-15 | Mittel und Verfahren zum AEtzen von Kupfer |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US3269881A (de) |
BE (2) | BE657708A (de) |
CH (2) | CH469102A (de) |
DE (2) | DE1287403B (de) |
GB (2) | GB1029340A (de) |
NL (2) | NL6415194A (de) |
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