DE1250921B - - Google Patents
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/04—Measuring peak values or amplitude or envelope of ac or of pulses
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Description
AUSLEGESCHRIFT
DeutscheKl.: 21 e-36/01
Nummer: 1 250 921
Aktenzeichen: W 34444 IX d/21 e
1 250 921 Anmeldetag: 9. Mai 1963
Auslegetag: 28. September 1967
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Messen des Spitzen-Spitzenwertes von Wechselspannungen
verhältnismäßig tiefer Frequenz, welchen eine Störspannung sehr tiefer Frequenz überlagert ist, wobei
der Signalweg zwischen der Signalquelle und der eigentlichen Meßeinrichtung mit Hilfe eines Schalters
aufgetrennt werden kann.
Bei bekannten Meßinstrumenten zum Ermitteln des Spitzenwertes (oder des Spitzen-Spitzenwertes)
von Wechselspannungen liegt an einem Kondensator (oder an zwei Kondensatoren) dauernd die zu messende
Spannung. Soll nun der Spitzen-Spitzenwert einer Wechselspannung V1 = f (t) gemessen werden
(F i g. 1), welcher eine Störspannung V11 — f (/) überlagert
ist, dann schaltet man bekanntermaßen, um Fehlmessungen zu vermeiden, vor den eigentlichen
Spannungsmesser einen Hochpaß. Dieser ist so ausgelegt, daß die Störspannung V2 = f(t) von dem
Spannungsmesser ferngehalten wird. Dieses (selektive) Meßverfahren ist allerdings nicht bei jeder beliebigen
Frequenz brauchbar. Insbesondere bei tiefen Frequenzen in der Größenordnung von 1 Hz,
denen z. B. eine Störspannung von 0,1 Hz überlagert ist, ist diese Meßmethode wegen der komplizierten
und aufwendigen Filter oft nicht anwendbar.
Eine bekannte Vorrichtung zur Messung der Amplitude elektrischer Impulse (deutsche Auslegeschrift
1 138 158) enthält einen Schalter, mit dem der Signalweg zwischen der Signalquelle und der eigentlichen
Meßeinrichtung periodisch aufgetrennt wird, wobei der Schalter einen Stromfluß in beiden Richtungen
ermöglicht und von den zu messenden Impulsen fremdgesteuert ist. Diese bekannte Vorrichtung hat
den Nachteil, daß der zwar nur nach dem Beginn eines Impulses schließende und vor dem Ende eines Impulses
wieder öffnende Schalter bei jedem einzelnen auftretenden Impuls in dieser Weise betätigt wird, so
daß die Anordnung praktisch kontinuierlich arbeitet und tieffrequente Störspannungen nicht eliminiert.
Mit dem Verfahren nach der Erfindung kann der Spitzen-Spitzenwert von Wechselspannungen verhältnismäßig
tiefer Frequenz, welchen eine Störspannung sehr tiefer Frequenz überlagert ist, bei geringem Aufwand
dadurch bestimmt werden, daß der Spitzen-Spitzenwert nicht kontinuierlich, sondern zu beliebig
wählbaren, z. B. mehrere Perioden auseinanderliegenden Zeitpunkten nur während einer halben Periode
der zu untersuchenden Spannung in an sich bekannter Weise durch Aufladen eines Kondensators auf den
positiven Scheitelwert und eines weiteren Kondensators auf den negativen Scheitelwert sowie anschließendes
Addieren der beiden Werte gemessen wird.
Verfahren zum Messen der Amplitude von
Wechselspannungen
Wechselspannungen
Anmelder:
Wandel u. Goltermann, Reutlingen
Als Erfinder benannt:
Dipl.-Ing. Albin Lang, Pfullingen
Dipl.-Ing. Albin Lang, Pfullingen
An Hand der F ig. 2 bis 4 soll das erfindungsgemäße Verfahren und zwei Anordnungen zur Durchführung
desselben beschrieben werden.
In Fig. 2 ist eine Wechselspannung V1 = f(t) dargestellt, deren Spitzen-Spitzenwert t/ss gemessen wer-
ao den soll. Der Einfluß der Störspannung V2 = f{t),
welche eine wesentlich tiefere Frequenz hat, soll eliminiert werden. Dazu soll eine Anordnung gemäß
Fig. 3 verwendet werden: Im Ausgangszustand sind in dieser Schaltung die Tore T1, T2, T3 und Ti (elek-
»5 tronische Schalter) nichtleitend. D"ie Steuerung aller Tore, die im folgenden der besseren Übersichtlichkeit
wegen nicht näher erläutert wird, kann über das Steuergerät S von der zu messenden Spannung V1
= f(t) oder von der zu messenden und der Störspannung erfolgen. Zum Zeitpunkt 1 (Fig. 2) beispielsweise
werden die Tore T2 und T3 leitend, so daß die Kondensatoren C1 und C2 sich über die Widerstände
R1 und R2 entladen. Nach Ablauf der Zeit tk
(F i g. 2) öffnen (nichtleitend) diese Tore wieder selbsttätig. Vom Zeitpunkt 2 bis zum Zeitpunkt 3 ist
das Tor T1 geschlossen (leitend) und der Kondensator C1 lädt sich auf den Wert Vs t auf. Vom Zeitpunkt
3 bis 4 ist das Tor T1 wieder geöffnet und vom Zeitpunkt 4 bis 5 emeut geschlossen, wodurch sich
C2 über die Diode D9 auf die Spannung Vs , auflädt.
Vom Zeitpunkt5 bis 6 ist T4 geschlossen, und es wird mit einem hochohmigen Meßinstrument M die
über den Kondensatoren C1 und C2 stehende Spannung Vsl + Vs9 = Vss gemessen. — Die nächste
Messung kann z. B. nach einigen Perioden entsprechend vorgenommen werden.
Sollen kleine Wechselspannungen V1 = f{t) gemessen werden, dann stört die verhältnismäßig große
Durchlaßspannung der Dioden D1 und D2 in F i g. 3.
In diesem Fall ist es vorteilhaft, wie in F i g. 4 gezeigt, an Stelle dieser Dioden Schalter (Tore) T5 und
Tb zu verwenden. Enthalten die Schalter T5 und T0
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Claims (5)
1. Verfahren zum Messen des Spitzen-Spitzenwertes von Wechselspannungen verhältnismäßig
tiefer Frequenz, welchen eine Störspannung sehr tiefer Frequenz überlagert ist, wobei der Signalweg
zwischen der Signalquelle und der eigentlichen Meßeinrichtung mit Hilfe eines Schalters
aufgetrennt werden kann, dadurch gekennzeichnet, daß der Spitzen-Spitzenwert nicht
kontinuierlich, sondern zu beliebig wählbaren, z. B. mehrere Perioden auseinanderliegenden
Zeitpunkten, nur während einer halben Periode der zu untersuchenden Spannung in an sich bekannter
Weise durch Aufladen eines Kondensators auf den positiven Scheitelwert und eines weiteren
Kondensators auf den negativen Scheitelwert sowie anschließendes Addieren der beiden
Werte gemessen wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in an sich bekannter Weise der
Zeitpunkt des Beginns und die Dauer ('/2 Periode) einer Messung von der zu untersuchenden Spannung
her gesteuert werden.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Zeitpunkt des Beginns und
die Dauer (V2 Periode) einer Messung mit an sich bekannten Mitteln von der zu untersuchenden
und der dieser überlagerten Störspannung her gesteuert werden.
4. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach den Ansprüchen 1 und 2 oder 1 und 3,
dadurch gekennzeichnet, daß mit der nicht geerdeten Eingangsklemme ein Tor (T1) verbunden
ist, dessen Ausgang über eine Diode (D1) an einen Kondensator (C1) und über eine weitere, entgegengesetzt
gepolte Diode (D2) an einen zweiten Kondensator (C2) geschaltet ist, daß die Kondensatoren
(C1, C2) an einem Ende miteinander verbunden sind und der Verbindungspunkt an Masse
liegt, daß parallel zu den in Reihe geschalteten Kondensatoren (C1 und C2) über ein Tor (T4) ein
hochohmiger Spannungsmesser (M) und parallel zu jedem Kondensator (Cv C2) über Tore (T2,
T3) Entladewiderstände (Rv R.,) geschaltet sind,
und daß alle Tore (T1, T2, T3, T4) über ein Steuergerät
(S) mit dem Eingang verbunden sind (Fig. 3).
5. Anordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Kondensatoren (C1, C2)
über je ein Tor (Tv Tfi) mit den Eingangsklemmen und die Tore (T5, Tli) mit dem Ausgang des
Steuergerätes (S) verbunden sind (F i g. 4).
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Auslegeschriften Nr. 1 025 516, 138 158.
Deutsche Auslegeschriften Nr. 1 025 516, 138 158.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
709 649/150 9. 67 © Bimdesdruckerei Berlin
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1250921B true DE1250921B (de) | 1967-09-28 |
Family
ID=604449
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEW34444A Pending DE1250921B (de) |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1250921B (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4057754A (en) * | 1976-05-06 | 1977-11-08 | Westinghouse Electric Corporation | Apparatus to measure the eccentricity of a shaft |
DE2907856A1 (de) * | 1979-02-28 | 1980-09-11 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zum speichern des maximalwertes einer elektrischen spannung |
EP0021340A2 (de) * | 1979-06-23 | 1981-01-07 | Kistler Instrumente AG | Vorrichtung zum Messen und Auswerten der Spitzenwerte eines pulsierenden Spannungssignales |
DE3206268A1 (de) * | 1982-02-20 | 1983-09-01 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Anordnung zur bildung der stromistwerte von oberschwingungsbehafteten stroemen |
DE3627610A1 (de) * | 1986-08-14 | 1988-02-25 | Max Planck Gesellschaft | Synchronisierter messverstaerker |
-
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- DE DEW34444A patent/DE1250921B/de active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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EP0021340A3 (en) * | 1979-06-23 | 1981-07-01 | Kistler Instrumente Ag | Peak value measuring and evaluating device |
DE3206268A1 (de) * | 1982-02-20 | 1983-09-01 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Anordnung zur bildung der stromistwerte von oberschwingungsbehafteten stroemen |
DE3627610A1 (de) * | 1986-08-14 | 1988-02-25 | Max Planck Gesellschaft | Synchronisierter messverstaerker |
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