DE1088240B - Verfahren und Einrichtung zur UEberwachung, Steuerung oder Regelung von statistischen Vorgaengen - Google Patents
Verfahren und Einrichtung zur UEberwachung, Steuerung oder Regelung von statistischen VorgaengenInfo
- Publication number
- DE1088240B DE1088240B DEZ4020A DEZ0004020A DE1088240B DE 1088240 B DE1088240 B DE 1088240B DE Z4020 A DEZ4020 A DE Z4020A DE Z0004020 A DEZ0004020 A DE Z0004020A DE 1088240 B DE1088240 B DE 1088240B
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- electrical
- frequency
- channels
- values
- time
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 30
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 title claims description 4
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 title claims description 3
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 title claims description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 17
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 16
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 7
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000009987 spinning Methods 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 2
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 claims 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 15
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 13
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 12
- 239000004753 textile Substances 0.000 description 8
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 7
- 239000000047 product Substances 0.000 description 6
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 4
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 3
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 101100042630 Caenorhabditis elegans sin-3 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000001311 chemical methods and process Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 239000013067 intermediate product Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/36—Textiles
- G01N33/365—Filiform textiles, e.g. yarns
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
DEUTSCHES
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Einrichtung zur Überwachung, Steuerung oder Regelung
von statistischen Vorgängen, insbesondere des Querschnittsverlaufes von Spinnereizwischen- und -fertigerzeugnissen
unter Verwendung eines Meßwertumformers und eines Frequenzanalyseverfahrens, wobei von dem
statistischen Vorgang eine elektrische Größe gewonnen wird, von der die Amplitudenwerte beliebig vieler beliebiger
Frequenzen gebildet werden.
In der Textiltechnik besteht das Bedürfnis, bei der Fabrikation von Wickeln, Bändern, Vorgarnen und
Garnen einen möglichst gleichmäßigen Substanzquerschnitt der erwähnten Erzeugnisse bzw. Zwischenprodukte
zu erhalten. Dementsprechend sind auch bereits Verfahren und Einrichtungen zur elektrischen Messung und *5
Registrierung des Substanzquerschnittes in Funktion der Länge bekannt. Ein solches Verfahren sowie eine Einrichtung
zur Durchführung desselben ist beispielsweise im deutschen Patent 854 710 beschrieben. Mit dessen
Hilfe kann vom Verlauf des Substanzquerschnittes des Prüfgutes ein elektrisches Abbild gewonnen werden,
wobei dieses elektrische Abbild beispielsweise mit Hilfe eines elektrischen Registrierinstrumentes als Diagramm
sichtbar gemacht werden kann.
Ein auf diesem Gebiet erfahrener Fachmann wird nach dem Studium des erhaltenen Diagramms in der Lage
'sein, sich ein Urteil über die Qualität in bezug auf die Gleichmäßigkeit der geprüften Erzeugnisse zu bilden.
Bei unbefriedigender Qualität wird er ferner auf Grund gewisser charakteristischer Diagrammformen auf Fehler
im Maschinenpark, mit dem die geprüften Erzeugnisse hergestellt worden sind, schließen können. In dieser Hinsicht
sind erfahrungsgemäß besonders periodische Erscheinungen im Diagrammverlauf sehr aufschlußreich.
Periodisch auftretende Querschnittsänderungen lassen nämlich fast [immer auf Fehler im Maschinenpark schließen.
Bekanntlich wird das anfänglich einen beträchtlichen Substanzquerschnitt aufweisende Textilmaterial durch
Verziehen verfeinert. Meistens geschieht dies, indem das Textilmaterial zwischen zwei aufeinanderfolgenden rotierenden
Zylinderpaaren durchgeführt wird, von denen das zweite* die größere Umfangsgeschwindigkeit aufweist als
das erste. Das Verhältnis der Umfangsgeschwindigkeiten ergibt die Größe des Verzugs. Die direkte Einwirkung der
rotierenden Maschinenteile auf das Textilmaterial hat zur Folge, daß alle Unvollkommenheiten dieser Maschinenteile
und ihrer Antriebe sich im ausgeübten Verzug und damit im Querschnitt widerspiegeln. Da durch die
rotierende Arbeitsweise der Maschinenteile deren Fehler nach jeder Umdrehung wieder wirksam werden, ist ein
direkter Zusammenhang zwischen dem Umfang der Verarbeitungsstelle in der Maschine und der sich im
Querschnittsverlauf des Textilmaterials abzeichnenden Wellenlänge gegeben. Durch nachfolgendes Verziehen
zur überwachung, Steuerung oder
Regelung von statistischen Vorgängen
Anmelder:
Zellweger A. G.
Apparate- und Maschinenfabriken Uster,
Uster, Zürich (Schweiz)
Uster, Zürich (Schweiz)
Vertreter: Dr.-Ing. R. K. Löbbecke, Patentanwalt,
Berlin-Zehlendorf, Neue Str. 6
Berlin-Zehlendorf, Neue Str. 6
Beanspruchte Priorität:
Schweiz vom 4. September 1953
Schweiz vom 4. September 1953
Hans Locher und Ernst Felix,
Uster, Zürich (Schweiz),
sind als Erfinder genannt worden
sind als Erfinder genannt worden
wird die Wellenlänge entsprechend der Größe des Verzugs ebenfalls größer. Bestimmt man aus dem erhaltenen
Diagramm unter Berücksichtigung des Verhältnisses »Vorschubgeschwindigkeit des Prüfgutes zu Vorschubgeschwindigkeit
des Diagrammpapiers« sowie unter Berücksichtigung eventueller Verzüge die Wellenlänge
(Abstand zwischen zwei Maxima) von sich regelmäßig wiederholenden, also periodischen Querschnittsänderungen
im geprüften Textilgut und vergleicht man die so erhaltenen Wellenlängen mit dem Umfang von rotierenden
Teilen im Maschinenpark, so gelingt es meistens, die den Fehler verursachende Stelle im Maschinenpark zu
lokalisieren und den Fehler zu beheben.
Das Herauslesen von bestimmten periodischen Erscheinungen aus einem Diagramm, das vor allem auch
starke unperiodische Komponenten aufweist und eine ganze Reihe von periodischen Erscheinungen verschiedener
Wellenlängen enthalten kann, ist aber nicht immer leicht. Dies kann nur in wenigen Fällen durch einen
hochqualifizierten und speziell ausgebildeten Fachmann mit einiger Sicherheit beurteilt werden.
Es sind nun bereits Analysatoren bekannt, die aus einer periodischen Funktion die Größe der Grundwelle
009 589/216
und der Oberwellen bestimmen. Bei allen diesen bekannten Analysatoren wird aber vorausgesetzt, daß die
variable Größe, d. h. die zu analysierende Funktion, sich nach dem Intervall 2 oder höchstens einem konstanten
Vielfachen davon mindestens annähernd wiederholt. Die mit diesen bekannten Aüalysatoren zu analysierende
Funktion muß daher im wesentlichen ein Linienspektrum aufweisen.
Zur Bestimmung kontinuierlicher Spektren sind zwar ebenfalls Analysatoren bekannt. Bei diesen bekannten
Analysatoren werden vorerst mit einem bereits bekannten Multiplikationsverfahren die Fourierkoeffizienten bestimmt
und dann laufend aufsummiert. Diese bekannten Verfahren haben den Nachteil, daß sie nur zur Bestimmung
des Spektrums einer Funktion brauchbar sind, bei der die Abweichung der variablen Größe von Null nur von
relativ kurzer Dauer ist.
Dies ist z. B. bei der Untersuchung von Erdbebenschwingungen der Fall, da diese Schwingungen naturgemäß
nur kurzzeitig auftreten. Würde aber eine variable Größe, wie z. B. eine Funktion mit kontinuierlichem
Spektrum und Abweichungen von Null von unbestimmter, relativ langer Dauer entsprechend dem Substanzquerschnittsverlauf
von Spinnereizwischen- oder -fertigprodukten nach dem genannten Verfahren analysiert, so
ergäbe das einen mit veränderlicher Analysierdauer ebenfalls veränderlichen Meßwert.
Die vorliegende Erfindung betrifft nun ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, daß die einzelnen
Amplitudenwerte über ein vorgegebenes Intervall fortlaufend und beliebig lang bestimmt und anschließend
über die zu analysierende Länge gemittelt werden.
Zur Erläuterung des erfindungsgemäßen Verfahrens ist an Hand einer Anzahl von Lösungsbeispielen in den
Zeichnungen folgendes gezeigt:
Fig. 1 ist ein Blockschema,
Fig. 2 der Querschnittsverlauf eines statistischen Vorganges,
Fig. 3 der elektrische Meßwert, welcher aus dem Querschnittsverlauf
gemäß Fig. 2 gewonnen wird,
Fig. 4 ein kontinuierliches Frequenzspektrum,
Fig. 5 ein in Frequenzbänder unterteiltes kontinuierliches Frequenzspektrum,
Fig. 6 schematisch die Umformung einer variablen elektrischen Größe gemäß dem erfinderischen Verfahren,
Fig. 7 und 8 je eine beispielsweise Vorrichtung zur Multiplikation einer elektrischen Größe mit sin (ωί) bzw.
cos (cot),
Fig. 9 eine Rechteckspannung U in Funktion der Zeit t,
Fig. 10 und 11 je ein Mittelwertbildner,
Fig. 12 die Addition zweier Vektoren,
Fig. 13 eine praktische Möglichkeit der Addition zweier elektrischer Vektoren,
Fig. 14 ein weiterer Mittelwertbildner,
Fig. 15 das Schaltungsschema einer erfindungsgemäßen Einrichtung.
In Fig. 1 bedeutet 1 das zu prüfende Textilgut, z. B. ein Garn, e'in Vorgarn, ein Band oder einen Wickel, das
in bekannter Weise mit konstanter Geschwindigkeit ν durch einen Meßkondensator 2 gezogen wird.
Der Verlauf des Substanzquerschnittes Q des Prüfgutes 1 ist in Fig. 2 in Funktion der Länge L des Prüfgutes
als Diagramm 6 dargestellt. In Fig. 1 stellt 3 eine Apparatur dar, die in bekannter Weise vom Substanzquerschnittsverlauf
Q das in Fig. 3 dargestellte elektrische Abbild 71~f(t) vom Querschnittsverlauf Q =f(L)
erzeugt. Dabei ist es prinzipiell gleichgültig, ob als Ordinate/ ein elektrischer Strom oder eine elektrische
Spannung gewählt wird. Mit Hilfe elektrischer Widerstände kann ja jederzeit aus einem Strom eine proportionale
Spannung und umgekehrt gewonnen werden.
Die Zeit t hängt mit der Länge L und der Geschwindigkeit
v, mit der das Textilgut durch den Meßkondensator gezogen wird, gemäß der Formel
ίο zusammen.
In einem elektromechanischen Gerät 4, dessen Funktion und Aufbau später beschrieben werden, wird nun aus dem
elektrischen Abbild des Substanzquerschnittsverlaufs 7 das in Fig. 4 als Beispiel dargestellte Frequenzspektrum 8
K = f (f) gewonnen und im Gerät 5 sichtbar gemacht. Die theoretisch genaue Darstellung des Frequenzspektrums
ist jedoch praktisch nicht realisierbar. Es sind beispielsweise folgende Einschränkungen erforderlich:
1. Das Frequenzspektrum kann nicht von —00 bis
20+00 gebildet werden, sondern nur innerhalb endlicher, jedoch beliebig wählbarer Grenzfrequenzen 9 und 10.
2. Der Kurvenzug des kontinuierlichen Frequenzspektrums 8 setzt sich theoretisch aus unendlich vielen
Punkten zusammen. Das Frequenzspektrum kann deshalb in eine Anzahl fester Analysierfrequenzen 11 unterteilt
werden. Zweckmäßigerweise erfolgt die Darstellung wie in Fig. 5 als Stufenkurve.
3. Eine statistische Zeitfunktion erstreckt sich über
eine unendlich lange Zeit. Die Prüfung hat sich deshalb auf
eine Stichprobe zu beschränken, wobei die Länge der Stichprobe nach den statistischen Gesichtspunkten festzulegen
ist. Während bei einer unendlich langen Analysierzeit das Frequenzband jedoch unendlich schmal wird,
ergibt sich bei der Analyse einer Stichprobe, d. h. bei endlicher Analysierzeit, eine von dieser abhängige Bandbreite.
Dieser Nachteil wird im vorliegenden Verfahren dadurch überwunden, daß das Analysierintervall relativ
kurz und konstant gewählt wird. Allerdings wird auf diese Weise nur ein Kurzzeitspektrum erhalten, das je
nach dem analysierten Abschnitt eine andere Struktur aufweist. Im vorliegenden Verfahren werden nun von der
statistischen Funktion von beliebig vielen beliebigen Frequenzen fortwährend die Amplitudenwerte über ein
relativ kurzes, konstantes Analysierintervall gebildet und diese Werte über eine beliebig lange Dauer gemittelt. Das
derart aus gemittelten Amplitudenwerten gebildete Frequenzspektrum, das auch als Stufenkurve dargestellt
werden kann, entspricht dabei näherungsweise dem theoretisch gewonnenen Frequenzspektrum.
Bei der Bestimmung der Amplitudenwerte der beliebig vielen beliebigen Frequenzen geht man in bekannter
Weise von der Fourieranalyse aus. Die Amplitudenwerte entsprechen hierbei den sogenannten Fourierkoeffizienten.
Man bestimmt sie durch Auflösen der Integrale
1 r
α (ω) = — I I (ω t) · cos ω t · άω t, (2)
π J
2ΐτ
1 Γ
b (ω) = — j I (ω t) · sin ω t ■ άω t, (3)
π J
α (ω); δ (ω) = Amplitude der Teilschwingungen der Funktion
mit der Frequenz ω (die sogenannten Fourierkoeffizienten
der Frequenz ω), wobei I (ω t) eine beliebige, beispielsweise einen Strom/ darstellende periodische
Funktion, ω die Kreisfrequenz von α (ω) und δ (ω) = 2 π f
und t die Zeit ist.
Die resultierenden Fourierkoeffizienten c (ω)
man bekanntlich nach Formel
man bekanntlich nach Formel
erhält
k (ω) = y[a (ω)]*+[b(co)]K
(4)
Liegt eine beliebige periodische oder nicht periodische Funktion 7 U (t) vor, so wird der mittlere Fourierkoeffizient
A (ω) bzw. B (ω) einer beliebigen Frequenz ω gebildet,
wenn statt nur von 0 bis 2 π über die ganze Funktion mit einer Vielzahl der ganzen Periodenzahl 2 π integriert
wird und das gefundene Integral durch die ent- ίο
sprechende ganze Periodenzahl dividieit wird.
Für m ganze Perioden gilt dann:
A(co) =
m· 2?r
m -π
UH) ■ coscot-dcot, (5)
B (co)
m-Ζπ
=
\U(t)
sincot-dcot.
(6)
Für beispielsweise m vollständige Perioden m · 2 π und
eine unvollständige Restperiode ζ · 2π erhält man mittlere Amplituden
2ir
B(co) =
hrzr»
■ sincot-dcot.
(8)
Man kann rechnerisch nachweisen, daß ζ. Β. bei einer Sinusschwingung von mindestens fünf Perioden der
Fehler nur noch maximal etwa 1,5 °/0 beträgt, wenn man,
anstatt über genau fünf ganze Perioden zu integrieren, nach diesen fünf ganzen Perioden noch unvollständige
Perioden dazunimmt.
An Stelle der Periodenzahl (m + z) kann auch mit der
Zeit t gerechnet werden. Es gilt bekanntlich
z =
ω · t
2 · π
Die Gleichungen 7 und 8 lauten dann:
Die Gleichungen 7 und 8 lauten dann:
(9)
Ala) =
Β(ω)=
■ cos ca ί · dcot, (10)
UH)
dcot. (11)
Als letztes muß wiederum der resultierende mittlere Fourierkoeffizient K (ω) aus den mittleren Fourierkoeffizienten
A (ω) und B (ω) gebildet werden. Es gilt
55
K(co) =]/[Α(ω)γ+[B (ω)]*
(12)
6o stantes Zeitintervall Δ T integriert wird und dann die
erhaltenen Absolutwerte über die ganze Analysierzeit gemittelt werden. Aus praktischen Gründen ist es jedoch
zweckmäßiger, den resultierenden Fourierkoeffizienten mindestens näherungsweise fortwährend über ein konstantes
Zeitintervall Δ T zu bilden und seinen Betrag über die ganze Analysierzeit zu mitteln. Δ Τ muß jedoch
kleiner sein als die Analysierzeit.
Im folgenden soll nun ein Beispiel zur praktischen Lösung obiger Rechenoperationen mit Hilfe eines Ausführungsbeispiels
einer erfindungsgemäßen Einrichtung gezeigt werden.
Gegeben sei das elektrische Abbild 7 des Substanzquerschnittsverlaufs
als Spannung mit der Funktion U(t) (vgl. Fig. 3). Gesucht ist sein Frequenzspektrum K(f)
(vgl. Fig. 4). Von der elektrischen Einrichtung 3 (Fig. 1 und 6) zur Messung des Substanzquerschnittes erhalten
wir bekanntlich ein elektrisches Abbild 7 des Substanzquerschnittsverlaufes
: die Funktion U(t). Diese Spannung UH) wird beispielsweise zwölf Kanälen 13, die zwölf
festen Einzelfrequenzen entsprechen, zugeführt. In jedem
einzelnen Kanal werden folgende Rechenoperationen durchgeführt: Im Doppelmultiplikator 26 wird die Funktion
UH) als erste Operation gleichzeitig einerseits mit sin ω t und anderseits mit cos ωί multipliziert. Mari erhält
die als elektrische Spannungen dargestellten beiden Produkte
Uia(cot) = U H)- cos cot, (13)
Ulb (ω t) = UH) -si
(14)
40 Im folgenden Doppelintegrator 27 werden als zweite Operation die beiden durch die erste Operation gebildeten
Produkte U1 a (ω), und U1J1(Co) gemäß den folgenden
Formeln je über ω t integriert und je durch ω · t dividiert,
d. h. je von O bis ωt gemittelt:
ω C
,(ω) = —τ [UH) ■ cosφί-dcot, (15)
cot J
cot J
0
tat
tat
(ω) =■—- [u H) ■ sin ω t · dco t. (16)
cut J
cut J
45 Vergleicht man die Formeln 15 und 16 mit den Formeln 10 und 11, so erkennt man, daß die Spannungen U2 a (ω)
und U2 b (co) als den mittleren Fourierkoeffizienten A (co)
und B (ω) äquivalente Größen zu bewerten sind.
Im Geräteteil 28 wird als dritte Operation die resultierende Spannung Ujc (ω) gebildet gemäß Formel
Bekanntlich ist die Größe der mittleren Fourierkoeffizienten A (ω) und B (ω) meistens eine Funktion der
Integrationszeit, wobei bei größerer Integrationszeit die mittleren Fourierkoeffizienten meistens kleiner werden.
Um diese Abhängigkeit von der Integrationszeit zu vermindern, können z. B. während der gesamten Analysierzeit
die beiden Integrale nach den Formeln 10 und 11 gebildet werden, jedoch mit dem Unterschied, daß
mindestens näherungsweise fortwährend über ein kon- Uk (ω) = y\Uta (ω)]2 + \U2b (ω)]2. (17)
Wie nun die einzelnen oben aufgeführten Rechenoperationen ausgeführt werden können, sei im folgenden
für einen einzelnen Kanal 13 gezeigt:
Fig. 7 zeigt die Schaltung, mit welcher die erste Operation
durchgeführt werden kann.
An die Klemmen 31 und 32 wird die Spannung U (t)
gelegt. An den Klemmen 35 und 36 kann nun bekanntlich eine Spannung
UlA (ω t) = — U (t) ■ cos ω t
(18)
abgenommen werden, wenn der Abgriff 38 über den ganzen Widerstand 37 eine cosinusförmige Bewegung mit
der Frequenz ω ausführt und wenn die Widerstände 33 und 34 gleich groß sind.
Analog erhält man an den Klemmen 35 und 43 eine Spannung
UxB(ωή = — U[t) · sinoi, (19)
wenn der Abgriff 44 über den ganzen Widerstand 37 eine sinusförmige Bewegung mit der Frequenz ω ausführt.
Vergleicht man nun Gleichung 13 mit 18 und 14 mit 19, so stellt man fest, daß sich U10, [cot) und U1A[COt) sowie
U1D (ω t) und U1B {ω t) nur durch den Faktor 2 unterscheiden.
Die praktische Realisierung der Bewegung der Abgriffe
38 und 44 über dem Widerstand 37 ergäbe ein mechanisch nicht ganz leicht zu lösendes !Problem. Man
verwendet deshalb zweckmäßigerweise an Stelle der Schaltung nach Fig. 7 eine Schaltung nach Fig. 8 mit
zwei Umschaltern 39 und 44, welche die gewünschten Spannungen U1α (ω) und U1B (ω) ebenfalls, jedoch nur
näherungsweise, bilden können. Dies sei im folgenden erklärt:
Wenn die Spannung U an den Klemmen 31 und 32 z. B. einen konstanten Wert Q hat, so entsteht an den
ίο Klemmen 35 und 36 (Fig. 8) eine Spannung, deren zeitlicher
Verlauf der Funktion 25 von Fig. 9 entspricht. Eine solche Funktion ergibt, in ihre Grundschwingung
und die Harmonischen zerlegt:
f[cot) =
cos—(π —α) cos —(π—α) cos—(π —α)
sin ω t -\ sin 3 ω ί -I sin 5 ω t...
(20)
wobei α = Impulslänge im Bogenmaß und, wie aus Fig. 9 ersichtlich ist, α + β = π.
Es entsteht also bei Anwendung der Schaltung von Fig. 8 ein Fehler Fh in dem Sinne, daß die Funktion U (t)
statt nur mit sin ω t auch noch teilweise mit sin η· ω t
multipliziert wird, wobei η die Ordnungszahl der Harmonischen
von ω ist. Dabei werden also die eventueE auftretenden Frequenzen η · ω der Funktion 7 U [t) teilweise
analysiert und deren Fourierkoeffizienten zum Teil fälschlicherweise als Fourierkoeffizienten von ω angezeigt.
Dieser Fehler Fh läßt sich jedoch durch günstige Wahl
der Impulslänge α wesentlich reduzieren. So kann z. B. der Fehler Fh des Gliedes der 3. Harmonischen gleich
Null werden, wenn der Faktor
35
cos — [π — α) Spannung UlA[cot) in Funktion der Zeit t für die Zeit von
0 bis t gilt bekanntlich
UA (ω) = JL
fUlA{cot)- dt
Setzt man nach bekannter Integrationsregel
7. dcot dt =
in Gleichung 21 ein, so folgt
(21)
(22)
(ω)= JL
at
J U1A [co t) - dto t
ω · t
(23)
Setzt man Gleichung 18 in Gleichung 23 ein, so folgt
2π
45
in Formel 20 gleich Null wird. Dazu muß α gleich bzw. 120° sein. Das Glied von beispielsweise der 5. Harmonischen
wird für α gleich -5- noch etwa 17% der
1. Harmonischen.
Dieser Fehler Fh der 5. Harmonischen sowie die noch
kleineren Fehler der noch höheren Harmonischen können nötigenfalls durch ein einfaches Tiefpaßfilter, das vor die
Klemmen 31 und 32 geschaltet wird, weiterreduziert und vernachläßigbar klein gemacht werden. Die gleichen
Verhältnisse bestehen natürlich für den Umschalter 44, wenn seine Bewegung analog derjenigen des Umschalters
39 ist mit Ausnahme von 90° Phasenverschiebung gegenüber dem Umschalter 39. Die Durchführung der
zweiten Operation wird zweckmäßig ebenfalls näherungsweise, z. B. mit je einem i?C-Glied, wie es Fig. 10 und 11
zeigen, vorgenommen. Die beiden i?C-Glieder haben gleiche Zeitkonstante T. An die Klemmen 35 und 36
wird die Spannung U1A [co) (Gleichung 18, Fig. 10) und
an die Klemmen 35 und 43 die Spannung U1B [co) (Gleichung
19, Fig. 11) gelegt.
Bekanntlich entspricht mit einer gewissen Näherung bei einem i?C-Glied, wie es Fig. 10 zeigt, die Spannung
Ua [co) an den Klemmen 35 und 40 dem zeitlichen Mittelwert der Spannung U1A [co t).
Die Näherung ist bedingt durch den sogenannten Einschwingzustand und die Größe der Zeitkonstante T zur
Dauer der Funktion, von der der Mittelwert gebildet wird. Als Gleichung zur Bildung des Mittelwertes einer
Uα [ω)
2cot J
U[t) . coscot.dcot. (24)
Vergleicht man die Gleichungen 24 und 10, so stellt man fest, daß sie sich nur durch einen konstanten Faktor 4
unterscheiden. Ua [co) ist also proportional dem gesuchten
mittleren Fourierkoeffizienten A (ω).
Als dritte Operation ist aus den bisher erhaltenen Spannungen Ua [co) bzw. Ub [co) die Wurzel aus der
Summe der Quadrate gemäß der Formel
UK (ω) -
+ [Ub (ω)]2
(25)
zu bilden.
Dies kann z. B. dadurch geschehen, daß die Spannungen Ua [co) bzw. C^b(Cu) je mit einer Wechselspannung U^
gleicher Frequenz moduliert werden, so daß die Wechselspannungsamplituden
Va (ω) bzw. Us (ω) proportional
den Spannungen JT4 (ω) bzw. UB [co) sind. Sind diese
beiden Wechselspannungen um 90° phasenverschoben, so entsteht bei der Addition der Momentanwerte als-Summe
eine Wechselspannung Uκ (ω), deren Amplitude
der Spannung Uk [co) entspricht.
Fig. 12 zeigt das entsprechende Vektordiagramm. Esbedeutet 55 den Vektor der Wechselspannung uA (ω),.
56 den Vektor der zu uA (ω) um 90° phasenverschobenen
Wechselspannung U11 (υή, 57 den aus Ua (co) und uB (ω)
resultierenden Vektor der Wechselspannung uK (ω)·
Fig. 13 zeigt als Beispiel das Blockschema eines Gerätes zur Bildung der Wurzel aus der Summe der Quadratwerte
9 10
zweier Spannungen. Mit beispielsweise zwei Ringmodula- dingungen abgetastet und z. B. je einem KathodenvertorenöO
und 61 bekannter Art, deren Modulations- stärker bekannter Art mit praktisch vernachlässigbar
spannung U3 ist, werden die beiden Spannungen Uα («ή großer Eingangsimpedanz und nachfolgend je einem
bzw. Ub (ω) j ein eine Wechselspannung uA (ω) bzw. Us(o>) Ringmodulator zugeführt. Der Kathodenverstärker beumgeformt.
Diese Spannungen υΛ (ω) und Wn (ω) haben 5 steht aus Röhre 102 bzw. 103 sowie Widerstand 104 bzw.
gleiche Phasenlage. Ist die Zeitkonstante T3 von Wider- 105, die Ringmodulatoren aus den Dioden 113, 114, 115
stand 62 und Kondensator 63 sowie von Widerstand 65 und 116 bzw. 123, 124, 125 und 126 sowie den Wider-
und Kondensator 64 gleich dem Reziprokwert der Kreis- ständen 117,118,119 und 120 bzw. 127,128,129 und 130.
frequenz ca3 der Modulationsspannung U3, so entsteht Die Modulationsspannung wird an den Klemmen 111 und
!.ι υ· -u -xr ά + ρλ „;„„ „,, TT t,\ * t---h*>
10 112 bzw. 121 und 122 angelegt. An den Klemmen 106 bzw.
bekanntlich am Kondensator 63 eine zu U aw>) -rf=·- lacne .„ ■>·.■, x.. , ö TJ■ ,, , ... , , .... .
f2 107 hegt das fur den Kathodenverstärker benötigte
und 45° nacheilende und am Widerstand 65 eine zu Vergleichspotential. Von den beiden Ringmodulatoren
TT / \ 1 ί τ, α Λα „'uj» c™„™„,„ n,^ gelangt die Spannung zu den beiden ÄC-Phasenschiebern,
Ur (ω) -τ=-fache und um 45 voreüende Spannung. Die ° ° , r ,_ .° , __ T^ . '
]f2 bestehend aus Widerstand 62, Kondensator 63 bzw.
gesamte Phasenverschiebung beträgt demnach 90°. Somit 15 Widerstand 64 und Kondensator 65. Die Aufgabe der
kann an den Klemmen 66 und 67 eine dem Vektor 57 beiden i?C-Phasenschieber ist bereits beschrieben worden.
(Fig. 12) entsprechende Wechselspannung J7A-(o>) abge- Von dort gelangt die Wechselspannung über einen Trennnommen
werden. Wird diese Wechselspannung gleich- transformator 132 an den Eingang einer üblichen Vergerichtet,
so entsteht die Spannung UK{co), allerdings stärkerstufe, bestehend aus Röhre 133, Widerstand 134,
.,,τ,,, l ...... 20 Kondensator 135 und Resonanztransformator 136 mit
mit dem Faktor —=· multipliziert. T, , , 1O„ -..,., , , , ·,. ™. .
τ/2 Kondensator 137. Die beiden letzteren dienen zur Ehmi-
Wie erwähnt wurde, muß nun unter Umständen der nierung von eventuell störenden Harmonischen. An der
resultierende Fourierkoeffizient und damit diese resul- Sekundärseite des Transformators liegt ein Gleichrichter
tierende Spannung UK H gemittelt werden. Praktisch bekannter Schaltung, bestehend aus Diode 138, Arbeits-
genügt an Stelle einer kontinuierlichen Mittelwertbildung a5 widerstand 139 und Kondensator 140. Die gleichgerichtete
auch eine Mittelwertbildung von Einzelwerten, d.h., man Spannung gelangt zum Schalter 99, der nach bereits
kann z. B. die gesamte Analysierzeit in Zeitabschnitte Δ t beschriebenen Bedingungen arbeitet, und weiter zu den
unterteilen, jedesmal die resultierende Spannung UK{a>) ÄC-Gliedern, bestehend aus den Widerständen 74, 143,
vom Zeitintervall Δ T bilden und diese Einzelwerte 145 und 147 und den Kondensatoren 75,144,146 und 148.
mitteln. 3o Die Aufgabe dieser ÄC-Glieder ist bereits erläutert worden.
Diese zweite Mittelwertbildung kann z.B. als vierte Schließlich werden die Spannungen der soeben erwähnten
Operation in einem weiteren Geräteteil 29 (Fig. 6) durch- Kondensatoren über den Schalter 150, dessen Arbeits-
geführt werden. Dieser kann z. B. ein i?C-Glied enthalten weise früher beschrieben wurde, dem zweckmäßigerweise
mit einer Zeitkonstante T1 in der Größenordnung der registrierenden Anzeigegerät 5 zugeführt. Hat dieses z. B.
Dauer der Funktion 7 U (t). Fig. 14 zeigt als Beispiel ein 35 eine lineare Anzeigecharakteristik, so erhält man ein
solches iiC-Glied mit dem Widerstand 74 und dem Kon- Frequenzspektrum 8 mit linearer Ordinate. Ist die
densator 75. An die Klemmen 70 und 71 wird die Spannung Anzeigecharakteristik des Schreibgerätes 5 quadratisch,
Uk (ω) gelegt, und an den Klemmen 72 und 73 erhält man so erhält man natürlich ein Frequenzspektrum 8 mit
die gemittelte Spannung UKm(co). Führt man die Span- quadratischer Ordinate.
nungen UK (ω) bzw. UKm (ω) jedes Kanals 13 bezüglich 4<>
Im folgenden sei noch als Variante ein weiteres Ver-
ihrer Frequenzen dei Reihe nach z. B. über einen elektro- fahren zur Durchführung der dritten Operation kurz
mechanischen Schalter 150 (Fig. 15) zu einem elektrischen beschrieben:
Registriergerät 5 mit z. B. konstantem Papiervorschub, Nach Gleichung 25 erhält man bekanntlich
so stellt das nunmehr geschriebene Diagramm das Fi e-
quenzspektrum 8 entsprechend Fig. 5 dar. 45 UK (ω) — ]/[UA (ω)]2 + [UB M]2 . (25)
Nun ist es für die praktische Ausführung nicht nötig, Quadriert man beide Seiten von Gleichung 25, so erhält
jeden Kanal 13 für eine feste Einzelfrequenz mit samt- man
liehen Geräteteilen auszurüsten. So läßt sich beispiels- TT , N2 rrr , ,12 ι γττ ι, μ 2 /om
j /- -j. α. ·ι 10 ro·υ j λχτ 1 j Ur(co)* = Wa (ωπ*-\- IUs(Co)I . Uo)
weise der Gerateteil 28 (Bildung der Wuizel aus der -°-v' l^\/j<l.o\;j \ ι
Summe zweier Quadratweite) in einfacher Ausführung 5o Addiert man also die Quadratwerte der Spannungen
für sämtliche Kanäle 13 verwenden, sofern sämtliche UA (a>) und Uβ (co), so erhält man den Quadratwert der
Kanäle 13 in beliebiger Reihenfolge nur kurzzeitig, je- Spannung Uk{co). Führt man nun z. B. eine Spannung,
doch in gewissen Zeitabständen A t, z.B. über elektro- die proportional [Uκ {ω)}2 ist, wiederum einem registriemechanische
Schalter (100, 101, 99, Fig. 15) mit dem renden elektrischen Anzeigegerät 5 zu, so erhält man bei
Geräteteil 28 verbunden werden. Fig. 15 zeigt als Beispiel 55 einem solchen Anzeigegerät 5 mit z. B. linearer Anzeigeein
detailliertes Schaltungsschema. Dieses enthalte z. B. charakteristik eine quadratische Ordinate des Frequenzvier Kanäle 13 für vier feste Einzelfrequenzen und den spektrums 8. Ist die Anzeigecharakteristik so, daß das
Geräteteil 28 in einfacher Ausführung. An die Klemmen 31 Anzeigegerät 5 den Quadratwurzelwert der zugeführten
und 32 wird die zu analysierende Spannung U (t) gelegt Spannung [Ϊ7κ(ω)]2 anzeigt, so erhält man eine lineare
und den Umschaltern 39, 80, 82, 84, 49, 81, 83 und 85 &° Ordinate des Frequenzspektrums.
zugeführt. Dabei haben folgende Umschalterpaare die Im: folgenden Abschnitt soll als Variante noch auf eine
gleiche Frequenz, jedoch 90° Phasenverschiebung: 39 weitere Näherungslösung zur Bildung des Frequenz-
und 49, 80 und 81, 82 und 83, 84 und 85. Von den Um- spektrums hingewiesen werden.
schaltern gelangt die umgepolte Spannung über die ent- Je nach Art der zu analysierenden Funktion U(t),
sprechenden Widerstände 41, 86, 90, 94, 42, 88, 92, 96 zu 65 z. B. eine nicht periodische Funktion von sehr langer
den entsprechenden Kondensatoren 45, 87, 91, 95,47, 89, Dauer, genügt für die Praxis eine vereinfachte elektro-
und 97. Die Funktionen dieser Elemente sind bereits mechanische Einrichtung gegenüber der früher beschrie-
an Hand der Fig. 8 und 10 eingehend erläutert worden. benen zu einer näherungsweisen Bestimmung des Fre-
Die Kondensatorspannungen werden nun mit den quenzspektrums 8. Diese Vereinfachung besteht darin,
Schaltern 100 und 101 unter bereits beschriebenen Be- 70 daß nur die Fourierkoeffizienten A (ω) oder nur die
Fourierkoeffizienten B (ω) auf eine der früher beschriebenen
Arten analysiert und ihre Absolutwerte gemittelt werden. Werden nun die Meßwerte analog der früher
beschriebenen Art für den resultierenden Fourierkoeffizienten K (co) als Diagramm angezeigt, so erhält man
ein Diagramm, das mit dem Frequenzspektrum 8 näherungsweise übereinstimmt. Es ergibt sich dann als zusätzliche Vereinfachung der elektromechanischen Einrichtung
gegenüber der früher beschriebenen Art, daß natürlich kein Geräteteil 28 zur Bildung des resultierenden
Fourierkoeffizienten K (ω) benötigt wird.
Auf eine weitere Näherungslösung sei im folgenden Abschnitt noch hingewiesen:
Bisher wurde stets erwähnt, daß sich das Frequenzspektrum
8 aus den Meßwerten einer Anzahl fester Einzelfrequenzen 11 zusammensetzt. Läßt es jedoch die
Art der Funktion U(t) zu, z. B. eine periodische Funktion von sehr langer Dauer, so müssen die sogenannten festen
Einzelfrequenzen 11 über die Dauer der Funktion U(t) nicht mehr fest bleiben, sondern sie können auch als
variable Einzelfrequenzen ausgebildet werden. So kann z. B. eine einzige variable Einzelfrequenz über den
ganzen Frequenzbereich innerhalb der Grenzfrequenzen 9 und 10 variiert werden. Man erhält dann die mittleren
Fourierkoeffizienten A2 {(o) und Bz (ω) bzw. K2 (ω) einer
beliebigen Frequenz co2 von der Zeit Δ t2, während der
die variable Einzelfrequenz die Frequenz co2 aufweist.
Die jeweils gefundenen Werte für die Fourierkoeffizienten A2 (ω) und B2 (ω) bzw. K2 (ω) können z. B. wiederum als
entsprechende Spannungen einem elektrischen Registriergerät 5 zugeführt werden.
Das erfindungsgemäße Verfahren für die Analyse statistischer Vorgänge läßt sich beispielsweise zur Untersuchung
des Luftdruckverlaufs bei einem fliegenden Flugzeug anwenden. Diese Untersuchungen haben z. B.
insofern Bedeutung, da periodische Luftdruckschwankungen Eigenschwingungen von Flugzeugteilen, insbesondere
der Flügel, anregen.
Denkbar sind beispielsweise auch Anwendungen des Verfahrens in hydraulischen Systemen, in welchen
in einem Meßwertumformer zunächst die Drücke in elektrische Werte umgeformt und diese hierauf auf
periodische Druckschwankungen hin untersucht werden.
Ähnliche Aufgaben können beispielsweise auch in chemischen Prozessen auftreten, wo Leitwerte von veränderlichen
Substanzen laufend bestimmt und deren Schwankungen analysiert werden können.
Das Verfahren ermöglicht speziell die praktische Realisierung eines Gerätes zur Analysierung von sehr
tiefen Frequenzen. So bietet z. B. der Bau eines Analysators für Analysierfrequenzen von 1Z100 Hertz keine
erheblichen Schwierigkeiten.
Claims (10)
1. Verfahren zur Überwachung, Steuerung oder Regelung von statistischen Vorgängen, insbesondere
des Querschnittsverlaufs von Spinnereizwischen- und -fertigerzeugnissen unter Verwendung eines Meßwertumformers
und eines Frequenzanalyseverfahrens, wobei von dem statistischen Vorgang ein© entsprechende
elektrische Größe gewonnen wird, von der Amplitudenwerte beliebig vieler beliebiger Frequenzen
gebildet werden, dadurch gekennzeichnet, daß die einzelnen Amph'tudenwerte über ein vorgegebenes
Intervall fortlaufend und beliebig lang bestimmt und anschließend über die zu analysierende Länge gemittelt
werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß zur Bildung-des Amplitudenwertes einer beliebigen Frequenz die äquivalente Größe U(t) fortlaufend
und gleichzeitig' mit Hilfe von variablen Spannungsteilern einmal mit sin (2 π ft) und einmal mit
cos (2 π ft) multipliziert wird, worin f die beliebige
Frequenz und t die Zeit bedeutet, hierauf die so fortlaufend gebildeten beiden Produkte jedes für sich vermittels
eines frequenzabhärigigen elektrischen Siebes über das vorgegebene Zeitintervall Δ Τ fortlaufend
gemittelt wird, worauf aus den beiden nunmehr gewonnenen Werten vermittels nichtlinearer Schaltelemente
die Wurzel aus der Summe der Quadrate der beiden Werte gebildet, dieser Wert sodann in
einem weiteren elektrischen Sieb über die Zeit von 0 bis t gemittelt xmd in einer Anzeigevorrichtung angezeigt
und registriert wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Bildung des Amplitudenwertes einer
beliebigen Frequenz die äquivalente elektrische Größe U(t) fortlauf end vermittels eines variablen Spannungsteilers
mit sin (2 π ft) multipliziert wird, worin f die
beliebige Frequenz und t die Zeit bedeutet, hierauf das fortlaufend gebildete Produkt vermittels mindestens
eines frequenzabhängigen elektrischen Siebes über das vorgegebene Zeitintervall Δ Τ fortlaufend
gemittelt wird, worauf von dieser Größe vermittels nichtlinearer Schaltelemente ihr Absolutwert gebildet,
dieser Wert sodann in einem weiteren elektrischen Sieb über die Zeit von 0 bis t gemittelt und in einer
Anzeigevorrichtung angezeigt und registriert wird.
4. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 2 oder 1 und 3 für die Bestimmung des Querschnittsverlaufs von
Spinnereizwischen- und -fertigerzeugnissen, dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzeugung der äquivalenten
elektrischen Größe U(t) die zu prüfenden Materialien durch einen Meßkondensator gezogen werden.
5. Einrichtung zur Durchführung der Verfahren nach den Ansprüchen 1, 2 und 4 oder 1, 3 und 4, gekennzeichnet
durch eine Vorrichtung zur fortlaufenden Bestimmung des AmpHtudenwertes mindestens einer
beliebigen Frequenz über ein vorgegebenes Zeitintervall und durch eine Vorrichtung zur Bestimmung
des Mittelwertes des gewonnenen Amplitudenwertes.
6. Einrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß an eine an sich bekannte Einrichtung (2, 3) zur Gewinnung einer elektrischen Größe (Ut) aus
dem zu analysierenden statistischen Vorgang eine Vorrichtung (4) angeschlossen ist, die beliebig viele
Kanäle zur Bildung des Amplitudenwertes einer beliebigen Frequenz aus der gewonnenen elektrischen
Größe U(t) in jedem Kanal aufweist, und daß mindestens einer dieser Kanäle mindestens je einen
variablen Spannungsteiler (26) zur fortlaufenden Multiplikation der elektrischen Größe U(t) mit sin (2 π ft)
bzw. cos (2 π ft) enthält, daß ferner mindestens einer dieser Kanäle mindestens zwei frequenzabhängige
elektrische Siebe (41,42,45) zur fortlaufenden Bildung von zwei Mittelwerten aus den beiden entstandenen
Produkten und Schaltelemente (28) zur Bildung der Wurzel aus der Summe der Quadratwerte
der beiden Mittelwerte enthält sowie mindestens ein elektrisches Sieb (62, 63) zur Bildung des Mittelwertes
der Wurzel aus der Summe der Quadrate über die Zeit von 0 bis t und mindestens ein Anzeigegerät (5)
zur Anzeige dieses Mittelwertes.
7. Einrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß an eine an sichbekannteVorrichtung (2,3)
zur Gewinnung einer elektrischen Größe U(t) aus dem zu analysierenden statistischen Vorgang eine Vorrichtung
(4) angeschlossen ist, die beliebig viele Kanäle zur Bildung des Amplitudenwertes einer
,beliebigen Frequenz aus der gewonnenen elektrischen
Größe U(t) in jedem Kanal aufweist, und daß mindestens
einer dieser Kanäle mindestens einen variablen Spannungsteiler (26) zur fortlaufenden Multiplikation
der elektrischen Größe U(t) mit sin (2 π ft) enthält und
daß mindestens einer dieser Kanäle mindestens ein elektrisches Sieb (41,45) zur fortlaufenden Bildung des
Mittelwertes aus dem entstandenen Produkt und Schaltelemente (28) zur Bildung der absoluten Größe
dieses Mittelwertes enthält sowie mindestens ein elektrisches Sieb (62, 63) zur Bildung des Mittelwertes
der absoluten Größe über die Zeit von 0 bis t und mindestens ein Anzeigegerät (5) zur Anzeige dieses
Mittelwertes aufweist.
8. Einrichtung nach den Ansprüchen 5 bis 7 zur Multiplikation der elektrischen Größe U(t) mit
sin (2nft) bzw. cos (2nft) vermittels eines Umschalters
(39, 44), dadurch gekennzeichnet, daß zur Verringerung des Einflusses höherer Harmonischer die
Umschaltdauer in der Größenordnung von
sprechend 120° gewählt ist.
sprechend 120° gewählt ist.
3/
9. Einrichtung nach den Ansprüchen S bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Schaltelemente zur
Weiterbehandlung der gemittelten Werte der Produkte aus U{t) und sin (2 π ff) bzw. cos (2 π ft) für
mindestens einen Teil der Kanäle die gleichen sind und eine Schalteinrichtung (100, 101) die Kanäle nacheinander
mit diesen Schaltelementen verbindet.
10. Einrichtung nach den Ansprüchen 5 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß das Anzeigegerät (5) für
alle Kanäle das gleiche ist und eine Schalteinrichtung (150) die Kanäle nacheinander mit dem Anzeigegerät
verbindet.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Patentschriften Nr. 533 353, 712 502, 742445; britische Patentschrift Nr. 459 668;
französische Patentschrift Nr. 632 564;
USA.-Patentschriften Nr. 2 610 789, 2 648 822;
Rev. of scient. Instr., vol. 24, Nr. 4, April 1953, S. 272 bis 276.
Deutsche Patentschriften Nr. 533 353, 712 502, 742445; britische Patentschrift Nr. 459 668;
französische Patentschrift Nr. 632 564;
USA.-Patentschriften Nr. 2 610 789, 2 648 822;
Rev. of scient. Instr., vol. 24, Nr. 4, April 1953, S. 272 bis 276.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
©009 589/216 8.60
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH795808X | 1953-09-04 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1088240B true DE1088240B (de) | 1960-09-01 |
Family
ID=4537295
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEZ4020A Pending DE1088240B (de) | 1953-09-04 | 1954-02-23 | Verfahren und Einrichtung zur UEberwachung, Steuerung oder Regelung von statistischen Vorgaengen |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1088240B (de) |
GB (1) | GB795808A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1220157B (de) * | 1960-04-08 | 1966-06-30 | Zellweger A G | Vorrichtung zum Messen des zeitlichen Mittelwertes einer elektrischen Spannung |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL247192A (de) * | 1959-03-02 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR632564A (de) * | 1928-01-11 | |||
DE533353C (de) * | 1927-07-21 | 1931-09-12 | Siemens & Halske Akt Ges | Verfahren zur Bestimmung der Teiltoene eines Frequenzgemisches nach Amplitude und Frequenz, bei dem dem Frequenzgemisch eine sinusfoermige Wechselspannung ueberlagert wird |
GB459668A (en) * | 1935-07-12 | 1937-01-12 | Ernest Edward Wright | Improvements in or relating to harmonic analysers |
DE712502C (de) * | 1938-07-27 | 1941-10-21 | Aeg | Frequenzanalysator |
DE742445C (de) * | 1940-07-31 | 1943-12-13 | Ing Dr Zdenek Trnka | Harmonischer Analysator von Spannungs- und Stromkurven |
US2610789A (en) * | 1948-01-21 | 1952-09-16 | Gen Precision Lab Inc | Triangle solver |
US2648822A (en) * | 1943-02-11 | 1953-08-11 | Walter William Grey | Wave-form analyzing apparatus |
-
1954
- 1954-02-23 DE DEZ4020A patent/DE1088240B/de active Pending
- 1954-09-06 GB GB25835/54A patent/GB795808A/en not_active Expired
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR632564A (de) * | 1928-01-11 | |||
DE533353C (de) * | 1927-07-21 | 1931-09-12 | Siemens & Halske Akt Ges | Verfahren zur Bestimmung der Teiltoene eines Frequenzgemisches nach Amplitude und Frequenz, bei dem dem Frequenzgemisch eine sinusfoermige Wechselspannung ueberlagert wird |
GB459668A (en) * | 1935-07-12 | 1937-01-12 | Ernest Edward Wright | Improvements in or relating to harmonic analysers |
DE712502C (de) * | 1938-07-27 | 1941-10-21 | Aeg | Frequenzanalysator |
DE742445C (de) * | 1940-07-31 | 1943-12-13 | Ing Dr Zdenek Trnka | Harmonischer Analysator von Spannungs- und Stromkurven |
US2648822A (en) * | 1943-02-11 | 1953-08-11 | Walter William Grey | Wave-form analyzing apparatus |
US2610789A (en) * | 1948-01-21 | 1952-09-16 | Gen Precision Lab Inc | Triangle solver |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1220157B (de) * | 1960-04-08 | 1966-06-30 | Zellweger A G | Vorrichtung zum Messen des zeitlichen Mittelwertes einer elektrischen Spannung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB795808A (en) | 1958-05-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2635016C3 (de) | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Messen der Gruppenlaufzeit eines elektrischen Vierpols | |
DE2219085C3 (de) | Frequenzanalysator | |
DE3604280A1 (de) | Verfahren zur bestimmung der raeumlichen und der spektralen verteilung der kernmagnetisierung in einem untersuchungsbereich und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens | |
DE2110175A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Phasenkontrolle bei einer Fourier-Analyse von abgelesenen Impulsresonanzdaten | |
DE2328472C3 (de) | Verfahren zur magnetischen Resonanz-Spektroskopie und dafür geeignetes Impulsspektrometer | |
DE2446287C3 (de) | Kernresonanzspektrometer | |
DE2356712C3 (de) | Verfahren zur Bildung eines magnetischen Resonanzspektrums und Spektrometer zu dessen Durchführung | |
DE3425961C2 (de) | ||
DE1031417B (de) | Verfahren zur Erzeugung einer Spannung hochkonstanter Frequenz | |
DE1088240B (de) | Verfahren und Einrichtung zur UEberwachung, Steuerung oder Regelung von statistischen Vorgaengen | |
EP1540374A1 (de) | Verfahren zum bestimmen einer entfernung und entfernungsmessgerät mit verbesserung der effektiven auflösung eines a/d-wandlers durch phasenmodulation des auswertesignals | |
EP3133411B1 (de) | Verfahren zum überwachen des betriebszustands von brennstoffzellen | |
DE102012106628B4 (de) | Verfahren zur Identifizierung von Umgebungslichtschwankungen und Halbleiterbauelement zur Identifizierung von Umgebungslichtschwankungen | |
EP0916095A1 (de) | Verfahren und anordnung zur optischen erfassung einer elektrischen grösse | |
DE2856397A1 (de) | Schaltungsanordnung zur erzielung eines gleichlaufs zwischen der oszillatorfrequenz und der resonanzfrequenz des eingangskreises eines ueberlagerungsempfaengers | |
DE3143669C2 (de) | Schaltung zum Messen des Effektivwertes einer Wechselspannung | |
DE1773846C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Erzeu gung eines linearen Frequenzvorschubs bei Kernresonanzspektrographen | |
DE817178C (de) | Schaltungsanordnung zur Gewinnung einer periodisch ver-aenderlichen elektrischen Messspannung aus einer periodisch veraenderlichen Signalspannung hoeherer Grundfrequenz | |
DE102018208465A1 (de) | Verfahren und system zum verhindern von durch spiegelfrequenzen verursachten interferenzen | |
DE3234446A1 (de) | Mehrkanalpeiler nach dem phasenzeitdifferenz-interferometerprinzip | |
DE3338193A1 (de) | Schaltungsanordnung zum messen der uebertragungsqualitaet eines digitalen pruefobjektes | |
DE1623783A1 (de) | Vorrichtung zur beruehrungslosen Erfassung und Darstellung des Abstandes zwischen einem festen und einem sich bewegenden Teil | |
DE2504763C3 (de) | Gyromagnetisches Resonanzspektrometer | |
DE2160087B2 (de) | Mit gyro magnetischer Resonanz arbeitendes Spektrometer | |
DE2545004B2 (de) | Abgleichverfahren fuer elektrische schwingkreise |