DE1043515B - Verfahren zur Herstellung einer in einem mit Vergussmasse ausgefuellten, vakuumdichtabgeschlossenen Gehaeuse untergebrachten Halbleiteranordnung - Google Patents

Verfahren zur Herstellung einer in einem mit Vergussmasse ausgefuellten, vakuumdichtabgeschlossenen Gehaeuse untergebrachten Halbleiteranordnung

Info

Publication number
DE1043515B
DE1043515B DES35588A DES0035588A DE1043515B DE 1043515 B DE1043515 B DE 1043515B DE S35588 A DES35588 A DE S35588A DE S0035588 A DES0035588 A DE S0035588A DE 1043515 B DE1043515 B DE 1043515B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
potting compound
vacuum
opening
housing
filled
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DES35588A
Other languages
English (en)
Inventor
Dr Franz Kerkhoff
Dr Heinz Henker
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DES35588A priority Critical patent/DE1043515B/de
Publication of DE1043515B publication Critical patent/DE1043515B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/16Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations, e.g. centering rings
    • H01L23/18Fillings characterised by the material, its physical or chemical properties, or its arrangement within the complete device
    • H01L23/26Fillings characterised by the material, its physical or chemical properties, or its arrangement within the complete device including materials for absorbing or reacting with moisture or other undesired substances, e.g. getters
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/54Providing fillings in containers, e.g. gas fillings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/06Containers; Seals characterised by the material of the container or its electrical properties
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/10Containers; Seals characterised by the material or arrangement of seals between parts, e.g. between cap and base of the container or between leads and walls of the container
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/16Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations, e.g. centering rings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Description

  • Verfahren zur Herstellung einer in einem mit Vergußmasse ausgefüllten, vakuumdicht abgeschlossenen Gehäuse untergebrachten Halbleiteranordnung Um eine Halbleiteranordnung gegen Feuchtigkeit zu schützen, sind eine Reihe von technischen Maßnahmen bekannt. So sind z. B. Halbleitergleichrichteranordnungen in der Literatur beschrieben, die in einem aus mehreren Teilen zusammengeschmolzenen Glasgehäuse angeordnet sind, in dessen Boden und Deckel die elektrischen Zuleitungen zum Halbleiterkristall und zur Spitzkontaktelektrode eingeschmolzen sind. Derartige Anordnungen bieten einen guten Feuchtigkeitsschutz; sie sind jedoch nicht empfehlenswert, wenn beim Betrieb der Halbleiteranordnung in größerem Umfange Wärme entwickelt wird, da die Wärme zu langsam abgeführt wird.
  • Eine andere bekannte Anordnung besteht aus einer kappenförmigen Glashülse, durch die die Zuleitung zu der an dem Halbleiterkristall der Anordnung angelegten Spitzkontaktelektrode eingeschmolzen hindurchgeführt ist und der Halbleiterkristall von einem metallischen, das offene Ende der Glashülse verschließenden und gleichzeitig die zweite Elektrode bildenden metallischen Verschluß getragen wird.
  • Bei anderen bekannten Anordnungen ist das Halbleitersystem in einem Gehäuse untergebracht, welches mit einer Vergußmasse ausgefüllt ist. Die Vergußmasse dient hauptsächlich dazu, die Elektrode bzw. die Elektroden auf der Halbleiteroberfläche teils zu fixieren, teils - falls sie durch anderweitige Mittel bereits fixiert sind - gegen mechanische Verschiebungen zu schützen und die Fixierung zu sichern. Außerdem dient die Vergußmasse dazu, Feuchtigkeits-und atmosphärische Einflüsse herabzumindern oder zu beseitigen. Es ist üblich, die Vergußmasse durch eine seitliche Öffnung des Gehäuses einzubringen. Eine bekannte Anordnung dieser Art besteht aus einem zylindrischen, rohrförmigen Gehäuse aus Isolierstoff, das an beiden Enden mit einem Schraubverschluß abgeschlossen ist. Der eine der beiden als elektrische Zuleitung dienenden Verschlüsse trägt die auf den Halbleiterkristall aufgesetzte Spitzkontaktelektrode, der andere den Halbleiterkristall. Das Gehäuse ist über eine seitlich angebrachte Öffnung mit Vergußmasse gefüllt. Bei einer anderen bekannten Anordnung dieser Art wird das Halbleitersystem durch die elektrischen Zuleitungsdrähte, die durch den ein kappenförmiges Metallgehäuse abschließenden Glasfuß geführt sind, im Innern .des Gehäuses gehaltert. Das Gehäuse ist ebenfalls durch eine seitliche Öffnung, beispielsweise mit Araldit, als Vergußmasse gefüllt. Dabei war es üblich, die zur Zuführung der Vergußmasse dienende Öffnung entweder unverschlossen zu lassen oder durch einen verhältnismäßig losen @@erschluß, z. B. durch Lack oder eine übergeschobene Kunststoffhülse abzudecken, da man annahm, daß die Vergußmasse einen ausreichenden Schutz gewährleiste. Es ist aber bereits in der Literatur festgestellt worden, daß nur ein hermetisch versiegeltes Gehäuse einen wirklich sicheren Schutz der Halbleiteranordnung zu bieten imstande ist.
  • Die Erfindung befaßt sich mit einem Verfahren zur Herstellung einer in einem mittels Vergußmasse ausgefüllten, vakuumdicht verschlossenen Gehäuse untergebrachten Halbleiteranordnung, bei der einerseits eine übermäßige Erwärmung der Halbleiteranordnung während des Betriebes durch gute Wärmeabfuhr vermieden, andererseits auch ein guter Feuchtigkeitsschutz gewährleistet ist. Gemäß der Erfindung wird das an einem Ende mit einer eine Öffnung aufweisenden, den Halbleiterkristall tragenden Elektrode verschlossene metallische Gehäuse durch diese Öffnung mit Vergußmasse gefüllt und danach die Öffnung unter Anwendung von Kühlmitteln, die die Umgebung der Lötstelle kühlen, vakuumdicht verlötet oder verschweißt.
  • Nach einer Weiterbildung der Erfindung wird der Verschluß der Öffnung mittels einer Scheibe, vorzugsweise Metallscheibe, vorgenommen, deren Rand mit dem Rande des Gehäuses vakuumdicht verlötet oder verschweißt wird.
  • In der Zeichnung ist als Beispiel eine nach dem Verfahren gemäß der Erfindung hergestellte Transistoranordnung dargestellt.
  • Das als Gehäuse dienende Metallgefäß 1, vorzugsweise in Gestalt eines Röhrchens. ist an dem einen Ende mit einem Metallstopfen 2 verschlossen, der eine Öffnung 3 aufweist. An diesem Metallstopfen 2 ist der Halbleiterkristall 4 des Transistors aus Germanium oder einem anderen geeigneten Halbeitermaterial aufgereizt. Der Metallstopfen 2 dient also als Träger für den Halbleiterkristall und gleichzeitig als Basiselektrode. Auf den Halbleiterkristall 4 sind zwei Spitzenelektroden 5 und 6 aufgesetzt, die durch Zuführungsdräute 7 und ö getragen werden. Diese Zuführungsdrähte 7 und 8 sind durch eine das andere Ende des Gehäuses 1 verschließende Glasaufschmelzung bzw. Glaseinschmelzung, beispielsweise in Gestalt eines Ouetschfußes 9, der auf das Metallröhrchen 1 aufgeschmolzen ist, geführt. 11 bedeutet die Zuführung zur Basiselektrode 2.
  • Die Anordnung -wird nun durch die Öffnung 3 mit Vergußmasse gefüllt. Das Gehäuse kann dabei ganz oder teilweise ausgefüllt werden. Die Vergußmasse kann unter Umständen aus verschiedenartigen Vergußmassen zusammengesetzt sein, von denen ein Teil eine plastische Masse ist, die sich um die Elektrodenanordnung herumlegt, während der Rest des Gehäuses ganz oder teilweise mit einer ausliärtbaren Kunststoffmasse ausgefüllt wird. Dadurch, daß um die Elektroden lierurn eine plastische Isoliermasse verbleibt, wird vermieden, daß die aushärtbare Isoliermasse auf Grund von Temperaturschwankungen mechanisch zu arbeiten beginnt und dabei unerwünschten mechanischen Druck auf die Elektroden und den Halbleiterkristall ausübt.
  • Nachdem das Gehäuse mit Vergußmasse gefüllt ist, wird ein Metalldeckel 10 auf den Stopfen 2 aufgesetzt und am Rande in das Röhrchen 1 eingelötet. Während des Auflötens der Scheibe 10 wird das Röhrchen 1 von außen durch einen Luftstrom oder durch gekühlte Kupferbacken gekühlt, und zwar besonders in der Umgebung der Lötstelle. Die Scheibe ist außerdem geprägt oder geätzt oder dergleichen und dient gleichzeitig zur Kennzeichnung des Gegenstandes.
  • Durch die Kühlung wird verhindert, daß sich während des Warmverschlusses der Öffnung 3 die Halbleiteranordnung auf Temperaturen erwärmen kann, bei denen die elektrischen Eigenschaften des Halb-Leiters und der Elektrodenanordnung beeinträchtigt werden können, da die von der Verschlußstelle zum Halbleiter fließende Wärme gering gehalten wird. Andererseits ist während des Betriebes der Anordnung für eine gute Ableitung der entwickelten Wärme gesorgt.
  • Die Erfindung ist nicht auf das Ausführungsbeispiel beschränkt. So kann der Glasfuß 9 durch einen Kunststoffteil ersetzt sein, der in das Röhrchen 1 eingeschoben ist und der außen mit einer der Platte 10 entsprechenden Verschlußplatte verlötet oder verschweißt ist.

Claims (2)

  1. PATENTANSPRÜCHE: 1. Verfahren zur Herstellung einer in einem mit Vergußmasse ausgefüllten, vakuumdicht verschlossenen Gehäuse untergebrachten Halbleiteranordnung, dadurch gekennzeichnet, daß das an einem Ende mit einer eine Öffnung (3) aufweisenden, den Halbleiterkristall (4) tragenden Elektrode (2) verschlossene metallische Gehäuse (1) durch die Öffnung (3) mit Vergußmasse gefüllt und danach die Öffnung (3) unter Anwendung von Kühlmitteln, die die Umgebung der Lötstelle kühlen, vakuumdicht verlötet oder verschweißt wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Verschluß der Öffnung (3) mittels einer Scheibe, vorzugsweise Metallscheibe (10), vorgenommen wird, deren Rand mit dein Rand des Gehäuses (1) vakuumdicht verlötet oder verschweißt wird. In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschrift Nr. 605 675; schweizerische Patentschrift Nr. 256 718; USA.-Patentschriften Nr. 2 572 801, 2 626 985; belgische Patentschriften Nr. 502 229, 507 187, 511009; I-I. C. Torrey und C. A. Whitmer, »Crystal Rectifiers«, New York, 1948, S. 372.
DES35588A 1953-10-01 1953-10-01 Verfahren zur Herstellung einer in einem mit Vergussmasse ausgefuellten, vakuumdichtabgeschlossenen Gehaeuse untergebrachten Halbleiteranordnung Pending DE1043515B (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES35588A DE1043515B (de) 1953-10-01 1953-10-01 Verfahren zur Herstellung einer in einem mit Vergussmasse ausgefuellten, vakuumdichtabgeschlossenen Gehaeuse untergebrachten Halbleiteranordnung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES35588A DE1043515B (de) 1953-10-01 1953-10-01 Verfahren zur Herstellung einer in einem mit Vergussmasse ausgefuellten, vakuumdichtabgeschlossenen Gehaeuse untergebrachten Halbleiteranordnung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1043515B true DE1043515B (de) 1958-11-13

Family

ID=7481956

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DES35588A Pending DE1043515B (de) 1953-10-01 1953-10-01 Verfahren zur Herstellung einer in einem mit Vergussmasse ausgefuellten, vakuumdichtabgeschlossenen Gehaeuse untergebrachten Halbleiteranordnung

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE1043515B (de)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE507187A (de) * 1950-11-30
BE502229A (de) * 1950-03-31
BE511009A (de) * 1951-04-28
DE605675C (de) * 1929-08-24 1934-11-16 Philips Nv Elektrodensystem mit unsymmetrischer Leitfaehigkeit
CH256718A (de) * 1943-04-05 1948-08-31 Lorenz C Ag Kristalldetektor.
US2572801A (en) * 1943-06-23 1951-10-23 Sylvania Electric Prod Electrical rectifier
US2626985A (en) * 1948-08-25 1953-01-27 Sylvania Electric Prod Electrical crystal unit

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE605675C (de) * 1929-08-24 1934-11-16 Philips Nv Elektrodensystem mit unsymmetrischer Leitfaehigkeit
CH256718A (de) * 1943-04-05 1948-08-31 Lorenz C Ag Kristalldetektor.
US2572801A (en) * 1943-06-23 1951-10-23 Sylvania Electric Prod Electrical rectifier
US2626985A (en) * 1948-08-25 1953-01-27 Sylvania Electric Prod Electrical crystal unit
BE502229A (de) * 1950-03-31
BE507187A (de) * 1950-11-30
BE511009A (de) * 1951-04-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1000534B (de) Flaechengleichrichter bzw. -transistor
DE1179277B (de) Beschichtung elektrischer Schaltelemente mit Glas
DE2207009B2 (de) Ueberspannungsableiter
DE1054585B (de) Halbleiterbauelement, z. B. Diode oder Transistor
DE1043515B (de) Verfahren zur Herstellung einer in einem mit Vergussmasse ausgefuellten, vakuumdichtabgeschlossenen Gehaeuse untergebrachten Halbleiteranordnung
DE2159701A1 (de) Schweißmaterial und Verfahren zur Anwendung eines derartigen Materials
DE1138486B (de) Verfahren zum hermetischen Verschliessen eines Gehaeuses, das ein Halbleiter-Bauelement umschliesst
DE1214327B (de) Verfahren zum Festloeten von Anschlussdraehten an einem Halbleiterkoerper, insbesondere an auf einen Halbleiterkoerper auflegierten Elektroden, und Vorrichtung zur Durchfuehrung dieses Verfahrens
DE1539959A1 (de) Schutzumhuellung fuer lichtempfindliche Einrichtungen
DE1614761A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines geerdeten Kapselbodens fuer Halbleiterelemente
DE969748C (de) Verfahren zur Herstellung eines gesteuerten, elektrisch unsymmetrisch leitenden Halbleitersystems
DE3300512A1 (de) Verfahren zur kontaktierung elektrisch leitender draehte
DE486606C (de) Waermeschalter
DE1830491U (de) Halbleiterbauelement, z. b. diode oder transistor.
DE1136423B (de) Verfahren zur Herstellung eines Sperrschicht-elektrodensystems mit einer Huelle mit eingeschmolzenen Zufuehrungsdraehten, insbesondere eines Transistors oder einer Kristalldiode, und Sperrschichtelektrodensystem, das durch dieses Verfahren hergestellt ist
DE2237616B2 (de) Verfahren zum einschmelzen eines halbleiterelements in ein glasgehaeuse
DE976378C (de) Verfahren zum Verschliessen von Gehaeusen fuer elektrische Halbleiteranordnungen mittels Erwaermung
DE2008817A1 (de) Verfahren zum Abtrennen überstehender Drahtenden
DE2636629A1 (de) Halbleiterbauelement mit scheibenfoermigem gehaeuse
DE756686C (de) Gefaess oder Gehaeuse aus hocherhitzbarem Glas
DE500453C (de) Gleichrichterzelle
AT236277B (de) Verfahren zur Herstellung von Einkristallen von feuerfesten Materialien mit hohem Schmelzpunkt und Einrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens
DE1764699U (de) Richtleiter- oder transistoranordnung.
AT159363B (de) Überstromträge Schmelzsicherung.
DE1021491B (de) Verfahren zum Herstellen einer elektrisch unsymmetrisch leitenden Halbleiteranordnung