DE10326734A1 - Milling cutter tool with synthetic diamond layer 1 to 500 micron thick, containing milling edge, which comprises structured profile by dry chemical etching with diminishing layer thickness - Google Patents
Milling cutter tool with synthetic diamond layer 1 to 500 micron thick, containing milling edge, which comprises structured profile by dry chemical etching with diminishing layer thickness Download PDFInfo
- Publication number
- DE10326734A1 DE10326734A1 DE2003126734 DE10326734A DE10326734A1 DE 10326734 A1 DE10326734 A1 DE 10326734A1 DE 2003126734 DE2003126734 DE 2003126734 DE 10326734 A DE10326734 A DE 10326734A DE 10326734 A1 DE10326734 A1 DE 10326734A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- milling
- diamond layer
- milling tool
- tool according
- diamond
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/26—Deposition of carbon only
- C23C16/27—Diamond only
- C23C16/272—Diamond only using DC, AC or RF discharges
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/56—After-treatment
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C30/00—Coating with metallic material characterised only by the composition of the metallic material, i.e. not characterised by the coating process
- C23C30/005—Coating with metallic material characterised only by the composition of the metallic material, i.e. not characterised by the coating process on hard metal substrates
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
Description
Die Erfindung betrifft ein Diamantfräswerkzeug mit einer eine Fräskante aufweisenden, synthetischen Diamantschicht sowie dessen Verwendung.The Invention relates to a diamond milling tool with a milling edge showing, synthetic diamond layer and its use.
Diamant
ist aufgrund seiner herausragenden mechanischen, chemischen, thermischen
und elektrischen Eigenschaften ein geeignetes Material für Schneidwerkzeuge.
Aus der
In
der Einleitung der
Ausgehend von den Nachteilen des Standes der Technik liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Diamantfräswerkzeug anzugeben, welches auf einfache Weise in großen Stückzahlen und kostengünstig herstellbar ist, eine hohe Schärfe und mechanische Stabilität aufweist und mit beliebig geformten Schneidflächen versehen sein kann. Aufgabe der Erfindung ist weiterhin, ein Verfahren zur Herstellung eines derartigen Diamantfräswerkzeuges anzugeben.outgoing of the disadvantages of the prior art lies the invention The task is based on a diamond milling tool specify which can be easily produced in large numbers and inexpensively is high sharpness and mechanical stability has and can be provided with any shaped cutting surfaces. task The invention is further a method for producing a such a diamond milling tool specify.
Diese Aufgabe wird gelöst durch ein Fräswerkzeug gemäß Anspruch 1 sowie deren Verwendung nach den Ansprüchen 12 und 13. Die jeweiligen Unteransprüche betreffen bevorzugte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung.This Task is solved through a milling tool according to claim 1 and their use according to claims 12 and 13. The respective under claims relate to preferred refinements and developments of the invention.
Ein Diamantfräswerkzeug ist auf einfache Weise her stellbar und weist eine Fräskante hoher Schärfe auf, wenn die Fräskante der synthetischen Diamantschicht ein Profil mit abnehmender Schichtdicke aufweist, welches durch Ätzen strukturiert ist. Bei der Herstellung dieses Diamantfräswerkzeuges wird nach dem Abscheiden der Diamantschicht auf einem bevorzugt kristallinen Substratmaterial die Fräskante durch Durchführen eines oder mehrerer Ätzschritte ausgebildet. Beim Ätzen wird eine Ätzmaske verwendet, welche getrennt von der Diamantschicht oder gleichzeitig mit der Diamantschicht geätzt wird. Als Ätzmaske kann das ggf. strukturierte Substratmaterial und/oder eine oder mehrere ggf. strukturierte weitere Schichten, welche auf die Diamantschicht aufgebracht wurden, fungieren. Der Winkel der Fräskante lässt sich durch Variation des Verhältnisses der Ätzgeschwindigkeiten von Ätzmaske und Diamantschicht gezielt einstellen.On diamond milling is easy to manufacture and has a higher milling edge Sharpness on if the milling edge the synthetic diamond layer a profile with decreasing layer thickness which by etching is structured. In the manufacture of this diamond milling tool is preferred after depositing the diamond layer on one crystalline substrate material the milling edge by performing a or several etching steps educated. When etching becomes an etching mask used which is separate from the diamond layer or simultaneously etched with the diamond layer becomes. As an etching mask the possibly structured substrate material and / or one or several possibly structured further layers, which on the diamond layer applied, act. The angle of the milling edge can be changed by varying the ratio the etching speeds of etching mask and adjust the diamond layer specifically.
Eine kostengünstige, automatisierbare Herstellung des erfindungsgemäßen Diamantfräswerkzeuges in hohen Stückzahlen ist gewährleistet, wenn die Diamantschicht zunächst auf einem großflächigen Trägermaterial abgeschieden wird und vor dem Durchführen des mindestens einen Ätzschrittes zur Herstellung der Fräskante eine Strukturierung der Ätzmaske zur Definition einzelner Fräswerkzeuge beliebiger Geometrie durchgeführt wird.A cost, automatable production of the diamond milling tool according to the invention in high quantities is guaranteed when the diamond layer first on a large substrate is deposited and before performing the at least one etching step for the production of the milling edge a structuring of the etching mask for the definition of individual milling tools any geometry performed becomes.
Die Diamantschicht ist bevorzugt texturiert und weist besonders bevorzugt eine <111>-, oder <110>- oder <100>-Textur auf. Es wird von einer Textur gesprochen, wenn mehr als 80 % der Oberfläche der Diamant schicht von <111>-, <110>- oder <100>-Diamantflächen gebildet wird und die Differenz der Eulerwinkel Δγ zwischen den die Orientierung der Diamantschicht definierenden, aneinanderliegenden <111>-, <110>- oder <100>-Diamantflächen die Bedingung |Δγ| ≤ 20° erfüllt. Die Dicke der Diamantschicht beträgt zwischen 1 und 500 μm und die mittlere Oberflächenrauhigkeit RA bevorzugt weniger als 5 μm. Im Anschluss an das Abscheiden der Diamantschicht kann diese noch mechanisch, physikalisch oder chemisch nachbearbeitet werden, um gegebenenfalls vorhandene Oberflächenrauhigkeiten der Diamantschicht zu reduzieren.The diamond layer is preferably textured and particularly preferably has a <111> or <110> or <100> texture. It is said to be a texture if more than 80% of the surface of the diamond layer is formed by <111>, <110> or <100> diamond surfaces and the difference of the Euler angles Δγ between the adjacent ones that define the orientation of the diamond layer <111>, <110> or <100> diamond surfaces meet the condition | Δγ | ≤ 20 ° fulfilled. The thickness of the diamond layer is between 1 and 500 μm and the average surface roughness R A is preferably less than 5 μm. After the diamond layer has been deposited, it can be mechanically, physically or chemically reworked in order to reduce any surface roughness of the diamond layer that may be present.
Die Diamantschicht kann auf bevorzugt ätzbaren Substratmaterialien wie Silizium, Siliziumcarbid, Glas, refraktären Metallen, Saphir, Magnesiumoxid oder Germanium abgeschieden werden. Es hat sich gezeigt, dass der Diamantfilm nach dem Entfernen der Si-Schicht immer noch auf einem Substrat (1 monolage-20NM SiC) liegt, welcher beim Entfernen nicht mitentfernt wird.The diamond layer can be deposited on preferably etchable substrate materials such as silicon, silicon carbide, Glass, refractory metals, sapphire, magnesium oxide or germanium can be deposited. It has been shown that the diamond film is still on a substrate (1 monolayer-20NM SiC) after removal of the Si layer, which is not removed during removal.
Die Fräskante des Diamantfräswerkzeuges wird bevorzugt durch einen trockenchemischen Ätzschritt wie beispielsweise reaktives Ionenätzen definiert. Ätzmaske und Diamantschicht können in einem einzigen Ätzschritt gleichzeitig geätzt werden. Alternativ ist es möglich, Ätzmaske und Diamantschicht in zwei oder mehreren Ätzschritten getrennt zu ätzen. Werden mehr als zwei Ätzschritte durchgeführt, kann ein Stufenprofil in der Diamantschicht ausgebildet werden. Durch eine Variation der Verhältnisse der reaktiven Gaskomponenten während des Ätzens ist es möglich, Einfluss auf die Form der Fräskante zu nehmen. Auf diese Weise lassen sich beispielsweise gewölbte Fräskanten realisieren. Das Profil des Ätzvorganges kann auch als Treppen/Stufenprofil definiert werden, welches als minimale Treppenhöhe die Gitterkonstante des Diamants (a=3.5 Å) aufweist.The milling edge of the diamond milling tool is preferred by a dry chemical etching step such as reactive ion etching Are defined. etching mask and diamond layer can in a single etching step etched at the same time become. Alternatively, it is possible to use an etching mask and to etch the diamond layer separately in two or more etching steps. Become more than two etching steps carried out, a step profile can be formed in the diamond layer. By varying the conditions of the reactive gas components during of etching Is it possible, Influence on the shape of the milling edge to take. In this way, for example, curved milling edges realize. The profile of the etching process can also be defined as a stair / step profile, which as minimum stair height has the lattice constant of the diamond (a = 3.5 Å).
Die Fräskante kann dabei ein mehrzackiges Profil aufweisen, womit Strukturen in Oberflächen erzeugt werden können. Ebenso kann die Fräskante ein abgerundetes Profil aufweisen. Hiermit wird es dann ermöglicht, dass mit dem Fräswerkzeug Unebenheiten in Oberflächen beseitigt werden können.The milling edge can have a multi-point profile, with which structures in surfaces can be generated. The milling edge can also be used have a rounded profile. This then enables that with the milling tool Bumps in surfaces can be eliminated.
Ebenso wird auch die Verwendung der erfindungsgemäßen Werkzeuge zum Fräsen von Strukturen in Oberflächen und zur Beseitigung von Unebenheiten von Oberflächen beansprucht. Aufgrund der hohen Robustheit der erfindungsgemäßen Werkzeuge konnte überraschenderweise festgestellt werden, dass diese sich in hervorragender Weise für sämtliche materialabtragende Bearbeitungsmethoden eignen. Dies ist umso überraschender, da fräsende gegenüber schneidenden Bearbeitungen höhere Anforderungen an das Material stellen.As well is also the use of the tools according to the invention for milling Structures in surfaces and to remove unevenness from surfaces. by virtue of the high robustness of the tools according to the invention could surprisingly found that these are excellent for everyone material-removing machining methods. This is all the more surprising there milling across from cutting operations higher Make demands on the material.
Weitere Einzelheiten und bevorzugte Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Ausführungsbeispielen und den Figuren. Es zeigen:Further Details and preferred embodiments of the invention result itself from the exemplary embodiments and the figures. Show it:
Nachfolgend
wird beispielhaft unter Bezugnahme auf
Im
Anschluss an das Beschichten des Siliziumsubstrates
Die
Ausbildung der Fräskante
erfolgt durch ein anschließendes
reaktives Ionenätzen
in einem Parallelplattenreaktor. Dabei fungiert das nasschemisch
strukturierte Siliziumsubstrat
In
In der obigen Formel steht k für eine Konstante.In In the above formula, k stands for a constant.
Die Ätzgeschwindigkeiten
von Substrat
In der folgenden Tabelle sind beispielhafte Prozessparameter bei Biasspannungen zwischen 500 und 550 V und elektrischen Leistungen zwischen 1400 und 1500 W zusammengefasst The following table summarizes exemplary process parameters for bias voltages between 500 and 550 V and electrical powers between 1400 and 1500 W.
Die
jeweiligen Prozessparameter sind stark anlagenabhängig. Typische
Prozessparameter liegen aber in folgenden Bereichen.
Ar: 10 – 50 sccm
O2: 20 – 150
sccm
CF4: 0, 1 – 30 sccm
Vbias:
250 – 700
V
P: 300 – 3000
WThe respective process parameters are strongly dependent on the system. However, typical process parameters are in the following areas.
Ar: 10-50 sccm
O 2 : 20-150 sccm
CF 4 : 0.1-1-30 sccm
V bias : 250-700 V
P: 300 - 3000 W.
Weitere Ätzgaskompositionen für das trockenchemische Ätzen von Diamant enthalten z. B. H2, O2, CF4 und Ar. Für das trockenchemische Ätzen von Silizium eignen sich folgende 12 Kompositionen sowie weitere Mischungen der angegebenen Komponenten: Other etching gas compositions for dry chemical etching of diamond contain z. B. H 2 , O 2 , CF 4 and Ar. The following 12 compositions and further mixtures of the specified components are suitable for dry-chemical etching of silicon:
Oftmals
ist es wünschenswert,
eine gefärbte
(d.h. nicht transparente) Fräskante
(
In das Diamantschneidwerkzeug lassen sich außerdem beliebige aktive und/oder passive elektronische Komponenten oder Schaltungen integrieren. Zu diesem Zweck kann der Diamant auch mit elektrisch aktiven Störstellen dotiert werden. So lassen sich beispielsweise Sensoren zur Messung physikalischer und chemischer Größen wie z.B. der Fräswerkzeugtemperatur (Temperatursensor), der Kräfte auf die Fräskante (piezoresistiver- oder elektrischer Sensor) oder elektrische bzw. chemische Potentiale (Diamantelektrode) in das Fräswerkzeug integrieren. Weiterhin ist die Integration von Aktoren wie z.B. Heizelementen (Widerstandsheizelement oder Hochfrequenzheizelement) möglich. Denkbar ist ebenfalls die Integration einer Struktur zur Abstrahlung elektromagnetischer oder Ultraschallwellen (z.B. Antenne) beispielsweise zur Positionsbestimmung des Fräswerkzeuges.In the diamond cutting tool can also be any active and / or integrate passive electronic components or circuits. For this purpose, the diamond can also be used with electrically active defects be endowed. For example, sensors can be used for measurement physical and chemical quantities such as e.g. the milling tool temperature (Temperature sensor), the forces on the milling edge (piezoresistive or electrical sensor) or electrical or chemical potentials (diamond electrode) in the milling tool integrate. Furthermore, the integration of actuators such as Heating elements (resistance heating element or high-frequency heating element) possible. The integration of a structure for radiation is also conceivable electromagnetic or ultrasonic waves (e.g. antenna) for example for determining the position of the milling tool.
In
Claims (13)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2003126734 DE10326734A1 (en) | 2003-06-13 | 2003-06-13 | Milling cutter tool with synthetic diamond layer 1 to 500 micron thick, containing milling edge, which comprises structured profile by dry chemical etching with diminishing layer thickness |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2003126734 DE10326734A1 (en) | 2003-06-13 | 2003-06-13 | Milling cutter tool with synthetic diamond layer 1 to 500 micron thick, containing milling edge, which comprises structured profile by dry chemical etching with diminishing layer thickness |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10326734A1 true DE10326734A1 (en) | 2004-12-30 |
Family
ID=33482865
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2003126734 Withdrawn DE10326734A1 (en) | 2003-06-13 | 2003-06-13 | Milling cutter tool with synthetic diamond layer 1 to 500 micron thick, containing milling edge, which comprises structured profile by dry chemical etching with diminishing layer thickness |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10326734A1 (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006032480A1 (en) * | 2004-09-23 | 2006-03-30 | Cemecon Ag | Machining tool and method for the production thereof |
WO2006045460A1 (en) * | 2004-10-26 | 2006-05-04 | Gfd Gesellschaft Für Diamantprodukte Mbh | Cutting tool, method for producing the same and the use thereof |
DE102015113998A1 (en) | 2015-08-24 | 2017-03-02 | Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover | Method for producing a Mikrozerspanwerkzeugs and Mikrozerspanwerkzeug |
CN106519475A (en) * | 2016-11-09 | 2017-03-22 | 蚌埠学院 | Slot milling technology of steel plate blank |
CN107523799A (en) * | 2017-09-06 | 2017-12-29 | 南京航空航天大学 | The method that method growth cutter diamond texture coating is limited with morpheme |
CN108044138A (en) * | 2017-11-22 | 2018-05-18 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | Cutting apparatus, method and cutter machining method based on micro- texture cutter |
-
2003
- 2003-06-13 DE DE2003126734 patent/DE10326734A1/en not_active Withdrawn
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006032480A1 (en) * | 2004-09-23 | 2006-03-30 | Cemecon Ag | Machining tool and method for the production thereof |
WO2006045460A1 (en) * | 2004-10-26 | 2006-05-04 | Gfd Gesellschaft Für Diamantprodukte Mbh | Cutting tool, method for producing the same and the use thereof |
DE102015113998A1 (en) | 2015-08-24 | 2017-03-02 | Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover | Method for producing a Mikrozerspanwerkzeugs and Mikrozerspanwerkzeug |
CN106519475A (en) * | 2016-11-09 | 2017-03-22 | 蚌埠学院 | Slot milling technology of steel plate blank |
CN106519475B (en) * | 2016-11-09 | 2018-12-18 | 蚌埠学院 | A kind of groove milling technique of steel plate embryo material |
CN107523799A (en) * | 2017-09-06 | 2017-12-29 | 南京航空航天大学 | The method that method growth cutter diamond texture coating is limited with morpheme |
CN107523799B (en) * | 2017-09-06 | 2019-02-26 | 南京航空航天大学 | The method for limiting method growth cutter diamond texture coating with morpheme |
CN108044138A (en) * | 2017-11-22 | 2018-05-18 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | Cutting apparatus, method and cutter machining method based on micro- texture cutter |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19859905C2 (en) | Diamond cutting tool | |
DE10328578B4 (en) | A method of reactive ion etching using a hard mask of an amorphous carbon-hydrogen layer | |
DE19680590B4 (en) | Method for producing acceleration sensors | |
EP1014434B1 (en) | Method for anisotropically plasma dry-etching a silicon nitride layer with a gas mixture containing fluorine | |
DE2930292A1 (en) | ACTION PROCESS IN PRODUCING AN OBJECT | |
DE10055421A1 (en) | Method for producing a micromechanical structure and micromechanical structure | |
DE4415601C2 (en) | Composite structure for electronic components and process for their manufacture | |
DE10317889B4 (en) | Micromechanical component and method for its production | |
DE10326734A1 (en) | Milling cutter tool with synthetic diamond layer 1 to 500 micron thick, containing milling edge, which comprises structured profile by dry chemical etching with diminishing layer thickness | |
DE102006051550B4 (en) | Method and device for structuring components using a material based on silicon oxide | |
DE19817311A1 (en) | Manufacture of micromechanical component, such as rotation rate sensor | |
DE102009039777A1 (en) | Process for the preparation and structuring of a zinc oxide layer and zinc oxide layer | |
DE2239687B2 (en) | PROCESS FOR ETCHING A MULTI-LAYERED SEMICONDUCTOR BODY WITH A LIQUID ETCHING AGENT | |
DE2504500A1 (en) | METHOD FOR PRODUCING A PATTERN FROM ONE OR MORE LAYERS ON A SURFACE BY THE LOCAL REMOVAL OF THIS LAYER OR LAYERS BY SPUTTER ETCHING AND OBJECTS, IN PARTICULAR SEMI-CONDUCTOR ARRANGEMENTS, WHICH ARE USED THIS PROCESS | |
DE60310100T2 (en) | DISC WITH A REVERSE SEAL FROM TWO LAYER LOW TEMPERATURE OXYD AND METHOD FOR THE PRODUCTION THEREOF | |
DE102010003129B4 (en) | A method of manufacturing a device on a substrate | |
DE19935495A1 (en) | Electronic device production, e.g. IC, semiconductor device or SAW device production, comprises thin film reactive ion etching to leave a residue which is removed by physical etching using an inert gas | |
EP1042794A1 (en) | Process for producing a porous layer by an electrochemical etching process | |
EP2217526B1 (en) | Method for producing micromechanical structures having a protruding lateral wall progression or an adjustable angle of inclination | |
EP3966363B1 (en) | Method for smoothing surfaces | |
DE102012200236B3 (en) | Method for structuring silicon carbide for e.g. silicon carbide-trench-MOSFET, involves reperforming anisotropic plasma etching step such that passivation layer is removed from trench bottom, and forming enlarged trench region in substrate | |
DE4416057C2 (en) | Process for the production of three-dimensional deep structures in silicon substrates | |
DE4310345A1 (en) | Method for dry etching of SiC | |
DE2526382A1 (en) | CATHODE ATTRACTION PROCESS FOR THE PRODUCTION OF ETCHED STRUCTURES | |
DE102019111681A1 (en) | Process for smoothing surfaces |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |