DE10311428A1 - Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten - Google Patents

Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten Download PDF

Info

Publication number
DE10311428A1
DE10311428A1 DE2003111428 DE10311428A DE10311428A1 DE 10311428 A1 DE10311428 A1 DE 10311428A1 DE 2003111428 DE2003111428 DE 2003111428 DE 10311428 A DE10311428 A DE 10311428A DE 10311428 A1 DE10311428 A1 DE 10311428A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
data
error correction
error detection
error
ecc
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE2003111428
Other languages
English (en)
Inventor
Peter Duzy
Ernst Kock
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Infineon Technologies AG
Original Assignee
Infineon Technologies AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Infineon Technologies AG filed Critical Infineon Technologies AG
Priority to DE2003111428 priority Critical patent/DE10311428A1/de
Publication of DE10311428A1 publication Critical patent/DE10311428A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/24Memory cell safety or protection circuits, e.g. arrangements for preventing inadvertent reading or writing; Status cells; Test cells
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1008Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
    • G06F11/1048Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices using arrangements adapted for a specific error detection or correction feature
    • G06F11/1052Bypassing or disabling error detection or correction

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Detection And Correction Of Errors (AREA)

Abstract

Es wird eine Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten beschrieben. Die beschriebene Vorrichtung zeichnet sich dadurch aus, daß sie konfigurierbar ist.

Description

  • Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1, d.h. eine Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten.
  • Mit fortschreitender Technologieentwicklung, genauer gesagt aufgrund der immer kleiner werdenden Strukturen in Speichereinrichtungen oder sonstigen integrierten Schaltungen oder Schaltungsteilen nimmt die Wahrscheinlichkeit von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten in einem Maße zu, daß zumindest bei sicherheitsrelevanten Anwendungen auf die Erkennung und/oder die Korrektur solcher Fehler nicht mehr verzichtet werden kann.
  • Vorrichtungen und Verfahren zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten sind seit langem bekannt.
  • Die Fehlererkennung kann beispielsweise unter Verwendung von sogenannten Parity-Bits erfolgen. Dabei wird jedes Mal, wenn Daten in die Speichereinrichtung geschrieben werden, aus diesen Daten ein Parity-Bit erzeugt und in der selben Speichereinrichtung oder einer anderen Speichereinrichtung gespeichert. Werden die in der Speichereinrichtung gespeicherten Daten dann zu einem späteren Zeitpunkt ausgelesen, so wird auch das diesen Daten zugeordnete Parity-Bit ausgelesen, und überprüft, ob die ausgelesenen Daten die Daten sein können, die der Erzeugung des ausgelesenen Parity-Bits zugrundelagen. Ist dies der Fall, so wird davon ausgegangen, daß die ausgelesenen Daten keinen Fehler enthalten. Anderenfalls wird davon ausgegangen, daß die ausgelesenen Daten einen Fehler ent halten, wobei dieser Fehler jedoch im allgemeinen nicht lokalisierbar und korrigierbar ist.
  • Eine Fehlerkorrektur ist möglich, wenn anstelle von Parity-Bits ein error correction code bzw. ECC-Daten erzeugt und ausgewertet werden. Dabei werden jedes Mal, wenn Daten in die Speichereinrichtung geschrieben werden, aus diesen Daten ECC-Daten erzeugt und in der selben Speichereinrichtung oder einer anderen Speichereinrichtung gespeichert. Werden die in der Speichereinrichtung gespeicherten Daten dann zu einem späteren Zeitpunkt ausgelesen, so werden auch die diesen Daten zugeordneten ECC-Daten ausgelesen und überprüft, ob die ausgelesenen Daten die Daten sein können, die der Erzeugung der ausgelesenen ECC-Daten zugrundelagen. Ist dies der Fall, so wird davon ausgegangen, daß die ausgelesenen Daten keinen Fehler enthalten. Anderenfalls wird davon ausgegangen, daß die ausgelesenen Daten einen Fehler enthalten, wobei dieser Fehler unter Verwendung der ausgelesenen ECC-Daten lokalisierbar und behebbar ist.
  • Zur Vermeidung von Mißverständnissen sei darauf hingewiesen, daß vorstehend und im Folgenden
    • – von Fehlererkennung gesprochen wird, wenn durch die zugrundeliegende Überprüfung "nur" erkannt werden kann, daß Fehler vorhanden sind, die vorhandenen Fehler aber nicht korrigiert werden können,
    • – von Fehlerkorrektur gesprochen wird, wenn durch die zugrundeliegende Überprüfung vorhandene Fehler korrigiert werden können, und
    • – auch dann von Fehlerkorrektur gesprochen wird, wenn durch die zugrundeliegende Überprüfung bestimmte Fehler nur erkannt, aber bestimmte Fehler auch korrigiert werden können.
  • Sowohl eine Fehlererkennung und erst recht eine Fehlerkorrektur erfordern Maßnahmen, die dazu führen, daß das Einschreiben von Daten in die Speichereinrichtung und das Auslesen von Daten aus der Speichereinrichtung mehr Zeit erfordern als es ohne Fehlererkennung und/oder Fehlerkorrektur der Fall wäre. Dies führt dazu, daß ein mit einer Fehlererkennung und/oder Fehlerkorrektur arbeitendes System mit einer geringeren Taktfrequenz und/oder mit einer größeren Anzahl von Wait States arbeiten muß als es ohne Fehlererkennung und/oder Fehlerkorrektur möglich wäre. Dies ist insbesondere bei Systemen, in welchen keine Fehlererkennung und/oder Fehlerkorrektur erforderlich ist, ein Nachteil.
  • Um allen möglichen Bedürfnissen gerecht zu werden, ist es erforderlich, daß Speichereinrichtungen und Speichereinrichtungen enthaltende Bausteine in verschiedenen Varianten angeboten werden, nämlich in einer Variante mit Fehlererkennung und/oder Fehlerkorrektur, und in einer Variante ohne Fehlererkennung und/oder Fehlerkorrektur. Dies erfordert seitens des Herstellers jedoch einen sehr großen Aufwand.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, die Vorrichtung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 derart weiterzubilden, daß diese sowohl in Systemen einsetzbar ist, in welchen eine Fehlererkennung und/oder Fehlerkorrektur zwingend notwendig ist, als auch in Systemen einsetzbar ist, in welchen eine maximale Arbeitsgeschwindigkeit die höchste Priorität hat.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die in Patentanspruch 1 beanspruchte Vorrichtung gelöst.
  • Die erfindungsgemäße Vorrichtung zeichnet sich dadurch aus, daß sie durch den Benutzer konfigurierbar ist.
  • Dadurch ist es beispielsweise, aber nicht ausschließlich möglich,
    • – eine Vorrichtung, die in der Lage ist, eine Fehlererkennung durchzuführen, so zu konfigurieren, daß sie keine Fehlererkennung durchführt, und/oder
    • – eine Vorrichtung, die in der Lage ist, eine Fehlerkorrektur durchzuführen, so zu konfigurieren, daß sie keine Fehlerkorrektur durchführt, und/oder
    • – eine Vorrichtung, die in der Lage ist, sowohl eine Fehlererkennung als auch eine Fehlerkorrektur durchzuführen, so zu konfigurieren, daß sie nur eine Fehlererkennung durchführt, und/oder
    • – eine Vorrichtung, die in der Lage ist, sowohl eine Fehlererkennung als auch eine Fehlerkorrektur durchzuführen, so zu konfigurieren, daß sie nur eine Fehlerkorrektur durchführt, und/oder
    • – eine Vorrichtung, die in der Lage ist, verschiedene Arten von Fehlererkennung durchzuführen, so zu konfigurieren, daß sie eine ganz bestimmte Art von Fehlererkennung durchführt, und/oder
    • – eine Vorrichtung, die in der Lage ist, verschiedene Arten von Fehlerkorrektur durchzuführen, so zu konfigurieren, daß sie eine ganz bestimmte Art von Fehlerkorrektur durchführt.
  • Dadurch kann eine Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten optimal an die Bedürfnisse des Benutzers und die Einsatzbedingungen angepaßt werden.
  • Die Erfindung wird nachfolgend anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die Figur näher erläutert.
  • Die Figur zeigt ein Blockschaltbild der hier vorgestellten Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten.
  • Die im folgenden beschriebene Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten ist im betrachteten Beispiel Bestandteil einer programmgesteuerten Einheit, beispielsweise eines Mikroprozessors, eines Mikrocontrollers oder eines Signalprozessors; die Speichereinrichtung ist ein interner Speicher der programmgesteuerten Einheit.
  • Die beschriebene Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten könnte aber auch Bestandteil einer beliebigen anderen Schaltung sein, beispielsweise Bestandteil eines Speicher-Chips.
  • Die Speichereinrichtung wird im betrachteten Beispiel durch einen flüchtigen Speicher, beispielsweise durch ein RAM gebildet. Es könnte sich aber auch um einen nichtflüchtigen Speicher wie beispielsweise einen Flash-Speicher handeln. Der Einsatz der beschriebenen Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten kann sich sogar bei einem ROM als vorteilhaft erweisen.
  • Die in der Figur gezeigte Anordnung enthält die im folgenden beschriebene Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten, sowie die Speichereinrichtung.
  • Die Speichereinrichtung ist mit dem Bezugszeichen MEM1 bezeichnet und wird im folgenden als erste Speichereinrichtung bezeichnet.
  • Die in der Figur gezeigte Anordnung neben der ersten Speichereinrichtung MEM1 eine zweite Speichereinrichtung MEM2 zum Speichern von zur Fehlererkennung und/oder Fehlerkorrektur benötigten Daten, eine Vorrichtung EC1 zur Erzeugung der zur Fehlererkennung und/oder Fehlerkorrektur benötigten Daten, eine Vorrichtung EC2 zur Auswertung der zur Fehlererkennung und/oder Fehlerkorrektur benötigten Daten, eine Fehlerkorrektureinrichtung EC3, und ein Steuerregister ECCTRL zur Steuerung der Vorrichtungen EC1 und EC2 zur Erzeugung und Auswertung der zur Fehlererkennung und/oder Fehlerkorrektur benötigten Daten und der Fehlerkorrektureinrichtung EC3.
  • In die Speichereinrichtung MEM1 zu schreibende Daten werden dieser über einen Schreibdatenbus WBUS zugeführt. Aus der Speichereinrichtung MEM1 ausgelesene Daten werden über einen ersten Lesedatenbus RBUS1 aus dieser ausgegeben, bei Bedarf durch die Fehlerkorrektureinrichtung EC3 korrigiert und über einen zweiten Lesedatenbus RBUS2 an die Einrichtung weitergeleitet, welche die Daten angefordert hat. Die genannten Busse haben im betrachteten Beispiel jeweils eine Breite von 16 Bits, können aber auch beliebig viel breiter oder schmaler sein.
  • Das Steuerregister ECCTRL enthält im betrachteten Beispiel zwei Steuerbits, die mit den Bezugszeichen ECC_EN und C_EN bezeichnet sind. Wie später noch genauer beschrieben wird, wird durch die Steuerbits C_EN und ECC_EN im betrachteten Beispiel bestimmt, ob
    • – eine Fehlererkennung, genauer gesagt eine Erkennung von Fehlern in aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgelesenen Daten erfolgen soll, oder
    • – eine Fehlerkorrektur, genauer gesagt eine Korrektur von Fehlern in aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgelesenen Daten erfolgen soll, oder
    • – weder eine Fehlererkennung noch eine Fehlerkorrektur erfolgen soll.
  • Wenn das Steuerbit C_EN den Wert 1 hat, bedeutet dies, daß entweder eine Fehlererkennung oder eine Fehlerkorrektur erfolgen soll, wobei es vom Wert des Steuerbits ECC_EN abhängt, ob eine Fehlererkennung oder eine Fehlerkorrektur erfolgt. Anderenfalls, d.h., wenn das Steuerbit C_EN den Wert 0 hat, bedeutet dies, das weder eine Fehlererkennung noch eine Fehlerkorrektur erfolgen soll; der Wert des Steuerbits ECC_EN ist in diesem Fall bedeutungslos.
  • Wenn das Steuerbit C_EN den Wert 1 hat, und auch das Steuerbit ECC_EN den Wert 1 hat, bedeutet dies, daß eine Fehlerkorrektur erfolgen soll. Anderenfalls, d.h., wenn das Steuerbit ECC_EN den Wert 0 hat, bedeutet dies, daß eine Fehlererkennung erfolgen soll.
  • Selbstverständlich kann auch eine beliebige andere Zuordnung zwischen den Werten der Steuerbits und deren Bedeutung vorgesehen werden.
  • Das Steuerregister ECCTRL, und damit auch die Steuerbits C_EN und ECC_EN können durch den Benutzer der Anordnung beschrieben werden. Der Inhalt des Steuerregisters ECCTRL kann vorzugsweise zu beliebigen Zeitpunkten, insbesondere auch während des normalen Betriebes der Anordnung geändert werden. Es kann sich als vorteilhaft erweisen, wenn das Steuerregister ECCTRL durch einen nichtflüchtigen Speicher gebildet wird.
  • Die vorstehend bereits erwähnte Vorrichtung EC1 dient zur Erzeugung der zur Fehlererkennung und/oder Fehlerkorrektur benötigten Daten und enthält einen Parity-Bit-Generator PGEN, einen ECC-Daten-Generator ECCGEN, einen ersten Multiplexer MUX1, und einen zweiten Multiplexer MUX2.
  • Der Parity-Bit-Generator PGEN ist eingangsseitig mit dem Schreibdatenbus WBUS verbunden und erzeugt pro Datenwort, welches im betrachteten Beispiel 16 Bits umfaßt, aber auch beliebig viel länger oder kürzer sein kann, ein zur Fehlererkennung dienendes Parity-Bit und gibt dieses an den ersten Multiplexer MUX1 aus.
  • Der ECC-Daten-Generator ECCGEN ist ebenfalls eingangsseitig mit dem Schreibdatenbus WBUS verbunden und erzeugt für jedes Datenwort zur Fehlerkorrektur dienende ECC-Daten und gibt diese an den ersten Multiplexer MUX1 aus.
  • Die ECC-Daten werden im betrachteten Beispiel durch einen sogenannten SEC-DED-Code gebildet. SEC-DED bedeutet Single error correction – double error detection und ermöglicht es, daß beim späteren Auslesen des den ECC-Daten zugrundeliegenden Datenwortes 1 Fehler korrigiert oder 2 Fehler erkannt werden können. D.h.,
    • – wenn das später ausgelesene Datenwort nur einen Fehler enthält, kann dieser erkannt und korrigiert werden,
    • – wenn das später ausgelesene Datenwort zwei Fehler enthält, können diese erkannt, aber nicht mehr lokalisiert und korrigiert werden,
    • – und wenn ein Datenwort drei Fehler enthält, ist weder eine Erkennung noch eine Korrektur dieser Fehler gewährleistet bzw. möglich.
  • Selbstverständlich können die vom ECC-Daten-Generator ECCGEN erzeugten ECC-Daten auch unter Verwendung eines beliebigen anderen Codes erzeugt werden.
  • Der Parity-Bit-Generator PGEN und der ECC-Daten-Generator ECCGEN arbeiten parallel, d.h. erzeugen die von ihnen erzeugten Daten gleichzeitig, wobei die Erzeugung der ECC-Daten je doch im allgemeinen mehr Zeit in Anspruch nehmen wird als die Erzeugung des Parity-Bit.
  • Der erste Multiplexer MUX1 bekommt als Eingangssignale die Ausgangssignale des Parity-Bit-Generators PGEN und des ECC-Daten-Generators ECCGEN zugeführt und wird durch das Steuerbit ECC_EN gesteuert. Der Multiplexer MUX1 schaltet die vom ECC-Daten-Generator ECCGEN ausgegebenen Daten durch, wenn das Steuerbit ECC_EN den Wert 1 hat, und schaltet die vom Parity-Bit-Generators PGEN ausgegebenen Daten durch, wenn das Steuerbit ECC_EN den Wert 0 hat.
  • Die vom ersten Multiplexer MUX1 ausgegebenen Daten werden dem zweiten Multiplexer MUX2 zugeführt.
  • Der zweite Multiplexer MUX2 weist noch einen zweiten Eingangsanschluß auf, wobei an diesen zweiten Eingangsanschluß dauerhaft der Wert 0 angelegt ist.
  • Der zweite Multiplexer MUX2 wird durch das Steuerbit C_EN gesteuert. Er schaltet die ihm von ersten Multiplexer MUX1 zugeführten Daten durch, wenn das Steuerbit C_EN den Wert 1 aufweist, und er schaltet die Daten "0" durch, wenn das Steuerbit C_EN den Wert 0 aufweist.
  • Die vom zweiten Multiplexer MUX2 ausgegebenen Daten werden in die zweite Speichereinrichtung MEM2 geschrieben.
  • In die zweite Speichereinrichtung MEM2 werden entweder die vom Parity-Bit-Generator PGEN erzeugten Daten, oder die vom ECC-Daten-Generator ECCGEN erzeugten Daten, oder Nullen geschrieben. Dabei hängt es ausschließlich von den Steuerbits C_EN und ECC_EN ab, welche Daten in die zweite Speichereinrichtung MEM2 geschrieben werden. Wenn das Steuerbit C_EN den Wert 0 aufweist, werden Nullen in die zweite Speichereinrichtung MEM2 geschrieben; wenn das Steuerbit C_EN den Wert 1 aufweist, und das Steuerbit ECC_EN den Wert 0, werden die vom Parity-Bit-Generator PGEN erzeugten Daten in die zweite Speichereinrichtung MEM2 geschrieben; wenn das Steuerbit C_EN den Wert 1 aufweist, und das Steuerbit ECC_EN den Wert 1, werden die vom ECC-Daten-Generator ECCGEN erzeugten Daten in die zweite Speichereinrichtung MEM2 geschrieben.
  • Die in der zweiten Speichereinrichtung MEM2 gespeicherten Daten werden später verwendet, um Fehler in aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgelesenen Daten erkennen und/oder korrigieren zu können.
  • Beim Auslesen von in der ersten Speichereinrichtung MEM1 gespeicherten Daten werden im wesentlichen zeitgleich mit der Ausgabe dieser Daten aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 automatisch auch die zugehörigen Daten aus der zweiten Speichereinrichtung MEM2 aus dieser ausgegeben. Beide Daten, d.h. sowohl die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten als auch die aus der zweiten Speichereinrichtung MEM2 ausgegebenen Daten werden der vorstehend bereits erwähnten Vorrichtung EC2 zugeführt, und diese überprüft sodann, ob die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten die Daten sind, die der Erzeugung der aus der zweiten Speichereinrichtung MEM2 ausgegebenen Daten zugrundelagen.
  • Die Vorrichtung EC2 und enthält eine ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK, eine Parity-Bit-Auswertungseinrichtung PCHK, ein erstes UND-Gatter AND1, ein zweites UND-Gatter AND2, ein ODER-Gatter OR, und einen Multiplexer MUX3.
  • Der ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK werden sowohl die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten als auch die aus der zweiten Speichereinrichtung MEM2 ausgegebenen Daten zugeführt. Die ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK geht davon aus, daß die aus der zweiten Speichereinrichtung MEM2 ausgegebenen Daten die ECC-Daten sind, die zu den aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten gehören, und überprüft, ob die aus der ersten Speicher einrichtung MEM1 ausgegebenen Daten die Daten sein können, die der Erzeugung der aus der zweiten Speichereinrichtung MEM2 ausgegebenen (ECC-)Daten zugrundelagen. Hierbei kann die ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK zu drei verschiedenen Ergebnissen kommen, nämlich
    • 1) daß die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten fehlerfrei sind, d.h. genau die zuvor in die erste Speichereinrichtung MEM1 geschriebenen Daten sind, oder
    • 2) daß die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten einen Fehler enthalten, oder
    • 3) daß die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten zwei Fehler enthalten.
  • Die ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK erzeugt in Abhängigkeit hiervon ein Ausgangssignal DE (double error) und eine Vielzahl von Ausgangssignalen SE (single error). Die Anzahl der Ausgangssignale SE entspricht der Anzahl der Bits, die die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Datenworte umfassen. Im betrachteten Beispiel erzeugt die ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK also ein Ausgangssignal DE und 16 Ausgangssignale SE. In der Figur ist der besseren Übersichtlichkeit halber nur ein Ausgangssignal SE dargestellt.
  • Durch das Ausgangssignal DE signalisiert die ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK, ob die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten zwei Fehler enthalten oder nicht. DE=1 bedeutet, daß die ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK bei der von ihr durchgeführten Überprüfung festgestellt hat, daß die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten zwei Fehler enthalten. DE=0 bedeutet, daß dies nicht der Fall ist.
  • Durch die Ausgangssignale SE signalisiert die ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK, ob die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten 1 Fehler enthalten oder nicht, und welches Bit der aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten fehlerhaft ist. Von den mehreren Ausgangssignalen SE ist jedes Ausgangssignal SE einem bestimmten Bit der aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten zugeordnet. Durch ein Ausgangssignal SE, das den Wert 0 aufweist, wird signalisiert, daß das zugeordnete Bit der aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten fehlerfrei ist; durch ein Ausgangssignal SE, das den Wert 1 aufweist, wird signalisiert, daß das zugeordnete Bit der aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten fehlerhaft ist und zur Korrektur invertiert werden muß.
  • Beim vorstehend erwähnten Auswertungsergebnis 1) der ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK weisen sowohl die Ausgangssignale SE als auch das Ausgangssignal DE den Wert 0 auf; beim Auswertungsergebnis 2) weist eines der Ausgangssignale SE den Wert 1 auf, und alle anderen Ausgangssignale den Wert 0 auf; beim Auswertungsergebnis 3) weisen sämtliche Ausgangssignale SE den Wert 0 auf, und das Ausgangssignal DE den Wert 1.
  • Von den von der ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK erzeugten Ausgangssignalen werden die Ausgangssignale SE der Fehlerkorrektureinrichtung EC3 zugeführt, und das Ausgangssignal DE dem ersten UND-Gatter AND1.
  • Der vorstehend bereits erwähnten Parity-Bit-Auswertungseinrichtung PCHK werden – wie der ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK – sowohl die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten als auch die aus der zweiten Speichereinrichtung MEM2 ausgegebenen Daten zugeführt. Die Parity-Bit-Auswertungseinrichtung PCHK geht davon aus, daß die aus der zweiten Speichereinrichtung MEM2 ausgegebenen Daten die Parity-Bits sind, die zu den aus der ersten Spei chereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten gehören, und überprüft, ob die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten die Daten sein können, die der Erzeugung der vermeintlichen Parity-Bits zugrundelagen.
  • Die Parity-Bit-Auswertungseinrichtung PCHK erzeugt ein das Ergebnis der Überprüfung repräsentierendes Ausgangssignal. Dieses Ausgangssignal weist den Wert 1 auf, wenn die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten die Daten sein können, die der Erzeugung der vermeintlichen Parity-Bits zugrundelagen, also wenn die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten vermutlich fehlerfrei sind. Das Ausgangssignal weist den Wert 0 auf, wenn dies nicht der Fall ist, also die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten Fehler enthalten.
  • Das Ausgangssignal der Parity-Bit-Auswertungseinrichtung PCHK wird dem zweiten UND-Gatter AND2 zugeführt.
  • Die Parity-Bit-Auswertungseinrichtung PCHK und die ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK arbeiten parallel, d.h. werten die aus der zweiten Speichereinrichtung MEM2 ausgegebenen Daten gleichzeitig aus. Da die aus der zweiten Speichereinrichtung MEM2 ausgegebenen Daten nur entweder Parity-Bits oder ECC-Daten sind, kann nur entweder das Auswertungsergebnis der Parity-Bit-Auswertungseinrichtung PCHK oder das Auswertungsergebnis der ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK richtig sein. Unabhängig hiervon ist es so, daß die Auswertung der Daten durch die ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK im allgemeinen mehr Zeit in Anspruch nehmen wird als die Auswertung der Daten durch die Parity-Bit-Auswertungseinrichtung PCHK.
  • Dem UND-Gatter AND2 wird das invertierte Steuerbit ECC_EN als zweites Eingangssignal zugeführt. Das UND-Gatter AND2 unterzieht die ihm zugeführten Signale einer UND-Verknüpfung und gibt das Ergebnis dieser Verknüpfung an das ODER-Gatter OR aus.
  • Das vorstehend bereits erwähnte erste UND-Gatter AND1 weist ebenfalls zwei Eingangsanschlüsse auf. An den ersten Eingangsanschluß wird das Ausgangssignal DE der ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK angelegt, und an den zweiten Eingangsanschluß das Steuerbit ECC_EN. Das UND-Gatter AND1 unterzieht die ihm zugeführten Signale einer UND-Verknüpfung und gibt das Ergebnis dieser Verknüpfung an das ODER-Gatter OR aus.
  • Das ODER-Gatter OR unterzieht die Ausgangssignale der UND-Gatter AND1 und AND2 einer ODER-Verknüpfung und gibt das Ergebnis dieser Verknüpfung an den Multiplexer MUX3 aus.
  • Der Multiplexer MUX3 weist einen weiteren Eingangsanschluß auf. Dieser weitere Eingangsanschluß ist dauerhaft auf den Wert 0 gelegt. Der Multiplexer MUX3 wird durch das Steuerbit C_EN gesteuert, und schaltet das Ausgangssignal des ODER-Gatters OR durch, wenn das Steuerbit C_EN den Wert 1 aufweist, und schaltet die Null-Daten durch, wenn das Steuerbit C_EN den Wert 0 aufweist.
  • Das Ausgangssignal des Multiplexers MUX3 wird als ein Fehlersignal ERR verwendet. Durch dieses Fehlersignal ERR wird angezeigt, ob die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten einen oder mehrere nicht korrigierbare Fehler enthalten oder nicht. Durch ERR=1 wird angezeigt, daß die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten einen oder mehrere nicht korrigierbare Fehler enthalten; durch ERR=0 wird angezeigt, daß die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten keinen solchen Fehler, also entweder überhaupt keinen Fehler oder "nur" einen korrigierbaren Fehler enthalten.
  • Das Fehlersignal ERR ist entweder das Ausgangssignal DE der ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK, oder das Ausgangssignal der Parity-Bit-Auswertungseinrichtung PCHK, oder weist dauerhaft den Wert 0 auf.
  • Das Fehlersignal ERR
    • – weist dauerhaft den Wert 0 auf, wenn das Steuerbit C_EN den Wert 0 aufweist,
    • – ist das Ausgangssignal DE der ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK, wenn das Steuerbit C_EN den Wert 1 aufweist und gleichzeitig auch das Steuerbit ECC_EN den Wert 1 aufweist, und
    • – ist das Ausgangssignal Parity-Bit-Auswertungseinrichtung PCHK, wenn das Steuerbit C_EN den Wert 1 aufweist und gleichzeitig das Steuerbit ECC_EN den Wert 0 aufweist.
  • Die aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten werden bei Bedarf durch die vorstehend bereits erwähnte Fehlerkorrektureinrichtung EC3 korrigiert. Ein Bedarf liegt vor, wenn die Steuerbits C_EN und ECC_EN den Wert 1 aufweisen, und die ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK in den aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten einen korrigierbaren Fehler gefunden hat.
  • Die Fehlerkorrektureinrichtung EC3 enthält pro Bit der aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten ein UND-Gatter AND3 und einen Multiplexer MUX4. Genauer gesagt ist jedem Bit der aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten ein eigenes UND-Gatter AND3 und ein eigener Multiplexer MUX4 zugeordnet. In der Figur sind die genannten Komponenten der besseren Übersichtlichkeit halber nur in einfacher Ausführung dargestellt.
  • Der Multiplexer MUX4 weist zwei Eingangsanschlüsse auf, wobei an den einen Eingangsanschluß ein Bit der aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten angelegt wird, und an den anderen Eingangsanschluß der inverse Wert dieses Bits.
  • Der Multiplexer MUX4 wird durch das Ausgangssignal des UND-Gatters AND3 gesteuert. Wenn das Ausgangssignal des UND-Gatters AND3 den Wert 0 aufweist, schaltet der Multiplexer MUX4 das aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebene Bit durch, und wenn das Ausgangssignal des UND-Gatters AND3 den Wert 1 aufweist, schaltet der Multiplexer MUX4 das inverse Bit durch. Durch das Durchschalten des inversen Bits erfolgt eine Veränderung, genauer gesagt eine Korrektur des aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Bits.
  • Das UND-Gatter AND3 weist drei Eingangsanschlüsse auf. An den ersten Eingangsanschluß wird das Steuerbit C_EN angelegt, an den zweiten Eingangsanschluß das Steuerbit ECC_EN, und an den dritten Eingangsanschluß das Ausgangssignal SE, welches dem dem Multiplexer MUX 4 zugeführten Bit der aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten zugeordnet ist.
  • Das UND-Gatter AND3 unterzieht die ihm zugeführten Signale einer UND-Verknüpfung und gibt das Ergebnis dieser Verknüpfung an den Steueranschluß des Multiplexers MUX4 aus.
  • Das Ausgangssignal des UND-Gatters AND3 weist nur dann den Wert 1 auf, wenn die Steuerbits C_EN und ECC_EN den Wert 1 aufweisen, und wenn durch das dem UND-Gatter zugeführte Ausgangssignal SE der ECC-Daten-Auswertungseinrichtung ECCCHK signalisiert wird, daß das zugeordnete Bit der aus der ersten Speichereinrichtung MEM1 ausgegebenen Daten fehlerhaft ist und durch Invertieren korrigiert werden kann.
  • Wie aus den vorstehenden Erläuterungen ersichtlich ist, kann der Benutzer der Anordnung die Anordnung durch die Steuerbits C_EN und ECC_EN wunschgemäß konfigurieren. Er kann durch das Steuerbit C_EN einstellen, ob überhaupt eine Fehlererkennung und/oder Fehlerkorrektur erfolgen soll, und er kann – wenn C_EN den Wert 1 aufweist – durch das Steuerbit ECC_EN einstellen, ob "nur" eine unter Verwendung von Parity-Bits erfolgende Fehlererkennung oder aber gleich eine unter Verwendung von ECC-Daten erfolgende Fehlerkorrektur durchgeführt werden soll.
  • Es dürfte einleuchten und bedarf keiner näheren Erläuterung, daß sowohl das Einschreiben von Daten in die erste Speichereinrichtung MEM1 als auch das Auslesen von Daten aus der ersten Speichereinrichtung MEM1
    • – am schnellsten erfolgen kann, wenn weder eine Fehlererkennung noch eine Fehlerkorrektur (C-EN=0) erfolgt,
    • – am längsten dauert, wenn eine Fehlerkorrektur (C_EN=1, ECC_EN=1) erfolgt, und
    • – langsamer als im erstgenannten Fall, aber schneller als im zweitgenannten Fall erfolgt, wenn "nur" eine Fehlererkennung (C_EN=1, ECC_EN=0) erfolgt.
  • Folglich kann der Benutzer der Anordnung durch die Einstellung der Steuerbits C_EN und ECC_EN auch Einfluß auf die maximale Arbeitsgeschwindigkeit der Anordnung bzw. des die Anordnung enthaltenden Systems nehmen. Genauer gesagt ist es beispielsweise möglich, die Taktfrequenz, mit welcher die Anordnung oder das die Anordnung enthaltende System arbeitet, und/oder die Anzahl der Wait States in Abhängigkeit von den Einstellungen der Steuerbits C_EN und ECC_EN einzustellen. Die an die Werte der Steuerbits C_EN und ECC_EN angepaßte Einstellung der Taktfrequenz, der Anzahl der Wait States etc. kann durch den Benutzer, aber auch automatisch durch das die Anordnung enthaltende System erfolgen.
  • Nach alledem hat es der Benutzer in der Hand, das die Anordnung enthaltende System mit einer besonders hohen Arbeitsgeschwindigkeit, oder mit besonders hoher Datensicherheit, oder mit einer dazwischen liegenden Kompromißlösung zu betreiben. Es ist auch möglich, den Betrieb des Systems an die jeweiligen Umgebungsbedingungen anzupassen.
  • Die beschriebene Anordnung ist mannigfaltig modifizierbar.
  • Beispielsweise ist es möglich, die Anordnung so auszulegen, daß sie nur zwischen zwei Betriebsarten umschaltbar ist, beispielsweise zwischen einer ersten Betriebsart, in welcher eine Fehlererkennung durchgeführt wird, und einer zweiten Betriebsart, in welcher einer Fehlerkorrektur durchgeführt wird, oder zwischen einer ersten Betriebsart, in welcher weder eine Fehlererkennung noch eine Fehlerkorrektur durchgeführt wird, und einer zweiten Betriebsart, in welcher eine Fehlererkennung durchgeführt wird.
  • Andererseits wäre es auch möglich, die Anordnung so auszulegen, daß sie zwischen mehr als drei Betriebsarten umschaltbar ist.
  • Unabhängig von der Anzahl der Betriebsarten, zwischen welchen die Anordnung umschaltbar ist, könnte vorgesehen werden, daß die verschiedenen Betriebsarten unterschiedliche Arten der Fehlererkennung und/oder unterschiedliche Arten der Fehlerkorrektur umfassen.
  • Ferner ist es möglich, auf den Multiplexer MUX2 zu verzichten und statt dessen "nur" sicherzustellen, daß die in der zweiten Speichereinrichtung MEM2 gespeicherten Daten nur dann ausgewertet werden, wenn sicher ist, daß es sich hierbei um ordnungsgemäß erzeugte Daten handelt. Ordnungsgemäße Daten lägen beispielsweise nicht vor, wenn die Anordnung mit einer so hohen Taktfrequenz betrieben wird, daß keine richtigen Parity-Bits oder ECC-Daten erzeugt werden können.
  • Es könnte auch auf den Multiplexer MUX3 verzichtet werden und statt dessen nur dafür gesorgt werden, daß das Signal ERR, welches dann das Ausgangssignal des ODER-Gatters OR ist, nicht ausgewertet wird, wenn keine Fehlererkennung und/oder Fehlerkorrektur durchgeführt wurde.
  • Es könnte auch vorgesehen werden, daß die ECC-Daten auch die zur Fehlererkennung benötigten Parity-Bits enthalten, und daß dann, wenn nur eine Fehlererkennung durchgeführt werden soll, nur der die Parity-Bits enthaltende Teil der ECC-Daten ausgewertet wird.
  • Es könnte auch vorgesehen werden, daß nicht alle in der ersten Speichereinrichtung MEM1 gespeicherten Daten gleich behandelt werden, also daß beispielsweise für bestimmte Daten weder eine Fehlererkennung noch eine Fehlerkorrektur durchgeführt wird, für bestimmte andere Daten eine Fehlererkennung, und für wieder andere Daten eine Fehlerkorrektur. Der Zeitpunkt der Umschaltung der Betriebsart kann durch den Benutzer vorgegeben werden, beispielsweise indem dieser durch entsprechende Befehle in einem Programm eine Veränderung der Steuerbits C_EN und/oder ECC_EN veranlaßt. Die unterschiedliche Behandlung könnte aber auch automatisch, beispielsweise in Abhängigkeit von der Adresse der Daten innerhalb der ersten Speichereinrichtung MEM1 erfolgen, wobei der Benutzer vorzugsweise einstellen kann welche Adressen oder Adreßbereiche wie behandelt werden sollen.
  • Des weiteren ist es möglich, auf die zweite Speichereinrichtung MEM2 zu verzichten, wenn keine Fehlererkennung und keine Fehlerkorrektur durchgeführt wird. Dies ist insbesondere von Interesse, wenn die zweite Speichereinrichtung eine Speichereinrichtung ist, die außerhalb des den Rest der Anordnung enthaltenden Chips vorgesehen ist.
  • Unabhängig von alledem kann es sich als vorteilhaft erweisen, wenn beim Einschreiben von Daten in die erste Speichereinrichtung MEM1 eine den Daten zugeordnete Information mitgespeichert wird, aus der sich beim Auslesen der Daten aus der ersten Speichereinrichtung ermitteln läßt, ob für eine Fehlererkennung und/oder die Fehlerkorrektur benötigte Daten zur Verfügung stehen. Dann könnte in der Auswertungsvorrichtung EC2 selbständig entschieden werden, ob und gegebenenfalls welche Art von Fehlererkennung oder Fehlerkorrektur erfolgen soll.
  • Es ist auch möglich, die Einstellung der Betriebsart nicht über ein Steuerregister vorzunehmen, sondern über eine feste Verdrahtung, welche keine Veränderung der Betriebsart mehr zuläßt.
  • Anstelle der Betriebsarteinstellung über ein Steuerregister könnte auch vorgesehen werden, die Betriebsarteinstellung durch Anlegen entsprechender Signale an bestimmte Ein- und/oder Ausgabeanschlüsse des die Anordnung enthaltenden Bausteins vorzunehmen.
  • Die Betriebsarteinstellung könnte auch durch Durchbrennen von in der Vorrichtung enthaltenen Fuses erfolgen.
  • Die beschriebene Anordnung erweist sich unabhängig von den Einzelheiten der praktischen Realisierung als vorteilhaft. Sie ermöglicht es, den die Anordnung enthaltenden Baustein sowohl für Anwendungen einzusetzen, bei welchen eine hohe Arbeitsgeschwindigkeit die höchste Priorität hat, als auch für Anwendungen einzusetzen, bei welchen die Fehlererkennung und/oder die Fehlerkorrektur die höchste Priorität hat.
  • ANDx
    UND-Gatter
    C_EN
    Steuerbit
    DE
    Ausgangssignal von ECCCHK
    ECCCHK
    ECC-Daten-Auswertungseinrichtung
    ECC_EN
    Steuerbit
    ECCTRL
    Steuerregister
    ECCGEN
    ECC-Daten-Generator
    EC1
    Vorrichtung zur Erzeugung von zur Fehlererkennung
    und/oder Fehlerkorrektur benötigten Daten
    EC2
    Vorrichtung zur Auswertung von zur Fehlererkennung
    und/oder Fehlerkorrektur benötigten Daten
    EC3
    Fehlerkorrektureinrichtung
    ERR
    Fehlersignal
    MEM1
    erste Speichereinrichtung
    MEM2
    zweite Speichereinrichtung
    MUXx
    Multiplexer
    OR
    ODER-Gatter
    PCHK
    Parity-Bit-Auswertungseinrichtung
    PGEN
    Parity-Bit-Generator
    RBUS1
    erster Lesedatenbus
    RBUS2
    zweiter Lesedatenbus
    SE
    Ausgangssignal von ECCCHK
    WBUS
    Schreibdatenbus

Claims (20)

  1. Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten, dadurch gekennzeichnet , daß die Vorrichtung konfigurierbar ist.
  2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung in der Lage ist, eine Fehlererkennung durchzuführen, und daß die Vorrichtung so konfigurierbar ist, daß sie keine Fehlererkennung durchführt.
  3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung in der Lage ist, eine Fehlerkorrektur durchzuführen, und daß die Vorrichtung so konfigurierbar ist, daß sie keine Fehlerkorrektur durchführt.
  4. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung in der Lage ist, sowohl eine Fehlererkennung als auch eine Fehlerkorrektur durchzuführen, und daß die Vorrichtung so konfigurierbar ist, daß sie nur eine Fehlererkennung durchführt.
  5. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung in der Lage ist, sowohl eine Fehlererkennung als auch eine Fehlerkorrektur durchzuführen, und daß die Vorrichtung so konfigurierbar ist, daß sie nur eine Fehlerkorrektur durchführt.
  6. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung in der Lage ist, verschiedene Arten von Fehlererkennung durchzuführen, und daß durch die Konfigura tion einstellbar ist, welche Art von Fehlererkennung die Vorrichtung durchführen soll.
  7. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung in der Lage ist, verschiedene Arten von Fehlerkorrektur durchzuführen, und daß durch die Konfiguration einstellbar ist, welche Art von Fehlerkorrektur die Vorrichtung durchführen soll.
  8. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung während des Betriebes der Vorrichtung umkonfigurierbar ist.
  9. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Konfiguration durch Setzen und/oder Rücksetzen von Steuerregister-Bits erfolgt.
  10. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Konfiguration durch Anlegen bestimmter Spannungen an bestimmte Ein- und/oder Ausgabeanschlüsse des die Vorrichtung enthaltenden Bausteins erfolgt.
  11. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Konfiguration durch Durchbrennen von Fuses erfolgt.
  12. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Konfiguration durch eine entsprechende feste Verdrahtung der Vorrichtung erfolgt.
  13. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung durch den Benutzer der Vorrichtung konfigurierbar ist.
  14. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sich die Vorrichtung bei Bedarf auf eigene Veranlassung umkonfiguriert.
  15. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß sich die Vorrichtung abhängig von der Adresse konfiguriert, unter welcher die Daten in der Speichereinrichtung zu speichern sind oder gespeichert sind,
  16. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung beim Einschreiben von Daten in die Speichereinrichtung eine den Daten zugeordnete Information mitspeichert, aus der sich beim Auslesen der Daten aus der Speichereinrichtung ermitteln läßt, ob für eine Fehlererkennung und/oder die Fehlerkorrektur benötigte Daten zur Verfügung stehen.
  17. Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung beim Einschreiben von Daten in die Speichereinrichtung eine den Daten zugeordnete Information mitspeichert, aus der sich beim Auslesen der Daten aus der Speichereinrichtung ermitteln läßt, um welche Art von Daten es sich bei den Daten handelt, die für eine Fehlererkennung und/oder eine Fehlerkorrektur zur Verfügung stehen.
  18. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung oder das diese enthaltende System die Arbeitsgeschwindigkeit des Systems an die Konfiguration der Vorrichtung anpaßt.
  19. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung oder das diese enthaltende System in Abhängigkeit von der Konfiguration der Vorrichtung die Anzahl der Wait States einstellt.
  20. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung oder das diese enthaltende System in Abhängigkeit von der Konfiguration der Vorrichtung die Taktfrequenz einstellt, mit welcher die Vorrichtung oder das diese enthaltende System arbeitet.
DE2003111428 2003-03-13 2003-03-13 Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten Withdrawn DE10311428A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2003111428 DE10311428A1 (de) 2003-03-13 2003-03-13 Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2003111428 DE10311428A1 (de) 2003-03-13 2003-03-13 Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE10311428A1 true DE10311428A1 (de) 2004-09-30

Family

ID=32920817

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2003111428 Withdrawn DE10311428A1 (de) 2003-03-13 2003-03-13 Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE10311428A1 (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007011801A1 (de) * 2007-03-12 2008-09-18 Qimonda Ag Schaltung zum Erzeugen eines Fehlercodierungsdatenblocks, System mit der Schaltung, Vorrichtung zum Erzeugen eines Fehlercodierungsdatenblocks, Schaltung zum Erzeugen eines Fehlercodierungsdatenblocks, Verfahren zum Erzeugen eines Fehlercodierungsdatenblocks
EP1677193A3 (de) * 2004-12-20 2012-11-07 Sony Computer Entertainment Inc. Datenverarbeitung
DE112007003080B4 (de) * 2006-12-19 2018-02-22 Intel Corporation Verfahren und Vorrichtung für den ECC-Schutz von kleinen Datenstrukturen

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020184579A1 (en) * 2001-04-23 2002-12-05 Alvarez Manuel J. System and method for recognizing and configuring devices embedded on memory modules

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020184579A1 (en) * 2001-04-23 2002-12-05 Alvarez Manuel J. System and method for recognizing and configuring devices embedded on memory modules

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
"AL440LX Motherboard Technical Product Specifica- tion", Intel Corporation 1979 *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1677193A3 (de) * 2004-12-20 2012-11-07 Sony Computer Entertainment Inc. Datenverarbeitung
DE112007003080B4 (de) * 2006-12-19 2018-02-22 Intel Corporation Verfahren und Vorrichtung für den ECC-Schutz von kleinen Datenstrukturen
DE102007011801A1 (de) * 2007-03-12 2008-09-18 Qimonda Ag Schaltung zum Erzeugen eines Fehlercodierungsdatenblocks, System mit der Schaltung, Vorrichtung zum Erzeugen eines Fehlercodierungsdatenblocks, Schaltung zum Erzeugen eines Fehlercodierungsdatenblocks, Verfahren zum Erzeugen eines Fehlercodierungsdatenblocks
DE102007011801B4 (de) * 2007-03-12 2009-04-02 Qimonda Ag Schaltung zum Erzeugen eines Fehlercodierungsdatenblocks, Vorrichtung mit der Schaltung, Vorrichtung zum Erzeugen eines Fehlercodierungsdatenblocks
US8161344B2 (en) 2007-03-12 2012-04-17 Qimonda Ag Circuits and methods for error coding data blocks

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102007044131B4 (de) Speichersteuerung und Speichersystem mit einer Speichersteuerung und einer Speicherschaltung
DE2812344A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum pruefen von schaltungsplatten
DE3702408C2 (de)
EP2100308B1 (de) Verfahren und halbleiterspeicher mit einer einrichtung zur erkennung von adressierungsfehlern
EP1113362B1 (de) Integrierter Halbleiterspeicher mit einer Speichereinheit zum Speichern von Adressen fehlerhafter Speicherzellen
DE19930169B4 (de) Testeinrichtung und Verfahren zum Prüfen eines Speichers
EP1246033A1 (de) Verfahren zur Überwachung konsistenter Speicherinhalte in redundanten Systemen
EP0766092A1 (de) Testbare Schaltungsanordnung mit mehreren identischen Schaltungsblöcken
DE102007045851A1 (de) Elektronische Vorrichtung, Verfahren zum Betreiben einer elektronischen Vorrichtung, Speicherschaltung und Verfahren zum Betreiben einer Speicherschaltung
DE3719497A1 (de) System zur pruefung von digitalen schaltungen
DE102019131865A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur eigendiagnose der ram-fehlererkennungslogik eines antriebsstrangcontrollers
DE10311428A1 (de) Vorrichtung zur Erkennung und/oder Korrektur von Fehlern in aus einer Speichereinrichtung ausgelesenen Daten
DE3820728A1 (de) Verfahren zum pruefen eines festwertspeichers und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens
DE102004043063B4 (de) Verfahren zum Betreiben eines Halbleiter-Bauelements mit einem Test-Modul
EP0453609B1 (de) Verfahren zum Testen einer kleinsten adressierbaren Einheit eines RAM's auf über einer bestimmten Zahl liegende Bitfehler
DE10318771B4 (de) Integrierte Speicherschaltung mit einer Redundanzschaltung sowie ein Verfahren zum Ersetzen eines Speicherbereichs
EP1481297B1 (de) Verfahren zur überprüfung einer schnittstelle
EP3311273A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum absichern einer programmzählerstruktur eines prozessorsystems und zum überwachen der behandlung einer unterbrechungsanfrage
EP1224547B1 (de) Integrierter elektronischer baustein mit duplizierter kernlogik und hardware-fehlereinspeisung für prüfzwecke
DE102005040917A1 (de) Datenverarbeitungssystem und Betriebsverfahren dafür
DE10226876B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Überprüfung eines Bussystems
DE102005018790A1 (de) Integrierter Schaltkreis und Verfahren zum Betreiben und parallelen Testen von integrierten Schaltkreisen
DE102017115057B4 (de) Verfahren zur Überprüfung sicherheitsrelevanter Register- oder Speicherzellen auf Stuck-At-Fehler im Betrieb durch Vergleich zweier Schreibvorgänge mit unterschiedlichem Inversionsstatus
DE102017115058B4 (de) Verfahren zur Überprüfung sicherheitsrelevanter Register- oder Speicherzellen auf Stuck-At-Fehler im Betrieb und Herbeiführung der Ausfallsicherheit
WO2005048270A1 (de) Integrierte schaltung, testsystem und verfahren zum auslesen eines fehlerdatums aus der integrierten schaltung

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee